CN116908515B - 用于雷电流检测的差分式光学电流传感器 - Google Patents

Abstract

本发明揭示了用于雷电流检测的差分式光学电流传感器，其中，构成正方形结构的四个光学电流传感探头连接分束器等分的四束等强度的光束，正方形结构探头中心穿设导线产生磁场，来自分束器的光束经由第一准直器准直生成非偏振光，非偏振光经起偏器变换为线偏振光，线偏振光进入磁场下的磁光材料发生法拉第磁光效应，使得线偏振光的偏振面发生旋转后再通过检偏器检偏后通过第二准直器转化为一束线偏振光束，光电探测器连接四个光学电流传感探头以将四束线偏振光束分别转化为四个电压信号，并基于四个电压信号生成检测输出电压。本发明适用于雷电流的大电流测量且抗外磁干扰，提高了测量精准度。

Description

用于雷电流检测的差分式光学电流传感器

技术领域

本发明涉及雷电流检测技术领域，特别是用于雷电流检测的差分式光学电流传感器。

背景技术

电力系统在实际运行中往往会受到雷电冲击过电压影响，而且会产生幅值较大的高频电流，因此我们需要对雷电流进行检测，从而保护电力系统的安全和稳定。测量雷电流电流的传统手段有:分流器、磁钢棒、空腔电流传感器及罗氏线圈等。这些传统测量雷电流的方法会存在一些问题：一是易受电磁干扰，二是在具有高压绝缘的问题，因此光学电流传感器就有了很大的应用前景，光学电流传感器有着电气绝缘性能好、响应频带宽、测量范围大、体积小且易于与光纤通信系统连接，具有实时准确获取暂态电流等潜力。常见的直通光路型光学电流互感器是采用磁光材料作为传感元件构成直通光路的传感结构，具有结构简单、长期运行稳定、成本低等优点，极具发展前景。然而，直通光路型光学电流互感器的传感光路不闭合，因此其理论上不具备抗外磁场干扰的能力。抗外磁场干扰能力差已成为阻碍直通光路型光学电流互感器进一步实用化的障碍，针对这一问题相关研究人员进行了大量的研究，并提出了一些解决方案。例如采用螺线管聚磁式直通型磁光玻璃测量结构，将待测电流通入螺线管以提高通过磁光玻璃的磁场强度，从而达到提高灵敏度的效果，但是这种方法测量电流很麻烦，螺线管式光学电流互感器结构为敞开式，体积较大，不利于与电气设备高度集成且其不能在螺线管上施加过大电流，使其使用受限。且螺线管会有电感效应，可能会影响实际电流磁场；或者利用集磁式光学电流传感器，将一个开口的集磁环套在待测电流外，开口处放置磁光材料，提出了该方案对灵敏度的提高有显著效果，而由于集磁环是铁磁性物质，具有饱和特性，因此不适用于像雷电流这样的大电流测量。

在背景技术部分中公开的所述信息仅仅用于增强对本发明背景的理解，因此可能包含不构成在本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

发明内容

针对所述现有技术存在的不足或缺陷，提供了一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器。适用于雷电流的大电流测量且抗外磁干扰，提高了测量精准度。

本发明的目的是通过以下技术方案予以实现：

一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器，其特征在于，其包括：

光源，其生成光，

分束器，其连接所述光源以将所述光等分为四束等强度的光束，

四个光学电流传感探头，其连接所述分束器以使得每个光学电流传感探头接收一束光束，四个光学电流传感探头共计接收所述四束等强度的光束，其中，四个光学电流传感探头构成正方形结构，且所述正方形结构探头中心穿设导线产生磁场，其中，每个光学电流传感探头包括同一光路上依次连接的第一准直器、起偏器、磁光材料、检偏器和第二准直器，来自分束器的光束经由第一准直器准直生成非偏振光，非偏振光经起偏器变换为线偏振光，线偏振光进入磁场下的磁光材料发生法拉第磁光效应，使得线偏振光的偏振面发生旋转后再通过检偏器检偏后通过第二准直器转化为一束线偏振光束，

光电探测器，其连接所述四个光学电流传感探头以将四束线偏振光束分别转化为四个电压信号，

数据处理器，其连接所述光电探测器以基于四个电压信号生成检测输出电压。

优选的，所述检测输出电压U_out为：

，

其中，U₁、U₂、U₃和U₄分别为四个光学电流传感探头输出的电压信号，θ₁、θ₂、θ₃和θ₄分别为四个光学电流传感探头产生的旋转角，P₀表示入射光强，k表示光电转化系数，L表示磁光材料的长度，H₁、H₂、H₃、H₄分别为四个光学电流传感探头的磁场强度。

优选的，四个完全相同的光学电流传感探头为直通型光学电流传感探头。

优选的，四个光学电流传感探头在同一平面内且两两对称成正方形结构排列。

优选的，四个光学电流传感探头分为两组，同一组的两个光学电流传感探头中的入射光是同向的且磁场方向相反。

优选的，当干扰源I_g位于一组光学电流传感探头外侧且另一组光学电流传感探头内侧，四个光学电流传感探头的输出旋转角：

，

此种情形下，检测输出电压为：。

优选的，当干扰源I_g位于一组光学电流传感探头外侧且位于另一组光学电流传感探头外侧，四个光学电流传感探头的输出旋转角：

，

此种情形下，检测输出电压为：。

优选的，数据处理器包括数据处理器和上位机，数据采集器对电压信号进行采集并传输至上位机进行处理。

优选的，所述磁光材料包括TGG晶体。

优选的，所述起偏器和检偏器分别包括薄膜偏振片。

与现有技术相比，本公开带来的有益效果为：

本公开适用于雷电流的大电流测量且抗外磁干扰，提高了测量精准度。针对位于任何方位的干扰都可以做到有效的消除，并提高了传感器的灵敏度。将本发明用于存在相间干扰的输电线路测量雷电流或者有其他磁场干扰的大电流测量场景时，都能有效的消除外界干扰，增大光学电流传感器的测量准确性和抗干扰能力，解决了现有差分式光学电流传感器的不足。

所述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够使得本发明的技术手段更加清楚明白，达到本领域技术人员可依照说明书的内容予以实施的程度，并且为了能够让本发明的所述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，下面以本发明的具体实施方式进行举例说明。

附图说明

通过阅读下文优选的具体实施方式中的详细描述，本发明各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。说明书附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。显而易见地，下面描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。而且在整个附图中，用相同的附图标记表示相同的部件。

在附图中：

图1是一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的结构示意图；

图2是用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的光学电流传感探头结构示意图；

图3是用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的存在干扰时的结构示意图；

图4（a）至图4（b）是现有的双探头差分式光学电流传感器抗干扰示意图；

图5是用于雷电流检测的差分式光学电流传感器抗干扰示意图。

以下结合附图和实施例对本发明作进一步的解释。

具体实施方式

下面将参照附图1至图5更详细地描述本发明的具体实施例。虽然附图中显示了本发明的具体实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本发明，并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。

需要说明的是，在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称预定组件。本领域技术人员应可以理解，技术人员可能会用不同名词来称呼同一个组件。本说明书及权利要求并不以名词的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。如在通篇说明书及权利要求当中所提及的“包含”或“包括”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”。说明书后续描述为实施本发明的较佳实施方式，然所述描述乃以说明书的一般原则为目的，并非用以限定本发明的范围。本发明的保护范围当视所附权利要求所界定者为准。

为便于对本发明实施例的理解，下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明，且各个附图并不构成对本发明实施例的限定。

为了更好地理解，如图1、图2所示，一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器包括，

光源，其生成光，

分束器，其连接所述光源以将所述光等分为四束等强度的光束，

四个光学电流传感探头，其连接所述分束器以使得每个光学电流传感探头接收一束光束，四个光学电流传感探头共计接收所述四束等强度的光束，其中，四个光学电流传感探头构成正方形结构，且所述正方形结构探头中心穿设导线产生磁场，其中，每个光学电流传感探头包括同一光路上依次连接的第一准直器、起偏器、磁光材料、检偏器和第二准直器，来自分束器的光束经由第一准直器准直生成非偏振光，非偏振光经起偏器变换为线偏振光，线偏振光进入磁场下的磁光材料发生法拉第磁光效应，使得线偏振光的偏振面发生旋转后再通过检偏器检偏后通过第二准直器转化为一束线偏振光束，

光电探测器，其连接所述四个光学电流传感探头以将四束线偏振光束分别转化为四个电压信号，

数据处理器，其连接所述光电探测器以基于四个电压信号生成检测输出电压。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，检测输出电压U_out为：

，

其中，U₁、U₂、U₃和U₄分别为四个光学电流传感探头输出的电压信号，θ₁、θ₂、θ₃和θ₄分别为四个光学电流传感探头产生的旋转角，P₀表示入射光强，k表示光电转化系数，L表示磁光材料的长度，H₁、H₂、H₃、H₄分别为四个光学电流传感探头的磁场强度。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，四个完全相同的光学电流传感探头为直通型光学电流传感探头。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，四个光学电流传感探头在同一平面内且两两对称成正方形结构排列。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，四个光学电流传感探头分为两组，同一组的两个光学电流传感探头中的入射光是同向的且磁场方向是相反。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，当干扰源I_g位于一组光学电流传感探头外侧且另一组光学电流传感探头内侧，四个光学电流传感探头的输出旋转角：

，

检测输出电压为：。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，当干扰源I_g位于一组光学电流传感探头外侧且位于另一组光学电流传感探头外侧，四个光学电流传感探头的输出旋转角：

，

检测输出电压为：。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，数据处理器包括数据处理器和上位机，数据采集器对电压信号进行采集并传输至上位机进行处理。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，所述磁光材料包括TGG晶体。

所述的用于雷电流检测的差分式光学电流传感器的优选实施例中，所述起偏器和检偏器分别包括薄膜偏振片。

在一个实施例中，用于雷电流检测的差分式光学电流传感器由光源、分束器、四个完全相同的直通型光学电流传感探头OCT1、OCT2、OCT3和OCT4以及光电探测器PD和数据处理PC端构成。可将其分为两组，OCT1和OCT2为一组，而OCT3和OCT4为另一组。光源发出的光由分束器分为等强度的四束光通过传输光纤分别进入四个直通型光学电流传感探头。作为优选，所述的四个直通型光学电流传感探头单元在同一平面内且两两对称成正方形结构排列。作为优选，同一组的两个直通型光学电流传感探头中的入射光是同向的，而磁场方向是相反的。

在一个实施例中，用于雷电流检测的差分式光学电流传感器基于法拉第磁光效 应，入射到每个直通型光学电流探头的光强是相同的，且四个光路是完全对称的，故最终 经光电探测器输出的4个电压信号为：

，

其中，U₁、U₂、U₃和U₄分别为两个光学电流传感器输出的电压信号，θ₁、θ₂、θ₃和θ₄分别为四个直通型光学电流传感器产生的旋转角，P₀表示入射光强，k表示光电转化系数。

再由法拉第磁光效应可知，,且将光电探测器输出信号中的基础光 强带来的固有偏置分量kP₀滤除之后，故上式可以表示为：

，

其中L表示磁光材料的长度。

之后通过比较滤除固有偏置分量的四个输出信号大小，再利用差分的方式得到最终的改进差分式光学电流传感器的输出为：

，

当没有外界磁场干扰时，即(也即)成立时， 故差分式光学电流传感器的输出是单个直通型光学电流传感探头的4倍，提高了传感器灵 敏度，即上述的改进差分式光学电流传感器输出中第一种结果。

当存在外界干扰时，即不成立时，其结构示意如图3所示，假设待 测电流为I_d，干扰源为I_g ，待测电流和干扰源产生的磁场分别为H_d和H_g，此时传感器的输出 根据干扰导线的不同位置对应上述输出中的后三种结果。

对于现有的双探头差分式光学电流传感器，由于只有两个光学电流探头使其无法消除任意方位的干扰源，其抗干扰模型如图4（a）至图4（b）所示，有两种情形。 第一种情形：当干扰源位于差分式雷电流传感器两电流探头的外侧时，如图4（a）所示。由于差分式雷电流传感器的两个传感探头距离较近，则认为干扰源在两个探头处产生了大小和方向相同的干扰磁场，两个电流传感探头OCT1和OCT2的输出旋转角分别为：

这种情况下，将两个电流传感探头的输出信号进行相减处理，就可以消除干扰源I₂产生的影响，且提高了测量灵敏度。最终差分式雷电流传感器的输出为：

第二种情形：当干扰源位于两电流探头内侧时，如图4（b）所示。此时干扰源在两个电流探头处产生的干扰磁场大小相同，但方向相反，则OCT1和OCT2的输出旋转角分别为：

此时，差分式雷电流传感器就无法通过差分的方法消除外界磁场干扰。因此，对于现有双探头的差分式电流传感器，是无法消除位于任意未知方向的干扰。

而对于本发明提出的一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器，由于在四个方位都各有一个探头，因此我们可以通过两两相对的探头输出信号大小判断干扰源的方向，从而消除干扰，其抗干扰模型如图5所示，将四个光学电流传感探头分为两组，两两相对的为一组，如OCT1和OCT2一组，OCT3和OCT4一组。我们将干扰源I_g可能存在的方位分为①、②、③三个区域，故就有一下三种情形：

第一种情形：当干扰源I_g位于区域①时，相当于双探头差分式光学电流传感器中，位于OCT1和OCT2的外侧，而位于OCT3和OCT4的内侧，则四个光学电流传感探头的输出旋转角：

根据四个电流传感探头的输出进行判断，可以看出OCT3和OCT4的输出大小相等、符号相反，因此，此时改进差分式光学电流传感器的输出为：

第二种情形：当干扰源I_g位于区域②时，相当于双探头差分式电流传感器中，位于OCT1和OCT2的内侧，而位于OCT3和OCT4的外侧，则四个光学电流传感探头的输出旋转角为：

通过判断OCT1和OCT2的输出大小相等、符号相反，故此时改进差分式光学电流传感器的输出为：

在这两种干扰情形下，我们利用本发明提出的一种用于雷电流测量的改进差分式光学电流传感器可以通过差分法很好的消除干扰，并将灵敏度较单个直通型光学电流传感探头提高了2倍。

第三种情形：当干扰源I_g位于区域③时，相当于双探头差分式电流传感器中，同时位于OCT1和OCT2以及OCT3和OCT4的外侧，则四个光学电流传感探头的输出旋转角为：

OCT1和OCT2以及OCT3和OCT4的输出都是大小相等、符号相反，故此时改进差分式光学电流传感器的输出为：

在这第三种干扰情形下，亦可利用本发明提出的一种用于雷电流测量的改进差分式光学电流传感器可以通过差分法消除干扰源产生的干扰，并将灵敏度较单个直通型光学电流传感探头提高了4倍。

综上可以看出，本发明提出的一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器针对位于任何方位的干扰都可以做到有效的消除，并提高了传感器的灵敏度。将本发明用于存在相间干扰的输电线路测量雷电流或者有其他磁场干扰的大电流测量场景时，都能有效的消除外界干扰，增大光学电流传感器的测量准确性和抗干扰能力。

以上结合具体实施例描述了本申请的基本原理，但是，需要指出的是，在本申请中提及的优点、优势、效果等仅是示例而非限制，不能认为这些优点、优势、效果等是本申请的各个实施例必须具备的。另外，上述公开的具体细节仅是为了示例的作用和便于理解的作用，而非限制，上述细节并不限制本申请为必须采用上述具体的细节来实现。

为了例示和描述的目的已经给出了以上描述。此外，此描述不意图将本申请的实施例限制到在此公开的形式。尽管以上已经讨论了多个示例方面和实施例，但是本领域技术人员将认识到其某些变型、修改、改变、添加和子组合。

Claims (1)

1.一种用于雷电流检测的差分式光学电流传感器，其特征在于，其包括：

光源，其生成光，

分束器，其连接所述光源以将所述光等分为四束等强度的光束，

四个光学电流传感探头，其连接所述分束器以使得每个光学电流传感探头接收一束光束，四个光学电流传感探头共计接收所述四束等强度的光束，其中，四个光学电流传感探头构成正方形结构，且所述正方形结构探头中心穿设导线产生磁场，其中，每个光学电流传感探头包括同一光路上依次连接的第一准直器、起偏器、磁光材料、检偏器和第二准直器，来自分束器的光束经由第一准直器准直生成非偏振光，非偏振光经起偏器变换为线偏振光，线偏振光进入磁场下的磁光材料发生法拉第磁光效应，使得线偏振光的偏振面发生旋转后再通过检偏器检偏后通过第二准直器转化为一束线偏振光束，

光电探测器，其连接所述四个光学电流传感探头以将四束线偏振光束分别转化为四个电压信号，

数据处理器，其连接所述光电探测器以基于四个电压信号生成检测输出电压，检测输出电压U_out为：

，

其中，U₁、U₂、U₃和U₄分别为四个光学电流传感探头输出的电压信号，θ₁、θ₂、θ₃和θ₄分别为四个光学电流传感探头产生的旋转角，P₀表示入射光强，k表示光电转化系数，L表示磁光材料的长度，H₁、H₂、H₃、H₄分别为四个光学电流传感探头的磁场强度，通过两两相对的光学电流传感探头输出信号大小判断干扰源的方向；

其中，

四个完全相同的光学电流传感探头为直通型光学电流传感探头；

四个光学电流传感探头在同一平面内且两两对称成正方形结构排列；

四个光学电流传感探头分为两组，同一组的两个光学电流传感探头中的入射光是同向的且磁场方向相反；

数据处理器包括数据处理器和上位机，数据采集器对电压信号进行采集并传输至上位机进行处理；

所述磁光材料包括TGG晶体；

所述起偏器和检偏器分别包括薄膜偏振片；

当干扰源I_g位于一组光学电流传感探头外侧且另一组光学电流传感探头内侧，四个光学电流传感探头的输出旋转角：

，

此种情形下，检测输出电压为：；

当干扰源I_g位于一组光学电流传感探头外侧且位于另一组光学电流传感探头外侧，四个光学电流传感探头的输出旋转角：

，

此种情形下，检测输出电压为：。