CN117220795B - 一种校准系统和校准方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及通信技术领域，提供了一种校准系统和校准方法。校准系统包括无线综合测试仪和校准板；校准板包括射频开关、开路模块、短路模块、负载模块和振荡模块；无线综合测试仪包括第一端口，第一端口通过外部部件与校准板的射频开关的不动端连接，外部部件包括射频线缆；射频开关的第一动端与开路模块连接，射频开关的第二动端与短路模块连接，射频开关的第三动端与负载模块连接；振荡模块用于产生周期性的脉冲信号；射频开关与振荡模块连接，用于根据脉冲信号，在负载模块、开路模块和短路模块之间按照预设顺序切换选通；无线综合测试仪用于根据回波信号确定外部部件的损耗值。采用本申请可以提高测试效率和测试的稳定性。

Description

一种校准系统和校准方法

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种校准系统和校准方法。

背景技术

无线电子设备的测量通常是采用射频测试仪表对其收发电路在射频端口的输出功率、频率响应、动态范围、调制解调等射频指标测试。射频测试仪表与无线电子设备端口之间通常通过射频线缆、射频开关、功分器等外部部件相连，以达到互连、切换路径、分路等作用。信号在通过外部部件时存在一定的损耗。

相关技术中，可以通过矢量网络分析仪（VNA）对外部部件测量得到外部部件的损耗值，并将其补偿在测试结果中，以对外部部件进行校准。但这种方法需要在产线配置昂贵的矢量网络分析仪，并且需要将外部部件从测试台拆解下来校准，影响测试效率和成本。

近些年，一些射频测试仪表，例如对无限综合测试仪进行进一步开发，在无线综合测试仪中增加了线缆损耗校准选件，支持在不拆外部部件的情况下对其损耗进行校准。线缆损耗校准过程，需要两个治具参与，分别是开路部件和短路部件。无线综合测试仪分别对开路部件和短路部件的回波测量，计算得到外部部件损耗值。由于开路部件和短路部件是两个独立的板卡或器件，这个测量过程需要手动的更换开路板或短路板，测试效率较低，而且，人工参与换板的操作，可能会造成测试的稳定性下降。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例提供了一种校准系统和校准方法，以解决现有技术中存在的通过人工手动换板操作，导致测试效率较低和稳定性下降问题。

本申请实施例的第一方面，提供了一种校准系统，该校准系统包括无线综合测试仪和校准板；

校准板包括射频开关、开路模块、短路模块、负载模块和振荡模块；

无线综合测试仪包括第一端口，第一端口通过外部部件与校准板的射频开关的不动端连接，外部部件包括射频线缆；

射频开关的第一动端与开路模块连接，射频开关的第二动端与短路模块连接，射频开关的第三动端与负载模块连接；

振荡模块用于产生周期性的脉冲信号；

射频开关与振荡模块连接，用于根据脉冲信号，在负载模块、开路模块和短路模块之间按照预设顺序切换选通；

无线综合测试仪用于，通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同；

无线综合测试仪还用于，根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值。

本申请实施例的第二方面，提供了一种校准方法，应用于如第一方面的校准系统的无线综合测试仪；无线综合测试仪的第一端口通过外部部件与校准系统的校准板的射频开关的不动端连接，校准方法包括：

通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同；

根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值。

本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果包括：本申请实施例提供的校准系统包括无线综合测试仪和校准板；校准板包括振荡模块、射频开关、开路模块、短路模块和负载模块；射频开关与振荡模块连接，用于根据脉冲信号，在负载模块、开路模块和短路模块之间按照预设顺序切换选通。无线综合测试仪通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号，根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值。采用上述技术手段，省去了测量过程中需要人工进行手动换板的操作，从而提高了测试效率。由于无需人工换板操作，可以提高测试的稳定性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本申请实施例提供的一种校准系统的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种校准方法的流程示意图；

图3是本申请实施例提供的另一种校准方法的流程示意图。

附图标记：

10-无线综合测试仪，11-第一端口，20-校准板，21-射频开关，22-开路模块，23-短路模块，24-负载模块，25-振荡模块，26-电池，27-第二端口，30-外部部件。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

下面结合本申请中的附图描述本申请的实施例。应理解，下面结合附图所阐述的实施方式，是用于解释本申请实施例的技术方案的示例性描述，对本申请实施例的技术方案不构成限制。

本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除实现为本技术领域所支持其他特征、信息、数据、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组合等。应该理解，当我们称一个元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，该一个元件可以直接连接或耦接到另一元件，也可以指该一个元件和另一元件通过中间元件建立连接关系。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

本申请实施例提供了一种校准系统，如图1所示，该校准系统包括无线综合测试仪10和校准板20。

具体的，校准板20包括射频开关21、开路模块22、短路模块23、负载模块24和振荡模块25；无线综合测试仪10包括第一端口11，第一端口11通过外部部件30与校准板20的射频开关21的不动端连接，外部部件30包括射频线缆；射频开关21的第一动端与开路模块22连接，射频开关21的第二动端与短路模块23连接，射频开关21的第三动端与负载模块24连接；振荡模块25用于产生周期性的脉冲信号；射频开关21与振荡模块25连接，用于根据脉冲信号，在负载模块24、开路模块22和短路模块23之间按照预设顺序切换选通。

当射频开关21切换选通开路模块22时，无线综合测试仪10通过外部部件30与校准板20的开路模块22电连接，无线综合测试仪10通过外部部件30处于开路状态，无线综合测试仪10发送的测试信号通过外部部件30传输至校准板20的开路模块22，校准板20的开路模块22根据该测试信号进行反射形成一个回波信号。

当射频开关21切换选通短路模块23时，无线综合测试仪10通过外部部件30与校准板20的短路模块23电连接，无线综合测试仪10通过外部部件30处于短路状态，无线综合测试仪10发送的测试信号通过外部部件30传输至校准板20的短路模块23，校准板20的短路模块23根据该测试信号进行反射形成一个回波信号。

当射频开关21切换选通负载模块24时，无线综合测试仪10通过外部部件30与校准板20的负载模块24电连接，无线综合测试仪10通过外部部件30处于连接负载状态，无线综合测试仪10发送的测试信号通过外部部件30传输至校准板20的负载模块24，校准板20的负载模块24根据该测试信号不形成回波信号或者形成一个低于预设值的回波信号。

无线综合测试仪10用于，通过外部部件30向校准板20依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块24、开路模块22和短路模块23，并接收校准板20的负载模块24、开路模块22和短路模块23根据测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同。

无线综合测试仪10还用于，根据校准板20的开路模块22和短路模块23形成的回波信号确定外部部件30的损耗值。

可选地，振荡模块25将产生的脉冲信号发送至射频开关21，脉冲信号的上升沿触发射频开关21在负载模块24、开路模块22和短路模块23之间按照预设顺序切换选通。

本申请实施例提供的校准系统包括无线综合测试仪和校准板；校准板包括振荡模块、射频开关、开路模块、短路模块和负载模块；射频开关与振荡模块连接，用于根据脉冲信号，在负载模块、开路模块和短路模块之间按照预设顺序切换选通。无线综合测试仪通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号，根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值。采用上述技术手段，省去了测量过程中需要人工进行手动换板的操作，从而提高了测试效率。由于无需人工换板操作，可以提高测试的稳定性。

在一些实施例中，如图1所示，校准板20还包括电池26和第二端口27。

具体的，电池26与振荡模块25连接，用于给振荡模块25供电。第二端口27与射频开关21的不动端连接，第一端口11通过外部部件30与校准板20的第二端口27连接。

在一些实施例中，外部部件30还可以包括射频开关和功分器中的至少一种。

在一些实施例中，负载模块24的阻值为50欧姆。

在一些实施例中，脉冲信号的周期为第一时长。可选地，该第一时长可以为1ms（毫秒）、2ms、3ms等，本申请不做限定。如果第一时长为1毫秒，则脉冲信号的周期为1ms，其频率为1kHz（千赫兹）。

无线综合测试仪10具体用于，执行如下循环：

通过外部部件30向校准板20第一次发送测试信号，并接收校准板20根据测试信号进行反射形成的第一回波信号；

如果在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的第一回波信号低于预设值，开始计时；

间隔第一时长通过外部部件30向校准板20第二次发送测试信号，并接收校准板20根据测试信号进行反射形成的第二回波信号；

再次间隔第一时长通过外部部件30向校准板20第三次发送测试信号，并接收校准板20根据测试信号进行反射形成的第三回波信号；

判断当前测试信号的频率是否为预设频率；

如果否，则将当前测试信号的频率增加预设步进频率Δf；

如果是，退出循环。

无线综合测试仪10还具体用于，根据第二回波信号和第三回波信号确定外部部件30的损耗值。

示例性地，如图1所示，无线综合测试仪10向校准板20依次发送频率为f₀、f₀、f₀、f₁、f₁、f₁、f₂、f₂、f₂、……、f_n、f_n、f_n的测试信号，相邻两个信号组之间的信号频率相差预设步进频率Δf，例如，频率为f₀、f₀、f₀的测试信号为第一个信号组，频率为f₁、f₁、f₁的测试信号为第二个信号组，……,频率为f_n、f_n、f_n的测试信号为第N+1个信号组，f₁- f₀=Δf，f₂- f₁=Δf，……，f_n- f_n-1=Δf；校准板20根据该测试信号依次反射形成第一回波信号、第二回波信号、第三回波信号、第一回波信号、第二回波信号、第三回波信号、……、第一回波信号、第二回波信号、第三回波信号。第一回波信号指根据校准板20的负载模块24进行反射形成的回波信号；第二回波信号和第三回波信号分别指根据校准板20的开路模块22和短路模块23进行反射形成的回波信号。可选地，第二回波信号指根据校准板20的开路模块22进行反射形成的回波信号；第三回波信号指根据校准板20的短路模块23进行反射形成的回波信号。或者，第二回波信号指根据校准板20的短路模块23进行反射形成的回波信号；第三回波信号指根据校准板20的开路模块22进行反射形成的回波信号。

具体的，每当无线综合测试仪在预设时间内未接收到校准板根据测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的第一回波信号低于预设值时，就启动内部的计时器开始计时，以间隔第一时长依次发送各频率的测试信号，实现对外部部件的校准。

本实施例中，通过采用无线综合测试仪内部计时器定时的方法，相较于增加控制的方法，简单便捷，易于应用，成本低。而通过增加控制的方法较为复杂。通过每当无线综合测试仪在预设时间内未接收到校准板根据测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的第一回波信号低于预设值时，就启动内部的计时器开始计时，可以更加准确得到根据校准板的开路模块和短路模块进行反射形成的每个回波信号，使得测试更加准确。

具体的，切换选通的预设顺序可以是负载模块24、开路模块22、短路模块23，也可以是负载模块24、短路模块23、开路模块22。在一些实施例中，射频开关21可以按照第一种预设顺序依次切换选通，即依次切换选通负载模块24、开路模块22、短路模块23、负载模块24、开路模块22、短路模块23……；射频开关21还可以按照第二种预设顺序依次切换选通，即依次切换选通负载模块24、短路模块23、开路模块22、负载模块24、短路模块23、开路模块22……；当然，还可以按照其他预设顺序切换选通，本申请不做具体限定。

在一种实施例中，如果射频开关21按照第一种预设顺序依次切换选通。

在T=T0+3×n×q时，此时时刻T为无线综合测试仪10在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻，此时射频开关21切换至负载模块24；其中：T0为无线综合测试仪10首次在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻，此时射频开关21切换至负载模块24；n=0,1,2,…,N，N为不小于0的整数，n为频率序号，共N+1个频率的测试信号；q为第一时长。

在T=T0+3×n×q+1×q时，此时时刻T为无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时射频开关21切换至开路模块22。

在T=T0+3×n×q+2×q时，此时时刻T为无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时射频开关21切换至短路模块23。

具体的，例如q=1毫秒。

当n=0时，无线综合测试仪10向校准板20发射的测试信号的频率均为f₀，无线综合测试仪10在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻T=T0，此时射频开关21切换至负载模块24；无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+1，此时射频开关21切换至开路模块22；无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+2，此时射频开关21切换至短路模块23。

当n=1时，无线综合测试仪10向校准板20发射的测试信号的频率均为f₁，无线综合测试仪10在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻T=T0+3，此时射频开关21切换至负载模块24；无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+4，此时射频开关21切换至开路模块22；无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+5，此时射频开关21切换至短路模块23。

在另一种实施例中，如果射频开关21按照第二种预设顺序依次切换选通。

在T=T0+3×n×q时，此时时刻T为无线综合测试仪10在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻，此时射频开关21切换至负载模块24。

在T=T0+3×n×q+1×q时，此时时刻T为无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时射频开关21切换至短路模块23。

在T=T0+3×n×q+2×q时，此时时刻T为无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时射频开关21切换至开路模块22。

具体的，例如q=1毫秒。

当n=0时，无线综合测试仪10向校准板20发射的测试信号的频率均为f₀，无线综合测试仪10在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻T=T0，此时射频开关21切换至负载模块24；无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+1，此时射频开关21切换至短路模块23。无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+2，此时射频开关21切换至开路模块22。

当n=1时，无线综合测试仪10向校准板20发射的测试信号的频率均为f₁，无线综合测试仪10在预设时间内未接收到校准板20根据测试信号反射形成的回波信号或者接收到的回波信号低于预设值的时刻T=T0+3，此时射频开关21切换至负载模块24；无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+4，此时射频开关21切换至短路模块23。无线综合测试仪10在预设时间内接收到校准板20根据测试信号进行反射形成的回波信号的时刻T=T0+5，此时射频开关21切换至开路模块22。

基于上述的射频开关21按照两种预设顺序依次切换选通。当T=T0+3×n×q+1×q和T=T0+3×n×q+2×q时，无线综合测试仪10可以接收到开路模块22和短路模块23进行反射形成的回波信号，并将得到的回波信号构成一个数组，通过损耗值算法确定外部部件30的损耗值。如果第一时长q为1ms，在这个流程中，每3ms为一个频率的测试周期，如果校准N+1个频率的测试信号，则整个校准过程需要3×(N+1)毫秒。

基于同一发明构思，本申请实施例提供了一种校准方法，应用于如上述任意实施例提供的校准系统的无线综合测试仪10；无线综合测试仪10的第一端口11通过外部部件30与校准系统的校准板20的射频开关21的不动端连接，如图2所示，校准方法包括：

S100：通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同；

S200：根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值。

本申请实施例根据上述实施例提供的校准板提供了一种新的校准方法，无线综合测试仪通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同，根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值。

在一些实施例中，脉冲信号的周期为第一时长；如图3所示，通过外部部件向校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据测试信号进行反射形成的回波信号，包括：执行如下循环：

S101：通过外部部件向校准板第一次发送测试信号，并接收校准板根据测试信号进行反射形成的第一回波信号；

S102：如果在预设时间内未接收到校准板根据测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的第一回波信号低于预设值，开始计时；

S103：间隔第一时长通过外部部件向校准板第二次发送测试信号，并接收校准板根据测试信号进行反射形成的第二回波信号；

S104：再次间隔第一时长通过外部部件向校准板第三次发送测试信号，并接收校准板根据测试信号进行反射形成的第三回波信号；

S105：判断当前测试信号的频率是否为预设频率；

S106：如果否，则将当前测试信号的频率增加预设步进频率；

S107：如果是，退出循环；

以及，根据校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定外部部件的损耗值，包括：

S201：根据第二回波信号和第三回波信号确定外部部件的损耗值。

示例性地，如图1所示，无线综合测试仪10向校准板20依次发送频率为f₀、f₀、f₀、f₁、f₁、f₁、f₂、f₂、f₂、……、f_n、f_n、f_n的测试信号，相邻两个信号组之间的信号频率相差预设步进频率Δf，例如，频率为f₀、f₀、f₀的测试信号为第一个信号组，频率为f₁、f₁、f₁的测试信号为第二个信号组，……,频率为f_n、f_n、f_n的测试信号为第N+1个信号组，f₁- f₀=Δf，f₂- f₁=Δf，……，f_n- f_n-1=Δf；校准板20根据该测试信号依次反射形成第一回波信号、第二回波信号、第三回波信号、第一回波信号、第二回波信号、第三回波信号、……、第一回波信号、第二回波信号、第三回波信号。第一回波信号指根据校准板20的负载模块24进行反射形成的回波信号；第二回波信号和第三回波信号分别指根据校准板20的开路模块22和短路模块23进行反射形成的回波信号。可选地，第二回波信号指根据校准板20的开路模块22进行反射形成的回波信号；第三回波信号指根据校准板20的短路模块23进行反射形成的回波信号。或者，第二回波信号指根据校准板20的短路模块23进行反射形成的回波信号；第三回波信号指根据校准板20的开路模块22进行反射形成的回波信号。

具体的，每当无线综合测试仪在预设时间内未接收到校准板根据测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的第一回波信号低于预设值时，就启动内部的计时器开始计时，以间隔第一时长依次发送各频率的测试信号，实现对外部部件的校准。

本实施例中，通过采用无线综合测试仪内部计时器定时的方法，相较于增加控制的方法，简单便捷，易于应用，成本低。而通过增加控制的方法较为复杂。通过每当无线综合测试仪在预设时间内未接收到校准板根据测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的第一回波信号低于预设值时，就启动内部的计时器开始计时，可以更加准确得到根据校准板的开路模块和短路模块进行反射形成的每个回波信号，使得测试更加准确。

上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本申请的可选实施例，在此不再一一赘述。

术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种校准系统，其特征在于，包括无线综合测试仪和校准板；

所述校准板包括射频开关、开路模块、短路模块、负载模块和振荡模块；

所述无线综合测试仪包括第一端口，所述第一端口通过外部部件与所述校准板的所述射频开关的不动端连接，所述外部部件包括射频线缆；

所述射频开关的第一动端与所述开路模块连接，所述射频开关的第二动端与所述短路模块连接，所述射频开关的第三动端与所述负载模块连接；

所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号；

所述射频开关与所述振荡模块连接，用于根据所述脉冲信号，在所述负载模块、所述开路模块和所述短路模块之间按照预设顺序切换选通；

所述无线综合测试仪用于，通过所述外部部件向所述校准板依次发送多个与所述脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至所述校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收所述校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据所述测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个所述信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同；

所述无线综合测试仪还用于，根据所述校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定所述外部部件的损耗值。

2.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于，所述脉冲信号的周期为第一时长；

所述无线综合测试仪具体用于，执行如下循环：

通过所述外部部件向所述校准板第一次发送测试信号，并接收所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的第一回波信号；

如果在预设时间内未接收到所述校准板根据所述测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的所述第一回波信号低于预设值，开始计时；

间隔所述第一时长通过所述外部部件向所述校准板第二次发送所述测试信号，并接收所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的第二回波信号；

再次间隔所述第一时长通过所述外部部件向所述校准板第三次发送所述测试信号，并接收所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的第三回波信号；

判断当前所述测试信号的频率是否为预设频率；

如果否，则将当前所述测试信号的频率增加预设步进频率；

如果是，退出循环；

所述无线综合测试仪还具体用于，根据所述第二回波信号和所述第三回波信号确定所述外部部件的损耗值。

3.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于，

T=T0+3×n×q，时刻T为所述无线综合测试仪在预设时间内未接收到所述校准板根据所述测试信号反射形成的回波信号或者接收到的所述回波信号低于预设值的时刻，此时所述射频开关切换至所述负载模块；

T0为所述无线综合测试仪首次在预设时间内未接收到所述校准板根据所述测试信号反射形成的回波信号或者接收到的所述回波信号低于预设值的时刻，此时所述射频开关切换至所述负载模块；

n=0,1,2,…,N，N为不小于0的整数，n为频率序号；

q为第一时长。

4.根据权利要求3所述的校准系统，其特征在于，

T=T0+3×n×q+1×q，时刻T为所述无线综合测试仪在预设时间内接收到所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时所述射频开关切换至所述开路模块；

T=T0+3×n×q+2×q，时刻T为所述无线综合测试仪在预设时间内接收到所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时所述射频开关切换至所述短路模块。

5.根据权利要求3所述的校准系统，其特征在于，

T=T0+3×n×q+1×q，时刻T为所述无线综合测试仪在预设时间内接收到所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时所述射频开关切换至所述短路模块；

T=T0+3×n×q+2×q，时刻T为所述无线综合测试仪在预设时间内接收到所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的回波信号的时刻，此时所述射频开关切换至所述开路模块。

6.根据权利要求2所述的校准系统，其特征在于，

所述第一时长为1毫秒。

7.根据权利要求1至6任一所述的校准系统，其特征在于，所述校准板还包括电池和第二端口；

所述电池与所述振荡模块连接，用于给所述振荡模块供电；

所述第二端口与所述射频开关的不动端连接，所述第一端口通过外部部件与所述校准板的所述第二端口连接。

8.根据权利要求1至6任一所述的校准系统，其特征在于，所述负载模块的阻值为50欧姆。

9.一种校准方法，其特征在于，应用于如权利要求1至8任一所述的校准系统的无线综合测试仪；所述无线综合测试仪的第一端口通过外部部件与所述校准系统的校准板的射频开关的不动端连接，所述校准方法包括：

通过所述外部部件向所述校准板依次发送多个与脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至所述校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收所述校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据所述测试信号进行反射形成的回波信号；其中，连续的三个测试信号作为一个信号组，每个所述信号组内的测试信号的频率相同，且各信号组之间的信号频率不同；

根据所述校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定所述外部部件的损耗值。

10.根据权利要求9所述的校准方法，其特征在于，所述脉冲信号的周期为第一时长；

通过所述外部部件向所述校准板依次发送多个与所述脉冲信号一一对应的测试信号，使得连续的三个测试信号按照预设顺序分别发送至所述校准板的负载模块、开路模块和短路模块，并接收所述校准板的负载模块、开路模块和短路模块根据所述测试信号进行反射形成的回波信号，包括：执行如下循环：

通过所述外部部件向所述校准板第一次发送测试信号，并接收所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的第一回波信号；

如果在预设时间内未接收到所述校准板根据所述测试信号反射形成的第一回波信号或者接收到的所述第一回波信号低于预设值，开始计时；

间隔所述第一时长通过所述外部部件向所述校准板第二次发送所述测试信号，并接收所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的第二回波信号；

再次间隔所述第一时长通过所述外部部件向所述校准板第三次发送所述测试信号，并接收所述校准板根据所述测试信号进行反射形成的第三回波信号；

判断当前所述测试信号的频率是否为预设频率；

如果否，则将当前所述测试信号的频率增加预设步进频率；

如果是，退出循环；

以及，根据所述校准板的开路模块和短路模块形成的回波信号确定所述外部部件的损耗值，包括：

根据所述第二回波信号和所述第三回波信号确定所述外部部件的损耗值。