CN117451951B - 一种高适应性单分子测量仪 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种高适应性单分子测量仪,包括密封罩,包含筒状罩体,所述筒状罩体的上下端部分别连接有上固定板、下固定板;耐压防爆机构,包含设置在所述筒状罩体侧壁上的防爆口,所述防爆口处安装有外侧固接有螺帽的中空螺柱,所述中空螺柱与螺帽的限位凸沿之间固定夹设有防爆片;多功能工件置放基座,包含连接于上固定板底面的一组衔接块,衔接块的底侧之间固定安装基座板,基座板的中部嵌装有电加热片,电加热片的上侧盖设有导热片;磁力调节机构,包括可升降安装于基座板下侧的强磁固定座,强磁固定座上固定安装有强磁块;电动缸,其伸缩轴延伸至筒状罩体内并固接有探针。本发明能够有效提升检测仪器的检测适应性。

Description

一种高适应性单分子测量仪
技术领域
本发明涉及一种测量仪器,具体是指一种高适应性单分子测量仪。
背景技术
传统的单分子测量仪的测量机构是暴露在外界的,由于单分子测量仪对测量精度的要求十分高,为了防止外界噪声的干扰,现有的单分子测量仪的外部一般会设置有屏蔽箱。通过屏蔽箱的设置,虽然能够一定程度上防止外界噪声对测试过程的影响,但是其所隔离的噪声多为中高频噪声,而对于外界的低频噪声、以及电动缸自身运行所产生的低频噪音和振动而言,隔离效果十分有限。
而且现有的单分子测量仪所能构建的测试环境较为有限,且其所构建的压力环境、温度环境、以及磁力环境均相对固定,而无法于检测过程中适应性的调节变换压力、温度、以及磁力环境,导致检测仪器的检测适应性相对较差。
因此,设计一款既能够有效明显提升对低频噪声、振动的隔离效果,以大幅减轻低频噪声、振动对检测过程的影响;并能够于检测过程中适应性的调节变换压力、温度、以及磁力环境,从而有效提升检测仪器的检测适应性的高适应性单分子测量仪是本发明的研究目的。
发明内容
针对上述现有技术存在的技术问题,本发明在于提供了一种高适应性单分子测量仪,该高适应性单分子测量仪能够有效解决上述现有技术存在的技术问题。
本发明的技术方案是:
一种高适应性单分子测量仪,包括
密封罩,包含筒状罩体,所述筒状罩体的上下端部分别密封连接有上固定板、下固定板,筒状罩体的一侧连接有进气管和排气管,所述筒状罩体的两侧分别设置有相应的开口,所述开口处分别可启闭安装有相应的密封门;
耐压防爆机构,包含设置在所述筒状罩体侧壁上的防爆口,所述防爆口处贯穿安装有一相应的中空螺柱,所述中空螺柱的外侧固定螺接有一相应的螺帽,所述螺帽的外端部向内翻折设置有相应的限位凸沿,所述中空螺柱的外端部与所述限位凸沿之间固定夹设有一呈片状设置的防爆片,所述防爆片的中部凹设有相应的中心槽,以所述中心槽为中心点,所述防爆片上按等角度呈环形阵列设置有多个连接至所述中心槽的长槽;
多功能工件置放基座,包含连接于所述上固定板底面两侧的一组衔接块,所述衔接块向内的一侧分别开设有相应的安装槽,所述安装槽的槽口处分别通过胶粘方式固接有相应的玻璃隔板,所述玻璃隔板向内一侧分别喷涂设置有相应的半导体电热膜,所述半导体电热膜的两侧分别连接有相应的电极,所述玻璃隔板与所述安装槽所形成的空间内填充安装有诸多相应的减振降噪用球体状金属阻尼粒子;所述衔接块的底侧之间固定安装一呈水平设置的基座板,所述基座板的中部嵌装有一相应的电加热片,所述电加热片的上侧盖设有一相应的导热片,所述基座板的顶面覆盖安装有一相应的限位板,所述限位板的中部设置有与所述导热片相适配的连通孔,所述限位板安装到所述基座板后,所述导热片贯穿设置于所述限位板的连通孔处,所述电极、电加热片分别电连接到外界电控制器上;
磁力调节机构,包括可升降安装于所述基座板下侧的强磁固定座,所述强磁固定座上固定安装有相应的强磁块,所述强磁固定座由相应的升降驱动机构进行驱动;
电动缸,固定安装于所述上固定板的上端面,且所述电动缸的伸缩轴延伸至所述筒状罩体内并固接有相应的探针,所述电动缸电连接到所述外界电控制器上。
所述上固定板的上侧密封固接有一相应的电动缸隔离罩,所述电动缸隔离罩的顶部密封连接有一相应的隔离盖板,电动缸隔离罩、以及上固定板上分别设置有若干个穿线用导孔;所述电极、电加热片、以及所述电动缸的电连接用导线分别密封贯穿所述穿线用导孔并连接到所述外界电控制器上。
所述密封门是由门框中部密封固接透光玻璃组成,所述门框的一侧铰接到所述筒状罩体的开口处一侧,门框通过相应的搭扣锁可启闭锁紧到所述筒状罩体的开口处另一侧。
所述筒状罩体、上固定板、以及下固定板的内侧壁分别喷涂有耐腐蚀特氟龙涂料层。
所述导热片的顶部两侧分别呈台阶状内凹设置有相应的卡接平台,所述限位板的连通孔两侧顶部设置有与所述卡接平台相适配的卡板,所述限位板安装到所述基座板后,所述卡板分别固定卡接于所述导热片的卡接平台上。
所述衔接块的底部内侧分别内凹设有相应的卡槽,所述基座板和限位板分别固定安装于所述卡槽内。
所述基座板的底部固接到所述卡槽的底面上,基座板和限位板的外缘边处、以及所述限位板的上端面与所述卡槽均呈间隔设置。
所述基座板的下侧固定安装有一中部设置有限位导孔的安装块,所述安装块的两侧向下固接有一组相应的导轴,所述导轴的底部之间固定安装有一相应的底部固定块,所述底部固定块的上侧升降设置有一两侧导向安装到所述导轴上的滑动块,所述强磁固定座安装于所述滑动块的上侧,所述滑动块由所述升降驱动机构进行驱动。
所述升降驱动机构包含套设于所述导轴上的一组压缩弹簧、以及通过螺纹连接方式可升降安装于所述底部固定块中部的顶紧螺杆,所述压缩弹簧分别挤压安装于所述安装块与滑动块之间,所述顶紧螺杆的顶部固定抵接到所述滑动块的底面上。
所述滑动块的上侧向上固接有一开口朝上的U形安装件,所述强磁固定座转动安装于U形安装件上。
本发明的优点:
1)本发明设置有多功能工件置放基座,其包含设置有安装槽的衔接块,且衔接块的安装槽槽口处固接有玻璃隔板,再于玻璃隔板与安装槽所形成的空间内进行球体状金属阻尼粒子填充安装,通过球体状金属阻尼粒子之间的摩擦耗能,即可有效对低频噪声和振动形成明显的隔离;且测试过程中,可对半导体电热膜进行通电,从而使其形成升温,即可对测试环境中的温度进行升温调节,且能够对球体状金属阻尼粒子形成热能辐射,从而使球体状金属阻尼粒子产生一定的热胀,以提升球体状金属阻尼粒子之间的挤压力,从而提升其摩擦耗能效果,以进一步有效对低频噪声和振动形成明显的隔离。
测试过程中,对于环境的升温量一般控制在较低范围,此时,通过温差直接对球体状金属阻尼粒子进行赋能,其效果极为有限,由于半导体电热膜在通电后可形成远红外波,当半导体电热膜的升温量较小时,可通过远红外波直接对球体状金属阻尼粒子进行赋能,从而使其在较低的升温下也可达到较为明显的热胀率,以进一步有效保持对低频噪声和振动的隔离效果。
2)通过设置有半导体电热膜的玻璃隔板有效对检测环境温度进行变换调节的同时,本发明进一步在基座板的中部嵌装有电加热片,在中部设有连通孔的限位板的配合下,有效将导热片固定在基座板上。测试过程中,可将工件直接置放于导热片的上表面进行测试,从而在环境温度可调节的同时,直接对工件进行加热,有效实现对于工件自身的热效应而产生不同电信号改变进行测试,以提升检测仪器的检测适应性。
3)本发明将原有的屏蔽腔直接改进设计成由筒状罩体、上固定板、以及下固定板组成的密封罩,通过进气管和排气管的设置有效实现与外界气动控制系统的连接,从而有效对密封罩内的压力值进行变换调节,以在检测过程中适应性调节变换压力环境,从而有效进一步提升检测仪器的检测适应性。
且本发明于筒状罩体侧壁上增设有耐压防爆机构,其防爆片的中部凹设有相应的中心槽,并以中心槽为中心点,在防爆片上按等角度呈环形阵列设置有多个连接至所述中心槽的长槽。从而形成均布的耐压薄弱点,在压力值过高时,防爆片的耐压薄弱点受损后断裂,从而自动形成泄压,以确保本发明的使用安全性。
4)本发明还于基座板的下侧设置有磁力调节机构,其包括可升降安装于基座板下侧的强磁固定座,强磁固定座上固定安装有相应的强磁块,强磁固定座由相应的升降驱动机构进行驱动。使用过程中,通过升降驱动机构调节强磁固定座,即调节强磁块与基座板的相对距离,以对测试环境中的磁力环境进行调节,从而有效进一步提升检测仪器的检测适应性。
5)本发明的密封罩用密封门是由门框中部密封固接透光玻璃组成,门框的一侧铰接到筒状罩体的开口处一侧,并通过相应的搭扣锁可启闭锁紧到筒状罩体的开口处另一侧。既能够便于密封门的启闭操作,且能够保持密封门的闭合效果,并且可将外部光源通过透光玻璃打进密封罩内,以形成不同的光照环境,从而有效进一步提升检测仪器的检测适应性。
6)本发明的导热片顶部两侧分别呈台阶状内凹设置有卡接平台,限位板的连通孔两侧顶部设置有与卡接平台相适配的卡板,限位板安装到基座板后,卡板分别固定卡接于导热片的卡接平台上,从而对导热片形成充分的固定,防止其在探针测试过程中发生位移,从而使多部件组成的多功能工件置放基座得以被顺利运用。
7)本发明的基座板底部固接到衔接块的卡槽底面上,以确保安装稳定性,而基座板和限位板的外缘边处、以及限位板的上端面与衔接块的卡槽均呈间隔设置,从而可进一步降低低频振动、噪音往基座板的传递量,以进一步有效对低频噪声和振动形成明显的隔离。
8)本发明的升降驱动机构包含套设于导轴上的一组压缩弹簧、以及通过螺纹连接方式可升降安装于底部固定块中部的顶紧螺杆,压缩弹簧分别挤压安装于安装块与滑动块之间,顶紧螺杆的顶部固定抵接到滑动块的底面上。如此一来,通过旋动顶紧螺杆即可对滑动块,即对强磁固定座的高度进行调节,从而调节强磁块与基座板的相对距离。调节过程中,压缩弹簧能够用于增强滑动块上下滑动时阻尼,以降低调节所导致的振动,从而在降低影响的前提下,实现对磁力环境的调节。
9)本发明的滑动块上侧向上固接有一开口朝上的U形安装件,强磁固定座转动安装于U形安装件上,可通过转动所述强磁固定座以对强磁块的极性进行调节,以进一步提升本发明的测试适应性。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图2为本发明的另一侧结构示意图。
图3为本发明的耐压防爆机构的零件爆炸图。
图4为本发明的防爆片的结构示意图。
图5为本发明未设置有隔离盖板时的结构示意图。
图6为本发明的剖视图。
图7为本发明的多功能工件置放基座的剖视图。
图8为本发明的功能工件置放基座与磁力调节机构的装配示意图。
图9为本发明的功能工件置放基座与磁力调节机构的零件爆炸图。
附图中:密封罩1、筒状罩体101、上固定板102、下固定板103、进气管2、排气管3、密封门4、门框401、透光玻璃402、耐压防爆机构5、防爆口501、中空螺柱502、螺帽503、防爆片504、限位凸沿6、中心槽7、长槽8、多功能工件置放基座9、衔接块901、玻璃隔板902、半导体电热膜903、电极904、球体状金属阻尼粒子905、基座板906、电加热片907、导热片908、限位板909、磁力调节机构10、强磁固定座1001、强磁块1002、升降驱动机构1003、压缩弹簧10031、顶紧螺杆10032、电动缸11、探针12、电动缸隔离罩13、隔离盖板14、穿线用导孔15、搭扣锁16、卡接平台17、卡板18、卡槽19、安装块20、导轴21、底部固定块22、滑动块23、U形安装件24。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员理解,现将实施例结合附图对本发明的结构作进一步详细描述:
参考图1-9,一种高适应性单分子测量仪,包括
密封罩1,包含筒状罩体101,所述筒状罩体101的上下端部分别密封连接有上固定板102、下固定板103,筒状罩体101的一侧连接有进气管2和排气管3,所述筒状罩体101的两侧分别设置有相应的开口,所述开口处分别可启闭安装有相应的密封门4;
耐压防爆机构5,包含设置在所述筒状罩体101侧壁上的防爆口501,所述防爆口501处贯穿安装有一相应的中空螺柱502,所述中空螺柱502的外侧固定螺接有一相应的螺帽503,所述螺帽503的外端部向内翻折设置有相应的限位凸沿6,所述中空螺柱502的外端部与所述限位凸沿6之间固定夹设有一呈片状设置的防爆片504,所述防爆片504的中部凹设有相应的中心槽7,以所述中心槽7为中心点,所述防爆片504上按等角度呈环形阵列设置有多个连接至所述中心槽7的长槽8;
多功能工件置放基座9,包含连接于所述上固定板102底面两侧的一组衔接块901,所述衔接块901向内的一侧分别开设有相应的安装槽,所述安装槽的槽口处分别通过胶粘方式固接有相应的玻璃隔板902,所述玻璃隔板902向内一侧分别喷涂设置有相应的半导体电热膜903,所述半导体电热膜903的两侧分别连接有相应的电极904,所述玻璃隔板902与所述安装槽所形成的空间内填充安装有诸多相应的减振降噪用球体状金属阻尼粒子905;所述衔接块901的底侧之间固定安装一呈水平设置的基座板906,所述基座板906的中部嵌装有一相应的电加热片907,所述电加热片907的上侧盖设有一相应的导热片908,所述基座板906的顶面覆盖安装有一相应的限位板909,所述限位板909的中部设置有与所述导热片908相适配的连通孔,所述限位板909安装到所述基座板906后,所述导热片908贯穿设置于所述限位板909的连通孔处,所述电极904、电加热片907分别电连接到外界电控制器上;
磁力调节机构10,包括可升降安装于所述基座板906下侧的强磁固定座1001,所述强磁固定座1001上固定安装有相应的强磁块1002,所述强磁固定座1001由相应的升降驱动机构1003进行驱动;
电动缸11,固定安装于所述上固定板102的上端面,且所述电动缸11的伸缩轴延伸至所述筒状罩体101内并固接有相应的探针12,所述电动缸11电连接到所述外界电控制器上。
本发明设置有多功能工件置放基座9,其包含设置有安装槽的衔接块901,且衔接块901的安装槽槽口处固接有玻璃隔板902,再于玻璃隔板902与安装槽所形成的空间内进行球体状金属阻尼粒子905填充安装,通过球体状金属阻尼粒子905之间的摩擦耗能,即可有效对低频噪声和振动形成明显的隔离;且测试过程中,可对半导体电热膜903进行通电,从而使其形成升温,即可对测试环境中的温度进行升温调节,且能够对球体状金属阻尼粒子905形成热能辐射,从而使球体状金属阻尼粒子905产生一定的热胀,以提升球体状金属阻尼粒子905之间的挤压力,从而提升其摩擦耗能效果,以进一步有效对低频噪声和振动形成明显的隔离。
测试过程中,对于环境的升温量一般控制在较低范围,此时,通过温差直接对球体状金属阻尼粒子905进行赋能,其效果极为有限,由于半导体电热膜903在通电后可形成远红外波,当半导体电热膜903的升温量较小时,可通过远红外波直接对球体状金属阻尼粒子905进行赋能,从而使其在较低的升温下也可达到较为明显的热胀率,以进一步有效保持对低频噪声和振动的隔离效果。
通过设置有半导体电热膜903的玻璃隔板902有效对检测环境温度进行变换调节的同时,本发明进一步在基座板906的中部嵌装有电加热片907,在中部设有连通孔的限位板909的配合下,有效将导热片908固定在基座板上。测试过程中,可将工件直接置放于导热片908的上表面进行测试,从而在环境温度可调节的同时,直接对工件进行加热,有效实现对于工件自身的热效应而产生不同电信号改变进行测试,以提升检测仪器的检测适应性。
本发明将原有的屏蔽腔直接改进设计成由筒状罩体101、上固定板102、以及下固定板103组成的密封罩1,通过进气管2和排气管3的设置有效实现与外界气动控制系统的连接,从而有效对密封罩1内的压力值进行变换调节,以在检测过程中适应性调节变换压力环境,从而有效进一步提升检测仪器的检测适应性。且本发明于筒状罩体101侧壁上增设有耐压防爆机构5,其防爆片504的中部凹设有相应的中心槽7,并以中心7为中心点,在防爆片504上按等角度呈环形阵列设置有多个连接至所述中心槽7的长槽8。从而形成均布的耐压薄弱点,在压力值过高时,防爆片504的耐压薄弱点受损后断裂,从而自动形成泄压,以确保本发明的使用安全性。
本发明还于基座板906的下侧设置有磁力调节机构10,使用过程中,通过升降驱动机构1003调节强磁固定座1001,即调节强磁块1002与基座板906的相对距离,以对测试环境中的磁力环境进行调节,从而有效进一步提升检测仪器的检测适应性。
所述上固定板102的上侧密封固接有一相应的电动缸隔离罩13,所述电动缸隔离罩13的顶部密封连接有一相应的隔离盖板14,电动缸隔离罩13、以及上固定板102上分别设置有若干个穿线用导孔15;所述电极904、电加热片907、以及所述电动缸11的电连接用导线分别密封贯穿所述穿线用导孔15并连接到所述外界电控制器上。
所述密封门4是由门框401中部密封固接透光玻璃402组成,所述门框401的一侧铰接到所述筒状罩体101的开口处一侧,门框401通过相应的搭扣锁16可启闭锁紧到所述筒状罩体101的开口处另一侧。既能够便于密封门4的启闭操作,且能够保持密封门4的闭合效果,并且可将外部光源通过透光玻璃402打进密封罩1内,以形成不同的光照环境,从而有效进一步提升检测仪器的检测适应性。
所述筒状罩体101、上固定板102、以及下固定板103的内侧壁分别喷涂有耐腐蚀特氟龙涂料层。在耐腐蚀特氟龙涂料层的保护下,明显提高所述筒状罩体101、上固定板102、以及下固定板103的抗腐蚀能力。
所述导热片908的顶部两侧分别呈台阶状内凹设置有相应的卡接平台17,所述限位板909的连通孔两侧顶部设置有与所述卡接平台17相适配的卡板18,所述限位板909安装到所述基座板906后,所述卡板18分别固定卡接于所述导热片908的卡接平台17上。从而对导热片908形成充分的固定,防止其在探针12测试过程中发生位移,从而使多部件组成的多功能工件置放基座9得以被顺利运用。
所述衔接块901的底部内侧分别内凹设有相应的卡槽19,所述基座板906和限位板909分别固定安装于所述卡槽19内。所述基座板906的底部固接到所述卡槽19的底面上,基座板906和限位板909的外缘边处、以及所述限位板909的上端面与所述卡槽19均呈间隔设置。从而可进一步降低低频振动、噪音往基座板906的传递量,以进一步有效对低频噪声和振动形成明显的隔离。
所述基座板906的下侧固定安装有一中部设置有限位导孔的安装块20,所述安装块20的两侧向下固接有一组相应的导轴21,所述导轴21的底部之间固定安装有一相应的底部固定块22,所述底部固定块22的上侧升降设置有一两侧导向安装到所述导轴21上的滑动块23,所述强磁固定座1001安装于所述滑动块23的上侧,所述滑动块23由所述升降驱动机构1003进行驱动。
所述升降驱动机构1003包含套设于所述导轴21上的一组压缩弹簧10031、以及通过螺纹连接方式可升降安装于所述底部固定块22中部的顶紧螺杆10032,所述压缩弹簧10031分别挤压安装于所述安装块20与滑动块23之间,所述顶紧螺杆10032的顶部固定抵接到所述滑动块23的底面上。
所述滑动块23的上侧向上固接有一开口朝上的U形安装件24,所述强磁固定座1001转动安装于U形安装件24上。
磁力调节时,通过旋动顶紧螺杆10032即可对滑动块23,即对强磁固定座1001的高度进行调节,从而调节强磁块1002与基座板906的相对距离。调节过程中,压缩弹簧10031能够用于增强滑动块23上下滑动时阻尼,以降低调节所导致的振动,从而在降低影响的前提下,实现对磁力环境的调节。使用过程中,还可根据需要,通过转动所述强磁固定座1001以对强磁块1002的极性进行调节,以进一步提升本发明的测试适应性。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:包括
密封罩(1),包含筒状罩体(101),所述筒状罩体(101)的上下端部分别密封连接有上固定板(102)、下固定板(103),筒状罩体(101)的一侧连接有进气管(2)和排气管(3),所述筒状罩体(101)的两侧分别设置有相应的开口,所述开口处分别可启闭安装有相应的密封门(4);
耐压防爆机构(5),包含设置在所述筒状罩体(101)侧壁上的防爆口(501),所述防爆口(501)处贯穿安装有一相应的中空螺柱(502),所述中空螺柱(502)的外侧固定螺接有一相应的螺帽(503),所述螺帽(503)的外端部向内翻折设置有相应的限位凸沿(6),所述中空螺柱(502)的外端部与所述限位凸沿(6)之间固定夹设有一呈片状设置的防爆片(504),所述防爆片(504)的中部凹设有相应的中心槽(7),以所述中心槽(7)为中心点,所述防爆片(504)上按等角度呈环形阵列设置有多个连接至所述中心槽(7)的长槽(8);
多功能工件置放基座(9),包含连接于所述上固定板(102)底面两侧的一组衔接块(901),所述衔接块(901)向内的一侧分别开设有相应的安装槽,所述安装槽的槽口处分别通过胶粘方式固接有相应的玻璃隔板(902),所述玻璃隔板(902)向内一侧分别喷涂设置有相应的半导体电热膜(903),所述半导体电热膜(903)的两侧分别连接有相应的电极(904),所述玻璃隔板(902)与所述安装槽所形成的空间内填充安装有诸多相应的减振降噪用球体状金属阻尼粒子(905);所述衔接块(901)的底侧之间固定安装一呈水平设置的基座板(906),所述基座板(906)的中部嵌装有一相应的电加热片(907),所述电加热片(907)的上侧盖设有一相应的导热片(908),所述基座板(906)的顶面覆盖安装有一相应的限位板(909),所述限位板(909)的中部设置有与所述导热片(908)相适配的连通孔,所述限位板(909)安装到所述基座板(906)后,所述导热片(908)贯穿设置于所述限位板(909)的连通孔处,所述电极(904)、电加热片(907)分别电连接到外界电控制器上;
磁力调节机构(10),包括可升降安装于所述基座板(906)下侧的强磁固定座(1001),所述强磁固定座(1001)上固定安装有相应的强磁块(1002),所述强磁固定座(1001)由相应的升降驱动机构(1003)进行驱动;
电动缸(11),固定安装于所述上固定板(102)的上端面,且所述电动缸(11)的伸缩轴延伸至所述筒状罩体(101)内并固接有相应的探针(12),所述电动缸(11)电连接到所述外界电控制器上。
2.根据权利要求1所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述上固定板(102)的上侧密封固接有一相应的电动缸隔离罩(13),所述电动缸隔离罩(13)的顶部密封连接有一相应的隔离盖板(14),电动缸隔离罩(13)、以及上固定板(102)上分别设置有若干个穿线用导孔(15);所述电极(904)、电加热片(907)、以及所述电动缸(11)的电连接用导线分别密封贯穿所述穿线用导孔(15)并连接到所述外界电控制器上。
3.根据权利要求1所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述密封门(4)是由门框(401)中部密封固接透光玻璃(402)组成,所述门框(401)的一侧铰接到所述筒状罩体(101)的开口处一侧,门框(401)通过相应的搭扣锁(16)可启闭锁紧到所述筒状罩体(101)的开口处另一侧。
4.根据权利要求1所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述筒状罩体(101)、上固定板(102)、以及下固定板(103)的内侧壁分别喷涂有耐腐蚀特氟龙涂料层。
5.根据权利要求1所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述导热片(908)的顶部两侧分别呈台阶状内凹设置有相应的卡接平台(17),所述限位板(909)的连通孔两侧顶部设置有与所述卡接平台(17)相适配的卡板(18),所述限位板(909)安装到所述基座板(906)后,所述卡板(18)分别固定卡接于所述导热片(908)的卡接平台(17)上。
6.根据权利要求1所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述衔接块(901)的底部内侧分别内凹设有相应的卡槽(19),所述基座板(906)和限位板(909)分别固定安装于所述卡槽(19)内。
7.根据权利要求6所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述基座板(906)的底部固接到所述卡槽(19)的底面上,基座板(906)和限位板(909)的外缘边处、以及所述限位板(909)的上端面与所述卡槽(19)均呈间隔设置。
8.根据权利要求1所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述基座板(906)的下侧固定安装有一中部设置有限位导孔的安装块(20),所述安装块(20)的两侧向下固接有一组相应的导轴(21),所述导轴(21)的底部之间固定安装有一相应的底部固定块(22),所述底部固定块(22)的上侧升降设置有一两侧导向安装到所述导轴(21)上的滑动块(23),所述强磁固定座(1001)安装于所述滑动块(23)的上侧,所述滑动块(23)由所述升降驱动机构(1003)进行驱动。
9.根据权利要求8所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述升降驱动机构(1003)包含套设于所述导轴(21)上的一组压缩弹簧(10031)、以及通过螺纹连接方式可升降安装于所述底部固定块(22)中部的顶紧螺杆(10032),所述压缩弹簧(10031)分别挤压安装于所述安装块(20)与滑动块(23)之间,所述顶紧螺杆(10032)的顶部固定抵接到所述滑动块(23)的底面上。
10.根据权利要求9所述的一种高适应性单分子测量仪,其特征在于:所述滑动块(23)的上侧向上固接有一开口朝上的U形安装件(24),所述强磁固定座(1001)转动安装于U形安装件(24)上。
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