CN116953335A - 一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法 - Google Patents

一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN116953335A
CN116953335A CN202311212631.5A CN202311212631A CN116953335A CN 116953335 A CN116953335 A CN 116953335A CN 202311212631 A CN202311212631 A CN 202311212631A CN 116953335 A CN116953335 A CN 116953335A
Authority
CN
China
Prior art keywords
detection result
detected
magnetic field
current
information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202311212631.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116953335B (zh
Inventor
万宇昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shengwei Technology Hefei Co ltd
Original Assignee
Shengwei Technology Hefei Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shengwei Technology Hefei Co ltd filed Critical Shengwei Technology Hefei Co ltd
Priority to CN202311212631.5A priority Critical patent/CN116953335B/zh
Publication of CN116953335A publication Critical patent/CN116953335A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116953335B publication Critical patent/CN116953335B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0092Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring current only
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法,该装置包括:磁芯,设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;缠绕在所述磁芯上的线圈;连接所述线圈的激励检测模块,用于向所述线圈输出交流信号,以激励所述磁芯产生交流重复磁场,以及检测所述线圈上的电流信息和电压信息;所述激励检测模块还用于根据所述电流信息和所述电压信息获取所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。本发明根据电压信息和电流信息获取待检测直流信号或磁场的检测结果,量程大,精度高,成本低。

Description

一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法
技术领域
本发明总地涉及电流或磁场检测领域,更具体地涉及一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法。
背景技术
电流是一种重要的基本物理量,可以间接地计算或反映如磁场强度、位移、流体流速、热、光等不易直接测量的物理量,因此电流参数的精确快速测量尤为重要。研究人员一直致力于探索电流检测的方法,从早期直接测量的电阻法,到后来的如磁电表、分流器、互感器、罗氏线圈、霍尔传感器、磁通门传感器、电流检测芯片等一系列的间接检测方法或设备,可检测的电流大小、频率和精度在逐步加强。
在目前mA~kA级的直流电流检测领域,霍尔传感器和磁通门传感器是商业化产品所使用的主流的检测装置。霍尔传感器一般将霍尔元件置于磁路中,利用霍尔效应检测磁路中因电流产生的磁场的磁感应强度值,从而间接计算电流大小。霍尔传感器因结构简单、价格低廉得到广泛的使用,但因其主磁路需要开口,精度有限。而磁通门传感器利用磁芯的非线性特性和饱和时磁导率变化大的特点,检测外部直流偏置下输出信号的时间,幅值等差异,通过计算或反馈补偿等方式间接测试电流信号。上述两种检测装置都有开环和闭环两种形式,一般情况下,开环的特点是成本低但精度也低,闭环的特点是精度高但成本也高。
发明内容
在发明内容部分中引入了一系列简化形式的概念,这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本申请的发明内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征,更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。
本发明实施例一方面提供了一种用于检测直流信号或磁场的装置,包括:
磁芯,设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;
缠绕在所述磁芯上的线圈;
连接所述线圈的激励检测模块,用于向所述线圈输出交流信号,以激励所述磁芯产生交流重复磁场,以及检测所述线圈上的电流信息和电压信息;
所述激励检测模块还用于根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息和所述电压信息绘制电流-电压曲线;
根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的形状,以及预先存储的所述形状与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的面积,以及预先存储的所述面积与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息、所述电压信息、以及预先存储的所述电流信息和所述电压信息与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述磁芯为闭环磁芯或开环磁芯。
在一个实施例中,所述装置包括多个磁芯,每个所述磁芯上均缠绕有所述线圈,所述激励检测模块连接多个所述线圈。
本发明实施例另一方面提供一种用于检测直流信号或磁场的方法,所述方法包括:
向缠绕在磁芯上的线圈输出交流信号,以激励所述磁芯产生交流重复磁场,所述磁芯设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;
检测所述线圈上的电流信息和电压信息;
根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息和所述电压信息绘制电流-电压曲线;
根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的形状,以及预先存储的所述形状与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的面积,以及预先存储的所述面积与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息、所述电压信息、以及预先存储的所述电流信息和所述电压信息与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
本发明实施例的用于检测直流信号或磁场的装置和方法根据电压信息和电流信息获得待检测直流信号或磁场的检测结果,量程大,精度高,成本低。
附图说明
通过结合附图对本申请实施例进行更详细的描述,本申请的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本申请实施例的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本申请实施例一起用于解释本申请,并不构成对本申请的限制。在附图中,相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。
图1是本发明一个实施例的用于检测直流信号或磁场的装置的示意图;
图2是本发明一个实施例的电压-电流曲线的示意图;
图3是本发明一个实施例的磁芯损耗的曲线图;
图4是本发明一个实施例的用于检测直流信号或磁场的方法的示意性流程图。
具体实施方式
在下文的描述中,给出了大量具体的细节以便提供对本发明更为彻底的理解。然而,对于本领域技术人员而言显而易见的是,本发明可以无需一个或多个这些细节而得以实施。在其他的例子中,为了避免与本发明发生混淆,对于本领域公知的一些技术特征未进行描述。
应当理解的是,本发明能够以不同形式实施,而不应当解释为局限于这里提出的实施例。相反地,提供这些实施例将使公开彻底和完全,并且将本发明的范围完全地传递给本领域技术人员。在附图中,为了清楚,层和区的尺寸以及相对尺寸可能被夸大。自始至终相同附图标记表示相同的元件。
应当明白,当元件或层被称为“在...上”、“与...相邻”、“连接到”或“耦合到”其它元件或层时,其可以直接地在其它元件或层上、与之相邻、连接或耦合到其它元件或层,或者可以存在居间的元件或层。相反,当元件被称为“直接在...上”、“与...直接相邻”、“直接连接到”或“直接耦合到”其它元件或层时,则不存在居间的元件或层。应当明白,尽管可使用术语第一、第二、第三等描述各种元件、部件、区、层和/或部分,这些元件、部件、区、层和/或部分不应当被这些术语限制。这些术语仅仅用来区分一个元件、部件、区、层或部分与另一个元件、部件、区、层或部分。因此,在不脱离本发明教导之下,下面讨论的第一元件、部件、区、层或部分可表示为第二元件、部件、区、层或部分。
空间关系术语例如“在...下”、“在...下面”、“下面的”、“在...之下”、“在...之上”、“上面的”等,在这里可为了方便描述而被使用从而描述图中所示的一个元件或特征与其它元件或特征的关系。应当明白,除了图中所示的取向以外,空间关系术语意图还包括使用和操作中的器件的不同取向。例如,如果附图中的器件翻转,然后,描述为“在其它元件下面”或“在其之下”或“在其下”元件或特征将取向为在其它元件或特征“上”。因此,示例性术语“在...下面”和“在...下”可包括上和下两个取向。器件可以另外地取向(旋转90度或其它取向)并且在此使用的空间描述语相应地被解释。
在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本发明的限制。在此使用时,单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图包括复数形式,除非上下文清楚指出另外的方式。还应明白术语“组成”和/或“包括”,当在该说明书中使用时,确定所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在,但不排除一个或更多其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时,术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。
为了彻底理解本发明,将在下列的描述中提出详细的结构,以便阐释本发明提出的技术方案。本发明的优选实施例详细描述如下,然而除了这些详细描述外,本发明还可以具有其他实施方式。
现有的mA~kA级的直流电流检测技术主要有两种:
第一种检测技术是基于霍尔效应的直流电流检测方法,霍尔效应是当电流垂直于外磁场通过半导体时,载流子发生偏转,垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场,从而在半导体的两端产生电势差的现象,其中电势差的大小和外磁场的磁感应强度在一定范围内成正比关系。通过导体的电流会在导体周围产生磁场,经磁芯的汇聚后将与电流成比例的磁感应强度加在霍尔探头上,读取探头两端的电势差,从而间接测量通过导体的电流大小。
第二种检测技术是基于磁通门原理的直流电流检测方法,磁通门原理是易饱和磁芯在激励电流的作用下电感量随激励电流大小而变化,因而可以通过磁感应强度与磁场强度的非线性关系来测量磁场。一般情况下,通过精巧的结构设计,可避免在磁路中开口气隙,从而提高产品的精度。现有的更有效的方式是通过反馈闭环回路,来提高磁通门传感器的量程范围和精度。
现有的两种检测技术存在以下缺点:
在开环方式的应用领域,两种检测技术的精度都比较低,且量程范围较小;
在闭环方式的应用领域,霍尔传感器因磁路中必有气隙,从而必有漏磁,故精度最多到千分级;磁通门传感器通过复杂的设计和信号处理,可有效提高精度,但成本极高、信号处理复杂,并且产品的一致性不能得到有效的保障。
基于此,本发明实施例提出了一种能够避免上述缺点的大量程,高可靠性,高精度的新的检测装置和检测方法。下面结合附图,对本发明实施例的直流电流或磁场的检测装置和检测方法进行详细说明。在不冲突的情况下,下述的实施例及实施方式中的特征可以相互组合。
参见图1,本发明实施例的用于检测直流信号或磁场的装置包括磁芯110、线圈120和激励检测模块130。其中,磁芯110设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;线圈120缠绕在磁芯110上;激励检测模块130连接线圈120,用于向所述线圈120输出交流信号,以激励磁芯110产生交流重复磁场,以及检测线圈120上的电流信息和电压信息;激励检测模块130还用于根据线圈120上的电流信息和电压信息获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。其中,待检测的磁场可以是恒磁场或缓变磁场。
其中,磁芯110可以是如图1所示的环形,也可以是其他形状;并且磁芯110可以是闭环磁芯也可以是开环磁芯。磁芯110的形状也不限于圆形,例如还可以是方形、椭圆或其他形状。
当本发明实施例的装置用于检测直流信号时,通过待检测直流信号的导线可以穿过磁芯110的中心或者采用其他空间布局方式与磁芯110相邻设置。当本发明实施例的装置用于检测磁场时,磁芯110可以设置在磁场中。通过改变磁芯110的空间位置,可以测量空间不同方向的直流电流或磁场。
激励检测模块130用于产生交流信号并输出到缠绕在磁芯110上的线圈120,从而在磁芯110上产生交流重复磁场。激励检测模块130一方面通过线圈120读取磁芯110两端的电压信息,另一方面读取通过线圈120中的电流信息。在存在待检测直流信号时,电压信息和电流信息会发生一定的变化。
示例性地,线圈120还可以连接电阻,激励检测模块130获取的电压信息还可以是连接线圈120的电阻上的电压信息,或通过其他方式电压信息或电流信息。
激励检测模块130可以根据电压信息和电流信息在处理芯片中绘制电压-电流曲线,根据电压-电流曲线获得待检测直流信号或待检测磁场的信息。以下主要以对待检测直流信号进行检测为例进行描述。
参见图2,由于磁滞和磁损的存在,根据电压信息和电流信息绘制的电压电流曲线呈环状。不同情况下的电压-电流曲线的形状不同,其中,电压电流曲线210为无外部待检测直流信号时绘制的曲线,电压电流曲线220代表有外部待检测直流信号时绘制的曲线。当无外部待检测直流信号时,电压电流曲线210接近于圆形,而随着外部待检测直流信号大小的改变,电压值和电流值会发生变化,同时电压-电流曲线的形状也会发生变化。
基于上述原理,在一个实施例中,可以根据电流-电压曲线的形状,以及预先存储的形状与检测结果的对应关系,确定待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。
具体地,在装置出厂前,预先检测每一台装置的响应情况,并记录下全量程电压-电流曲线的形状。在使用该装置检测直流信号或磁场时,绘制出电压-电流曲线的形状后与预先存储的曲线形状进行对比,寻找到与实测的电压-电流曲线的形状最为匹配的预存曲线形状,并确定该预存曲线形状对应的直流信号的信息或磁场的信息,从而快速输出待检测直流信号或待检测磁场的检测结果。
在一些实施例中,可以将预存曲线的曲线形状进行分类,在比对时先确定实测曲线形状对应的分类,并在该分类下的多个预存曲线中进行对比,以寻找到与实测曲线匹配的预存曲线,从而提高匹配速度。
在另一个实施例中,可以根据电流-电压曲线的面积,以及预先存储的面积与检测结果的对应关系,确定待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。电压电流曲线的面积代表了磁芯的损耗。随着外部直流信号的幅值增加,磁芯的损耗会呈非线性增加,如图3所示,即外部直流信号的幅值与电压电流曲线的面积存在对应关系。因此,可以在装置出厂前预先测试每台装置的外部直流信号的幅值与电压-电流曲线的面积之间的对应关系,从而通过将实测的曲线面积与预存的曲线面积进行比对来得到待检测直流信号或待检测磁场的检测结果。
示例性地,如图3所示,由于同一个曲线面积可以对应两个电流幅值,因此,可以首先判断待检测直流信号的方向,根据曲线面积和信号方向得到信号的幅值。
除了根据电压-电流曲线的形状或面积得到待检测直流信号或待检测磁场的信息之外,还可以根据检测到的电流信息、电压信息、以及预先存储的电流信息和电压信息与检测结果的对应关系,确定待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。在该实施例中,可以在装置出厂前预先测试每台装置的检测结果与电压信息和电流信息之间的对应关系,从而在使用过程中通过查表等方式确定当前的电压信息和电流信息对应的待检测直流信号或待检测磁场的检测结果。
上文中以开环的方式描述了直流信号或磁场检测方法,可选地,也可以采用闭环或零磁通等方式获得待检测直流信号或待检测磁场的检测结果。例如,若以闭环的方式对直流信号或磁场进行检测,则激励检测模块130可以向线圈120输出额外的补偿信号,实时补偿由于待检测磁场或直流信号产生的偏置,使得磁芯110一直处于零点状态。激励检测模块130可以记录零点时的电流信息和电压信息,用于对比以确保磁芯110始终处于零点状态,并根据补偿信号的大小间接地反映待检测磁场或直流信号的大小。
如上所述,本发明实施例的装置无需复杂的信号处理,提高了直流信号或磁场的检测精度。激励检测模块输出的交流信号可以采用较小的信号,从而有效地降低了装置的功耗。此外,本装置抗干扰能力强,不易受环境影响。
并且,本发明实施例对磁芯110的磁材料不做限制,可以采用铁氧体、硅钢等更廉价的磁材料制造磁芯110,从而降低了成本。对于磁芯110无磁饱和的限制,可以通过增大磁芯110的尺寸获得更大的测量量程。
在一些实施例中,本装置可以包括多个磁芯110,每个磁芯上均缠绕有线圈120,激励检测模块130连接多个线圈120,对多个线圈120反馈的电流信息和电压信息进行处理,以得到待检测直流信号或待检测磁场的检测结果。在该实施例中通过阵列的方式进行检测,既保证了小信号的灵敏度,又能够获得更大的测量量程。可选地,连接多个线圈120的激励检测模块130也可以为多个,多个激励检测模块130的数据相互独立,一致性较好。
基于以上描述,本发明实施例的用于检测直流信号或磁场的装置根据电压信息和电流信息获取待检测直流信号或磁场的检测结果,量程大,精度高,成本低。
下面参见图4,本发明实施例另一方面提供一种用于检测直流信号或磁场的方法400,包括如下步骤:
在步骤S410,向缠绕在磁芯上的线圈输出交流信号,以激励所述磁芯产生交流重复磁场,所述磁芯设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;
在步骤S420,检测所述线圈上的电流信息和电压信息;
在步骤S430,根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
在一个实施例中,根据电流信息和电压信息获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果,包括:根据电流信息和电压信息绘制电流-电压曲线;根据电流-电压曲线获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。
其中,根据电流-电压曲线获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果,包括:根据电流-电压曲线的形状,以及预先存储的形状与检测结果的对应关系,获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。
或者,根据电流-电压曲线获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果,包括:根据电流-电压曲线的面积,以及预先存储的面积与检测结果的对应关系,获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。
在另一个实施例中,根据电流信息和电压信息获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果,包括:根据电流信息、电压信息、以及预先存储的电流信息和电压信息与检测结果的对应关系,获得待检测直流信号的检测结果或待检测磁场的检测结果。
本发明实施例的用于检测直流信号或磁场的方法根据电压信息和电流信息获取待检测直流信号或磁场的检测结果,量程大,精度高,成本低。用于检测直流信号或磁场的方法可以由参照图1描述的用于检测直流信号或磁场的装置实现,具体参照上文,在此不做赘述。
在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
类似地,应当理解,为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个,在对本发明的示例性实施例的描述中,本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而,并不应将该本发明的方法解释成反映如下意图:即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说,如相应的权利要求书所反映的那样,其发明点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此,遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式,其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
本领域的技术人员可以理解,除了特征之间相互排斥之外,可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述,本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的替代特征来代替。
此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如,在权利要求书中,所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式或对具体实施方式的说明,本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种用于检测直流信号或磁场的装置,其特征在于,所述装置包括:
磁芯,设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;
缠绕在所述磁芯上的线圈;
连接所述线圈的激励检测模块,用于向所述线圈输出交流信号,以激励所述磁芯产生交流重复磁场,以及检测所述线圈上的电流信息和电压信息;
所述激励检测模块还用于根据所述电流信息和所述电压信息获取所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述根据所述电流信息和所述电压信息获取所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息和所述电压信息绘制电流-电压曲线;
根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的形状,以及预先存储的所述形状与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
4.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的面积,以及预先存储的所述面积与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
5.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息、所述电压信息、以及预先存储的所述电流信息和所述电压信息与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述磁芯为闭环磁芯或开环磁芯。
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置包括多个磁芯,每个所述磁芯上均缠绕有所述线圈,所述激励检测模块连接多个所述线圈。
8.一种用于检测直流信号或磁场的方法,其特征在于,所述方法包括:
向缠绕在磁芯上的线圈输出交流信号,以激励所述磁芯产生交流重复磁场,所述磁芯设置在待检测直流信号周围或设置在待检测磁场中;
检测所述线圈上的电流信息和电压信息;
根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息和所述电压信息绘制电流-电压曲线;
根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的形状,以及预先存储的所述形状与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
11.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述电流-电压曲线获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流-电压曲线的面积,以及预先存储的所述面积与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
12.如权利要求8所述的方法,其特征在于,所述根据所述电流信息和所述电压信息获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果,包括:
根据所述电流信息、所述电压信息、以及预先存储的所述电流信息和所述电压信息与所述检测结果的对应关系,获得所述待检测直流信号的检测结果或所述待检测磁场的检测结果。
CN202311212631.5A 2023-09-20 2023-09-20 一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法 Active CN116953335B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311212631.5A CN116953335B (zh) 2023-09-20 2023-09-20 一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202311212631.5A CN116953335B (zh) 2023-09-20 2023-09-20 一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116953335A true CN116953335A (zh) 2023-10-27
CN116953335B CN116953335B (zh) 2024-01-12

Family

ID=88442860

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202311212631.5A Active CN116953335B (zh) 2023-09-20 2023-09-20 一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116953335B (zh)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1112299A (en) * 1977-09-02 1981-11-10 Alois Marek Method and apparatus for detection of pre- magnetization
DE4019810A1 (de) * 1989-06-23 1991-01-17 Fuji Electric Co Ltd Verfahren zum nachweis eines wechselstromes oder gleichstromes
JP2000266785A (ja) * 1999-03-15 2000-09-29 Matsushita Electric Works Ltd 電流計測装置
CN102308348A (zh) * 2011-07-20 2012-01-04 华为技术有限公司 电流互感器及电流检测电路和检测方法
WO2012046537A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
CN102881437A (zh) * 2011-07-12 2013-01-16 三信国际电器上海有限公司 一种用于检测剩余电流的电流互感器和剩余电流保护装置
CN104169727A (zh) * 2012-03-12 2014-11-26 磁性流体技术株式会社 电流传感器、传感器元件以及控制装置
US20150094973A1 (en) * 2013-10-02 2015-04-02 Vanguard Instruments Company, Inc. System for measuring excitation characteristics of magnetic assemblies using direct current
US20150160271A1 (en) * 2012-07-09 2015-06-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Current detection device
CN204666711U (zh) * 2015-06-16 2015-09-23 国家电网公司 一种测量直流电流的装置
CN105182261A (zh) * 2015-11-02 2015-12-23 乐晓蓉 线圈内部铁芯磁场强度非接触式测量方法
JP2016125863A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 富士電機機器制御株式会社 電流検知装置
CN106405189A (zh) * 2016-08-14 2017-02-15 河北工业大学 一种具有温度稳定性的电流传感器及其测量方法
CN116539945A (zh) * 2023-03-30 2023-08-04 深圳南云微电子有限公司 一种电流测量电路及电流传感器

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1112299A (en) * 1977-09-02 1981-11-10 Alois Marek Method and apparatus for detection of pre- magnetization
DE4019810A1 (de) * 1989-06-23 1991-01-17 Fuji Electric Co Ltd Verfahren zum nachweis eines wechselstromes oder gleichstromes
JP2000266785A (ja) * 1999-03-15 2000-09-29 Matsushita Electric Works Ltd 電流計測装置
WO2012046537A1 (ja) * 2010-10-07 2012-04-12 アルプス・グリーンデバイス株式会社 電流センサ
CN102881437A (zh) * 2011-07-12 2013-01-16 三信国际电器上海有限公司 一种用于检测剩余电流的电流互感器和剩余电流保护装置
CN102308348A (zh) * 2011-07-20 2012-01-04 华为技术有限公司 电流互感器及电流检测电路和检测方法
CN104169727A (zh) * 2012-03-12 2014-11-26 磁性流体技术株式会社 电流传感器、传感器元件以及控制装置
US20150160271A1 (en) * 2012-07-09 2015-06-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Current detection device
US20150094973A1 (en) * 2013-10-02 2015-04-02 Vanguard Instruments Company, Inc. System for measuring excitation characteristics of magnetic assemblies using direct current
JP2016125863A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 富士電機機器制御株式会社 電流検知装置
CN204666711U (zh) * 2015-06-16 2015-09-23 国家电网公司 一种测量直流电流的装置
CN105182261A (zh) * 2015-11-02 2015-12-23 乐晓蓉 线圈内部铁芯磁场强度非接触式测量方法
CN106405189A (zh) * 2016-08-14 2017-02-15 河北工业大学 一种具有温度稳定性的电流传感器及其测量方法
CN116539945A (zh) * 2023-03-30 2023-08-04 深圳南云微电子有限公司 一种电流测量电路及电流传感器

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈永亮: "常用直流电流检测技术研究", 《电器与能效管理技术》, vol. 2018, no. 22, pages 82 - 86 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116953335B (zh) 2024-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5432444A (en) Inspection device having coaxial induction and exciting coils forming a unitary coil unit
CN101140263B (zh) 基于巨磁电阻的电涡流检测传感器及其方法
US8729886B2 (en) Device for measuring alternating current magnetic susceptibility and method of measuring the same
US7495433B2 (en) Device for detecting defects in electrically conductive materials in a nondestructive manner
CN207067224U (zh) 一种漏电流传感器
JP6083613B2 (ja) 磁気的非破壊検査装置
CN110108788A (zh) 基于脉冲涡流的管道漏磁内检测集成探头及检测方法
Wei et al. A transducer made up of fluxgate sensors for testing wire rope defects
JP2007078500A (ja) 超電導膜の臨界電流密度測定方法及び装置
CN116953335B (zh) 一种用于检测直流信号或磁场的装置和方法
JP6388672B2 (ja) 硬貨検出システム
Kataoka et al. Application of GMR line sensor to detect the magnetic flux distribution for nondestructive testing
Postolache et al. GMR based eddy current sensing probe for weld zone testing
CN103617669B (zh) 一种硬币检测装置
Enokizono et al. Non-destructive testing with magnetic sensor using rotational magnetic flux
Bernieri et al. Characterization of a tmr sensor for ec-ndt applications
Perez et al. Advance in magnetoresistance magnetometer performances applied in eddy current sensor arrays
Luong et al. Fluxgate-Based Displacement Sensor Design
US5831424A (en) Isolated current sensor
CN116735939A (zh) 一种磁通门电流检测装置和磁通门电流检测方法
Sonoda et al. Measurement of fluctuations of magnetized loop in amorphous cores
Capova et al. Recent trends in electromagnetic non-destructive sensing
Gu et al. The principle and application of a new technique for detecting wire rope defects
Medrano et al. 10 mA Precision Contactless Current Sensing Using Low-Cost Hall-Effect Devices
CN203552338U (zh) 一种硬币检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant