CN117446442A - 托盘叉取方法、装置以及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供了一种托盘叉取方法、装置以及电子设备。所述方法包括确定目标托盘对应的第一检测结果,第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定;确定目标托盘对应的第二检测结果,第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定;基于第一检测结果与所述第二检测结果确定是否继续按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取。本方案能够自动检测托盘及其上货物是否有异常,如叉臂怼货情况造成托盘及其货物位姿发生偏移、地面孔洞塌陷造成托盘状态异常等情形,有效避免定位不准确或者叉取精度不高或者其他情形导致托盘位姿偏移或者发生怼货的情况,增加了叉取托盘的安全性。
Description
技术领域
本发明涉及仓储物流技术领域,尤其涉及一种托盘叉取方法、装置以及电子设备。
背景技术
随着智能制造和仓储物流领域的智能化,仓储物流中逐步采用托盘进行货物上料、自动堆料等功能。针对复杂的仓储环境,可以通过对托盘的插孔进行识别来实现对托盘的精细化叉取。但是,在识别托盘之后并准备自主插取托盘之前,托盘有一定的概率发生碰撞推行托盘等类似怼货的情况,导致托盘摆放偏移甚至撞坏货物,进而对后续托盘的叉取产生影响。
发明内容
本发明提供一种托盘叉取方法、装置、电子设备以及存储介质,以实现在叉取托盘时能够自动检测托盘及其上货物是否有异常。
第一方面,本发明实施例提供了一种托盘叉取方法,所述方法包括:
确定目标托盘对应的第一检测结果,所述第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,所述第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,所述第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
确定目标托盘对应的第二检测结果,所述第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,所述第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,所述第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
第二方面,本发明实施例还提供了一种托盘叉取装置,所述装置包括:
第一确定模块,用于确定目标托盘对应的第一检测结果,所述第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,所述第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,所述第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
第二确定模块,用于确定目标托盘对应的第二检测结果,所述第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,所述第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,所述第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
叉取控制模块,用于基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
第三方面,本发明实施例中还提供了一种电子设备,所述电子设备包括:
至少一个处理器;以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序,所述计算机程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行上述实施例中任一项所述的托盘叉取方法。
第四方面,本发明实施例中还提供了一种计算机可读介质,所述计算机可读介质存储有计算机指令,所述计算机指令用于使处理器执行时实现上述实施例中任一项所述的托盘叉取方法。
本发明实施例,在对目标托盘的插孔边界按照识别结果进行托盘叉取时,会确定目标托盘对应的基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定的第一检测结果,第一激光点为用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面的第一激光点云中激光点;确定目标托盘对应的基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定的第二检测结果,第二激光点为用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面的第二激光点云中激光点;基于第一检测结果与第二检测结果确定是否继续按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取。本方案以在对托盘进行插孔边界识别时预先识别的比较准确的托盘前向表面点云检测结果为基准,如果叉取过程中托盘位姿发生移动,那么托盘前向表面点云检测结果会发生变化,尤其当托盘前向表面点云检测结果的前后变化较大时认为托盘发生较大位姿偏移,能够自动检测托盘及其上货物是否有异常,如叉臂怼货情况造成托盘及其上货物位姿发生偏移、地面孔洞塌陷造成托盘状态异常等情形,有效避免定位不准确或者叉取精度不高或者其他情形导致托盘位姿偏移或者发生怼货的情况,增加了叉取托盘的安全性。
应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
结合附图并参考以下具体实施方式,本发明各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的,原件和元素不一定按照比例绘制。
图1是本发明实施例所提供的一种托盘叉取方法流程示意图;
图2a是本发明实施例所提供的一种对三腿双孔托盘进行叉取的示意图;
图2b是本发明实施例所提供的一种对双腿单孔托盘进行叉取的示意图;
图2c是本发明实施例所提供的一种对三腿双孔托盘进行检测的示意图;
图2d是本发明实施例所提供的一种对双腿单孔托盘进行检测的示意图;
图3是本发明实施例所提供的一种托盘叉取装置结构示意图;
图4是本发明实施例所提供的实现托盘叉取方法的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本发明的实施例。虽然附图中显示了本发明的某些实施例,然而应当理解的是,本发明可以通过各种形式来实现,而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例,相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本发明。应当理解的是,本发明的附图及实施例仅用于示例性作用,并非用于限制本发明的保护范围。
应当理解,本发明的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行,和/或并行执行。此外,方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本发明的范围在此方面不受限制。
本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括,即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”;术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”;术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。
需要注意,本发明中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分,并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。
需要注意,本发明中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的,本领域技术人员应当理解,除非在上下文另有明确指出,否则应该理解为“一个或多个”。
本发明实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的,而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。
可以理解的是,在使用本发明各实施例公开的技术方案之前,均应当依据相关法律法规通过恰当的方式对本发明所涉及个人信息的类型、使用范围、使用场景等告知用户并获得用户的授权。
例如,在响应于接收到用户的主动请求时,向用户发送提示信息,以明确地提示用户,其请求执行的操作将需要获取和使用到用户的个人信息。从而,使得用户可以根据提示信息来自主地选择是否向执行本发明技术方案的操作的电子设备、应用程序、服务器或存储介质等软件或硬件提供个人信息。
作为一种可选的但非限定性的实现方式,响应于接收到用户的主动请求,向用户发送提示信息的方式例如可以是弹窗的方式,弹窗中可以以文字的方式呈现提示信息。此外,弹窗中还可以承载供用户选择“同意”或者“不同意”向电子设备提供个人信息的选择控件。
可以理解的是,上述通知和获取用户授权过程仅是示意性的,不对本发明的实现方式构成限定,其它满足相关法律法规的方式也可应用于本发明的实现方式中。
可以理解的是,本技术方案所涉及的数据(包括但不限于数据本身、数据的获取或使用)应当遵循相应法律法规及相关规定的要求。
图1为本发明实施例所提供的一种托盘叉取方法的流程示意图,本发明实施例适用于在对托盘的插孔边界按照识别结果进行托盘叉取时对托盘位姿是否出现偏移进行检测以便正确叉取托盘的情况,该方法可以由托盘叉取装置来执行,该托盘叉取装置可以通过软件和/或硬件的形式进行实现,并一般集成在任何具有网络通信功能的电子设备上,该电子设备可以是移动终端、PC端或服务器等。
如图1所示,本发明实施例的托盘叉取方法可包括以下过程:
S110、确定目标托盘对应的第一检测结果,第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面。
参见图2a和图2b,托盘包括托盘本体与托盘支撑腿,托盘本体用于承载物品进行托放,托盘本体的下端连接有托盘支撑腿,托盘支撑腿用于支撑托盘本体,托盘支撑腿之间的区域为托盘插孔区域。在对托盘进行叉取时,可以通过识别托盘的支撑腿的边界位置,以此识别托盘的插孔区域边界,进而根据托盘插孔的边界位置来对托盘进行叉取并移动。其中,从托盘叉取方向一侧观察托盘的类型可划分为双腿单孔的托盘和三腿双孔的托盘。
参见图2a和图2b,目标托盘为在无人叉车收到托盘叉取任务后,根据托盘叉取任务从多个候选托盘命中的托盘。当需要对目标托盘进行叉取时,可以确定目标托盘所在存放区域位置,按照目标托盘所在存放区域位置控制激光雷达移动到目标托盘所在存放区域的一侧位置。将激光雷达激光扫描目标托盘时靠近激光雷达一侧的目标托盘支撑腿的表面记为第一参考表面,可以通过激光雷达获取能够描述第一参考表面的激光点云的激光点云,并记为第一激光点云。
参见图2c和图2d,为了检测第一激光点云中各第一激光点的激光点分布情况,可以针对目标托盘配置一个参考栅格地图,参考栅格地图包括阵列分布的多个参考栅格组成,且不同参考栅格对应不同的坐标位置。对于参考栅格地图中的各个参考栅格而言,参考栅格地图中各个参考栅格通过坐标来描述其覆盖位置范围。按照第一激光点云中各第一激光点的坐标将各第一激光点向参考栅格地图的各个参考栅格中进行投影,确定落入到参考栅格地图中的各个参考栅格的第一激光点数量,以各个参考栅格中第一激光点的数量得到目标托盘对应的第一检测结果。其中,每个落入参考栅格的第一激光点的坐标位于参考栅格对应覆盖的位置范围之内。
作为一种可选的但非限定性的实现方式,确定目标托盘对应的第一检测结果,包括以下步骤A1-A3:
步骤A1、确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,第一栅格属性值为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中参考栅格的第一激光点数量。
步骤A2、基于参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格状态值,第一栅格状态值用于衡量在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格中第一激光点相对其他参考栅格的密集程度。
可选地,参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格状态值是基于参考栅格的第一栅格属性值与目标栅格的第一栅格属性值之间的比值进行确定,目标栅格为参考栅格地图的各个参考栅格中落入激光点数量最多的参考栅格。
参见图2c和图2d,对于预先配置的参考栅格地图,参考栅格的大小为对激光点云进行截取的范围,参考栅格的尺寸默认1cm。每个参考栅格的第一栅格属性值以[0,1]之间的小数表示,各个参考栅格的第一栅格状态值是通过在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格中第一激光点相对其他参考栅格的密集程度进行决定。参考栅格的第一栅格状态值计算如下:
其中,Odd1i为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格地图中第i个参考栅格中第一激光点相对其他参考栅格的密集程度,x1i为参考栅格地图中第i个栅格中第一激光点的点数,max_x1i为参考栅格地图的所有参考栅格中点数最多的参考栅格中第一激光点的数量。
步骤A3、基于各个参考栅格的第一栅格属性值与第一栅格状态值,确定目标托盘对应的第一检测结果。
可选地,目标托盘对应的第一检测结果是基于参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值与对应参考栅格的第一栅格状态值的加权和进行确定。
可选地,目标托盘对应的第一检测结果的计算如下:
其中,score1为目标托盘对应的第一检测结果,p1i为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中参考栅格的第一激光点数量,n为参考栅格的总数,Odd1i为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格地图中第i个参考栅格中第一激光点相对其他参考栅格的密集程度。以参考栅格地图为九宫格为例进行说明,各个参考栅格的第一栅格状态值分别是O1 O2 O3……O9,参考栅格的第一栅格属性值分别为P1 P2 P3....P9,目标托盘对应的第一检测结果为score1=O1*P1+O2P2+O3 P3+...+O9P9。
作为一种可选的但非限定性的实现方式,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,包括以下步骤B1-B2:
步骤B1、确定目标托盘对应第一激光点云,第一激光点云中包括多个第一激光点。
可选地,确定目标托盘对应第一激光点云,包括:在启动采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时,确定目标托盘对应的第三激光点云,第三激光点云为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时采用激光雷达对准朝向目标托盘所在存放区域进行激光扫描得到的激光点云;基于第三激光点云中各个激光点的三维坐标,从第三激光点云中提取目标托盘对应的第一激光点云。
其中,第一激光点云为描述第一参考表面的激光点云,第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面。
可选地,确定目标托盘对应的第三激光点云包括:在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时,通过激光雷达对准朝向目标托盘所在存放区域对目标托盘进行激光扫描操作;对连续执行至少两次激光扫描操作得到的激光点云进行合并得到目标托盘对应的第三激光点云,不同次激光扫描操作在纵向位置上进行了偏移调整。
可选地,基于第三激光点云中各个激光点的三维坐标,从第三激光点云中提取目标托盘对应的第一激光点云,包括:从参考坐标系的原点开始沿着参考坐标系的横轴方向生成多条参考射线,多条参考射线用于将目标托盘所在存放区域的纵向范围进行等分;控制参考射线击中第三激光点云中的第三激光点时停止,获取击中的横轴坐标范围处的第三激光点;通过坡度滤波滤除射向远离参考侧托盘表面的第三激光点,得到剩余的第三激光点并确定为目标托盘支撑腿对应的第一激光点云;其中,参考坐标系以激光雷达的位置作为坐标原点,以对目标托盘进行托盘叉取方向为横轴方向,以对目标托盘进行叉取时激光雷达所属目标设备的左右方向为纵轴方向,以垂直向上的方向为竖轴方向。
步骤B2、依据多个第一激光点的三维坐标与参考栅格地图中各个栅格的位置范围将多个第一激光点向参考栅格地图中各个栅格进行投影,得到用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中各个栅格的第一激光点数量的第一栅格属性值。
S120、确定目标托盘对应的第二检测结果,第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面。
参见图2a和图2b,在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时,按照目标托盘所在存放区域位置控制激光雷达移动到目标托盘所在存放区域的一侧位置。同样,将在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘支撑腿的表面记为第二参考表面,此时可以对第二参考表面进行激光扫描,通过激光雷达获取能够描述第二参考表面的激光点云的激光点云,并记为第二激光点云。
参见图2c和图2d,同样地,为了检测第二激光点云中各第二激光点的激光点分布情况,采用同一个参考栅格地图。此时,对于参考栅格地图中的各个参考栅格而言,按照第二激光点云中各第二激光点的坐标将各第二激光点向参考栅格地图的各个参考栅格中进行投影,确定落入到参考栅格地图中的各个参考栅格的第二激光点数量,以各个参考栅格中第二激光点的数量得到目标托盘对应的第二检测结果。其中,每个落入参考栅格的第二激光点的坐标位于参考栅格对应覆盖的位置范围之内。
作为一种可选的但非限定性的实现方式,确定目标托盘对应的第二检测结果,包括以下步骤C1-C3:
步骤C1、确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,第二栅格属性值为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时落入参考栅格地图中参考栅格的第二激光点数量。
步骤C2、基于参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格状态值,第二栅格状态值用于衡量在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时参考栅格中第二激光点相对其他参考栅格的密集程度。
可选地,参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格状态值是基于参考栅格的第二栅格属性值与目标栅格的第二栅格属性值之间的比值进行确定,目标栅格为参考栅格地图的各个参考栅格中落入激光点数量最多的参考栅格。
参见图2c和图2d,采用同一个参考栅格地图,每个参考栅格的第二栅格属性值以[0,1]之间的小数表示,各个参考栅格的第二栅格状态值是通过在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格中第二激光点相对其他参考栅格的密集程度进行决定。参考栅格的第二栅格状态值计算如下:
其中,Odd2i为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格地图中第i个参考栅格中第二激光点相对其他参考栅格的密集程度,x2i为参考栅格地图中第i个栅格中第二激光点的点数,max_x2i为参考栅格地图的所有参考栅格中点数最多的参考栅格中第二激光点的数量。
步骤C3、基于各个参考栅格的第二栅格属性值与第二栅格状态值,确定目标托盘对应的第二检测结果。
可选地,目标托盘对应的第二检测结果是基于参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值与对应参考栅格的第二栅格状态值的加权和进行确定。
可选地,目标托盘对应的第二检测结果的计算如下:
其中,score2为目标托盘对应的第二检测结果,p2i为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中参考栅格的第二激光点数量,n为参考栅格的总数,Odd2i为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格地图中第i个参考栅格中第二激光点相对其他参考栅格的密集程度。
作为一种可选的但非限定性的实现方式,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,包括以下步骤D1-D2:
步骤D1、确定目标托盘对应第二激光点云,第二激光点云中包括多个第二激光点。
可选地,确定目标托盘对应第二激光点云,包括:在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后,且检测到准备按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时,确定目标托盘对应的第四激光点云,第四激光点云为在准备按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时采用激光雷达对准朝向目标托盘所在存放区域进行激光扫描得到的激光点云;基于第四激光点云中各个激光点的三维坐标,从第四激光点云中提取目标托盘对应的第二激光点云。
其中,第二激光点云为描述第二参考表面的激光点云,第二激光点为用于描述第二参考表面的第二激光点云中激光点,第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面。
可选地,确定目标托盘对应的第四激光点云包括:在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后,且检测到准备按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时,通过激光雷达对准朝向目标托盘所在存放区域对目标托盘进行激光扫描操作;对连续执行至少两次激光扫描操作得到的激光点云进行合并得到目标托盘对应的第四激光点云,不同次激光扫描操作在纵向位置上进行了偏移调整。
可选地,基于第四激光点云中各个激光点的三维坐标,从第四激光点云中提取目标托盘对应的第二激光点云,包括:从参考坐标系的原点开始沿着参考坐标系的横轴方向生成多条参考射线,多条参考射线用于将目标托盘所在存放区域的纵向范围进行等分;控制参考射线击中第四激光点云中的第四激光点时停止,获取击中的横轴坐标范围处的第四激光点;通过坡度滤波滤除射向远离参考侧托盘表面的第四激光点,得到剩余的第四激光点并确定为目标托盘支撑腿对应的第二激光点云;其中,参考坐标系以激光雷达的位置作为坐标原点,以对目标托盘进行托盘叉取方向为横轴方向,以对目标托盘进行叉取时激光雷达所属目标设备的左右方向为纵轴方向,以垂直向上的方向为竖轴方向。
步骤D2、依据多个第二激光点的三维坐标与参考栅格地图中各个栅格的位置范围将多个第二激光点向参考栅格地图中各个栅格进行投影,得到用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时落入参考栅格地图中各个栅格的第二激光点数量的第二栅格属性值。
S130、基于第一检测结果与第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取。
以在对托盘进行插孔边界识别时预先识别的比较准确的目标托盘前向表面点云对应的第一检测结果为基准,在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后或者按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取的过程中托盘位姿发生移动,那么每个栅格中的点云数量发生变化,此时可以计算目标托盘前向表面点云对应的第二检测结果与之前的第一检测结果进行比较,确定目标托盘的位姿是否发生较大偏移。如果目标托盘在不同时间点未出现位姿偏移,则继续按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取,如果托盘在不同时间点出现较大位姿偏移则停止按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取。
作为一种可选但非限定的实现方式,基于第一检测结果与第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取,包括步骤E1-E2:
步骤E1、基于第一检测结果与第二检测结果,确定目标托盘的托盘位姿状态,托盘位姿状态用于描述目标托盘在不同时间点是否出现位姿偏移。
步骤E2、基于目标托盘的托盘位姿状态,确定是否继续按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取。
可选地,基于第一检测结果与第二检测结果,确定目标托盘的托盘位姿状态,包括:若第一检测结果与第二检测结果存在差值,且两个检测结果的差值大于或等于预设差值阈值,则确定目标托盘的托盘位姿状态为目标托盘在不同时间点出现了位姿偏移。
可选地,基于第一检测结果与第二检测结果,确定目标托盘的托盘位姿状态,包括:若第一检测结果与第二检测结果不存在差值或者存在差值时两个检测结果的差值小于预设差值阈值,则确定目标托盘的托盘位姿状态为目标托盘在不同时间点未出现位姿偏移。
作为一种可选但非限定的实现方式,第一激光点云中各第一激光点的竖向高度与第二激光点云中各第二激光点的竖向高度在预设高度区间内,预设高度区间的下限值大于目标托盘所在存放区域的高度,预设高度区间的下限值小于目标托盘上表面的高度。在高度上截取激光点云中间部分0.2m厚度的部分激光点云,去除地面以及托盘上货物表面的影响。
本发明实施例,本方案以在对托盘进行插孔边界识别时预先识别的比较准确的托盘前向表面点云检测结果为基准,如果叉取过程中托盘位姿发生移动,那么托盘前向表面点云检测结果会发生变化,尤其当托盘前向表面点云检测结果的前后变化较大时认为托盘发生较大位姿偏移,能够自动检测托盘及其上货物是否有异常,如叉臂怼货情况造成托盘及其上货物位姿发生偏移、地面孔洞塌陷造成托盘状态异常等情形,有效避免定位不准确或者叉取精度不高或者其他情形导致托盘位姿偏移或者发生怼货的情况,增加了叉取托盘的安全性。
图3为本发明实施例所提供的一种托盘叉取装置的结构示意图,本发明实施例适用于在对托盘的插孔边界按照识别结果进行托盘叉取时对托盘位姿是否出现偏移进行检测以便正确叉取托盘的情况,该托盘叉取装置可以通过软件和/或硬件的形式进行实现,并一般集成在任何具有网络通信功能的电子设备上,该电子设备可以是移动终端、PC端或服务器等。
如图3所示,本发明实施例的托盘叉取装置可包括:第一确定模块310、第二确定模块320和叉取控制模块330。其中:
第一确定模块310,用于确定目标托盘对应的第一检测结果,所述第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,所述第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,所述第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
第二确定模块320,用于确定目标托盘对应的第二检测结果,所述第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,所述第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,所述第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
叉取控制模块330,用于基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,确定目标托盘对应的第一检测结果,包括:
确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,所述第一栅格属性值为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中参考栅格的第一激光点数量;
基于所述参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格状态值,所述第一栅格状态值用于衡量在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格中第一激光点相对其他参考栅格的密集程度;
基于各个参考栅格的第一栅格属性值与第一栅格状态值,确定目标托盘对应的第一检测结果。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,包括:
确定所述目标托盘对应第一激光点云,所述第一激光点云中包括多个第一激光点;
依据多个第一激光点的三维坐标与参考栅格地图中各个栅格的位置范围将多个第一激光点向参考栅格地图中各个栅格进行投影,得到用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中各个栅格的第一激光点数量的第一栅格属性值。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,确定所述目标托盘对应第一激光点云,包括:
在启动采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时,确定所述目标托盘对应的第三激光点云,所述第三激光点云为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时采用激光雷达对准朝向所述目标托盘所在存放区域进行激光扫描得到的激光点云;
基于所述第三激光点云中各个激光点的三维坐标,从所述第三激光点云中提取目标托盘对应的第一激光点云。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,确定目标托盘对应的第二检测结果,包括:
确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,所述第二栅格属性值为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时落入参考栅格地图中参考栅格的第二激光点数量;
基于所述参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格状态值,所述第二栅格状态值用于衡量在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时所述参考栅格中第二激光点相对其他参考栅格的密集程度;
基于各个参考栅格的第二栅格属性值与第二栅格状态值,确定目标托盘对应的第二检测结果。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,包括:
确定所述目标托盘对应第二激光点云,所述第二激光点云中包括多个第二激光点;
依据多个第二激光点的三维坐标与参考栅格地图中各个栅格的位置范围将多个第二激光点向参考栅格地图中各个栅格进行投影,得到用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时落入参考栅格地图中各个栅格的第二激光点数量的第二栅格属性值。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,确定所述目标托盘对应第二激光点云,包括:
在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后,且检测到准备按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时,确定所述目标托盘对应的第四激光点云,所述第四激光点云为在准备按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时采用激光雷达对准朝向目标托盘所在存放区域进行激光扫描得到的激光点云;
基于所述第四激光点云中各个激光点的三维坐标,从所述第四激光点云中提取目标托盘对应的第二激光点云。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,所述第一激光点云中各第一激光点的竖向高度与所述第二激光点云中各第二激光点的竖向高度在预设高度区间内,所述预设高度区间的下限值大于目标托盘所在存放区域的高度,所述预设高度区间的下限值小于目标托盘上表面的高度。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取,包括
基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定所述目标托盘的托盘位姿状态,所述托盘位姿状态用于描述目标托盘在不同时间点是否出现位姿偏移;
基于所述目标托盘的托盘位姿状态,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
在上述实施例的技术方案的基础上,可选地,基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定所述目标托盘的托盘位姿状态,包括:
若所述第一检测结果与所述第二检测结果存在差值,且两个检测结果的差值大于或等于预设差值阈值,则确定所述目标托盘的托盘位姿状态为目标托盘在不同时间点出现了位姿偏移;
若所述第一检测结果与所述第二检测结果不存在差值或者存在差值时两个检测结果的差值小于预设差值阈值,则确定所述目标托盘的托盘位姿状态为目标托盘在不同时间点未出现位姿偏移。
本发明实施例所提供的技术方案,以在对托盘进行插孔边界识别时预先识别的比较准确的托盘前向表面点云检测结果为基准,如果叉取过程中托盘位姿发生移动,那么托盘前向表面点云检测结果会发生变化,尤其当托盘前向表面点云检测结果的前后变化较大时认为托盘发生较大位姿偏移,能够自动检测托盘及其上货物是否有异常,如叉臂怼货情况造成托盘及其上货物位姿发生偏移、地面孔洞塌陷造成托盘状态异常等情形,有效避免定位不准确或者叉取精度不高或者其他情形导致托盘位姿偏移或者发生怼货的情况,增加了叉取托盘的安全性。
本发明实施例所提供的托盘叉取装置可执行本发明任意实施例所提供的托盘叉取方法,具备执行托盘叉取方法相应的功能模块和有益效果。
值得注意的是,上述装置所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的,但并不局限于上述的划分,只要能够实现相应的功能即可;另外,各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本发明实施例的保护范围。
图4为本发明实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。下面参考图4,其示出了适于用来实现本发明实施例的电子设备(例如图4中的终端设备或服务器)400的结构示意图。本发明实施例中的终端设备可以包括但不限于诸如移动电话、笔记本电脑、数字广播接收器、PDA(个人数字助理)、PAD(平板电脑)、PMP(便携式多媒体播放器)、车载终端(例如车载导航终端)等等的移动终端以及诸如数字TV、台式计算机等等的固定终端。图4示出的电子设备仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图4所示,电子设备400可以包括处理装置(例如中央处理器、图形处理器等)401,其可以根据存储在只读存储器(ROM)402中的程序或者从存储装置408加载到随机访问存储器(RAM)403中的程序而执行各种适当的动作和处理。在RAM 403中,还存储有电子设备400操作所需的各种程序和数据。处理装置401、ROM 402以及RAM 403通过总线404彼此相连。编辑/输出(I/O)接口405也连接至总线404。
通常,以下装置可以连接至I/O接口405:包括例如触摸屏、触摸板、键盘、鼠标、摄像头、麦克风、加速度计、陀螺仪等的输入装置406;包括例如液晶显示器(LCD)、扬声器、振动器等的输出装置407;包括例如磁带、硬盘等的存储装置408;以及通信装置409。通信装置409可以允许电子设备400与其他设备进行无线或有线通信以交换数据。虽然图4示出了具有各种装置的电子设备400,但是应理解的是,并不要求实施或具备所有示出的装置。可以替代地实施或具备更多或更少的装置。
特别地,根据本发明的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本发明的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在非暂态计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的托盘叉取方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信装置409从网络上被下载和安装,或者从存储装置408被安装,或者从ROM 402被安装。在该计算机程序被处理装置401执行时,执行本发明实施例的托盘叉取方法中限定的上述功能。
本发明实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的,而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。
本发明实施例提供的电子设备与上述实施例提供的托盘叉取方法属于同一发明构思,未在本实施例中详尽描述的技术细节可参见上述实施例,并且本实施例与上述实施例具有相同的有益效果。
本发明实施例提供了一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述实施例所提供的托盘叉取方法。
需要说明的是,本发明上述的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本发明中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本发明中,计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:电线、光缆、RF(射频)等等,或者上述的任意合适的组合。
在一些实施方式中,客户端、服务器可以利用诸如HTTP(HyperText TransferProtocol,超文本传输协议)之类的任何当前已知或未来研发的网络协议进行通信,并且可以与任意形式或介质的数字数据通信(例如,通信网络)互连。通信网络的示例包括局域网(“LAN”),广域网(“WAN”),网际网(例如,互联网)以及端对端网络(例如,ad hoc端对端网络),以及任何当前已知或未来研发的网络。
上述计算机可读介质可以是上述电子设备中所包含的;也可以是单独存在,而未装配入该电子设备中。
上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被该电子设备执行时,使得该电子设备:
上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序,当上述一个或者多个程序被该电子设备执行时,使得该电子设备:确定目标托盘对应的第一检测结果,所述第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,所述第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,所述第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;确定目标托盘对应的第二检测结果,所述第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,所述第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,所述第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明的操作的计算机程序代码,上述程序设计语言包括但不限于面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
附图中的流程图和框图,图示了按照本发明各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分,该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
描述于本发明实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现,也可以通过硬件的方式来实现。其中,单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定,例如,第一获取单元还可以被描述为“获取至少两个网际协议地址的单元”。
本文中以上描述的功能可以至少部分地由一个或多个硬件逻辑部件来执行。例如,非限制性地,可以使用的示范类型的硬件逻辑部件包括:现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、片上系统(SOC)、复杂可编程逻辑设备(CPLD)等等。
在本发明的上下文中,机器可读介质可以是有形的介质,其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备,或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
以上描述仅为本发明的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解,本发明中所涉及的公开范围,并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案,同时也应涵盖在不脱离上述公开构思的情况下,由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本发明中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
此外,虽然采用特定次序描绘了各操作,但是这不应当理解为要求这些操作以所示出的特定次序或以顺序次序执行来执行。在一定环境下,多任务和并行处理可能是有利的。同样地,虽然在上面论述中包含了若干具体实现细节,但是这些不应当被解释为对本发明的范围的限制。在单独的实施例的上下文中描述的某些特征还可以组合地实现在单个实施例中。相反地,在单个实施例的上下文中描述的各种特征也可以单独地或以任何合适的子组合的方式实现在多个实施例中。
尽管已经采用特定于结构特征和/或方法逻辑动作的语言描述了本主题,但是应当理解所附权利要求书中所限定的主题未必局限于上面描述的特定特征或动作。相反,上面所描述的特定特征和动作仅仅是实现权利要求书的示例形式。
Claims (10)
1.一种托盘叉取方法,其特征在于,所述方法包括:
确定目标托盘对应的第一检测结果,所述第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,所述第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,所述第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
确定目标托盘对应的第二检测结果,所述第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,所述第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,所述第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定目标托盘对应的第一检测结果,包括:
确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,所述第一栅格属性值为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中参考栅格的第一激光点数量;
基于所述参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格状态值,所述第一栅格状态值用于衡量在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时参考栅格中第一激光点相对其他参考栅格的密集程度;
基于各个参考栅格的第一栅格属性值与第一栅格状态值,确定目标托盘对应的第一检测结果。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第一栅格属性值,包括:
确定所述目标托盘对应第一激光点云,所述第一激光点云中包括多个第一激光点;
依据多个第一激光点的三维坐标与参考栅格地图中各个栅格的位置范围将多个第一激光点向参考栅格地图中各个栅格进行投影,得到用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时落入参考栅格地图中各个栅格的第一激光点数量的第一栅格属性值。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,确定目标托盘对应的第二检测结果,包括:
确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,所述第二栅格属性值为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时落入参考栅格地图中参考栅格的第二激光点数量;
基于所述参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格状态值,所述第二栅格状态值用于衡量在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时所述参考栅格中第二激光点相对其他参考栅格的密集程度;
基于各个参考栅格的第二栅格属性值与第二栅格状态值,确定目标托盘对应的第二检测结果。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,确定目标托盘所采用参考栅格地图中各个参考栅格的第二栅格属性值,包括:
确定所述目标托盘对应第二激光点云,所述第二激光点云中包括多个第二激光点;
依据多个第二激光点的三维坐标与参考栅格地图中各个栅格的位置范围将多个第二激光点向参考栅格地图中各个栅格进行投影,得到用于描述在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时落入参考栅格地图中各个栅格的第二激光点数量的第二栅格属性值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一激光点云中各第一激光点的竖向高度与所述第二激光点云中各第二激光点的竖向高度在预设高度区间内,所述预设高度区间的下限值大于目标托盘所在存放区域的高度,所述预设高度区间的下限值小于目标托盘上表面的高度。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取,包括
基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定所述目标托盘的托盘位姿状态,所述托盘位姿状态用于描述目标托盘在不同时间点是否出现位姿偏移;
基于所述目标托盘的托盘位姿状态,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定所述目标托盘的托盘位姿状态,包括:
若所述第一检测结果与所述第二检测结果存在差值,且两个检测结果的差值大于或等于预设差值阈值,则确定所述目标托盘的托盘位姿状态为目标托盘在不同时间点出现了位姿偏移;
若所述第一检测结果与所述第二检测结果不存在差值或者存在差值时两个检测结果的差值小于预设差值阈值,则确定所述目标托盘的托盘位姿状态为目标托盘在不同时间点未出现位姿偏移。
9.一种托盘叉取装置,其特征在于,所述装置包括:
第一确定模块,用于确定目标托盘对应的第一检测结果,所述第一检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第一激光点数量进行确定,所述第一激光点为用于描述第一参考表面的第一激光点云中激光点,所述第一参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
第二确定模块,用于确定目标托盘对应的第二检测结果,所述第二检测结果基于落入参考栅格地图中各个参考栅格的第二激光点数量进行确定,所述第二激光点为用于描述第一参考表面的第二激光点云中激光点,所述第二参考表面为在采用激光雷达对目标托盘进行插孔边界识别之后按照插孔边界识别结果对目标托盘进行叉取时靠近激光雷达一侧的目标托盘的表面;
叉取控制模块,用于基于所述第一检测结果与所述第二检测结果,确定是否继续按照插孔边界识别结果对所述目标托盘进行叉取。
10.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序,
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-8中任一所述的托盘叉取方法。
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Legal Events
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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