CN117538615A - 阻抗检测电路、阻抗检测设备及阻抗检测方法 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种阻抗检测电路、阻抗检测设备及阻抗检测方法，阻抗检测电路的可调电抗单元具有可调的电抗值；可调电阻单元具有可调的电阻值；调节单元用于调节可调电抗单元的电抗值和可调电阻单元的电阻值；其中，调节单元先调节可调电抗单元的电抗值，在阻抗检测电路的电流达到峰值时，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，以使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值用于计算得到射频电路的阻抗值。本申请可在射频电路工作的时候动态检测射频电路的阻抗值。
Description
技术领域
本申请涉及射频技术领域，尤其涉及一种阻抗检测电路、阻抗检测设备及阻抗检测方法。
背景技术
目前，随着射频（Radio Frequency，RF）各种应用的普及，射频电路越来越多地应用于各个领域。其中，射频电路在搭建完成后往往要检测射频电路的动态参数，从而调节射频电路。然而，现有的检测方式在射频电路的静态情况下无法检测得到射频电路的动态参数，尤其是射频电路的阻抗值，也就很难调节射频电路，容易导致射频电路的损毁。因此，如何在射频电路工作的时候动态检测射频电路的阻抗值，成为了需要考虑的问题。
发明内容
本申请提供一种阻抗检测电路、阻抗检测设备及阻抗检测方法，可在射频电路工作的时候动态检测射频电路的阻抗值。
第一方面，提供一种阻抗检测电路，用于检测射频电路的阻抗值，所述阻抗检测电路包括可调电抗单元、可调电阻单元以及调节单元，所述可调电抗单元连接于所述射频电路的输出路径中，具有可调的电抗值；所述可调电阻单元与所述可调电抗单元串联连接于所述射频电路的输出路径中，具有可调的电阻值；所述调节单元用于调节所述可调电抗单元的电抗值和所述可调电阻单元的电阻值；其中，所述调节单元先调节所述可调电抗单元的电抗值，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，所述调节单元停止调节所述可调电抗单元的电抗值，并进一步调节所述可调电阻单元的电阻值，以使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得所述可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，所述调节所述可调电阻单元的电阻值而使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值、所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值用于计算得到所述射频电路的阻抗值。
在一种可能的实施方式中，所述射频电路的阻抗值包括电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，所述射频电路的电路电抗值Xs基于所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值计算得出，所述射频电路的电路电阻值Rs基于所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值计算得出。
在一种可能的实施方式中，所述射频电路的电路电抗值Xs=-Xr，其中，Xr为所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值。
在一种可能的实施方式中，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，所述调节单元对所述可调电阻单元的电阻值进行至少一次调节，以使得所述可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，所述射频电路的电路电阻值Rs基于所述第一电阻值R1、所述第二电阻值R2以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元分别处于所述第一电阻值R1和所述第二电阻值R2时的电压值计算得出。
在一种可能的实施方式中，所述射频电路的电路电阻值Rs基于所述第一电阻值R1、所述第二电阻值R2、所述可调电抗单元在所述可调电阻单元分别处于所述第一电阻值R1和所述第二电阻值R2时的电压值以及如下关系表达式计算得出：U1/U2=(Rs+R2)/(Rs+R1)，其中，U1为所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于第一电阻值R1时的第一电压值，U2为所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于第二电阻值R2时的第二电压值。
在一种可能的实施方式中，所述可调电抗单元至少包括第一可调电感和第一可调电容，所述第一可调电感与所述第一可调电容串联连接，所述可调的电抗值包括可调的电感值和/或电容值，所述可调电阻单元至少包括第一可调电阻。
第二方面，还提供一种阻抗检测设备，所述阻抗检测设备包括上述的阻抗检测电路，所述阻抗检测设备还包括检测单元和控制单元，所述检测单元用于检测所述阻抗检测电路的电流值以及所述可调电抗单元处于各个电阻值时的各个电压值；所述控制单元用于控制所述调节单元先调节所述可调电抗单元的电抗值，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制所述调节单元停止调节所述可调电抗单元的电抗值，并进一步调节所述可调电阻单元的电阻值，以使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得所述可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，所述调节所述可调电阻单元的电阻值而使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，基于所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值、所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到所述射频电路的阻抗值。所述阻抗检测电路包括可调电抗单元、可调电阻单元以及调节单元，所述可调电抗单元连接于所述射频电路的输出路径中，具有可调的电抗值；所述可调电阻单元与所述可调电抗单元串联连接于所述射频电路的输出路径中，具有可调的电阻值；所述调节单元，用于调节所述可调电抗单元的电抗值和所述可调电阻单元的电阻值；其中，所述调节单元先调节所述可调电抗单元的电抗值，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，所述调节单元停止调节所述可调电抗单元的电抗值，并进一步调节所述可调电阻单元的电阻值，以使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得所述可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，所述调节所述可调电阻单元的电阻值而使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值、所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值用于计算得到所述射频电路的阻抗值。
第三方面，还提供一种阻抗检测方法，应用于上述的阻抗检测设备中，用于对所述射频电路的阻抗值进行检测，所述阻抗检测方法包括：
控制调节单元调节可调电抗单元的电抗值，并通过检测单元检测阻抗检测电路的电流值；
在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，以使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值；
基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到射频电路的阻抗值。
所述阻抗检测设备包括上述的阻抗检测电路，所述阻抗检测设备还包括检测单元和控制单元，所述检测单元用于检测所述阻抗检测电路的电流值以及所述可调电抗单元处于各个电阻值时的各个电压值；所述控制单元用于控制所述调节单元先调节所述可调电抗单元的电抗值，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制所述调节单元停止调节所述可调电抗单元的电抗值，并进一步调节所述可调电阻单元的电阻值，以使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得所述可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，所述调节所述可调电阻单元的电阻值而使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，基于所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值、所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到所述射频电路的阻抗值。
在一种可能的实施方式中，所述射频电路的阻抗值包括电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，所述基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到射频电路的阻抗值，包括：
基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值计算得到射频电路的电路电抗值Xs；
基于可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值计算得到射频电路的电路电阻值Rs。
在一种可能的实施方式中，所述在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，包括：
在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并对可调电阻单元的电阻值进行至少一次调节，以使得可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于第一电阻值R1时的第一电压值U1，以及在可调电阻单元处于第二电阻值R2时的第二电压值U2。
本申请的阻抗检测电路、阻抗检测设备及阻抗检测方法，通过串联连接于射频电路的输出路径的可调电抗单元和可调电阻单元，并通过调节可调电抗单元和可调电阻单元的电抗值和电阻值，根据阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，能够得到射频电路的阻抗值，以在射频电路工作的时候动态检测射频电路的阻抗值。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或背景技术中的技术方案，下面将对本申请实施例或背景技术中所需要使用的附图进行说明。
图1为本申请一实施例中的阻抗检测电路的结构示意图。
图2为本申请如图1所示的阻抗检测电路的电路示意图。
图3为本申请一实施例中的可调电抗单元的电路示意图。
图4为本申请一实施例中的可调电阻单元的电路示意图。
图5为本申请一实施例中的调节单元的结构示意图。
图6为本申请一实施例中的阻抗检测设备的电路示意图。
图7为本申请一实施例中的检测单元的结构示意图。
图8为本申请又一实施例中的阻抗检测设备的电路示意图。
图9为本申请一实施例中的阻抗检测方法的流程图。
图10为本申请又一实施例中的阻抗检测方法的流程图。
图11为本申请另一实施例中的阻抗检测方法的流程图。
附图标记说明：1、阻抗检测设备，10、阻抗检测电路，I0、电流值，U0、电压值，100、可调电抗单元，L1、第一可调电感，C1、第一可调电容，L2、第二可调电感，C2、第二可调电容，200、可调电阻单元，RH1、第一可调电阻，RH2、第二可调电阻，300、调节单元，310、第一调节模块，320、第二调节模块，400、检测单元，410、电流检测模块，420、电压检测模块，500、控制单元，20、射频电路。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请实施例的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本申请实施例的描述中，需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或服务器不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
请一并参阅图1和图2，图1为本申请一实施例中的阻抗检测电路的结构示意图，图2为本申请如图1所示的阻抗检测电路的电路示意图。如图1和图2所示，本申请提供一种阻抗检测电路10，用于检测射频电路20的阻抗值，阻抗检测电路10包括可调电抗单元100、可调电阻单元200以及调节单元300，可调电抗单元100连接于射频电路20的输出路径中，具有可调的电抗值；可调电阻单元200与可调电抗单元100串联连接于射频电路20的输出路径中，具有可调的电阻值；调节单元300用于调节可调电抗单元100的电抗值和可调电阻单元200的电阻值；其中，调节单元300先调节可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，调节单元300停止调节可调电抗单元100的电抗值，并进一步调节可调电阻单元200的电阻值，以使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元200的电压为不同的电压值U0，其中，调节可调电阻单元200的电阻值而使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0用于计算得到射频电路20的阻抗值。
从而，本申请的阻抗检测电路10，通过串联连接于射频电路20的输出路径的可调电抗单元100和可调电阻单元200，并通过调节可调电抗单元100和可调电阻单元200的电抗值和电阻值，根据阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0，能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
在一个或多个实施例中，射频电路20可以仅包括射频电源，也可以仅包括射频电源和阻抗匹配网络，还可以包括射频电源、阻抗匹配网络以及负载等其他组成单元，本申请的阻抗检测电路10均可在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
在一个或多个实施例中，调节单元300可以为转动电机，转动电机的转动轴与可调电抗单元100和可调电阻单元200分别连接，在转动电机转动时，与转动电机的转动轴连接的可调电抗单元100和可调电阻单元200的电抗值和电阻值增大或者减小。
其中，转动电机的转动方向包括第一方向和第二方向，第一方向与第二方向相反，在转动电机以第一方向转动时，与转动电机的转动轴连接的可调电抗单元100和可调电阻单元200的电抗值和电阻值可以增大，对应的，以第二方向转动时，与转动电机的转动轴连接的可调电抗单元100和可调电阻单元200的电抗值和电阻值减小。另外，转动电机以第一方向转动时，与转动电机的转动轴连接的可调电抗单元100和可调电阻单元200的电抗值和电阻值也可以减小，对应的，以第二方向转动时，与转动电机的转动轴连接的可调电抗单元100和可调电阻单元200的电抗值和电阻值增大。
在一个或多个实施例中，可调电阻单元200的一端连接可调电抗单元100，可调电阻单元200的另一端可以连接射频电路20的接地端，可调电阻单元200的另一端也可以接地，可调电阻单元200的另一端还可以与射频电路20的接地端和地分别连接。
在一个或多个实施例中，射频电路20的阻抗值包括电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，射频电路20的电路电抗值Xs基于阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值计算得出，射频电路20的电路电阻值Rs基于可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0计算得出。
从而，通过阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值计算得出射频电路20的电路电抗值Xs，并通过可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0计算得出射频电路20的电路电阻值Rs，基于射频电路20的电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
在一个或多个实施例中，射频电路20的电路电抗值Xs=-Xr，其中，Xr为阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值。
从而，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，表明射频电路20与阻抗检测电路10整体发生了谐振，可调电抗单元100的电抗值Xr也就与射频电路20的电路电抗值Xs共轭，利用射频电路20与阻抗检测电路10整体的谐振点，能够得出射频电路20的电路电抗值Xs。
需要说明的是，射频电路20与阻抗检测电路10整体发生了谐振，阻抗检测电路10的电抗值也就与射频电路20的电路电抗值Xs共轭，而在如图2所示的阻抗检测电路10中，阻抗检测电路10仅包含串联于射频电路20的输出路径中的可调电抗单元100具有电抗值，阻抗检测电路10的电抗值也就与可调电抗单元100的电抗值相等，便于指示和计算射频电路20的电路电抗值Xs。
在一个或多个实施例中，调节单元300调大可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流增大时，确定射频电路20的电路电抗值Xs＞-Xr，调节单元300进一步调大可调电抗单元100的电抗值。调节单元300调大可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流减小时，确定射频电路20的电路电抗值Xs＜-Xr，调节单元300调小可调电抗单元100的电抗值。
从而，根据阻抗检测电路10的电流的变化，调整调节单元300对可调电抗单元100的电抗值的调节，调节简单，便于使得阻抗检测电路10的电流达到峰值。
在一个或多个实施例中，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，调节单元300对可调电阻单元200的电阻值进行至少一次调节，以使得可调电阻单元200分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，射频电路20的电路电阻值Rs基于第一电阻值R1、第二电阻值R2以及可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0计算得出。
从而，仅通过对可调电阻单元200的电阻值进行一次调节，并通过第一电阻值R1、第二电阻值R2以及可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0，即可计算得出射频电路20的电路电阻值Rs，调节简便，计算简单。
在一个或多个实施例中，射频电路20的电路电阻值Rs基于第一电阻值R1、第二电阻值R2、可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0以及如下关系表达式计算得出：U1/U2=(Rs+R2)/(Rs+R1)，其中，U1为可调电抗单元100在可调电阻单元200处于第一电阻值R1时的第一电压值，U2为可调电抗单元100在可调电阻单元200处于第二电阻值R2时的第二电压值。
从而，通过关系表达式U1/U2=(Rs+R2)/(Rs+R1)，第一电阻值R1、第二电阻值R2、第一电压值U1以及第二电压值U2均已知，即可计算得出射频电路20的电路电阻值Rs。
具体的，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，调节单元300对可调电阻单元200的电阻值进行至少一次调节，以使得可调电阻单元200分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，可调电抗单元100在可调电阻单元200处于第一电阻值R1时的第一电压值U1和可调电抗单元100在可调电阻单元200处于第二电阻值R2时的第二电压值U2满足以下关系表达式：
U1=U×X/(Rs+R1)；U2=U×X/(Rs+R2)。
其中，U为射频电路20和阻抗检测电路10整体的总电压值，X为射频电路20和阻抗检测电路10整体的总电抗值。
因此，U1/U2=(Rs+R2)/(Rs+R1)，无需获取射频电路20和阻抗检测电路10整体的总电压值U，也无需获取射频电路20和阻抗检测电路10整体的总电抗值X，仅通过阻抗检测电路10的第一电阻值R1、第二电阻值R2、第一电压值U1以及第二电压值U2，即可计算得出射频电路20的电路电阻值Rs。
如图2所示，可调电抗单元100至少包括第一可调电感L1和第一可调电容C1，第一可调电感L1与第一可调电容C1串联连接，可调的电抗值包括可调的电感值和/或电容值，可调电阻单元200至少包括第一可调电阻RH1。
从而，通过可调电抗单元100至少包括第一可调电感L1和第一可调电容C1，可调电阻单元200至少包括第一可调电阻RH1，调节单元300调节第一可调电感L1的电感值和/或第一可调电容C1的电容值，以实现对可调电抗单元100的电抗值的调节，并调节第一可调电阻RH1的电阻值，以实现对可调电阻单元200的电阻值的调节。
根据前述，射频电路20的电路电抗值Xs和可调电抗单元100的电抗值Xr共轭时，阻抗检测电路10的电流达到峰值，射频电路20与阻抗检测电路10整体的电抗为零，而射频电路20与阻抗检测电路10整体的电抗属性呈感性或容性，均会导致阻抗检测电路10的电流值I0下降。因此，在一个或多个实施例中，针对第一可调电感L1的调节，调节单元300调大第一可调电感L1的电感值，在阻抗检测电路10的电流增大时，确定射频电路20与阻抗检测电路10整体的电抗属性呈容性，调节单元300进一步调大第一可调电感L1的电感值，在阻抗检测电路10的电流减小时，确定射频电路20与阻抗检测电路10整体的电抗属性呈感性，调节单元300调小第一可调电感L1的电感值。针对第一可调电容C1的调节，调节单元300调大第一可调电容C1的电容值，在阻抗检测电路10的电流增大时，确定射频电路20与阻抗检测电路10整体的电抗属性呈容感性，调节单元300进一步调大第一可调电容C1的电容值，在阻抗检测电路10的电流减小时，确定射频电路20与阻抗检测电路10整体的电抗属性呈容性，调节单元300调小第一可调电容C1的电容值。
请一并参阅图3，图3为本申请一实施例中的可调电抗单元的电路示意图。如图2、图3所示，可调电抗单元100还包括第二可调电感L2和第二可调电容C2，第二可调电感L2和第二可调电容C2均与第一可调电容C1串联连接，第二可调电感L2与第一可调电感L1的变化精度不同，第二可调电容C2与第一可调电容C1的变化精度不同，其中，变化精度为调节单元300单次调节第一可调电感L1、第二可调电感L2的电感变化值或单次调节第一可调电容C1、第二可调电容C2的电容变化值。
从而，通过与第一可调电感L1变化精度不同的第二可调电感L2，并通过与第一可调电容C1变化精度不同的第二可调电容C2，使得调节单元300调节可调电抗单元100的电抗值时，能够以不同的变化精度调节可调电抗单元100的电抗值，能够根据具体需要，以不同的变化精度调节可调电抗单元100的电抗值，避免错过阻抗检测电路10的电流峰值。
具体的，变化精度越高，单次调节第一可调电感L1、第二可调电感L2的电感变化值或单次调节第一可调电容C1、第二可调电容C2的电容变化值越小。反之，变化精度越低，单次调节第一可调电感L1、第二可调电感L2的电感变化值或单次调节第一可调电容C1、第二可调电容C2的电容变化值越大。
在一个或多个实施例中，第二可调电感L2的变化精度大于第一可调电感L1的变化精度，第二可调电容C2的变化精度大于第一可调电容C1的变化精度，通过调节单元300先调节第一可调电感L1的电感值和/或第一可调电容C1的电容值，并进一步调节第二可调电感L2的电感值和/或第二可调电容C2的电容值，以获取阻抗检测电路10的电流峰值。
从而，通过调节单元300先调节第一可调电感L1的电感值和/或第一可调电容C1的电容值，并进一步调节第二可调电感L2的电感值和/或第二可调电容C2的电容值，能够先对可调电抗单元100的电抗值进行粗调，再进一步对可调电抗单元100的电抗值进行细调，避免变化精度过大，错过阻抗检测电路10的电流峰值。
在一个或多个实施例中，第二可调电感L2与第一可调电感L1的电感值不同，以使得第二可调电感L2与第一可调电感L1的变化精度不同，第二可调电容C2与第一可调电容C1的电容值不同，以使得第二可调电容C2与第一可调电容C1的变化精度不同。
其中，在第二可调电感L2的电感值小于第一可调电感L1的电感值时，第二可调电感L2的变化精度大于第一可调电感L1的变化精度，在第二可调电容C2的电容值小于第一可调电容C1的电容值时，第二可调电容C2的变化精度大于第一可调电容C1的变化精度。
请一并参阅图4，图4为本申请一实施例中的可调电阻单元的电路示意图。如图2、图4所示，可调电阻单元200还包括第二可调电阻RH2，第二可调电阻RH2与第一可调电阻RH1串联连接，第二可调电阻RH2与第一可调电阻RH1的变化精度不同，其中，变化精度为调节单元300单次调节第一可调电阻RH1、第二可调电阻RH2的电阻变化值。
从而，通过与第一可调电阻RH1的变化精度不同的第二可调电阻RH2，使得调节单元300调节可调电阻单元200的电阻值时，能够根据具体需要，以不同的变化精度调节可调电阻单元200的电阻值。
请一并参阅图5，图5为本申请一实施例中的调节单元的结构示意图。如图2、图5所示，调节单元300包括第一调节模块310和第二调节模块320，第一调节模块310每次调节的调节幅度大于第二调节模块320每次调节的调节幅度。
从而，通过第一调节模块310每次调节的调节幅度大于第二调节模块320每次调节的调节幅度，使得调节单元300调节可调电抗单元100的电抗值时，能够以不同的调节幅度调节可调电抗单元100的电抗值，避免错过阻抗检测电路10的电流峰值。并使得调节单元300调节可调电阻单元200的电阻值时，能够根据具体需要，以不同的调节幅度调节可调电阻单元200的电阻值。
在一个或多个实施例中，在调节单元300调节可调电抗单元100的电抗值的过程中，为通过第一调节模块310先调节可调电抗单元100的电抗值，然后通过第二调节模块320进一步调节可调电抗单元100的电抗值，以获取阻抗检测电路10的电流峰值。
从而，通过第一调节模块310先调节可调电抗单元100的电抗值，能够先对可调电抗单元100的电抗值进行粗调，然后通过第二调节模块320进一步对可调电抗单元100的电抗值进行细调，避免调节幅度过大，错过阻抗检测电路10的电流峰值。
在一个或多个实施例中，第一调节模块310和第二调节模块320可以均为转动电机。
在一个或多个实施例中，阻抗检测电路10可以同时包括如图3所示的第一可调电感L1、第一可调电容C1、第二可调电感L2和第二可调电容C2以及如图5所示的第一调节模块310和第二调节模块320。
从而，具有多种调节方式、不同的变化精度以及不同的调节幅度，能够精细地对可调电抗单元100的电抗值进行调节，避免错过阻抗检测电路10的电流峰值。
本申请的阻抗检测电路10通过上述结构，能够以不同的变化精度、调节幅度调节可调电抗单元100的电抗值，避免错过阻抗检测电路10的电流峰值，并根据阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值，同时仅对可调电阻单元200的电阻值进行一次调节，根据第一电阻值R1、第二电阻值R2以及可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0，便能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
请参阅图6，图6为本申请一实施例中的阻抗检测设备的电路示意图。如图6所示，本申请还提供一种阻抗检测设备1，阻抗检测设备1包括前述任一实施例中的阻抗检测电路10，阻抗检测设备1还包括检测单元400和控制单元500，检测单元400用于检测阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0；控制单元500用于控制调节单元300先调节可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，控制调节单元300停止调节可调电抗单元100的电抗值，并进一步调节可调电阻单元200的电阻值，以使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元200的电压为不同的电压值U0，其中，调节可调电阻单元200的电阻值而使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，基于阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0，计算得到射频电路20的阻抗值。
阻抗检测电路10包括可调电抗单元100、可调电阻单元200以及调节单元300，可调电抗单元100连接于射频电路20的输出路径中，具有可调的电抗值；可调电阻单元200与可调电抗单元100串联连接于射频电路20的输出路径中，具有可调的电阻值；调节单元300用于调节可调电抗单元100的电抗值和可调电阻单元200的电阻值；其中，调节单元300先调节可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，调节单元300停止调节可调电抗单元100的电抗值，并进一步调节可调电阻单元200的电阻值，以使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元200的电压为不同的电压值U0，其中，调节可调电阻单元200的电阻值而使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0用于计算得到射频电路20的阻抗值。
其中，阻抗检测电路10更具体的结构可参见前述任一实施例中阻抗检测电路10的相关内容，在此不再赘述。
从而，通过检测单元400检测阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0，并通过控制单元500控制调节单元300调节可调电抗单元100的电抗值和可调电阻单元200的电阻值，根据阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0，能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
特别的，检测单元400可以作为阻抗检测电路10的一部分，以检测阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0。
特别的，控制单元500通过控制调节单元300调节可调电抗单元100的电抗值和可调电阻单元200的电阻值，以获取阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值，并通过检测单元400检测可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0，以计算得到射频电路20的阻抗值。
在一个或多个实施例中，在调节单元300为转动电机时，控制单元500通过控制转动电机的转动方向和转动圈数或者具体的转动角度，以调节与转动电机的转动轴连接的可调电抗单元100的电抗值和可调电阻单元200的电阻值。
在一个或多个实施例中，控制单元500还用于控制调节单元300调大可调电抗单元100的电抗值，并通过检测单元400检测阻抗检测电路10的电流值I0，在阻抗检测电路10的电流增大时，控制调节单元300进一步调大可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流减小时，控制调节单元300调小可调电抗单元100的电抗值。
在一个或多个实施例中，控制单元500可以是中央处理器（Central ProcessingUnit，CPU）等通用处理器，也可以是数字信号处理器（Digital Signal Processor，DSP）、专用集成电路（Application Specific Integrated Circuit，ASIC）、现场可编程门阵列（Field-Programmable Gate Array，FPGA）或者其它可编程逻辑器件、分立门逻辑器件、晶体管逻辑器件等逻辑控制器件，还可以是微控制单元（Micro Control Unit，MCU）等微处理器。
请一并参阅图7，图7为本申请一实施例中的检测单元的结构示意图。如图6、图7所示，检测单元400包括电流检测模块410和电压检测模块420，电流检测模块410用于检测阻抗检测电路10的电流值I0，电压检测模块420用于检测可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0。
从而，通过电流检测模块410和电压检测模块420，以对阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0进行检测。
请一并参阅图8，图8为本申请又一实施例中的阻抗检测设备的电路示意图。如图6、图7、图8所示，电流检测模块410连接于射频电路20的输出路径中，电压检测模块420并联连接于可调电抗单元100的两端，其中，电流检测模块410为电流表，电压检测模块420为电压表。
从而，通过电流检测模块410为电流表，电压检测模块420为电压表，实时而便捷地对阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0进行检测。
本申请的阻抗检测电路10以及阻抗检测设备1，通过上述结构，通过检测单元400检测阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0，并通过控制单元500控制调节单元300先调节可调电抗单元100的电抗值，能够以不同的变化精度、调节幅度调节可调电抗单元100的电抗值，避免错过阻抗检测电路10的电流峰值，并根据阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值，同时仅对可调电阻单元200的电阻值进行一次调节，根据第一电阻值R1、第二电阻值R2以及可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0，便能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
请一并参阅图9，图9为本申请一实施例中的阻抗检测方法的流程图。如图6、图9所示，本申请还提供一种阻抗检测方法，应用于前述任一实施例中的阻抗检测设备1中，用于对射频电路20的阻抗值进行检测，阻抗检测方法包括：
步骤S100：控制调节单元调节可调电抗单元的电抗值，并通过检测单元检测阻抗检测电路的电流值；
步骤S200：在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，以使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值；
步骤S300：基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到射频电路的阻抗值。
如图6所示，阻抗检测设备1包括前述任一实施例中的阻抗检测电路10，阻抗检测设备1还包括检测单元400和控制单元500，检测单元400用于检测阻抗检测电路10的电流值I0以及可调电抗单元100处于各个电阻值时的各个电压值U0；控制单元500用于控制调节单元300先调节可调电抗单元100的电抗值，在阻抗检测电路10的电流达到峰值时，控制调节单元300停止调节可调电抗单元100的电抗值，并进一步调节可调电阻单元200的电阻值，以使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元200的电压为不同的电压值U0，其中，调节可调电阻单元200的电阻值而使得可调电阻单元200分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，基于阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0，计算得到射频电路20的阻抗值。
从而，根据阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值、可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0，能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
请一并参阅图10，图10为本申请又一实施例中的阻抗检测方法的流程图。如图9、图10所示，射频电路20的阻抗值包括电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，步骤S300：基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到射频电路的阻抗值，包括：
步骤S310：基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值计算得到射频电路的电路电抗值Xs；
步骤S320：基于可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值计算得到射频电路的电路电阻值Rs。
从而，通过阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值计算得出射频电路20的电路电抗值Xs，并通过可调电阻单元200处于的各个电阻值以及可调电抗单元100在可调电阻单元200处于各个电阻值时的各个电压值U0计算得出射频电路20的电路电阻值Rs，基于射频电路20的电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
请一并参阅图11，图11为本申请另一实施例中的阻抗检测方法的流程图。如图9、图11所示，步骤S200：在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，以使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，包括：
步骤S210：在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并对可调电阻单元的电阻值进行至少一次调节，以使得可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于第一电阻值R1时的第一电压值U1，以及在可调电阻单元处于第二电阻值R2时的第二电压值U2。
从而，仅通过对可调电阻单元200的电阻值进行一次调节，并通过第一电阻值R1、第二电阻值R2以及可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0，即可计算得出射频电路20的电路电阻值Rs，调节简便，计算简单。
如图10、图11所示，步骤S310：基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值计算得到射频电路的电路电抗值Xs，包括：
步骤S311：基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值Xr以及关系表达式Xs=-Xr计算得到射频电路的电路电抗值Xs。
步骤S320：基于可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值计算得到射频电路的电路电阻值Rs，包括：
步骤S321：基于第一电阻值R1、第二电阻值R2、可调电抗单元在可调电阻单元分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值以及关系表达式U1/U2=(Rs+R2)/(Rs+R1)计算得到射频电路的电路电阻值Rs。
从而，利用射频电路20与阻抗检测电路10整体的谐振点，能够得出射频电路20的电路电抗值Xs，且无需获取射频电路20和阻抗检测电路10整体的总电压值U，也无需获取射频电路20和阻抗检测电路10整体的总电抗值X，仅通过阻抗检测电路10的第一电阻值R1、第二电阻值R2、第一电压值U1以及第二电压值U2，即可计算得出射频电路20的电路电阻值Rs。
本申请的阻抗检测电路10、阻抗检测设备1以及阻抗检测方法，通过上述结构和方法，能够以不同的变化精度、调节幅度调节可调电抗单元100的电抗值，避免错过阻抗检测电路10的电流峰值，并根据阻抗检测电路10在电流峰值时可调电抗单元100的电抗值，同时仅对可调电阻单元200的电阻值进行一次调节，根据第一电阻值R1、第二电阻值R2以及可调电抗单元100在可调电阻单元200分别处于第一电阻值R1和第二电阻值R2时的电压值U0，便能够得到射频电路20的阻抗值，以在射频电路20工作的时候动态检测射频电路20的阻抗值。
以上描述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内；在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种阻抗检测电路，用于检测射频电路的阻抗值，其特征在于，包括：
可调电抗单元，连接于所述射频电路的输出路径中，具有可调的电抗值；
可调电阻单元，与所述可调电抗单元串联连接于所述射频电路的输出路径中，具有可调的电阻值；
调节单元，用于调节所述可调电抗单元的电抗值和所述可调电阻单元的电阻值；
其中，所述调节单元先调节所述可调电抗单元的电抗值，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，所述调节单元停止调节所述可调电抗单元的电抗值，并进一步调节所述可调电阻单元的电阻值，以使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得所述可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，所述调节所述可调电阻单元的电阻值而使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值、所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值用于计算得到所述射频电路的阻抗值。
2.根据权利要求1所述的阻抗检测电路，其特征在于，所述射频电路的阻抗值包括电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，所述射频电路的电路电抗值Xs基于所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值计算得出，所述射频电路的电路电阻值Rs基于所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值计算得出。
3.根据权利要求2所述的阻抗检测电路，其特征在于，所述射频电路的电路电抗值Xs=-Xr，其中，Xr为所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值。
4.根据权利要求2所述的阻抗检测电路，其特征在于，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，所述调节单元对所述可调电阻单元的电阻值进行至少一次调节，以使得所述可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，所述射频电路的电路电阻值Rs基于所述第一电阻值R1、所述第二电阻值R2以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元分别处于所述第一电阻值R1和所述第二电阻值R2时的电压值计算得出。
5.根据权利要求4所述的阻抗检测电路，其特征在于，所述射频电路的电路电阻值Rs基于所述第一电阻值R1、所述第二电阻值R2、所述可调电抗单元在所述可调电阻单元分别处于所述第一电阻值R1和所述第二电阻值R2时的电压值以及如下关系表达式计算得出：
U1/U2=(Rs+R2)/(Rs+R1)，其中，U1为所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于第一电阻值R1时的第一电压值，U2为所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于第二电阻值R2时的第二电压值。
6.根据权利要求1所述的阻抗检测电路，其特征在于，所述可调电抗单元至少包括第一可调电感和第一可调电容，所述第一可调电感与所述第一可调电容串联连接，所述可调的电抗值包括可调的电感值和/或电容值，所述可调电阻单元至少包括第一可调电阻。
7.一种阻抗检测设备，其特征在于，包括如权利要求1-6任一项所述的阻抗检测电路，所述阻抗检测设备还包括：
检测单元，用于检测所述阻抗检测电路的电流值以及所述可调电抗单元处于各个电阻值时的各个电压值；
控制单元，用于控制所述调节单元先调节所述可调电抗单元的电抗值，在所述阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制所述调节单元停止调节所述可调电抗单元的电抗值，并进一步调节所述可调电阻单元的电阻值，以使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得所述可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，所述调节所述可调电阻单元的电阻值而使得所述可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，基于所述阻抗检测电路在电流峰值时所述可调电抗单元的电抗值、所述可调电阻单元处于的各个电阻值以及所述可调电抗单元在所述可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到所述射频电路的阻抗值。
8.一种阻抗检测方法，其特征在于，应用于如权利要求7所述的阻抗检测设备中，用于对所述射频电路的阻抗值进行检测，所述阻抗检测方法包括：
控制调节单元调节可调电抗单元的电抗值，并通过检测单元检测阻抗检测电路的电流值；
在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，以使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值；
基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到射频电路的阻抗值。
9.根据权利要求8所述的阻抗检测方法，其特征在于，所述射频电路的阻抗值包括电路电抗值Xs及电路电阻值Rs，所述基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值、可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，计算得到射频电路的阻抗值，包括：
基于阻抗检测电路在电流峰值时可调电抗单元的电抗值计算得到射频电路的电路电抗值Xs；
基于可调电阻单元处于的各个电阻值以及可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值计算得到射频电路的电路电阻值Rs。
10.根据权利要求8所述的阻抗检测方法，其特征在于，所述在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并进一步调节可调电阻单元的电阻值，以使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别处于不同的电阻值为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于各个电阻值时的各个电压值，包括：
在阻抗检测电路的电流达到峰值时，控制调节单元停止调节可调电抗单元的电抗值，并对可调电阻单元的电阻值进行至少一次调节，以使得可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2，进而使得可调电阻单元的电压为不同的电压值，其中，调节可调电阻单元的电阻值而使得可调电阻单元分别至少处于第一电阻值R1以及第二电阻值R2为任意不同的电阻值，并通过检测单元检测可调电抗单元在可调电阻单元处于第一电阻值R1时的第一电压值U1，以及在可调电阻单元处于第二电阻值R2时的第二电压值U2。
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