CN116699564B - 一种检测电路及激光雷达 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种检测电路及激光雷达,其中,所述检测电路包括整形电路和电压比较电路,所述整形电路,用于从激光发射电路获取第一电压信号,对所述第一电压信号进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号;其中,所述激光发射电路用于发射光信号,所述整形电路的输入端与所述激光发射电路连接,所述整形电路的输出端与所述电压比较电路的第一输入端连接;所述电压比较电路,用于将所述第二电压信号与阈值电压进行比较,获得比较信息,比较信息用于确定所述激光发射电路的起始发光时刻,阈值电压是通过所述电压比较电路的第二输入端接收的,能够获得准确的起始发光时刻,可以提高测距精度。
Description
技术领域
本申请涉及电子技术领域,具体而言,涉及一种检测电路及激光雷达。
背景技术
激光雷达是激光主动探测传感器设备的一种统称,其工作原理大致如下:激光雷达的激光发射电路发射出激光,激光光束遇到物体后,经过漫反射,形成回波信号,返回至激光接收器,采用发射光信号和接收回波信号的时间间隔乘以光速,再除以2,即可计算出发射器与物体之间的距离。现有方案中,将控制信号使能发光的时刻作为起始发光时刻。
控制信号是激光雷达控制产生的,激光发射电路收到控制信号后才开始发射激光,在激光发射电路的工作温度不同的情况下,激光发射电路实际的起始发光时刻与控制信号的发出时刻相比会有一定的漂移,以控制信号的发出时刻作为起始发光时刻,会导致对起始发光时刻检测不准确,进而会影响激光雷达的测距精度。
发明内容
有鉴于此,本申请的目的在于提供一种检测电路及激光雷达,能够解决起始发光时刻检测不准确的问题,可以提高测距精度,从而提高激光雷达的安全性能。
第一方面,本申请实施例提供了一种检测电路,所述检测电路包括整形电路和电压比较电路,所述整形电路,用于从激光发射电路获取第一电压信号,对所述第一电压信号进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号;其中,所述激光发射电路用于发射光信号,所述整形电路的输入端与所述激光发射电路连接,所述整形电路的输出端与所述电压比较电路的第一输入端连接;所述电压比较电路,用于将所述第二电压信号与阈值电压进行比较,获得比较信息,比较信息用于确定所述激光发射电路的起始发光时刻;其中,阈值电压是通过所述电压比较电路的第二输入端接收的。
基于第一方面提供的检测电路,通过整形电路对激光发射电路的第一电压信号进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号,再通过电压比较电路将第二电压信号与阈值电压进行比较,得到比较信息,比较信息用于激光发射电路实际的初始起始发光时刻,与将控制信号的发出时刻作为起始发光时刻相比,本申请提供的方案能够精准检测激光发射电路的起始发光时刻,进而可提高测距精度,从而提高激光雷达的安全性能。
可选地,所述激光发射电路包括第一电容和激光器,所述第一电容的一端与所述激光器的阳极连接,所述第一电容的另一端接地;所述整形电路的输入端与所述激光发射电路连接,包括:所述整形电路的输入端连接于所述第一电容和所述激光器的阳极之间,或者,所述整形电路的输入端连接于所述激光器的阴极。
这样,整形电路可通过整形电路与激光发射电路的连接处获取第一电压信号,第一电容可以为激光器发光提供足够的电能。
可选地,所述激光发射电路还包括第一电感,所述第一电感连接于所述第一电容和所述激光器的阳极之间;所述整形电路的输入端连接于所述第一电容和所述激光器的阳极之间,包括:所述整形电路的输入端连接于所述第一电容和所述第一电感之间。
这样,第一电感和第一电容可以形成电感电容放电回路,激光发射电路就可以通过第一电感和第一电容进行LC谐振放电。可选地,第一电感L1可以是存在于整个放电回路的寄生电感,不是以实物形式存在的。
可选地,所述整形电路包括:分压限幅电路和隔直偏压电路,其中,所述分压限幅电路的输入端作为所述整形电路的输入端,所述分压限幅电路的输出端与所述隔直偏压电路的输入端连接,所述隔直偏压电路的输出端作为所述整形电路的输出端。
这样,通过分压限幅电路和隔直偏压电路对电压波形的整形,可以使传输至电压比较电路的第一输入端的电压值保持在预定的范围内,以使进入电压比较电路的电压不会超过电压比较器的电压上限,匹配后续的电路,实现精准检测激光发射电路的起始发光时刻,进而可提高测距精度和激光雷达的安全性能。
可选地,所述分压限幅电路包括第二电容、第一电阻、第二电阻和限幅二极管,其中,所述第二电容用于进行所述第一隔直处理,所述第一电阻和所述第二电阻用于进行所述分压处理,所述限幅二极管用于进行所述限幅处理。
这样,经过第二电容的隔直作用、第一电阻以及第二电阻的分压和限幅二极管的电压限幅作用,可以使经分压限幅电路处理的电压波形可以更好的与后续电路进行匹配,实现精准检测激光发射电路的起始发光时刻,进而可提高测距精度和激光雷达的安全性能。
可选地,所述隔直偏压电路包括第三电容和第三电阻,所述第三电容用于进行所述第二隔直处理,所述第三电阻用于进行所述加偏压处理。这样,可以避免升压过程对电压比较电路的干扰,保证得到稳定准确的激光雷达的起始发光时刻,进而可提高测距精度和激光雷达的安全性能。
可选地,所述第三电容的一端作为所述隔直偏压电路的输入端与所述分压限幅电路的输出端连接,所述第三电阻的一端与所述第三电容的另一端连接后作为所述隔直偏压电路的输出端,所述第三电阻的另一端接收偏置电压,所述隔直偏压电路的输出端与所述电压比较电路的第一输入端连接。
这样,经过第三电容的隔直作用并对电压值进行偏压,避免了升压过程对电压比较电路的干扰,保证得到准确的激光雷达的起始发光时刻,进而可提高测距精度和激光雷达的安全性能。
可选地,所述检测电路还包括阈值电压生成电路,所述阈值电压生成电路用于生成所述阈值电压,所述阈值电压生成电路与所述电压比较电路的第二输入端连接。这样,可以通过阈值电压生成电路稳定生成电压阈值,并可以在不同情况下通过阈值电压生成电路对阈值电压进行调整。
可选地,所述阈值电压小于偏置电压值且大于激光发射电压值,所述偏置电压值是加偏压处理后得到的,所述激光发射电压值是预设置的。
这样,基于根据偏置电压值和激光发射电压值确定的阈值电压与第二电压信号进行比较,可以进一步提高起始发光时刻的准确性。
可选地,所述检测电路还包括升压电路、发光控制电路和控制开关,所述升压电路用于控制所述激光发射电路升压,所述发光控制电路用于通过控制所述控制开关来控制所述激光发射电路发光。这样,发光控制电路控制控制开关导通后,激光发射电路的激光器发光,整形电路从激光发射电路获取第一电压信号。
第二方面,本申请实施例还提供了一种激光雷达,所述激光雷达包括:如第一方面中任一所述的检测电路。
此外,第二方面所述的激光雷达的技术效果可以参考第一方面中任一种实现方式所述的方法的技术效果,此处不再赘述。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图一;
图2为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图二;
图3为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图三;
图4为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图四;
图5为本申请实施例所提供的电压波形的示意图一;
图6为本申请实施例所提供的电压波形的示意图二;
图7为本申请实施例所提供的电压波形的示意图三。
具体实施方式
为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的每个其他实施例,都属于本申请保护的范围。
首先,对本申请可适用的应用场景进行介绍。本申请可应用于激光雷达技术领域。
经研究发现,以控制信号的发出时刻作为起始发光时刻,会导致对起始发光时刻检测不准确,进而会影响激光雷达的测距精度,从而影响激光雷达的安全性。
基于此,本申请实施例提供了一种检测电路及激光雷达,通过整形电路对激光发射电路的电压进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号,再通过电压比较电路将第二电压信号与阈值电压进行比较,得到激光发射电路实际的初始起始发光时刻,与将控制信号的发出时刻作为起始发光时刻相比,本申请提供的方案能够得到准确的初始起始发光时刻,进而可提高测距精度,从而提高激光雷达的安全性。
激光器是激光的发生装置,有三大功能部件:泵浦源、增益介质、谐振腔。泵浦源为激光器提供光源,增益介质(也称为工作物质)吸收泵浦源提供的能量后将光放大,谐振腔为泵浦源与增益介质之间的回路,谐振腔振荡选模输出激光。泵浦源作为能量源,作用是产生光子对增益介质进行激励。泵浦源发出的光子将增益介质中的粒子从基态泵浦(pump)到高能级,以实现粒子数反转。激励机制包括光学激励(光泵浦)、气体放电激励、化学激励、核能激励;目前泵浦源一般采用高功率半导体激光器(LD),主要作用是完成电能到光能的转化。
请参阅图1,图1为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图一。如图1中所示,本申请实施例提供的检测电路的电路图一,包括:激光发射电路101、整形电路105和电压比较电路106。
其中,整形电路102用于从激光发射电路101获取第一电压信号,对第一电压信号进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号。
其中,激光发射电路101用于发射光信号,整形电路105输入端与激光发射电路101连接,整形电路105的输出端与电压比较电路106的第一输入端连接。
电压比较电路106用于将第二电压信号与阈值电压进行比较,获得比较信息。比较信息用于确定激光发射电路101的起始发光时刻。
其中,阈值电压是通过电压比较电路106的第二输入端接收的。
示例性地,比较信息包括:第二电压信号的电压值与阈值电压的大小关系以及对应的时刻。初始发光时刻可以为第二电压信号的电压值与阈值电压相等时对应的时刻。
本申请实施例提供的检测电路,通过整形电路对激光发射电路的电压进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号,再通过电压比较电路将第二电压信号与阈值电压进行比较,得到激光发射电路实际的初始起始发光时刻,与将控制信号的发出时刻作为起始发光时刻相比,本申请提供的方案能够得到准确的初始起始发光时刻,进而可提高测距精度,从而提高激光雷达的安全性能。
在可选地实施例中,检测电路还包括升压电路、发光控制电路和控制开关。
示例性的,请参阅图2,图2为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图二。如图2中所示,本申请实施例提供的检测电路的电路图二,包括:激光发射电路101、升压电路102、发光控制电路103、控制开关104、整形电路105和电压比较电路106。
其中,升压电路102用于控制激光发射电路101升压。发光控制电路103用于通过控制控制开关104来控制激光发射电路103发光。
其中,升压电路102与激光发射电路101的一端连接,激光发射电路101的另一端与控制开关104的第一连接端连接,控制开关104的第二连接端接地,控制开关104的控制端与发光控制电路103连接。
例如,发光控制电路103控制控制开关104导通后,激光发射电路101的激光器发光,整形电路102从激光发射电路101获取第一电压信号。
其中,整形电路包括:分压限幅电路和隔直偏压电路,检测电路还可以包括阈值电压生成电路。
示例性的,请参阅图3,图3为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图三。如图3中所示,本申请实施例提供的检测电路的电路图三,包括:升压电路102、激光发射电路101、发光控制电路103、控制开关104、分压限幅电路201、隔直偏压电路202、阈值电压生成电路203、电压比较电路106。
其中,分压限幅电路201的输入端作为整形电路的输入端与激光发射电路101的另一端连接,分压限幅电路201的输出端与隔直偏压电路202的输入端连接,隔直偏压电路202的输出端作为整形电路的输出端与电压比较电路106的第一输入端连接。
这里,阈值电压生成电路203用于生成阈值电压,阈值电压生成电路与电压比较电路的第二输入端连接。
其中,阈值电压生成电路203的输出端与电压比较电路106的第二输入端连接,以将阈值电压生成电路203生成的阈值电压输入至电压比较电路中。
其中,升压电路102、激光发射电路101、发光控制电路103、控制开关104的连接关系和技术效果可以参照图2中对升压电路102、激光发射电路101、发光控制电路103、控制开关104的描述,并且能达到相同的技术效果,对此不做赘述。
示例性的,图3中A点的电压波形的具体形状请参阅图5,图5为本申请实施例所提供的电压波形的示意图一,在升压电路控制激光发射电路升压后,A点的波形上升,控制开关导通后,A点的电压值会快速下降,即图5中的X段,在A点的电压值下降至X段的低点时,此时激光发射电路发光,激光发射电路发光后,y段的电压会产生波动(图5中X段和y段的图形仅为一种示例),因此,本申请对X段的电压进行整形和比较可以得到准确的激光发射电路的起始发光时刻,与将控制信号的发出时刻作为起始发光时刻相比,本申请提供的方案能够得到更准确的初始起始发光时刻,进而可提高测距精度和激光雷达的安全性能。
示例性的,图3中经过分压限幅电路的整形处理后,B点的电压波形的具体形状请参阅图6,图6为本申请实施例所提供的电压波形的示意图二,经过分压限幅电路的整形处理,升压电路控制激光发射电路升压后的上升沿的幅度会被限制在Z1的预定的范围内,下降沿会按照比例缩小。这样,经分压限幅电路的整形处理后电压值就可以更好的匹配后续的电路。
示例性的,图3中经过隔直偏压电路的整形处理后,C点的电压波形的具体形状请参阅图7,图7为本申请实施例所提供的电压波形的示意图三,如图7中所示,图7中的D点为X段电压下降点和y段电压波动点的中间点,E点为阈值电压点,Vbias为偏置电压值。经过隔直偏压电路的整形处理后,可以使进入电压比较电路的电压值在升压过程中持续高于阈值电压,只有在控制开关导通后,C点的电压值才会小于或等于阈值电压,这样,就避免了升压过程对电压比较电路的干扰,保证得到稳定准确的激光雷达的起始发光时刻。
需要说明的是,激光器阴极的电压信号的下降沿开始代表着激光器电光转化过程的开始,即激光器的发光时刻,下降沿开始的时刻可以精准反应发光时刻。
可选地,阈值电压小于偏置电压值且大于激光发射电压值,偏置电压值是加偏压处理后得到的,例如Vbias。激光发射电压值是预设置的,例如激光发射电压值是根据D点的样本数据预设的。
在一些实施例中,激光发射电路包括第一电容和激光器。其中,第一电容的一端与激光器的阳极连接,第一电容的另一端接地。
上述整形电路的输入端与激光发射电路连接,包括:整形电路的输入端连接于第一电容和激光器的阳极之间,或者,整形电路的输入端连接于激光器的阴极。
其中,第一电容的一端作为激光发射电路的一端与升压电路的一端连接,激光器的阴极作为激光发射电路的另一端与整形电路的输入端连接。
分压限幅电路包括第二电容、第一电阻、第二电阻和限幅二极管,隔直偏压电路包括第三电容和第三电阻,阈值电压生成电路包括第四电阻、第五电阻、第六电阻,第四电容。
所述第二电容用于进行所述第一隔直处理,所述第一电阻和所述第二电阻用于进行所述分压处理,所述限幅二极管用于进行所述限幅处理。所述第三电容用于进行所述第二隔直处理,所述第三电阻用于进行所述加偏压处理。
示例性的,请参阅图4,图4为本申请实施例所提供的一种检测电路的电路图四。如图4中所示,本申请实施例提供的检测电路的电路图四,包括:升压电路102、激光发射电路101、发光控制电路103、控制开关104、分压限幅电路201、隔直偏压电路202、阈值电压生成电路203和电压比较电路106。其中,激光发射电路101包括第一电容C1和激光器DL,还可以包括第一电感L1。分压限幅电路201包括:第二电容C2、第一电阻R1、第二电阻R2和限幅二极管Z1。隔直偏压电路202包括:第三电容C3和第三电阻R3。电压比较电路106为比较器。阈值电压生成电路203包括:第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6和第四电容C4。
其中,阈值电压生成电路203生成的阈值电压小于偏置电压值且大于激光发射电压值,所述偏置电压值是加偏压处理后得到的,所述激光发射电压值是预设置的。
具体的,所述第一电容C1的一端作为所述激光发射电路101的一端与所述升压电路102的一端连接,所述第一电容C1的另一端接地,所述激光器DL的阳极与所述第一电容C1的一端连接,所述激光器DL的阴极作为所述激光发射电路102的另一端与所述整形电路105的输入端连接。
所述第一电感L1的一端与所述第一电容C1的一端连接,所述第一电感C1的另一端与所述激光器DL的阳极连接。
示例性地,第一电感L1可以是存在于整个放电回路的寄生电感,主要来源于PCB的寄生电感,不是以实物形式存在的。第一电感L1是寄生电感时,第一电容C1与激光器DL的阳极连接。
其中,升压电路为第一电容C1提供能量。放电回路的原理为LC谐振放电,L指的是第一电感L1,第一电感L1与第一电容C1构成LC谐振。DL为具有一定压降的激光器二极管,从而某一时刻将控制开关104开启,通过激光器DL与第一电感L1为第一电容C1进行放电。
其中,控制开关104可以为三极管。
具体的,所述第二电容C2的一端作为所述分压限幅电路201的输入端与所述激光发射电路102连接,所述第二电容C2的另一端与所述第一电阻R1的一端连接,所述第二电阻R2的一端和所述限幅二极管的阳极与所述第一电阻R1的另一端连接后作为所述分压限幅电路的输出端,所述第二电阻R2的另一端接地,所述限幅二极管Z1的阴极与所述第二电阻R2的另一端连接,所述分压限幅电路的输出端与所述隔直偏压电路连接。
示例性地,第二电容C2的一端与激光发射电路102连接包括:第二电容C2的一端连接于第一电容C1和激光器DL的阳极之间,或者,第二电容C2的一端连接于激光器DL的阴极,图4中以第二电容C2的一端连接于激光器DL的阴极为例示出。
例如,第二电容C2的一端还可以连接于第一电容C1和第一电感L1之间,或者,第二电容C2的一端连接于第一电感L1和激光器DL的阳极之间。
这里,第二电容C2为隔直电容,R1与R2组成分压电路,Z1为上升沿限幅二极管,此电路目的是将幅值几十伏的激光器二极管的阴极电压波形进行一定比例的缩小。其中上升沿幅度大小由于限幅二极管Z1的存在会被限制在Z1的导通压降范围内。这样激光器二极管的阴极电压波形就可以更好的匹配后续的电路。
具体的,所述第三电容C3的一端作为所述隔直偏压电路202的输入端与所述分压限幅电路201的输出端连接,所述第三电阻R3的一端与所述第三电容C3的另一端连接后作为所述隔直偏压电路的输出端,所述第三电阻R3的另一端接收偏置电压,所述隔直偏压电路的输出端与所述电压比较电路连接。
这里,第三电容C3为隔直电容,Vbias为偏置电压,通过对分压限幅电路201处理后的电压增加偏置电压可以使进入电压比较电路的电压值在升压过程中持续高于阈值电压,只有在控制开关导通后,经Vbias偏压作用后的电压值才会小于或等于阈值电压,这样,就避免了升压过程对电压比较电路的干扰,以保证得到稳定准确的激光雷达的起始发光时刻。
具体的,所述第四电阻R4的一端与第一电源VCC1连接,所述第四电阻R4的另一端与所述第五电阻R5的一端连接,所述第五电阻R5的另一端与所述电压比较电路106的第二输入端连接,所述第六电阻R6的一端与所述第五电阻R5的一端连接,所述第六电阻R6的另一端接地,所述第四电容R4的一端与所述第五电阻R5的一端连接,所述第四电容R4的另一端与所述第六电阻R6的另一端连接。
基于同一发明构思,本申请实施例中还提供一种激光雷达,激光雷达包括本申请上述任一种可能实现方式所示的检测电路,由于本申请实施例中的激光雷达解决问题的原理与本申请实施例上述检测电路相似,因此装置的实施可以参见方法的实施,重复之处不再赘述。
本申请实施例提供的激光雷达,通过整形电路对激光发射电路的电压进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号,再通过电压比较电路将第二电压信号与阈值电压进行比较,得到激光发射电路实际的初始起始发光时刻,与将控制信号的发出时刻作为起始发光时刻相比,本申请提供的方案能够得到准确的初始起始发光时刻,进而可提高测距精度。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本申请的具体实施方式,用以说明本申请的技术方案,而非对其限制,本申请的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (12)
1.一种检测电路,其特征在于,所述检测电路包括整形电路和电压比较电路;
所述整形电路,用于从激光发射电路获取第一电压信号,对所述第一电压信号进行第一隔直处理、分压处理、限幅处理、第二隔直处理和加偏压处理,得到第二电压信号;其中,所述激光发射电路用于发射光信号,所述整形电路的输入端与所述激光发射电路连接,所述整形电路的输出端与所述电压比较电路的第一输入端连接;
所述电压比较电路,用于将所述第二电压信号与阈值电压进行比较,获得比较信息;其中,所述比较信息用于确定所述激光发射电路的起始发光时刻,所述阈值电压是通过所述电压比较电路的第二输入端接收的。
2.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述激光发射电路包括第一电容和激光器,所述第一电容的一端与所述激光器的阳极连接,所述第一电容的另一端接地;
所述整形电路的输入端与所述激光发射电路连接,包括:所述整形电路的输入端连接于所述第一电容和所述激光器的阳极之间,或者,所述整形电路的输入端连接于所述激光器的阴极。
3.根据权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述激光发射电路还包括第一电感,所述第一电感连接于所述第一电容和所述激光器的阳极之间;
所述整形电路的输入端连接于所述第一电容和所述激光器的阳极之间,包括:所述整形电路的输入端连接于所述第一电容和所述第一电感之间。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的检测电路,其特征在于,所述整形电路包括:分压限幅电路和隔直偏压电路,
其中,所述分压限幅电路的输入端作为所述整形电路的输入端,所述分压限幅电路的输出端与所述隔直偏压电路的输入端连接,所述隔直偏压电路的输出端作为所述整形电路的输出端。
5.根据权利要求4所述的检测电路,其特征在于,所述分压限幅电路包括第二电容、第一电阻、第二电阻和限幅二极管,其中,所述第二电容用于进行所述第一隔直处理,所述第一电阻和所述第二电阻用于进行所述分压处理,所述限幅二极管用于进行所述限幅处理。
6.根据权利要求5所述的检测电路,其特征在于,所述第二电容的一端作为所述分压限幅电路的输入端与所述激光发射电路连接,所述第二电容的另一端与所述第一电阻的一端连接,所述第二电阻的一端和所述限幅二极管的阳极与所述第一电阻的另一端连接后作为所述分压限幅电路的输出端,所述第二电阻的另一端接地,所述限幅二极管的阴极与所述第二电阻的另一端连接,所述分压限幅电路的输出端与所述隔直偏压电路连接。
7.根据权利要求4所述的检测电路,其特征在于,所述隔直偏压电路包括第三电容和第三电阻,所述第三电容用于进行所述第二隔直处理,所述第三电阻用于进行所述加偏压处理。
8.根据权利要求7所述的检测电路,其特征在于,所述第三电容的一端作为所述隔直偏压电路的输入端与所述分压限幅电路的输出端连接,所述第三电阻的一端与所述第三电容的另一端连接后作为所述隔直偏压电路的输出端,所述第三电阻的另一端接收偏置电压,所述隔直偏压电路的输出端与所述电压比较电路的第一输入端连接。
9.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括阈值电压生成电路,所述阈值电压生成电路用于生成所述阈值电压,所述阈值电压生成电路与所述电压比较电路的第二输入端连接。
10.根据权利要求9所述的检测电路,其特征在于,所述阈值电压小于偏置电压值且大于激光发射电压值,所述偏置电压值是所述加偏压处理后得到的,所述激光发射电压值是预设置的。
11.根据权利要求1-3中任一项所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括升压电路、发光控制电路和控制开关;所述升压电路用于控制所述激光发射电路升压,所述发光控制电路用于通过控制所述控制开关来控制所述激光发射电路发光。
12.一种激光雷达,其特征在于,包括:如权利要求1至11中任一项所述的检测电路。
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