CN117527099A - 射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，属于通信领域。该方法包括：在获取到射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过反馈通道对射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；按照信号处理策略，对多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据信号处理结果，计算待测射频性能指标的测试值。本发明实施例的技术方案极大地提高了射频发射通道的性能测试的便利性，也降低了射频发射通道的性能测试的所需的成本。
Description
技术领域
本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质。
背景技术
目前，对于基站的射频发射通道的性能测试，现有的方法通常是测试人员将射频发射通道与射频仪表进行连接，由射频仪表对射频发射通道的性能进行测试，但射频仪表的成本较高，并且一些基站处于测试人员难以到达的位置，给基站的射频发射通道的性能测试带来较大的困难。因此，如何提高射频发射通道的性能测试的便利性和降低测试成本是目前亟待解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供了一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，旨在提高射频发射通道的性能测试的便利性和降低测试成本。
第一方面，本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法，所述射频发射通道与反馈通道耦合，所述方法包括：在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。
第二方面，本发明实施例还提供一种射频发射通道的性能测试装置，所述性能测试装置包括反馈通道和数字信号处理器，所述反馈通道与所述射频发射通道耦合，所述反馈通道与所述数字信号处理器连接；
所述反馈通道被配置为，在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；
所述数字信号处理器被配置为，获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；
所述数字信号处理器还被配置为，按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。
第三方面，本发明实施例还提供一种基站，所述基站包括处理器、存储器、存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如本发明说明书提供的任一项射频发射通道的性能测试方法。
第四方面，本发明实施例还提供一种存储介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如本发明说明书提供的任一项射频发射通道的性能测试方法。
本发明实施例提供一种射频发射通道的性能测试方法、基站及存储介质，该性能测试方法通过基站自身的与射频发射通道耦合的反馈通道来对射频信号进行采样，得到多个数字采样信号，并且在采样得到多个数字采样信号后，可以基于待测射频性能指标对应的信号处理策略，对多个数字采样信号进行相应的处理，得到信号处理结果，进而可以通过信号处理结果，计算出待测射频性能指标的测试值，不需要测试人员借助外部的射频仪表来测试射频发射通道的性能，极大地提高了射频发射通道的性能测试的便利性，也降低了射频发射通道的性能测试的所需的成本。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种射频发射通道的性能测试方法的流程示意图；
图2是本发明实施例中的射频发射通道与反馈通道的一连接示意图；
图3是本发明实施例中的射频发射通道与反馈通道的另一连接示意图；
图4是本发明实施例中的多个信道的位置关系图；
图5是本发明实施例提供的一种基站的结构示意框图；
图6是本发明实施例提供的一种射频发射通道的性能测试装置的结构示意框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本发明。如在本发明说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
下面结合附图，对本发明的一些实施例作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
请参阅图1，图1是本发明实施例提供的一种射频发射通道的性能测试方法的流程示意图。该射频发射通道的性能测试方法可以应用于基站，以提高射频发射通道的性能测试的便利性以及降低射频发射通道的性能测试的成本。
如图1所示，该射频发射通道的性能测试方法包括步骤S101至步骤S103。
步骤S101、在获取到射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过反馈通道对射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号。
本发明实施例中，基站包括射频发射通道和反馈通道，射频发射通道与反馈通道耦合，这样反馈通道可以对射频发射通道发送的射频信号进行采样，不需要借助外部的射频仪表。其中，射频发射通道可以通过耦合器与反馈通道耦合。如图2所示，基站包括芯片10、射频发射通道20、耦合器30和反馈通道40，芯片10与射频发射通道20连接，射频发射通道20通过耦合器30与反馈通道40连接，反馈通道40与芯片10连接。其中，芯片10用于控制射频发射通道20发送射频信号，射频信号经过耦合器30耦合至反馈通道40进行采样，反馈通道40对射频信号处理后，得到数字采样信号，再将数字采样信号传输给芯片10，由芯片10对数字采样信号进行相应的处理。
在一实施例中，反馈通道包括模拟增益调整模块和模数转换器，通过反馈通道对射频发射通道发送的射频信号进行采样的方式可以为：对射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到模拟采样信号；通过模拟增益调整模块对模拟采样信号进行处理，并通过模数转换器将处理后的模拟采样信号转换为数字采样信号。通过对模拟采样信号进行模拟增益调整处理，可以使得处理后的模拟采样信号的信噪比满足测试要求，从而能够提高射频发射通道的性能测试的准确性。
例如，如图3所示，芯片10用于控制射频发射通道20发送射频信号，射频信号的模拟采样信号经过耦合器30耦合至模拟增益调整模块41，模拟增益调整模块41对模拟采样信号进行处理，然后将处理后的模拟采样信号传输给模数转换器42，由模数转换器42将处理后的模拟采样信号转换为数字采样信号，再将数字采样信号传输给芯片10，由芯片10对数字采样信号进行相应的处理。
可以理解的是，性能测试指令可以由测试人员手动触发，也可以通过定时任务进行触发，本发明实施例对此不做具体限定。例如，终端设备显示射频发射通道的性能测试页面，响应于测试人员对性能测试页面中的开始测试按键的触发操作，生成性能测试指令，并向基站发送性能测试指令。又例如，终端设备显示射频发射通道的性能测试页面，获取测试人员在该性能测试页面输入或选择的待测射频性能指标的标识码或名称；响应于测试人员对性能测试页面中的开始测试按键的触发操作，基于测试人员输入或选择的待测射频性能指标的标识码或名称，生成性能测试指令，并向基站发送性能测试指令。其中，终端设备可以与基站有线连接，也可以与基站无线连接，本发明实施例对此不做具体限定。
步骤S102、获取待测射频性能指标对应的信号处理策略。
本发明实施例中，待测射频性能指标可以包括邻信道功率比(Adjacent ChannelPower Ratio，ACPR)、误差矢量幅度(Error Vector Magnitude，EVM)、信噪比(Signal-to-noiseratio，SNR)、峰均比(Peak-to-Average Power Ratio，PAPR)和/或带内波动等。不同的待测射频性能指标对应不同的信号处理策略。
在一实施例中，在获取到射频发射通道的性能测试指令的情况下，确定射频发射通道的待测射频性能指标。例如，将预设的射频性能指标确定为待测射频性能指标，或者根据性能测试指令，确定射频发射通道的待测射频性能指标。其中，预设的射频性能指标可以由用户基于实际情况进行设置，本发明实施例对此不做具体限定，性能测试指令可以包括待测射频性能指标的标识码或名称，通过性能测试指令中的标识码或名称，可以确定射频发射通道的待测射频性能指标。
步骤S103、按照信号处理策略，对多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据信号处理结果，计算待测射频性能指标的测试值。
本发明实施例以待测射频性能指标为邻信道功率比和/或误差矢量幅度为例进行说明，但不并限定待测射频性能指标为邻信道功率比和/或误差矢量幅度。例如，邻信道功率比与第一信号处理策略对应，误差矢量幅度与第二信号处理策略对应。
在一实施例中，在信号处理策略为第一信号处理策略的情况下，将多个数字采样信号划分为至少两个采样信号组；对至少两个采样信号组中的数字采样信号进行离散傅里叶变换，得到至少两个频域信号，并确定每个频域信号的功率谱曲线；获取射频信号的中心频率和主信道带宽，并根据中心频率、主信道带宽和至少两个功率谱曲线，计算射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率；根据目标主信道功率和目标邻信道功率，计算邻信道功率比的测试值。其中，一个采样信号组与一个功率谱曲线对应。通过多个功率谱曲线，可以准确地计算出射频信号的主信道功率和邻信道功率，基于准确的主信道功率和邻信道功率，能够准确地计算出邻信道功率比的测试值，提高射频发射通道的性能测试的准确性。
在一实施例中，至少两个功率谱曲线包括第一功率谱曲线和第二功率谱曲线，根据中心频率、主信道带宽和至少两个功率谱曲线，计算射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率的方式可以为：根据中心频率、主信道带宽和第一功率谱曲线，计算射频信号的第一主信道功率和第一邻信道功率；根据中心频率、主信道带宽和第二功率谱曲线，计算射频信号的第二主信道功率和第二邻信道功率；计算第一主信道功率和第二主信道功率的平均值，并将第一主信道功率和第二主信道功率的平均值确定为目标主信道功率；计算第一邻信道功率和第二邻信道功率的平均值，并将第一邻信道功率和第二邻信道功率的平均值确定为目标邻信道功率。
示例性的，根据中心频率、主信道带宽和第一功率谱曲线，计算射频信号的第一邻信道功率的方式可以为：根据中心频率、主信道带宽和第一功率谱曲线，计算第一信道的功率、第二信道的功率、第三信道的功率和第四信道的功率，将第一信道的功率、第二信道的功率、第三信道的功率和第四信道的功率中的最大的功率确定为第一邻信道功率。其中，射频信号的当前信道与第一信道和第三信道相邻，第一信道与第二信道相邻，第三信道与第四信道相邻。如图5所示，射频信号的当前信道53与第一信道52和第三信道54相邻，第一信道52与第三信道51相邻，第三信道54与第四信道55相邻。
示例性的，根据目标主信道功率和目标邻信道功率，计算邻信道功率比的测试值的方式可以为：计算目标主信道功率与目标邻信道功率的比值，得到邻信道功率比。例如，设目标主信道功率为P1，目标邻信道功率为P2，邻信道功率比＝lgP1-lgP2。
在一实施例中，在信号处理策略为第二信号处理策略的情况下，对多个数字采样信号进行定时频率同步处理，对处理后的每个数字采样信号进行循环前缀符号去除处理；对去除循环前缀后的多个数字采样信号进行傅里叶变换，得到第一频域信号，对第一频域信号进行频域均衡处理，得到第二频域信号；对第二频域信号进行解码处理，得到参考信号，根据参考信号和第二频域信号，计算误差矢量幅度的测试值。通过对数字采样信号进行定时频率同步处理、循环前缀符号去除处理、傅里叶变换和频域均衡处理，可以消除信号经过多径等各种信号路径后导致的延时和不同频率上的损耗，从而提高射频发射通道的性能测试的准确性。
在一实施例中，对第一频域信号进行频域均衡处理，得到第二频域信号的方式可以为：基于预设的频域均衡算法，对第一频域信号进行频域均衡处理，得到第二频域信号。其中，预设的频域均衡算法可以基于实际情况进行设置，本发明实施例对此不做具体限定。例如，预设的频域均衡算法可以包括最小二乘法或最小均方误差算法。
在一实施例中，根据参考信号和第二频域信号，计算多个子载波的误差矢量幅度；计算多个子载波的误差矢量幅度的均方根值，并将均方根值确定为误差矢量幅度的测试值。其中，多个子载波为射频帧中的一个时隙内的多个子载波。由于一个正交频分复用(Orthogonal Frequency Division Multiplexing，OFDM)符号数据包含了调制参数规定的RB数量，而一个时隙包含14个OFDM符号数据，即一个时隙的数据足以代表射频通道的误差矢量幅度的调制特性，因此，通过计算一个时隙内的多个子载波的误差矢量幅度，再基于一个时隙内的多个子载波的误差矢量幅度，来计算误差矢量幅度的测试值，不需要使用整个射频帧的数据来计算误差矢量幅度的测试值，可以节约基站的计算资源和存储资源，也可以保证误差矢量幅度的测试准确性。
在一实施例中，在待测射频性能指标包括邻信道功率比和误差矢量幅度的情况下，调用第一线程按照第一信号处理策略，对多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据信号处理结果，计算邻信道功率比的测试值；同时调用第二线程按照第二信号处理策略，对多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据信号处理结果，计算误差矢量幅度的测试值。
在一实施例中，计算待测射频性能指标的门限值与待测射频性能指标的测试值之间的偏差值；根据偏差值，确定待测射频性能指标的测试结果，并向终端设备发送待测射频性能指标的测试值和测试结果。其中，在偏差值大于或等于预设偏差值的情况下，确定待测射频性能指标的测试结果为测试通过；在偏差值大于或等于预设偏差值的情况下，确定待测射频性能指标的测试结果为测试未通过，预设偏差值可以基于实际情况进行设置，本发明实施例对此不做具体限定，该终端设备可以包括手机、平板电脑、笔记本电脑、台式电脑、个人数字助理和穿戴式设备等。通过向终端设备发送待测射频性能指标的测试值和测试结果，便于测试人员知晓待测射频性能指标的测试值和测试结果。
上述实施例提供的射频发射通道的性能测试方法，通过基站自身的与射频发射通道耦合的反馈通道来对射频信号进行采样，得到多个数字采样信号，并且在采样得到多个数字采样信号后，可以基于待测射频性能指标对应的信号处理策略，对多个数字采样信号进行相应的处理，得到信号处理结果，进而可以通过信号处理结果，计算出待测射频性能指标的测试值，不需要测试人员借助外部的射频仪表来测试射频发射通道的性能，极大地提高了射频发射通道的性能测试的便利性，也降低了射频发射通道的性能测试的所需的成本。
请参阅图5，图5是本发明实施例提供的一种基站的结构示意性框图。
如图5所示，基站200包括处理器201和存储器202，处理器201和存储器202通过总线203连接，该总线比如为I2C(Inter-integrated Circuit)总线。
具体地，处理器201用于提供计算和控制能力，支撑整个基站的运行。处理器201可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，该处理器201还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
具体地，存储器202可以是Flash芯片、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)磁盘、光盘、U盘或移动硬盘等。
本领域技术人员可以理解，图5中示出的结构，仅仅是与本发明实施例方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明实施例方案所应用于其上的基站的限定，具体的基站可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
其中，所述处理器201用于运行存储在存储器202中的计算机程序，并在执行所述计算机程序时实现本发明实施例提供的任意一种所述的射频发射通道的性能测试方法。
在一实施例中，所述处理器201用于运行存储在存储器中的计算机程序，并在执行所述计算机程序时实现以下步骤：在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。
在一实施例中，所述反馈通道包括模拟增益调整模块和模数转换器，所述处理器201在实现通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号时，用于实现：对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到模拟采样信号；
通过所述模拟增益调整模块对所述模拟采样信号进行处理，并通过所述模数转换器将处理后的模拟采样信号转换为数字采样信号。
在一实施例中，所述待测射频性能指标包括邻信道功率比，所述信号处理策略包括第一信号处理策略，所述处理器201在实现按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，并根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值时，用于实现：在所述信号处理策略为所述第一信号处理策略的情况下，将所述多个数字采样信号划分为至少两个采样信号组；对至少所述两个采样信号组中的数字采样信号进行离散傅里叶变换，得到至少两个频域信号，并确定每个所述频域信号的功率谱曲线；获取所述射频信号的中心频率和主信道带宽，并根据所述中心频率、所述主信道带宽和至少两个所述功率谱曲线，计算所述射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率；根据所述目标主信道功率和所述目标邻信道功率，计算所述邻信道功率比的测试值。
在一实施例中，至少两个功率谱曲线包括第一功率谱曲线和第二功率谱曲线，所述处理器201在实现根据所述中心频率、所述主信道带宽和至少两个所述功率谱曲线，计算所述射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率时，用于实现：根据所述中心频率、所述主信道带宽和所述第一功率谱曲线，计算所述射频信号的第一主信道功率和第一邻信道功率；根据所述中心频率、所述主信道带宽和所述第二功率谱曲线，计算所述射频信号的第二主信道功率和第二邻信道功率；计算所述第一主信道功率和所述第二主信道功率的平均值，并将所述第一主信道功率和所述第二主信道功率的平均值确定为所述目标主信道功率；计算所述第一邻信道功率和所述第二邻信道功率的平均值，并将所述第一邻信道功率和所述第二邻信道功率的平均值确定为所述目标邻信道功率。
在一实施例中，所述待测射频性能指标包括误差矢量幅度，所述信号处理策略包括第二信号处理策略，所述处理器201在实现按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，并根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值时，用于实现：在所述信号处理策略为所述第二信号处理策略的情况下，对所述多个数字采样信号进行定时频率同步处理，对处理后的每个数字采样信号进行循环前缀符号去除处理；对去除循环前缀后的多个数字采样信号进行傅里叶变换，得到第一频域信号，对所述第一频域信号进行频域均衡处理，得到第二频域信号；对所述第二频域信号进行解码处理，得到参考信号，根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算所述误差矢量幅度的测试值。
在一实施例中，所述处理器201在实现根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算所述误差矢量幅度的测试值时，用于实现：根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算多个子载波的误差矢量幅度；计算所述多个子载波的误差矢量幅度的均方根值，并将所述均方根值确定为所述误差矢量幅度的测试值。
在一实施例中，所述处理器201在实现根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值之后，还用于实现：计算所述待测射频性能指标的门限值与所述待测射频性能指标的测试值之间的偏差值；根据所述偏差值，确定所述待测射频性能指标的测试结果，并向终端设备发送所述待测射频性能指标的测试值和所述测试结果。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的基站的具体工作过程，可以参考前述射频发射通道的性能测试方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
请参阅图6，图6是本发明实施例提供的一种射频发射通道的性能测试装置的结构示意性框图。
如图6所示，射频发射通道的性能测试装置300包括反馈通道310和芯片320，反馈通道320与射频发射通道耦合，反馈通道320与芯片310连接；
所述反馈通道320被配置为，在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；
所述芯片310被配置为，获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；
所述芯片310还被配置为，按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。
在一实施例中，所述芯片310还被配置为，实现如本发明实施例说明书提供的任一项射频发射通道的性能测试方法。
需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的射频发射通道的性能测试装置的具体工作过程，可以参考前述射频发射通道的性能测试方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
本发明实施例还提供一种存储介质，用于计算机可读存储，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如本发明实施例说明书提供的任一项射频发射通道的性能测试方法。
其中，所述存储介质可以是前述实施例所述的基站的内部存储单元，例如所述基站的硬盘或内存。所述存储介质也可以是所述基站的外部存储设备，例如所述基站上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施例中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些物理组件或所有物理组件可以被实施为由处理器，如中央处理器、数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
应当理解，在本发明说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。以上所述，仅为本发明的具体实施例，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种射频发射通道的性能测试方法，其特征在于，所述射频发射通道与反馈通道耦合，所述方法包括：
在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；
获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；
按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。
2.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述反馈通道包括模拟增益调整模块和模数转换器，所述通过所述反馈通道对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号，包括：
对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到模拟采样信号；
通过所述模拟增益调整模块对所述模拟采样信号进行处理，并通过所述模数转换器将处理后的模拟采样信号转换为数字采样信号。
3.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述待测射频性能指标包括邻信道功率比，所述信号处理策略包括第一信号处理策略，所述按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，并根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值，包括：
在所述信号处理策略为所述第一信号处理策略的情况下，将所述多个数字采样信号划分为至少两个采样信号组；
对至少所述两个采样信号组中的数字采样信号进行离散傅里叶变换，得到至少两个频域信号，并确定每个所述频域信号的功率谱曲线；
获取所述射频信号的中心频率和主信道带宽，并根据所述中心频率、所述主信道带宽和至少两个所述功率谱曲线，计算所述射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率；
根据所述目标主信道功率和所述目标邻信道功率，计算所述邻信道功率比的测试值。
4.根据权利要求3所述的性能测试方法，其特征在于，所述至少两个功率谱曲线包括第一功率谱曲线和第二功率谱曲线，所述根据所述中心频率、所述主信道带宽和至少两个所述功率谱曲线，计算所述射频信号的目标主信道功率和目标邻信道功率，包括：
根据所述中心频率、所述主信道带宽和所述第一功率谱曲线，计算所述射频信号的第一主信道功率和第一邻信道功率；
根据所述中心频率、所述主信道带宽和所述第二功率谱曲线，计算所述射频信号的第二主信道功率和第二邻信道功率；
计算所述第一主信道功率和所述第二主信道功率的平均值，并将所述第一主信道功率和所述第二主信道功率的平均值确定为所述目标主信道功率；
计算所述第一邻信道功率和所述第二邻信道功率的平均值，并将所述第一邻信道功率和所述第二邻信道功率的平均值确定为所述目标邻信道功率。
5.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述待测射频性能指标包括误差矢量幅度，所述信号处理策略包括第二信号处理策略，所述按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，并根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值，包括：
在所述信号处理策略为所述第二信号处理策略的情况下，对所述多个数字采样信号进行定时频率同步处理，对处理后的每个数字采样信号进行循环前缀符号去除处理；
对去除循环前缀后的多个数字采样信号进行傅里叶变换，得到第一频域信号，对所述第一频域信号进行频域均衡处理，得到第二频域信号；
对所述第二频域信号进行解码处理，得到参考信号，根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算所述误差矢量幅度的测试值。
6.根据权利要求5所述的射频发射通道的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算所述误差矢量幅度的测试值，包括：
根据所述参考信号和所述第二频域信号，计算多个子载波的误差矢量幅度；
计算所述多个子载波的误差矢量幅度的均方根值，并将所述均方根值确定为所述误差矢量幅度的测试值。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的射频发射通道的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值之后，还包括：
计算所述待测射频性能指标的门限值与所述待测射频性能指标的测试值之间的偏差值；
根据所述偏差值，确定所述待测射频性能指标的测试结果，并向终端设备发送所述待测射频性能指标的测试值和所述测试结果。
8.一种射频发射通道的性能测试装置，其特征在于，所述性能测试装置包括反馈通道和芯片，所述反馈通道与所述射频发射通道耦合，所述反馈通道与所述芯片连接；
所述反馈通道被配置为，在获取到所述射频发射通道的性能测试指令的情况下，对所述射频发射通道发送的射频信号进行采样，得到多个数字采样信号；
所述芯片被配置为，获取待测射频性能指标对应的信号处理策略；
所述芯片还被配置为，按照所述信号处理策略，对所述多个数字采样信号进行处理，得到信号处理结果，根据所述信号处理结果，计算所述待测射频性能指标的测试值。
9.一种基站，其特征在于，所述基站包括处理器、存储器、存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序以及用于实现所述处理器和所述存储器之间的连接通信的数据总线，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如权利要求1至7中任一项所述的射频发射通道的性能测试方法的步骤。
10.一种存储介质，用于计算机可读存储，其特征在于，所述存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现权利要求1至7中任一项所述的射频发射通道的性能测试的方法的步骤。
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