CN117377419A - 评估分配器状态的方法及分配器 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及一种用于评估用于分配擦拭用片材产品的分配器(1)的状态的方法,所述分配器(1)包括传感器(20),例如雷达传感器(20);所述传感器被配置为发射传感器射束;该方法包括:‑使用所述传感器(20)提供指示从所述传感器(20)到至少部分地反射所述传感器射束的一个或多个反射表面(21)的距离的传感器回波信号,其中所述一个或多个反射表面中的一个是所述边界表面(32)(S100);和,‑使用所述传感器回波信号确定所述分配器(10)的状态(S200)。该方法还涉及分配器(1)、控制单元和用于执行该方法的计算机程序。
Description
技术领域
本公开涉及一种用于评估用于分配擦拭用的片材产品的分配器的状态的方法,以及一种用于分配片材产品的分配器。本公开还涉及一种用于实现所述方法的计算机程序、计算机可读介质和控制单元。
背景技术
在公共或工业环境中,用于擦拭的片材产品,例如纸,或非织造片材产品,例如卫生纸、家用手巾、餐巾、毛巾或工业抹布,通常在指定的片材产品分配器中提供给用户。当分配器内的产品耗尽时,分配器需要定期再填充新的片材产品。
为了评估分配器中片材产品的剩余量,在分配器中可以布置物位传感器,并且来自物位传感器的信息可以用于指示何时需要再填充新的片材产品。
US2014/0367401描述了一种具有超声波产品物位传感器的分配器和包括这样的物位传感器的系统。
然而,鉴于分配器的各种设计和片材产品的许多替代物品,当涉及到评估分配器的状态时,仍然需要改进和/或替代方案。
发明内容
本发明的一个目的是满足所述改进和/或替代方案的需要。
在第一方面,提供了一种用于评估用于分配擦拭用的片材产品的分配器的状态的方法,分配器限定出在分配器使用时用于容纳片材产品供应源的存储容积,存储容积限定出消耗方向,当从片材产品供应源供给片材产品时,片材产品供应源的边界表面的位置将沿着所述消耗方向随着分配器中的片材产品的量减少而改变,存储容积沿着消耗方向至少在对应于分配器中没有片材产品供应源的存储容积最小物位和对应于分配器中最大片材产品供应源的存储容积最大物位之间延伸;以及分配器,其包括传感器,例如雷达传感器,传感器被配置为发射传感器射束;
所述方法包括:
-使用所述传感器,提供指示从所述传感器到所述边界表面的距离的传感器回波信号,并且当至少部分地反射所述传感器射束的一个或多个反射表面位于所述传感器和所述边界表面之间时,提供指示从所述传感器到所述反射表面的距离的传感器回波信号;和
-使用传感器回波信号确定分配器的状态。
用于擦拭的片材产品可以是例如纸片材产品或非织造产品。片材产品可以提供为具有或不具有穿孔的连续幅材。这种连续幅材可以被提供为例如折叠的堆叠或卷。片材产品可以是分离的产品,例如以独立片材的形式。例如,这种独立片材可以折叠和/或交错折叠并以堆叠布置。用于擦拭的片材产品例如可以是工业擦拭物、厨房用纸、卫生纸、毛巾或餐巾。
传感器是被配置成发射容易被边界表面至少部分地反射的传感器射束的传感器。此外,传感器被配置成发射容易被位于传感器和边界表面之间的一个或多个反射表面至少部分地反射的传感器射束,以便能够提供指示从传感器到反射表面的距离的传感器回波信号。
反射表面可以沿着消耗方向间隔开。
反射表面可以具有垂直于消耗方向的延伸范围。
传感器可以被配置为发射被反射表面中的一个或多个仅部分地反射的传感器射束。因此,射束的未被反射的部分可以通过第一反射表面传播,以便到达下一反射表面,如沿着射束的传播方向所观察到的,从而提供指示从传感器到一个或多个反射表面的距离的传感器回波信号。然后,射束的一部分可以传播通过下一个反射表面,依此类推。
传感器可以被配置成使得在通过存在于传感器和边界表面之间的任何一个或多个反射表面之后,射束的一部分将到达边界表面,使得传感器回波信号指示从传感器到边界表面的距离。
因此,即使当一个或多个反射表面位于传感器和边界表面之间时,传感器也可以提供指示从表面到边界表面的距离的传感器回波信号。
传感器的要求可以适应于传感器射束在分配器中容易遇到的反射表面。
例如,传感器可以是被布置成发射雷达波束并感测雷达波束的回波以便提供雷达回波信号的雷达传感器。
待确定的状态可以是指示分配器的存储容积中的片材产品量的片材供应状态。替代地或附加地,待确定的状态可以指示分配器错误。分配器错误能够例如是分配器内部的片材或幅材断裂。
使用传感器回波信号确定分配器的状态可以包括使用如下传感器回波信号:该传感器回波信号指示从表面到边界表面的距离以及到位于传感器和边界表面之间的一个或多个反射表面的距离。因此,不仅关于边界表面,而且关于反射表面的信息可以用于确定分配器的状态。
分配器在使用中意味着它准备好使用,即它包含片材产品供应源,并且如果适用于特定的分配器,片材产品在分配器中被穿引。分配器正在使用并不一定意味着片材产品正在连续移动或主动从分配器中送出。
可选地,边界表面是片材产品供应源的如下表面:当分配器使用时,从该表面供给片材产品。使用传感器提供指示从传感器到至少部分地反射传感器射束的一个或多个反射表面的距离的传感器回波信号,使得能够使用作为片材产品供应源从其供给的表面的边界表面作为评估分配器状态的基础。这对于某些分配器设计可能是特别有利的。
可选地,一个或多个反射表面中的至少一个位于传感器和边界表面之间。反射表面可以部分反射,这意味着传感器可以提供指示从传感器到边界表面的距离的传感器回波信号,即使一个或多个其他反射表面可以位于传感器和边界表面之间。
可选地,位于传感器和边界表面之间的一个或多个反射表面中的至少一个具有如沿传感器射束的传播方向所见至少部分地覆盖所述边界表面的表面延伸范围。
可选地,位于传感器和边界表面之间的一个或多个反射表面中的至少一个具有如沿着传感器射束的传播方向所见完全覆盖所述边界表面的表面延伸范围。
可选地,所述一个或多个反射表面中的至少一个位于存储容积最小值和存储容积最大值之间的存储容积中。
可选地,所述一个或多个反射表面中的至少一个可以是静态元件。“静态”在本上下文中是指在分配器使用期间相对于传感器和存储容积处于相同位置的元件。
可选地,所述一个或多个反射表面中的至少一个包括分配器元件。
这样的分配器元件能够是静态元件,例如分配器的壳体的一部分、穿引装置的一部分等。例如,这样的分配器元件可以设置在分配器中,在存储容积之外。
可选地,所述一个或多个反射表面中的至少一个可以是动态元件。“动态”在本上下文中是指其相对于传感器和存储容积的位置在分配器的使用过程中可能变化的元件。
分配器元件能够是动态元件,例如分配器的壳体内侧的部件,该部件被配置成在分配器正在使用时呈现一个以上的位置。
可选地,所述一个或多个反射表面中的至少一个是片材产品元件。
可选地,所述片材产品元件可以包括当分配器正在使用时从片材产品供应源供给的片材产品。例如,片材产品元件可以是片材产品层。
例如,传感器可以被配置成发射被一层片材产品仅部分地反射的传感器射束,例如被从片材产品供应源供给的一层片材产品仅部分地反射的传感器射束。因此,如果一个或多个片材产品元件位于传感器和边界表面之间,传感器射束的至少一部分仍然可以到达边界表面,并且传感器回波信号可以指示从传感器到所述片材产品元件的距离,以及从传感器到边界表面的距离。
片材产品元件可以是动态元件,即片材产品元件的位置能够在分配器的使用过程中变化。
分配器可以限定幅材路径,在分配器使用时,片材产品沿着该幅材路径从片材产品供应源供给到分配器开口。幅材路径可以具有以下延伸范围:使得当分配器使用时,传感器回波信号指示一个或多个片材产品元件沿着幅材路径的位置。
例如,幅材路径可以在存储容积最小值和最大值之间至少部分地延伸穿过存储容积。
可选地,幅材路径可以是恒定的,即,不管片材产品供应源的边界表面的位置如何,幅材路径在分配器内具有基本相同的延伸范围。
可选地,幅材路径可以是变化的,即,取决于例如片材产品供应源的边界表面的位置,幅材路径遵循分配器内部的多个不同的可能延伸范围。
可选地,确定分配器状态的步骤包括使用传感器回波信号识别边界表面。例如,识别边界表面的步骤可以包括从传感器回波信号指示的一个或多个表面中识别边界表面。例如,当传感器回波信号指示除了边界表面之外还有的至少一个反射表面时,这可能是这种情况。
可选地,传感器回波信号指示传感器信号振幅,并且确定分配器状态的步骤包括基于传感器信号振幅确定所述状态。
例如,识别边界表面的步骤可以包括使用传感器回波信号的振幅。例如,确定存储容积中边界表面的位置的步骤可以包括使用传感器信号振幅来识别振幅最大值。
例如,识别任何反射表面的步骤可以包括使用传感器信号振幅来识别振幅最大值。
可选地,确定分配器状态的步骤包括确定在存储容积中存储容积最大物位和存储容积最小物位之间的边界表面沿着消耗方向的位置。
可选地,确定分配器状态的步骤包括将传感器回波信号与一个或多个参考传感器回波信号进行比较。
例如,识别边界表面的步骤可以使用传感器回波信号与一个或多个参考传感器回波信号的比较来进行。
例如,确定分配器状态的步骤可以仅通过将传感器回波信号与一个或多个参考传感器回波信号进行比较来进行。
可选地,所述一个或多个参考传感器回波信号包括从其中没有片材产品供应源的分配器取得的空分配器参考信号。
例如,空分配器参考信号可以用于从传感器回波信号中过滤掉与分配器相关而不是与片材产品供应源相关的信息。
例如,关于位于传感器和幅材供应源的边界表面的静态元件(例如分配器元件)的信息可以使用空分配器参考信号过滤掉。
可选地,确定分配器状态的步骤可以包括将传感器回波信号与空分配器参考信号进行比较,以便形成校准的传感器回波信号,并基于所述校准的传感器回波信号继续评估。
可选地,所述一个或多个参考传感器回波信号包括对应于分配器的预定状态的一个或多个参考信号。
因此,作为参考,可以选择测量和存储当分配器包括不同量的片材产品供应源(即对应于不同的状态)时获得的传感器回波信号。
可选地,片材状态可以是多个预定状态中的一个。
例如,对应于分配器状态的所述一个或多个参考信号对应于准备好再填充状态、充分填充状态和/或接近耗尽状态。
这里提到的参考信号可以通过在不同状态下使用用于在分配器本身上测量的传感器来测量和存储。替代地,参考信号可以从对与分配器设计相同的样品分配器的测量中获得。因此,从样品分配器获得的参考信号可用于具有相同设计的几个分配器。
通过将当前传感器回波信号与参考传感器回波信号进行比较,可以确定当前片材产品供应源的状态。
可选地,存储容积沿着消耗方向被一个或多个阈值划分,并且确定分配器状态的步骤包括使用传感器回波信号确定边界表面的位置是高于还是低于所述一个或多个阈值。
可选地,该方法包括:所述一个或多个阈值中的一个是再填充阈值,并且在确定边界表面的位置高于沿消耗方向观察的再填充阈值时,确定分配器的状态是准备好再填充;和/或
其中所述一个或多个阈值中的一个是填充阈值,并且在确定边界表面的位置低于沿消耗方向观察的填充阈值时,确定分配器的状态是被充分填充的;和/或
其中所述一个或多个阈值中的一个是耗尽阈值,并且当确定边界表面的位置在耗尽阈值之上时(如沿着消耗方向所观察到的),确定分配器的状态是接近耗尽。
例如,再填充阈值可以设置在距离存储容积最小物位一个距离处,指示分配器的再填充是合适的。
例如,填充阈值可以设置在不需要再填充的物位,或者可选地,在不可能再填充的物位,例如当在存储容积中不存在引入再填充供应源的空间时。
可选地,填充阈值可以等于再填充阈值,即评估将使用一个单一阈值物位在再填充状态和充分填充状态之间进行选择。
例如,接近耗尽的阈值可以被设置在分配器中仅剩下少量片材产品的物位处,表明更迫切需要再填充。
阈值可以根据它们的预期用途,在最小存储物位和最大存储物位之间沿着消耗方向以不同的间隔设置。
可选地,阈值可以在最小存储物位和最大存储物位之间沿着消耗方向以增量步长来设置,以便能够确定增量状态。
可选地,该状态可以连续地指示存在储容积中边界表面的位置。例如,片材状态可以简单地是边界表面到分配器中的最小或最大存储物位的当前距离,例如表示为长度单位或表示为最小和最大物位之间的整个长度的一部分。
可选地,该方法还可以包括:
-发出指示该状态的信号。
可选地,可以在确定与先前状态相比改变的状态时执行发出指示该状态的信号的步骤。
可选地,可以以规则间隔执行发出指示该状态的信号的步骤。
可选地,可以根据请求执行发出指示该状态的信号的步骤。
指示该状态的信号可以无线或有线例如传送到处理单元。
在第二方面,提供了一种控制单元,其被配置成执行根据任何一项前述权利要求所述的方法的步骤。
在第三方面,提供了一种计算机程序,其包括程序代码装置,用于在该程序在计算机上运行时执行第一方面的方法的步骤。
在第四方面,提供了一种承载计算机程序的计算机可读介质,该计算机程序包括用于当该程序在计算机上运行时执行根据第一方面的方法的步骤的程序代码装置。
在第五方面,提供了一种用于分配擦拭用的片材产品的分配器,分配器限定出在分配器使用时用于容纳片材产品供应源的存储容积,存储容积限定消耗方向,当从片材产品供应源供给片材产品时,片材产品供应源的边界表面的位置沿着所述消耗方向随着存储容积中的片材产品量的减少而改变,存储容积沿着消耗方向至少从对应于分配器中的最大片材产品供应源的存储容积最大物位延伸到对应于分配器中没有片材产品供应源的存储容积最小物位,并且
所述分配器包括传感器,例如雷达传感器;传感器被配置为发射传感器射束,并被布置为提供指示从传感器到边界表面的距离的传感器回波信号,并且当至少部分地反射所述传感器射束的一个或多个反射表面位于所述传感器和所述边界表面之间时,指示从所述传感器到一个或多个反射表面的距离,以便能够确定所述分配器的状态。
传感器可以被布置成从存储容积的至少一部分提供传感器回波信号,该部分沿着消耗方向延伸。存储容积的该部分可以是被选择以能够确定分配器的片材状态的部分。
可选地,传感器被布置成从存储容积提供传感器回波信号,该信号指示对于从存储容积最小物位到存储容积最大物位的边界表面的所有可能位置而言从传感器到边界表面的距离。
可选地,边界表面是片材产品供应源的以下表面:当分配器使用时,从该表面供给片材产品。
可选地,对于存储容积中边界表面的至少一个可能位置,当分配器使用时,一个或多个反射表面中的至少一个位于传感器和边界表面之间。
可选地,对于存储容积中边界表面的至少一个可能位置,当分配器使用时,一个或多个反射表面中的至少一个在存储容积最小物位和存储容积最大物位之间位于存储容积中。
可选地,一个或多个反射表面中的至少一个包括分配器元件。
可选地,一个或多个反射表面中的至少一个是片材产品元件,该片材产品元件包括当分配器使用时从片材产品供应源供给的片材产品。
可选地,一个或多个反射区域中的至少一个包括幅材路径,当分配器使用时,片材产品沿着该幅材路径从片材产品供应源供给。
可选地,对于存储容积中边界表面的至少一个可能位置,幅材路径在传感器和边界表面之间延伸。
可选地,幅材路径可以是恒定的,即不管片材产品供应源的边界表面的位置如何,幅材路径在分配器内具有基本相同的延伸范围。
可选地,幅材路径可以是变化的,即依据例如片材产品供应源的边界表面的位置,幅材路径遵循分配器内部的多个不同的可能延伸范围。
在一些分配器中,幅材路径的延伸范围可以根据片材产品供应源的边界表面的位置而变化。例如,对于边界表面的大多数可能位置,或者对于边界表面的所有可能位置,幅材路径可以在传感器和边界表面之间延伸。
可选地,分配器包括分配开口,并且幅材路径是分配器中的如下路径:即当片材产品存在于存储容积中时,片材产品沿着该路径从片材产品供应源供给到分配开口。
可选地,传感器被布置成使得传感器射束的传播方向具有沿着消耗方向的正分量方向,优选地,传播方向总体上平行于消耗方向。
如上所述,传感器将发射传感器射束并接收传感器射束的回波。上面的传播方向是指发射的传感器射束的传播方向。当射束被反射以形成传感器回波信号时,射束的传播方向被反转,即朝传感器返回。
可选地,存储容积被配置成包含片材产品堆叠形式的片材产品供应源。
可选地,边界表面是当分配器处于使用位置时沿着垂直方向所观察到的堆叠的上边界表面。
可选地,当分配器处于使用位置时,消耗方向可以总体上平行于竖直方向。
可选地,上边界表面可以在大致水平的平面中延伸。
可选地,存储容积被配置成包含片材产品卷形式的片材产品供应源。
可选地,边界表面是卷的径向外表面。
可选地,边界表面是卷的径向内表面。
在第六方面,提供了一种用于评估用于分配擦拭用的片材产品的分配器的状态的系统,该系统包括上面根据第五方面的分配器和根据第二方面的控制单元。
控制单元可以设置有传感器,并因此在分配器处与传感器一起布置为一个单元。
替代地,控制单元可以设置为远离传感器,并且无线或有线连接到传感器。
在第七方面,提供了一种包括一个或多个根据第六方面的系统的监控系统,其中所述一个或多个系统被配置为向本地处理单元或外部处理单元报告所确定的状态。
替代地,提供了一种包括一个或多个根据第五方面的分配器的监控系统,其中所述一个或多个分配器的传感器被配置成向本地处理单元或外部处理单元报告传感器回波信号,以确定状态。
这里描述的关于本公开的任何一个方面的特征和优点同样适用于本公开的其他方面。
本发明的其他优点和有利特征在以下描述和从属权利要求中公开。
附图说明
参照附图,下面是作为示例引用的本发明实施例的更详细描述。
在附图中:
图1示意性地示出了用于片材产品的分配器的第一变型;
图2是示出用于评估分配器的状态的方法的流程图;
图3a至3d是来自如图1所示的分配器中传感器的传感器回波信号的示例;
图4示意性地示出分配器的第二变型;和
图5示意性地示出了分配器的第三变型。
具体实施方式
图1示出了用于分配擦拭用的片材产品的分配器1的示例。分配器1限定出存储容积100,用于在分配器1使用时容纳片材产品供应源30。存储容积100限定出消耗方向D,随着从片材产品供应源30供给片材产品34时存储容积100中的片材产品量减少,片材产品供应源30的边界表面32的位置沿着该消耗方向D变化。存储容积100沿着消耗方向D至少在对应于分配器1中最大片材产品供应源30的存储容积最大物位Max和对应于分配器1中没有片材产品供应源的存储容积最小物位Min之间延伸。
在图1中,示例性分配器1示出了具有片材产品供应源30,片材产品供应源30具有位于存储容积最小物位Min和最大物位Max之间的边界表面32,即存储容积100既不是空的也不是完全填充的。
分配器1还包括传感器20。传感器20被配置成发射传感器射束以提供传感器回波信号,该传感器回波信号指示从传感器20到至少部分地反射传感器射束的一个或多个反射表面21的距离,其中所述一个或多个反射表面21中的一个是边界表面32。
传感器可以是适于提供用于分配器中的应用所需的传感器回波信号的传感器。传感器可以是发射雷达波束并提供雷达回波信号的雷达传感器。例如,雷达传感器可以是由Acconeer提供的传感器。特别地,Acconeer传感器XM122/XB122被认为适用于分配器中的应用,并且已经用于示例性实施例。
例如,传感器可以设置有双曲线透镜。
例如,传感器可以是提供60Ghz脉冲相干雷达(PCR)的传感器。已经发现这对于用于片材产品的分配器中的应用是有用的。
总体上,传感器可以被配置成适用于分配器和要在分配器中使用的片材产品。例如,在从边界表面供给片材产品的分配器中,一层或多层片材产品在分配器的使用过程中可以至少有时存在于传感器和边界表面之间,形成一个或多个反射表面。因此,传感器可以被配置成能够提供指示边界表面和一个或多个反射表面的传感器回波信号。为此,传感器可以适应于片材产品的特性,例如其厚度、表面粗糙度或成分。此外,传感器可以适应分配器的配置。如图1所示,传感器20可以被布置成提供来自存储容积100的传感器回波信号,该传感器回波信号指示对于存储容积最小物位Min到存储容积最大物位Max之间的边界表面32的所有可能位置而言从传感器20到边界表面32的距离。为此,在所示实施例中,传感器20被布置成使得发射的传感器射束的传播方向大致平行于消耗方向D。
当传感器被配置为指示对于存储容积最小物位Min到存储容积最大物位Max之间的所有可能位置而言到边界表面32的距离时,关于边界表面32在整个供给容量100上的位置的信息可以用于确定状态。
然而,在一些变型中,在分配器100的一部分中到边界表面32的距离是可检测的就足够了,例如在被选择为与确定分配器的状态相关的部分中。例如,如果仅要确定再填充状态,则在分配器100的邻近再填充阈值的部分中确定到边界表面32的距离可能就足够了。因此,可选地,传感器可以被配置成指示对于存储容积100的沿着消耗方向D延伸的至少一部分而言到边界表面32的距离。
如图1所示,边界表面32是在分配器1使用时从其供给片材产品的片材产品供应源30的表面。当边界表面32是从其供给片材产品的表面时,当分配器使用时,从片材供应源30供给的片材产品可能会出现在传感器20和待检测的边界表面32之间的位置。
如在图1中可以看到的,在该示例中,分配器1包括幅材路径14,当分配器使用时,片材产品34沿着幅材路径14从片材产品供应源30供给。
如在所示的分配器1中,分配器可以包括分配开口12,并且幅材路径14是片材产品34沿着其从片材产品供应源30供给到分配开口12的路径。
如图1的示例所示,幅材供应源30的边界表面32可以是如在大致竖直方向上观察到的上表面。幅材路径14最初可以从幅材供应源30的边界表面32向上延伸。
如图1所示,幅材路径14可以在传感器20和边界表面32之间延伸,即,从而与传感器射束的传播方向交叉。因此,当分配器1使用时,一层或多层片材产品34可以位于传感器20和边界表面32之间。
因此,片材产品34可以形成至少部分地反射传感器射束的反射表面21,并且当分配器使用时位于传感器20和边界表面32之间。因此,由传感器20提供的传感器回波信号可以指示从传感器20到片材产品34的反射表面21的距离以及从传感器20到边界表面32的距离。
此外,也如权利要求1所例示的,当分配器使用时,一个或多个反射表面21中的至少一个可以位于存储容积100中,在存储容积最小值(min)和存储容积最大值(max)之间。
如可以从图1中看到的,片材产品34沿着其延伸的幅材路径14可以根据边界表面32在存储容积最小物位(Min)和存储容积最大物位(Max)之间的位置而变化。因此,在分配器1的消耗期间,由片材产品34形成在边界表面32和传感器20之间的层数,即反射表面21的数量可以变化。
在所示的示例中,存储容积100被配置成以堆叠的形式容纳片材产品供应源30,例如巾(例如纸手巾)的堆叠。
如在分配器1处于使用位置时沿竖直方向观察到的,边界表面32可以是堆叠的上边界表面。边界表面32可以在大致水平的平面中延伸。
如图1所示,竖直方向可以平行于消耗方向。
此外,如图1所示,分配器可以包括壳体10,壳体10包围存储容积100和可选的其它例如旨在供给片材产品的分配器元件。
壳体10可以包括可打开和可关闭的门16,用于将片材产品填充到分配器1。
分配器1可以被配置用于从分配器1的底端再填充片材产品。再填充物可以连接到已经存在于分配器中的片材产品供应源30,以形成新的片材产品供应源30。因此,在再填充期间,片材产品34,例如呈幅材的形式,可以保持例如沿着幅材路径14穿引到分配开口12。
传感器回波信号也可以在分配器的再填充期间提供,并且可以确定分配器的状态。因此,不仅在分配器的消耗过程中,而且在分配器的再填充过程中,都可以评估分配器的状态。
如图1所示,分配器1可以形成包括分配器1和控制单元CU的系统的部件,其中控制单元CU被配置成执行用于评估分配器的片材产品供应源的方法,如下文所述。
控制单元CU可以与传感器20一起提供,即传感器20和CU形成一个单元。替代地,传感器20可以通过有线或无线连接而连接到控制单元CU。
此外,可以提供一种监控系统,该监控系统包括一个或多个包括分配器1和控制单元CU的系统。所述系统可以被配置为向本地处理单元或外部处理单元报告所确定的所述监控系统的分配器的状态。监控系统可以被配置成向工作人员发出信号,将所确定的分配器的状态——例如,准备再填充状态或分配器错误状态——发送给工作人员,从而被提示例如补充分配器或消除错误。
图2是示意性示出用于评估分配器状态的方法的变型的流程图。下面将参照图1的分配器1进行描述。然而,应当理解,该方法不限于示例性分配器,而是可以与广泛的分配器一起使用。
该方法包括:
-使用所述传感器20提供指示从所述传感器20到所述边界表面32的距离的传感器回波信号,并且当至少部分地反射所述传感器射束的一个或多个反射表面21位于所述传感器20和所述边界表面32之间时,提供指示从所述传感器20到所述一个或多个反射表面21的距离的传感器回波信号,S100;和
-使用所述传感器回波信号确定所述分配器10的状态,S200。
图2所示的方法还示出了发出指示该状态的信号的可选步骤,S300。
这样的信号可以例如以规则的时间间隔发出。替代地或附加地,这样的信号可以在确定与先前状态相比改变的状态时发出。替代地或附加地,这样的信号可以根据请求发出。
指示状态的信号可以通过有线或无线连接传送到例如本地处理单元或外部处理单元。
因此,该方法包括传感器回波信号可以指示除了到边界表面32之外到反射表面21的距离。例如,当边界表面32是从其供给片材产品的表面时,这可能发生,因为这至少在一些分配器配置中意味着从供应源30供给的片材产品可能存在于传感器20和边界表面32之间。
在图1的示例中,在边界表面32和传感器20之间可以看到两个反射表面21,这两个反射表面21都是由片材产品34构成的。
图3a至3d是从与图1中的分配器1类似类型的分配器取得的传感器回波信号的示例。传感器回波信号示出沿竖直轴线的传感器回波信号振幅vs.沿水平轴线的距传感器20的距离。
Max表示存储容积最大容量物位,Min表示存储容积最小物位。
传感器回波信号的示例是使用如上所述的、被布置在Tork Peak分配器中的Acconeer传感器取得的。片材产品是由essity提供的Tork Peak/>商品号100585。
图3a是当分配器1为空时,即当分配器中没有片材产品供应源时取得的传感器回波信号图。存储容积最小物位处的振幅最大值可以例如指示分配器中用于片材供应源30的地板或支撑构件的出现。
图3a的传感器回波信号图用作图3b至图3d的传感器回波信号图的滤波器。因此,从图3b至3d的传感器回波信号图中移除在空分配器中检测到的如图3a中的变化振幅所指示的反射表面。因此,图3b至3d的振幅-距离曲线表示分配器1中的反射表面,而不是包括静态分配器元件的反射表面。因此,图3b至3d是校准的传感器回波信号的示例,这通过将传感器回波信号与空的分配器参考传感器回波信号进行比较来实现。传感器回波信号的继续分析可以基于校准的传感器回波信号。
图3b是当分配器1填充有第一量的片材产品时取得的校准的传感器回波信号图。在这种情况下,片材产品的第一量对应于被引入分配器中的再填充堆叠,因此片材材料供应源30具有一个这样的再填充堆叠的尺寸。图3b中右侧所见的最大振幅最大值对应于片材产品供给30的边界表面32在存储容积100中的位置。图3b中左侧的两个较小振幅最大值可以对应于其它反射表面21的位置,例如从片材材料供应源30供给的片材产品34的片材产品层。
图3c类似于图3b,但是被校准的传感器回波信号图是在分配器被填充第二量的片材产品时取得的。在这种情况下,片材产品的第二量对应于分配器1中存在的两个再填充堆叠,因此片材材料供应源30具有两个这样的再填充堆叠的尺寸。与图3b相比,可以看到图3c中右侧看到的最大振幅最大值是如何进一步朝向存储容积最大物位Max移动的。同样,在图3c的左侧有两个较小的振幅最大值,其可以对应于其他反射表面21的位置。
图3d类似于图3b和图3c,但是校准的传感器回波信号图是在分配器填充有第三量的片材产品时取得的。在这种情况下,第三量的片材产品对应于分配器1中存在的三个再填充堆叠,因此片材材料供应源30具有三个这样的再填充堆叠的尺寸。与图3c相比,可以看到图3d中的最大振幅最大值是如何更进一步朝向存储容积最大物位Max移动的。在该示例图中,在图3d的左侧示出了仅一个较小的振幅最大值,并且在存储容积最小物位Min和存储容积最大物位Max之间的范围之外。同样,较小的振幅最大值可以对应于另一反射表面21的位置,例如来自分配器内部被供给的片材产品的表面。
如可以从图3a到图3d看到的,传感器20和边界表面32(即,边界表面32在存储容积100中的位置)之间的距离可以根据传感器回波信号检测得到,尽管至少一个反射表面位于传感器20和边界表面32之间。
在所示的示例中存在一个或多个反射表面21,该反射表面21由当分配器使用时从片材产品供应源30供给的片材产品构成。
在此上下文中,“分配器使用时”意味着在这种情况下它准备好使用,即它包含片材产品供应源,并且如果适用于特定的分配器,片材产品在分配器中被穿引。分配器在使用并不一定意味着片材产品正在连续移动或主动从分配器中送出。
确定分配器状态的步骤可以包括使用传感器回波信号识别边界表面。例如,可以通过与一个或多个参考信号进行比较,通过去除存储容积最小值和最大值范围之外的传感器回波信号中的信息,和/或通过评估传感器回波信号中振幅最大值的振幅和位置和/或通过其他选项来进行识别。
例如,传感器回波信号指示传感器信号振幅,并且确定分配器状态的步骤包括基于振幅确定状态。
例如,确定分配器状态的步骤包括确定边界表面32在存储容积100中在最大存储物位Max和最小存储物位Min之间沿着消耗方向D的位置。
可选地,存储容积100可以沿着消耗方向D被一个或多个阈值划分,并且确定分配器1的状态的步骤S200包括使用传感器回波信号确定边界表面32的位置是高于还是低于所述一个或多个阈值。
如在参考图1和3a至3d的示例中,所述一个或多个阈值中的一个可以是再填充阈值Tr,并且在确定边界表面的位置如沿着消耗方向D所见高于再填充阈值Tr时,该方法包括确定分配器的状态是准备好再填充。例如,当分配器要用具有固定尺寸的再填充堆叠再填充时,再填充阈值Tr可以被设置在距离存储容积最大物位Max一个再填充堆叠的距离处。因此,当状态被设置为“准备好再填充”时,这指示至少一个再填充堆叠可以被引入分配器。在其他替代方案中,再填充阈值Tr可以被设置在相距容量最大物位Max的一个距离处,在此处它被认为适合于再填充分配器。
替代地或附加地,所述一个或多个阈值中的一个可以是如图1、3a至3d所示的耗尽阈值Td。在确定边界表面32的位置高于耗尽阈值Td时,如沿着消耗方向D所见,可以确定分配器的状态接近耗尽。因此,耗尽阈值Td可以被设置在距离容量最小物位Min一定距离处且与相对少量的片材产品相对应。
替代地或附加地,可以定义其他阈值,例如,所述一个或多个阈值中的一个可以是填充阈值,并且在确定边界表面32的位置低于沿消耗方向D观察到的填充阈值时,确定分配器的状态被充分填充。
在图1所示的示例中,指示了再填充阈值Tr和耗尽阈值Td。在该示例中,阈值由它们的功能确定,即对应于选定的预定状态。
然而,阈值也可以是递增的。例如,存储容积可以在最大存储物位Max和最小存储物位Min之间以多个相等的增量划分,使得可以确定逐步的状态。
此外,当确定边界表面32的位置时,可以将状态报告为边界表面32在存储容积100中的位置。
该状态可以连续地指示边界表面32在存储容积100中的位置。
如上所述,确定分配器状态的步骤可以包括将传感器回波信号与一个或多个参考传感器回波信号进行比较。
所述一个或多个参考传感器回波信号可以包括从其中没有片材产品供应源的分配器取得的空分配器参考信号。如上面参考图3a至3d所解释的,空的分配器参考信号可以用作滤波器以提供校准的传感器回波信号,由此又可以例如识别边界表面32和/或确定边界表面32的位置。在传感器20和边界表面32之间不存在静态分配器元件的分配器中,例如图1所示的分配器(其中片材产品34在辊18上被供给,如图1所示,辊18远离来自传感器20的射束),与空的分配器参考信号进行比较以提供校准的传感器回波信号仍然是相关的,因为其他分配器元件,例如地板或壁,也可能对传感器回波信号有贡献。在传感器20和边界表面32之间确实存在静态分配器元件(例如辊18)的变型中,可以通过使用空的分配器参考信号对信号进行滤波来从传感器回波信号中去除这种静态分配器元件的影响,以便为进一步评估提供校准的参考信号。
然而,通过将传感器回波信号与一个或多个参考传感器回波信号进行比较,可以以各种方式确定状态。
例如,可以通过将当前传感器回波信号与来自空传感器的参考传感器回波信号进行比较来确定状态为空。
可选地,一个或多个参考传感器回波信号包括对应于分配器的预定状态的一个或多个参考信号。
例如,通过将当前传感器回波信号与对应于准备再填充状态、充分填充状态和/或接近耗尽状态的一个或多个参考信号进行比较,可以确定分配器的当前状态。
该方法还可以包括发出指示该状态的信号。信号可以无线或有线发出。该信号可以被发送到与分配器相关联的本地服务器,或者它可以被发送到远程服务器。
图4示出分配器的另一示例。除了传感器20的定位之外,分配器1类似于图1的分配器1。在图4的分配器中,传感器20定位在分配器壳体10的外部。
因此,除了在图1的分配器中形成反射表面21的边界表面32和片材产品层34之外,传感器回波信号可以指示由壳体10的一部分构成的反射表面21。
在这种分配器中,可以执行用于评估状态的方法,其中一个或多个反射表面21中的至少一个包括分配器元件。
分配器元件是静态的,即相对于传感器20固定就位的影响可以例如通过使用空的分配器参考信号对传感器回波信号滤波来消除,如关于图3a至3d所述。
图5示出了分配器的又一示例。该分配器与图1和图4的分配器的不同之处在于分配器开口12位于分配器的底部。片材产品将从位于存储容积100中的呈堆叠形式的片材产品供应源30的底部通过分配器开口12送出。传感器被布置成在片材产品供应源30的顶部检测片材产品供应源30的边界表面32。顶部和底部是指图5中的竖直方向。
尽管在该示例中,边界表面32不是从其供给片材产品的表面,但是如果与能够检测仅一个表面的传感器相比,使用被配置为提供指示从所述传感器到一个或多个反射表面21的距离的传感器回波信号的传感器仍然是有利的。例如,可以检测诸如堆叠在分配器中的错误定位、有故障的堆叠或对分配器的篡改的错误,例如以便指示分配器状态是有故障的。
尽管示例性分配器被配置为包含堆叠形式的片材产品供应源,但是也可以使用其他替代方案。例如,存储容积100可以被配置成容纳呈片材产品卷形式的片材产品供应源30。
例如,边界表面可以是卷的径向外表面。
在另一示例中,边界表面可以是卷的径向内表面。在这两种情况下,卷的边界表面可以是当分配器使用时从其供给片材产品的表面。
片材产品卷例如可以是无芯卷、中心进给卷。在另一个例子中,片材产品卷可以是从卷的周边进料的卷,具有芯或不具有芯。
应当理解,本发明不限于上述和附图所示的实施例;相反,本技术人员将认识到,在所附权利要求的范围内可以进行许多改变和修改。
Claims (37)
1.一种评估用于分配擦拭用的片材产品的分配器(1)的状态的方法,所述分配器(1)限定出在所述分配器(1)使用时用于容纳片材产品供应源(30)的存储容积(100),
所述存储容积(100)限定出消耗方向(D),所述片材产品供应源(30)的边界表面(32)的位置将随着所述分配器中的片材产品的量在从所述片材产品供应源(30)供给所述片材产品(34)时的减少而沿着所述消耗方向(D)改变,
所述存储容积(100)沿着所述消耗方向(D)至少从对应于所述分配器(1)中的最大片材产品供应源(30)的存储容积最大物位(Max)延伸到对应于所述分配器(1)中无片材产品供应源(30)的存储容积最小物位(Min),以及
所述分配器(1)包括传感器(20),例如雷达传感器(20);所述传感器(20)被配置为发射传感器射束;所述方法包括:
-使用所述传感器(20)提供指示从所述传感器(20)到所述边界表面(32)的距离的传感器回波信号,并且当至少部分地反射所述传感器射束的一个或多个反射表面(21)位于所述传感器(20)和所述边界表面(32)之间时,提供指示从所述传感器(20)到所述一个或多个反射表面(21)的距离(S100);和
-使用所述传感器回波信号确定所述分配器(10)的状态(S200)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述边界表面(32)是当所述分配器(1)使用时从其供给所述片材产品(34)的所述片材产品供应源(30)的表面。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个位于所述传感器(20)和所述边界表面(32)之间。
4.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述一个或多个反射表面中的至少一个位于所述存储容积(100)中,在所述存储容积最小物位(Min)和所述存储容积最大物位(Max)之间。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个包括分配器元件。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个包括片材产品元件。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中确定所述分配器(1)的所述状态的所述步骤(S200)包括使用所述传感器回波信号识别所述边界表面(32)。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述传感器回波信号指示传感器信号振幅,并且确定所述分配器(1)的所述状态的所述步骤(S200)包括基于所述传感器回波信号振幅确定所述状态。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中确定所述分配器(1)的所述状态的所述步骤(S200)包括确定所述边界表面(32)沿所述消耗方向(D)在所述存储容积(100)中在所述存储容积最大物位(Max)和所述存储容积最小物位(Min)之间的所述位置。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中确定所述分配器(1)的所述状态的所述步骤(S200)包括将所述传感器回波信号与一个或多个参考传感器回波信号进行比较。
11.根据权利要求10所述的方法,其中所述一个或多个参考传感器回波信号包括从其中没有片材产品供应源(30)的所述分配器(1)取得的空分配器参考信号。
12.根据权利要求10或11所述的方法,其中所述一个或多个参考传感器回波信号包括一个或多个参考信号,每个所述参考信号对应于所述分配器的预定状态。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述预定状态是准备再填充状态、充分填充状态和接近耗尽状态中的一个。
14.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述存储容积(100)沿着所述消耗方向(D)被一个或多个阈值(Tr,Td)划分,并且确定所述分配器(1)的所述状态的所述步骤(S200)包括使用所述传感器回波信号确定所述边界表面(32)的所述位置是高于还是低于所述一个或多个阈值(Tr,Td)。
15.根据权利要求14所述的方法,其中所述一个或多个阈值中的一个是再填充阈值(Tr),并且在确定所述边界表面的所述位置如沿着所述消耗方向(D)所见高于所述再填充阈值(Tr)时,确定所述分配器的所述状态是准备好再填充;和/或
其中所述一个或多个阈值中的一个是耗尽阈值(Td),并且,当确定所述边界表面(32)的所述位置如沿着所述消耗方向(D)所见高于所述耗尽阈值(Td)时,确定所述分配器的所述状态接近耗尽。
16.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述状态连续地指示所述边界表面(32)在所述存储容积(100)中的所述位置。
17.根据所述前述权利要求中任一项所述的方法,进一步包括:
-发出指示所述状态的信号(S300)。
18.一种控制单元,其被配置为执行根据前述权利要求中任一项所述的方法的步骤。
19.一种计算机程序,包括用于当所述程序在计算机上运行时执行根据权利要求1-17中任一项所述的步骤的程序代码装置。
20.一种载有计算机程序的计算机可读介质,该计算机程序包括用于当所述程序在计算机上运行时执行根据权利要求1-17中任一项所述的步骤的程序代码装置。
21.一种用于分配擦拭用的片材产品的分配器(1),所述分配器(1)限定出用于在所述分配器(1)使用时容纳片材产品供应源(30)的存储容积(100),
所述存储容积(100)限定出消耗方向(D),所述片材产品供应源(30)的边界表面(32)的位置沿着所述消耗方向(D)随着从所述片材产品供应源(30)供给所述片材产品(34)时所述存储容积(100)中的片材产品量的减少而变化,
所述存储容积(100)沿着所述消耗方向(D)至少从对应于所述分配器(1)中的最大片材产品供应源(30)的存储容积最大物位(Max)延伸到对应于所述分配器(1)中没有片材产品供应源的存储容积最小物位(Min),以及;
所述分配器(1)包括传感器(20),例如雷达传感器(20);所述传感器被配置为发射传感器射束,并被布置为提供传感器回波信号,所述传感器回波信号指示从所述传感器(20)到所述边界表面(32)的距离,并且当至少部分地反射所述传感器射束的一个或多个反射表面(21)位于所述传感器(20)和所述边界表面(32)之间时,指示从所述传感器(20)到所述反射表面(21)的距离,以便能够确定所述分配器的状态。
22.根据权利要求21所述的分配器,其中,所述传感器(20)被布置成提供来自所述存储容积(100)的传感器回波信号,所述传感器回波信号指示对于所述边界表面(32)在所述存储容积最小物位(Min)到所述存储容积最大物位(Max)之间的所有可能位置而言,从所述传感器(20)到所述边界表面(32)的所述距离。
23.根据权利要求21或22所述的分配器,其中,所述边界表面(32)是当所述分配器(1)使用时从其供给所述片材产品(34)的所述片材产品供应源(30)的表面。
24.根据权利要求21至23中任一项所述的分配器,其中,对于所述边界表面(32)在所述存储容积(30)中的至少一个可能位置,当所述分配器使用时,所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个位于所述传感器(20)和所述边界表面(32)之间。
25.根据权利要求21至24中任一项所述的分配器,对于所述边界表面(32)在所述存储容积(30)中的至少一个可能位置,当所述分配器使用时,所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个在所述存储容积(100)中位于所述存储容积最小物位(Min)和所述存储容积最大物位(Max)之间。
26.根据权利要求21至25中任一项所述的分配器,其中所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个包括分配器元件。
27.根据权利要求21至26中任一项所述的分配器,其中所述一个或多个反射表面(21)中的至少一个是片材产品元件。
28.根据权利要求21至27中任一项所述的分配器,其中所述分配器(1)包括幅材路径(14),当所述分配器使用时,所述片材产品沿着所述幅材路径从所述片材产品供应源(30)供给,并且对于所述边界表面(32)在所述存储容积(30)中的至少一个可能位置,所述幅材路径(14)在所述传感器(20)和所述边界表面(32)之间延伸。
29.根据权利要求28所述的分配器,其中所述分配器(1)包括分配开口(12),并且所述幅材路径(14)是所述分配器(10)中的如下路径:沿着所述幅材路径(14),所述片材产品从当存在于所述存储容积(100)中时的所述片材产品供应源(30)供给到所述分配开口(12)。
30.根据权利要求21至29中任一项所述的分配器,其中,所述传感器(20)被布置成使得所述传感器射束的传播方向具有沿着所述消耗方向(D)的正分量,优选地,所述传播方向大致平行于所述消耗方向(D)。
31.根据权利要求21至30中任一项所述的分配器,其中所述存储容积(100)被配置成容纳呈片材产品堆叠形式的片材产品供应源(30)。
32.根据权利要求31所述的分配器,其中,当所述分配器处于使用位置时,所述边界表面(32)是沿竖直方向观察时的所述堆叠的上边界表面。
33.根据权利要求21至30中任一项所述的分配器,其中所述存储容积(100)被配置成容纳呈片材产品卷形式的片材产品供应源(30)。
34.根据权利要求33所述的分配器,其中所述边界表面(32)是所述卷的径向外表面。
35.根据权利要求33所述的分配器,其中所述边界表面(32)是所述卷的径向内表面。
36.一种评估用于分配擦拭用的片材产品的分配器(1)的状态的系统,所述系统包括根据权利要求21-35中任一项所述的分配器和根据权利要求18所述的控制单元。
37.一种包括一个或多个根据权利要求36所述的系统的监控系统,其中所述系统被配置为向本地处理单元或外部处理单元报告所确定的所述系统的所述分配器的状态。
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