CN117330607A - 一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法 - Google Patents

一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法 Download PDF

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CN117330607A
CN117330607A CN202311246013.2A CN202311246013A CN117330607A CN 117330607 A CN117330607 A CN 117330607A CN 202311246013 A CN202311246013 A CN 202311246013A CN 117330607 A CN117330607 A CN 117330607A
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何斌
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Abstract

本发明公开了一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,包括以下步骤:1)确定氢气传感器的基本参数和确立准确度指标要求;2)搭建氢气传感器加速热老化试验平台;3)测试氢气传感器电阻值响应曲线和恢复曲线;4)计算反映氢气传感器性能的特征指标;5)识别氢气传感器热老化加速因子;6)传感器退化轨迹分析与可靠性模型构建;7)根据预设可靠性阈值计算得到传感器失效时间并确定计量周期。利用本发明提供的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,可获得氢气传感器在工作环境服役状态下的预期寿命,用以优化氢气传感器的计量周期与方式。

Description

一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法
技术领域
本发明涉及计量技术领域,具体地说涉及一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法。
背景技术
由于氢气具有氢化腐蚀、氢脆效应以及氧气具有强氧化性等特点,通过直接参与或诱发物理化学反应,会对设备的健康损伤与性能退化有着明显的加速影响。同时,从安全角度考虑,氢气的点火能量很低,在空气中的最小点火能为0.019mJ,在氧气中的最小点火能为0.007mJ,一般的撞击、摩擦、放电、热气流等都可点燃氢-氧混合物,进而引发爆炸,易造成巨大的财产损失和人员伤亡。因此,采用氢气传感器对氢气含量进行监测有利于降低事故发生几率和保障生产安全。
氢气传感器在服役条件下长期工作过程中,元器件性能会逐渐劣化,导致氢气浓度检测数据发生“漂移”。计量是保持、保证氢气传感器服役周期质量和性能的重要技术手段。为了保证氢气传感器量值准确,必须对检测系统进行定期溯源。特别是,安装于密闭空间内的氢气传感器,由于不方便取出进行校准,一旦安装往往需要连续工作多年。因此,氢气传感器的计量周期是其极为重要的计量参数。氢气传感器在工作环境运行时测量性能会逐渐下降,在免标定时间内的稳定性是氢气传感器长期正常工作的前提。
由于密闭条件下氢气传感器的工作条件相对稳定,例如,气压、湿度、振动等条件基本不变,影响氢气传感器稳定性的主要影响因素为温度,因此,可基于热老化试验测试和分析建立氢气传感器的计量周期计算模型,用于判断长期工作下氢气传感器的测量不确定度能否满足实际需求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种用于判断长期工作下氢气传感器测量不确定度能否满足实际需求的氢气传感器计量周期的确定方法。首先确定氢气传感器的基本参数和确定准确度指标要求,然后对该类型的氢气传感器进行热老化试验,并测试该类氢气传感器的电阻值响应曲线和恢复曲线,然后计算反映氢气传感器性能的特征指标,识别氢气传感器热老化加速因子,进行氢气传感器退化轨迹分析与可靠性模型构建,根据预设可靠性阈值计算得到传感器失效时间并确定计量周期。本发明可以获得氢气传感器在工作环境服役状态下的预期寿命,用以优化氢气传感器的计量周期与方式。
实现本发明目的的技术方案如下:
一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,包括步骤,
S1、采用高温步进应力试验找到被测的氢气传感器的工作极限温度;
S2、以被测的氢气传感器作为试验样品,将多组试验样品分别进行不同老化温度不同老化时间的加速热老化试验;所述老化温度的最大值取低于所述氢气传感器的工作极限温度且最近的整数值;
S3、在S2步骤的试验过程中,测试被测的氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的电阻值响应曲线和电阻值恢复曲线;所述电阻值响应曲线是指加速热老化试验中从向被测的氢气传感器所在的试验罐体内输入氢气标准气体开始到数据稳定时刻的氢气传感器的电阻值曲线;
所述电阻值恢复曲线是指加速热老化试验中,完成电阻值响应曲线测量后,从向被测的氢气传感器所在的试验罐体内输入纯氮气开始到数据稳定时刻的氢气传感器的电阻值曲线;
S4、根据S3步骤得到的不同老化温度、不同老化时间下的电阻值响应曲线和电阻值恢复曲线,计算氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的响应值和恢复值;其中响应值为响应曲线的稳定值与初始值的差值,恢复值是指恢复曲线的初始值与稳定值之间的差值;
S5、以S2步骤中加速热老化试验中的最低老化温度为基准温度,求解加速老化试验中其他老化温度的响应值和恢复值相对于基准温度的加速因子;求解得到加速因子后,由下式进行回归计算得到反应活化能Ea的值,
式中,ai1表示加速老化试验中老化温度Ti相对于基准温度T1的加速因子,Ea为反应活化能;R为理想气体常数;
通过上式得到反应活化能Ea的拟合值Ea_fitted后,从基准温度T1外推获得常温T0下的加速因子a01
S6、传感器退化轨迹分析与可靠性模型构建;令μ表示均值参数、λ表示形状参数、D为氢气传感器失效的性能衰退阈值,其中均值参数和形状参数为待估计的模型参数向量;Λ(t)为非线性幂指数;
则氢气传感器寿命的可靠度随时间的变化关系为:
氢气传感器寿命预测值的概率密度分布函数为:
以所有样本点的概率密度分布累积函数最大化为目标函数L,采用贝叶斯方法求得模型的均值参数和形状参数,进而得到上述寿命预测值的概率密度分布函数,然后得到基准温度T1下氢气传感器的可靠度函数R(t);
S7、根据预设可靠性阈值计算得到传感器失效时间并确定计量周期;根据氢气传感器的整体性能在进行重新确认或后续检定时保持在所期望的合格范围内的概率Rdefault;当R(t0)=Rdefault时,得到响应终止时间t0,则该氢气传感器的计量周期为Tcal=a01t0
进一步的,S2步骤中,所述老化温度的最大值为Tn,设定温度间隔ΔT,设置n个老化温度,第i个老化温度为Ti,i=1,2,3,...,i,...n;设定老化时间间隔Δt,老化总时长为m天,则第i个老化温度下的老化时间表示为ti,j,j=0,Δt,2Δt,3Δt,...,m。
更进一步的,S2步骤中,每个老化温度选择试验样品至少3个;在加速热老化试验开始之前,对用于存放试验样品的试验罐体放置于50℃/50Pa真空干燥箱中干燥2h,将试验样品与航空插头相连,然后密封试验罐体,测试不同老化温度下不同老化时间下的氢气传感器电阻值的响应曲线和恢复曲线。
进一步的,S3步骤中,氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的电阻值响应曲线的测试方法具体如下:
将存放试验样品的试验罐体置于恒温箱中,调节恒温箱内温度值设定老化温度;当存放试验样品的试验罐体中温度稳定在设定老化温度后,进行数据采集和保存;
抽取试验罐体内空气,当试验罐体内真空度达到预设真空度后,停止抽取;
向试验罐体内通入氢气标准气体,且控制通入氢气标准气体的气流量不小于设定气流量;
当试验罐体内气压为标准大气压后,则打开试验罐体的排气口,并继续通入氢气标准气体设定时间后关闭试验罐体的进气口和排气口;观察采集到的数据直至数据保持稳定;
从氢气标准气体输入时刻开始到数据稳定时刻的电阻值曲线即为响应曲线。
更进一步的,氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的电阻值恢复曲线的测试方法具体如下:
确保试验罐体中温度稳定在设定老化温度后,进行数据采集和保存;
向试验罐体的进气口通入纯氮气,并打开排气口,控制通入纯氮气的气流量不小于设定气流量,观察采集到的数据直至数据保持稳定,从纯氮气输入时刻开始到数据稳定时刻的电阻值曲线即为电阻值的恢复曲线。
进一步的,S5步骤中,加速因子的求解过程具体如下:
在基准温度下氢气传感器的响应值衰退规律的回归方程形式为ResT1(t)=fs(t);
在基准温度下氢气传感器的恢复值衰退规律的回归方程形式为RecT1(t)=fc(t);
式中,t代表老化时间,从0开始的连续值;fs(t)、fc(t)为回归函数;
在其余老化温度T2,T3,...,Ti,...,Tn下的老化时间ti,j下将其通过加速因子ai1由时温等效原理折算到基准温度T1下的老化时间为ti1_k,i=2,3,...,n;k=1,2,...,X,X表示第i个老化温度下对应不同老化时间的响应值个数和恢复值个数,
加速因子ai1的取值通过对目标函数βi寻优得到,ti1_k=ai1ti,j;式中,ti1_k为老化温度Ti下老化时间折算到基准温度下的老化时间,将ti1_k分别代入到ResT1(t)=fs(t)和RexT1(t)=fc(t)中,得到老化温度T2,T3,...,Ti,...,Tn下在基准温度下的响应值等效值fs(ti1_k)和恢复值等效值fc(ti1_k),以平均相对分散系数作为目标函数,每一个老化温度Ti下的目标函数βi形式为
采用参数寻优算法对各加速因子进行不断迭代优化,使每一个老化温度Ti下的βi接近于0,得到ai2,ai3,...,ain的最优解;将n-1种不同温度下的加速性能衰退数据点等效平移至基准温度下的分布特性,对等效数据样本点进行回归计算,计算各个样本点的回归预测值相对原始值的绝对分散系数,回归模型的预测值分布在1.5倍分散线以内时,加速因子则具有较高的精度,否则加速因子需要再次计算。
进一步的,S6步骤中,贝叶斯方法中的先验分布通过马尔科夫链蒙特卡洛方法进行选择
式中,y为样本点个数,为待估计的模型参数向量,即参数μ和参数λ;f(·)表示概率密度分布函数。
本发明通过试验测试得到氢气传感器的计量周期,可用于优化氢气传感器的计量方案。
附图说明
图1为本发明的流程图。
图2为本发明氢气传感器加速热老化试验平台的结构示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例,对本发明的技术方案进行清晰、完整的描述。
如图1所示,一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,包括以下步骤:
S1:确定氢气传感器的基本参数和准确度指标要求
确定氢气传感器的基本参数指标和精度要求,根据传感器的设计参数,找出传感器可以正常工作的电压参数以及温度、湿度、压力参数。
S2:搭建氢气传感器加速热老化试验平台
搭建传感器加速热老化试验平台,如图2所示,包括温度可调的恒温箱14、置物架13、试验罐体12、试验样品11、航空插头10、数据采集系统9、真空泵8、两通阀门7、温度气压传感器6、气体干燥器5、流量计4、三通阀门3、氢气标准气体2、纯氮气1;恒温箱温度可调、顶部有圆形开口且箱内底部设有金属置物架;恒温箱内部填充硅油,且硅油完全淹没试验罐体;试验罐体放置于置物架上,试验罐体为圆柱结构,顶部中心设有航空插头,左侧气体管道长度与顶盖长度齐平,右侧气体管道长度与试验罐体底部接近,试验罐体内部大小不大于试验样品的2倍体积;氢气标准气体、纯氮气通过气体管路依次连接至三通阀门、流量计、气体干燥器和试验罐体,左侧气体管路在连接至试验罐体前在硅油中留有预热缓冲弯道;右侧气体管路依次连接至两通阀门和真空泵;数据采集系统通过航空插头连接至试验样品,温度气压传感器通过航空插头监测试验罐体内的温度变化;氢气标准气体浓度应尽量高于工作气氛中氢气浓度但不超过氢气传感器本身最高工作浓度。
S3:测试氢气传感器电阻值响应曲线和恢复曲线
采用高温步进应力试验找到被测试验样品的工作极限温度,取低于工作极限温度最近的整数温度作为最高加速老化温度T5,以10℃为温度间隔,设置五个老化温度,第i个老化温度为Ti,i=1,2,3,4,5。以10天为老化时间间隔,老化总时长为180天。第i个老化温度下的老化时间tij即为j=0,10,20,30,…,180。每个老化温度选择合格试验样品3只,气体加载前将试验罐体放置于50℃/50Pa真空干燥箱中干燥2h,将试验样品与航空插头相连,然后密封试验罐体,测试五个老化温度下不同老化时间下的传感器电阻值的恢复曲线和响应曲线。
传感器电阻值的响应曲线的测试方法为:调节恒温箱温度至老化温度,利用温度气压传感器测试试验罐体中温度稳定在老化温度后,开启数据采集系统进行数据测试和保存,关闭三通阀门和打开两通阀门,开启真空泵抽取试验罐体内空气,当真空度达到-0.9后关闭真空泵和两通阀门,然后将三通阀门导通至氢气标准气体方向,调节氢气标准气体减压阀使得气体管路内载气气流量不小于200sccm;当试验罐体内气压为标准大气压后打开两通阀门,继续通入氢气标准气体20min后关闭三通阀门和两通阀门,观察数据采集系统采集数据直至数据保持稳定,从氢气输入时刻开始到数据稳定时刻的电阻值曲线即为响应曲线。
传感器电阻值的恢复曲线的测试方法为:保持恒温箱温度为老化温度,开启数据采集系统进行数据测试和保存,将三通阀门导通至纯氮气方向并打开两通阀门,调节纯氮气减压阀使得气体管路内载气气流量不小于200sccm,观察数据采集系统采集数据直至数据保持稳定,从纯氮气输入时刻开始到数据稳定时刻的电阻值曲线即为恢复曲线。
S4:计算反映氢气传感器性能的特征指标
根据响应曲线和恢复曲线计算响应值和恢复值,响应值为响应曲线的稳定值与初始值的差值,恢复值为指恢复曲线的初始值与稳定值之间的差值;得到不同老化温度下不同老化时间tij下的响应值ResTi,j和恢复值RecTi,j,i=1,2,3,4,5,j=0,10,20,30,…,180,第i个老化温度下不同老化时间tij下分别有19个响应值和19个恢复值。
S5:识别氢气传感器热老化加速因子
以老化温度T1为基准温度,求解T2,…,T5的响应值和恢复值相对于基准温度的加速因子a21,a31,a41,a51,每个加速因子的变量取值范围分别为[1,100],取参数识别问题的变量维度为4;
在基准温度下氢气传感器的响应值衰退规律的回归方程形式为:
ResT1(t)=fs(t) (1)
在基准温度下请求传感器的恢复值衰退规律的回归方程形式为:
RecT1(t)=fc(t) (2)
式中,t代表老化时间,从0开始的连续值;fs(t)、fc(t)为回归函数,可为指数函数、幂函数等形式,也可为多种类型函数的组合形式,根据实际回归效果择优选择。例如,
在其余老化温度T2,…,T5下的老化时间tij下将其通过加速因子ai1由时温等效原理折算到基准老化温度T1下的老化时间为ti1_k,i=2,3,4,5,k=1,2,3,…,19,加速因子ai1的取值通过对式(4)的目标函数寻优得到,
ti1_k=ai1tij (3)
式中,ti1_k为老化温度Ti下老化时间折算到基准温度下的老化时间,i=2,3,4,5,k=1,2,3,…,19;将ti1_k分别带入至公式(1)和公式(2)中,得到老化温度T2,…,T5下在基准温度下的响应值等效值和恢复值等效值,分别记为fs(ti1_k)和fc(ti1_k),以平均相对分散系数作为目标函数,每一个老化温度下Ti的目标函数βi形式为:
采用参数寻优算法对各加速因子进行不断迭代优化,使每一个老化温度下Ti的βi尽可能接近于0,得到最优解a21,a31,a41,a51。将4种不同温度下的加速性能衰退数据点等效平移至基准温度下的分布特性,对等效数据样本点进行回归计算,计算各个样本点的回归预测值相对原始值的绝对分散系数,回归模型的预测值分布在1.5倍分散线以内时,加速因子则具有较高的精度,否则加速因子需要再次计算。
得到加速因子a21,a31,a41,a51后,可由式(5)的进行回归计算得到反应活化能Ea的值:
式中,Ti为老化温度,i=2,3,4,5,单位为K;Ea为反应活化能,单位为kJ/mol;R为理想气体常数,取值为8.314J/(mol·K);
得到反应活化能Ea的拟合值Ea_fitted后,从老化温度T1外推获得常温T0下的加速因子a01,常温T0一般取20℃;
S6:传感器退化轨迹分析与可靠性模型构建
令μ表示均值参数、λ表示形状参数、D为氢气传感器失效的性能衰退阈值(阈值可根据实际需要设置,一般可取90%。在JJF 1139-2005《计量检定周期的确定原则与方法》确定原则二中确定计量器具检定周期时,首先应明确所适用计量器具的测量可靠性目标R;一般计量器具的测量可靠性目标R≥90%。其中测量可靠性R是指某种计量器具的整体性能在进行重新确认或后续检定时所保持在所期望的合格范围内的概率),均值参数和形状参数为待估计的模型参数向量,则氢气传感器寿命L为L={t|ResTi,t≥D};Λ(t)为非线性幂指数。
氢气传感器寿命的可靠度随时间的变化关系为:
氢气传感器寿命的概率密度分布函数为:
以所有样本点的概率密度分布累积函数最大化为目标函数L,样本点可只选用基准温度下19个不同老化时间下的响应值,也可以根据公式(1)和公式(2)插值选取更多不同老化时间下的响应值,采用贝叶斯方法求得模型的均值参数、形状参数,进而得到寿命预测值的概率密度分布函数,然后即可得到老化温度T1下氢气传感器的可靠度函数R(t),贝叶斯方法中的先验分布通过马尔科夫链蒙特卡洛方法进行选择:
式中,n为样本点个数;为待估计的模型参数向量,即参数μ和参数λ;f(·)表示概率密度分布函数,即公式(8)所指的分布函数。
S7:根据预设可靠性阈值计算得到传感器失效时间并确定计量周期
根据氢气传感器的整体性能在进行重新确认或后续检定时保持在所期望的合格范围内的概率Rdefault(可以设置为90%,也可以根据实际需要设置,要求比较高的可以设置为95%或者98%),当R(t0)=Rdefault时,得到相应终止时间t0,则该氢气传感器的计量周期Tcal为:
Tcal=a01t0(10)。

Claims (7)

1.一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:包括步骤,
S1、采用高温步进应力试验找到被测的氢气传感器的工作极限温度;
S2、以被测的氢气传感器作为试验样品,将多组试验样品分别进行不同老化温度不同老化时间的加速热老化试验;所述老化温度的最大值取低于所述氢气传感器的工作极限温度且最近的整数值;
S3、在S2步骤的试验过程中,测试被测的氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的电阻值响应曲线和电阻值恢复曲线;所述电阻值响应曲线是指加速热老化试验中从向被测的氢气传感器所在的试验罐体内输入氢气标准气体开始到数据稳定时刻的氢气传感器的电阻值曲线;
所述电阻值恢复曲线是指加速热老化试验中,完成电阻值响应曲线测量后,从向被测的氢气传感器所在的试验罐体内输入纯氮气开始到数据稳定时刻的氢气传感器的电阻值曲线;
S4、根据S3步骤得到的不同老化温度、不同老化时间下的电阻值响应曲线和电阻值恢复曲线,计算氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的响应值和恢复值;其中响应值为响应曲线的稳定值与初始值的差值,恢复值是指恢复曲线的初始值与稳定值之间的差值;
S5、以S2步骤中加速热老化试验中的最低老化温度为基准温度,求解加速老化试验中其他老化温度的响应值和恢复值相对于基准温度的加速因子;求解得到加速因子后,由下式进行回归计算得到反应活化能Ea的值,
式中,ai1表示加速老化试验中老化温度Ti相对于基准温度T1的加速因子,Ea为反应活化能;R为理想气体常数;
通过上式得到反应活化能Ea的拟合值Ea_fitted后,从基准温度T1外推获得常温T0下的加速因子a01
S6、传感器退化轨迹分析与可靠性模型构建;令μ表示均值参数、λ表示形状参数、D为氢气传感器失效的性能衰退阈值,其中均值参数和形状参数为待估计的模型参数向量;Λ(t)为非线性幂指数;
则氢气传感器寿命的可靠度随时间的变化关系为:
氢气传感器寿命预测值的概率密度分布函数为:
以所有样本点的概率密度分布累积函数最大化为目标函数L,采用贝叶斯方法求得模型的均值参数和形状参数,进而得到上述寿命预测值的概率密度分布函数,然后得到基准温度T1下氢气传感器的可靠度函数R(t);
S7、根据预设可靠性阈值计算得到传感器失效时间并确定计量周期;根据氢气传感器的整体性能在进行重新确认或后续检定时保持在所期望的合格范围内的概率Rdefault;当R(t0)=Rdefault时,得到响应终止时间t0,则该氢气传感器的计量周期为Tcal=a01t0
2.如权利要求1所述的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:S2步骤中,所述老化温度的最大值为Tn,设定温度间隔ΔT,设置n个老化温度,第i个老化温度为Ti,i=1,2,3,...,i,...n;设定老化时间间隔Δt,老化总时长为m天,则第i个老化温度下的老化时间表示为ti,j,j=0,Δt,2Δt,3Δt,...,m。
3.如权利要求2所述的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:S2步骤中,每个老化温度选择试验样品至少3个;在加速热老化试验开始之前,对用于存放试验样品的试验罐体放置于50℃/50Pa真空干燥箱中干燥2h,将试验样品与航空插头相连,然后密封试验罐体,测试不同老化温度下不同老化时间下的氢气传感器电阻值的响应曲线和恢复曲线。
4.如权利要求1所述的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:S3步骤中,氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的电阻值响应曲线的测试方法具体如下:
将存放试验样品的试验罐体置于恒温箱中,调节恒温箱内温度值设定老化温度;当存放试验样品的试验罐体中温度稳定在设定老化温度后,进行数据采集和保存;
抽取试验罐体内空气,当试验罐体内真空度达到预设真空度后,停止抽取;
向试验罐体内通入氢气标准气体,且控制通入氢气标准气体的气流量不小于设定气流量;
当试验罐体内气压为标准大气压后,则打开试验罐体的排气口,并继续通入氢气标准气体设定时间后关闭试验罐体的进气口和排气口;观察采集到的数据直至数据保持稳定;
从氢气标准气体输入时刻开始到数据稳定时刻的电阻值曲线即为响应曲线。
5.如权利要求4所述的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:氢气传感器在不同老化温度、不同老化时间下的电阻值恢复曲线的测试方法具体如下:
确保试验罐体中温度稳定在设定老化温度后,进行数据采集和保存;
向试验罐体的进气口通入纯氮气,并打开排气口,控制通入纯氮气的气流量不小于设定气流量,观察采集到的数据直至数据保持稳定,从纯氮气输入时刻开始到数据稳定时刻的电阻值曲线即为电阻值的恢复曲线。
6.如权利要求1所述的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:S5步骤中,加速因子的求解过程具体如下:
在基准温度下氢气传感器的响应值衰退规律的回归方程形式为ResT1(t)=fs(t);
在基准温度下氢气传感器的恢复值衰退规律的回归方程形式为RecT1(t)=fc(t);
式中,t代表老化时间,从0开始的连续值;fs(t)、fc(t)为回归函数;
在其余老化温度T2,T3,...,Ti,...,Tn下的老化时间ti,j下将其通过加速因子ai1由时温等效原理折算到基准温度T1下的老化时间为ti1_k,i=2,3,...,n;k=l,2,...,X,X表示第i个老化温度下对应不同老化时间的响应值个数和恢复值个数,
加速因子ai1的取值通过对目标函数βi寻优得到,ti1_k=ai1ti,j;式中,ti1_k为老化温度Ti下老化时间折算到基准温度下的老化时间,将ti1_k分别代入到ResT1(t)=fs(t)和RecT1(t)=fc(t)中,得到老化温度T2,T3,...,Ti,...,Tn下在基准温度下的响应值等效值fs(ti1_k)和恢复值等效值fc(ti1_k),以平均相对分散系数作为目标函数,每一个老化温度Ti下的目标函数βi形式为
采用参数寻优算法对各加速因子进行不断迭代优化,使每一个老化温度Ti下的βi接近于0,得到ai2,ai3,...,ain的最优解;将n-1种不同温度下的加速性能衰退数据点等效平移至基准温度下的分布特性,对等效数据样本点进行回归计算,计算各个样本点的回归预测值相对原始值的绝对分散系数,回归模型的预测值分布在1.5倍分散线以内时,加速因子则具有较高的精度,否则加速因子需要再次计算。
7.如权利要求1所述的一种密闭环境中钯合金氢气传感器计量周期的确定方法,其特征在于:S6步骤中,贝叶斯方法中的先验分布通过马尔科夫链蒙特卡洛方法进行选择
式中,y为样本点个数,为待估计的模型参数向量,即参数μ和参数λ;f(·)表示概率密度分布函数。
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