CN117012420B - 微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备 - Google Patents
微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117012420B CN117012420B CN202310884299.0A CN202310884299A CN117012420B CN 117012420 B CN117012420 B CN 117012420B CN 202310884299 A CN202310884299 A CN 202310884299A CN 117012420 B CN117012420 B CN 117012420B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- plateau
- working voltage
- measuring channel
- working
- ionization chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 230000004992 fission Effects 0.000 title claims abstract description 17
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims abstract description 113
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 30
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 15
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 10
- 238000010187 selection method Methods 0.000 description 5
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 2
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 2
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21C—NUCLEAR REACTORS
- G21C17/00—Monitoring; Testing ; Maintaining
- G21C17/10—Structural combination of fuel element, control rod, reactor core, or moderator structure with sensitive instruments, e.g. for measuring radioactivity, strain
- G21C17/108—Measuring reactor flux
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/185—Measuring radiation intensity with ionisation chamber arrangements
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明公开微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备，其方法包括：分别获取目标电离室中的中子通量最低和中子通量最高的测量通道的工作参数，分别记作最低通量工作参数和最高通量工作参数；根据最低通量工作参数确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围，以及根据最高通量工作参数确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围；取预设的允许工作电压范围、第一最优工作电压范围和第二最优工作电压范围的交集范围为目标电离室的可选取工作电压范围；基于可选取工作电压范围验证各测量通道的精度是否符合要求。本发明可确保工作电压的选取能满足目标电离室中所有测量通道的坪特性要求，保证各测量通道的测量精度。
Description
技术领域
本发明涉及压水堆核电堆芯中子通量测量技术领域，尤其涉及一种微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备。
背景技术
在核电厂中，为了确保堆芯反应在可控范围内，需要在堆芯中布置235U微型裂变电离室（下文简称微型裂变电离室）测量中子通量，以CPR1000 型核电机组为例，其包含5个微型裂变电离室，每个微型裂变电离室包括10个中子通量测量通道（下文简称测量通道），即堆芯中共布置了50个测量通道，以测量堆芯不同位置的中子通量。
对于每个微型裂变电离室，需要将其工作电压设置为合适值，才能使微型裂变电离室包括的10个测量通道均能准确地测量中子通量。在相关技术中，虽然微型裂变电离室的选取方法较多，根据供货商提供的推荐工作电压进行设置或根据行业标准进行设置等，这些工作电压选取方法虽然能在中子通量水平差异不大的情况下满足测量通道的坪特性要求，但当中子通量水平差异较大时，往往无法使中子通量高和中子通量低的测量通道同时满足坪特性要求。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，提供一种微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种微型裂变电离室工作电压的选取方法，包括以下步骤：
S10、分别获取目标电离室中的中子通量最低和中子通量最高的测量通道的工作参数，分别记作最低通量工作参数和最高通量工作参数；
S20、根据所述最低通量工作参数确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围，以及根据所述最高通量工作参数确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围；
S30、取预设的允许工作电压范围、所述第一最优工作电压范围和第二最优工作电压范围的交集范围作为所述目标电离室的可选取工作电压范围；
S40、基于所述可选取工作电压范围验证所述目标电离室中的各测量通道的精度是否符合要求。
优选地，所述S20包括：
S201、根据设定公式和所述最低通量工作参数计算出多个第一坪斜值，根据所述多个第一坪斜值拟合出第一坪斜曲线，并根据所述第一坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围；
S202、根据所述设定公式和所述最高通量工作参数计算出多个第二坪斜值，根据所述多个第二坪斜值拟合出第二坪斜曲线，并根据所述第二坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围。
优选地，所述最低通量工作参数和最高通量工作参数分别包括若干工作电压值和若干与所述工作电压值一一对应的电流值；
所述设定公式表示为：
；
为坪斜值，/>为根据待计算工作电压值设置的数据点区间内的数据点数量，/>为所述数据点区间内第/>个数据点的电流值，/>为所述数据点区间内第/>个数据点的电压值；其中，将所述数据点区间的起点电压值设置为所述待计算工作电压值减去第一预设电压值的差，将所述数据点区间的终点电压值设置为所述待计算工作电压值与所述第一预设电压值的和。
优选地，在所述S201中，所述根据所述第一坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围包括：
对所述第一坪斜曲线进行分析，将所述第一坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段所对应的工作电压区间作为第一最优工作电压范围；
在所述S202中，所述根据所述第二坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围包括：
对所述第二坪斜曲线进行分析，将所述第二坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段所对应的工作电压区间作为第二最优工作电压范围。
可选地，在所述S10之前，还包括：
S01、获取所述目标电离室或者与所述目标电离室同类型的电离室中各测量通道分别对应的历史相对功率水平，取各所述历史相对功率水平中的最大者所对应的测量通道为中子通量最高的测量通道，取各所述历史相对功率水平中的最小者所对应的测量通道为中子通量最低的测量通道。
可选地，在所述S10之前，还包括：
S01、选择所述目标电离室中距离反应堆堆芯中心位置最近的测量通道为中子通量最高的测量通道，选择所述目标电离室中距离反应堆堆芯中心位置最远的测量通道为中子通量最低的测量通道。
优选地，所述S40包括：将所述目标电离室的标准工作电压设置为所述可选取工作电压范围的中间值，分别获取与各所述测量通道一一对应的多个待验证工作参数，根据所述多个待验证工作参数和设定公式计算出与各所述测量通道一一对应的多个第三坪斜值，若某测量通道的第三坪斜值小于预设坪斜值，则判定该测量通道的精度符合要求。
优选地，所述预设坪斜值为0.1至0.2%/V。
本发明还构造了一种计算机储存介质，存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现以上所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法的步骤。
本发明还构造了一种控制设备，包括处理器及存储有计算机程序的存储器，所述处理器在执行所述计算机程序时实现以上所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法的步骤。
实施本发明的技术方案，提供一种微型裂变电离室工作电压的选取方法；首先通过获取低通量工作参数和最高通量工作参数；然后，根据最低通量工作参数确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围，以及根据最高通量工作参数确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围；然后，取预设的允许工作电压范围、第一最优工作电压范围和第二最优工作电压范围的交集范围作为目标电离室的可选取工作电压范围；最后，基于可选取工作电压范围验证目标电离室中的各测量通道的精度是否符合要求。本发明可以确保工作电压的选取能够满足目标电离室中所有测量通道的坪特性要求，有效避免测量通道的坪斜过大，还能保证各测量通道的测量精度。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明一些实施例中微型裂变电离室工作电压的选取方法的流程示意图；
图2是坪斜曲线的示意图。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
需要说明的是，附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
坪曲线为微型裂变电离室输出的电流信号（即电流值）随工作电压变化的曲线。
坪斜曲线为微型裂变电离室的坪斜随工作电压变化的曲线。
最优工作电压范围为微型裂变电离室的坪斜曲线中随工作电压变化较小的一段工作电压范围。
工作电压实际允许调节范围，以CPR1000 型核电机组为例，微型裂变电离室供电电压的可调节范围是50-195V。
图1是本发明一些实施例中微型裂变电离室工作电压的选取方法的流程示意图。该选取方法用于合理地选取出微型裂变电离室的工作电压，以使微型裂变电离室中的各个测量通道在中子通量水平差异较大时，也能准确地测量中子通量。该方法包括步骤S10、步骤S20、步骤S30和步骤S40。
步骤S10包括：分别获取目标电离室中的中子通量最低和中子通量最高的测量通道的工作参数，分别记作最低通量工作参数和最高通量工作参数。
在该步骤中，需说明的是，目标电离室（微型裂变电离室）包括多个测量通道，由于测量通道在堆芯上的位置不同，而越距离堆芯的中心越近，中子通量就越高，因此导致不同测量通道测量到中子通量水平不同。在一个微型裂变电离室中，中子通量最低的测量通道所对应的工作参数为最低通量工作参数，中子通量最高的测量通道所对应的工作参数为最高通量工作参数。其中，工作参数包括若干工作电压值和若干与每一个工作电压值一一对应的电流值，每个电流值对应为微型裂变电离室的工作电压设置为相应工作电压值时，对应测量通道输出的用于表征中子通量水平的电流大小。
步骤S20包括：根据最低通量工作参数确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围，以及根据最高通量工作参数确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围。
进一步地，在一些实施例中，步骤S20包括步骤S201和步骤S202。
步骤S201包括：根据设定公式和最低通量工作参数计算出多个第一坪斜值，根据多个第一坪斜值拟合出第一坪斜曲线，并根据第一坪斜曲线的变化趋势确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围。
在该步骤中，最低通量工作参数包括若干工作电压值和若干与工作电压值一一对应的电流值，而将每组具有对应关系的工作电压值和电流值代入到设定公式，便能计算出对应的第一坪斜值。因此根据最低通量工作参数和设定公式可计算出多个第一坪斜值，然后，便可以利用现有算法通过这些第一坪斜值拟合出第一坪斜曲线。
其中，设定公式表示为：
；
为坪斜值，/>为根据待计算工作电压值设置的数据点区间内的数据点数量，/>为数据点区间内第/>个数据点的电流值，/>为数据点区间内第/>个数据点的电压值；其中，将数据点区间的起点电压值设置为待计算工作电压值减去第一预设电压值的差，将数据点区间的终点电压值设置为待计算工作电压值与第一预设电压值的和。
可选地，第一预设电压值为25V，另外，数据点数量还与工作电压值的最小变化量有关，以CPR1000 型核电机组为例，微型裂变电离室的工作电压值的最小变化量（即设置精度）为1V，因此数据点数量可以取51。
在一个可选实施例中，可以通过以下方式根据第一坪斜曲线的变化趋势确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围：对第一坪斜曲线进行分析，将第一坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段所对应的工作电压区间作为第一最优工作电压范围。
需说明的是（适用于所有测量通道），参考图2，微型裂变电离室的测量通道的坪斜值会先随着工作电压增大而减小；减小到一定值后，坪斜值会出现一段稳定区域，即饱和区（对应为图2中线段F），在饱和区内坪斜值基本不随工作电压变化而变化；离开饱和区后坪斜值开始随工作电压增大而增大。在该实施例中，饱和区曲线特征的线段对应为微型裂变电离室工作在饱和区时所对应坪斜值线段，在该线段中坪斜值变化不大（即变化趋势较为“平坦”）的线段。可以理解的，由于工作电压设置在饱和区内时，坪斜值基本是不随工作电压变化而变化的，因此可以将第一坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段定为第一最优工作电压范围，这样可以提高中子通量最低的测量通道测量中子通量的精度。
进一步地，可以通过以下方式确定第一坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段：将第一坪斜曲线与预设曲线（可以为直线）进行重合度分析，将第一坪斜曲线中重合度超过第一预设值的线段确定为符合饱和区曲线特征的线段；或者，分析第一坪斜曲线中各个连续坪斜点的斜率变化，将斜率均小于第二预设值的连续线段确定为符合饱和区曲线特征的线段。
步骤S202包括：根据设定公式和最高通量工作参数计算出多个第二坪斜值，根据多个第二坪斜值拟合出第二坪斜曲线，并根据第二坪斜曲线的变化趋势确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围。
在该步骤中，最高通量工作参数包括若干工作电压值和若干与工作电压值一一对应的电流值，而将每组具有对应关系的工作电压值和电流值代入到设定公式，便能计算出对应的第二坪斜值。因此根据最高通量工作参数和设定公式可计算出多个第二坪斜值，然后，便可以利用现有算法通过这些第二坪斜值拟合出第二坪斜曲线。
在一个可选实施例中，可以通过以下方式根据第二坪斜曲线的变化趋势确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围：对第二坪斜曲线进行分析，将第二坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段所对应的工作电压区间作为第二最优工作电压范围。
在该实施例中，可以将第二坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段定为第二最优工作电压范围，这样可以提高中子通量最高的测量通道测量中子通量的精度。
进一步地，可以通过以下方式确定第二坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段：将第二坪斜曲线与预设曲线（可以为直线）进行重合度分析，将第二坪斜曲线中重合度超过第一预设值的线段确定为符合饱和区曲线特征的线段；或者，分析第二坪斜曲线中各个连续坪斜点的斜率变化，将斜率均小于第二预设值的连续线段确定为符合饱和区曲线特征的线段。
步骤S30包括：取预设的允许工作电压范围、第一最优工作电压范围和第二最优工作电压范围的交集范围作为目标电离室的可选取工作电压范围。
在该步骤中，需说明的是，测量通道的最优工作电压范围的边界值（包括上下边界值）大小与中子通量成正比，即对于目标电离室，中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围的下边界值会比其它测量通道所对应的最优工作电压范围的下边界值小，中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围的上边界值会比其它测量通道所对应的最优工作电压范围的上边界值大，因此只要将目标电离室的工作电压设置在可选取工作电压范围，既能确保工作电压的选取能够满足目标电离室中所有测量通道的坪特性要求，并确保各测量通道的测量精度。
以CPR1000 型核电机组为例，采用的电离室型号可以为CFUF43P，考虑到该型号的厂家定义坪斜为工作电压附近±25V的范围，以及在供电电压范围两侧各留出 5VDC 的裕量，可选地，将允许工作电压范围设置为80-165V。
步骤S40包括：基于可选取工作电压范围验证目标电离室中的各测量通道的精度是否符合要求。
实施该步骤是为了验证可选取工作电压范围是否满足目标电离室的实际工作需要，可避免因此人因失误或测量通道故障等原因影响可选取工作电压范围的选取准确度。
进一步地，在一些实施例中，步骤S40包括：将目标电离室的标准工作电压设置为可选取工作电压范围的中间值，分别获取与各测量通道一一对应的多个待验证工作参数，根据多个验证工作参数和设定公式计算出与各测量通道一一对应的多个第三坪斜值，若某测量通道的第三坪斜值小于预设坪斜值，则判定该测量通道的精度符合要求，若某测量通道的第三坪斜值不小于预设坪斜值，则判定该测量通道的精度不符合要求。
在该实施例中，以其中一个测量通道的第三坪斜值的计算过程为例：将目标电离室的标准工作电压设置为可选取工作电压范围的中间值后，基于标准工作电压确定数据点区间（数据点区间的确定方法如步骤S20中的一致，在此不再叙述），然后获取该数据点区间内的多个工作电压值和与每一个工作电压值一一对应的多个电流值，即得到了该测量通道所对应的待验证工作参数，最后根据待验证工作参数和设定公式便能计算出该测量通道的第三坪斜值。另外，取可选取工作电压范围的中间值为最优的验证值，具有较高的容错率，有助于提高验证过程的准确率。
进一步地，在步骤S40中，判定该测量通道的精度不符合要求之后，还可包括：生成报警信号，以提示工作人员复核工作电压的选取过程的操作是否存在纰漏或错误操作（如工作参数的输错等），以及检测相应测量通道是否出现故障。
在一些实施例中，预设坪斜值可以取0.1至0.2%/V。
在一些实施例中，在步骤S10之前还可以包括步骤S01。
在一个可选实施例中，步骤S01包括：获取目标电离室或者与目标电离室同类型的电离室中各测量通道分别对应的历史相对功率水平，取各历史相对功率水平中的最大者所对应的测量通道为中子通量最高的测量通道，取各历史相对功率水平中的最小者所对应的测量通道为中子通量最低的测量通道。
在该实施例中，相对功率水平是指燃料组件产生的功率与所有燃料组件产生功率平均值的比值，同时相对功率水平越高，测量通道的中子通量就越高，因此可以基于历史相对功率水平来选取出中子通量最高和中子通量最低的测量通道。需说明的是，与目标电离室同类型的电离室，是指该电离室中各测量通道的布置与目标电离室一致，而该实施例适用于历史监测数据较完整的核电厂，具有选取通道准确、可靠的优点。
在另一个可选实施例中，步骤S01包括：选择目标电离室中距离反应堆堆芯中心位置最近的测量通道为中子通量最高的测量通道，选择目标电离室中距离反应堆堆芯中心位置最远的测量通道为中子通量最低的测量通道。
在该实施例中，利用了距离反应堆堆芯中心位置越近，中子通量越高的特点去选取中子通量最高和中子通量最低的测量通道，该实施例适用于历史监测数据欠缺的核电厂，如新建的核电厂或历史监测数据中的相对功率水平存在异常等情况。
实施本发明的技术方案，提供一种微型裂变电离室工作电压的选取方法；首先通过获取低通量工作参数和最高通量工作参数；然后，根据最低通量工作参数确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围，以及根据最高通量工作参数确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围；然后，取预设的允许工作电压范围、第一最优工作电压范围和第二最优工作电压范围的交集范围作为目标电离室的可选取工作电压范围；最后，基于可选取工作电压范围验证目标电离室中的各测量通道的精度是否符合要求。本发明可以确保工作电压的选取能够满足目标电离室中所有测量通道的坪特性要求，有效避免测量通道的坪斜过大，还能保证各测量通道的测量精度。
本发明还提供了一种计算机储存介质，存储有计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现本发明实施例提供的微型裂变电离室工作电压的选取方法的步骤。
本发明还提供了一种控制设备，包括处理器及存储有计算机程序的存储器，处理器在执行计算机程序时实现本发明实施例提供的微型裂变电离室工作电压的选取方法的步骤。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器（RAM）、内存、只读存储器（ROM）、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
可以理解的，以上实施例仅表达了本发明的优选实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制；应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，可以对上述技术特点进行自由组合，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围；因此，凡跟本发明权利要求范围所做的等同变换与修饰，均应属于本发明权利要求的涵盖范围。
Claims (8)
1.一种微型裂变电离室工作电压的选取方法，其特征在于，包括以下步骤：
S10、分别获取目标电离室中的中子通量最低和中子通量最高的测量通道的工作参数，分别记作最低通量工作参数和最高通量工作参数；
S20、根据所述最低通量工作参数确定中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围，以及根据所述最高通量工作参数确定中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围；其中，所述S20包括：S201、根据设定公式和所述最低通量工作参数计算出多个第一坪斜值，根据所述多个第一坪斜值拟合出第一坪斜曲线，并根据所述第一坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围；S202、根据所述设定公式和所述最高通量工作参数计算出多个第二坪斜值，根据所述多个第二坪斜值拟合出第二坪斜曲线，并根据所述第二坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围；
S30、取预设的允许工作电压范围、所述第一最优工作电压范围和第二最优工作电压范围的交集范围作为所述目标电离室的可选取工作电压范围；
S40、基于所述可选取工作电压范围验证所述目标电离室中的各测量通道的精度是否符合要求；其中，所述S40包括：将所述目标电离室的标准工作电压设置为所述可选取工作电压范围的中间值，分别获取与各所述测量通道一一对应的多个待验证工作参数，根据所述多个待验证工作参数和设定公式计算出与各所述测量通道一一对应的多个第三坪斜值，若某测量通道的第三坪斜值小于预设坪斜值，则判定该测量通道的精度符合要求。
2.根据权利要求1所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法，其特征在于，所述最低通量工作参数和最高通量工作参数分别包括若干工作电压值和若干与所述工作电压值一一对应的电流值；
所述设定公式表示为：
；
为坪斜值，/>为根据待计算工作电压值设置的数据点区间内的数据点数量，/>为所述数据点区间内第/>个数据点的电流值，/>为所述数据点区间内第/>个数据点的电压值；其中，将所述数据点区间的起点电压值设置为所述待计算工作电压值减去第一预设电压值的差，将所述数据点区间的终点电压值设置为所述待计算工作电压值与所述第一预设电压值的和。
3.根据权利要求1所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法，其特征在于，在所述S201中，所述根据所述第一坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最低的测量通道所对应的第一最优工作电压范围包括：
对所述第一坪斜曲线进行分析，将所述第一坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段所对应的工作电压区间作为第一最优工作电压范围；
在所述S202中，所述根据所述第二坪斜曲线的变化趋势确定所述中子通量最高的测量通道所对应的第二最优工作电压范围包括：
对所述第二坪斜曲线进行分析，将所述第二坪斜曲线中符合饱和区曲线特征的线段所对应的工作电压区间作为第二最优工作电压范围。
4.根据权利要求1所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法，其特征在于，在所述S10之前，还包括：
S01、获取所述目标电离室或者与所述目标电离室同类型的电离室中各测量通道分别对应的历史相对功率水平，取各所述历史相对功率水平中的最大者所对应的测量通道为中子通量最高的测量通道，取各所述历史相对功率水平中的最小者所对应的测量通道为中子通量最低的测量通道。
5.根据权利要求1所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法，其特征在于，在所述S10之前，还包括：
S01、选择所述目标电离室中距离反应堆堆芯中心位置最近的测量通道为中子通量最高的测量通道，选择所述目标电离室中距离反应堆堆芯中心位置最远的测量通道为中子通量最低的测量通道。
6.根据权利要求1所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法，其特征在于，所述预设坪斜值为0.1至0.2%/V。
7.一种计算机储存介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序在被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法的步骤。
8.一种控制设备，其特征在于，包括处理器及存储有计算机程序的存储器，所述处理器在执行所述计算机程序时实现权利要求1至6任一项所述的微型裂变电离室工作电压的选取方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310884299.0A CN117012420B (zh) | 2023-07-18 | 2023-07-18 | 微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310884299.0A CN117012420B (zh) | 2023-07-18 | 2023-07-18 | 微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117012420A CN117012420A (zh) | 2023-11-07 |
| CN117012420B true CN117012420B (zh) | 2024-06-07 |
Family
ID=88575558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310884299.0A Active CN117012420B (zh) | 2023-07-18 | 2023-07-18 | 微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117012420B (zh) |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1531825A (fr) * | 1966-09-16 | 1968-07-05 | Reactor Centrum Nederland | Procédé et dispositif de mesure d'une contamination de surface |
| JPS62194482A (ja) * | 1986-02-21 | 1987-08-26 | Toshiba Corp | 放射線計測装置 |
| RU2169956C2 (ru) * | 1995-12-22 | 2001-06-27 | Сименс Акциенгезелльшафт | Способ и устройство для определения плотности нейтронного потока, в частности в ядерной энергетической установке |
| CN106382993A (zh) * | 2016-08-19 | 2017-02-08 | 浙江神州量子网络科技有限公司 | 一种单光子探测器的参数优化设置方法 |
| CN108133977A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-06-08 | 上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所） | 优化阻挡杂质带探测器工作温度的方法 |
| CN109142494A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-01-04 | 天津理工大学 | 一种针对电阻型电化学传感器最佳工作电压选取方法 |
| CN114204101A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-03-18 | 安徽江淮汽车集团股份有限公司 | 一种电动汽车的电池组匹配方法 |
| CN115762831A (zh) * | 2023-01-06 | 2023-03-07 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种基于裂变电离室的宽量程临界事故报警装置 |
| CN116344083A (zh) * | 2022-12-09 | 2023-06-27 | 中广核工程有限公司 | 一种微型裂变电离室故障诊断方法和系统 |
| CN116413762A (zh) * | 2023-04-10 | 2023-07-11 | 北京大学 | 激光质子加速器脉冲束流的气体电离室探测系统及方法 |
-
2023
- 2023-07-18 CN CN202310884299.0A patent/CN117012420B/zh active Active
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1531825A (fr) * | 1966-09-16 | 1968-07-05 | Reactor Centrum Nederland | Procédé et dispositif de mesure d'une contamination de surface |
| JPS62194482A (ja) * | 1986-02-21 | 1987-08-26 | Toshiba Corp | 放射線計測装置 |
| RU2169956C2 (ru) * | 1995-12-22 | 2001-06-27 | Сименс Акциенгезелльшафт | Способ и устройство для определения плотности нейтронного потока, в частности в ядерной энергетической установке |
| CN106382993A (zh) * | 2016-08-19 | 2017-02-08 | 浙江神州量子网络科技有限公司 | 一种单光子探测器的参数优化设置方法 |
| CN108133977A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-06-08 | 上海微波技术研究所（中国电子科技集团公司第五十研究所） | 优化阻挡杂质带探测器工作温度的方法 |
| CN109142494A (zh) * | 2018-10-10 | 2019-01-04 | 天津理工大学 | 一种针对电阻型电化学传感器最佳工作电压选取方法 |
| CN114204101A (zh) * | 2021-12-10 | 2022-03-18 | 安徽江淮汽车集团股份有限公司 | 一种电动汽车的电池组匹配方法 |
| CN116344083A (zh) * | 2022-12-09 | 2023-06-27 | 中广核工程有限公司 | 一种微型裂变电离室故障诊断方法和系统 |
| CN115762831A (zh) * | 2023-01-06 | 2023-03-07 | 中国工程物理研究院材料研究所 | 一种基于裂变电离室的宽量程临界事故报警装置 |
| CN116413762A (zh) * | 2023-04-10 | 2023-07-11 | 北京大学 | 激光质子加速器脉冲束流的气体电离室探测系统及方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 某核电厂在线式硼表测量准确度超标原因分析及改造研究;郑军伟等;核动力工程;20201231(第02期);第107-113页 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN117012420A (zh) | 2023-11-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101676559B (zh) | 风力涡轮机的警报掩码生成和状态监控的方法 | |
| CN114528172A (zh) | 一种晶圆芯片的测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| US20120330866A1 (en) | System and method for determining an optimum qc strategy for immediate release results | |
| CN108761343A (zh) | Soh校正方法及装置 | |
| CN111982245B (zh) | 主蒸汽流量的校准方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
| US20230028368A1 (en) | Method For Determining A Loss Of Capacity Of A Battery Storage Device, Apparatus, And Computer Program Product | |
| CN117269649A (zh) | 一种用于电能能源调度的安全检测方法及系统 | |
| CN117012420B (zh) | 微型裂变电离室工作电压的选取方法和控制设备 | |
| CN108877969B (zh) | 核功率理论模型建立及验证方法、系统及终端设备 | |
| US20230417839A1 (en) | Information processing apparatus, information processing method, information processing system, and non-transitory computer readable medium | |
| EP4120288A1 (en) | Nuclear control system with neural network | |
| CN110619413A (zh) | 用于评估风力发电机组健康度的方法及装置 | |
| CN110928264B (zh) | 数据处理、数据处理装置以及计算机可读取记录介质 | |
| JP6363497B2 (ja) | 中性子計測装置の調整装置及びその調整方法 | |
| CN113887989B (zh) | 电力系统可靠性评估方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
| CN111834025B (zh) | 核电厂安全相关仪表校验类监督项目周期延长的评价方法 | |
| US20220230769A1 (en) | System and method to determine reactivity | |
| CN110487315B (zh) | 一种仪表漂移的分析系统及方法 | |
| CN113608953A (zh) | 测试数据生成方法、装置、电子设备及可读存储介质 | |
| CN110362438B (zh) | 一种总线性能检测方法、装置、设备及可读存储介质 | |
| CN108038317B (zh) | 精密仪器性能参数保持期预测方法和系统 | |
| KR20140023676A (ko) | 노내계측기 신호 기반의 반경방향 첨두계수를 이용한 노심운전제한치감시계통의 Ｐｓｅｕｄｏ Ｈｏｔ Ｐｉｎ 출력분포 구성 방법 | |
| KR102580902B1 (ko) | 중수로 바나듐 검출기 고장 예측 모델링 시스템 및 그 방법 | |
| US11480596B2 (en) | Systems and methods for verifying and maintaining accuracy of metering devices | |
| EP4083422A1 (en) | Monitoring of wind direction measurements in wind parks |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant |