CN117538618A - 电容检测方法及检测装置、电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种电容检测方法,用于电容检测装置,该方法包括:获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,根据第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值,根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值,从而避免不准确的检测通道电容值对待检测电容的电容值的影响,提高待检测电容的电容测量精度,避免相关的误判。本申请还提供一种电容检测装置。
Description
技术领域
本申请涉及触摸检测领域,特别涉及一种电容检测方法及检测装置、电子设备。
背景技术
电容式传感器是将被测物理量或机械量转换成为电容量变化的一种转换装置,电容式传感器由于结构简单、性能稳定、灵敏度高等优点被广泛应用到工业及消费类电子产品领域,如:压力、位移、加速度、厚度、液位等测量。
电容式传感器的基本工作原理:通过电容检测电路,可把传感器电容的变化量转换为电信号输出。测知电信号的大小,可判断被测量的大小。在触摸接近的检测中,电容式传感器的电容会受到环境干扰而发生变化,进而导致测量的电信号的变化,使得电容式传感器的检测精度下降,可能导致传感器的误判。
当前基于补偿系数的电容补偿方法存在补偿精度不高,易于受到环境干扰的问题,因此需要能够抑制环境干扰、提高电容检测补偿精度的方案。
发明内容
本申请的一些实施方式提供了一种电容检测方法及检测装置、电子设备,以下从多个方面介绍本申请,以下多个方面的实施方式和有益效果可互相参考。
第一方面,本申请实施例提供了一种电容检测方法,用于电容检测装置,该方法包括:获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,第一检测通道电容值和第一参考通道电容值通过电容检测装置对检测通道和参考通道进行电容测量确定;根据第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值;根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
根据本申请的第一方面提供的电容检测方法,能够避免不准确的检测通道电容值对待检测电容的电容值的影响,提高待检测电容的电容测量精度,避免相关的误判。
在一些实施方式中,该方法还包括:在室温环境中对检测通道和参考通道进行电容值校准。
在一些实施方式中,室温环境温度为25℃。
在一些实施方式中,参考通道电容值与电容补偿值映射表存储在电容检测装置的缓存中。
在一些实施方式中,参考通道电容值与电容补偿值映射表根据在温度变化范围中不同温度下采集的检测通道的第二检测通道电容值和参考通道的第二参考通道电容值确定。
在一些实施方式中,温度变化范围包括如下温度范围:从室温环境温度到最低温度的温度范围,从最低温度到室温环境温度的温度范围,和从室温环境温度到最高温度的温度范围。
在一些实施方式中,最低温度为-30℃,最高温度为80℃。
在一些实施方式中,参考通道电容值与电容补偿值映射表的构建方法,包括:在室温环境温度下对检测通道和参考通道进行电容值校准;设定环境温度为温度变化范围中的第一温度,并在第一温度下获取检测通道的第二检测通道电容值和参考通道的第二参考通道电容值;根据第二检测通道电容值,确定第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值;将由第二参考通道电容值和对应的第二电容补偿值组成的数据对添加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中;改变环境温度为第一温度之后的第二温度,并在第二温度下确定参考通道的第三参考通道电容值及对应的第三电容补偿值,并将由第三参考通道电容值和对应的第三电容补偿值组成的数据对添加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中。
在一些实施方式中,根据第二检测通道电容值,确定第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值,包括:将第二检测通道电容值的负值确定为第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值。
在一些实施方式中,参考通道电容值与电容补偿值映射表中两两参考通道电容值之间的数值间隔相等。
在一些实施方式中,该方法还包括:通过插值法或增加电容值采集次数对参考通道电容值与电容补偿值映射表中缺失的参考通道电容值进行补全。
第二方面,本申请的实施方式提供了一种电容检测装置,包括:电容值获取模块,用于获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,其中,第一检测通道电容值和第一参考通道电容值通过电容检测装置对检测通道和参考通道进行电容测量确定;补偿值确定模块,用于根据第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值的映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值;电容补偿模块,用于根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
第三方面,本申请实施方式提供了一种电子设备,包括:电容检测装置,电容检测装置用于执行上述第一方面以及第一方面的各种可能实施方式中的任一种电容检测方法。
根据本申请的第二和第三方面提供的电容检测装置,其能够避免不准确的检测通道电容值对待检测电容的电容值的影响,提高待检测电容的电容测量精度,避免相关的误判。
附图说明
图1示出根据本申请一些实施例提供的一种电容检测装置的应用场景。
图2示出根据本申请一些实施例提供的一种电容检测方法的流程示意图。
图3示出根据本申请一些实施例提供的一种构建参考通道电容值与电容补偿值映射表的流程示意图。
图4示出根据本申请一些实施例提供的一种电容检测装置的框图。
图5示出根据本申请一些实施例提供的一种片上系统(system on chip,SoC)的框图。
具体实施方式
下面将结合附图对本申请的具体实施方式进行详细描述。
图1示出根据本申请的一些实施例提供的电容检测装置的应用场景。该电容检测装置作为触摸传感器的示例进行介绍。
如图1所示,电容检测装置100包括:模拟前端(analog front end,AFE)、模数转换单元(analog-to-digital converter,ADC)、数字处理单元、存储器、偏移补偿单元、检测通道引脚CS和参考通道引脚CR。
模拟前端AFE,用于输出与输入电容成比例的电压。
模数转换单元ADC,用于将来自模拟前端的模拟输入电压转换成电容值,并将电容值输出到数字处理单元。
数据处理单元,用于从模数转换单元ADC中获取参考通道的电容值,并根据该参考通道的电容值在存储器中查询获取对应的电容补偿值,并将得到的电容补偿值提供给偏移补偿单元进行检测通道的电容值补偿。
存储器,用于预先建立的参考通道电容值与电容补偿值的对应数据表。
偏移补偿单元,用于根据得到的电容补偿值对检测通道的电容值进行补偿,输出补偿后的检测通道电容值。
检测通道引脚CS,用于连接检测通道走线1,检测通道引脚CS和检测通道走线1共同构成检测通道,检测通道与地之间形成的自电容为检测通道的电容,电容检测装置100通过对检测通道与地之间自电容的检测得到检测通道的电容值。
参考通道引脚CR,用于连接参考通道走线2,参考通道引脚CR和参考通道走线2共同构成参考通道,参考通道与地之间形成的自电容为参考通道的电容,电容检测装置100通过对参考通道与地之间自电容的检测得到参考通道的电容值。
可以理解,参考通道走线2的至少一部分与检测通道走线1平行,从而能够确保参考通道与检测通道的周边情况尽可能地一致,提高电容补偿准确度,从而确保电容检测装置100的检测精度。
可以理解,在本申请的一些实施例中,电容检测装置100可以芯片的形式呈现,在其它一些实施例中,电容检测装置100还可以是以其它的形式,诸如电路,在此不作具体限定,只要能够实现电容检测的作用即可。电容检测装置100能够用于检测外部待检测电容的电容值,例如,待检测电容为SAR触摸传感器中的电容。
电容检测装置100首先在标准环境下分别对检测通道和参考通道进行校准,标准环境例如可以是室温25℃,校准是将两个通道的电容值校准到0附近。再对检测通道和参考通道与地之间的电容值进行测量,即通过AFE单元分别输出与检测通道和参考通道与地之间的电容成比例的模拟电压,并通过ADC单元分别得到参考通道与地之间的参考通道电容值和检测通道与地之间的检测通道电容值;数据处理单元从存储器读取预先保存的多组数据,其中每组数据包括参考通道电容值及对应的电容补偿值,并根据从ADC单元得到的参考通道电容值在多组数据中查询得到相应的电容补偿值,再将得到的电容补偿值提供给偏移补偿单元;偏移补偿单元根据得到的电容补偿值,对从ADC单元得到的检测通道电容值进行补偿,得到补偿后的检测通道电容值,补偿后的检测通道电容值为去除环境影响后的检测通道的自电容值。
电容检测装置100通过对检测通道电容的补偿,从而降低环境变化对检测通道电容的测量值的影响,进而在对待检测电容进行电容测量时,避免不准确的检测通道电容测量值对待检测电容的电容测量值的影响,提高待检测电容的电容测量精度,避免相关的误判。
该电容检测装置100具体可以应用于可穿戴设备、手机、平板电脑、笔记本电脑、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer,UMPC)、手持计算机、上网本、个人数字助理(personal digital assistant,PDA)、虚拟现实设备等具有触摸屏的电子设备,本申请实施例对此不作具体限制。
可以理解,本申请的电容检测方法适用于电容检测装置对检测通道进行电容补偿的场景。
在一些实施例中,是通过假定检测通道电容值与参考通道电容值存在固定的比例关系,因此使用固定的系数A和参考通道电容值Data_ref对检测通道电容值Data_raw进行补偿,得到补偿后的检测通道电容值Data_new,计算公式如下:
Data_new = Data_raw – A*Data_ref (1)
然而,这种补偿方式存在较大缺陷。当环境迅速变化时,例如环境温度的快速变化,由于检测通道和参考通道电路结构不一致,或者检测通道和参考通道所处位置不同,可能导致检测通道和参考通道对温度的传导速度不一致,进而使得检测通道的电容值和参考通道的电容值之间的数据相关性降低,从而使用固定的系数A来表示检测通道电容值与参考通道电容值之间的关联,会导致对检测通道电容值进行补偿时误差较大。
在此,这种补偿方式的缺陷表现在两个方面:一是不同温度段中,检测通道电容值与参考通道电容值之间的最优系数不同,二是在相同的温度段中,不同的温度变化速度,检测通道电容值与参考通道电容值之间的最优系数也不同,因此,使用固定的系数A难以反映检测通道电容值和参考通道电容值在不同温度环境中的比例关系。
可以理解,在一些实施例中,在不同的温度环境中使用固定的系数A表示检测通道电容值与参考通道电容值的数据相关度,会导致利用参考通道电容值对检测通道电容值进行补偿时误差较大,难以得到准确的检测通道电容值,进而使得对外部电容的电容检测产生较大误差,导致可能的误判。
为解决上述问题,本申请实施例提供了一种电容检测装置以及电容检测方法。在一些实施例中,该电容检测方法的执行主体即为电容检测装置。
根据本申请的实施例的电容检测方法包括:获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,根据第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值,根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
通过上述方法,可以在实时采样场景中,根据采样得到的参考通道电容值,确定对应的电容补偿值,再根据对应的电容补偿值对检测通道电容值进行补偿,得到更加准确的检测通道电容值,从而能够降低环境变化对检测通道电容值的影响,进而在对待检测电容进行电容测量时,避免不准确的检测通道电容值对待检测电容的电容值的影响,提高待检测电容的电容测量精度,避免相关的误判。
下面结合上述图1所示的场景并结合图2,详细介绍本申请的技术方案。如图2所示,本申请的一些实施例中电容检测方法的执行主体可以是电容检测装置,该方法可以包括如下步骤:
步骤S1,获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值。
在此,检测通道包括检测通道引脚和检测通道走线,电容检测装置对检测通道的电容进行检测得到第一检测通道电容值,第一检测通道电容值包括检测通道引脚和检测通道走线与地之间形成的自电容的电容值。
类似地,参考通道包括参考通道引脚和参考通道走线,电容检测装置对参考通道的电容进行检测得到第一参考通道电容值,第一参考通道电容值包括参考通道引脚和参考通道走线与地之间形成的自电容的电容值。
可以理解,电容检测装置对待检测电容(未示出)进行检测时,待检测电容的电容值会受到检测通道的第一检测通道电容值的影响,通过对第一检测通道电容值进行后续的电容补偿,能够减小待检测电容的电容值误差,避免可能的误判。
在此,电容检测装置在某种环境中对检测通道和参考通道进行电容检测,此时没有人体或物体接近电容检测装置,可以避免过多影响检测通道的电容值确定。
具体来说,可以通过温度来描述一种环境,例如温度为30℃的环境,温度为45℃的环境等,不同的环境温度对检测通道和参考通道的电容值的影响不同。
在此,通过电容检测装置对检测通道和参考通道进行电容检测,得到相应的第一检测通道电容值和第一参考通道电容值。
步骤S2,根据第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值。
在此,参考通道电容值与电容补偿值映射表为预先构建的映射数据表,表中包括多个数据对,每个数据对至少由一个参考通道电容值和相应的一个电容补偿值组成,电容补偿值是用于对该参考通道电容值对应的检测通道电容值进行补偿的电容值。
例如,映射数据表中包括一个数据对:<参考通道电容值A,电容补偿值a>,参考通道电容值A对应的检测通道电容值为B,则电容补偿值a用于对检测通道电容值B进行补偿,以得到去除环境干扰后的检测通道电容值C。
可以理解,表中数据对还可以包括检测通道电容值或其它数据,本申请实施例对此不作具体限制。
在一些实施例中,根据第一参考通道电容值,在映射表中的多个数据对中查找参考通道电容值为第一参考通道电容值的数据对,将查找到的数据对中的电容补偿值确定为第一电容补偿值。
可以理解,在根据第一参考通道电容值在映射表中进行查询时,可以采用模糊查询的方式,即某个数据对中的参考通道电容值在以第一参考通道电容值为中心的一个数值区间中,也将该数据对中的电容补偿值确定为第一电容补偿值。
步骤S3,根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
在此,将得到的第一电容补偿值作为第一检测通道电容值的补偿值,进行补偿后,得到的结果电容值为补偿后的检测通道电容值,该补偿后的检测通道电容值为更准确的检测通道电容值。
例如,第一电容补偿值为Data_comp,第一检测通道电容值为Data_raw_curr,补偿后的检测通道电容值为Data_new_curr,计算公式如下:
Data_new_curr = Data_raw_curr + Data_comp (2)
通过上述方法,可以根据当前获取的第一参考通道电容值在预先建立的映射表中查询得到对应的第一电容补偿值,再使用第一电容补偿值对当前获取的第一检测通道电容值进行补偿,得到补偿后的检测通道电容值,从而在当前环境中得到更加准确的检测通道电容值,进而减小对待检测电容进行电容检测时的误差,提高待检测电容的电容检测精度,避免可能的误判。
图3示出根据本申请的另外一些实施例中参考通道电容值与电容补偿值映射表的构建方法的流程。该流程可以包括如下步骤:
步骤S31,在室温环境温度下对检测通道和参考通道进行电容值校准。
在此,参考通道电容值与电容补偿值映射表作为可以用于多种环境下的标准数据表,数据的准确性要求很高,数据不准确会导致后续的实时电容检测和补偿过程中误差增大,难以提高电容检测的精度。因此,首先需要在常用的环境例如室温环境中对检测通道和参考通道进行电容值校准,将两个通道的电容值分别校准到0附近,便于后续的电容补偿值计算。
一般来说,环境因素中温度对电容值的影响更大,不同的温度环境中检测通道和参考通道的电容值变化程度不同。
可以理解,对检测通道和参考通道进行电容值校准可以在室温环境温度下进行,简单方便,也可以在其它环境温度下进行,本申请实施例对此不作具体限制。
步骤S32,设定环境温度为温度变化范围中的第一温度,并在第一温度下获取检测通道的第二检测通道电容值和参考通道的第二参考通道电容值。
可以理解,将检测通道和参考通道设置在不同温度的环境下分别采集获取检测通道和参考通道的电容值,获取对应不同温度的多组检测通道电容值和参考通道电容值。
在一些实施例中,通过将检测通道和参考通道设置在温箱中来调节检测通道和参考通道所处环境的温度。在此,温箱可以用于模拟环境温度的变化,方便采集检测通道和参考通道在不同环境温度下的电容值。
在此,温度变化范围是预先设定的温度范围,其中可以包括最高温度和最低温度,环境温度可以在温度变化范围内持续变化。
例如,第一温度可以是28℃,在温箱温度为28℃时对检测通道的电容值进行检测得到第二检测通道电容值,对参考通道的电容值进行检测得到第二参考通道电容值。
步骤S33,根据第二检测通道电容值,确定第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值。
在此,第二参考通道电容对应的第二电容补偿值根据第二检测通道电容值来确定。可以理解,第二电容补偿值可以是第二检测通道电容值与某个常量的积,也可以是第二检测通道电容值与某个常量的和,本申请实施例对此不作具体限制。
步骤S34,将由第二参考通道电容值和对应的第二电容补偿值组成的数据对添加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中。
获得第二电容补偿值之后,对应的第二参考通道电容值和第二电容补偿值可以组成一个数据对,将该数据对加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中,可以通过保存该映射表来实现该数据对的存储,从而可以用于后续的参考通道电容值查询过程中。
在此,该映射表可以存储在电容检测装置的缓存中,从而提高参考通道电容值查询的速度。
步骤S35,改变环境温度为第一温度之后的第二温度,并在第二温度下确定参考通道的第三参考通道电容值及对应的第三电容补偿值,并将由第三参考通道电容值和对应的第三电容补偿值组成的数据对添加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中。
为参考通道电容值与电容补偿值映射表添加第一温度下的数据对之后,再将温度变化范围中其它温度下的数据对添加到该映射表中,从而提供全面的查询数据。
因此,将环境温度改变为第二温度,第二温度为温度变化范围中第一温度相邻的温度,例如,温度变化范围为[25℃,-30℃],第一温度为27℃,则第二温度可以为28℃。
随后,在第二温度下对检测通道和参考通道进行电容检测得到第三检测通道电容值和第三参考通道电容值,再根据第三检测通道电容值确定第三电容补偿值,并将第三参考通道电容值和第三电容补偿值组成的数据对添加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中。
如此重复进行改变环境温度,采集检测通道和参考通道的电容值,并确定电容补偿值,将参考通道的电容值和电容补偿值组成的数据对添加到参考通道电容值与电容补偿值映射表中的过程,直到温度变化范围中所有温度下的数据都采集完成。
在本申请的一些实施例中,在室温环境中对检测通道和参考通道进行电容值校准。在室温环境中进行电容值校准,简单方便,易于操作。
在本申请的一些实施例中,所述室温环境温度为25℃。
在本申请的一些实施例中,参考通道电容值与电容补偿值映射表存储在电容检测装置的缓存中。通过在缓存中参考通道电容值与电容补偿值映射表,能够提高查询效率,快速得到电容补偿值。
在本申请的一些实施例中,参考通道电容值与电容补偿值映射表根据在温度变化范围中不同温度下采集的检测通道的第二检测通道电容值和参考通道的第二参考通道电容值确定。
在本申请的一些实施例中,温度变化范围包括如下温度范围:从室温环境温度到最低温度的温度范围,从最低温度到室温环境温度的温度范围,和从室温环境温度到最高温度的温度范围。
在本申请的一些实施例中,最低温度为-30℃,最高温度为80℃。从而覆盖电容检测装置最常用的温度范围,在这个范围内实现检测通道电容值的精确补偿。
例如,温度变化范围可以为:从25℃→-30℃→25℃→80℃,在这个温度变化范围中对检测通道和参考通道的电容值进行检测,确定不同温度下参考通道的电容值对应的电容补偿值。
在本申请的一些实施例中,将第二检测通道电容值的负值确定为第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值。计算公式表示如下:
Data_comp = - Data_raw (3)
通过这种方法,以简单、易于计算的方式确定第二电容补偿值,能够提高对第二检测通道电容值进行补偿时的计算效率。
在本申请的一些实施例中,参考通道电容值与电容补偿值映射表中两两参考通道电容值之间的数值间隔相等。在此,两两参考通道电容值之间的数值间隔为最小数值间隔,从而可以根据实时采集的参考通道电容值确定最精确的电容补偿值,使用精确的电容补偿值对检测通道电容值进行补偿。
在本申请的一些实施例中,还可以通过插值法或增加电容值采集次数对参考通道电容值与电容补偿值映射表中缺失的参考通道电容值进行补全。在此,如果映射表中参考通道电容值的覆盖面不够全面,有些数值范围内的数据缺失,可以通过插值法和增加电容值采集次数来增加数据点密度,从而对参考通道电容值进行补全。
图4示出根据本申请一些实施例提供的一种电容检测装置的框图。电容检测装置100,包括:电容值获取模块110、补偿值确定模块120和电容补偿模块130。
电容值获取模块110,用于获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,其中,第一检测通道电容值和第一参考通道电容值通过电容检测装置对检测通道和参考通道进行电容测量确定;
补偿值确定模块120,用于根据第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值的映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值;
电容补偿模块130,用于根据第一电容补偿值对第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
图5示出根据本申请一些实施例提供的一种片上系统(system on chip,SoC)的框图。在图5中,相似的部件具有同样的附图标记。另外,虚线框是更先进的SoC的可选特征。在图5中,SoC 1500包括:互连单元1550,其被耦合至应用处理器1515;系统代理单元1570;总线控制器单元1580;集成存储器控制器单元1540;一组或一个或多个协处理器1520,其可包括集成图形逻辑、图像处理器、音频处理器和视频处理器;静态随机存取存储器(SRAM)单元1530;直接存储器存取(DMA)单元1560。在一个实施例中,协处理器1520包括专用处理器,诸如例如网络或通信处理器、压缩引擎、GPGPU、高吞吐量MIC处理器、或嵌入式处理器等等。
根据本申请的提供的电容检测方法及检测装置、电子设备,其能够校正由于环境变化所引起的电容变化,从而确保电容检测精度,避免发生误判。
本申请公开的机制的各实施例可以被实现在硬件、软件、固件或这些实现方法的组合中。本申请的实施例可实现为在可编程系统上执行的计算机程序或程序代码,该可编程系统包括至少一个处理器、存储系统(包括易失性和非易失性存储器和/或存储元件)、至少一个输入设备以及至少一个输出设备。
可将程序代码应用于输入指令,以执行本申请描述的各功能并生成输出信息。可以按已知方式将输出信息应用于一个或多个输出设备。为了本申请的目的,处理系统包括具有诸如例如数字信号处理器(digital signal processor,DSP)、微控制器、专用集成电路(application specific integrated circuit,ASIC)或微处理器之类的处理器的任何系统。
程序代码可以用高级程序化语言或面向对象的编程语言来实现,以便与处理系统通信。在需要时,也可用汇编语言或机器语言来实现程序代码。事实上,本申请中描述的机制不限于任何特定编程语言的范围。在任一情形下,该语言可以是编译语言或解释语言。
在一些情况下,所公开的实施例可以以硬件、固件、软件或其任何组合来实现。所公开的实施例还可以被实现为由一个或多个暂时或非暂时性机器可读(例如,计算机可读)存储介质承载或存储在其上的指令,其可以由一个或多个处理器读取和执行。例如,指令可以通过网络或通过其他计算机可读介质分发。因此,机器可读介质可以包括用于以机器(例如,计算机)可读的形式存储或传输信息的任何机制,包括但不限于,软盘、光盘、光碟、只读存储器(CD-ROMs)、磁光盘、只读存储器(read only memory,ROM)、随机存取存储器(randomaccess memory,RAM)、可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read onlymemory,EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(electrically erasable programmableread-only memory,EEPROM)、磁卡或光卡、闪存、或用于利用因特网以电、光、声或其他形式的传播信号来传输信息(例如,载波、红外信号数字信号等)的有形的机器可读存储器。因此,机器可读介质包括适合于以机器(例如计算机)可读的形式存储或传输电子指令或信息的任何类型的机器可读介质。
在附图中,可以以特定布置和/或顺序示出一些结构或方法特征。然而,应该理解,可能不需要这样的特定布置和/或排序。而是,在一些实施例中,这些特征可以以不同于说明性附图中所示的方式和/或顺序来布置。另外,在特定图中包括结构或方法特征并不意味着暗示在所有实施例中都需要这样的特征,并且在一些实施例中,可以不包括这些特征或者可以与其他特征组合。
需要说明的是,本申请各设备实施例中提到的各单元/模块都是逻辑单元/模块,在物理上,一个逻辑单元/模块可以是一个物理单元/模块,也可以是一个物理单元/模块的一部分,还可以以多个物理单元/模块的组合实现,这些逻辑单元/模块本身的物理实现方式并不是最重要的,这些逻辑单元/模块所实现的功能的组合才是解决本申请所提出的技术问题的关键。此外,为了突出本申请的创新部分,本申请上述各设备实施例并没有将与解决本申请所提出的技术问题关系不太密切的单元/模块引入,这并不表明上述设备实施例并不存在其它的单元/模块。
需要说明的是,在本专利的示例和说明书中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
虽然通过参照本申请的某些优选实施例,已经对本申请进行了图示和描述,但本领域的普通技术人员应该明白,可以在形式上和细节上对其作各种改变,而不偏离本申请的精神和范围。
Claims (13)
1.一种电容检测方法,用于电容检测装置,其特征在于,该方法包括:
获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,其中,所述第一检测通道电容值和第一参考通道电容值通过所述电容检测装置对所述检测通道和所述参考通道进行电容测量确定;
根据所述第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值;
根据所述第一电容补偿值对所述第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
在室温环境中对所述检测通道和所述参考通道进行电容值校准。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述室温环境温度为25℃。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参考通道电容值与电容补偿值映射表存储在所述电容检测装置的缓存中。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参考通道电容值与电容补偿值映射表根据在温度变化范围中不同温度下采集的所述检测通道的第二检测通道电容值和所述参考通道的第二参考通道电容值确定。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述温度变化范围包括如下温度范围:
从室温环境温度到最低温度的温度范围,从所述最低温度到所述室温环境温度的温度范围,和从所述室温环境温度到最高温度的温度范围。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述最低温度为-30℃,所述最高温度为80℃。
8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述参考通道电容值与电容补偿值映射表的构建方法,包括:
在室温环境温度下对所述检测通道和所述参考通道进行电容值校准;
设定环境温度为所述温度变化范围中的第一温度,并在所述第一温度下获取所述检测通道的第二检测通道电容值和所述参考通道的第二参考通道电容值;
根据所述第二检测通道电容值,确定所述第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值;
将由所述第二参考通道电容值和对应的所述第二电容补偿值组成的数据对添加到所述参考通道电容值与电容补偿值映射表中;
改变环境温度为所述第一温度之后的第二温度,并在所述第二温度下确定所述参考通道的第三参考通道电容值及对应的第三电容补偿值,并将由所述第三参考通道电容值和对应的所述第三电容补偿值组成的数据对添加到所述参考通道电容值与电容补偿值映射表中。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,根据所述第二检测通道电容值,确定所述第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值,包括:
将所述第二检测通道电容值的负值确定为所述第二参考通道电容值对应的第二电容补偿值。
10.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述参考通道电容值与电容补偿值映射表中两两参考通道电容值之间的数值间隔相等。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
通过插值法或增加电容值采集次数对所述参考通道电容值与电容补偿值映射表中缺失的所述参考通道电容值进行补全。
12.一种电容检测装置,其特征在于,包括:
电容值获取模块,用于获取检测通道的第一检测通道电容值和参考通道的第一参考通道电容值,其中,所述第一检测通道电容值和第一参考通道电容值通过所述电容检测装置对所述检测通道和所述参考通道进行电容测量确定;
补偿值确定模块,用于根据所述第一参考通道电容值,在预先构建的参考通道电容值与电容补偿值的映射表中查询,确定对应的第一电容补偿值;
电容补偿模块,用于根据所述第一电容补偿值对所述第一检测通道电容值进行补偿,确定补偿后的检测通道电容值。
13.一种电子设备,其特征在于,包括:
电容检测装置,所述电容检测装置用于执行权利要求1-11中任一项所述的电容检测方法。
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CN202311490960.6A CN117538618A (zh) | 2023-11-09 | 2023-11-09 | 电容检测方法及检测装置、电子设备 |
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CN117538618A true CN117538618A (zh) | 2024-02-09 |
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2023
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