CN117571724A - 留置针缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种留置针缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质,涉及缺陷检测领域,其中留置针缺陷检测方法包括:获取图像信息;根据图像信息获取轮廓信息;基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;根据针刺面方程获取方程参数信息;对留置针进行缺陷检测。本申请的留置针缺陷检测方法能解决缺陷检测过程效率低且准确率低的问题,从而能达到提高缺陷检测过程效率及准确率的效果。
Description
技术领域
本发明属于缺陷检测领域,特别涉及一种留置针缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质。
背景技术
由于留置针尺寸较小,其需要进行缺陷检测的部分尺寸更小,因此现有的留置针检测手段一般为基于显微镜对留置针进行人工检测,但是人工检测效率较低、检测主观性较大且漏检率较高,导致缺陷检测过程效率低且准确率低。
因此,现有技术有待改进和发展。
发明内容
本申请的目的在于提供一种留置针缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质,旨在解决缺陷检测过程效率低且准确率低的问题。
第一方面,本申请提供一种留置针缺陷检测方法,包括以下步骤:
S1.获取图像信息;
S2.根据图像信息获取轮廓信息;
S3.基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;
S4.根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;
S5.根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;
S6.根据针刺面方程获取方程参数信息;
S7.根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
本申请的留置针缺陷检测方法,根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息,并且根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,适用范围广,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
进一步地,步骤S3中,基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息的过程包括:
S31.基于Harris角点检测方法根据轮廓信息获取尖端位置信息。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法基于Harris角点检测方法根据轮廓信息获取尖端位置信息,能迅速且准确地获取尖端位置信息。
进一步地,步骤S1中,获取图像信息的过程包括:
A1.获取多个角度的图像信息;
步骤S2中,根据图像信息获取轮廓信息的过程包括:
A21.对多个角度的图像信息进行图像拼接,获取拼接图像信息;
A22.根据拼接图像信息获取轮廓信息。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法获取多个角度的图像信息,对多个角度的图像信息进行图像拼接,获取拼接图像信息,并根据拼接图像信息获取轮廓信息,能在留置针具有缺陷时将缺陷整合在拼接图像信息上,从而能提升缺陷检测的准确率。
进一步地,步骤S2中,根据图像信息获取轮廓信息的过程包括:
B1.获取颜色信息;
B2.对图像信息进行色彩空间分割,并根据颜色信息从色彩空间分割后的图像信息中提取轮廓信息。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法获取颜色信息,对图像信息进行色彩空间分割,并根据颜色信息从色彩空间分割后的图像信息中提取轮廓信息,能迅速且准确地根据图像信息获取轮廓信息。
进一步地,步骤S2与步骤S3之间还包括:
S21.对轮廓信息进行自适应阈值分割、形态补偿和特征提取处理。
第二方面,本申请提供一种留置针缺陷检测系统,包括:
样品台,其上放置有留置针;
夹具,安装在样品台上,用于夹持留置针;
视觉采集装置,安装在样品台一侧,用于采集图像信息;
控制器,用于根据留置针缺陷检测方法对留置针进行缺陷检测;
留置针缺陷检测方法包括以下步骤:
S1.获取图像信息;
S2.根据图像信息获取轮廓信息;
S3.基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;
S4.根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;
S5.根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;
S6.根据针刺面方程获取方程参数信息;
S7.根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
本申请的留置针缺陷检测系统, 根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息,并且本申请根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,适用范围广,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
进一步地,留置针缺陷检测系统还包括:
照明装置,安装在样品台一侧,用于对留置针进行照明;
检测盒,样品台、夹具、视觉采集装置和照明装置设置于检测盒内。
进一步地,检测盒的一侧具有可开合的开口,开口的长度大于留置针的长度。
第三方面,本申请提供一种电子设备,包括处理器和存储器,存储器存储有处理器可执行的计算机程序,处理器执行计算机程序时,运行如上任一留置针缺陷检测方法中的步骤。
第四方面,本申请提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时运行如上任一留置针缺陷检测方法中的步骤。
由上可知,本申请提供了一种留置针缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质,其中本申请提供的留置针缺陷检测方法,根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息,并且本申请根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,适用范围广,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
本申请的其他特征和优点将在随后的说明书阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本申请实施例了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
图1为本申请实施例提供的留置针缺陷检测方法的流程图。
图2为本申请实施例提供的检测盒的结构示意图。
图3位本申请实施例提供的留置针缺陷检测系统的结构示意图。
图4为本申请实施例提供的留置针缺陷检测系统的电控框架图。
图5为本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
标号说明:1、样品台;2、夹具;3、视觉采集装置;4、照明装置;5、检测盒;51、开口;301、处理器;302、存储器;303、通信总线。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
第一方面,如图1所示,本申请提供一种留置针缺陷检测方法,包括:
S1.获取图像信息;
S2.根据图像信息获取轮廓信息;
S3.基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;
S4.根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;
S5.根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;
S6.根据针刺面方程获取方程参数信息;
S7.根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
具体应用中,步骤S1中,图像信息为包含待检测的留置针的图像;步骤S2中,轮廓信息为待检测的留置针的轮廓;步骤S3中,尖端位置信息为留置针针尖末端一点的位置;步骤S6中,方程参数信息为针刺面方程的参数。
具体地,步骤S1中,获取图像信息的方法可以是通过相机拍摄获取图像信息,也可以是基于现有的其他图像信息采集方法获取图像信息。
更具体地,步骤S2中,获取轮廓信息的方法可以是基于图像识别技术根据图像信息获取轮廓信息,也可以是其他能从图像信息中获取轮廓信息的方法。
更具体地,步骤S3中,由于留置针的针尖锐利,其具有显著的角度特征,获取尖端位置信息的方法可以是基于角点检测方法根据轮廓信息获取尖端位置信息,也可以是其他现有的能基于图像识别技术根据轮廓信息获取尖端位置信息的方法。
更具体地,步骤S4中,由于刺入线信息与留置针针身轮廓平行,因此留置针轮廓中,针身轮廓为包括尖端位置信息的线段和与该线段平行的线段,该两条线段的中间平行线即为刺入线信息,留置针轮廓中包括尖端位置信息的曲线即为刺入线信息。
更具体地,步骤S5中,获取针刺面方程的方法可以是解析几何方法,也可以是现有的其他能根据二维图像中的轮廓曲线建立二维曲线方程的方法,其中针刺面方程所在的坐标系可以基于图像信息所在平面中任意两个夹角为90°的方向建立。
更具体地,步骤S7中,标准刺入线信息和标准方程参数信息分别为没有缺陷的留置针对应的刺入线信息和方程参数信息。可以预先输入标准刺入线信息和标准方程参数信息,也可以将基于标准合格的留置针执行步骤S1-S6确定的刺入线信息和方程参数信息分别作为标准刺入线信息和标准方程参数信息。对留置针进行缺陷检测的方法可以是根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息确定缺陷位置、缺陷类型和缺陷情况等,本申请的留置针缺陷检测方法判断刺入线信息是否与标准刺入线信息匹配,并判断方程参数信息是否与标准方程参数信息匹配以判断留置针是否存在缺陷。
更具体地,步骤S4中,根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息。
更具体地,步骤S7中,由于方程参数信息能表征针刺面方程,针刺面方程能表征针刺面信息,且针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线,方程参数信息能表征留置针针尖的轮廓;由于刺入线信息与留置针针身轮廓平行,刺入线信息能表征留置针针身的轮廓,因此本申请根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
更具体地,对于不同类型尺寸的留置针,本申请的留置针缺陷检测方法只需对应设置不同的标准刺入线信息和标准方程参数信息即可进行检测,无需更改方法中的步骤内容,适用范围广,并且在标准刺入线信息和标准方程参数信息分别为基于标准合格的留置针执行步骤S1-S6确定的刺入线信息和方程参数信息的实施方式中,本申请在缺陷检测前,基于一个检验合格的留置针设置标准刺入线信息和标准方程参数信息即可进行检测,使用便捷。
本申请的留置针缺陷检测方法,根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息,并且本申请根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,适用范围广,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
在一些优选的实施方式中,步骤S3中,基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息的过程包括:
S31.基于Harris角点检测方法根据轮廓信息获取尖端位置信息。
具体地,由于留置针针尖具有显著的角度特征,因此留置针针尖末端一点为角点,且留置针只存在该一个角点。当一个窗口在图像信息上滑动时,根据该窗口所在的初始位置不同存在三种情况:当初始位置位于轮廓信息内部时,该窗口往任意方向滑动时像素值变化都较小;当初始位置位于轮廓信息边缘并且窗口不包含角点时,该窗口往某个方向滑动时像素值变化较大,往与该方向垂直的方向滑动时像素值变化较小;当窗口包含角点时,该窗口往任意方向滑动时像素值变化都较大。因此,基于Harris角点检测方法使该窗口在图像信息上滑动,获取往任意方向滑动像素值变化都较大时该窗口的位置,并根据该窗口的位置确定该窗口对角线交点的位置,即可获取尖端位置信息。
更具体地,Harris角点检测方法的公式为:
;
其中,(x,y)为窗口中像素点的坐标,该像素点的权重为w(x,y),像素值为I(x,y),在水平方向上的位移为u,在竖直方向上的位移为v, 位移后的该像素点的像素值为I(x+u,y+v),E(x,y)为窗口滑动时窗口中加权后的像素变化值的总和。根据需要设置像素值变化阈值,当E(x,y)大于等于像素值变化阈值时,则窗口包含角点。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法基于Harris角点检测方法根据轮廓信息获取尖端位置信息,能迅速且准确地获取尖端位置信息。
在一些优选的实施方式中,步骤S1中,获取图像信息的过程包括:
A1.获取多个角度的图像信息;
步骤S2中,根据图像信息获取轮廓信息的过程包括:
A21.对多个角度的图像信息进行图像拼接,获取拼接图像信息;
A22. 根据拼接图像信息获取轮廓信息。
具体地,步骤A21中,拼接图像信息为类似于全景图的具有多个角度的图像信息特征的二维图像;在每个图像信息只包含一个角点,且该角点为留置针针尖末端一点时,根据图像信息拼接而成的拼接图像信息也只包含该一个角点;可以基于现有的图像拼接技术对多个角度的图像信息进行图像拼接。
更具体地,在通过相机拍摄等手段获取图像信息时,留置针可能具有背对相机的缺陷,该缺陷不显示于拍摄获取的图像信息中,从而可能导致漏检。因此,在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法获取多个角度的图像信息,对多个角度的图像信息进行图像拼接,获取拼接图像信息,并根据拼接图像信息获取轮廓信息,能在留置针具有缺陷时将缺陷整合在拼接图像信息上,从而能提升缺陷检测的准确率。
在一些优选的实施方式中,步骤S2中,根据图像信息获取轮廓信息的过程包括:
B1.获取颜色信息;
B2.对图像信息进行色彩空间分割,并根据颜色信息从色彩空间分割后的图像信息中提取轮廓信息。
具体地,颜色信息为留置针的颜色。
更具体地,在现有的缺陷检测过程中,留置针的颜色主要为银灰色,其RGB值与图像信息中留置针以外部分的RGB值存在较大区别,因此在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法获取颜色信息,对图像信息进行色彩空间分割,并根据颜色信息从色彩空间分割后的图像信息中提取轮廓信息,能迅速且准确地根据图像信息获取轮廓信息。
优选地,步骤A22中,根据拼接图像信息获取轮廓信息的过程包括:
A221.获取颜色信息;
A222.对拼接图像信息进行色彩空间分割,并根据颜色信息从色彩空间分割后的拼接图像信息中提取轮廓信息。
在一些优选的实施方式中,步骤S2与步骤S3之间还包括:
S21.对轮廓信息进行自适应阈值分割、形态补偿和特征提取处理。
具体地,对轮廓信息进行特征提取处理的方法可以是现有的图像特征提取方法。优选地,形态补偿包括膨胀处理和/或腐蚀处理。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测方法对轮廓信息进行自适应阈值分割、形态补偿和特征提取处理,能使获取的轮廓信息更准确,便于后续获取尖端位置信息、针刺面信息和刺入线信息。
第二方面,如图2、图3和图4所示,本申请提供一种留置针缺陷检测系统,包括:
样品台1,其上放置有留置针;
夹具2,安装在样品台1上,用于夹持留置针;
视觉采集装置3,安装在样品台1一侧,用于采集图像信息;
控制器(图示未画出),用于根据留置针缺陷检测方法对留置针进行缺陷检测;
留置针缺陷检测方法包括以下步骤:
S1.获取图像信息;
S2.根据图像信息获取轮廓信息;
S3.基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;
S4.根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;
S5.根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;
S6.根据针刺面方程获取方程参数信息;
S7.根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
具体地,视觉采集装置3可以是相机,也可以是现有的其他能获取图像信息的装置。
本申请提供的留置针缺陷检测系统,根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息,并且本申请根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,适用范围广,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
优选地,在获取图像信息的过程包括获取多个角度的图像信息,根据图像信息获取轮廓信息的过程包括对多个角度的图像信息进行图像拼接,获取拼接图像信息,根据拼接图像信息获取轮廓信息的实施例中,视觉采集装置3具有多个,并且多个视觉采集装置3分别设置在样平台一侧的不同方位,便于获取多个角度的图像信息。
在一些优选的实施方式中,留置针缺陷检测系统还包括:
照明装置4,安装在样品台1一侧,用于对留置针进行照明;
检测盒5,样品台1、夹具2、视觉采集装置3和照明装置4设置于检测盒5内。
具体地,照明装置4可以是LED灯,也可以是现有的其他能对留置针进行照明的装置。
优选地,照明装置4与视觉采集装置3的数量相同且一一对应,照明装置4设置在与其对应的视觉采集装置3一侧。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测系统设置检测盒5和照明装置4,使用照明装置4对留置针进行照明,并使用检测盒5隔绝检测盒5外部的光线,能为缺陷检测提供良好的照明环境。
在一些优选的实施方式中,检测盒5的一侧具有可开合的开口51,开口51的长度大于留置针的长度。
具体地,在样品台1上的留置针的缺陷检测完成,需要检测下一待检测的留置针时开口51打开,便于取放留置针;在需要对样品台1上的留置针进行检测时开口51闭合,便于隔绝检测盒5外部光线以提供照明环境。
更具体地,实现开口51可开合的形式可以是现有的设置可开合开口的方法,在本实施例中开口51铰链安装在检测盒5上以实现开合。
在该实施方式中,本申请的留置针缺陷检测系统设置长度大于留置针长度的开口51,能在隔绝检测盒5外部光线的同时,通过开口51取放留置针。
第三方面,如图5所示,本申请提供一种电子设备,包括处理器301和存储器302,处理器301和存储器302通过通信总线303和/或其他形式的连接机构(未标出)互连并相互通讯,存储器302存储有处理器301可执行的计算机程序,当电子设备运行时,处理器301执行该计算机程序,以执行上述实施例的任一可选的实现方式中的留置针缺陷检测方法,以实现以下功能:获取图像信息;根据图像信息获取轮廓信息;基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;根据针刺面方程获取方程参数信息;根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
第四方面,本申请实施例提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时,执行上述实施例的任一可选的实现方式中的留置针缺陷检测方法,以实现以下功能:获取图像信息;根据图像信息获取轮廓信息;基于留置针的角度特征根据轮廓信息获取尖端位置信息;根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;根据针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;根据针刺面方程获取方程参数信息;根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。其中,计算机可读存储介质可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory, 简称SRAM),电可擦除可编程只读存储器(Electrically Erasable Programmable Read-OnlyMemory, 简称EEPROM),可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable ReadOnlyMemory, 简称EPROM),可编程只读存储器(Programmable Red-Only Memory, 简称PROM),只读存储器(Read-Only Memory, 简称ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
综上,本申请提供了一种留置针缺陷检测方法、系统、电子设备和存储介质,其中本申请提供的留置针缺陷检测方法,根据尖端位置信息和轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,能在不对轮廓信息做其他复杂分析的前提下简便迅捷地获取刺入线信息和针刺面信息,并且本申请根据刺入线信息与标准刺入线信息,以及方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测,适用范围广,能简便迅捷地检测留置针针身和针尖是否存在缺陷,从而能提高缺陷检测的效率和准确率。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
另外,作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
再者,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
以上所述仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请的保护范围,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种留置针缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1.获取图像信息;
S2.根据所述图像信息获取轮廓信息;
S3.基于留置针的角度特征根据所述轮廓信息获取尖端位置信息;
S4.根据所述尖端位置信息和所述轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,所述刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,所述针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;
S5.根据所述针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;
S6.根据所述针刺面方程获取方程参数信息;
S7.根据所述刺入线信息与标准刺入线信息,以及所述方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
2.根据权利要求1所述的一种留置针缺陷检测方法,其特征在于,步骤S3中,所述基于留置针的角度特征根据所述轮廓信息获取尖端位置信息的过程包括:
S31.基于Harris角点检测方法根据所述轮廓信息获取尖端位置信息。
3.根据权利要求1所述的一种留置针缺陷检测方法,其特征在于,步骤S1中,所述获取图像信息的过程包括:
A1.获取多个角度的图像信息;
步骤S2中,所述根据所述图像信息获取轮廓信息的过程包括:
A21.对多个角度的图像信息进行图像拼接,获取拼接图像信息;
A22.根据所述拼接图像信息获取轮廓信息。
4.根据权利要求1所述的一种留置针缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2中,所述根据所述图像信息获取轮廓信息的过程包括:
B1.获取颜色信息;
B2.对图像信息进行色彩空间分割,并根据所述颜色信息从色彩空间分割后的图像信息中提取轮廓信息。
5.根据权利要求3所述的一种留置针缺陷检测方法,其特征在于,步骤S2与步骤S3之间还包括:
S21.对所述轮廓信息进行自适应阈值分割、形态补偿和特征提取处理。
6.一种留置针缺陷检测系统,其特征在于,包括:
样品台(1),其上放置有留置针;
夹具(2),安装在样品台(1)上,用于夹持留置针;
视觉采集装置(3),安装在样品台(1)一侧,用于采集图像信息;
控制器,用于根据留置针缺陷检测方法对留置针进行缺陷检测;
所述留置针缺陷检测方法包括以下步骤:
S1.获取图像信息;
S2.根据所述图像信息获取轮廓信息;
S3.基于留置针的角度特征根据所述轮廓信息获取尖端位置信息;
S4.根据所述尖端位置信息和所述轮廓信息获取刺入线信息和针刺面信息,所述刺入线信息为位于留置针中心且与留置针针身轮廓平行的直线,所述针刺面信息为留置针针尖的轮廓曲线;
S5.根据所述针刺面信息建立二维曲线方程,获取针刺面方程;
S6.根据所述针刺面方程获取方程参数信息;
S7.根据所述刺入线信息与标准刺入线信息,以及所述方程参数信息与标准方程参数信息对留置针进行缺陷检测。
7.根据权利要求6所述的一种留置针缺陷检测系统,其特征在于,所述留置针缺陷检测系统还包括:
照明装置(4),安装在样品台(1)一侧,用于对留置针进行照明;
检测盒(5),所述样品台(1)、所述夹具(2)、所述视觉采集装置(3)和所述照明装置(4)设置于所述检测盒(5)内。
8.根据权利要求7所述的一种留置针缺陷检测系统,其特征在于,所述检测盒(5)的一侧具有可开合的开口(51),所述开口(51)的长度大于留置针的长度。
9.一种电子设备,其特征在于,包括处理器(301)和存储器(302),所述存储器(302)存储有所述处理器(301)可执行的计算机程序,所述处理器(301)执行所述计算机程序时,运行如权利要求1-5任一项所述留置针缺陷检测方法中的步骤。
10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器(301)执行时运行如权利要求1-5任一项所述留置针缺陷检测方法中的步骤。
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