CN117269704A - 铝电容器内爆检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种铝电容器内爆检测方法、装置、设备及存储介质。其中所述方法包括：通过对所述铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量，所述铝电容器通过检测头接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流，对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效；其中，当第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，判定铝电容器发生内爆失效；当第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，判定铝电容器发生内爆失效。本发明能实现铝电容器是否发生内爆失效的快速检测，解决了铝电容器是否发生内爆的检测技术问题，从而提高铝电容器老化效率和产品质量，进而优化铝电容器的生产制造与使用。
Description
技术领域
本发明涉及铝电容器检测技术领域，尤其涉及一种铝电容器内爆检测方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
铝电解电容器在其制造过程中难免会出现正负电极铝箔原材料缺陷、铝箔裁切后切边不整齐所产生的毛刺、电解纸杂质等缺陷。由于铝箔表面的氧化膜本身存在厚薄不均的缺陷，在缺陷处的耐压性能很差，这些薄弱部位电解液也会发生分解产生可燃性氢气；加上电极箔有毛剌或电解纸有杂质的位置其耐压值也远低于正常值。因此，在电容的老化过程中随着充电电压不断升高越发接近击穿点，当电压一旦到达击穿临界点时就产生了尖端放电，由于电容器内阻非常小，并且电容器储存了非常多的电能量，所以尖端放电时将产生闪火而出现爆炸现象。当能量较轻时则发生轻微闪火并将缺陷处的铝箔和电解纸击穿失效；当能量巨大时则足以将电容器铝壳炸穿，甚至有直接威胁到操作人员人身安全的危险。在铝电容器老化过程中的这种轻微闪火现象就称之为“电容器内爆”。
在老化工序中，当电容器内部出现轻微闪火而发生“内爆”时，往往在电容器的外观上难以发现异常。
发明内容
为了解决上述提出的至少一个技术问题，本发明提供一种铝电容器内爆检测方法、装置、设备及存储介质，以解决在老化工序中，当电容器内部出现轻微闪火而发生“内爆”时，往往在电容器的外观上难以发现异常的技术问题。
一种铝电容器内爆检测方法，包括：
对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量；
通过检测头将所述铝电容器接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流；
对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，其中，所述电流包括第一电流与第二电流，当所述第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效；当所述第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效。
优选地，所述对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量，包括：
将所述铝电容器的正端子与检测头的正极相连；
将所述铝电容器的负端子与所述检测头的负极相连；
所述检测头与所述铝电容器和电阻串联形成放电回路；
所述铝电容器通过所述放电回路中的电阻完成放电处理。
优选地，所述通过检测头将所述铝电容器接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流，包括：
在所述放电回路中加入直流电源，形成第一检测回路；
记录所述第一检测回路中平衡状态下的所述第一电流；
在所述放电回路中加入交流电源，形成第二检测回路；
记录所述第二检测回路中平衡状态下的所述第二电流。
优选地，在所述放电回路中加入直流电源，形成第一检测回路之后，还包括：
去除所述第一检测回路中的直流电源，形成所述放电回路；
所述铝电容器通过放电回路完成放电处理；
或者在所述记录所述第二检测回路中平衡状态下的所述第二电流之后，还包括：
去除所述第二检测回路中的交流电源，形成所述放电回路；
所述铝电容器通过放电回路完成放电处理。
优选地，所述对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，包括：
设定包括多个中间阈值、最低阈值和最高阈值组成阈值组合，所述阈值组合包括所述第一电流阈值组和所述第二电流阈值组；
根据所述第一电流在所述第一电流阈值组中所处的区间，以及所述第二电流在所述第二电流阈值组中所处的区间，判断所述铝电容器是否发生内爆失效以及内爆失效程度。
优选地，在所述对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量之前，还包括：计算所述铝电容器的劣化概率分布；
所述计算所述铝电容器的劣化概率分布包括：
计算所述铝电容器每一次充放电完成后损失的电容值；
将所述铝电容器每一次充放电完成后损失的电容值设定为独立分布且非负的随机参数，并遵从正态分布；
设定劣化阈值，当所述铝电容器电容值损失量大于所述劣化阈值时，定义所述铝电容器达到使用寿命；
根据所述独立分布且非负的随机参数与所述劣化阈值，得到所述铝电容器的劣化概率分布；
通过多次测试完善所述劣化概率分布，并将所述劣化概率分布从离散形式优化为连续形式。
优选地，在所述通过多次测试完善所述劣化概率分布，并将所述劣化概率分布从离散形式优化为连续形式之后，还包括：利用所述劣化概率分布，优化检测资源利用；
所述利用所述劣化概率分布，优化检测资源利用包括：
根据所述劣化概率分布，使用矩阵估算法计算得到所述铝电容器的寿命平均值和寿命标准差；
根据所述寿命平均值和所述寿命标准差，计算得到所述铝电容器的寿命期望值；
根据所述铝电容器的寿命期望值，选取接近或超过所述寿命期望值的所述铝电容器，执行所述铝电容器内爆检测方法，优化检测资源利用，以供指导使用者对拟采购的电容产品进行选型。
一种铝电容器内爆检测装置，包括：
连接放电模块，用于对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量；
通电检测模块，用于通过检测头将所述铝电容器接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流；
数据分析模块，用于对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，其中，所述电流包括第一电流与第二电流，当所述第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效；当所述第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效。
一种电子设备，包括：处理器、发送装置、输入装置、输出装置和存储器，所述存储器用于存储计算机程序代码，所述计算机程序代码包括计算机指令，当所述处理器执行所述计算机指令时，所述电子设备执行铝电容器内爆检测方法。
一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被电子设备的处理器执行时，使所述处理器执行铝电容器内爆检测方法。
本发明使用一种铝电容器内爆检测方法、装置、设备及存储介质，通过对所述铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量，所述铝电容器通过检测头接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流，对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，实现铝电容器是否发生内爆失效的快速检测，解决了铝电容器是否发生内爆的检测技术问题，从而提高铝电容器老化效率和产品质量，进而优化铝电容器的生产制造与使用。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，而非限制本公开。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或背景技术中的技术方案，下面将对本发明实施例或背景技术中所需要使用的附图进行说明。
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本发明公开的技术方案。
图1为本发明实施例提供的一种铝电容器内爆检测方法的流程示意图；
图2为本发明实施例提供的第一检测回路的示意图；
图3为本发明实施例提供的第二检测回路的示意图；
图4为本发明实施例提供的一种铝电容器内爆检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中术语“至少一种”表示多种中的任意一种或多种中的至少两种的任意组合，例如，包括A、B、C中的至少一种，可以表示包括从A、B和C构成的集合中选择的任意一个或多个元素。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
另外，为了更好地说明本发明，在下文的具体实施方式中给出了众多的具体细节。本领域技术人员应当理解，没有某些具体细节，本发明同样能够实施。在一些实例中，对于本领域技术人员熟知的方法、手段、元件和电路未作详细描述，以便于凸显本发明的主旨。
铝电解电容器在其制造过程中难免会出现正负电极铝箔原材料缺陷、铝箔裁切后切边不整齐所产生的毛刺、电解纸杂质等缺陷。由于铝箔表面的氧化膜本身存在厚薄不均的缺陷，在缺陷处的耐压性能很差，这些薄弱部位电解液也会发生分解产生可燃性氢气；加上电极箔有毛剌或电解纸有杂质的位置其耐压值也远低于正常值。因此，在电容的老化过程中随着充电电压不断升高越发接近击穿点，当电压一旦到达击穿临界点时就产生了尖端放电，由于电容器内阻非常小，并且电容器储存了非常多的电能量，所以尖端放电时将产生闪火而出现爆炸现象。当能量较轻时则发生轻微闪火并将缺陷处的铝箔和电解纸击穿失效；当能量巨大时则足以将电容器铝壳炸穿，甚至有直接威胁到操作人员人身安全的危险。在铝电容器老化过程中的这种轻微闪火现象就称之为“电容器内爆”。
在老化工序中，当电容器内部出现轻微闪火而发生“内爆”时，往往在电容器的外观上难以发现异常。因此，有必要开发一种铝电容器內爆检测装置，以解决电容是否发生内爆的检测技术问题，从而提高铝电容器老化效率和产品质量。
实施例1
一种铝电容器内爆检测方法,如图1所示，包括：
S100，将铝电容器通过送料口传送带送入检测室；
S200，自动正位装置将铝电容器位置摆正；
S300，对铝电容器进行放电处理，释放铝电容器内部剩余电量；
S400，铝电容器通过检测头接入电源，获取铝电容器回路中的电流；
S500，对铝电容器回路中的电流进行数据分析，得到铝电容器隔直通交的能力，判断铝电容器是否发生内爆失效；
S600,当第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，所述铝电容器发生内爆失效；当第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，所述铝电容器发生内爆失效；
S700，自动分选装置将发生内爆失效的铝电容器自动剔除。
优选地，对铝电容器进行放电处理，完全释放铝电容器内部所有的剩余电量，包括：
将铝电容器的正端子与检测头的正极相连；
将铝电容器的负端子与检测头的负极相连；
检测头与铝电容器和电阻串联形成放电回路；
铝电容器通过放电回路中的电阻完成放电处理。
优选地，通过检测头对铝电容器接入电源，获取铝电容器回路中的电流，包括：
在放电回路中加入直流电源，形成第一检测回路，如图2所示；
记录第一检测回路中平衡状态下的第一电流；
在放电回路中加入交流电源，形成第二检测回路，如图3所示；
记录第二检测回路中平衡状态下的第二电流。
优选地，对铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断铝电容器是否发生内爆失效，包括：
当第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，铝电容器发生内爆失效；
当第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，铝电容器发生内爆失效；
在第一检测回路中，铝电容器相当于断路，因为电容器的构造是由两个极板被绝缘介质分开的，而绝缘介质被电解液完全浸润，如果对该电路接入直流电源，在接通瞬间将对电容器进行充电，电路中有瞬间充电电流产生，而当充电完毕后，电路中电流就停止，如果第一检测回路在平衡状态中一直通过直流电，说明铝电容器早已被內爆击穿而损坏失效；
当铝电容器接在交流电路中时，自由电荷实际上也没有通过铝电容器极板间的绝缘介质，只不过在幅度和方向不断变化的交流电压作用下，铝电容器不断地充电和放电，电路中不断有变化中的充电电流和放电电流产生，正是由于这种交替的充电和放电，使宏观上表现为电流通过了铝电容器，所以在第二检测回路中，铝电容器相当于短路，因此，当检测到电路中的铝电容器有电流通过，说明该铝电容器为良品，未发生内爆失效，当检测到电路中的铝电容器无电流通过，则内爆击穿铝电容器，铝电容器失效。
优选地，在放电回路中加入直流电源，形成第一检测回路或记录第二检测回路中平衡状态下的第二电流之后，还包括：
去除第一检测回路中的直流电源或去除第二检测回路中的交流电源，形成放电回路；
铝电容器通过放电回路完成放电处理。
优选地，除了对铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断铝电容器是否发生内爆失效，还包括：
设定包括多个中间阈值、最低阈值和最高阈值组成阈值组合，阈值组合包括第一电流阈值组和第二电流阈值组；
根据第一电流在第一电流阈值组中所处的区间，以及第二电流在第二电流阈值组中所处的区间，判断铝电容器的内爆失效程度。
优选地，对铝电容器进行放电处理，释放铝电容器内部剩余电量之前，还包括计算铝电容器的劣化概率分布：
计算铝电容器每一次充放电完成后损失的电容值：
其中，指铝电容器第n次充放电后损失的电容值，/>指发生第/>次充放电的电容值损失量；
将铝电容器每一次充放电完成后损失的电容值设定为独立分布且非负的随机参数，遵从正态分布：
其中，设置铝电容器电容值损失量达到5%即=0.05为劣化阈值，铝电容器电容值损失量达到5%即/>=0.05时定义铝电容器达到使用寿命，/>和指铝电容器的劣化概率；
设定劣化阈值，当铝电容器电容值损失量大于劣化阈值时，定义铝电容器达到使用寿命；
根据独立分布且非负的随机参数与劣化阈值，得到铝电容器的劣化概率分布；
通过多次测试完善劣化概率分布，将劣化概率分布从离散形式优化为连续形式；
当铝电容器放电次数n足够大时，考虑到中心极限定理和正态分布的对称性：
其中，指平均值，/>为标准差，/>为标准正态分布函数；
将劣化概率分布从离散形式优化为连续形式：
其中，指连续的时间，/>与/>为系数，/>，/>。
优选地，将劣化概率分布从离散形式优化为连续形式之后，还包括利用劣化概率分布，优化检测资源利用：
根据劣化概率分布，使用矩阵估算法计算得到铝电容器的寿命平均值和寿命标准差：
其中，指平均值，/>为标准差,/>指发生第/>次充放电的电容值损失量;
根据寿命平均值和寿命标准差，计算得到，铝电容器的寿命期望值:
其中，指铝电容器的寿命期望值，/>与/>为系数，/>，/>；
根据铝电容器的寿命期望值，选取接近或超过寿命期望值的铝电容器，执行一种铝电容器内爆检测方法，优化检测资源利用，指导使用者对拟采购的电容产品进行选型。
实施例2
一种铝电容器内爆检测装置，参考图4，包括：
电容器送料口模块，用于投放铝电容器；
电容器传送带模块，用于将铝电容器送入检测室；
自动正位模块，把电容器正负端子朝向检测室中的检测点；
连接模块用于对铝电容器进行放电处理，释放铝电容器内部剩余电量；
连接放电模块，用于对铝电容器进行放电处理，完全释放铝电容器内部所有的剩余电量；
通电检测模块，用于通过检测头对铝电容器接入电源，获取铝电容器回路中的电流；
数据分析模块，用于对铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断铝电容器是否发生内爆失效；
自动分选模块，用于将发生内爆失效的铝电容器分选淘汰。
实施例3
一种电子设备，包括：处理器、发送装置、输入装置、输出装置和存储器，存储器用于存储计算机程序代码，计算机程序代码包括计算机指令，当处理器执行计算机指令时，电子设备执行一种铝电容器内爆检测方法。
实施例4
一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机程序包括程序指令，程序指令当被电子设备的处理器执行时，使处理器执行一种铝电容器内爆检测方法。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。所属领域的技术人员还可以清楚地了解到，本发明各个实施例描述各有侧重，为描述的方便和简洁，相同或类似的部分在不同实施例中可能没有赘述，因此，在某一实施例未描述或未详细描述的部分可以参见其他实施例的记载。
在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者通过所述计算机可读存储介质进行传输。所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线（例如同轴电缆、光纤、数字用户线（digital subscriberline，DSL））或无线（例如红外、无线、微波等）方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质，(例如，软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如，数字通用光盘（digital versatiledisc，DVD）)、或者半导体介质（例如固态硬盘（solid state disk ，SSD））等。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，该流程可以由计算机程序来指令相关的硬件完成，该程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法实施例的流程。而前述的存储介质包括：只读存储器（read-only memory，ROM）或随机存储存储器（random access memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可存储程序代码的介质。
Claims (10)
1.一种铝电容器内爆检测方法，其特征在于，包括：
对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量；
通过检测头将所述铝电容器接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流；
对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，其中，所述电流包括第一电流与第二电流，当所述第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效；当所述第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效。
2.根据权利要求1所述的铝电容器内爆检测方法，其特征在于，所述对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量，包括：
将所述铝电容器的正端子与检测头的正极相连；
将所述铝电容器的负端子与所述检测头的负极相连；
所述检测头与所述铝电容器和电阻串联形成放电回路；
所述铝电容器通过所述放电回路中的电阻完成放电处理。
3.根据权利要求2所述的铝电容器内爆检测方法，其特征在于，所述通过检测头将所述铝电容器接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流，包括：
在所述放电回路中加入直流电源，形成第一检测回路；
记录所述第一检测回路中平衡状态下的第一电流；
在所述放电回路中加入交流电源，形成第二检测回路；
记录所述第二检测回路中平衡状态下的第二电流。
4.根据权利要求3所述的铝电容器内爆检测方法，其特征在于，在所述放电回路中加入直流电源，形成第一检测回路之后，还包括：
去除所述第一检测回路中的直流电源，形成放电回路；
所述铝电容器通过放电回路完成放电处理；
或者在所述记录所述第二检测回路中平衡状态下的第二电流之后，还包括：
去除所述第二检测回路中的交流电源，形成放电回路；
所述铝电容器通过放电回路完成放电处理。
5.根据权利要求4所述的铝电容器内爆检测方法，其特征在于，所述对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，包括：
设定包括多个中间阈值、最低阈值和最高阈值组成阈值组合，所述阈值组合包括第一电流阈值组和第二电流阈值组；
根据所述第一电流在所述第一电流阈值组中所处的区间，以及所述第二电流在所述第二电流阈值组中所处的区间，判断所述铝电容器是否发生内爆失效以及内爆失效程度。
6.根据权利要求5所述的铝电容器内爆检测方法，其特征在于，在所述对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量之前，还包括：计算所述铝电容器的劣化概率分布；
所述计算所述铝电容器的劣化概率分布包括：
计算所述铝电容器每一次充放电完成后损失的电容值；
将所述铝电容器每一次充放电完成后损失的电容值设定为独立分布且非负的随机参数，并遵从正态分布；
设定劣化阈值，当所述铝电容器电容值损失量大于所述劣化阈值时，定义所述铝电容器达到使用寿命；
根据所述独立分布且非负的随机参数与所述劣化阈值，得到所述铝电容器的劣化概率分布；
通过多次测试完善所述劣化概率分布，并将所述劣化概率分布从离散形式优化为连续形式。
7.根据权利要求6所述的铝电容器内爆检测方法，其特征在于，在所述通过多次测试完善所述劣化概率分布，并将所述劣化概率分布从离散形式优化为连续形式之后，还包括：利用所述劣化概率分布，优化检测资源利用；
所述利用所述劣化概率分布，优化检测资源利用包括：
根据所述劣化概率分布，使用矩阵估算法计算得到所述铝电容器的寿命平均值和寿命标准差；
根据所述寿命平均值和所述寿命标准差，计算得到所述铝电容器的寿命期望值；
根据所述铝电容器的寿命期望值，选取接近或超过所述寿命期望值的铝电容器执行所述铝电容器内爆检测方法，优化检测资源利用，以供指导使用者对拟采购的电容产品进行选型。
8.一种铝电容器内爆检测装置，其特征在于，包括：
连接放电模块，用于对铝电容器进行放电处理，释放所述铝电容器内部剩余电量；
通电检测模块，用于通过检测头将所述铝电容器接入电源，获取所述铝电容器回路中的电流；
数据分析模块，用于对所述铝电容器回路中的电流进行数据分析，判断所述铝电容器是否发生内爆失效，其中，所述电流包括第一电流与第二电流，当所述第一电流大于第一电流阈值组中的最低阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效；当所述第二电流小于设定的第二电流阈值组中的最高阈值时，判定所述铝电容器发生内爆失效。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、发送装置、输入装置、输出装置和存储器，所述存储器用于存储计算机程序代码，所述计算机程序代码包括计算机指令，当所述处理器执行所述计算机指令时，所述电子设备执行如权利要求1~7中任意一项所述的铝电容器内爆检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被电子设备的处理器执行时，使所述处理器执行如权利要求1~7中任意一项所述的铝电容器内爆检测方法。
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