CN116804709A - 采样电路和终端设备 - Google Patents

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CN116804709A CN202210263013.2A CN202210263013A CN116804709A CN 116804709 A CN116804709 A CN 116804709A CN 202210263013 A CN202210263013 A CN 202210263013A CN 116804709 A CN116804709 A CN 116804709A
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Abstract

本发明实施例提供了一种采样电路和终端设备，包括过流保护单元、电量计单元和第一采样电阻，过流保护单元设置有第一过流采样端和第二过流采样端，电量计单元设置有第一电量采样端和第二电量采样端，第一采样电阻串联连接于第一过流采样端和第二过流采样端之间，并且还串联连接于第一电量采样端和第二电量采样端之间。由于过流保护单元也需要用到采样电阻，对此，本发明实施例把过流保护单元的采样电阻纳入电量计采样总电阻的范围之内，实现了采样电阻的复用；即将原来用于过流保护检测的第一采样电阻同时用于电量检测中，实现了第一采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。

Description

采样电路和终端设备
技术领域
本发明实施例涉及但不限于充电技术领域，尤其涉及一种采样电路和终端设备。
背景技术
目前，对于电子设备如智能手机等，用户对设备充电时间的需求出现越来越短的趋势，为了满足用户日益增长的需求，业界提出了PD(Power Delivery，功率输出)充电协议，旨在完成大功率充电的标准化。由于不断增加的大功率充电需求会导致发热量增加，从而导致电池温度上升，而由于电池需要在可控的温度范围内充放电才能安全可靠，所以，为了保证电池安全可靠，同时尽可能快速充电，就需要尽量减少大功率快速充电过程中产生的热损耗。
终端对电池充电和放电期间，需要计算电池的容量，因此往往需要采用电量计对充电和放电路径上的电压和电流进行采样，由于目前的电量计技术都需要额外增设采样功率电阻，因此必然会在充电和放电通路上引入额外的热损耗。而过大的热损耗会增加充电过程中的热损耗总量，为了保证电池的安全和可靠，在热损耗总量变大的情况下，达到温度门限的时间就会缩短，终端所需要采取的安全措施是对充电电流进行限制，而充电限流会影响充电速度，从而降低大功率充电这项功能的用户体验。
发明内容
以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
本发明实施例提供了一种采样电路和终端设备，能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。
第一方面，本发明实施例提供了一种采样电路，包括：
过流保护单元，设置有第一过流采样端和第二过流采样端；
电量计单元，设置有第一电量采样端和第二电量采样端；
第一采样电阻，串联连接于所述第一过流采样端和所述第二过流采样端之间，所述第一采样电阻还串联连接于所述第一电量采样端和所述第二电量采样端之间。
第二方面，本发明实施例还提供了一种终端设备，包括如上述第一方面的采样电路。
本发明实施例包括：本发明实施例中的采样电路包括过流保护单元、电量计单元和第一采样电阻，其中，过流保护单元设置有第一过流采样端和第二过流采样端，电量计单元设置有第一电量采样端和第二电量采样端，第一采样电阻串联连接于第一过流采样端和第二过流采样端之间，并且第一采样电阻还串联连接于第一电量采样端和第二电量采样端之间。根据本发明实施例的技术方案，由于终端设备会存在过流保护单元，而过流保护单元也需要用到采样电阻，对此，本发明实施例把过流保护单元的采样电阻纳入电量计采样总电阻的范围之内，实现了采样电阻的复用；也就是说，本发明实施例将原来用于过流保护检测的第一采样电阻同时用于电量检测中，实现了第一采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
图1为本发明一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻和第二采样电阻的连接关系示意图；
图2为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻和第二采样电阻的连接关系示意图；
图3为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻和第二采样电阻的连接关系示意图；
图4为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻和第二采样电阻的连接关系示意图；
图5为现有方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图；
图6为本发明第一种优化方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图；
图7为本发明一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻的连接关系示意图；
图8为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻的连接关系示意图；
图9为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻的连接关系示意图；
图10为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻的连接关系示意图；
图11为现有方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图；
图12为本发明第二种优化方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
需要说明的是，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书、权利要求书或上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
在相关技术中，对于电子设备如智能手机等，用户对设备充电时间的需求出现越来越短的趋势，从最早的两到三小时，到如今希望可以在半小时到一小时内充满，随着用户体验需求的升级，以后还会出现更极致的用户体验要求。为了满足用户日益增长的需求，业界提出了PD充电协议，旨在完成大功率充电的标准化。由于不断增加的大功率充电需求会导致发热量增加，较大的发热量会升高整个终端设备的环境温度，间接导致电池温度上升。而由于电池需要在可控的温度范围内充放电才能安全可靠，终端设备充电和放电带来的发热会引发电池安全隐患。所以，为了保证电池安全可靠，同时尽可能快速充电，就需要尽量减少大功率快速充电过程中产生的热损耗。
另外，终端对电池充电和放电，需要计算电池的容量，负责这个功能的芯片为电量计，电量计需要采样充电和放电路径上的电压和电流，这种电压和电流采样于一身的电量计一般称为库仑计。采样的方法通常是在充点和放电通路上串联一个高精度的大功率的功率电阻，当充电或放电的电流流经此电阻时，电量计会对该电阻两端的电压进行采样，并通过其芯片内部的ADC模块阵列进行换算，输出对应的数字信息，并通过软件算法，计算出电流值。
由于电量计芯片技术水平不同，电压ADC和电流ADC的采样精度不同，所需要配备的采样功率电阻阻值也不同，以便实现足够的量程或足够的通流量。目前较为先进的电量计技术，都需要一个采样功率电阻，因此必然在充电和放电通路上引入额外的热损耗。现有技术下，有如下情况需要改进：
由于电量计需要配备一定阻值的功率电阻，而根据热损耗公式Pd＝I2R可知：功率电阻阻值越大或者电流越大都会导致热损耗越大，过大的热损耗会导致电池温度达到温度门限的时间缩短，对此，现有的安全措施是对充电电流进行限制。但是充电限流会降低充电速度，从而会影响用户体验。
基于上述情况，本发明实施例提供了一种采样电路和终端设备，包括过流保护单元、电量计单元和第一采样电阻，其中，过流保护单元设置有第一过流采样端和第二过流采样端，电量计单元设置有第一电量采样端和第二电量采样端，第一采样电阻串联连接于第一过流采样端和第二过流采样端之间，并且第一采样电阻还串联连接于第一电量采样端和第二电量采样端之间。
根据本发明实施例的技术方案，由于终端设备会存在过流保护单元，而过流保护单元也需要用到采样电阻，对此，本发明实施例把过流保护单元的采样电阻纳入电量计采样总电阻的范围之内，实现了采样电阻的复用；也就是说，本发明实施例将原来用于过流保护检测的第一采样电阻同时用于电量检测中，实现了第一采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。
下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
如图1和图2所示，图1为本发明一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1和第二采样电阻R2的连接关系示意图；图2为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1和第二采样电阻R2的连接关系示意图。
具体地，第一采样电阻R1的数量为一个，采样电路还包括第二采样电阻R2，第一采样电阻R1的一端直接连接至第一电量采样端，并且直接或间接连接至第一过流采样端；第一采样电阻R1的另一端直接连接至第二过流采样端，并且还通过第二采样电阻R2连接至第二电量采样端。
其中，图1中的第一采样电阻R1的一端是直接连接至第一过流采样端，图2中的第一采样电阻R1的一端可以通过其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端。
根据图1和图2可知，本发明实施例将原来用于过流保护检测的第一采样电阻R1同时用于电量检测中，实现了采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。而第二采样电阻R2是在第一采样电阻R1的电阻值无法满足电量检测所需要的电阻值的时候所增设的。
需要说明的是，本发明实施例中，图2中的第一采样电阻R1的一端可以通过一个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，也可以是通过多个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，本发明实施例对其他采样电阻如R3的数量不作限定。
另外，需要说明的是，图1中的OCP_P为第一过流采样端,OCP_N为第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。图2中的OCP1_P为第一级过流保护单元的第一过流采样端,OCP1_N为第一级过流保护单元的第二过流采样端，OCP2_P为第二级过流保护单元的第一过流采样端,OCP2_N为第二级过流保护单元的第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。
另外，如图3和图4所示，图3为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1和第二采样电阻R2的连接关系示意图；图4为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1和第二采样电阻R2的连接关系示意图。
具体地，采样电路还包括第二采样电阻R2，第一采样电阻R1和过流保护单元的数量均为多个，第一采样电阻R1和过流保护单元一一对应，多个第一采样电阻R1和第二采样电阻R2依次串联形成第一电阻单元，第一电阻单元的一端直接连接至第一电量采样端，并且直接或间接连接至所有第一过流采样端；每个第一采样电阻R1远离第一过流采样端的一端均连接至对应的第二过流采样端；第一电阻单元的另一端直接连接至第二电量采样端。
其中，图3中的第一电阻单元的一端是直接连接至第一过流采样端，图4中的第一电阻单元的一端可以通过其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端。
需要说明的是，本发明实施例中，图4的第一电阻单元的一端可以通过一个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，也可以是通过多个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，本发明实施例对其他采样电阻如R3的数量不作限定。
根据图3和图4可知，本发明实施例将原来用于过流保护检测的第一采样电阻R1同时用于电量检测中，实现了采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。而第二采样电阻R2是在第一采样电阻R1的电阻值无法满足电量检测所需要的电阻值的时候所增设的。
另外，需要说明的是，本发明实施例中第一电阻单元中的第一采样电阻R1的数量可以为两个，也可以大于两个，本发明实施例对第一电阻单元中的第一采样电阻R1的数量不作限定。
另外，需要说明的是，对于图1至图4中的第二采样电阻R2，数量可以为一个，也可以为多个，本发明实施例对第二采样电阻R2的数量不作限定。
另外，需要说明的是，图3中的OCP1_P为第一级过流保护单元的第一过流采样端,OCP1_N为第一级过流保护单元的第二过流采样端，OCP2_P为第二级过流保护单元的第一过流采样端,OCP2_N为第二级过流保护单元的第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。图4中的OCP1_P为第一级过流保护单元的第一过流采样端,OCP1_N为第一级过流保护单元的第二过流采样端，OCP2_P为第二级过流保护单元的第一过流采样端,OCP2_N为第二级过流保护单元的第二过流采样端，OCP3_P为第三级过流保护单元的第一过流采样端,OCP3_N为第三级过流保护单元的第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。
对于图1至图2，第一采样电阻R1和第二采样电阻R2之间通过PCB板导电通道电连接。对应地，对于图3至图4，相邻两个第一采样电阻R1之间、以及第一采样电阻R1和第二采样电阻R2之间均通过PCB板导电通道电连接。
其中，PCB板导电通道的阻值通过如下至少之一参数进行调整：铜箔厚度、线宽、铺铜形状、基材材料类型、基材材料厚度。
另外，基于上述图1至图4中增加串联第二采样电阻R2的实施例，具体地，之所以需要采样功率电阻的复用，是因为性能较低的电量计ADC精度差，只有足够大的采样功率电阻，才能使其获得精度较高的电压采样值，最终换算出的电流值也才能保证足够的精度。尤其当电流特别小的时候，是对电量计采样精度的重要考验，足够大的采样功率电阻能弥补ADC精度差的缺陷。
本发明实施例的第一种优化方案，具体如下：
示例性地，如图5所示，图5为现有方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图，第一级过流保护芯片采样电阻RS1的电阻值为1毫欧，第二级过流保护芯片采样电阻RS2的电阻值为1毫欧，电量计采样电阻RS3_1的电阻值为5毫欧，电阻之间的PCB阻抗的总和为Rpcb＝Rpcb1+Rpcb2，若忽略Rpcb，那么其总电阻为：1+1+5＝7毫欧，那么热损耗为：
Pd11＝I2R＝10A*10A*(1+1+5+Rpcb)mohm＝0.7W
对于图5，本发明实施例的优化方案可以如图6所示，图6为本发明第一种优化方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图。第一级过流保护芯片采样电阻RS1的电阻值为1毫欧，第二级过流保护芯片采样电阻RS2的电阻值为1毫欧，电量计采样电阻RS3_2的电阻值为2毫欧，电阻之间的PCB阻抗的总和为Rpcb＝Rpcb1+Rpcb2，若忽略Rpcb，那么其总电阻为：1+1+2+Rpcb＝4毫欧，那么热损耗为：
Pd12＝I2R＝10A*10A*(1+1+2)mohm＝0.4W
其中，Rpcb是一个变化量，精度控制的好坏，决定了此改进方案的实用性，根据实际项目的测试情况统计数据来看，可控效果很好，可以控制精度到1％以内，达到高精度功率电阻的要求。
根据本发明实施例设计优化后，采样功率电阻所产生的热损耗在此案例中减小了0.3W，如果充电电流进一步增大，此热损耗的降低效果会进一步提升。改善优化热损耗后，充电在大功率阶段停留的时间会加长，最终表现为充电速度提升，用户体验感变好。
对此，以下是理论方法总结，用于解决电量计精度差的问题，兼顾降低热损耗。
对于图5，热损耗为：
Pdold＝I2Rold＝I2*(RS1+RS2+RS3_1+Rpcb1+Rpcb2) 公式①
对于图6，热损耗为：
Pdnew＝I2Rnew＝I2*(RS1+RS2+RS3_2+Rpcb1+Rpcb2) 公式②
由公式①-公式②，可得优化损耗为：
Pd优化损耗＝I2R优化阻抗＝I2*(RS3_1-RS3_2)
值得注意的是，关键点电量计检测电阻的阻值从RS3_1变为RS1+RS2+RS3_2+Rpcb1+Rpcb2，RS1+RS2+RS3_2+Rpcb1+Rpcb2的阻值接近于RS3_1，RS3_2明显小于RS3_1。
Rpcb1和Rpcb2可以通过pcb叠层设计中的铜箔厚度、线宽、铺铜形状、基材材料和厚度等参数，来控制阻抗。根据大量实测数据，Rpcb1和Rpcb2的阻抗之和是一个具有中心值、符合正态分布的数据结构，在生产中可以加严筛选指标来把此阻抗值控制到不影响RS1+RS2+RS3_2+Rpcb1+Rpcb2总阻值离散性的范围内，使其总阻值精度可以达到±0.5％至1％。
另外，如图7和图8所示，图7为本发明一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1的连接关系示意图；图8为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1的连接关系示意图。
具体地，第一采样电阻R1的数量为一个，第一采样电阻R1的一端直接连接至第一电量采样端，并且直接或间接连接至第一过流采样端；第一采样电阻R1的另一端直接连接至第二过流采样端和第二电量采样端。
其中，图7中的第一采样电阻R1的一端是直接连接至第一过流采样端，图8中的第一采样电阻R1的一端可以通过其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端。
根据图7和图8可知，当第一采样电阻R1的电阻值能够满足电量检测所需要的电阻值的情况下，本发明实施例可以无需增加串联第二采样电阻R2。本发明实施例将原来用于过流保护检测的第一采样电阻R1同时用于电量检测中，实现了采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。
需要说明的是，本发明实施例中，图8中的第一采样电阻R1的一端可以通过一个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，也可以是通过多个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，本发明实施例对其他采样电阻如R3的数量不作限定。
另外，需要说明的是，图7中的OCP_P为第一过流采样端,OCP_N为第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。图8中的OCP1_P为第一级过流保护单元的第一过流采样端,OCP1_N为第一级过流保护单元的第二过流采样端，OCP2_P为第二级过流保护单元的第一过流采样端,OCP2_N为第二级过流保护单元的第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。
另外，如图9和图10所示，图9为本发明一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1的连接关系示意图；图10为本发明另一个实施例提供的采样电路中的第一采样电阻R1的连接关系示意图。
具体地，第一采样电阻R1和过流保护单元的数量均为多个，第一采样电阻R1和过流保护单元一一对应，多个第一采样电阻R1串联形成第二电阻单元，第二电阻单元的一端直接连接至第一电量采样端，并且直接或间接连接至所有第一过流采样端；每个第一采样电阻R1远离第一过流采样端的一端均连接至对应的第二过流采样端；第二电阻单元的另一端直接连接至第二电量采样端。
其中，图9中的第二电阻单元的一端是直接连接至第一过流采样端，图10中的第二电阻单元的一端可以通过其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端。
需要说明的是，本发明实施例中，图10的第二电阻单元的一端可以通过一个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，也可以是通过多个其他采样电阻如R3间接连接至第一过流采样端，本发明实施例对其他采样电阻如R3的数量不作限定。
另外，需要说明的是，图9中的OCP1_P为第一级过流保护单元的第一过流采样端,OCP1_N为第一级过流保护单元的第二过流采样端，OCP2_P为第二级过流保护单元的第一过流采样端,OCP2_N为第二级过流保护单元的第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。图10中的OCP1_P为第一级过流保护单元的第一过流采样端,OCP1_N为第一级过流保护单元的第二过流采样端，OCP2_P为第二级过流保护单元的第一过流采样端,OCP2_N为第二级过流保护单元的第二过流采样端，OCP3_P为第三级过流保护单元的第一过流采样端,OCP3_N为第三级过流保护单元的第二过流采样端，SENSE_P为第一电量采样端，SENSE_N为第二电量采样端。
根据图9和图10可知，当第一采样电阻R1的电阻值能够满足电量检测所需要的电阻值的情况下，本发明实施例可以无需增加串联第二采样电阻R2。本发明实施例将原来用于过流保护检测的第一采样电阻R1同时用于电量检测中，实现了采样电阻的复用；由于采样电阻复用后会降低总的电阻值，从而能够优化热损耗，加快充电速度，提升用户体验。
另外，需要说明的是，本发明实施例中第二电阻单元中的第一采样电阻R1的数量可以为两个，也可以大于两个，本发明实施例对第二电阻单元中的第一采样电阻R1的数量不作限定。
另外，基于上述图7至图10中增加串联第二采样电阻R2的实施例，具体地，之所以需要采样功率电阻的复用，是因为需要把一个电阻同时用于两种检测电路中，即要作为过流芯片的采样功率电阻，也要作为电量计的采样功率电阻。因为此种情况下，电量计ADC精度足够，可以使用2mohm或1mohm甚至更小的采样功率电阻，就能够和过流芯片的采样功率电阻进行复用。
本发明实施例的第二种优化方案，具体如下：
示例性地，如图11所示，图11为现有方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图。第一级过流保护芯片采样电阻RS1的电阻值为0.75毫欧，第二级过流保护芯片采样电阻RS2的电阻值为0.75毫欧，电量计采样电阻RS3的电阻值为0.75毫欧，那么其总电阻为：0.75+0.75+0.75＝2.25毫欧，那么热损耗为：
Pd21＝I2R＝20A*20A*(0.75+0.75+0.75)mohm＝0.9W
对于图11，本发明实施例的优化方案可以如图12所示，图12为本发明第二种优化方案中过流保护检测和充放电电量计算所使用的总电阻的示意图。第一级过流保护芯片采样电阻RS1的电阻值为0.75毫欧，第二级过流保护芯片采样电阻和电量计采样电阻复用后的复用电阻RS2的电阻值为0.75毫欧，那么其总电阻为：0.75+0.75＝1.5毫欧，那么热损耗为：
Pd22＝I2R＝20A*20A*(0.75+0.75)mohm＝0.6W
根据本发明实施例设计优化后，采样功率电阻所产生的热损耗在此案例中减小了0.3W，如果充电电流进一步增大，此热损耗的降低效果会进一步提升。改善优化热损耗后，充电在大功率阶段停留的时间会加长，最终表现为充电速度提升，用户体验感变好。
对此，以下是理论方法总结，用于解决电量计精度差的问题，兼顾降低热损耗。
对于图11，热损耗为：
Pdold＝I2Rold＝I2*(RS1+RS2+RS3) 公式③
对于图12，热损耗为：
Pdnew＝I2Rnew＝I2*(RS1+RS2) 公式④
由公式③-公式④，可得优化损耗为：
Pd优化损耗＝I2R优化阻抗＝I2*RS3
如果此场景下电量计也存在精度差的问题，可以适当调整OCP检测芯片，放宽对检测电阻的要求，增大RS1或RS2使其适应电量计检测电阻使用范围，达到兼顾降低热损耗的目的。
另外，基于上述所示的采样电路，本发明实施例还提供了一种终端设备，具体地，本发明实施例的终端设备包括但不限于上述任一实施例中的采样电路。
其中，终端设备还包括电池保护板，第一采样电阻R1安装在电池保护板上。对应地，若存在第二采样电阻R2，也同样可以安装在电池保护板上。
需要说明的是，由于本发明实施例的终端设备包括有上述任一实施例中的采样电路，因此，本发明实施例的终端设备的具体实施方式和技术效果，可参照上述任一实施例中的采样电路的具体实施方式和技术效果。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的共享条件下还可作出种种等同的变形或替换，这些等同的变形或替换均包括在本发明权利要求所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种采样电路，包括：
过流保护单元，设置有第一过流采样端和第二过流采样端；
电量计单元，设置有第一电量采样端和第二电量采样端；
第一采样电阻，串联连接于所述第一过流采样端和所述第二过流采样端之间，所述第一采样电阻还串联连接于所述第一电量采样端和所述第二电量采样端之间。
2.根据权利要求1所述的采样电路，其特征在于，所述第一采样电阻的数量为一个，所述采样电路还包括第二采样电阻，所述第一采样电阻的一端直接连接至所述第一电量采样端，并且直接或间接连接至所述第一过流采样端；所述第一采样电阻的另一端直接连接至所述第二过流采样端，并且还通过所述第二采样电阻连接至所述第二电量采样端。
3.根据权利要求1所述的采样电路，其特征在于，所述采样电路还包括第二采样电阻，所述第一采样电阻和所述过流保护单元的数量均为多个，所述第一采样电阻和所述过流保护单元一一对应，多个所述第一采样电阻和所述第二采样电阻依次串联形成第一电阻单元，所述第一电阻单元的一端直接连接至所述第一电量采样端，并且直接或间接连接至所有所述第一过流采样端；每个所述第一采样电阻远离所述第一过流采样端的一端均连接至对应的所述第二过流采样端；所述第一电阻单元的另一端直接连接至所述第二电量采样端。
4.根据权利要求2所述的采样电路，其特征在于，所述第一采样电阻和所述第二采样电阻之间通过PCB板导电通道电连接。
5.根据权利要求3所述的采样电路，其特征在于，相邻两个所述第一采样电阻之间、以及所述第一采样电阻和所述第二采样电阻之间均通过PCB板导电通道电连接。
6.根据权利要求4或5所述的采样电路，其特征在于，所述PCB板导电通道的阻值通过如下至少之一参数进行调整：铜箔厚度、线宽、铺铜形状、基材材料类型、基材材料厚度。
7.根据权利要求1所述的采样电路，其特征在于，所述第一采样电阻的数量为一个，所述第一采样电阻的一端直接连接至所述第一电量采样端，并且直接或间接连接至所述第一过流采样端；所述第一采样电阻的另一端直接连接至所述第二过流采样端和所述第二电量采样端。
8.根据权利要求1所述的采样电路，其特征在于，所述第一采样电阻和所述过流保护单元的数量均为多个，所述第一采样电阻和所述过流保护单元一一对应，多个所述第一采样电阻串联形成第二电阻单元，所述第二电阻单元的一端直接连接至所述第一电量采样端，并且直接或间接连接至所有所述第一过流采样端；每个所述第一采样电阻远离所述第一过流采样端的一端均连接至对应的所述第二过流采样端；所述第二电阻单元的另一端直接连接至所述第二电量采样端。
9.一种终端设备，其特征在于，包括如权利要求1至8中任意一项所述的采样电路。
10.根据权利要求9所述的终端设备，其特征在于，所述终端设备还包括电池保护板，所述第一采样电阻安装在所述电池保护板上。
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