CN117427919B - 一种金属检测方法、通道式金属检测设备及系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种金属检测方法，仅当获取的第一触发信号和第二触发信号同时为逻辑高电平状态时，获取的排斥控制信号才会控制排斥机构产生排斥动作，以剔除含有金属异物的被测物料，并且此时被测物料完全从检测通道中通过，能够保证排斥机构完成对含有金属异物的被测物料的排斥动作，有效的防止了由于排斥机构产生排斥动作时被测物料未完全从检测通道中通过导致无法完成对被测物料排斥的情况出现。本申请还提供一种通道式金属检测设备及系统，应用该金属检测方法进行金属检测。

Description

一种金属检测方法、通道式金属检测设备及系统

技术领域

本申请涉及物料传送检测技术领域，尤其是涉及一种金属检测方法、通道式金属检测设备及系统。

背景技术

金属探测仪能够对含有金属的物料进行精准检测，从而将含有金属的物料挑选出来。在常用的金属探测仪中，通道式金属探测仪是一种一体式的金属探测仪器，其配有传送带机构，能够自动对传送带上的物料进行金属检测，当物料中含有金属时，通道式金属探测仪进行报警，并自动将含有金属的物料剔除。

在实际应用中，采用通道式金属探测仪进行金属异物检测时，通常会碰到检测长物品的需求，而由于被测物料的长度过长，会导致被检测物料还没有传送出金属检测通道，排斥机构已经产生了对被测物料的排斥动作，使得排斥机构无法完成对被测物料的排斥，从而影响了仪器的正常工作，降低了其工作效率。

发明内容

本申请的目的在于提供一种金属检测方法、通道式金属检测设备及系统，能够准确的对含有金属异物的被测物料进行排斥，并且对于超长的被测物料同样能够准确的完成排斥动作，解决了现有技术中，超长的被测物料无法完全排斥的技术问题。

为达到上述目的及其他相关目的，本申请提供一种金属检测方法，包括：

获取检测信号，所述检测信号包括按照时间顺序依次获取的第一检测信号和第二检测信号，所述第一检测信号为被测物料的金属检测信息，所述第二检测信号为所述被测物料的位置信息；

根据所述第一检测信号获取第一触发信号，当在检测通道中检测到所述被测物料中的金属异物时，所述第一触发信号为逻辑高电平状态；

根据所述第二检测信号获取第二触发信号，当所述被测物料完全通过所述检测通道时，所述第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态；

对所述第一触发信号和所述第二触发信号进行处理，以生成排斥控制触发信号；

根据所述排斥控制触发信号，获取排斥控制信号并控制排斥机构对含有金属异物的所述被测物料进行剔除。

可选地，通过金属探测器获取所述第一检测信号；通过光电探测器生成所述第二检测信号。

可选地，获取第一触发信号，包括以下步骤：

获取所述第一检测信号的反相信号，并记为第一反相信号；

根据所述第一反相信号，获取所述第一触发信号，其中，当所述第一反相信号为第一跳变信号的反相信号时，所述第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，所述第一跳变信号为所述第一检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态的跳变信号；

自所述第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态之后，保持所述第一触发信号为逻辑高电平状态并将持续时间记为第二时长t2。

可选地，当所述第二检测信号为第三跳变信号时，所述第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，所述第三跳变信号为所述第二检测信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态的跳变信号。

可选地，对于同一被测物料，将所述第一检测信号为第一跳变信号的时刻与所述第二触发信号为第四跳变信号的时刻之间的时间间隔记为第三时长t3，所述第二时长t2大于或等于第三时长t3，其中，所述第四跳变信号为所述第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态的跳变信号。

可选地，生成排斥控制触发信号，包括以下步骤：

对所述第一触发信号和所述第二触发信号进行逻辑运算处理，以获取前端触发信号，其中，当所述第一触发信号和所述第二触发信号均为逻辑高电平状态时，所述前端触发信号为逻辑低电平状态，当所述第一触发信号和所述第二触发信号中至少一个为逻辑低电平状态时，所述前端触发信号为逻辑高电平状态；

根据所述前端触发信号，生成所述排斥控制触发信号，所述排斥控制触发信号为所述前端触发信号的反相信号。

本申请还提供一种通道式金属检测设备，用于执行前述实施方式所述的任一种金属检测方法进行金属检测，包括：

检测模块，包括第一检测单元和第二检测单元，所述第一检测单元用于检测被测物料中金属异物并生成第一检测信号，所述第二检测单元用于检测所述被测物料的位置信息并生成第二检测信号；

触发信号获取模块，用于自所述检测模块获取所述第一检测信号和所述第二检测信号，并根据所述第一检测信号生成第一触发信号，根据所述第二检测信号生成第二触发信号；

排斥控制触发信号获取模块，用于自所述触发信号获取模块获取所述第一触发信号和所述第二触发信号，并根据所述第一触发信号和所述第二触发信号生成排斥控制触发信号；

排斥控制信号获取模块，用于自所述排斥控制触发信号获取模块获取所述排斥控制触发信号，以生成排斥控制信号，所述排斥控制信号用于控制剔除含有金属异物的被测物料。

可选地，所述触发信号获取模块包括：

第一逻辑单元，用于自所述检测模块获取所述第一检测信号，并根据所述第一检测信号生成第一反相信号；

第一触发信号获取单元，用于自所述第一逻辑单元获取所述第一反相信号，并根据所述第一反相信号生成所述第一触发信号；

第二触发信号获取单元，用于自所述检测模块获取所述第二检测信号，并根据所述第二检测信号生成所述第二触发信号。

可选地，所述排斥控制触发信号获取模块包括：

第二逻辑单元，用于自所述触发信号获取模块获取所述第一触发信号和所述第二触发信号，并根据所述第一触发信号和所述第二触发信号生成前端触发信号；

第三逻辑单元，用于自所述第二逻辑单元获取所述前端触发信号，并根据所述前端触发信号生成排斥控制触发信号。

可选地，所述排斥控制信号获取模块包括排斥启动控制单元和排斥停止控制单元，所述排斥启动控制单元用于获取所述排斥控制信号中的排斥启动信号，所述排斥停止控制单元用于获取所述排斥控制信号中的排斥停止信号。

本申请还提供一种通道式金属检测系统，包括用于输送被测物料的传送机构、用于对所述被测物料进行检测的检测机构以及用于剔除含有金属异物的所述被测物料的排斥机构，所述检测机构包括如前述实施方式所述的任一种通道式金属检测设备以及用于安装所述通道式金属检测设备的检测通道。

本申请提供的一种金属检测方法、通道式金属检测设备及系统，至少具有以下有益效果：

本申请的金属检测方法，只有在获取的第一触发信号和第二触发信号同时为逻辑高电平状态时，才会产生排斥控制信号以使排斥机构产生排斥动作，能够准确的剔除含有金属异物的被测物料，并且此时被测物料完全从检测通道中通过，因此，该金属检测方法能够准确的完成对各种尺寸的含有金属异物的被测物料的排斥动作，有效的防止了由于排斥机构产生排斥动作时被测物料未完全从检测通道中通过导致无法完成对被测物料的排斥的情况出现；并且本实施例的金属检测方法能够有效的防止由于干扰信号的影响，使得通道式金属检测系统发生误报警，或者使得排斥机构产生误排斥动作而将未含有金属异物的被测物料排斥，提高了其工作稳定性和准确性。

本申请提供的通道式金属检测设备应用前述实施方式所述的任一种金属检测方法进行金属异物检测，本申请提供的通道式金属检测系统包括前述实施方式所述的任一种通道式金属检测设备，因此同样具有上述有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1显示为本申请实施例一提供的金属检测方法的流程示意图。

图2显示为本申请实施例一提供的金属检测方法中获取第一触发信号的流程示意图。

图3显示为本申请实施例二提供的通道式金属检测设备的结构示意图。

图4显示为本申请实施例二提供的通道式金属检测设备中检测模块的结构示意图。

图5显示为图4所示的检测模块中第二检测单元的电路结构示意图。

图6显示为本申请实施例二提供的通道式金属检测设备中触发信号获取模块的电路结构示意图。

图7显示为本申请实施例二提供的通道式金属检测设备中排斥控制触发信号获取模块的电路结构示意图。

图8显示为本申请实施例二提供的通道式金属检测设备中排斥控制信号获取模块的电路结构示意图。

图9显示为本申请实施例三提供的通道式金属检测系统的结构示意图。

图10显示为图9所示的通道式金属检测系统中排斥控制模块的电路结构示意图。

图中：3、检测机构；4、排斥机构；31、检测模块；32、触发信号获取模块；33、排斥控制触发信号获取模块；34、排斥控制信号获取模块；41、排斥控制模块；42、排斥动作模块；311、第一检测单元；312、第二检测单元；321、第一逻辑单元；322、第一触发信号获取单元；323、第二触发信号获取单元；331、第二逻辑单元；332、第三逻辑单元；341、排斥启动控制单元；342、排斥停止控制单元；3101、检测模块第一输出端；3102、检测模块第二输出端；3201、触发信号获取模块第一输入端；3202、触发信号获取模块第二输入端；3203、触发信号获取模块第一输出端；3204、触发信号获取模块第二输出端；3301、排斥控制触发信号获取模块第一输入端；3302、排斥控制触发信号获取模块第二输入端；3303、排斥控制触发信号获取模块输出端；3401、排斥控制信号获取模块输入端；3402、排斥控制信号获取模块第一输出端；3403、排斥控制信号获取模块第二输出端；4101、排斥控制模块第一输入端；4102、排斥控制模块第二输入端；4103、排斥控制模块输出端。

具体实施方式

为使本申请实施例的技术目的、技术方案和技术效果更加清楚，下面将结合附图对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。本申请还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本申请中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本申请的精神下进行各种修改、改变或组合。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

实施例一

本实施例提供一种金属检测方法，适用于通道式金属检测设备，能够准确排斥各种尺寸的含有金属异物的被测物料，参照图1，该金属检测方法包括步骤S1至步骤S5，其中：

步骤S1：获取检测信号；

检测信号包括第一检测信号和第二检测信号，按照时间顺序分别先后获取第一检测信号和第二检测信号，第一检测信号为被测物料的金属检测信息，第二检测信号为被测物料的位置信息。其中，第一检测信号和第二检测信号均包括逻辑低电平信号、逻辑高电平信号、从逻辑低电平到逻辑高电平的跳变信号、以及从逻辑高电平到逻辑低电平的跳变信号。

通过对被测物料进行金属检测以获取第一检测信号；可选地，通过金属探测器获取第一检测信号。其中，当未有被测物料经过通道式金属检测设备中的检测通道，或者经过检测通道的被测物料中未含有金属异物时，第一检测信号始终保持逻辑低电平状态，当检测到进入检测通道中的被测物料具有金属异物时，第一检测信号从逻辑低电平状态跳变至逻辑高电平状态，当位于检测通道中具有金属异物的被测物料中的金属异物无法被检测到时，第一检测信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态。在本实施例中，将第一检测信号从到逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态的跳变信号记为第一跳变信号，将第一检测信号从逻辑高电平状态到逻辑低电平状态的跳变信号记为第二跳变信号。

通过对被测物料进行位置检测以判断被测物料是否通过检测通道，从而获取第二检测信号；可选地，通过光电探测器获取第二检测信号。其中，光电探测器设置在检测通道的出口处，当检测通道的出口未有被测物料经过时，第二检测信号保持逻辑低电平状态，当被测物料经过设置于检测通道出口的光电探测器时，第二检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，当被测物料完全通过设置于检测通道出口的光电探测器时，第二检测信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态。在本实施例中，将第二检测信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态的跳变信号记为第三跳变信号。

步骤S2：获取第一触发信号；

根据获取的第一检测信号和第二检测信号，分别获取第一触发信号和第二触发信号。其中，当检测到位于检测通道中的被测物料具有金属异物时，第一触发信号为逻辑高电平状态，当未有被测物料通过检测通道或被测物料经过设置于检测通道出口的光电探测器时，第二触发信号为逻辑低电平状态，当被测物料完全通过设置于检测通道出口的光电探测器时，第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态。

在本实施例中，参照图2，获取第一触发信号包括以下步骤：

S21：获取第一反相信号；

对第一检测信号进行逻辑运算，以获取第一检测信号的反相信号，并记为第一反相信号。

S22：根据第一反相信号获取第一触发信号；

在本实施例中，常规状态时，第一触发信号保持逻辑低电平状态，当第一检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态时，第一反相信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态，此时，在第一反相信号的激励下，第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态。

S23：保持第一触发信号为逻辑高电平状态。

自第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态之后，维持第一触发信号预设时间的逻辑高电平状态，并将第一触发信号维持逻辑高电平状态的时间记为第二时长t2，自第一触发信号维持第二时长t2时间的逻辑高电平状态之后，第一触发信号自逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态。

S3：获取第二触发信号；

根据第二检测信号，获取第二触发信号。具体地，常规状态时，第二触发信号保持逻辑低电平状态，当第二检测信号为第三跳变信号时，第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态。对于同一被测物料，将第一检测信号为第一跳变信号的时刻与第二触发信号为第四跳变信号的时刻，之间的时间间隔记为第三时长t3，第四跳变信号为第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态的跳变信号，第三时长t3表示自检测到进入检测通道的被测物料具有金属异物，至被测物料完全通过设置于检测通道出口的光电探测器时的时间间隔。优选地，第二时长t2大于或等于第三时长t3，通过使第二时长t2大于或等于第三时长t3，能够保证当被测物料完全通过检测通道后，排斥机构才会产生排斥动作以剔除具有金属异物的被测物料。

步骤S4：获取排斥控制触发信号；

对第一触发信号和第二触发信号进行处理，以获取排斥控制触发信号。在本实施例中，获取排斥控制触发信号包括以下步骤：

对第一触发信号和第二触发信号进行逻辑运算处理，以获取前端触发信号。其中，当在同一时刻，第一触发信号和第二触发信号均为逻辑高电平状态时，前端触发信号为逻辑低电平状态，当在同一时刻，第一触发信号和第二触发信号中的至少一个为逻辑低电平状态时，即第一触发信号、或第二触发信号、或第一触发信号和第二触发信号为逻辑低电平状态时，前端触发信号为逻辑高电平状态。

对前端触发信号进行逻辑运算处理，以获取排斥控制触发信号。具体地，当前端触发信号为逻辑高电平状态时，排斥控制信号为逻辑低电平状态，当前端触发信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态时，排斥控制信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，当前端触发信号保持为逻辑低电平状态时，排斥控制触发信号保持逻辑高电平状态。

步骤S5：获取排斥控制信号并剔除含有金属异物的被测物料。

根据排斥控制触发信号获取排斥控制信号，当排斥控制触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态时，生成的排斥控制信号能够控制排斥机构对含有金属异物的被测物料进行排斥。

在本实施例中，当未有被测物料通过检测通道时，或通过检测通道的被测物料未含有金属异物时，获取的第一检测信号为逻辑低电平状态，使得获取的排斥控制触发信号为逻辑低电平状态，从而不会产生排斥控制信号以使排斥机构产生排斥动作；当检测到进入检测通道的被测物料具有金属异物时，获取的第一检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，使得获取的第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，当被测物料完全通过设置于检测通道出口的光电探测器时，使得获取的第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，当第一触发信号和第二触发信号均为逻辑高电平状态时，获取的排斥控制触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，从而获取排斥控制信号以对含有金属异物的被测物料进行剔除。

并且，本实施例中的金属检测方法中，通过使第二时长t2大于或等于第三时长t3，能够保证当被测物料完全通过检测通道出口，第二触发信号为逻辑高电平状态时，第一触发信号同样为逻辑高电平状态，使得排斥控制触发信号为逻辑高电平状态，排斥机构产生排斥动作以准确的剔除含有金属异物的被测物料。当通道式金属检测设备中具有干扰信号时，导致第一检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，使得获取的第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，同时又由于第二检测信号并未受干扰信号影响，获取的第二触发信号保持逻辑低电平状态，使得获取的排斥控制触发信号保持逻辑低电平状态，从而不会产生排斥控制信号以使排斥机构产生排斥动作。

本实施例提出的金属检测方法，当被测物料中含有金属异物时，获取的第一触发信号和第二触发信号同时为逻辑高电平状态，此时会产生排斥控制信号以使排斥机构产生排斥动作，能够准确的剔除含有金属异物的被测物料，并且此时被测物料完全从检测通道中通过，因此，该金属检测方法能够准确、快速的完成对各种尺寸的含有金属异物的被测物料的排斥动作，有效的防止了由于被测物料未完全从检测通道中通过而排斥机构已经产生排斥动作导致无法完成对被测物料的排斥；并且本实施例的金属检测方法能够有效的防止由于干扰信号的影响，使得通道式金属检测系统发生误报警，或者使得排斥机构产生误排斥动作将未含有金属异物的被测物料排斥，提高了其工作稳定性和准确性。

实施例二

本实施例提供一种通道式金属检测设备，应用实施例一中的任一种金属检测方法进行金属检测，参照图3，本实施例提出的通道式金属检测设备包括检测模块31、触发信号获取模块32、排斥控制触发信号获取模块33和排斥控制信号获取模块34。

检测模块31用于生成检测信号，检测信号包括第一检测信号和第二检测信号，参照图4，检测模块31包括第一检测单元311、第二检测单元312、检测模块第一输出端3101和检测模块第二输出端3102，第一检测单元311用于生成第一检测信号，第二检测单元312用于生成第二检测信号，第一检测单元311的输出端作为检测模块第一输出端3101，第二检测单元312的输出端作为检测模块第二输出端3102。

在可选实施例中，第一检测单元311包括金属探测器，能够对检测通道中通过的被测物料进行金属检测以生成第一检测信号。具体地，当检测通道中未有被测物料通过或通过的被测物料中未含有金属异物时，第一检测单元311生成的第一检测信号保持逻辑低电平状态，当检测到通过检测通道的被测物料中具有金属异物时，第一检测单元311生成的第一检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态；参照图5，第二检测单元312包括光电探测器J2，并设置在检测通道的出口处，光电探测器J2的VCC脚与电源VDD连接，GND脚为接地脚，并与数字地DGND连接，第二检测单元312能够对通过检测通道出口处的被测物料进出检测，以生成第二检测信号，当未有被测物料经过设置于检测通道出口处的光电探测器J2时，生成的第二检测信号保持逻辑低电平状态，当被测物料经过设置于检测通道出口的光电探测器J2时，生成的第二检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，当被测物料完全通过设置于检测通道出口的光电探测器J2时，第二检测信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态。

触发信号获取模块32用于自检测模块31获取检测信号之后，生成第一触发信号和第二触发信号，触发信号获取模块32中设置有触发信号获取模块第一输入端3201、触发信号获取模块第二输入端3202、触发信号获取模块第一输出端3203和触发信号获取模块第二输出端3204。

在本实施例中，参照图6，触发信号获取模块32包括第一逻辑单元321、第一触发信号获取单元322和第二触发信号获取单元323。第一逻辑单元321用于自检测模块31获取检测信号之后，生成第一反相信号，第一反相信号为第一检测信号的反相信号；第一逻辑单元321的输入端作为触发信号获取模块第一输入端3201，并与检测模块第一输出端3101电连接，能够接收检测模块31输出的第一检测信号。第一触发信号获取单元322用于自第一逻辑单元321获取第一反相信号之后，生成第一触发信号；第一触发信号获取单元322的输入端与第一逻辑单元321的输出端电连接，能够接收来自第一逻辑单元321的第一反相信号，根据第一反相信号，第一触发信号获取单元322生成第一触发信号，第一触发信号获取单元322的输出端作为触发信号获取模块第一输出端3203以输出第一触发信号。第二触发信号获取单元323用于自检测模块31获取第二检测信号之后，生成第二触发信号；第二触发信号获取单元323的输入端作为触发信号获取模块第二输入端3202，并与检测模块第二输出端3102电连接，以接收获取的第二检测信号，根据第二检测信号，第二触发信号获取单元323生成第二触发信号，第二触发信号获取单元323的输出端作为触发信号获取模块第二输出端3204以输出第二触发信号。

在可选实施例中，参照图6，第一逻辑单元321的电路结构包括集成芯片U6A以及集成芯片U6A的外接电路，可选地，集成芯片U6A为CD4011芯片。第一触发信号获取单元322的电路结构包括集成芯片U4以及集成芯片U4的外接电路，集成芯片U4的输入信号为接收到的第一反相信号，输出信号作为第一触发信号；可选地，集成芯片U4为NE555芯片；优选地，集成芯片U4的外接电路包括电容C4，电容C4设置在集成芯片U4的输入端与第一逻辑单元321的输出端之间，电容C4能够有效的防止电路中产生的直流干扰，并接收来自第一逻辑单元321的第一反相信号中的跳变信号作为集成芯片U4的激发信号，集成芯片U4的输出信号在常规状态下保持逻辑低电平状态，当接收的第一反相信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态时，集成芯片U4在第一反相信号的作用下，其输出信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，并保持第二时长t2时间的逻辑高电平状态，之后恢复逻辑低电平状态，并且第二时长t2可以根据实际需要调节。与第一触发信号获取单元322类似，第二触发信号获取单元323同样包括集成芯片U5以及集成芯片U5的外接电路，集成芯片U5的外接电路包括电容C8，电容C8设置在集成芯片U5的输入端与触发信号获取模块第二输入端3202之间；可选地，第二触发信号获取单元323的结构与第一触发信号获取单元322相同。

参照图7，排斥控制触发信号获取模块33，用于自触发信号获取模块32获取第一触发信号和第二触发信号之后，生成排斥控制触发信号，排斥控制触发信号获取模块33中设置有排斥控制触发信号获取模块第一输入端3301、排斥控制触发信号获取模块第二输入端3302和排斥控制触发信号获取模块输出端3303，排斥控制触发信号获取模块第一输入端3301用于接收生成的第一触发信号并与触发信号获取模块第一输出端3203电连接，排斥控制触发信号获取模块第二输入端3302用于接收获取的第二触发信号并与触发信号获取模块第二输出端3204电连接。

在本实施例中，排斥控制触发信号获取模块33包括第二逻辑单元331和第三逻辑单元332。第二逻辑单元331用于自触发信号获取模块32获取第一触发信号和第二触发信号之后，获取前端触发信号，第二逻辑单元331具有两个输入端，并分别作为排斥控制触发信号获取模块第一输入端3301和排斥控制触发信号获取模块第二输入端3302。第三逻辑单元332用于自第二逻辑单元331获取前端触发信号之后，生成排斥控制触发信号，第三逻辑单元332的输入端与第二逻辑单元331的输出端电连接，第三逻辑单元332的输出端作为排斥控制触发信号获取模块输出端3303使用。

在可选实施例中，第二逻辑单元331的电路结构包括集成芯片U6B，第三逻辑单元332的电路结构包括集成芯片U6C，排斥控制触发信号获取模块第一输入端3301和排斥控制触发信号获取模块第二输入端3302为集成芯片U6B的两个输入端提供输入信号，集成芯片U6B的输出端为集成芯片U6C提供输入信号并与集成芯片U6C的两个输入端电连接，集成芯片U6C的输出端作为排斥控制触发信号获取模块输出端3303。可选地，集成芯片U6B和集成芯片U6C均为CD4011芯片。

参照图8，排斥控制信号获取模块34，用于自排斥控制触发信号获取模块33获取排斥控制触发信号之后，生成排斥控制信号，根据获取的排斥控制信号，排斥机构对含有金属异物的被测物料进行剔除。其中，排斥控制信号获取模块34中设置有排斥控制信号获取模块输入端3401、排斥控制信号获取模块第一输出端3402和排斥控制信号获取模块第二输出端3403。

在本实施例中，排斥控制信号获取模块34包括排斥启动控制单元341和排斥停止控制单元342，排斥控制信号包括排斥启动信号和排斥停止信号，排斥控制信号获取模块输入端3401与排斥控制触发信号获取模块输出端3303电连接，以为排斥启动控制单元341和排斥停止控制单元342提供输入信号，根据排斥控制信号获取模块输入端3401接收的排斥控制信号，排斥启动控制单元341产生排斥启动信号并经排斥控制信号获取模块第一输出端3402输出，排斥停止控制单元342产生排斥停止信号并经排斥控制信号获取模块第二输出端3403输出。

在可选实施例中，排斥启动控制单元341的电路结构包括集成芯片U1以及集成芯片U1的外接电路，排斥控制信号获取模块输入端3401接收的排斥控制信号即为集成芯片U1的输入信号，根据接收的排斥控制信号，集成芯片U1产生排斥启动信号，以控制排斥机构在一定的时间后开始；与排斥启动控制单元341类似，排斥停止控制单元342的电路结构同样包括集成芯片U2以及集成芯片U2的外接电路，排斥控制信号获取模块输入端3401接收的排斥控制信号即为集成芯片U2的输入信号，根据接收的排斥控制信号，集成芯片U2产生排斥停止信号，以控制排斥在一定的时间后停止工作。可选地，集成芯片U1和集成芯片U2均为CD4047芯片。

本实施例提供的通道式金属检测设备，应用实施例一所述的任一种金属检测方法对被测物料进行金属检测，因此同样具有实施例一的有益效果，本实施例中的通道式金属检测设备，通过金属探测器获取被测物料的金属检测信息并生成第一检测信号，根据第一检测信号生成第一触发信号，通过光电探测器获取被测物料的位置信息并生成第二检测信号，通过特定的电路结构以获取第二触发信号，通过第一触发信号和第二触发信号配合产生排斥控制信号，能够准确的完成对具有金属异物的被测物料的排斥。

实施例三

本实施例提供一种通道式金属检测系统，该通道式金属检测系统包括用于输送被测物料的传送机构、用于对被测物料进行检测的检测机构3、以及用于剔除含有金属异物的被测物料的排斥机构4，检测机构3包括实施例二中所述的任一种通道式金属检测设备。

参照图9，本实施例的通道式金属检测系统中，检测机构3包括通道式金属检测设备和用于安装该通道式金属检测设备的检测通道（未示出），使用时，被测物料通过传送机构（未示出）进行传送，当被测物料输送至检测机构3中的检测通道时，通道式金属检测设备对被测物料进行检测，以获取排斥控制信号，当被测物料中含有金属异物时，排斥机构4根据排斥控制信号对含有金属异物的被测物料进行剔除。

参照图9~图10，本实施例的通道式金属检测系统中，排斥机构4包括排斥控制模块41和排斥动作模块42，排斥控制模块41用于获取排斥控制信号获取模块34产生的排斥控制信号并生成排斥动作信号，排斥动作模块42可以根据排斥动作信号进行对含有金属异物的被测物料的排斥动作。排斥控制模块41包括排斥控制模块第一输入端4101、排斥控制模块第二输入端4102、排斥控制模块输出端4103、集成芯片U3A以及集成芯片U3A的外接电路，排斥控制模块第一输入端4101用于接收排斥启动控制信号并与检测机构中的排斥控制信号获取模块第一输出端3402电连接，排斥控制模块第二输入端4102用于接收排斥停止控制信号并与检测机构中的排斥控制信号获取模块第二输出端3403电连接，根据获取的排斥启动控制信号和排斥停止控制信号，排斥控制模块41生成排斥动作信号并经排斥控制模块输出端4103输出。集成芯片U3A中设置有两个输入端，分别与排斥控制模块第一输入端4101和排斥控制模块第二输入端4102电连接，可选地，集成芯片U3A为CD4014芯片，集成芯片U3A经电阻R3与晶体管Q1连接，晶体管Q1的发射极经反接二极管D1接地，晶体管Q1的发射极与排斥控制模块输出端4103连接，以输出排斥动作信号。

本实施例提供的通道式金属检测系统包括实施例二中所述的任一种通道式金属检测设备，因此同样具有实施例二的有益效果。

上述实施例仅例示性说明本申请的原理及其功效，而非用于限制本申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰、改变或组合。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本申请的权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种金属检测方法，其特征在于，包括：

获取检测信号，所述检测信号包括按照时间顺序依次获取的第一检测信号和第二检测信号，所述第一检测信号为被测物料的金属检测信息，所述第二检测信号为所述被测物料的位置信息；

根据所述第一检测信号获取第一触发信号，当在检测通道中检测到所述被测物料中的金属异物时，所述第一触发信号为逻辑高电平状态；

根据所述第二检测信号获取第二触发信号，当所述被测物料完全通过所述检测通道时，所述第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态；

对所述第一触发信号和所述第二触发信号进行逻辑运算处理，以获取前端触发信号，并根据所述前端触发信号生成排斥控制触发信号，其中，所述排斥控制触发信号为所述前端触发信号的反相信号，当所述第一触发信号和所述第二触发信号均为逻辑高电平状态时，所述前端触发信号为逻辑低电平状态，当所述第一触发信号和所述第二触发信号中至少一个为逻辑低电平状态时，所述前端触发信号为逻辑高电平状态；

根据所述排斥控制触发信号，获取排斥控制信号并控制排斥机构对含有金属异物的所述被测物料进行剔除。

2.根据权利要求1所述的金属检测方法，其特征在于，通过金属探测器获取所述第一检测信号；通过光电探测器生成所述第二检测信号。

3.根据权利要求1所述的金属检测方法，其特征在于，获取第一触发信号，包括以下步骤：

获取所述第一检测信号的反相信号，并记为第一反相信号；

根据所述第一反相信号，获取所述第一触发信号，其中，当所述第一反相信号为第一跳变信号的反相信号时，所述第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，所述第一跳变信号为所述第一检测信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态的跳变信号；

自所述第一触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态之后，保持所述第一触发信号为逻辑高电平状态并将持续时间记为第二时长t2。

4.根据权利要求3所述的金属检测方法，其特征在于，当所述第二检测信号为第三跳变信号时，所述第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态，所述第三跳变信号为所述第二检测信号从逻辑高电平状态跳变为逻辑低电平状态的跳变信号。

5.根据权利要求4所述的金属检测方法，其特征在于，对于同一被测物料，将所述第一检测信号为第一跳变信号的时刻与所述第二触发信号为第四跳变信号的时刻之间的时间间隔记为第三时长t3，所述第二时长t2大于或等于第三时长t3，其中，所述第四跳变信号为所述第二触发信号从逻辑低电平状态跳变为逻辑高电平状态的跳变信号。

6.一种通道式金属检测设备，用于执行如权利要求1至5中任一项所述的金属检测方法，其特征在于，包括：

检测模块，包括第一检测单元和第二检测单元，所述第一检测单元用于检测被测物料中的金属异物并生成第一检测信号，所述第二检测单元用于检测所述被测物料的位置信息并生成第二检测信号；

触发信号获取模块，用于自所述检测模块获取所述第一检测信号和所述第二检测信号，并根据所述第一检测信号生成第一触发信号，根据所述第二检测信号生成第二触发信号；

排斥控制触发信号获取模块，用于自所述触发信号获取模块获取所述第一触发信号和所述第二触发信号，并根据所述第一触发信号和所述第二触发信号生成排斥控制触发信号；

排斥控制信号获取模块，用于自所述排斥控制触发信号获取模块获取所述排斥控制触发信号，以生成排斥控制信号，所述排斥控制信号用于控制剔除含有金属异物的被测物料。

7.根据权利要求6所述的通道式金属检测设备，其特征在于，所述触发信号获取模块包括：

第一逻辑单元，用于自所述检测模块获取所述第一检测信号，并根据所述第一检测信号生成第一反相信号；

第一触发信号获取单元，用于自所述第一逻辑单元获取所述第一反相信号，并根据所述第一反相信号生成所述第一触发信号；

第二触发信号获取单元，用于自所述检测模块获取所述第二检测信号，并根据所述第二检测信号生成所述第二触发信号。

8.根据权利要求6所述的通道式金属检测设备，其特征在于，所述排斥控制触发信号获取模块包括：

第二逻辑单元，用于自所述触发信号获取模块获取所述第一触发信号和所述第二触发信号，并根据所述第一触发信号和所述第二触发信号生成前端触发信号；

第三逻辑单元，用于自所述第二逻辑单元获取所述前端触发信号，并根据所述前端触发信号生成排斥控制触发信号。

9.根据权利要求6所述的通道式金属检测设备，其特征在于，所述排斥控制信号获取模块包括排斥启动控制单元和排斥停止控制单元，所述排斥启动控制单元用于获取所述排斥控制信号中的排斥启动信号，所述排斥停止控制单元用于获取所述排斥控制信号中的排斥停止信号。

10.一种通道式金属检测系统，其特征在于，包括用于输送被测物料的传送机构、用于对所述被测物料进行检测的检测机构以及用于剔除含有金属异物的所述被测物料的排斥机构，所述检测机构包括如权利要求6至9中任一项所述的通道式金属检测设备以及用于安装所述通道式金属检测设备的检测通道。