CN116773462B - 一种铁矿的光谱特性识别装置及识别方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种铁矿的光谱特性识别装置及识别方法，属于铁矿的光谱特性识别技术领域，其中，铁矿的光谱特性识别装置的样品承载机构包括第一螺杆，所述第一螺杆上通过螺纹套接有第一滑块，所述第一滑块上侧连接有转轴，所述转轴上连接有矩形框，所述矩形框套接于所述第一滑块外侧，且所述矩形框和所述第一滑块之间具有间距，所述矩形框的上表面为承载面，所述承载面上设有样品固定件；所述第一滑块侧壁转动连接有伸缩件，所述伸缩件的另一端连接于所述矩形框的侧壁，所述伸缩件和所述转轴错开。该发明便于精准调节样品的位置，提高检测精度。

Description

一种铁矿的光谱特性识别装置及识别方法

技术领域

本发明属于铁矿的光谱特性识别技术领域，尤其涉及一种铁矿的光谱特性识别装置及识别方法。

背景技术

铁矿的光谱特性识别装置，是一种用于分析铁矿成分和性质的仪器设备。该装置利用光学原理，对铁矿样本进行辐射光源激发，测量其吸收、发射或散射光谱，通过比对铁矿样本光谱图谱数据库中已知的标准光谱图谱，可以快速准确地识别铁矿的类型和含量。铁矿的光谱特性识别装置主要由激发光源、光学系统、检测器等部件组成，被广泛应用于冶金、矿产资源勘探和开采、环境监测等领域。

铁矿的光谱特性识别装置在检测时存在测量精度不高、信号强度弱、背景干扰的问题，原因在于样品的照射角度不精准，因此亟需一种便于调节样品的位置的光谱特性识别装置和光谱特性识别方法。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明提供了一种铁矿的光谱特性识别装置及识别方法，具备便于精准调节样品位置的优点，解决了现有技术中不便于精准调节的问题。

本发明是这样实现的，一种铁矿的光谱特性识别装置，包括光学机构、样品承载机构和检测器，所述光学机构包括光线激发件和光线传播件，所述光线传播件位于所述光线激发件和样品承载机构之间，检测器用于接收光信号，将其转化为数字信号并传输给数据处理系统，所述样品承载机构包括第一螺杆，所述第一螺杆上通过螺纹套接有第一滑块，所述第一滑块上侧连接有转轴，所述转轴上连接有矩形框，所述矩形框套接于所述第一滑块外侧，且所述矩形框和所述第一滑块之间具有间距，所述矩形框的上表面为承载面，所述承载面上设有样品固定件；所述第一滑块侧壁转动连接有伸缩件，所述伸缩件的另一端连接于所述矩形框的侧壁，所述伸缩件和所述转轴错开。

使用时，通过样品固定件将样品固定在承载面上，转动第一螺杆，可推动第一滑块、转轴、伸缩件、矩形框和样品固定件均发生移动，从而可沿着第一螺杆的轴向调节样品的位置；伸缩件伸缩时，由于第一螺杆不动，因此可使矩形框以转轴为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度。

通过该设置，可灵活调节样品的位置，调节照射角度可以带来以下好处：

提高测量精度：铁矿的光谱特征与其晶体结构和化学成分密切相关，调节照射角度可以改变入射光线的方向和角度，从而改变待测样品的光学响应。这有助于提高测量精度和准确性。

增强信号强度：在某些情况下，待测铁矿样品可能会存在表面吸收、散射等现象，影响光线的穿透深度和信号强度。调节照射角度可以通过改变入射光线的角度和方向，使其更有效地穿透和反射，从而增强信号强度。

降低背景干扰：在铁矿光谱测量中，背景干扰是一个常见问题，包括周围环境光线、仪器本身的光电噪声等。调节照射角度可以将待测样品和背景信号隔离开来，减少背景干扰对测量结果的影响。

扩展应用范围：不同类型的铁矿具有不同的晶体结构和化学成分，因此其光谱响应也会有所不同。通过调节照射角度，可以对不同类型的铁矿样品进行光谱测量，并扩展应用范围。

总之，调节照射角度是铁矿光谱识别装置中一个重要的调节环节，它可以提高测量精度、增强信号强度、降低背景干扰和扩展应用范围等好处。

作为本发明优选的，所述矩形框上设有条形孔；所述伸缩件包括转动架、第一电机、第二螺杆和螺纹套，所述转动架连接于所述第一滑块外表面，所述第一电机固定连接于所述转动架上，所述第二螺杆通过联轴器固定连接于所述第一电机的输出端，所述第二螺杆螺纹连接于螺纹套，所述螺纹套转动连接于所述条形孔。

所述第一电机为步进电机，当第一电机转动时，由于第一滑块不动，则第二螺杆会通过螺纹套拉动矩形框移动，由于伸缩件和转轴是错开的，因此，可以带动矩形框沿着转轴的轴心倾斜。

作为本发明优选的，所述样品固定件包括第二滑块，所述承载面上开设有和所述第二滑块适配的第一滑道，所述第二滑块滑动连接于所述第一滑道，所述第二滑块上表面设有第一卡槽。

使用时，铁矿样品经过处理后，放置到样品盒中，将样品盒卡在第一卡槽中，即可完成样品盒的固定，通过移动第二滑块，可进一步调节样品的位置。需要说明的是，样品盒与第一卡槽的卡接可通过现有的卡接机构来实现，例如在样品盒上设置卡块等方式，再次不做赘述。

作为本发明优选的，所述转轴延伸到所述矩形框的外侧，所述转轴远离所述第一滑块的一端固定连接有转台，所述转台中部设有第二卡槽，所述转台上设有第二滑道，所述第二滑道的各个部分到转台轴心的距离至少部分不同，且其中一侧边缘等距设有凸齿；所述第二滑块上侧固定连接有第二电机，所述第二电机的输出端固定连接有齿辊，所述齿辊延伸至所述第二滑道中，所述齿辊啮合于所述凸齿。

通过该设置，第二电机(例如步进电机)可通过齿辊和凸齿的传动来拨动转台转动，由于所述第二滑道的各个部分到转台轴心的距离不同(例如第二滑道设为涡状线型滑道)，因此，转台转动时可拨动第二滑块沿着第一滑道移动，从而可调节样品的位置。并且，在齿辊不转动时，可以锁定转台和第二滑块，从而固定样品的位置。

并且，样品盒也可放置到第二卡槽中，转台上转动时可调节样品盒的倾斜角度。

作为本发明优选的，所述齿辊上固定连接有两个限位环，两个所述限位环分别和所述转台的上表面和下表面贴合。

现有技术中，通常需要在转台的表面放置一个水平仪，在调整转台位置时，使其与水平仪的气泡保持在同一位置，这样可以保证旋转时转台的水平角度基本稳定。而在本申请中，通过该设置，可对第二滑块以及转台进行限位，防止在移动时倾斜。

作为本发明优选的，还包括基板，所述矩形框的下表面和所述基板贴合，所述基板上固定连接有轴承座，所述第一螺杆转动连接于所述轴承座上，且所述第一螺杆端部连接有驱动件。

通过该设置，驱动件可驱动第一螺杆转动，从而实现矩形框的轴向移动。

作为本发明优选的，所述第一滑块上表面设有凸字形滑道，所述凸字形滑道中滑动连接有滑动安装块，所述转轴和所述滑动安装块转动连接；所述伸缩件设有两个，两个所述伸缩件均位于所述第一滑块的同一侧，两个所述伸缩件分别位于所述转轴的两侧。

在使用时，当伸缩件不伸缩时，第一滑块和矩形框的相对位置不变。当两个伸缩件伸缩量不一致时，矩形框会发生倾斜，因此，本设置也不会影响矩形框倾斜。当两个伸缩件同步伸缩时，由于第一螺杆不移动，因此，矩形框发生移动，从而调节样品的位置。通过该设置，通过增加了一个矩形框沿着第一螺杆的径向进行移动的功能。

作为本发明优选的，所述矩形框能相对所述第一螺杆的轴心翻转90°；所述转台的边缘设有若干第三卡槽。

通过该设置，矩形框翻转90°后，转台从横向设置变成纵向设置，样品盒可插在转台的边缘，通过转台的移动，可以调节样品盒的位置。并且可安装多个样品盒进行逐个检测，提高检测效率。

作为本发明优选的，所述矩形框包括承载板、第一侧板、第二侧板和底板，所述承载板和所述底板相对设置，所述第一侧板和所述第二侧板相对设置，所述承载板的外表面为承载面，所述第一侧板和所述伸缩件连接，所述第二侧板和所述底板的连接处具有弧形板；

所述凸字形滑道的靠近所述第二侧板的一端设有容纳槽，所述容纳槽中设有气囊，当所述滑动安装块挤压所述气囊时，所述气囊能贴合于所述第一螺杆，且所述第一螺杆能驱使矩形框转动90°。

在需要翻转90°时，伸缩件先伸长，使滑动安装块挤压气囊，气囊能贴合于所述第一螺杆，使第一滑块和第一螺杆相对固定，并且伸缩件伸长时，弧形板的边缘到达第一螺杆的正下方，此时转动第一螺杆，驱使矩形框转动90°(弧形板不会阻碍矩形框4转动)，接着伸缩件缩短，使第二侧板贴合于所述基板。通过该设置，可自动化的使矩形框旋转90°。需要说明的是，容纳槽和第一滑块的螺纹孔连通，因此，第一螺杆和第一滑块的螺纹孔配合，因此气囊可挤压第一螺杆。

一种铁矿的光谱特性识别方法，使用上述的铁矿的光谱特性识别装置，包括以下步骤：

通过样品固定件将样品固定在承载面上，转动第一螺杆，可推动第一滑块、转轴、伸缩件、矩形框和样品固定件均发生移动，从而可沿着第一螺杆的轴向调节样品的位置；

伸缩件伸缩时，使矩形框以转轴为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度；

光线激发件发出光线，光线传播件将光线聚焦到样品上，检测器用于接收光信号，将其转化为数字信号并传输给数据处理系统，从而完成铁矿的光谱特性识别。

与现有技术相比，本发明的有益效果如下：

本发明中，通过样品固定件将样品固定在承载面上，转动第一螺杆，可推动第一滑块、转轴、伸缩件、矩形框和样品固定件均发生移动，从而可沿着第一螺杆的轴向调节样品的位置；伸缩件伸缩时，由于第一螺杆不动，因此可使矩形框以转轴为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度。通过该设置，可灵活调节样品的位置，调节照射角度。

附图说明

图1是本发明实施例提供的铁矿的光谱特性识别装置的第一视角的立体结构示意图；

图2是本发明实施例提供的图1中A部分的放大结构示意图；

图3是本发明实施例提供的铁矿的光谱特性识别装置的俯视结构示意图；

图4是本发明实施例提供的图3中B-B部分的剖视结构示意图；

图5是本发明实施例提供的图4中C部分的放大结构示意图；

图6是本发明实施例提供的图4中D部分的放大结构示意图；

图7是本发明实施例提供的铁矿的光谱特性识别装置的第二视角的立体结构示意图。

图中：1、第一螺杆；2、第一滑块；3、转轴；4、矩形框；41、承载面；5、样品固定件；51、第二滑块；52、第一滑道；53、第一卡槽；6、伸缩件；61、转动架；62、第一电机；63、第二螺杆；64、螺纹套；7、条形孔；8、转台；9、第二卡槽；10、第二滑道；11、凸齿；12、第二电机；13、齿辊；14、限位环；15、基板；16、轴承座；17、驱动件；18、凸字形滑道；19、滑动安装块；20、第三卡槽；42、承载板；43、第一侧板；44、第二侧板；45、底板；46、弧形板；21、容纳槽；22、气囊。

具体实施方式

为能进一步了解本发明的发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。

下面结合附图对本发明的结构作详细的描述。

参阅图1和图2，本发明实施例提供的一种铁矿的光谱特性识别装置，包括光学机构、样品承载机构和检测器，所述光学机构包括光线激发件和光线传播件，所述光线传播件位于所述光线激发件和样品承载机构之间，检测器用于接收光信号，将其转化为数字信号并传输给数据处理系统。所述样品承载机构包括第一螺杆1，所述第一螺杆1上通过螺纹套接有第一滑块2，所述第一滑块2上侧连接有转轴3，所述转轴3上连接有矩形框4，所述矩形框4套接于所述第一滑块2外侧，且所述矩形框4和所述第一滑块2之间具有间距，所述矩形框4的上表面为承载面41，所述承载面41上设有样品固定件5；所述第一滑块2侧壁转动连接有伸缩件6，所述伸缩件6的另一端连接于所述矩形框4的侧壁，所述伸缩件6和所述转轴3错开。

使用时，通过样品固定件5将样品固定在承载面41上，转动第一螺杆1，可推动第一滑块2、转轴3、伸缩件6、矩形框4和样品固定件5均发生移动，从而可沿着第一螺杆1的轴向调节样品的位置；伸缩件6伸缩时，由于第一螺杆1不动，因此可使矩形框4以转轴3为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度。需要说明的是，伸缩件6可采用电动推杆，样品固定件5可采用现有的卡紧或压紧结构，用于固定样品盒。第一螺杆1的好处是可精准驱动第一滑块2移动，由于第一螺杆1转动一圈，第一滑块2仅移动一个螺距的距离，因此可精准调节第一滑块2的距离。

通过该设置，可灵活调节样品的位置，调节照射角度可以带来以下好处：

提高测量精度：铁矿的光谱特征与其晶体结构和化学成分密切相关，调节照射角度可以改变入射光线的方向和角度，从而改变待测样品的光学响应。这有助于提高测量精度和准确性。

增强信号强度：在某些情况下，待测铁矿样品可能会存在表面吸收、散射等现象，影响光线的穿透深度和信号强度。调节照射角度可以通过改变入射光线的角度和方向，使其更有效地穿透和反射，从而增强信号强度。

降低背景干扰：在铁矿光谱测量中，背景干扰是一个常见问题，包括周围环境光线、仪器本身的光电噪声等。调节照射角度可以将待测样品和背景信号隔离开来，减少背景干扰对测量结果的影响。

扩展应用范围：不同类型的铁矿具有不同的晶体结构和化学成分，因此其光谱响应也会有所不同。通过调节照射角度，可以对不同类型的铁矿样品进行光谱测量，并扩展应用范围。

总之，调节照射角度是铁矿光谱识别装置中一个重要的调节环节，它可以提高测量精度、增强信号强度、降低背景干扰和扩展应用范围等好处。

参阅图2，所述矩形框4上设有条形孔7；所述伸缩件6包括转动架61、第一电机62、第二螺杆63和螺纹套64，所述转动架61连接于所述第一滑块2外表面，所述第一电机62固定连接于所述转动架61上，所述第二螺杆63通过联轴器固定连接于所述第一电机62的输出端，所述第二螺杆63螺纹连接于螺纹套64，所述螺纹套64转动连接于所述条形孔7。所述第一电机62为步进电机，当第一电机62转动时，由于第一滑块2不动，则第二螺杆63会通过螺纹套64拉动矩形框4移动，由于伸缩件6和转轴3是错开的，因此，可以带动矩形框4沿着转轴3的轴心倾斜。

参阅图3，所述样品固定件5包括第二滑块51，所述承载面41上开设有和所述第二滑块51适配的第一滑道52，所述第二滑块51滑动连接于所述第一滑道52，所述第二滑块51上表面设有第一卡槽53。

使用时，铁矿样品经过处理后，放置到样品盒中，将样品盒卡在第一卡槽53中，即可完成样品盒的固定，通过移动第二滑块51，可进一步调节样品的位置。需要说明的是，样品盒与第一卡槽53的卡接可通过现有的卡接机构来实现，例如在样品盒上设置卡块等方式，在此不做赘述。

参阅图3-图5，所述转轴3延伸到所述矩形框4的外侧，所述转轴3远离所述第一滑块2的一端固定连接有转台8，所述转台8中部设有第二卡槽9，所述转台8上设有第二滑道10，所述第二滑道10的各个部分到转台8轴心的距离至少部分不同，且其中一侧边缘等距设有凸齿11；所述第二滑块51上侧固定连接有第二电机12，所述第二电机12的输出端固定连接有齿辊13，所述齿辊13延伸至所述第二滑道10中，所述齿辊13啮合于所述凸齿11。

通过该设置，第二电机12(例如步进电机)可通过齿辊13和凸齿11的传动来拨动转台8转动，由于所述第二滑道10的各个部分到转台8轴心的距离不同(例如第二滑道10设为涡状线型滑道)，因此，转台8转动时可拨动第二滑块51沿着第一滑道52移动，从而可调节样品的位置。并且，在齿辊13不转动时，可以锁定转台8和第二滑块51，从而固定样品的位置。并且，样品盒也可放置到第二卡槽9中，转台8上转动时可调节样品盒的倾斜角度。

参阅图5，所述齿辊13上固定连接有两个限位环14，两个所述限位环14分别和所述转台8的上表面和下表面贴合。

现有技术中，通常需要在转台8的表面放置一个水平仪，在调整转台8位置时，使其与水平仪的气泡保持在同一位置，这样可以保证旋转时转台8的水平角度基本稳定。而在本申请中，通过该设置，可对第二滑块51以及转台8进行限位，防止在移动时倾斜。

参阅图1，还包括基板15，所述矩形框4的下表面和所述基板15贴合，所述基板15上固定连接有轴承座16，所述第一螺杆1转动连接于所述轴承座16上，且所述第一螺杆1端部连接有驱动件17。通过该设置，驱动件17可驱动第一螺杆1转动，从而实现矩形框4的轴向移动。

参阅图1、图4，所述第一滑块2上表面设有凸字形滑道18，所述凸字形滑道18中滑动连接有滑动安装块19，所述转轴3和所述滑动安装块19转动连接；所述伸缩件6设有两个，两个所述伸缩件6均位于所述第一滑块2的同一侧，两个所述伸缩件6分别位于所述转轴3的两侧。

在使用时，当伸缩件6不伸缩时，第一滑块2和矩形框4的相对位置不变。当两个伸缩件6伸缩量不一致时，矩形框4会发生倾斜，因此，本设置也不会影响矩形框4倾斜。当两个伸缩件6同步伸缩时，由于第一螺杆1不移动，因此，矩形框4发生移动，从而调节样品的位置。通过该设置，通过增加了一个矩形框4沿着第一螺杆1的径向进行移动的功能。

参阅图4，所述矩形框4能相对所述第一螺杆1的轴心翻转90°；所述转台8的边缘设有若干第三卡槽20。

第三卡槽20可用于卡住样品盒，通过该设置，矩形框4翻转90°后，转台8从横向设置变成纵向设置，样品盒可插第三卡槽20中，通过转台8的移动，可以调节样品盒的位置。并且可安装多个样品盒进行逐个检测，提高检测效率。参阅图4、图6、图7，所述矩形框4包括承载板42、第一侧板43、第二侧板44和底板45，所述承载板42和所述底板45相对设置，所述第一侧板43和所述第二侧板44相对设置，所述承载板42的外表面为承载面41，所述第一侧板43和所述伸缩件6连接，所述第二侧板44和所述底板45的连接处具有弧形板46；所述凸字形滑道18的靠近所述第二侧板44的一端设有容纳槽21，所述容纳槽21中设有气囊22，当所述滑动安装块19挤压所述气囊22时，所述气囊22能贴合于所述第一螺杆1，且所述第一螺杆1能驱使矩形框4转动90°。

在需要翻转90°时，伸缩件6先伸长，使滑动安装块19挤压气囊22，气囊22能贴合于所述第一螺杆1，使第一滑块2和第一螺杆1相对固定，并且伸缩件6伸长时，弧形板46的边缘到达第一螺杆1的正下方，此时转动第一螺杆1，驱使矩形框4转动90°(弧形板46不会阻碍矩形框4转动)，接着伸缩件6缩短，使第二侧板44贴合于所述基板15。通过该设置，可自动化的使矩形框4旋转90°。需要说明的是，容纳槽21和第一滑块2的螺纹孔连通，因此，第一螺杆1和第一滑块2的螺纹孔配合，因此气囊22可挤压第一螺杆1。

一种铁矿的光谱特性识别方法，使用所述的铁矿的光谱特性识别装置，包括以下步骤：

通过样品固定件5将样品固定在承载面41上，转动第一螺杆1，可推动第一滑块2、转轴3、伸缩件6、矩形框4和样品固定件5均发生移动，从而可沿着第一螺杆1的轴向调节样品的位置；

伸缩件6伸缩时，使矩形框4以转轴3为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度；

光线激发件发出光线，光线传播件将光线聚焦到样品上，检测器用于接收光信号，将其转化为数字信号并传输给数据处理系统，从而完成铁矿的光谱特性识别。

本发明的工作原理：

使用时，通过样品固定件5将样品固定在承载面41上，转动第一螺杆1，可推动第一滑块2、转轴3、伸缩件6、矩形框4和样品固定件5均发生移动，从而可沿着第一螺杆1的轴向调节样品的位置；伸缩件6伸缩时，由于第一螺杆1不动，因此可使矩形框4以转轴3为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度。通过该设置，可灵活调节样品的位置，调节照射角度。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (3)

1.一种铁矿的光谱特性识别装置，包括光学机构、样品承载机构和检测器，所述光学机构包括光线激发件和光线传播件，所述光线传播件位于所述光线激发件和样品承载机构之间，检测器用于接收光信号，将其转化为数字信号并传输给数据处理系统，其特征在于：

所述样品承载机构包括第一螺杆(1)，所述第一螺杆(1)上通过螺纹套接有第一滑块(2)，所述第一滑块(2)上侧连接有转轴(3)，所述转轴(3)上连接有矩形框(4)，所述矩形框(4)套接于所述第一滑块(2)外侧，且所述矩形框(4)和所述第一滑块(2)之间具有间距，所述矩形框(4)的上表面为承载面(41)，所述承载面(41)上设有样品固定件(5)；所述第一滑块(2)侧壁转动连接有伸缩件(6)，所述伸缩件(6)的另一端连接于所述矩形框(4)的侧壁，所述伸缩件(6)和所述转轴(3)错开；

所述矩形框(4)上设有条形孔(7)；所述伸缩件(6)包括转动架(61)、第一电机(62)、第二螺杆(63)和螺纹套(64)，所述转动架(61)连接于所述第一滑块(2)外表面，所述第一电机(62)固定连接于所述转动架(61)上，所述第二螺杆(63)通过联轴器固定连接于所述第一电机(62)的输出端，所述第二螺杆(63)螺纹连接于螺纹套(64)，所述螺纹套(64)转动连接于所述条形孔(7)；

所述样品固定件(5)包括第二滑块(51)，所述承载面(41)上开设有和所述第二滑块(51)适配的第一滑道(52)，所述第二滑块(51)滑动连接于所述第一滑道(52)，所述第二滑块(51)上表面设有第一卡槽(53)；

所述转轴(3)延伸到所述矩形框(4)的外侧，所述转轴(3)远离所述第一滑块(2)的一端固定连接有转台(8)，所述转台(8)中部设有第二卡槽(9)，所述转台(8)上设有第二滑道(10)，所述第二滑道(10)的各个部分到转台(8)轴心的距离至少部分不同，且其中一侧边缘等距设有凸齿(11)；

所述第二滑块(51)上侧固定连接有第二电机(12)，所述第二电机(12)的输出端固定连接有齿辊(13)，所述齿辊(13)延伸至所述第二滑道(10)中，所述齿辊(13)啮合于所述凸齿(11)；

还包括基板(15)，所述矩形框(4)的下表面和所述基板(15)贴合，所述基板(15)上固定连接有轴承座(16)，所述第一螺杆(1)转动连接于所述轴承座(16)上，且所述第一螺杆(1)端部连接有驱动件(17)；

所述第一滑块(2)上表面设有凸字形滑道(18)，所述凸字形滑道(18)中滑动连接有滑动安装块(19)，所述转轴(3)和所述滑动安装块(19)转动连接；

所述伸缩件(6)设有两个，两个所述伸缩件(6)均位于所述第一滑块(2)的同一侧，两个所述伸缩件(6)分别位于所述转轴(3)的两侧；

所述矩形框(4)能相对所述第一螺杆(1)的轴心翻转90°；所述转台(8)的边缘设有若干第三卡槽(20)；

所述矩形框(4)包括承载板(42)、第一侧板(43)、第二侧板(44)和底板(45)，所述承载板(42)和所述底板(45)相对设置，所述第一侧板(43)和所述第二侧板(44)相对设置，所述承载板(42)的外表面为承载面(41)，所述第一侧板(43)和所述伸缩件(6)连接，所述第二侧板(44)和所述底板(45)的连接处具有弧形板(46)；

所述凸字形滑道(18)的靠近所述第二侧板(44)的一端设有容纳槽(21)，所述容纳槽(21)中设有气囊(22)，当所述滑动安装块(19)挤压所述气囊(22)时，所述气囊(22)能贴合于所述第一螺杆(1)，且所述第一螺杆(1)能驱使矩形框(4)转动90°。

2.如权利要求1所述的一种铁矿的光谱特性识别装置，其特征在于：

所述齿辊(13)上固定连接有两个限位环(14)，两个所述限位环(14)分别和所述转台(8)的上表面和下表面贴合。

3.一种铁矿的光谱特性识别方法，其特征在于，使用权利要求1-2任一项所述的铁矿的光谱特性识别装置，包括以下步骤：

通过样品固定件(5)将样品固定在承载面(41)上，转动第一螺杆(1)，可推动第一滑块(2)、转轴(3)、伸缩件(6)、矩形框(4)和样品固定件(5)均发生移动，从而可沿着第一螺杆(1)的轴向调节样品的位置；

伸缩件(6)伸缩时，使矩形框(4)以转轴(3)为轴心发生转动，从而调节样品的倾斜角度；

光线激发件发出光线，光线传播件将光线聚焦到样品上，检测器用于接收光信号，将其转化为数字信号并传输给数据处理系统，从而完成铁矿的光谱特性识别。