CN117630620A - 光电产品性能检测设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光电产品的技术领域，特别是涉及光电产品性能检测设备，其结构简单，在二极管进行测试时，减轻测试人员对二极管正极引线和负极引线进行复位的工作量，减轻劳动强度，提高测试效率；包括：测试台，测试台开设用于放置二极管外壳的凹槽，测试台的两侧均滑动设置有复位机构；测试台的底端通过调节机构设置有用于对二极管进行居中的居中机构；测试台的中部设置有压紧机构，测试台的两端设置有气缸一，气缸一输出端固定有测试片。

Description

光电产品性能检测设备

技术领域

本发明涉及光电产品的技术领域，特别是涉及光电产品性能检测设备。

背景技术

光电产品指通过电性能而发生的光转换成电，电转换成光，及光电多次转换的产品，广泛应用在各个领域，例如二极管，二极管是用半导体材料(硅、硒、锗等)制成的一种电子器件，二极管有两个电极，正极，又叫阳极；负极，又叫阴极，给二极管两极间加上正向电压时，二极管导通， 加上反向电压时，二极管截止。

二极管在回收后需要对其进行检测，以检测其是否还可继续进行使用，现有技术中，由于这些二极管是使用过的，引脚多会发生弯折变形，在测试前，就需要人工将这些二极管正极引线和负极引线进行初步弯折复位，然后再进行测试，这种方式增加了测试人员的劳动强度，使得测试效率较低。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供光电产品性能检测设备，其结构简单，在二极管进行测试时，减轻测试人员对二极管正极引线和负极引线进行复位的工作量，减轻劳动强度，提高测试效率。

本发明的光电产品性能检测设备，包括：测试台，测试台开设用于放置二极管外壳的凹槽，测试台的两侧均滑动设置有复位机构；测试台的底端通过调节机构设置有用于对二极管进行居中的居中机构；

测试台的中部设置有压紧机构，测试台的两端设置有气缸一，气缸一输出端固定有测试片。

本发明作进一步改进，所述复位机构包括固定板，固定板开设连通的通孔一和通孔二，通孔一和通孔二形成直角，还包括穿过通孔一的移动轴一，移动轴一一端固定有移动板；

移动板两侧均转动安装有连接轴，连接轴一端固定有夹板，另一端固定有延长杆的一端，延长杆的另一端固定有导向轴；

还包括与固定板固定连接的横板，横板开设两个对称的导向孔，导向孔包括通孔三、通孔四和通孔五，导向轴穿过导向孔，通孔三和通孔五均呈倾斜状。

本发明作进一步改进，复位机构还包括转动安装在固定板的转轴，转轴固定有驱动臂一，驱动臂一与移动轴一另一端滑动连接，转轴端部固定有电机。

本发明作进一步改进，复位机构还包括与固定板固定连接的轨道一，轨道一滑动有滑块一，滑块一固定有轨道二，轨道二滑动有滑块二，移动轴一与滑块二固定连接。

本发明作进一步改进，所述调节机构包括与测试台转动连接的正反丝杆，正反丝杆两侧均螺纹连接有螺套，螺套与测试台滑动连接；

居中机构包括与螺套固定连接的基板，基板开设连通的通孔六和通孔七，通孔六和通孔七形成直角，还包括穿过通孔六的移动轴二，移动轴二一端固定有拨杆；

基板转动安装有轴管，轴管固定有驱动臂二，驱动臂二与移动轴二另一端滑动连接。

本发明作进一步改进，居中机构还包括与基板固定连接的轨道三，轨道三滑动有滑块三，滑块三固定有轨道四，轨道四滑动有滑块四，移动轴二与滑块四固定连接。

本发明作进一步改进，所述轴管下半区域开设螺旋孔，居中机构还包括与测试台连接的动力机构，动力机构输出端固定有动力轴，动力轴两端分别穿过两个螺旋孔；

螺旋孔对立侧的轴管处开设缺口。

本发明作进一步改进，压紧机构包括固定在测试台中部的支架，支架固定有气缸二，气缸二输出端固定有压块。

本发明作进一步改进，测试台两端均固定有支撑架，所述气缸一与支撑架滑动连接。

本发明作进一步改进，所述固定板与测试台滑动连接。

与现有技术相比本发明的有益效果为：本发明结构简单，在测试时，先自动将阳极引线和阴极引线不规则的二极管平整置于到凹槽内，然后再进行居中二极管，然后再自动将阳极引线和阴极引线捋直，以方便测试片与阳极引线和阴极引线进行接触，大大减轻了测试人员的劳动强度，提高了测试效率，且还能适应较多尺寸的二极管。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是图1中A部的局部放大图；

图3是图1前侧视角的立体图；

图4是图3中B部的局部放大图；

图5是图1后侧视角的立体图；

图6是图5中C部的局部放大图；

图7是调节机构和居中机构的结构示意图；

图8是图7的仰视图；

图9是复位机构的爆炸图；

附图中标记：1、测试台；2、气缸一；3、测试片；4、固定板；5、通孔一；6、通孔二；7、移动轴一；8、移动板；9、连接轴；10、夹板；11、延长杆；12、导向轴；13、横板；14、通孔三；15、通孔四；16、通孔五；17、转轴；18、驱动臂一；19、电机；20、轨道一；21、滑块一；22、轨道二；23、滑块二；24、正反丝杆；25、螺套；26、光轴；27、基板；28、通孔六；29、通孔七；30、移动轴二；31、拨杆；32、轴管；33、驱动臂二；34、轨道三；35、滑块三；36、轨道四；37、滑块四；38、螺旋孔；39、动力机构；40、动力轴；41、气缸二；42、压块；43、支撑架。

实施方式

下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

如图1至图9所示，本发明的光电产品性能检测设备，包括：测试台1，更具体地，测试台1是一个内部中空的箱体，测试台1顶部开设用于放置二极管外壳的凹槽，凹槽截面形状呈圆弧形，目的是更好与二极管外壳进行贴合，起到居中的作用；

测试台1的两侧均滑动设置有复位机构，两组复位机构对称设置，分别对正极引线和负极引线进行复位；

测试台1的底端通过调节机构设置有用于对二极管进行居中的居中机构；

测试台1的中部设置有压紧机构，测试台1的两端设置有气缸一2，气缸一2输出端固定有测试片3，测试片3为两个，分别为正极测试片3和负极测试片3；

在本实施例中，在进行测试时，首先手动将待测二极管放置到凹槽内，二极管放置方向与凹槽一致，然后操作压紧机构压一下二极管然后再复位，目的是为了使二极管平整的横置在凹槽内，然后操作居中机构将二极管居中并保持居中的状态，然后操作复位机构将二极管的正极引线和负极引线进行捋直，然后再操作气缸一2使两个测试片3下降与正极引线和负极引线接触即可进行测试，测试完毕后，取下待测二极管即可。

本发明作进一步改进，如图3-图6以及图9所示，复位机构包括固定板4，固定板4开设连通的通孔一5和通孔二6，通孔一5和通孔二6形成直角，还包括穿过通孔一5的移动轴一7，移动轴一7固定有轴承，轴承外圈与通孔一5或者通孔二6内壁接触，移动轴一7一端固定有移动板8；

移动板8两侧均通过轴承转动安装有连接轴9，连接轴9一端固定有夹板10的一端，夹板10呈长方体形，另一端固定有延长杆11的一端，如图9所示，延长杆11处于倾斜状，延长杆11的另一端固定有导向轴12；

还包括与固定板4固定连接的横板13，横板13开设两个对称的导向孔，导向孔包括通孔三14、通孔四15和通孔五16，导向轴12穿过导向孔，通孔四15与二极管轴线方向平行，通孔三14和通孔五16均呈倾斜状，且通孔三14与通孔五16对称设置，当导向轴12移动至导向孔的不同位置时，会使导向轴12的前后位置不同，从而使夹板10、连接轴9、延长杆11和导向轴12以连接轴9轴线为轴进行旋转；

本发明作进一步改进，如图1至图6所示，复位机构还包括转动安装在固定板4的转轴17，转轴17处于通孔二6中间位置的上方，转轴17固定有驱动臂一18，驱动臂一18与移动轴一7另一端滑动连接，转轴17端部固定有电机19，更具体地，驱动臂一18开设长条孔一，移动轴一7穿过长条孔一，并在移动轴一7与长条孔一重合处安装轴承；

本发明作进一步改进，如图6所示，复位机构还包括与固定板4固定连接的轨道一20，轨道一20滑动有滑块一21，滑块一21固定有轨道二22，轨道二22滑动有滑块二23，移动轴一7与滑块二23固定连接；

在本实施例中，如图3所示，在居中机构将二极管居中后，操作两个电机19使转轴17和驱动臂一18进行旋转，且两个电机19转向相反，以左侧电机19为例，电机19驱动转轴17以及驱动臂一18进行顺时针旋转，由于转轴17处于通孔二6中间位置的上方，所以驱动臂一18始终对移动轴一7产生推力，从而使移动轴一7先后沿通孔一5和通孔二6移动，通孔一5呈竖直状，所以移动轴一7、移动板8、连接轴9、夹板10、延长杆11和导向轴12均向下移动，导向轴12与横板13之间的相对位置产生变化，但是不会影响导向轴12的前后位置；

然后移动轴一7沿通孔二6进行移动，由于两级引线较细，所以移动轴一7处于通孔二6上时，夹板10底端与测试台1顶部接触，且夹板10刚与测试台1顶部接触时，夹板10处于引线的两侧，通孔二6水平设置，同理带动移动板8、连接轴9、夹板10、延长杆11和导向轴12水平移动，从而推动导向轴12沿着通孔三14、通孔四15和通孔五16进行移动，沿通孔三14移动时，使得延长杆11、夹板10等以连接轴9为轴进行旋转，夹板10远离连接轴9一端向二极管靠近，使引线处于中间位置上，沿通孔四15移动时，夹板10角度保持不变，将剩余长度的引线捋直，当引线剩余一段时，停止电机19，待测试完毕后，继续开启电机19使导向轴12移动至通孔五16上，使得夹板10远离连接轴9一端打开，将引线释放，然后手动取下二极管；

在移动轴一7沿通孔一5和通孔二6移动过程中，由于移动轴一7与滑块二23固定连接，且滑块二23只能沿轨道二22和轨道一20进行移动，所以滑块二23不会旋转，移动轴一7也不会旋转。

本发明作进一步改进，如图7至图8所示，调节机构包括与测试台1转动连接的正反丝杆24，正反丝杆24两侧均螺纹连接有螺套25，螺套25与测试台1滑动连接，并在测试台1内固定穿过螺套25的光轴26；

居中机构包括与螺套25固定连接的基板27，基板27开设连通的通孔六28和通孔七29，通孔六28和通孔七29形成直角，通孔六28和通孔七29均水平设置，还包括穿过通孔六28的移动轴二30，移动轴二30一端固定有拨杆31，更具体地，测试台1顶部开设预留孔供拨杆31伸出；

基板27转动安装有轴管32，轴管32固定有驱动臂二33，驱动臂二33与移动轴二30另一端滑动连接，更具体地，驱动臂二33开设长条孔二，移动轴二30穿过长条孔二，且轴管32处于通孔六28和通孔七29所围成的区域内，在轴管32旋转时，驱动臂二33能够对移动轴二30产生推力，使其沿通孔六28和通孔七29进行移动；

本发明作进一步改进，如图7至图8所示，居中机构还包括与基板27固定连接的轨道三34，轨道三34滑动有滑块三35，滑块三35固定有轨道四36，轨道四36滑动有滑块四37，移动轴二30与滑块四37固定连接；

在本实施例中，在移动轴二30沿通孔六28和通孔七29移动过程中，由于移动轴二30与滑块四37固定连接，且滑块四37只能沿轨道三34和轨道四36进行移动，所以滑块四37不会旋转，移动轴二30也不会旋转；

本发明作进一步改进，如图7至图8所示，轴管32下半区域开设螺旋孔38，居中机构还包括与测试台1连接的动力机构39，动力机构39选用的是气缸，动力机构39输出端固定有动力轴40，动力轴40两端分别穿过两个螺旋孔38；

螺旋孔38对立侧的轴管32处开设缺口；

在本实施例中，如图7至图8所示，当需要进行居中操作时，操作动力机构39使两根动力轴40同时上移，动力轴40两端分别穿过两个螺旋孔38，所以移动的动力轴40使轴管32以及与轴管32连接的驱动臂二33进行旋转，从而推动移动轴二30以及拨杆31先后沿通孔六28和通孔七29进行移动，移动轴二30沿通孔六28移动时，拨杆31由二极管的斜侧面移动至二极管的正侧面，移动轴二30沿通孔七29移动时，拨杆31向二极管靠近将二极管居中；

由于通孔七29的跨度不变，所以拨杆31的横向移动距离在轴管32旋转角度不变的情况下是固定不变的，为了适应更多的二极管，可以通过旋转正反丝杆24来调节螺套25的位置，从而可以改变基板27以及拨杆31等的初始位置，拨杆31的横向移动距离在轴管32旋转角度不变的情况下是固定不变的，所以能够改变拨杆31的终止位置，从而适应不同尺寸的二极管；

正反丝杆24旋转驱动轴管32移动时，由于设置了缺口，所以不会影响动力轴40的动作。

本发明作进一步改进，如图1所示，压紧机构包括固定在测试台1中部的支架，支架固定有气缸二41，气缸二41输出端固定有压块42，压块42下表面为圆弧形；

在本实施例中，通过控制气缸二41来控制压块42的升降。

本发明作进一步改进，测试台1两端均固定有支撑架43，气缸一2与支撑架43滑动连接，并且设置有用于固定气缸一2位置的螺丝；

在本实施例中，气缸一2以及测试片3相对于支撑架43的位置可进行调节，从而适应引线的长度。

本发明作进一步改进，固定板4与测试台1滑动连接，并且设置有用于锁死固定板4位置的螺丝；

在本实施例中，通过上述设置，可以改变固定板4的位置，所以就可改变夹板10与测试台1刚刚接触时的位置，从而来适应不同规格的二极管。

本发明在使用时，根据二极管外壳的尺寸，手动调节固定板4的位置，旋转正反丝杆24调节拨杆31的初始位置，并根据引线长度，调节气缸一2的位置；

在调节完毕后，首先手动将待测二极管放置到凹槽内，二极管放置方向与凹槽一致，然后操作气缸二41使压块42压一下二极管然后再复位，目的是为了使二极管平整的横置在凹槽内；

然后操作动力机构39使动力轴40上移，动力轴40两端分别穿过两个螺旋孔38，所以移动的动力轴40使轴管32以及与轴管32连接的驱动臂二33进行旋转，从而推动移动轴二30以及拨杆31先后沿通孔六28和通孔七29进行移动，移动轴二30沿通孔六28移动时，拨杆31由二极管的斜侧面移动至二极管的正侧面，移动轴二30沿通孔七29移动时，拨杆31向二极管靠近将二极管居中；

将二极管居中并保持居中的状态，操作两个电机19使转轴17和驱动臂一18进行旋转，且两个电机19转向相反，以左侧电机19为例，电机19驱动转轴17以及驱动臂一18进行顺时针旋转，由于转轴17处于通孔二6中间位置的上方，所以驱动臂一18始终对移动轴一7产生推力，从而使移动轴一7先后沿通孔一5和通孔二6移动，通孔一5呈竖直状，所以移动轴一7、移动板8、连接轴9、夹板10、延长杆11和导向轴12均向下移动，导向轴12与横板13之间的相对位置产生变化，但是不会影响导向轴12的前后位置；

然后移动轴一7沿通孔二6进行移动，由于两级引线较细，所以移动轴一7处于通孔二6上时，夹板10底端与测试台1顶部接触，且夹板10刚与测试台1顶部接触时，夹板10处于引线的两侧，通孔二6水平设置，同理带动移动板8、连接轴9、夹板10、延长杆11和导向轴12水平移动，从而推动导向轴12沿着通孔三14、通孔四15和通孔五16进行移动，沿通孔三14移动时，使得延长杆11、夹板10等以连接轴9为轴进行旋转，夹板10远离连接轴9一端向二极管靠近，使引线处于中间位置上，沿通孔四15移动时，夹板10角度保持不变，将剩余长度的引线捋直，当引线剩余一段时，停止电机19，然后操作气缸一2使测试片3下降与引线端部接触，待测试完毕后，继续开启电机19使导向轴12移动至通孔五16上，使得夹板10远离连接轴9一端打开，将引线释放，然后手动取下二极管，测试完毕。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.光电产品性能检测设备，其特征在于，包括：测试台，测试台开设用于放置二极管外壳的凹槽，测试台的两侧均滑动设置有复位机构；测试台的底端通过调节机构设置有用于对二极管进行居中的居中机构；

测试台的中部设置有压紧机构，测试台的两端设置有气缸一，气缸一输出端固定有测试片。

2.如权利要求1所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，所述复位机构包括固定板，固定板开设连通的通孔一和通孔二，通孔一和通孔二形成直角，还包括穿过通孔一的移动轴一，移动轴一一端固定有移动板；

移动板两侧均转动安装有连接轴，连接轴一端固定有夹板，另一端固定有延长杆的一端，延长杆的另一端固定有导向轴；

还包括与固定板固定连接的横板，横板开设两个对称的导向孔，导向孔包括通孔三、通孔四和通孔五，导向轴穿过导向孔，通孔三和通孔五均呈倾斜状。

3.如权利要求2所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，复位机构还包括转动安装在固定板的转轴，转轴固定有驱动臂一，驱动臂一与移动轴一另一端滑动连接，转轴端部固定有电机。

4.如权利要求3所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，复位机构还包括与固定板固定连接的轨道一，轨道一滑动有滑块一，滑块一固定有轨道二，轨道二滑动有滑块二，移动轴一与滑块二固定连接。

5.如权利要求4所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，所述调节机构包括与测试台转动连接的正反丝杆，正反丝杆两侧均螺纹连接有螺套，螺套与测试台滑动连接；

居中机构包括与螺套固定连接的基板，基板开设连通的通孔六和通孔七，通孔六和通孔七形成直角，还包括穿过通孔六的移动轴二，移动轴二一端固定有拨杆；

基板转动安装有轴管，轴管固定有驱动臂二，驱动臂二与移动轴二另一端滑动连接。

6.如权利要求5所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，居中机构还包括与基板固定连接的轨道三，轨道三滑动有滑块三，滑块三固定有轨道四，轨道四滑动有滑块四，移动轴二与滑块四固定连接。

7.如权利要求6所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，所述轴管下半区域开设螺旋孔，居中机构还包括与测试台连接的动力机构，动力机构输出端固定有动力轴，动力轴两端分别穿过两个螺旋孔；

螺旋孔对立侧的轴管处开设缺口。

8.如权利要求7所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，压紧机构包括固定在测试台中部的支架，支架固定有气缸二，气缸二输出端固定有压块。

9.如权利要求8所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，测试台两端均固定有支撑架，所述气缸一与支撑架滑动连接。

10.如权利要求9所述的光电产品性能检测设备，其特征在于，所述固定板与测试台滑动连接。