CN116863986A - 一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置 - Google Patents
一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116863986A CN116863986A CN202311138014.5A CN202311138014A CN116863986A CN 116863986 A CN116863986 A CN 116863986A CN 202311138014 A CN202311138014 A CN 202311138014A CN 116863986 A CN116863986 A CN 116863986A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- power
- storage device
- block
- data
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 197
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 46
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 82
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 abstract description 9
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 49
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 9
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 5
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 5
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000012669 compression test Methods 0.000 description 1
- 230000010485 coping Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000008520 organization Effects 0.000 description 1
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/06—Acceleration testing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/48—Arrangements in static stores specially adapted for testing by means external to the store, e.g. using direct memory access [DMA] or using auxiliary access paths
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C29/56016—Apparatus features
Landscapes
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本申请公开了一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括以下步骤：在对存储设备进行分类检测之前，为存储设备分配用于记载存储设备的数据信息的上电复位块；在存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为存储设备分配的上电复位块中的数据信息，并对数据信息进行读取；读取数据信息中的块地址数据，以根据块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据检测地址继续对存储设备进行分类的数据检测。如此，通过分配的上电复位块记载存储设备的分类检测的信息，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。
Description
技术领域
本申请涉及数据检测技术领域，特别是涉及一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置。
背景技术
对于存储设备，包括嵌入式多媒体卡（Embedded MultiMedia Card，EMMC）、固态硬盘（Solid State Drive，SSD）、通用闪存存储（Universal Flash Storage，UFS）等通常在正式量产到客户端前有一个测试阶段我们称之为自测试阶段，或分类检测或可靠性验证测试(Reliability Demonstration Testing，RDT)，其目的是对NAND（Not AND）Flash芯片或者主控等其他硬件在高温下做加压测试以对设备进行分类，例如区分出较好或者较差的设备。
但分类检测时长往往影响着成本和产能（缩短分类检测的时间能减少成本同时提高产能）。但当分类检测过程发生异常掉电，下次上电时往往为保证分类检测的准确度，会对分类检测中断的设备重新执行分类检测，而若没有特殊机制去应对这种状况，往往会延长分类检测时长。
发明内容
本申请的目的在于提供一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置及计算机可读存储介质，通过分配的上电复位块对存储设备的分类检测进程进行记载，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。
为达到上述目的：
第一方面，本申请实施例提供了一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法，所述方法包括以下步骤：
在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；
在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；
读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。
可选的，所述在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块，包括：
对所述每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；
通过所述主上电复位块根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；
根据所述备份上电复位块对所述主上电复位块的数据信息进行备份。
可选的，所述通过所述主上电复位块记载对应的存储设备分类检测的数据信息，包括：
设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：
记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。
可选的，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：
在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：
检测已经对存储设备中各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述存储块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；
检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。
可选的，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：
在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；
若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入所述需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；
若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。
第二方面，本申请实施例提供了一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，所述装置包括：
分配模块，用于在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；
加载模块，用于在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；
检测模块，用于读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。可选的，所述分配模块，具体用于：
对所述每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；
所述主上电复位块，用于根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；
所述备份上电复位块，用于对所述主上电复位块的数据信息进行备份。
可选的，所述分配模块，具体用于：
设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：
记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。
可选的，所述检测模块，具体用于：
在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：
检测已经对存储设备中各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述存储块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；
检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。
可选的，所述检测模块，具体用于：
在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；
若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入所述需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；
若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。
第三方面，本申请实施例公开了一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，具体包括：
处理器；
用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
其中，所述处理器配置执行所述指令，用于执行如第一方面所述的用于对存储设备进行分类的数据检测方法。
第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够实现如第一方面所述的用于对存储设备进行分类的数据检测方法。
本申请实施例提供的用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置及计算机可读存储介质，包括以下步骤：在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；读取数据信息中的块地址数据，以根据块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据检测地址继续对存储设备进行分类的数据检测。如此，通过分配的上电复位块对存储设备的分类检测进程进行记载，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。
附图说明
图1为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法的流程示意图；
图2为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法中掉电后重新进行数据加载的具体流程示意图；
图3为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法中对加载后的数据进行检测的具体流程示意图；
图4为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法中检测上电复位块更新的具体流程示意图；
图5为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法中对上电复位块进行更新的具体流程示意图；
图6为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法中上电复位块异常的具体流程示意图；
图7为本发明一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置的结构示意图；
图8为本发明另一个较佳实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置的结构示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
需要说明的是，本文在说明对上电复位块进行检测、标定、重置、更新等操作时，如未特别进行说明，这里上电复位块指的是主上电复位块。
参阅图1，为本申请实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法，该用于对存储设备进行分类的数据检测方法可以由本申请实施例提供的一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置来执行，该用于对存储设备进行分类的数据检测装置可以采用软件和/或硬件的方式来实现，本实施例中的以用于对存储设备进行分类的数据检测方法应用于服务器为例，本实施例提供的用于对存储设备进行分类的数据检测方法包括以下步骤：
步骤S101：在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块。
具体地，在实行对存储设备的质量进行分类检测之前，配置多个上电复位块，以通过上电复位块记载该存储设备的检测进程，和关于存储设备的质量的具体数据信息等。
在一实施方式中，所述在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块，包括：
对所述每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；
通过所述主上电复位块根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；
根据所述备份上电复位块对所述主上电复位块的数据信息进行备份。
具体地，在对存储设备中各个存储块进行分类检测之前，对该分类检测的操作通过倒序分配原则从最后一个可用的非坏块开始，分配多个用于记录该分类检测等相关操作的上电复位块。这里，根据需要对存储设备进行访问检测的芯片选择信息，对每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块，其中，通过主上电复位块记录对存储设备进行检测的具体进程、检测到的存储设备的数据信息以及该上电复位块的地址信息，以确保在发生故障或异常情况时可以通过主上电复位块记载的检测的具体进程确定在发生故障时的检测模块，恢复之前的操作状态，以及根据主上电复位块记载的数据信息进行数据恢复，以避免数据丢失或分类过程中断。通过备份上电复位块对主上电复位块记载的全部信息进行备份，以在后续在对主上电复位块进行检测时，防止数据丢失。
在一实施方式中，所述通过所述主上电复位块记载对应的存储设备分类检测的数据信息，包括：
设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：
记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。
具体地，对组成存储设备的多个存储块的数据信息分别进行检测，在检测当前进行检测阶段为NAND测试阶段时，在主上电复位块中设置一个对数据信息进行记载，以及记载当前分类执行阶段的页，其中，对数据信息进行记载以及记载当前分类执行阶段的页可以称为“上电复位页”，这里，主上电复位块记载的对存储设备进行分类检测的数据信息包括以下至少一种：（1）记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块。由于坏块是无法正常工作的存储块，所以它们会被记录下来，以便在以后的操作中可以避免使用它们。（2）记录每个"SLC"（Single-Level Cell）和"XLC"（eXtra-Large Cell） 块的擦除时间。这里，SLC和XLC是不同类型的闪存存储单元。（3）在存储块中的数据被编程（写入）到页面中，记录每个SLC/XLC块中最大的编程时间可以提供关于块中数据编程速度的信息。（4）记录每个"SLC"和"XLC"块的擦除时间。
在一实施方式中，由于SLC和XLC是不同类型的闪存存储单元，因此，在对存储设备进行检测时需要基于SLC和XLC的两种不同类型分别对存储设备中的存储块进行分类检测。
在一实施方式中，在对存储设备的数据信息进行检测时，对不属于NAND测试阶段的检测阶段，只需要设置一个记载的当前分类执行阶段的页即可，而不需要具体记载存储设备对应的具体数据信息。
在一实施方式中，在对存储设备的数据信息进行检测时，由于进行分类检测时涉及到多个不同的阶段，每个阶段在处理流程和需要执行的操作上可能会有所不同，包括：代码加载阶段、初始化阶段、升温阶段、硬件测试阶段、NAND slc测试阶段和NAND xlc测试阶段。其中，在代码加载阶段、初始化阶段、升温阶段、硬件测试阶段四个阶段中，只需要将上电复位块中记载的当前分类执行阶段的页中的代码进行更新，而NAND slc测试阶段和NANDxlc测试阶段可以称为NAND测试阶段，在NAND测试阶段中，需要对主上电复位块中设置的上电复位页中记载的数据信息和分类执行阶段的进程进行更新。
步骤S102：在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取。
具体地，在对存储设备的质量进行分类检测的过程中，若出现异常掉电等导致检测中断的情况，对该存储设备分配的主上电复位块进行加载，获取主上电复位块中记载的关于对该存储设备的多个块进行分类检测的数据信息。
在一实施方式中，在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，对上电复位块进行加载具体如图2所示：
步骤S201：启动代码。
具体地，在存储设备进行分类检测过程中出现掉电时，对存储设备重新启动，即上电后，系统开始执行启动流程。
步骤S202：加载系统资料。
具体地，在系统的初始启动阶段，只读存储器中的代码（ROM Code）会加载系统所需的配置和数据资料。同时，在启动过程中，系统会确定存储设备对应的上电复位块记载的数据信息，这里，上电复位块用于在开机时存储关键的系统配置和状态。
步骤S203：判断是否对存储设备进行分类检测。
步骤S204：若判断不进行分类检测，则结束操作。
步骤S205：若判断进行分类检测，则读取块地址信息，确定存储设备中进行检测的具体的块地址。
步骤S206：遍历检测存储设备的各个存储块中的数据信息，确定是否结束检测。
步骤S207：若结束检测，则结束操作。
步骤S208：若未结束检测，则对各个存储块分别进行分页管理，检测是否有空白页。
具体地，在对存储设备的各个存储块进行遍历检测过程中，系统查找块中进行分页管理的第一个非空（非空闲）的"page"索引（index）。同时，使用read DMA读取数据：在找到第一个非空的"page"后，系统执行"read DMA"操作来读取数据。这里，DMA（DirectMemory Access，直接内存访问）是一种数据传输技术，用于在不干扰处理器的情况下进行数据传输。
步骤S209：若检测当前块中没有空白页，则读取下一个存储块的数据信息。
步骤S210：若检测有空白页，则对当前的块的分页管理进行检测，以确定分页管理中页面索引最小的块。
具体地，在对存储设备中各个存储块的数据信息分别进行读取检测之后，系统可以根据"page"的索引大小来确定主上电复位块和备份上电复位块。这里，将较大的索引对应的块确定为主上电复位块，将较小的索引对应的块确定为备份上电复位块。
步骤S211：返回页面索引。
如此，通过系统在启动时加载配置数据，识别确定主上电复位块和备份上电复位块，能够帮助系统在启动过程中快速恢复关键的配置和状态信息。
这里，在对存储设备进行上电加载后，对NAND测试阶段的上电复位块的信息进行更新和备份，如图3所示：
步骤S301：在确定存储设备进行上电加载后，对上电复位块进行初始化。
步骤S302：检测上电复位块是否全部读取完毕。
步骤S303：读取下一个上电复位块中的记载当前分类执行阶段的页。
步骤S304：检测是否存在对NAND闪存设备进行测试的阶段，即NAND测试阶段。
具体地，检测确定当前的检测阶段，存储设备的检测阶段包括：代码加载阶段、初始化阶段、升温阶段、硬件测试阶段、NAND slc测试阶段和NAND xlc测试阶段。这里，对这六个检测阶段进行倒序查找，确定最新的包含有NAND测试标志的对应的上电复位页，如：NANDslc测试阶段或者NAND xlc测试阶段，以通过读取该包含有NAND测试标志的对应的上电复位页，确认掉电前对存储设备进行检测所执行到的阶段。
步骤S305：若检测存在NAND测试阶段，则获取在NAND测试阶段中上电复位页记载的信息。
具体地，若检测存在NAND测试阶段，则获取对应上电复位页记载的掉电前对存储设备进行检测所执行到的阶段、NAND测试阶段中检测到的具体数据信息以及块地址数据。
步骤S306：确定对存储设备已完成检测的阶段，以及需要继续进行分类检测的存储设备的地址数据。
步骤S307：通过备份上电复位块对主上电复位块的数据信息进行备份。
步骤S308：将备份的数据信息写入到更快的静态随机存取存储器。
步骤S309：结束操作。
步骤S103：读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。具体地，若确定在执行NAND测试阶段，会依据获取的上电复位块记载的信息，确认上一次掉电前进行分类检测执行到的阶段，并判断当前阶段的NAND测试是否需要执行。例如，掉电前执行到NAND读测试，那么此时就不需要在执行代码加载阶段、初始化阶段等NAND读测试之前的测试了。而是直接从上电复位块中记载信息的上电复位页记录到的电前对存储设备进行检测所执行到的阶段开始做读测试。
这里，在进行NAND测试时，可以设定对应的上电复位块的更新条件，如图4所示：
步骤S401：开始。
步骤S402：依据上电复位块记载的信息判断当前阶段是否完成检测。
步骤S403：根据上电复位块记载的信息确定继续进行检测的存储设备的具体的块地址。
具体地，存储设备由多个存储块组成，每个存储块又包含多个页，每个页可以存储数据，而存储块是对这些页的逻辑组织。这里对存储设备的各个存储块进行检测，并进行分类，在检测出现掉电情况时，根据上电复位块记载的检测进程确定掉电时进行检测的块。
步骤S404：确定当前阶段需要继续进行检测的分类检测进程。
步骤S405：判断当前的上电复位块是否触发对上电复位块进行更新的条件。
在一实施方式中，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：
在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：
检测已经对所述存储设备的各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述存储块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；
检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。
具体地，可以根据用户需求具体设置对上电复位块进行更新的更新条件，包括：可以通过检测已经对存储设备各个存储块进行检测的存储块的累计数量，例如，若检测在对存储设备进行分类检测，已经对存储设备进行检测的存储块的累计数量超过100个块，则确定当前已满足对上电复位块进行更新的条件；或者可以通过设置在对存储设备进行分类检测时的检测时间，对上电复位块进行定时更新，例如，若检测在对存储设备进行分类检测，检测已经对存储设备进行检测的累计时间超过30分钟，则确定当前已满足对上电复位块进行更新的条件。
步骤S406：若满足更新条件，则对当前的上电复位块进行更新。
步骤S407：若不满足更新条件，则判断当前阶段的分类检测是否结束。
步骤S408、结束当前阶段的分类检测。
在一实施方式中，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备，并继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：
在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；
若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入所述需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；
若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。
具体地，在确定上电复位块满足更新条件时，会先判断当前上电复位块还剩余多少上电复位页，即检测上电复位块是否有足够的存储空间，若检测剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，即存储当所剩余存储空间较少时，就会标记上电复位块已满的标志“PORBLK FULL”，表示当前的上电复位块将不再有足够的空间来记录新的信息。这里，一旦标记上电复位块已满则需要先擦除当前上电复位块中记载的信息。然后重新写入。这里，若检测剩余的空白的页数不低于设置的页数阈值，则直接从上一次更新到的上电复位块中进行记载信息的上电复位页继续写入。这里，写入的内容包括当前的块地址数据、对存储设备进行检测的进程，以及的步骤S101中记载的所有主上电复位块记载的对存储设备进行分类检测的数据信息，包括：（1）记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块。（2）记录每个"SLC"（Single-Level Cell）和"XLC"（eXtra-Large Cell） 块的擦除时间。（3）存储块中的数据被编程（写入）到页面中。（4）记录每个"SLC"和"XLC"块的擦除时间。
在一实施方式中，在确定上电复位块满足更新条件，并对上电复位块进行检测更新具体如图5所示：
步骤S501：开始。
步骤S502：判断当前主上电复位块的页面检索是否超过预设的页面阈值。
具体地，通过对上电复位块中的页面检索进行检测，判断当前上电复位块中的剩余存储空间，即确定空页面的剩余页数，在检测判断后确定是否超过预设的页面阈值。
步骤S503：若超过页面阈值，则对主上电复位块进行标定，并进行重置。
具体地，若检测超过页面阈值，即当前上电复位块的存储空间不足，则对对当前的上电复位块进行标定，如标记上电复位块已满的标志“POR BLK FULL”，表示当前的上电复位块将不再有足够的空间来记录新的信息。然后对标记后的上电复位块记载的信息进行擦除，并重新写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据，以实现对该上电复位块的重置。
步骤S504：将检测到的坏块写入主上电复位块。
步骤S505：写入分类检测的数据类型。
具体地，写入的对存储设备进行分类检测的数据类型包括：（1）记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块。（2）记录每个"SLC"（Single-LevelCell）和"XLC"（eXtra-Large Cell）块的擦除时间。（3）存储块中的数据被编程（写入）到页面中。（4）记录每个"SLC"和"XLC"块的擦除时间。
步骤S506：设置记载的当前分类执行阶段的页。
步骤S507：判断备份上电复位块对应的主上电复位块是否进行标定。
步骤S508：若主上电复位块进行标定，则对备份上电复位块记载的数据信息进行擦除，并配置对应的当前分类执行阶段的页。
步骤S509：通过备份上电复位块对主上电复位块的数据信息进行备份。
步骤S510：结束操作。
在一实施方式中，若在对上电复位块进行擦除和更新操作出现擦除失败或者更新失败等异常情况时，需要重新配置一个上电复位块，并进行更新，如图6所示：
步骤S601：开始。
步骤S602：在对存储设备进行分类检测前，配置上电复位块。
步骤S603：对配置的上电复位块记载的数据信息进行擦查。
步骤S604：检测是否出现擦除失败的情况。
具体地，由于闪存技术的特性，擦除可能会出现失败的情况，导致块中的数据没有被正确清除。而擦除失败可能会导致数据不一致或设备无法正常工作。因此，需要检测是否擦除成功。
步骤S605：若未出现擦除失败的现象，则将备份上电复位块中的记载的信息写入到擦除后的上电复位块中。
步骤S606：检测是否出现数据信息写入（编程）失败的情况。
具体地，将数据信息写入存储单元的过程。如果在尝试将数据写入闪存块时出现问题，就会导致编程失败，这里，通过检测是否出现数据信息写入（编程）失败的情况，以避免出现编程失败导致的数据不完整或设备无法正常工作。
步骤S607：若未出现写入失败的情况，则对写入数据后的上电复位块进行更新。
步骤S608：结束操作。
在一实施方式，在对存储设备进行检测时，通过配置上电复位块记录检测的各种状态、数据和测试结果，而在正常的固件执行时，即结束对存储设备进行检测时，存储系统进入正常的工作模式，执行正常的固件（Firmware）操作。在这个阶段，上电复位块不再扮演记录和恢复状态的角色，而是可以像其他正常的块一样，供主机（Host）使用。因此，在对存储设备进行检测的阶段即将完成时，需要对主上电复位块和备份上电复位块进行相应的测试，以确保该上电复位块仍然能够正常工作。这里，在对主上电复位块进行检测时，同样需要进行擦、写、读的步骤，在对主上电复位块检测完毕后，将备份上电复位块中备份的数据拷贝至主上电复位块。同样的，在对备份上电复位块进行擦、写、读的检测之后，将主上电复位块中的数据拷贝至备份上电复位块。
综上，上述实施例提供的用于对存储设备进行分类的数据检测方法中，通过分配的上电复位块对存储设备的分类检测进程进行记载，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。
参阅图7，为本申请实施例提供的用于对存储设备进行分类的数据检测装置，所述用于对存储设备进行分类的数据检测装置包括分配模块、加载模块、检测模块，其中，
分配模块，用于在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；
加载模块，用于在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；
检测模块，用于读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。
在一实施方式中，所述分配模块，具体用于：
对所述每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；
所述主上电复位块，用于根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；
所述备份上电复位块，用于对所述主上电复位块的数据信息进行备份。
具体地，在对存储设备进行分类检测之前，对该分类检测的操作通过倒序分配原则从最后一个可用的非坏块开始，分配多个用于记录该分类检测等相关操作的上电复位块。这里，根据需要对存储设备进行访问检测的芯片选择信息，对每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块，其中，通过主上电复位块记录对存储设备进行检测的具体进程、检测到的存储设备的数据信息以及该上电复位块的地址信息，以确保在发生故障或异常情况时可以通过主上电复位块记载的检测的具体进程确定在发生故障时的检测模块，恢复之前的操作状态，以及根据主上电复位块记载的数据信息进行数据恢复，以避免数据丢失或分类过程中断。通过备份上电复位块对主上电复位块记载的全部信息进行备份，以在后续在对主上电复位块进行检测时，防止数据丢失。
在一实施方式中，所述分配模块，具体用于：
设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：
记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。
具体地，对组成存储设备的多个存储块的数据信息分别进行检测，在检测当前进行检测阶段为NAND测试阶段时，在主上电复位块中设置一个对数据信息进行记载，以及记载当前分类执行阶段的页，其中，对数据信息进行记载以及记载当前分类执行阶段的页可以称为“上电复位页”，这里，主上电复位块记载的对存储设备进行分类检测的数据信息包括以下至少一种：（1）记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块。由于坏块是无法正常工作的存储块，所以它们会被记录下来，以便在以后的操作中可以避免使用它们。（2）记录每个"SLC"（Single-Level Cell）和"XLC"（eXtra-Large Cell）块的擦除时间。这里，SLC和XLC是不同类型的闪存存储单元。（3）在存储块中的数据被编程（写入）到页面中，记录每个SLC/XLC块中最大的编程时间可以提供关于块中数据编程速度的信息。（4）记录每个"SLC"和"XLC"块的擦除时间。
在一实施方式中，在对存储设备的数据信息进行检测时，对不属于NAND测试阶段的检测阶段，只需要设置一个记载的当前分类执行阶段的页即可，而不需要具体记载存储设备对应的具体数据信息。
在一实施方式中，在对存储设备的数据信息进行检测时，由于进行分类检测时涉及到多个不同的阶段，每个阶段在处理流程和需要执行的操作上可能会有所不同，包括：代码加载阶段、初始化阶段、升温阶段、硬件测试阶段、NAND slc测试阶段和NAND xlc测试阶段。其中，在代码加载阶段、初始化阶段、升温阶段、硬件测试阶段四个阶段中，只需要将上电复位块中记载的当前分类执行阶段的页中的代码进行更新，而NAND slc测试阶段和NANDxlc测试阶段则属于NAND闪存设备进行测试的测试阶段，因此，需要对主上电复位块中设置一个对数据信息进行记载，以及记载当前分类执行阶段的页中记载的数据信息和分类执行阶段的进程进行更新。
在一实施方式中，所述检测模块，具体用于：
在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：
检测已经对所述存储设备的各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；
检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。
具体地，可以根据用户需求具体设置对上电复位块进行更新的更新条件，包括：可以通过检测已经对存储设备的各个存储块进行检测的存储块的累计数量，例如，若检测在对存储设备进行分类检测，已经对存储设备进行检测的存储块的累计数量超过100个块，则确定当前已满足对上电复位块进行更新的条件；或者可以通过设置在对存储设备进行分类检测时的检测时间，对上电复位块进行定时更新，例如，若检测在对存储设备进行分类检测，检测已经对存储设备进行检测的累计时间超过30分钟，则确定当前已满足对上电复位块进行更新的条件。
在一实施方式中，所述检测模块，具体用于：
在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；
若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入所述需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；
若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。
具体地，在确定上电复位块满足更新条件时，会先判断当前上电复位块还剩余多少上电复位页，即检测上电复位块是否有足够的存储空间，若检测剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，即存储当所剩余存储空间较少时，就会标记上电复位块已满的标志“PORBLK FULL”，表示当前的上电复位块将不再有足够的空间来记录新的信息。这里，一旦标记上电复位块已满则需要先擦除当前上电复位块中记载的信息。然后重新写入。这里，若检测剩余的空白的页数不低于设置的页数阈值，则直接从上一次更新到的上电复位块中进行记载信息的上电复位页继续写入。这里，写入的内容包括当前的块地址数据、对存储设备进行检测的进程，以及上述的分配模块中记载的所有主上电复位块记载的对存储设备进行分类检测的数据信息，包括：（1）记录在分类执行过程中检测到的坏块的列表。（2）记录每个"SLC"（Single-Level Cell）和"XLC"（eXtra-Large Cell）块的擦除时间。（3）存储块中的数据被编程（写入）到页面中。（4）记录每个"SLC"和"XLC"块的擦除时间。
综上，上述实施例提供的用于对存储设备进行分类的数据检测装置中，通过分配模块配置上电复位块，在出现掉电的异常情况后通过加载模块加载上电复位块，并通过检测模块确定掉电前的检测操作和数据信息，并继续进行检测，能够避免在发生异常掉电的情况下需要重新进行检测的情况，有助于缩短对存储设备进行分类检测的时间，减少检测成本，提高产能。
基于前述实施例相同的发明构思，本发明实施例提供了一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，如图8所示，该装置包括：处理器710和存储有计算机程序的存储器711；其中，图8中示意的处理器710并非用于指代处理器710的个数为一个，而是仅用于指代处理器710相对其他器件的位置关系，在实际应用中，处理器710的个数可以为一个或多个；同样，图8中示意的存储器711也是同样的含义，即仅用于指代存储器711相对其他器件的位置关系，在实际应用中，存储器711的个数可以为一个或多个。在所述处理器710运行所述计算机程序时，实现应用于上述装置的所述用于对存储设备进行分类的数据检测方法。
该装置还可包括：至少一个网络接口712。该装置中的各个组件通过总线系统713耦合在一起。可理解，总线系统713用于实现这些组件之间的连接通信。总线系统713除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。但是为了清楚说明起见，在图8中将各种总线都标为总线系统713。
其中，存储器711可以是易失性存储器或非易失性存储器，也可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器（ROM，Read Only Memory）、可编程只读存储器（PROM，Programmable Read-Only Memory）、可擦除可编程只读存储器（EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory）、电可擦除可编程只读存储器（EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）、磁性随机存取存储器（FRAM，ferromagnetic random access memory）、快闪存储器（Flash Memory）、磁表面存储器、光盘、或只读光盘（CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory）；磁表面存储器可以是磁盘存储器或磁带存储器。易失性存储器可以是随机存取存储器（RAM，Random AccessMemory），其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器（SRAM，Static Random Access Memory）、同步静态随机存取存储器（SSRAM，Synchronous Static Random Access Memory）、动态随机存取存储器（DRAM，Dynamic Random Access Memory）、同步动态随机存取存储器（SDRAM，SynchronousDynamic Random Access Memory）、双倍数据速率同步动态随机存取存储器（DDRSDRAM，Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory）、增强型同步动态随机存取存储器（ESDRAM，Enhanced Synchronous Dynamic Random Access Memory）、同步连接动态随机存取存储器（SLDRAM，SyncLink Dynamic Random Access Memory）、直接内存总线随机存取存储器（DRRAM，Direct Rambus Random Access Memory）。本发明实施例描述的存储器711旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
本发明实施例中的存储器711用于存储各种类型的数据以支持该装置的操作。这些数据的示例包括：用于在该装置上操作的任何计算机程序，如操作系统和应用程序；联系人数据；电话簿数据；消息；图片；视频等。其中，操作系统包含各种系统程序，例如框架层、核心库层、驱动层等，用于实现各种基础业务以及处理基于硬件的任务。应用程序可以包含各种应用程序，例如媒体播放器（Media Player）、浏览器（Browser）等，用于实现各种应用业务。这里，实现本发明实施例方法的程序可以包含在应用程序中。
基于前述实施例相同的发明构思，本实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，计算机可读存储介质可以是磁性随机存取存储器（FRAM，ferromagnetic random access memory）、只读存储器（ROM，Read OnlyMemory）、可编程只读存储器（PROM，Programmable Read-Only Memory）、可擦除可编程只读存储器（EPROM，Erasable Programmable Read-Only Memory）、电可擦除可编程只读存储器（EEPROM，Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）、快闪存储器（FlashMemory）、磁表面存储器、光盘、或只读光盘（CD-ROM，Compact Disc Read-Only Memory）等存储器；也可以是包括上述存储器之一或任意组合的各种设备，如移动电话、计算机、平板设备、个人数字助理等。所述计算机可读存储介质中存储的计算机程序被处理器运行时，实现应用于上述装置的所述用于对存储设备进行分类的数据检测方法。所述计算机程序被处理器执行时实现的具体步骤流程请参考图1所示实施例的描述，在此不再赘述。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，除了包含所列的那些要素，而且还可包含没有明确列出的其他要素。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；
在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；
读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块，包括：
对每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；
通过所述主上电复位块根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；
根据所述备份上电复位块对所述主上电复位块的数据信息进行备份。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述主上电复位块记载对应的存储设备分类检测的数据信息，包括：
设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：
记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：
在通过上电复位块对存储设备中的数据信息进行记载时，检测所述上电复位块是否需要进行更新，所述更新的条件包括以下至少一种：
检测已经对存储设备中各个存储块进行检测的存储块的累计数量，若检测所述存储块的累计数量超过预设的块数量阈值，则确定对所述上电复位块进行更新；
检测已经对所述存储设备进行检测的累计时间，若检测所述累计时间超过预设的时间阈值，则确定对所述上电复位块进行更新。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测，还包括：
在确定对上电复位块进行更新后，对上电复位块中的剩余的空白的页数进行检测，判断是否有足够的存储空间；
若所述剩余的空白的页数低于设置的页数阈值，则对所述上电复位块标记已满的标志，并对所述上电复位块记载的数据信息进行擦除，并重新写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据；
若所述剩余的空白的页数不低于所述页数阈值，则在剩余的空白页数中写入需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型和块地址数据。
6.一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，其特征在于，所述装置包括：
分配模块，用于在对存储设备进行分类检测之前，为所述存储设备分配用于记载所述存储设备的数据信息的上电复位块；
加载模块，用于在所述存储设备的分类检测过程中出现掉电情况时，加载为所述存储设备分配的所述上电复位块中的数据信息，并对所述数据信息进行读取；
检测模块，用于读取所述数据信息中的块地址数据，以根据所述块地址数据确定对应的存储设备的检测地址，并根据所述检测地址继续对所述存储设备进行分类的数据检测。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述分配模块，具体用于：
对每个存储设备分配两个上电复位块，包括主上电复位块和备份上电复位块；
所述主上电复位块，用于根据设置的需要记载的对存储设备进行分类检测的数据类型，记载存储设备的分类检测的数据信息，以及对应的块地址数据；
所述备份上电复位块，用于对所述主上电复位块的数据信息进行备份。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述分配模块，具体用于：
设置对存储设备进行分类检测时，记载检测的数据信息，以及当前分类执行阶段的页，所述数据信息包括以下至少一种：
记录在对所述存储设备中各个存储块执行分类过程中检测到的坏块；对所述存储设备中各个存储块的数据进行擦除的擦除时间；所述存储设备中各个存储块的数据编程速度；所述存储设备中各个存储块进行读写时出现错误的最大纠正位数。
9.一种用于对存储设备进行分类的数据检测装置，其特征在于，包括：
处理器；
用于存储所述处理器可执行指令的存储器；
其中，所述处理器配置执行所述指令，以实现如权利要求1-5中任一项所述的用于对存储设备进行分类的数据检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机可读存储介质中的指令由处理器执行时，实现如权利要求1-5中任一项所述的用于对存储设备进行分类的数据检测方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311138014.5A CN116863986A (zh) | 2023-09-05 | 2023-09-05 | 一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202311138014.5A CN116863986A (zh) | 2023-09-05 | 2023-09-05 | 一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116863986A true CN116863986A (zh) | 2023-10-10 |
Family
ID=88230809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202311138014.5A Pending CN116863986A (zh) | 2023-09-05 | 2023-09-05 | 一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116863986A (zh) |
Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0341538A (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-22 | Nec Corp | 主記憶装置 |
| US20030043612A1 (en) * | 2001-09-05 | 2003-03-06 | Fujitsu Limited | Semiconductor device whereon memory chip and logic chip are mounted, making testing of memory chip possible |
| JP2008123534A (ja) * | 2007-11-26 | 2008-05-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 不揮発性メモリ内蔵マイクロコンピュータチップ、及びその検査方法 |
| DE212012000101U1 (de) * | 2012-10-08 | 2014-01-28 | Dongguan Jie Du Electronics Technology Co., Ltd. | Eine intelligente Steuervorrichtung für die elektrische Detektion |
| CN106959907A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-07-18 | 无锡紫光存储系统有限公司 | 一种云平台碎片化数据备份还原系统 |
| CN108172262A (zh) * | 2016-12-07 | 2018-06-15 | 三星电子株式会社 | 包含可修复的易失性存储器的存储器件及其操作方法 |
| CN111045870A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-21 | 北京浪潮数据技术有限公司 | 一种保存与恢复元数据的方法、装置和介质 |
| JP6748760B1 (ja) * | 2019-05-13 | 2020-09-02 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体記憶装置 |
| CN113239406A (zh) * | 2021-06-07 | 2021-08-10 | 深圳市蔚来芯科技有限公司 | 一种企业云端客户管理系统及方法 |
| TWI802324B (zh) * | 2022-03-18 | 2023-05-11 | 群聯電子股份有限公司 | 異常斷電恢復方法、記憶體控制電路單元以及記憶體儲存裝置 |
-
2023
- 2023-09-05 CN CN202311138014.5A patent/CN116863986A/zh active Pending
Patent Citations (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0341538A (ja) * | 1989-07-10 | 1991-02-22 | Nec Corp | 主記憶装置 |
| US20030043612A1 (en) * | 2001-09-05 | 2003-03-06 | Fujitsu Limited | Semiconductor device whereon memory chip and logic chip are mounted, making testing of memory chip possible |
| JP2008123534A (ja) * | 2007-11-26 | 2008-05-29 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 不揮発性メモリ内蔵マイクロコンピュータチップ、及びその検査方法 |
| DE212012000101U1 (de) * | 2012-10-08 | 2014-01-28 | Dongguan Jie Du Electronics Technology Co., Ltd. | Eine intelligente Steuervorrichtung für die elektrische Detektion |
| CN108172262A (zh) * | 2016-12-07 | 2018-06-15 | 三星电子株式会社 | 包含可修复的易失性存储器的存储器件及其操作方法 |
| CN106959907A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-07-18 | 无锡紫光存储系统有限公司 | 一种云平台碎片化数据备份还原系统 |
| JP6748760B1 (ja) * | 2019-05-13 | 2020-09-02 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 半導体記憶装置 |
| CN111045870A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-21 | 北京浪潮数据技术有限公司 | 一种保存与恢复元数据的方法、装置和介质 |
| CN113239406A (zh) * | 2021-06-07 | 2021-08-10 | 深圳市蔚来芯科技有限公司 | 一种企业云端客户管理系统及方法 |
| TWI802324B (zh) * | 2022-03-18 | 2023-05-11 | 群聯電子股份有限公司 | 異常斷電恢復方法、記憶體控制電路單元以及記憶體儲存裝置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4429685B2 (ja) | 不揮発性メモリシステム内のエラー訂正コードのためのハイブリッド実装 | |
| US8032783B2 (en) | Memory apparatus which provides notification of memory capacity | |
| US7675776B2 (en) | Bit map control of erase block defect list in a memory | |
| US10372619B2 (en) | Data backup method, data recovery method and storage controller | |
| US9996462B1 (en) | Data storage device and data maintenance method thereof | |
| TWI436369B (zh) | 記憶裝置之使用壽命量測方法及系統內編程碼置換方法、及其資料儲存系統 | |
| US20110271041A1 (en) | Electronic device comprising flash memory and related method of handling program failures | |
| CN111475425B (zh) | 管理闪存模块的方法及相关的闪存控制器与电子装置 | |
| KR101566849B1 (ko) | 메모리 장치 관리 방법, 그 관련 메모리 장치 및 그 관련 제어기 | |
| US7315870B2 (en) | Memory controller, flash memory system, and method for recording data on flash memory | |
| JP2011221996A (ja) | 不揮発性メモリコントローラ及び不揮発性記憶装置 | |
| US11366596B2 (en) | Data storage device and data access method for quickly loading boot data | |
| CN105320621A (zh) | 存储器系统以及信息处理装置 | |
| CN113741798A (zh) | 数据存储装置及其操作方法 | |
| TWI616807B (zh) | 資料寫入方法以及儲存控制器 | |
| US10942811B2 (en) | Data processing method for solid state drive | |
| JP4661369B2 (ja) | メモリコントローラ | |
| CN108108118B (zh) | 数据写入方法以及存储控制器 | |
| CN116863986A (zh) | 一种用于对存储设备进行分类的数据检测方法、装置 | |
| CN109960611B (zh) | 数据恢复的方法、装置、电子设备及机器可读存储介质 | |
| JP2007323159A (ja) | メモリコントローラ及びメモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びに、フラッシュメモリの制御方法 | |
| JP2010256944A (ja) | Ｎａｎｄ型フラッシュメモリ保守装置及びｎａｎｄ型フラッシュメモリ保守プログラム及びｎａｎｄ型フラッシュメモリ保守方法 | |
| CN108509295B (zh) | 存储器系统的操作方法 | |
| CN112988037A (zh) | 静态磨损均衡方法、终端和计算机可读存储介质 | |
| CN110795275A (zh) | 基于异常掉电过程中的异常块识别方法和装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |