CN116760484A - 一种tdd系统的测试系统、方法、介质及设备 - Google Patents
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Abstract
本发明属于通信测试领域，尤其涉及一种TDD系统的测试系统、方法、介质及设备。包括：锁相环锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；射频开关根据所述MCU的指令，将RF连续波信号处理为固定波形信号；采样模块对固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将第一处理结果输出至待检测TDD系统；比较模块获取处理信号，对处理信号进行转换处理，得到矩形信号，将矩形信号发送至MCU；MCU比较MCU指令中的开关比例与矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
Description
技术领域
本发明属于通信测试领域，尤其涉及一种TDD系统的测试系统、方法、介质及设备。
背景技术
现有技术中的TDD同步测量方法，具体如下：
1）信号源频谱仪测试方法：使用信号源模拟TDD调制信号，通过待测设备后由频谱仪进行接收解调，可以读出通过待测设备后信号的状态，如EVM，时隙，上升沿下降沿等参数。但存在如下缺陷：
①该方法测试需要两台甚至多台仪表，不利于生产；
②信号源需要具备输出TDD调制信号的功能，频谱仪需要具备解调TDD信号功能，相关的仪器仪表成本高；
③需要具备仪表操作能力的测试人员进行测试；需要对仪器仪表进行配置，不利于大规模快速测试生产。
2）信号源+检波器+示波器测试方法：使用信号源模拟TDD调制信号，通过待测设备后由检波器进行接收，用示波器进行测量，可以读出通过待测时隙配比，时隙周期，上升沿下降沿等参数。但存在如下缺陷：
①测试需要两台甚至多台仪表，不利于生产；
②信号源需要具备输出TDD调制信号的功能，频谱仪需要具备解调TDD信号功能，相关的仪器仪表成本高；
③需要具备仪表操作能力的测试人员进行测试；需要对仪器仪表进行配置，不利于大规模快速测试生产。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种TDD系统的测试系统、方法、介质及设备。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种TDD系统的测试系统，包括：锁相环、射频开关、采样模块、比较模块以及MCU；
所述锁相环用于：锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；
所述射频开关用于：根据所述MCU的指令，开启或关闭用于传输RF连续波信号的通道，以将所述RF连续波信号处理为固定波形信号；
所述采样模块用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统，将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU；
所述比较模块用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号，对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU；
所述MCU用于：比较所述MCU指令中的开关比例与所述矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。
本发明的有益效果是：本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
在上述技术方案的基础上，本发明还可以做如下改进。
进一步，所述采样模块包括耦合器以及第一检波器；
所述耦合器用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统；
所述第一检波器用于：将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU。
进一步，所述比较模块包括第二检波器以及比较器；
所述第二检波器用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号；
所述比较器用于：对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU。
进一步，还包括：
衰减器用于：对所述RF连续波信号进行幅度调整。
本发明解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种TDD系统的测试方法，包括：
锁相环锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；
射频开关根据所述MCU的指令，开启或关闭用于传输RF连续波信号的通道，以将所述RF连续波信号处理为固定波形信号；
采样模块对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统，将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU；
比较模块获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号，对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU；
MCU比较所述MCU指令中的开关比例与所述矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。
本发明的有益效果是：本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
进一步，所述采样模块包括耦合器以及第一检波器；
所述耦合器用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统；
所述第一检波器用于：将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU。
进一步，所述比较模块包括第二检波器以及比较器；
所述第二检波器用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号；
所述比较器用于：对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU。
进一步，还包括：
衰减器用于：对所述RF连续波信号进行幅度调整。
本发明解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如上述任一项所述的方法。
本发明的有益效果是：本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
本发明解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种电子设备，包括上述存储介质、执行上述存储介质内的指令的处理器。
本发明的有益效果是：本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
附图说明
图1为本发明一种TDD系统的测试系统实施例提供的结构框架图；
图2为本发明一种TDD系统的测试方法实施例提供的流程示意图；
图3为本发明一种TDD系统的测试系统实施例提供的完整结构框架图；
图4为本发明一种TDD系统的测试系统实施例提供的射频开关处理后的对比图；
图5为本发明一种TDD系统的测试系统实施例提供的衰减器处理后的对比图；
图6为本发明一种TDD系统的测试系统实施例提供的开关时隙量示意图。
具体实施方式
以下对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。
如图1所示，一种TDD系统的测试系统，包括：锁相环100、射频开关200、采样模块300、比较模块400以及MCU500；
所述锁相环100用于：锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；
所述射频开关200用于：根据所述MCU500的指令，开启或关闭用于传输RF连续波信号的通道，以将所述RF连续波信号处理为固定波形信号；
所述采样模块300用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统，将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU500；
所述比较模块400用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号，对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU500；
所述MCU500用于：比较所述MCU指令中的开关比例与所述矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。
在一些可能的实施方式中，本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
需要说明的是，锁相环100：对交流信号源输出固定幅度固定功率RF连续波信号进行内部振荡信号的频率和相位的锁定，内部振荡信号的频率和相位需与测试系统频段相同；同时，MCU500需要对锁相环100进行配置，配置内容包括但不仅限于：配置寄存器，得出相应频点；或者待测试设备工作频段为2.6GHz,则锁相环配置输出频点也应为2.6GHz，否则待测试设备没法接收到对应频点，幅度则由PLL芯片实现，约在0dBm左右。
射频开关200：作为信号开关使用，打开则通道开启，有信号则使其通过该通道，进入下一处理模块，关断则无输出；开启或关断的控制是通过MCU500输出待检测TDD系统的开关时隙量即根据所述MCU500的指令，以此来达到控制开关的目的。如图4所示，上面的波形为PLL输出的连续波，下面的波形为经过开关后的波形，用以模拟TDD波形。开关时隙量为：根据待检测TDD系统适用于哪个运营商的哪种case（情形），即通过待检测TDD系统的自身属性来确定开关时隙量；开关时隙量由MCU进行开关控制，换言之，开关时隙量即为控制通道开启以及关闭的比例，如图6所示，其给出了某一种case1对应的开关时隙量，需注意，SLOT0-9可理解为不同的时刻，DL表示下行开关打开，UL表示上行开关关闭，GP表示保护间隔。
采样模块300由耦合器以及第一检波器组成：耦合器：按照功率分配，将输出信号提取一部分，记为第一输出信号，剩余信号记为第二输出信号，第一输出信号直接输出至第一检波器，第一输出信号作为闭环进行功率控制采样。第二输出信号输出至待检测TDD系统中。第一检波器：将第一输出信号由射频信号转换为直流电信号。需注意，提取通常为固定提取，取决于耦合器的耦合度，可以在10~20dB范围。将信号提取出来后通过第一检波器进行信号转换，发送至MCU500，MCU500对转换后的直流电信号进行存储。其中，闭环指的是通过耦合器，第一检波器以及MCU组成，或者是通过耦合器，第一检波器，衰减器以及MCU组成。关于闭环部分在后续实施例1中进行应用。
比较模块400由第二检波器以及比较器组成：第二检波器：将待检测TDD系统的输入信号进行采样，将输入信号由射频信号转换为直流电信号，比较器：通过对基准电平比较，将检波器检测的信号转换为矩形信号，输出给MCU500。需注意，输入信号为上文提及的采样模块300输出至待检测TDD系统中的信号，待检测TDD系统对该信号进行解析后模拟出相同开关时隙量所对应的信号作为输入信号。
MCU500对根据所述MCU500的指令中的开关时隙量与根据输入信号得到的该输入信号对应的开关时隙量进行比较，如果，比较结果为相同，则说明待检测TDD系统没有问题，工作正常，此时可以通过发送信号或通过在MCU500上外接一个LED灯的方式来表征工作正常，例如发出短暂的信号提示音或LED灯长亮等方式。如果比较结果为不相同，则说明待检测TDD系统存在问题，此时可以通过发出预警信号或LED等闪烁的方式来进行消息提示。
需要进一步说明的是，对于开关时隙量的比较不仅仅是开通时的比例与关闭时的比例的比较，而是需要具体对应到开通时的时长是否一致，关闭时的时长是否一致。
实施例1，另外，上述方案是建立在射频开关200调整后的信号的幅度满足需求的前提下，例如，要进行测试的是信号幅度在0-40区间的测试如信号幅度为25的测试，而通过射频开关200控制后得到的波形的幅度刚好为25，此时则不需要对信号的幅度进行调整，若需要进行测试的幅度为40，则需要对信号的幅度进行调整，此时，需要在射频开关200后添加一个衰减器，用于对信号的幅度进行调节，而调节量的多少则是通过上文提及的“第一输出信号作为闭环进行功率控制采样”来确定，即，不断采集第一输出信号的功率。若当前幅度与需要进行测试的幅度不同时，则通过衰减器来对当前功率进行增加或减少的调整，以使当前幅度与需要进行测试的幅度相同。即，衰减器、耦合器、第一检波器以及MCU500组成了一个闭环，通过耦合器进行信号提取，通过第一检波器对该信号进行转换，发送至MCU500，MCU500对转换后的直流电信号进行幅度确定，将幅度与需求幅度进行比较，根据比较结果通过衰减器对射频开关200处理后的信号进行处理，使其满足需求幅度，即功率大，则增加衰减值，功率小则减小衰减值。其过程可以参考图5所示。上面的是MCU500给开关的信号；下面是比较器给MCU500的信号；MCU500将两个信号进行比较，上升沿位置，下降沿位置，周期时间。
优选地，在上述任意实施例中，所述采样模块300包括耦合器以及第一检波器；
所述耦合器用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统；
所述第一检波器用于：将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU500。
优选地，在上述任意实施例中，所述比较模块400包括第二检波器以及比较器；
所述第二检波器用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号；
所述比较器用于：对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU500。
优选地，在上述任意实施例中，还包括：
衰减器用于：对所述RF连续波信号进行幅度调整。
如图2所示，一种TDD系统的测试方法，包括：
锁相环100锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；
射频开关200根据所述MCU500的指令，开启或关闭用于传输RF连续波信号的通道，以将所述RF连续波信号处理为固定波形信号；
采样模块300对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统，将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU500；
比较模块400获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号，对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU500；
MCU500比较所述MCU指令中的开关比例与所述矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。
在一些可能的实施方式中，本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
优选地，在上述任意实施例中，所述采样模块300包括耦合器以及第一检波器；
所述耦合器用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统；
所述第一检波器用于：将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU500。
优选地，在上述任意实施例中，所述比较模块400包括第二检波器以及比较器；
所述第二检波器用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号；
所述比较器用于：对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU500。
优选地，在上述任意实施例中，还包括：
衰减器用于：对所述RF连续波信号进行幅度调整。
本发明解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如上述任一项所述的方法。
在一些可能的实施方式中，本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
本发明解决上述技术问题的另一种技术方案如下：一种电子设备，包括上述存储介质、执行上述存储介质内的指令的处理器。
在一些可能的实施方式中，本方案在测试过程中无需多台仪表，且操作过程简单，无需具有操作能力的测试人员进行测试，节省了人力物力。
读者应理解，在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的方法实施例仅仅是示意性的，例如，步骤的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个步骤可以结合或者可以集成到另一个步骤，或一些特征可以忽略，或不执行。
上述方法如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分，或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（ROM，Read-OnlyMemory）、随机存取存储器（RAM，RandomAccessMemory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种TDD系统的测试系统，其特征在于，包括：锁相环、射频开关、采样模块、比较模块以及MCU；
所述锁相环用于：锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；
所述射频开关用于：根据所述MCU的指令，开启或关闭用于传输RF连续波信号的通道，以将所述RF连续波信号处理为固定波形信号；
所述采样模块用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统，将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU；
所述比较模块用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号，对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU；
所述MCU用于：比较所述MCU指令中的开关比例与所述矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。
2.根据权利要求1所述的一种TDD系统的测试系统，其特征在于，所述采样模块包括耦合器以及第一检波器；
所述耦合器用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统；
所述第一检波器用于：将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU。
3.根据权利要求1所述的一种TDD系统的测试系统，其特征在于，所述比较模块包括第二检波器以及比较器；
所述第二检波器用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号；
所述比较器用于：对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU。
4.根据权利要求1所述的一种TDD系统的测试系统，其特征在于，还包括：
衰减器用于：对所述RF连续波信号进行幅度调整。
5.一种TDD系统的测试方法，其特征在于，包括：
锁相环锁定交流信号源输出的RF连续波信号的相位；
射频开关根据MCU的指令，开启或关闭用于传输RF连续波信号的通道，以将所述RF连续波信号处理为固定波形信号；
采样模块对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统，将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU；
比较模块获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号，对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU；
MCU比较所述MCU指令中的开关比例与所述矩形信号对应的开关比例是否一致，若一致则测试合格，若不一致，则测试不合格。
6.根据权利要求5所述的一种TDD系统的测试方法，其特征在于，所述采样模块包括耦合器以及第一检波器；
所述耦合器用于：对所述固定波形进行处理，得到第一处理结果以及第二处理结果，将所述第一处理结果输出至待检测TDD系统；
所述第一检波器用于：将所述第二处理结果进行转换处理，得到第一直流电信号，将所述第一直流电信号发送至所述MCU。
7.根据权利要求5所述的一种TDD系统的测试方法，其特征在于，所述比较模块包括第二检波器以及比较器；
所述第二检波器用于：获取经所述待检测TDD系统处理后的所述第一直流电信号，记为处理信号，对所述处理信号进行转换处理，得到第二直流电信号；
所述比较器用于：对所述第二直流电信号进行处理得到矩形信号，将所述矩形信号发送至所述MCU。
8.根据权利要求5所述的一种TDD系统的测试方法，其特征在于，还包括：
衰减器用于：对所述RF连续波信号进行幅度调整。
9.一种存储介质，其特征在于，所述介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如权利要求5至8中任一项所述的方法。
10.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求9所述的存储介质、执行所述存储介质内的指令的处理器。
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2023
- 2023-08-22 CN CN202311062442.4A patent/CN116760484B/zh active Active
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