CN116684724A - 工件图像采集控制方法、装置、工件检测设备和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种工件图像采集控制方法、装置、工件检测设备和存储介质，涉及工业视觉检测领域。该方法包括：获取被检工件的预览图像，并根据预览图像，生成基于被检工件外形的空间轨迹；获取触发信号的信号等分参数，触发信号用于控制图像采集装置进行图像采集；根据空间轨迹和信号等分参数，生成空间轨迹对应的等分触发点位；控制空间轨迹运动部沿空间轨迹的多维方向运动，并在空间轨迹运动部运动至等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制图像采集装置在等分触发点位对被检工件进行图像采集。本申请，能够基于空间多维方向进行自动线性等分，精准实现运动中高速等间距拍摄触发控制。
Description
技术领域
本申请涉及工业视觉检测领域，尤其是涉及到一种工件图像采集控制方法、装置、工件检测设备和可读存储介质。
背景技术
在工件外观缺陷检测领域，机器视觉检测已经逐渐替代人工检测，使得检测效率大幅提高。目前，机器视觉检测系统能够按照基于工件外表面外形规划的空间轨迹，对空间位置进行线性等分，精准实现运动中高速、等间距的相机触发控制输出，达到快速、无盲区的图像采集。
相关技术中的检测技术，通过工件感应传感器或伺服到位后，间接控制使能时序控制器设备，进行固定周期触发信号输出，控制相机拍照。然而，经过时序控制器后，线性等分触发的数量是通过时序控制器的使能信号有效的时长来控制的，由于时序控制器的使能信号是外部PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)给定的，PLC的扫描周期是ms级的，而时序控制器的输出信号是us级的，会导致控制器扫描周期等带来的时间误差，进而导致实际触发次数无法精准控制，出现采集图像数量不稳定的情况。
发明内容
有鉴于此，本申请提供了一种工件图像采集控制方法、装置、工件检测设备和可读存储介质，能够基于空间多维方向进行自动线性等分，精准实现运动中高速等间距拍摄触发控制。
第一方面，本申请实施例提供了一种工件图像采集控制方法，应用于工件检测设备，所述工件检测设备至少包括空间轨迹运动部和图像采集装置，所述空间轨迹运动部用于带动所述图像采集装置运动；所述方法包括：
获取被检工件的预览图像，并根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹；
获取触发信号的信号等分参数，所述触发信号用于控制所述图像采集装置进行图像采集；
根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位；
控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，并在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制所述图像采集装置在所述等分触发点位对所述被检工件进行图像采集。
根据本申请实施例的上述方法，还可以具有以下附加技术特征：
在上述技术方案中，可选地，所述工件检测设备还包括人机交互部；所述根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹，具体包括：
通过识别所述预览图像，确定所述被检工件的尺寸和被检测区域；
获取基于所述被检测区域的至少两个轨迹确定点位，所述轨迹确定点位为用户通过所述人机交互部所确定的所述图像采集装置对焦清晰的点位；
根据至少两个所述轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于所述被检测区域外形的空间轨迹。
在上述任一技术方案中，可选地，所述信号等分参数包括触发次数、等分关联轴以及轴移动速度。
在上述任一技术方案中，可选地，所述等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴。
在上述任一技术方案中，可选地，所述根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位，具体包括：
利用所述触发次数，将所述空间轨迹在所述等分关联轴方向进行等分计算，生成所述空间轨迹在所述等分关联轴方向上对应的等分触发点位。
在上述任一技术方案中，可选地，所述在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，具体包括：
在所述空间轨迹运动部运动至所述等分关联轴的编码器上与所述等分触发点位相等的位置时，输出触发信号。
在上述任一技术方案中，可选地，所述控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，具体包括：
响应于用户的轴操作信息，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动。
在上述任一技术方案中，可选地，所述方法还包括：
在控制所述图像采集装置对所述被检工件进行图像采集后，得到被检工件图像，并对所述被检工件图像进行显示。
在上述任一技术方案中，可选地，所述对所述被检工件图像进行显示，具体包括：
按照所述等分触发点位的顺序，对所述被检工件图像进行连续显示；或者，
对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示，所述目标等分触发点位为所述等分触发点位中的至少一个。
在上述任一技术方案中，可选地，所述方法还包括：
响应于轨迹参数查看指令，显示所述空间轨迹的轨迹参数；
其中，所述轨迹参数包括以下至少一项：所述等分触发点位、触发延时。
在上述任一技术方案中，可选地，所述方法还包括：
响应于轨迹参数修改指令，对所述空间轨迹的轨迹参数进行调整。
第二方面，本申请实施例提供了一种工件图像采集控制装置，应用于工件检测设备，所述工件检测设备至少包括空间轨迹运动部和图像采集装置，所述空间轨迹运动部用于带动所述图像采集装置运动；所述装置包括：
图像预览模块，用于获取被检工件的预览图像；
轨迹示教模块，用于根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹；
等分参数设置模块，用于获取触发信号的信号等分参数，所述触发信号用于控制所述图像采集装置进行图像采集；
数据解析模块，用于根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位；
控制模块，用于控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，并在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制所述图像采集装置在所述等分触发点位对所述被检工件进行图像采集。
根据本申请实施例的上述装置，还可以具有以下附加技术特征：
在上述技术方案中，可选地，所述工件检测设备还包括人机交互部；所述轨迹示教模块，具体用于：
通过识别所述预览图像，确定所述被检工件的尺寸和被检测区域；
获取基于所述被检测区域的至少两个轨迹确定点位，所述轨迹确定点位为用户通过所述人机交互部所确定的所述图像采集装置对焦清晰的点位；
根据至少两个所述轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于所述被检测区域外形的空间轨迹。
在上述任一技术方案中，可选地，所述信号等分参数包括触发次数、等分关联轴以及轴移动速度。
在上述任一技术方案中，可选地，所述等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴。
在上述任一技术方案中，可选地，所述数据解析模块，具体用于：
利用所述触发次数，将所述空间轨迹在所述等分关联轴方向进行等分计算，生成所述空间轨迹在所述等分关联轴方向上对应的等分触发点位。
在上述任一技术方案中，可选地，所述控制模块，具体用于：
在所述空间轨迹运动部运动至所述等分关联轴的编码器上与所述等分触发点位相等的位置时，输出触发信号。
在上述任一技术方案中，可选地，所述控制模块，具体用于：
响应于用户的轴操作信息，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动。
在上述任一技术方案中，可选地，所述装置还包括：
显示模块，用于在控制所述图像采集装置对所述被检工件进行图像采集后，得到被检工件图像，并对所述被检工件图像进行显示。
在上述任一技术方案中，可选地，所述显示模块，具体用于：
按照所述等分触发点位的顺序，对所述被检工件图像进行连续显示；或者，
对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示，所述目标等分触发点位为所述等分触发点位中的至少一个。
在上述任一技术方案中，可选地，所述装置还包括：
显示模块，用于响应于轨迹参数查看指令，显示所述空间轨迹的轨迹参数；
其中，所述轨迹参数包括以下至少一项：所述等分触发点位、触发延时。
在上述任一技术方案中，可选地，所述装置还包括：
显示模块，用于响应于轨迹参数修改指令，对所述空间轨迹的轨迹参数进行调整。
第三方面，本申请实施例提供了一种工件检测设备，该工件检测设备包括控制器和存储器，存储器存储可在控制器上运行的程序或指令，程序或指令被控制器执行时实现如第一方面的方法的步骤。
第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，该可读存储介质上存储程序或指令，程序或指令被处理器执行时实现如第一方面的方法的步骤。
第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，该芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面的方法。
第六方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如第一方面的方法。
本申请实施例，提供了一种通过基于空间多维方向进行自动线性等分，精准实现运动中高速等间距拍摄触发控制的方案。一方面，支持空间多维的路径，针对被检工件具有圆弧、拐角等特殊外形时仍然可实现精准、高速的飞拍触发控制，达到快速、无盲区的图像采集。另一方面，能够精准控制触发次数，在空间轨迹的行程内，根据所设置的触发次数，自动等分计算拍照点位，稳定输出触发信号，保证图像数量的稳定。
上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1示出了本申请实施例的工件图像采集控制方法的流程示意图；
图2示出了本申请实施例的空间轨迹等分的示意图之一；
图3示出了本申请实施例的空间轨迹等分的示意图之二；
图4示出了本申请实施例的工件图像采集控制装置的结构框图；
图5示出了本申请实施例的工件检测设备的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施，且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类，并不限定对象的个数，例如第一对象可以是一个，也可以是多个。此外，说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一，字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
下面结合附图，通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的工件图像采集控制方法、装置、工件检测设备和可读存储介质进行详细地说明。
本申请实施例提供了一种工件图像采集控制方法，应用于工件检测设备，工件检测设备用于通过采集被检工件的图像进而对被检工件进行外观瑕疵检测，以保证产品质量。所述工件检测设备至少包括空间轨迹运动部和图像采集装置，空间轨迹运动部用于带动图像采集装置进行运动，图像采集装置用于采集被检工件的图像。如图1所示，该方法包括：
步骤101，获取被检工件的预览图像，并根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹。
在该步骤中，初步采集被检工件的预览图像，该预览图像也即为实时图像，但其并非为最终拍摄图像，因为拍摄预览图像时，图像采集装置的焦距可能未处于最优状态。对预览图像进行识别，生成被检工件外形的空间轨迹，从而以该空间轨迹为基础对被检工件进行图像采集。
在本申请的一个实施例中，所述工件检测设备还包括人机交互部；所述根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹，具体包括：
通过识别所述预览图像，确定所述被检工件的尺寸和被检测区域；
获取基于所述被检测区域的至少两个轨迹确定点位，所述轨迹确定点位为用户通过所述人机交互部所确定的所述图像采集装置对焦清晰的点位；
根据至少两个所述轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于所述被检测区域外形的空间轨迹。
在该实施例中，工件检测设备还包括人机交互部，人机交互部用于与用户进行交互以及进行信息显示。例如，人机交互部包括触摸屏，触摸屏能够实时地显示被检工件的图像，以及用户可在触摸屏进行点击实现信息输入；或者，人机交互部包括键盘或手柄，用户通过操控键盘或手柄控制图像采集装置在被检工件的多维方向运动，其中所述多维方向包括X轴方向、Y轴方向、Z轴方向、X轴的旋转方向以及Z轴的旋转方向。
对预览图像进行识别，识别出被检工件的尺寸和被检测区域。进一步地，人机交互部实时显示被检工件的预览图像，用户通过观察该预览图像，通过人机交互部进行空间轨迹的示教工作，也即，用户操作图像采集装置的运动，使图像采集装置与被检工件逐渐靠近，使图像采集装置达到对被检工件对焦清晰的点位，并记录该点位为轨迹确定点位，通过该方式获取至少两个轨迹确定点位，例如，图2中的P0、P1，图3中的P2、P2。通过对焦确定轨迹确定点位，保证在空间轨迹的路径范围内，图像采集装置对焦清晰，也即始终保持在景深范围内，以保证后续图像采集装置在拍摄被检工件时能够达到清晰成像。
此外，在进行设计时，轴的精度也是满足景深范围的。
进一步地，根据至少两个轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于被检测区域外形的空间轨迹。空间轨迹基于被检工件外形所确定，包括直线以及圆弧、拐角等特殊外形。示例性地，空间轨迹可以为图2中P0与P1之间的直线，或者图3中P2与P3之间的弧线。
通过上述方式，精准地规划出基于被检工件外表面的空间轨迹。
步骤102，获取触发信号的信号等分参数，所述触发信号用于控制所述图像采集装置进行图像采集。
在该步骤中，被检工件外形的空间轨迹生成之后，结合图像采集装置的图像采集实际需求信息，例如，曝光时间、图像采集装置的像素精度等，确定触发信号的信号等分参数，实现信号等分参数的自动设置，或者由用户结合上述信息对触发信号的信号等分参数进行手动设置，从而后续通过信号等分参数对要输出的触发信号进行等分相关设置。
步骤103，根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位。
在该步骤中，进行等分相关设置。具体地，根据已生成的空间轨迹和已获取的信号等分设置参数，进行触发图像采集装置拍照的等分触发点位的计算解析，等分触发点位包括多个，通过多个等分触发点位实现对空间轨迹的等分，且等分触发点位用于指示在图像采集装置运动至其位置时输出对图像采集装置的触发信号。
步骤104，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，并在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制所述图像采集装置在所述等分触发点位对所述被检工件进行图像采集。
在该步骤中，等分触发点位计算解析完成后，进行空间轨迹运动部的执行，也即，控制空间轨迹运动部沿空间轨迹的多维方向运动，例如，图2中P0与P1之间的线段即为多维的一个空间轨迹，图3中P2与P3之间的弧线也为多维的一个空间轨迹。当空间轨迹运动部运动到等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，从而触发所述图像采集装置对被检工件进行图像采集。
在本申请的一个实施例中，信号等分参数包括但不限于触发次数、等分关联轴以及轴移动速度等。
其中，所述等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴。
在该实施例中，确认图像采集装置的像素精度，再结合曝光时间，确定能接受的最大触发频率和所需要的触发次数。由于触发输出的周期同时受轴移动速度和图像采集装置帧率的影响，因此需要合理设置轴移动速度，可根据最大触发频率、曝光时间、图像采集装置帧率、触发次数等信息确定轴移动速度。以及，根据空间轨迹运动过程中，移动分量较大的轴作为等分的位置关联轴，也即等分关联轴。
在本申请的一个实施例中，所述根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位，具体包括：
利用所述触发次数，将所述空间轨迹在所述等分关联轴方向进行等分计算，生成所述空间轨迹在所述等分关联轴方向上对应的等分触发点位。
在该实施例中，将空间轨迹在等分关联轴方向上的直线距离除以触发次数，实现对空间轨迹在等分关联轴方向上的等分，对应得到与触发次数相等数量的等分触发点位，并将等分触发点位存储至数据队列，供后续使用。
在本申请的一个实施例中，所述控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，具体包括：
响应于用户的轴操作信息，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动。
在该实施例中，用户人机交互部产生轴操作信息，从而根据轴操作信息控制图像采集装置在被检工件的多维方向运动，其中所述多维方向包括X轴方向、Y轴方向、Z轴方向、X轴的旋转方向以及Z轴的旋转方向。
相比于相关技术中仅能够进行一维的拍照路径，本申请实施例支持空间多维的路径，针对被检工件具有圆弧、拐角等特殊外形时仍然可实现精准、高速的飞拍触发控制。
在本申请的一个实施例中，所述在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，具体包括：
在所述空间轨迹运动部运动至所述等分关联轴的编码器上与所述等分触发点位相等的位置时，输出触发信号。
在该实施例中，读取数据队列中缓存的等分触发点位，并进行等分触发点位与等分关联轴编码器位置的实时比较，在空间轨迹运动部运动到编码器上与等分触发点位相等的位置时，输出触发信号驱动图像采集装置对被检工件拍照。
需要说明的是，等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴，等分信号的比较源为关联轴的编码器反馈脉冲数，因为编码器分辨率的限制，在一段合成路径中，选取运动范围更大的轴，可以有相对大的脉冲数值参与等分判断，从而得到更大的脉冲密度上限，达到快速、无盲区的图像采集。
示例性地，如图2所示，左侧部分P0到P1的线段，是需要执行触发拍照的一段空间轨迹的路径，P0是路径起点，P1是路径终点，△X是X轴的运动距离，△Y是Y轴的运动距离，△Z是Z轴的运动距离。
右侧部分表示空间轨迹的Z轴分量等分后的信号周期及脉宽波形示意。
采用Z轴的编码器位置比较的方式控制拍照。例如，△Z是100mm，需要等分输出100次，那么从P0点开始运动，Z轴编码器位置每变化1mm，就会输出一个上升沿，在高电平持续所设定的翻转时间后，会自动变为低电平，等待编码器位置的下一次变化，再次输出上升沿，循环进行，直到运动到P1点。
本申请实施例，提供了一种通过基于空间多维方向进行自动线性等分，精准实现运动中高速等间距拍摄触发控制的方案。一方面，支持空间多维的路径，针对被检工件具有圆弧、拐角等特殊外形时仍然可实现精准、高速的飞拍触发控制，达到快速、无盲区的图像采集。另一方面，能够精准控制触发次数，在空间轨迹的行程内，根据所设置的触发次数，自动等分计算拍照点位，稳定输出触发信号，保证图像数量的稳定。
在本申请的一个实施例中，所述方法还包括：在控制所述图像采集装置对所述被检工件进行图像采集后，得到被检工件图像，并对所述被检工件图像进行显示。
在该实施例中，对最终采集到的被检工件图像进行显示，使得用户直观地了解到被检工件的工件外表面以及对被检工件的拍摄质量。
在本申请的一个实施例中，所述对所述被检工件图像进行显示，具体包括：按照所述等分触发点位的顺序，对所述被检工件图像进行连续显示；或者，对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示，所述目标等分触发点位为所述等分触发点位中的至少一个。
在该实施例中，被检工件图像的显示包括连续显示模式和触发显示模式。连续显示模式是指对所述被检工件图像进行自由连续显示，触发显示模式是指触发对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示。
此外，连续显示模式还可以用于示教阶段的实时观察，而触发显示模式可以用于在运动时对示教后的关键点的图像进行显示。
本申请实施例，通过多种方式灵活地对被检工件图像进行显示，以满足用户需求。
在本申请的一个实施例中，所述方法还包括：响应于轨迹参数查看指令，显示所述空间轨迹的轨迹参数；其中，所述轨迹参数包括以下至少一项：所述等分触发点位、触发延时。
在该实施例中，用户可对空间轨迹的轨迹参数进行查看，空间轨迹的轨迹参数包括但不限于等分触发点位、触发延时等。
在本申请的一个实施例中，所述方法还包括：响应于轨迹参数修改指令，对所述空间轨迹的轨迹参数进行调整。
在该实施例中，用户可对空间轨迹的轨迹参数进行调整，也即，控制路径执行状态，从而使得空间轨迹满足用户所需。
作为上述工件图像采集控制方法的具体实现，本申请实施例提供了一种工件图像采集控制装置，应用于工件检测设备，所述工件检测设备至少包括空间轨迹运动部和图像采集装置。如图4所示，该工件图像采集控制装置400包括：图像预览模块401、轨迹示教模块402、等分参数设置模块403、数据解析模块404以及控制模块405。
其中，图像预览模块401，用于获取被检工件的预览图像；
轨迹示教模块402，用于根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹；
等分参数设置模块403，用于获取触发信号的信号等分参数，所述触发信号用于控制所述图像采集装置进行图像采集；
数据解析模块404，用于根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位；
控制模块405，用于控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，并在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制所述图像采集装置在所述等分触发点位对所述被检工件进行图像采集。
本申请实施例，提供了一种通过基于空间多维方向进行自动线性等分，精准实现运动中高速等间距拍摄触发控制的方案。一方面，支持空间多维的路径，针对被检工件具有圆弧、拐角等特殊外形时仍然可实现精准、高速的飞拍触发控制，达到快速、无盲区的图像采集。另一方面，能够精准控制触发次数，在空间轨迹的行程内，根据所设置的触发次数，自动等分计算拍照点位，稳定输出触发信号，保证图像数量的稳定。
在本申请的一个实施例中，所述工件检测设备还包括人机交互部；所述轨迹示教模块402，具体用于：通过识别所述预览图像，确定所述被检工件的尺寸和被检测区域；获取基于所述被检测区域的至少两个轨迹确定点位，所述轨迹确定点位为用户通过所述人机交互部所确定的所述图像采集装置对焦清晰的点位；根据至少两个所述轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于所述被检测区域外形的空间轨迹。
在本申请的一个实施例中，所述信号等分参数包括触发次数、等分关联轴以及轴移动速度。
在本申请的一个实施例中，所述等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴。
在本申请的一个实施例中，所述数据解析模块404，具体用于：利用所述触发次数，将所述空间轨迹在所述等分关联轴方向进行等分计算，生成所述空间轨迹在所述等分关联轴方向上对应的等分触发点位。
在上述任一技术方案中，可选地，所述控制模块405，具体用于：
在所述空间轨迹运动部运动至所述等分关联轴的编码器上与所述等分触发点位相等的位置时，输出触发信号。
在本申请的一个实施例中，所述控制模块405，具体用于：响应于用户的轴操作信息，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动。
在本申请的一个实施例中，所述装置还包括：显示模块，用于在控制所述图像采集装置对所述被检工件进行图像采集后，得到被检工件图像，并对所述被检工件图像进行显示。
在本申请的一个实施例中，所述显示模块，具体用于：按照所述等分触发点位的顺序，对所述被检工件图像进行连续显示；或者，对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示，所述目标等分触发点位为所述等分触发点位中的至少一个。
在本申请的一个实施例中，所述装置还包括：显示模块，用于响应于轨迹参数查看指令，显示所述空间轨迹的轨迹参数；其中，所述轨迹参数包括以下至少一项：所述等分触发点位、触发延时。
在本申请的一个实施例中，所述装置还包括：显示模块，用于响应于轨迹参数修改指令，对所述空间轨迹的轨迹参数进行调整。
本申请实施例中的工件图像采集控制装置400可以是工件检测设备，也可以是工件检测设备中的部件，例如集成电路或芯片。
本申请实施例提供的工件图像采集控制装置400能够实现图1的工件图像采集控制方法实施例实现的各个过程，为避免重复，这里不再赘述。
本申请实施例还提供一种工件检测设备，如图5所示，该工件检测设备500包括：人机交互部501、空间轨迹运动执行部502、图像采集装置503、控制器和存储器(图中未示出)，其中，控制器包括图像预览模块401、轨迹示教模块402、等分参数设置模块403、数据解析模块404以及控制模块(图中未示出)，存储器上存储有可在控制器上运行的程序或指令，该程序或指令被控制器执行时实现上述工件图像采集控制方法实施例的各个步骤，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
需要说明的是，本申请实施例中的工件检测设备包括的移动工件检测设备和非移动工件检测设备。
上述人机交互部501，主要包括空间轨迹的路径信息和等分参数设置模块403的参数的组织呈现。
上述图像预览模块401，主要对被检工件的图像进行显示，可自由连续显示，也可通过触发成像部结合空间轨迹运动执行部进行触发显示。
上述轨迹示教模块402，包括空间轨迹的示教和监视功能。可以通过键盘或手柄直接控制多轴执行部运动，并将坐标信息存储。轨迹示教模块402也可以对已有轨迹中的参数进行查看，并控制路径执行状态。
上述等分参数设置模块403，主要对轴移动速度、触发次数、关联轴等工艺参数进行设置。
上述数据解析模块404，主要根据等分参数设置模块403所设置的触发次数和关联轴，对轨迹示教模块402中相应的轴空间位置进行等分计算，并生成位置比较缓存数据队列，压入空间轨迹运动执行部502的寄存器中。
上述空间轨迹运动执行部502，主要负责空间轨迹的运动动作执行，同时消耗数据解析模块404压入的缓存数据，并实时进行缓存数据和关联轴编码器位置的实时比较，在运动到两者相等的点位时，立即输出触发信号到图像采集装置503。
上述图像采集装置503，主要用来选择触发输出口(也即，确定由哪一个摄像头来拍摄)和设置触发信号的自动翻转时间(也即，脉宽)，以满足边缘有效的信号需求。
在图像预览模块401的实时图像显示的前提下，通过人机交互部501的引导，在轨迹示教模块402进行空间轨迹的示教工作，保证在空间轨迹的路径范围内，图像采集装置503始终保持在景深范围内，根据被检工件的物理尺寸和被检测区域，确定空间轨迹的路径行程。
空间轨迹生成之后，根据系统技术输入要求，首先要确认图像采集装置503的像素精度，然后根据曝光时间确定能接受的最大触发频率和所需要的触发次数。选择空间轨迹运动中，移动分量较大的轴作为等分的位置关联轴。然后在等分参数设置模块403对上述触发次数、关联轴以及所需运动速度进行设置。
在设置完等分参数之后，数据解析模块404会根据等分要求，对轨迹数据进行解析，并存入空间轨迹运动执行部502的数据缓存区，在空间轨迹运动执行部502运动执行之后，会输出等分信号(例如图2、图3所示)，以控制图像采集装置503，完成图像拍摄。
存储器可用于存储软件程序以及各种数据。存储器可主要包括存储程序或指令的第一存储区和存储数据的第二存储区，其中，第一存储区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序或指令(比如声音播放功能、图像播放功能等)等。此外，存储器可以包括易失性存储器或非易失性存储器，或者，存储器可以包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(Programmable ROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(Dynamic RAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data Rate SDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synchlink DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(Direct Rambus RAM，DRRAM)。本申请实施例中的存储器包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
控制器可包括一个或多个处理单元；可选的，控制器集成应用控制器和调制解调控制器，其中，应用控制器主要处理涉及操作系统、用户界面和应用程序等的操作，调制解调控制器主要处理无线通信信号，如基带控制器。可以理解的是，上述调制解调控制器也可以不集成到控制器中。
本申请实施例还提供一种可读存储介质，可读存储介质上存储有程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现上述工件图像采集控制方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
本申请实施例还提供了一种芯片，芯片包括处理器和通信接口，通信接口和处理器耦合，处理器用于运行程序或指令，实现上述工件图像采集控制方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
应理解，本申请实施例提到的芯片还可以称为系统级芯片、系统芯片、芯片系统或片上系统芯片等。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品，该程序产品被存储在存储介质中，该程序产品被至少一个处理器执行以实现如上述工件图像采集控制方法实施例的各个过程，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外，需要指出的是，本申请实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能，还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能，例如，可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法，并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外，参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。
Claims (24)
1.一种工件图像采集控制方法，其特征在于，应用于工件检测设备，所述工件检测设备至少包括空间轨迹运动部和图像采集装置，所述空间轨迹运动部用于带动所述图像采集装置运动；所述方法包括：
获取被检工件的预览图像，并根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹；
获取触发信号的信号等分参数，所述触发信号用于控制所述图像采集装置进行图像采集；
根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位；
控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，并在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制所述图像采集装置在所述等分触发点位对所述被检工件进行图像采集。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述工件检测设备还包括人机交互部；所述根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹，具体包括：
通过识别所述预览图像，确定所述被检工件的尺寸和被检测区域；
获取基于所述被检测区域的至少两个轨迹确定点位，所述轨迹确定点位为用户通过所述人机交互部所确定的所述图像采集装置对焦清晰的点位；
根据至少两个所述轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于所述被检测区域外形的空间轨迹。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述信号等分参数包括触发次数、等分关联轴以及轴移动速度。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，
所述等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位，具体包括：
利用所述触发次数，将所述空间轨迹在所述等分关联轴方向进行等分计算，生成所述空间轨迹在所述等分关联轴方向上对应的等分触发点位。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，具体包括：
在所述空间轨迹运动部运动至所述等分关联轴的编码器上与所述等分触发点位相等的位置时，输出触发信号。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，具体包括：
响应于用户的轴操作信息，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在控制所述图像采集装置对所述被检工件进行图像采集后，得到被检工件图像，并对所述被检工件图像进行显示。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述对所述被检工件图像进行显示，具体包括：
按照所述等分触发点位的顺序，对所述被检工件图像进行连续显示；或者，
对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示，所述目标等分触发点位为所述等分触发点位中的至少一个。
10.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
响应于轨迹参数查看指令，显示所述空间轨迹的轨迹参数；
其中，所述轨迹参数包括以下至少一项：所述等分触发点位、触发延时。
11.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
响应于轨迹参数修改指令，对所述空间轨迹的轨迹参数进行调整。
12.一种工件图像采集控制装置，其特征在于，应用于工件检测设备，所述工件检测设备至少包括空间轨迹运动部和图像采集装置，所述空间轨迹运动部用于带动所述图像采集装置运动；所述装置包括：
图像预览模块，用于获取被检工件的预览图像；
轨迹示教模块，用于根据所述预览图像，生成基于所述被检工件外形的空间轨迹；
等分参数设置模块，用于获取触发信号的信号等分参数，所述触发信号用于控制所述图像采集装置进行图像采集；
数据解析模块，用于根据所述空间轨迹和所述信号等分参数，生成所述空间轨迹对应的等分触发点位；
控制模块，用于控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动，并在所述空间轨迹运动部运动至所述等分触发点位对应的位置时，输出触发信号，以控制所述图像采集装置在所述等分触发点位对所述被检工件进行图像采集。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述工件检测设备还包括人机交互部；所述轨迹示教模块，具体用于：
通过识别所述预览图像，确定所述被检工件的尺寸和被检测区域；
获取基于所述被检测区域的至少两个轨迹确定点位，所述轨迹确定点位为用户通过所述人机交互部所确定的所述图像采集装置对焦清晰的点位；
根据至少两个所述轨迹确定点位之间的尺寸，生成基于所述被检测区域外形的空间轨迹。
14.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，
所述信号等分参数包括触发次数、等分关联轴以及轴移动速度。
15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，
所述等分关联轴为移动分量大于或等于预设阈值的坐标轴。
16.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述数据解析模块，具体用于：
利用所述触发次数，将所述空间轨迹在所述等分关联轴方向进行等分计算，生成所述空间轨迹在所述等分关联轴方向上对应的等分触发点位。
17.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述控制模块，具体用于：
在所述空间轨迹运动部运动至所述等分关联轴的编码器上与所述等分触发点位相等的位置时，输出触发信号。
18.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述控制模块，具体用于：
响应于用户的轴操作信息，控制所述空间轨迹运动部沿所述空间轨迹的多维方向运动。
19.根据权利要求12至18中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
显示模块，用于在控制所述图像采集装置对所述被检工件进行图像采集后，得到被检工件图像，并对所述被检工件图像进行显示。
20.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述显示模块，具体用于：
按照所述等分触发点位的顺序，对所述被检工件图像进行连续显示；或者，
对目标等分触发点位对应的所述被检工件图像进行显示，所述目标等分触发点位为所述等分触发点位中的至少一个。
21.根据权利要求12至18中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
显示模块，用于响应于轨迹参数查看指令，显示所述空间轨迹的轨迹参数；
其中，所述轨迹参数包括以下至少一项：所述等分触发点位、触发延时。
22.根据权利要求12至18中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
显示模块，用于响应于轨迹参数修改指令，对所述空间轨迹的轨迹参数进行调整。
23.一种工件检测设备，其特征在于，包括控制器和存储器，所述存储器存储有在所述控制器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述控制器执行时实现如权利要求1至11中任一项所述的工件图像采集控制方法的步骤。
24.一种可读存储介质，其上存储有程序或指令，其特征在于，所述程序或指令被处理器执行时实现如权利要求1至11中任一项所述的工件图像采集控制方法的步骤。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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