CN214427469U - 一种带法拉第屏蔽的stm测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，包含：安装底座，所述安装底座在其上端面设置连通孔，所述安装底座设置有窗口；门体，轨道连接于所述安装底座，所述门体设置有遮挡部和开放部，移动所述门体可将所述遮挡部遮挡于所述窗口；电动缸，设置于所述安装底座的上端面，且所述电动缸的伸缩轴穿过所述连通孔延伸至所述安装底座的内部；探针，连接于所述伸缩轴并跟随所述伸缩轴运动；基底底座，锁紧设置于所述安装底座内对应所述探针的位置；测量回路，连接于所述探针和所述基底底座之间。
Description
技术领域
本实用新型涉及扫描隧穿裂结领域，具体指有一种带法拉第屏蔽的STM测量装置。
背景技术
扫描隧穿裂结(Scanning Tunneling Microscope-Break Junction，STM-BJ)技术作为构筑金属/分子/金属(MMM)分子结构并研究单分子电子学的测试手段，因其便捷有效、可重复性高、可获得大量实验数据等优点成为研究电荷输运特性的重要工具，并逐渐向环境、生命科学、公共卫生等领域的商业化过渡，该技术有望在将来从高端的科学仪器真正用到民用的检测分析仪器中。
现有的STM测量仪器，其测量机构是暴露在外界的，由于其对测量精度的要求十分高，为了防止外界噪声的干扰，需要在STM测量仪器的外界设置屏蔽箱，操作人员每次操作需要打开
针对上述的现有技术存在的问题设计一种带法拉第屏蔽的STM测量装置是本实用新型研究的目的。
实用新型内容
针对上述现有技术存在的问题，本实用新型在于提供一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，能够有效解决上述现有技术存在的问题。
本实用新型的技术方案是：
一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，包含：
安装底座，所述安装底座在其上端面设置连通孔，所述安装底座设置有窗口；
门体，轨道连接于所述安装底座，所述门体设置有遮挡部和开放部，移动所述门体可将所述遮挡部遮挡于所述窗口；
电动缸，设置于所述安装底座的上端面，且所述电动缸的伸缩轴穿过所述连通孔延伸至所述安装底座的内部；
探针，连接于所述伸缩轴并跟随所述伸缩轴运动；
基底底座，设置于所述安装底座内对应所述探针的位置；
测量回路，连接于所述探针和所述基底底座之间。
进一步地，所述安装底座为圆筒形结构。
进一步地，所述安装底座在其上端设置有轨道，所述门体为与所述安装底座相配合的圆筒形结构，所述门体通过所述轨道的配合连接至所述安装底座。
进一步地进一步包含上围挡，所述上围挡安装于所述安装底座的上端面。
进一步地，所述安装底座设置有和所述门体相配合的滚珠。
进一步地，所述安装底座的底面设置有防震板。
进一步地，所述安装底座的上端面设置有连接线导向孔。
进一步地，所述测量回路穿过所述连接线导向孔连接至控制系统。
本实用新型的优点：
本实用新型通过移动门体，门体设置的遮挡部和开放部可以遮挡或开放窗口，当门体开放窗口时，操作人员可以便捷地更换探针或放置待测材料到基底底座，当门体遮挡窗口时，门体和安装底座形成法拉第屏蔽笼体，可以隔绝外界的电磁波等噪声干扰，提高本实用新型的精确度。
本实用新型所述安装底座在其上端设置有轨道，所述门体为与所述安装底座相配合的圆筒形结构，通过该结构可以便于门体转动。同时，本实用新型通过滚珠的设置，可以减低门体转动的阻力。
本实用新型的所述安装底座的上端面设置有连接线导向孔便于将测量回路的电路线集线，提高美观度。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为图1的结构爆炸图。
图3为基底底座的结构示意图。
图4为测量回路的连接示意图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员理解，现将实施例结合附图对本实用新型的结构作进一步详细描述：
实施例一
参考图1，一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，包含：
安装底座1，所述安装底座1在其上端面设置连通孔101，所述安装底座1设置有窗口102；
门体2，轨道连接于所述安装底座1，所述门体2设置有遮挡部201和开放部202，移动所述门体2可将所述遮挡部201遮挡于所述窗口102；
电动缸3，设置于所述安装底座1的上端面，且所述电动缸3的伸缩轴穿过所述连通孔101延伸至所述安装底座1的内部；
探针4，连接于所述伸缩轴并跟随所述伸缩轴运动；
基底底座5，设置于所述安装底座1内对应所述探针4的位置；本实施例中，具体为，安装底座1在对应连通孔101的下侧一左一右各粘接一组磁铁，一组磁铁其中上侧的磁铁粘接到安装底座1，下侧的磁铁通过磁力吸合。基底底座5通过磁铁的吸合作用设置于一组磁铁之间，可以方便拆卸从而方便更换待测材料；
测量回路7，连接于所述探针4和所述基底底座5之间。
进一步地，所述安装底座1为圆筒形结构，所述安装底座1在其上端设置有轨道103，所述门体2为与所述安装底座1相配合的圆筒形结构，所述门体2通过所述轨道103的配合连接至所述安装底座1。
进一步包含上围挡6，所述上围挡6安装于所述安装底座1的上端面。
进一步地，所述安装底座1设置有和所述门体2相配合的滚珠。
进一步地，所述安装底座1的底面设置有防震板(未画出)。
进一步地，所述安装底座1的上端面设置有连接线导向孔104。
进一步地，所述测量回路7穿过所述连接线导向孔104连接至控制系统。
进一步地，门体2和安装底座1均由金属制成。
通过移动门体2，门体设置的遮挡部201和开放部202可以遮挡或开放窗口102，当门体2开放窗口102时，操作人员可以便捷地更换探针4或放置待测材料到基底底座5，当门体2遮挡窗口102时，门体2和安装底座1形成法拉第屏蔽笼体，可以隔绝外界的电磁波等噪声干扰，提高本实用新型的精确度。
工作时，电动缸3带动探针4上下运动，不断地在待测材料和探针4之间接触并断开，从而构建分子结，测量回路6可以通过放大并测量材料分子结之间的电势等性能即可获取得到待测材料的分子信息。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，凡依本实用新型申请专利范围所做的均等变化与修饰，皆应属于本实用新型的涵盖范围。
Claims (8)
1.一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：包含：
安装底座，所述安装底座在其上端面设置连通孔，所述安装底座设置有窗口；
门体，轨道连接于所述安装底座，所述门体设置有遮挡部和开放部，移动所述门体可将所述遮挡部遮挡于所述窗口；
电动缸，设置于所述安装底座的上端面，且所述电动缸的伸缩轴穿过所述连通孔延伸至所述安装底座的内部；
探针，连接于所述伸缩轴并跟随所述伸缩轴运动；
基底底座，设置于所述安装底座内对应所述探针的位置；
测量回路，连接于所述探针和所述基底底座之间。
2.根据权利要求1所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：所述安装底座为圆筒形结构。
3.根据权利要求2所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：
所述安装底座在其上端设置有轨道，所述门体为与所述安装底座相配合的圆筒形结构，所述门体通过所述轨道的配合连接至所述安装底座。
4.根据权利要求1所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：进一步包含上围挡，所述上围挡安装于所述安装底座的上端面。
5.根据权利要求1所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：所述安装底座设置有和所述门体相配合的滚珠。
6.根据权利要求1所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：所述安装底座的底面设置有防震板。
7.根据权利要求1所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：所述安装底座的上端面设置有连接线导向孔。
8.根据权利要求7所述的一种带法拉第屏蔽的STM测量装置，其特征在于：所述测量回路穿过所述连接线导向孔连接至控制系统。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120604889.XU CN214427469U (zh) | 2021-03-25 | 2021-03-25 | 一种带法拉第屏蔽的stm测量装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202120604889.XU CN214427469U (zh) | 2021-03-25 | 2021-03-25 | 一种带法拉第屏蔽的stm测量装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN214427469U true CN214427469U (zh) | 2021-10-19 |
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ID=78074897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN202120604889.XU Active CN214427469U (zh) | 2021-03-25 | 2021-03-25 | 一种带法拉第屏蔽的stm测量装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN214427469U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117451951A (zh) * | 2023-12-22 | 2024-01-26 | 微瑞精仪(厦门)科技有限公司 | 一种高适应性单分子测量仪 |
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2021
- 2021-03-25 CN CN202120604889.XU patent/CN214427469U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117451951A (zh) * | 2023-12-22 | 2024-01-26 | 微瑞精仪(厦门)科技有限公司 | 一种高适应性单分子测量仪 |
| CN117451951B (zh) * | 2023-12-22 | 2024-03-19 | 微瑞精仪(厦门)科技有限公司 | 一种高适应性单分子测量仪 |
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