CN117536613A - 一种气藏有效储层物性下限确定方法与装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种气藏有效储层物性下限确定方法和装置。所述方法包括，根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的关系；根据中值孔喉半径与孔隙度间的关系和临界含气孔喉半径与气柱高度间的关系，建立有效储层孔隙度下限与气柱高度间的关系，进而根据孔渗关系建立有效储层渗透率下限与气柱高度间的关系；由有效储层孔隙度下限与气柱高度间的关系和有效储层渗透率下限与气柱高度间的关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定气藏的有效储层物性下限。能够根据气藏不同位置气柱高度的不同确定不同的物性下限，同时可以合理、简洁、高效的确定气藏物性下限。
Description
技术领域
本发明涉及气藏勘探开发技术领域，特别涉及一种气藏有效储层物性下限确定方法与装置。
背景技术
有效储层是指饱含油气并具有油气储产能力的储集层，在现有的工艺条件下能获得工业油气流。有效储层物性下限是影响油气地质储量计算和开发方案编制的重要因素，是储层与储量评价研究中的难点问题，是直接关系油气藏勘探及开发决策制定的关键问题。
有效储层物性参数中最有代表性的参数是孔隙度和渗透率。目前国内外关于有效储层物性下限确定的方法较多，有累积频率统计法、岩心孔渗关系法、最小流动孔喉半径法、束缚水饱和度法、试油试气测试法和产能模拟法等。现行的通常做法是，对于同一个油气藏，求取一个物性下限，即油气藏各部位的孔渗下限值相同。
发明内容
发明人发现，现有技术通常是一个油气藏求取一个物性下限，而对于构造幅度较大的气藏，不同部位的有效储层物性下限也存在较大差异，应分区取值，否则会造成地质储量评价不准确，气藏在开发过程中出现动静储量差异较大的问题。为了至少部分地解决现有技术存在的技术问题，发明人做出本发明，通过具体实施方式，提供一种气藏有效储层物性下限确定方法与装置，能够根据气藏不同位置气柱高度的不同确定不同的物性下限。
第一方面，本发明实施例提供一种气藏有效储层物性下限确定方法，包括：
根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系；
根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系；
根据所述气藏的孔渗关系和所述第三关系，建立所述气藏的有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系；
由所述第三关系和所述第四关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定所述气藏的有效储层物性下限。
第二方面，本发明实施例提供一种气藏有效储层物性下限确定装置，包括：
第一关系建立模块，用于根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系；
第三关系建立模块，用于根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系；
第四关系建立模块，用于根据所述气藏的孔渗关系和所述第三关系，建立所述气藏的有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系；
有效储层物性下限确定模型建立模块，用于由所述第三关系和所述第四关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定所述气藏的有效储层物性下限。
第三方面，本发明实施例提供一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其中，该计算机程序/指令被处理器执行时实现上述气藏有效储层物性下限确定方法。
第四方面，本公开实施例提供一种服务器，包括：存储器、处理器及存储于存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述气藏有效储层物性下限确定方法。
本发明实施例提供的上述技术方案的有益效果至少包括：
(1)本发明实施例提供的气藏有效储层物性下限确定方法，根据天然气成藏二次运移聚集理论，考虑成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理建立气藏有效储层物性下限确定方法，有别于常用的统计法或经验取值法。
(2)考虑气柱高度差异，分别确定气藏不同位置的有效储层物性下限，有别于传统的唯一物性下限法，对于构造幅度差异较大的气藏，能够更准确评价气藏不同区域地质储量。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1为本发明实施例一中气藏有效储层物性下限确定方法的流程图；
图2为本发明实施例一中气藏不同部位的气柱高度示意图；
图3为本发明实施例二中气藏有效储层物性下限确定的具体实现流程图；
图4为本发明实施例二中SGP气藏顶面构造等值线图；
图5a为本发明实施例二中SGP气藏过G21-G7-G19-G3井的储层连井剖面图；
图5b为本发明实施例二中SGP气藏过G10-G010-X1-G11-G29井的储层连井剖面图；
图6为本发明实施例二中SGP气藏的气柱高度分区示意图；
图7为本发明实施例二中SGP气藏气柱高度与临界含气孔喉半径关系曲线；
图8为本发明实施例二中SGP气藏孔隙度与中值孔喉半径关系曲线；
图9为本发明实施例二中SGP气藏气柱高度与孔隙度下限关系曲线；
图10为本发明实施例二中SGP气藏孔隙度下限与渗透率下限关系曲线；
图11为本发明实施例二中SGP气藏G20井的测井解释四性关系图；
图12为本发明实施例中气藏有效储层物性下限确定装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
为了解决现有技术中存在的气藏有效储层物性下限确定不分区且准确度差的问题，本发明实施例提供了一种气藏有效储层物性下限确定方法和装置，能够根据气藏不同位置气柱高度的不同确定不同的物性下限，同时可以合理、简洁、高效的确定气藏物性下限。
实施例一
本发明实施例一提供一种气藏有效储层物性下限确定方法，其流程如图1所示，包括如下步骤：
步骤S11：根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系。
根据天然气成藏二次运移聚集原理，常规天然气在运移过程中的主要动力是浮力，主要阻力是孔喉毛细管压力，浮力大小取决于气柱高度，阻力大小取决于孔喉尺寸。当浮力超过孔喉的毛管阻力时，天然气排水进入孔喉，首先进入大孔喉，再进入较小孔喉，直到浮力与毛管阻力达到平衡为止。连续气柱越高，天然气运聚过程中的浮力越大，对应的临界含气孔喉半径值越小。由此可知，储层有效与否与储层孔喉尺寸及气柱高度密切相关。不同气柱高度对应不同的临界含气孔喉半径，从而对应不同的有效储层物性下限。
根据天然气成藏二次运移聚集理论，考虑成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，计算不同气柱高度对应的临界含气孔喉半径，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系。
上述临界含气孔喉半径即天然气在运移过程中达到动力与阻力平衡时的孔喉半径，若孔喉半径小于此临界值，通常孔喉中仅含有地层水；若孔喉半径大于此临界值，通常孔喉中开始有气体填充进去。
常规天然气在运移过程中的动力是浮力：
F＝Δρgwghg (1)
式(1)中，F是浮力，MPa；Δρgw是气藏条件下的气水密度差，g/cm3；g是重力加速度，通常为9.8m/s2；hg是连续气柱高度，m。
天然气在运移过程的主要阻力是孔喉毛细管压力，从大孔道进入小孔道时所受的毛管力压力为：
式(2)中，是孔喉毛细管压力，MPa；σgw为气藏条件下的气水两相间的表面张力，mN/m；θgw是气水润湿角；R1为大孔喉半径，mm；R2为小孔喉半径，mm。
当天然气在运移过程中达到动力与阻力平衡时，式(2)中的小孔喉半径R2为临界含气孔喉半径Rc，R1取平均孔喉半径Rp，式(2)满足以下关系：
式(3)中，Rc为临界含气孔喉半径，mm；Rp为平均孔喉半径，mm。则由上式(3)可推导出临界含气孔喉半径表达式为：
故，根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，通过气藏的孔喉参数与气水界面参数，由上述式(4)可建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系。
步骤S12：根据气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和第一关系，建立气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系。
气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系，可以由气藏岩样的压汞数据得到。
从岩样压汞数据得到多个包含中值孔喉半径与孔隙度的样点，通过样点拟合得到中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系。
一般含气饱和度超过50％时为纯气层，故可以取临界含气孔喉半径等于中值孔喉半径；同时，将临界含气孔喉半径作为孔隙度下限，根据气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和上述第一关系，可建立气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系。
步骤S13：根据气藏的孔渗关系和第三关系，建立气藏的有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系。
气藏的孔渗关系可以为岩样孔渗关系。
根据孔渗关系求取孔隙度下限对应的渗透率下限，便可由气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系得到气藏有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系。
步骤S14：由第三关系和第四关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定气藏的有效储层物性下限。
本发明实施例一提供的气藏有效储层物性下限确定方法，根据天然气成藏二次运移聚集理论，考虑成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理建立气藏有效储层物性下限确定方法，有别于常用的统计法或经验取值法。
考虑气柱高度差异，分别确定气藏不同位置的有效储层物性下限，有别于传统的唯一物性下限法，对于构造幅度差异较大的气藏，能够更准确评价气藏不同区域地质储量。
在一些实施例中，上述气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系，即式(4)，由于其公式形式较为复杂，而且其包含的参数(气水两相间的表面张力σgw、气水润湿角θgw、平均孔喉半径Rp、气水密度差Δρgw和重力加速度g)在同一油藏条件下基本都是定值，故在实际应用中，还可以包括：
获取油藏多个位置处的气柱高度，根据每个位置的气柱高度和第一关系得到该位置的临界含气孔喉半径；根据各位置的临界含气孔喉半径与气柱高度，通过拟合得到气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的拟合关系。
相应的，根据气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和第一关系，建立气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系，具体可以包括：
根据气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和临界含气孔喉半径与气柱高度间的拟合关系，建立气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系。
通过上述方法得到气藏有效储层物性下限确定模型后，对于气藏内的任一位置，只要确定该位置的气柱高度，便可以通过模型得到该位置的有效储层物性下限，包括有效储层孔隙度和渗透率下限。
在一些实施例中，可以包括，利用气藏的顶面构造图和气柱起始高度，确定气柱高度图；根据气柱高度图将气藏划分为多个区域，确定每个区域的平均气柱高度；根据每个区域的平均气柱高度和有效储层物性下限确定模型，确定该区域的有效储层物性下限。
进一步的，参照图2所示，气柱起始高度为气藏的气水界面高度，或圈闭溢出线高度。
同理，针对气藏内的井，根据井的测井数据确定井的气柱高度；根据井的气柱高度和有效储层物性下限确定模型，便可确定井的有效储层物性下限。
通过上述方式，即可以分区域确定气藏各个区域内的有效储层物性下限；还可以针对每口井，单独确定该井所在位置的有效储层物性下限。
实施例二
本发明实施例二提供一种气藏有效储层物性下限确定方法的具体实现流程，以SGP气藏为例，其流程如图3所示，包括如下步骤：
步骤S31：利用气藏顶面构造图和储层剖面图，确定气藏不同部位的连续气柱高度。
图4、图5a、图5b分别是SGP气藏的顶面构造图和储层剖面图，图5a为图4中测线AA'的剖面图，图5b图4中测线BB'的剖面图。
SGP气藏探明储量区起始海拔为-4400m，气藏东部-4350m有产水层，南部试气未见水层，探明储量区在生产过程中表现为内部整体连通，构造高部位井间连通性较好，低部位井间连通性相对较差。以-4400m作为SGP气藏的气柱高度起始点，按气柱高度将气藏分为A、B、C、D几个区域，如图6所示。
步骤S32：根据气藏温度、压力、流体性质，计算不同气柱高度对应的临界含气孔喉半径，建立Rc～hg关系图版。
SGP气藏温度为120℃，原始地层压力60.6MPa，在气藏条件下气水界面张力σgw＝25mN/m，气水润湿角θgw＝0°，气水密度差Δρgw＝0.73g/cm3，平均孔喉半径Rp＝0.5μm，由式(4)可计算得到SGP气藏不同气柱高度对应的临界含气孔喉半径值，其拟合关系式为Rc＝6896hg -0.998，如图7所示。
步骤S33：根据岩样压汞数据统计中值孔喉半径与孔隙度关系，建立孔隙度与中值孔喉半径关系图版R50～φ。
利用SGP气藏31块岩样的压汞数据拟合得到R50～φ成良好指数关系，其表达式为R50＝3.9643e0.6312φ，如图8所示。
步骤S34：根据Rc～hg关系图版和R50～φ关系图版建立孔隙度下限与气柱高度关系图版φc～hg。
取Rc＝R50，拟合得到SGP气藏hg～φc成良好乘幂关系，其表达式为φc＝15.616hg -0.3465，如图9所示。
步骤S35：利用岩样孔渗参数关系，求取孔隙度下限对应的渗透率下限。
拟合SGP气藏岩样参数，得到kc～φc关系式为，如图10所示。
步骤S36：根据φc～hg和kc～φc关系式，求出不同气柱高度对应的有效储层物性下限值。
表1为SGP气藏不同区域的孔隙度和渗透率下限值区间，表2为不同部位气井对应的有效储层物性下限值。
表1 SGP气藏分区有效储层物性下限
表2 SGP不同部位气井有效储层物性下限
步骤S37：根据不同部位有效储层物性下限，利用测井参数确定气井有效储层物性参数。
图11为SGP气藏G20井的测井解释四性关系图，每隔0.125m有一个数据点。根据本发明方法，G20井气柱高度为690m，确定该井有效储层孔隙度下限为1.62％，渗透率下限为0.025mD,对应此条件得到该井有效储层厚度为27.375m,平均孔隙度6.75％，平均含气饱和度为80.85％。SGP气藏开发方案中确定的气藏有效孔隙度下限为2.5％，对应此条件得到G20井的效储层厚度为24.125m,平均孔隙度7.05％，平均含气饱和度为82.69％。根据以上数据，采用本方法评价的G20井地质储量比开发方案高6.28％。
评价表SGP不同部位气井地质储量。与开发方案相比，本方法评价A区气井平均地质储量增大3.64％，B区气井平均地质储量增大2.35％，C区气井平均地质储量降低0.26％，D区气井平均地质储量降低32.81％。地质储量变化最大的区域是D区，该域区位于气藏边翼部，气柱高度小，储层物性差，井控动态储量低，采用分区确定有效储层物性下限的方法，有效降低了气井的动静储量差异。考虑到气柱高度差异，分别确定气藏不同位置的有效储层物性下限，有别于传统的唯一物性下限法，对于构造幅度差异较大的气藏，能够更准确评价气藏不同区域地质储量。
基于本发明的发明构思，本发明实施例还提供一种气藏有效储层物性下限确定装置，该装置的结构如图12所示，包括：
第一关系建立模块121，用于根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系；
第三关系建立模块122，用于根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系；
第四关系建立模块123，用于根据所述气藏的孔渗关系和所述第三关系，建立所述气藏的有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系；
有效储层物性下限确定模型建立模块124，用于由所述第三关系和所述第四关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定所述气藏的有效储层物性下限。
基于本发明的发明构思，本发明实施例还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其中，该计算机程序/指令被处理器执行时实现上述气藏有效储层物性下限确定方法。
基于本发明的发明构思，本发明实施例还提供一种服务器，包括：存储器、处理器及存储于存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述气藏有效储层物性下限确定方法。
除非另外具体陈述，术语比如处理、计算、运算、确定、显示等等可以指一个或更多个处理或者计算系统、或类似设备的动作和/或过程，所述动作和/或过程将表示为处理系统的寄存器或存储器内的物理(如电子)量的数据操作和转换成为类似地表示为处理系统的存储器、寄存器或者其他此类信息存储、发射或者显示设备内的物理量的其他数据。信息和信号可以使用多种不同的技术和方法中的任何一种来表示。例如，在贯穿上面的描述中提及的数据、指令、命令、信息、信号、比特、符号和码片可以用电压、电流、电磁波、磁场或粒子、光场或粒子或者其任意组合来表示。
应该明白，公开的过程中的步骤的特定顺序或层次是示例性方法的实例。基于设计偏好，应该理解，过程中的步骤的特定顺序或层次可以在不脱离本公开的保护范围的情况下得到重新安排。所附的方法权利要求以示例性的顺序给出了各种步骤的要素，并且不是要限于所述的特定顺序或层次。
在上述的详细描述中，各种特征一起组合在单个的实施方案中，以简化本题的实施方案需要清楚地在每个权利要求中所陈述更多的特征。相反，如所附的权利要求书所反映的那样，本发明处于比所公开的单个实施方案的全部特征少的状态。因此，所附的权利要求书特此清楚地被并入详细描述中，其中每项权利要求独自作为本发明单独的优选实施方案。
本领域技术人员还应当理解，结合本文的实施例描述的各种说明性的逻辑框、模块、电路和算法步骤均可以实现成电子硬件、计算机软件或其组合。为了清楚地说明硬件和软件之间的可交换性，上面对各种说明性的部件、框、模块、电路和步骤均围绕其功能进行了一般地描述。至于这种功能是实现成硬件还是实现成软件，取决于特定的应用和对整个系统所施加的设计约束条件。熟练的技术人员可以针对每个特定应用，以变通的方式实现所描述的功能，但是，这种实现决策不应解释为背离本公开的保护范围。
结合本文的实施例所描述的方法或者算法的步骤可直接体现为硬件、由处理器执行的软件模块或其组合。软件模块可以位于RAM存储器、闪存、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、移动磁盘、CD-ROM或者本领域熟知的任何其它形式的存储介质中。一种示例性的存储介质连接至处理器，从而使处理器能够从该存储介质读取信息，且可向该存储介质写入信息。当然，存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。该ASIC可以位于用户终端中。当然，处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于用户终端中。
对于软件实现，本申请中描述的技术可用执行本申请所述功能的模块(例如，过程、函数等)来实现。这些软件代码可以存储在存储器单元并由处理器执行。存储器单元可以实现在处理器内，也可以实现在处理器外，在后一种情况下，它经由各种手段以通信方式耦合到处理器，这些都是本领域中所公知的。
上文的描述包括一个或多个实施例的举例。当然，为了描述上述实施例而描述部件或方法的所有可能的结合是不可能的，但是本领域普通技术人员应该认识到，各个实施例可以做进一步的组合和排列。因此，本文中描述的实施例旨在涵盖落入所附权利要求书的保护范围内的所有这样的改变、修改和变型。此外，就说明书或权利要求书中使用的术语“包含”，该词的涵盖方式类似于术语“包括”，就如同“包括，”在权利要求中用作衔接词所解释的那样。此外，使用在权利要求书的说明书中的任何一个术语“或者”是要表示“非排它性的或者”。术语“第一”和“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
Claims (10)
1.一种气藏有效储层物性下限确定方法，其特征在于，包括：
根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系；
根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系；
根据所述气藏的孔渗关系和所述第三关系，建立所述气藏的有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系；
由所述第三关系和所述第四关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定所述气藏的有效储层物性下限。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系，具体包括：
根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，通过气藏的孔喉参数与气水界面参数，由下述公式建立所述气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系：
其中，Rc为临界含气孔喉半径，σgw为气藏条件下的气水两相间的表面张力，θgw为气水润湿角，Rp为平均孔喉半径，Δρgw为气水密度差，g为重力加速度，hg为气柱高度。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
获取所述油藏多个位置处的气柱高度，根据每个位置的气柱高度和所述第一关系得到该位置的临界含气孔喉半径；
根据各位置的临界含气孔喉半径与气柱高度，得到气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的拟合关系；相应的，
所述根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系，具体包括：
根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述拟合关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系，具体包括：
取临界含气孔喉半径等于中值孔喉半径，将临界含气孔喉半径作为孔隙度下限，根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
利用所述气藏的顶面构造图和气柱起始高度，确定气柱高度图；
根据所述气柱高度图将所述气藏划分为多个区域，确定每个区域的平均气柱高度；
根据每个区域的平均气柱高度和所述有效储层物性下限确定模型，确定该区域的有效储层物性下限。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述气柱起始高度为所述气藏的气水界面高度，或圈闭溢出线高度。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
针对所述气藏内的井，根据所述井的测井数据确定所述井的气柱高度；
根据所述井的气柱高度和所述有效储层物性下限确定模型，确定所述井的有效储层物性下限。
8.如权利要求1～7中任一项所述的方法，其特征在于，所述中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系由所述气藏岩样的压汞数据得到；
所述气藏的孔渗关系为岩样孔渗关系。
9.一种气藏有效储层物性下限确定装置，其特征在于，包括：
第一关系建立模块，用于根据天然气成藏二次运移聚集理论及成藏动力与阻力关系，利用力学平衡原理，建立气藏临界含气孔喉半径与气柱高度间的第一关系；
第三关系建立模块，用于根据所述气藏的中值孔喉半径与孔隙度间的第二关系和所述第一关系，建立所述气藏的有效储层孔隙度下限与气柱高度间的第三关系；
第四关系建立模块，用于根据所述气藏的孔渗关系和所述第三关系，建立所述气藏的有效储层渗透率下限与气柱高度间的第四关系；
有效储层物性下限确定模型建立模块，用于由所述第三关系和所述第四关系，得到有效储层物性下限确定模型，用于确定所述气藏的有效储层物性下限。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序/指令，其特征在于，该计算机程序/指令被处理器执行时实现权利要求1～8中任一项所述的气藏有效储层物性下限确定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210923645.7A CN117536613A (zh) | 2022-08-02 | 2022-08-02 | 一种气藏有效储层物性下限确定方法与装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210923645.7A CN117536613A (zh) | 2022-08-02 | 2022-08-02 | 一种气藏有效储层物性下限确定方法与装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117536613A true CN117536613A (zh) | 2024-02-09 |
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ID=89788634
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210923645.7A Pending CN117536613A (zh) | 2022-08-02 | 2022-08-02 | 一种气藏有效储层物性下限确定方法与装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117536613A (zh) |
-
2022
- 2022-08-02 CN CN202210923645.7A patent/CN117536613A/zh active Pending
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