CN117396772A - 超小型发光二极管的点亮测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及超小型发光二极管的点亮测试装置。本发明的超小型发光二极管的点亮测试装置，包括：面接触探针，其通过电阻率部件与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的发光二极管组件的前面面接触，从而使多个超小型发光二极管的两端电极互相接触；探针电极，其在所述面接触探针的一侧和另一侧进行线接触并提供电源；拍摄部，其在接触有所述面接触探针的相反面对所述发光二极管组件进行拍摄；以及控制部，其沿着所述多个超小型发光二极管的排列方向向所述探针电极提供正方向的电源，并基于所述拍摄部在提供电源前后拍摄的所述发光二极管组件的图像，测试所述多个超小型发光二极管的点亮状态。
Description
技术领域
本发明涉及超小型发光二极管的点亮测试装置，更具体地，涉及一种超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方形排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，统一测试超小型发光二极管的点亮状态。
背景技术
通常，发光二极管(Light Emitting Diode，LED)是利用化合物半导体材料将电流转换为光的半导体发光元件。发光二极管基于化合物半导体材料的种类可实现从紫外线至红外线的各种波段的光源，相较于现有的光源，具有反应速度快、结构超级小及寿命长等特性，因此可在照明、电子显示屏、TV、手机及汽车等各种领域得到应用。
相关产业领域为了确保更大的市场竞争力，除了显示器以外，与通信、医疗、生化或者纤维领域能够融合整合的应用产品的多样性有关的研究正活跃地开展。
为此，需要提高发光二极管的柔软(flexible)特性及尺寸控制有关的技术，最近，可实现柔软性提高和尺寸可控制的超小型发光二极管作为下一代显示器正受到瞩目。
超小型发光二极管(Micro Light Emitting Diode)作为由多个以约5μm至100μm水准制造的发光结构体布置而成的发光元件，可将发光结构体本身作为像素使用，容易实现弯曲，从而能够克服现有的发光二极管因外部冲击频繁发生破损的破裂问题。
这种超小型发光二极管可在包括柔性显示器在内的人体植入型医疗设备，或者结合有发光二极管的智能(smart)纤维开发等需要低功耗、小型化及轻量化的光应用领域中广泛使用。
本发明的背景技术在韩国专利公开号第10-2019-0106655号(2019年09月18日公开的LED测试装置及移送装置)中已公开。
发明内容
技术问题
如上所述，为了在显示器中使用超小型发光二极管，在将完成的超小型发光二极管从晶片移送至目标基板之前，必须要经过识别和测试是否为电学上的良品的过程，然而由于超小型发光二极管的尺寸十分小，因此无适当的移送和测试方法，而利用现有的方法会产生破裂或者破损的问题或者采用手工作业时会导致成本上升的问题发生。
此外，如果不在晶片中直接测试多个超小型发光二极管的电学上的良品状态而移送至目标基板，则在目标基板上事后发生超小型发光二极管的不良时，存在导致目标基板自身成为不良的问题。
本发明是为了改善如上所述的问题而提出的，根据一方面，本发明的目的在于，提供一种超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，从而统一测试超小型发光二极管的点亮状态。
技术方案
根据本发明的一方面的超小型发光二极管的点亮测试装置，包括：面接触探针，其通过电阻率(resistivity)部件与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的发光二极管组件的前面面接触，从而使多个超小型发光二极管的两端电极互相接触；探针电极，其在所述面接触探针的一侧和另一侧进行线接触并提供电源；拍摄部，其在接触有所述面接触探针的相反面对所述发光二极管组件进行拍摄；以及控制部，其沿着所述多个超小型发光二极管的排列方向向所述探针电极提供正方向的电源，并基于所述拍摄部在提供电源前后拍摄的所述发光二极管组件的图像，测试所述多个超小型发光二极管的点亮状态。
本发明中，面接触探针为电阻率(resistivity)的薄膜、电阻率的PDMS(Polydimethylsiloxane)、电阻率的液体及电阻率的胶体(gel)中任意一种。
本发明中，当面接触探针为电阻率的薄膜时，进一步包括用于加压面接触探针的加压装置。
本发明中，加压装置为利用弹力对电阻率的薄膜进行加压的缓冲部件。
本发明中，加压装置由加压室构成，加压室为了在内部形成空闲空间并使电阻率的薄膜布置于空闲空间内，对探针电极进行加压，通过注入口向内部空闲空间注入加压流体并对电阻率的薄膜进行加压。
本发明中，加压流体包括不导电气体或者液体。
本发明中，当面接触探针为电阻率的液体或者电阻率的胶体时，进一步包括引导隔壁，其对应发光二极管组件限制电阻率的液体或者电阻率的胶体的区域。
本发明进一步包括用于固定发光二极管组件的透明基板。
本发明进一步包括用于输出超小型发光二极管的点亮状态的测试结果的输出部。
有益效果
根据本发明的一方面的超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，从而能够统一测试超小型发光二极管的点亮状态，不仅能够缩减发光测试所需的时间及费用而且不直接向超小型发光二极管接触引脚，从而可减少测试过程中元件的物理损伤。
附图说明
图1是根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的结构框图。
图2是根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的示例图。
图3是根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的等价电路图。
图4是图2所示的根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的面接触探针的截面图。
图5是图2所示的根据本发明的一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的加压装置的截面图。
具体实施方式
下面，参照附图对根据本发明的超小型发光二极管的点亮测试装置进行说明。该过程中，考虑到说明清晰性和方便性，附图中图示的线的厚度或者构成要素的尺寸等可能被夸大图示。此外，后述的术语是考虑到本发明的功能而定义的术语，基于不同的使用者、操作者的意图或者习惯可能会有所不同。因此这些术语的定义将取决于本说明书全文的内容。
图1是根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的结构框图，图2是根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的示例图，图3是根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的等价电路图，图4是图2所示的根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的面接触探针的截面图，图5是图2所示的根据本发明的一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置的加压装置的截面图。
如图1所示，根据本发明一实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置包括面接触探针20、探针电极10、拍摄部30和控制部40以及输出部50和电源部60。
面接触探针20通过电阻率(resistivity)部件与发光二极管组件70的前面面接触，发光二极管组件70由多个超小型发光二极管75按照正方向排列而成，从而能够使多个超小型发光二极管75的两端电极互相接触。
其中，面接触探针20与发光二极管组件70的前面面接触，并基于由电阻率部件的长度、面积及体积确定的电阻，可通过多个超小型发光二极管75形成电流通路并进行点亮。
即，如图3所示，通过确定电阻率部件的电阻率(resistivity)和长度、面积和体积，从而构成发光二极管组件70的超小型发光二极管75布置于各交叉点上的电阻栅格(resister grid)时，通过电阻栅格不仅与发光二极管组件70的各超小型发光二极管75进行串并联连接，而且通过超小型发光二极管75能够形成电流通路并进行点亮。
此时，面接触探针20可由电阻率(resistivity)的薄膜、电阻率的PDMS(Polydimethylsiloxane)、电阻率的液体和电阻率的胶体(gel)中的任意一种构成。
其中，电阻率的薄膜可包括具有电阻率(resistivity)的薄(Thin)膜或者伸缩性软薄膜。
因此，如图2所示，通过具有电阻率的面接触探针20与由多个超小型发光二极管75排列而成的发光二极管组件70的前面面接触，并通过两侧形成的探针电极10提供电源时，可点亮形成发光二极管组件70的多个超小型发光二极管75。
进一步具体说明如下，如图2所示，通过电阻率部件的面接触探针20与发光二极管组件70的前面面接触时，可表现为如图3所示的等价电路。
即，面接触探针20可表现为电阻栅格(resister grid)的形态，发光二极管组件70的超小型发光二极管75可表现为布置在各交叉点上。因此，如果利用两侧形成的探针电极10将电源部60的电源按照正方向点亮的方式提供电源，则可对构成发光二极管组件70的各超小型发光二极管75同时进行点亮。
其中，面接触探针20可由电阻率的薄膜22构成，而且，可进一步包括用于加压电阻率的薄膜22的加压装置。
即，如图4所示的图2的A-A线的截面图，在用于固定发光二极管组件70的透明基板72上沿着正方向排列超小型发光二极管75之后，利用电阻率的薄膜22的面接触探针20覆盖发光二极管组件70，与超小型发光二极管75进行面接触。
其中，透明基板72可包括超小型发光二极管75的制造工序中使用的晶片基板。
此时，为了使作为面接触探针20的电阻率的薄膜22与超小型发光二极管75紧密接触，可通过作为加压装置的缓冲部件82进行加压。
如图4所示，通过缓冲部件24利用弹力对作为面接触探针20的电阻率的薄膜22进行加压，从而可使电阻率的薄膜22与发光二极管组件70的所有超小型发光二极管75面接触。
此外，如图5所示，作为加压装置，为了在内部形成空闲空间并使作为面接触探针20的电阻率的薄膜22布置于空间内，对探针电极10进行加压并将其密封，通过注入口84向内部空闲空间注入加压流体88，并形成用于对电阻率的薄膜22进行加压的加压室84。
其中，加压流体88可包括不导电气体或者液体。
此外，通过转印超小型发光二极管75来制造面板的工艺中，将超小型发光二极管75转印至电阻率的PDMS的状态下，也可以将电阻率的PDMS作为面接触探针20使用。
另外，当面接触探针20为电阻率的液体或者电阻率的胶体(gel)时，如图2所示，优选进一步包括引导隔壁26，其对应发光二极管组件70的尺寸并限制电阻率的液体或者电阻率的胶体的区域，从而维持定型化形态，在超小型发光二极管75之间通过超小型发光二极管75形成电流通路，以维持可进行点亮的电阻。
探针电极10通过在面接触探针20的一侧与另一侧进行线接触，从而可向面接触探针20提供电源。
拍摄部30在面接触探针20所接触的相反面对发光二极管组件70进行拍摄，并将拍摄的图像提供给控制部40。
控制部40沿着超小型发光二极管75的排列方向向探针电极10提供正方向的点亮电源，通过互相比较拍摄部30在提供电源前后拍摄的发光二极管组件70的图像，从而测试超小型发光二极管75的点亮状态。
输出部50可输出测试超小型发光二极管75的点亮状态的测试结果。
如上所述，根据本发明实施例的超小型发光二极管的点亮测试装置，通过面接触探针与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的组件的前面接触之后，在两侧施加用于点亮的电源，从而能够统一测试超小型发光二极管的点亮状态，不仅能够缩减发光测试所需的时间及费用而且引脚不直接与超小型发光二极管接触，从而可减少测试过程中元件的物理损伤。
本文描述可以例如方法或步骤、装置、软件程序、数据流或信号来实现。即使仅在单一形式的语境中进行讨论(例如，仅讨论了方法)，所讨论的特征同样可以以其他形式来实现(例如，装置或程序)。装置可以例如合适的硬件、软件和固件来实现。方法可以例如处理器之类的装置来实现，所述处理器指的是一般的处理设备，包括例如计算机、微处理器、集成电路或可编程逻辑器件。处理器还包括通信设备，例如，计算机、蜂窝电话、平板电脑、便携式/个人数字助理(“PDA”)以及便于在终端用户之间传送信息的其他设备。
本发明参照附图所示的实施例进行了说明，这仅仅是用于示例性说明，对于本技术领域具有一般知识的技术人员而言，应该理解基于上述内容可进行各种变形并实施为其他等同的实施例。
因此，本发明的真正的技术保护范围应取决于所附的权利要求书。
附图标记的说明
10：探针电极 20：面接触探针
22：电阻率的薄膜 26：引导隔壁
30：拍摄部 40：控制部
50：输出部 60：电源部
70：发光二极管组件 75：超小型发光二极管
82：缓冲部件 84：注入口
86：加压流体 88：加压室
相关申请的交叉引用
本申请基于申请号为10-2021-0071184、申请日为2021年6月2日及本申请基于申请号为10-2021-0177181、申请日为2021年2月13日的韩国专利申请提出，并要求该韩国专利申请的优先权，该韩国专利申请的全部内容作为参考包含在本说明书中。
Claims (9)
1.一种超小型发光二极管的点亮测试装置，包括：
面接触探针，其通过电阻率部件与由多个超小型发光二极管按照正方向排列而成的发光二极管组件的前面面接触，从而使多个超小型发光二极管的两端电极互相接触；
探针电极，其在所述面接触探针的一侧和另一侧进行线接触并提供电源；
拍摄部，其在接触有所述面接触探针的相反面对所述发光二极管组件进行拍摄；以及
控制部，其沿着所述多个超小型发光二极管的排列方向向所述探针电极提供正方向的电源，并基于所述拍摄部在提供电源前后拍摄的所述发光二极管组件的图像，测试所述多个超小型发光二极管的点亮状态。
2.如权利要求1所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述面接触探针为电阻率(resistivity)的薄膜、电阻率的PDMS(Polydimethylsiloxane)、电阻率的液体及电阻率的胶体(gel)中任意一种。
3.如权利要求2所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，当所述面接触探针为所述电阻率的薄膜时，进一步包括用于加压所述面接触探针的加压装置。
4.如权利要求3所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述加压装置为利用弹力对所述电阻率的薄膜进行加压的缓冲部件。
5.如权利要求3所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述加压装置由加压室构成，所述加压室为了在内部形成空闲空间并使所述电阻率的薄膜布置于空闲空间内，对所述探针电极进行加压，通过注入口向所述内部空闲空间注入加压流体并对所述电阻率的薄膜进行加压。
6.如权利要求5所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，所述加压流体包括不导电的气体或者液体。
7.如权利要求2所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，当所述面接触探针为所述电阻率的液体或者所述电阻率的胶体时，进一步包括引导隔壁，其对应所述发光二极管组件限制所述电阻率的液体或者所述电阻率的胶体的区域。
8.如权利要求1所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，进一步包括用于固定所述发光二极管组件的透明基板。
9.如权利要求1所述的超小型发光二极管的点亮测试装置，其特征在于，进一步包括用于输出所述超小型发光二极管的点亮状态的测试结果的输出部。
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