CN116684005A - 链路校准方法、装置、系统及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种链路校准方法、装置、系统及存储介质。其中，该方法包括：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个测试探头的损耗差异数据，其中，损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制校准天线对准基准探头，得到每一个基准探头对应的基准校准数据；根据基准校准数据和归一化数据，确定每一个测试探头对应的校准数据。本发明解决了传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。

Description

链路校准方法、装置、系统及存储介质

技术领域

本发明涉及校准测试技术领域，具体而言，涉及一种链路校准方法、装置、系统及存储介质。

背景技术

在多探头单天线空中下载技术SISO OTA测试中，链路校准的准确性直接关系整体系统测试的准确性。由于多探头SISO OTA自身系统构造的特点，整个系统内部链路数量较多，传统链路校准方法存在时间长、步骤繁琐、天线价格昂贵以及天线频段不完整等多种问题，使得很多多探头SISO OTA实验室无法做到全频段测试支持，制约了实验室的测试能力。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种链路校准方法、装置、系统及存储介质，以至少解决传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种链路校准方法，包括：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

可选的，在基于基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理之前，上述方法还包括：计算任意两个上述损耗差异数据之间的第一差值；若存在上述第一差值大于第一预设阈值，则逐一排查所有测试天线、线缆以及目标材质的测试台的安装情况。

可选的，在基于基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理之前，上述方法还包括:获取同一频段下的多组上述归一化数据；基于多组上述归一化数据计算得到多组上述损耗差异数据；计算任意两组上述损耗差异数据之间的第二差值；若存在上述第二差值大于第二预设阈值，则调整归一化校准工装设备的安装结构。

可选的，在得到上述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质的测试台复原。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种链路校准系统，包括：归一化校准工装设备，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；主控设备，与上述归一化校准工装设备连接，用于采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

可选的，上述归一化校准工装设备，包括：安装基座，与上述测试环的安装基座连接，用于调整上述安装基座的水平度；塔式升降架，与上述安装基座连接，用于调节水平旋转轴的垂直高度，以确保上述水平旋转轴与上述测试环的圆心重合；上述水平旋转轴，与上述塔式升降架连接，用于带动上述校准天线旋转。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种链路校准装置，包括：第一获取模块，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；第二获取模块，用于采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；第三获取模块，用于控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；确定模块，用于根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种非易失性存储介质，上述非易失性存储介质存储有多条指令，上述指令适于由处理器加载并执行任意一项上述的链路校准方法。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，上述存储器中存储有计算机程序，上述处理器被设置为运行上述计算机程序以执行任意一项上述的链路校准方法。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行任意一项上述的链路校准方法。

在本发明实施例中，采用校准测试的方式，通过控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据，达到了通过控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，确定每一个测试探头对应的校准数据的目的，从而实现了简化链路校准步骤，提升校准效率，降低校准成本的技术效果，进而解决了传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据现有技术的一种可选的多探头OTA暗室示意图；

图2是根据现有技术的一种可选的标准偶极子天线的示意图；

图3是根据本发明实施例的一种链路校准方法的流程图；

图4是根据本发明实施例的一种可选的归一化校准示意图；

图5是根据本发明实施例的一种可选的损耗差异数据图像；

图6是根据本发明实施例的一种可选的链路校准方法的流程图；

图7是根据本发明实施例的一种链路校准系统的结构示意图；

图8是根据本发明实施例的一种可选的归一化校准工装设备的结构示意图；

图9是根据本发明实施例的一种可选的归一化校准工装设备余测试环的连接结构示意图；

图10是根据本发明实施例的一种链路校准装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

随着通信技术的不断进步，小型化，集成化，一体化成为通信设备的发展趋势，传统传导测量方式已经不能适应现在的通信终端产品，无法体现出设备在实际使用环境中的性能，而SISO OTA测试系统是目前用于测试无线通信设备性能的主要手段。SISO OTA系统将终端产品与天线作为一个整体进行性能研究，通过在空间中的不同角度对终端进行性能测试，从而得到全方位的空间数据。

如图1所示，多探头SISO OTA系统的测试环境由全电波微波暗室、天线环、测试天线、转台以及射频链路开关箱组成，软件通过控制天线切换和转台运动实现对被测物空间各个角度的EIRP和EIS值的测量，最后通过软件计算得到TRP和TIS数据，其中，上述TRP和TIS的计算方法分别为：

从上述公式上可知，TRP和TIS的测试结果准确性与各个角度的EIS与EIRP测试结果相关。而EIS和EIRP的测试结果取决于仪表的测量准确性和系统校准数据的准确性。对于多探头系统而言，由于探头数量较多，每个探头都存在一条测试路径，由于暗室空间不是绝对的自由空间，各个探头的空间损耗存在差异，而且每个探头的增益指标以及探头对应的射频线缆以及射频开关的损耗也有差异，这些差异导致不同的路径必须通过一套严密的校准过程将链路损耗获取到后才能将测试结果进行正确的修正，所以校准成为了制约系统准确性的主要瓶颈。

目前多探头暗室的校准方法主要使用标准偶极子Dipole天线进行校准(标准偶极子天线的示意图如图2所示)，该方法是通过标准Dipole天线对暗室各个探头的测试路径进行校准，用于校准的Dipole天线具有<0.1dB的圆度参数，可以近似认为校准天线对于各个探头的辐射能量是一致的。根据损耗计算公式：

S₂₁＝G_t-PL_fs+G_r-PL_t-PL_r

PL_total＝-PL_fs+G_r-PL_t-PL_r＝S₂₁-G_t

由于偶极子天线的圆度<0.1dB，所以在各个角度的Gt近似相等,可以通过出厂的增益数据和S21数据测试得到各个探头路径的损耗数据从而达到校准目的。

然而，传统Dipole天线校准存在很多弊端：首先，高圆度的校准Dipole天线成本较高，由于对圆度要求较高，所以实验室进口Dipole天线作为校准天线，一根天线的价格在3万-5万元不等，而每根天线所覆盖的频段很窄，0.4-6GHz全频段校准需要使用20多只天线进行校准；其次，天线数量过多会导致整个校准流程频繁更换天线，校准时间长，由于天线的尺寸差异所需的支撑模具也需要更换，对操作人员的要求较高，而且工作量很大；另外，每根天线需要依次对所有天线路径进行扫描，单根天线的测试时间长；此外，MVG和ETS所提供的校准Dipole天线不能覆盖完整的0.4-6GHz，无法覆盖的频段只能使用其他厂商所提供的Dipole天线校准，在圆度上会有所下降，从而导致校准精度的下降。

基于上述问题，本发明实施例提供了一种链路校准方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图3是根据本发明实施例的一种链路校准方法的流程图，如图3所示，该方法包括如下步骤：

步骤S102，控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据；

步骤S104，采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；

步骤S106，控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；

步骤S108，根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

可选的，上述校准天线可以但不限于为喇叭天线；上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率。

可选的，上述基准探头可以但不限于为0°探头；上述基准损耗差异数据可以但不限于为0°探头所对应的校准数据，例如，在如图4所示的归一化校准示意图中，测试环顶部正上方位置所对应的探头即为上述0°探头。

可选的，通过归一化校准工装设备控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头。需要说明的是，相比于传统的标准偶极子天线，带宽较宽的喇叭天线价格相对便宜，但由于喇叭天线属于定向天线，不具备高圆度的特性，校准时必须保证喇叭端面对准测试探头，要校准大环上各个角度的测试探头必须让喇叭天线在大环水平面内进行旋转，依次对准所有测试天线，而传统的暗室内部的转台并不能提供这种旋转方式，由此通过归一化校准工装设备控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头。

仍需要说明的是，虽然喇叭天线无法通过简单定位精确对准暗室内所有测试天线，但是喇叭天线自身的结构特点使得其摆放时很容易对准暗室(测试环)顶部的探头(即基准探头)，由此可以很简单的通过喇叭天线获取0°探头的校准数据。

可选的，通过软件设备调整归一化校准工装设备的旋转角度，控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，通过网络分析仪获取每一个上述测试探头的损耗差异数据，同时可以获取到如图5所示的损耗差异数据图像。其中，上述损耗差异数据可以为每一个上述测试探头全频段的S21损耗数据。

可选的，在得到上述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质的测试台复原。

可选的，在得到上述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质(如吸波材料)的测试台复原，然后将上述校准天线(如喇叭天线)放置在上述测试台的中心；控制将上述校准天线对准上述基准探头(如0°探头)进行链路校准，得到上述基准探头对应的基准校准数据；将上述基准校准数据与每一个上述归一化数据相加，得到每一个上述测试探头对应的校准数据。

在本发明实施例中，采用校准测试的方式，通过控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据，达到了通过控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，确定每一个测试探头对应的校准数据的目的，从而实现了简化链路校准步骤，提升校准效率，降低校准成本的技术效果，进而解决了传统的链路校准方法存在的校准时间长、步骤繁琐、校准成本高以及天线校准频段不完整的技术问题。

在一种可选的实施例中，在基于基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理之前，上述方法还包括：

步骤S202，计算任意两个上述损耗差异数据之间的第一差值；

步骤S204，若存在上述第一差值大于第一预设阈值，则逐一排查所有测试天线、线缆以及目标材质的测试台的安装情况。

可选的，上述目标材质可以但不限于为吸波材料。

需要说明的是，上述第一差值用于表征归一化数据不同路径的离散度，一般情况下，不同的路径线缆和测试天线所带来的损耗差异一般不会超过5dB，所以归一化数据不同路径的离散度(即上述第一差值)如果过大，说明暗室内部存在了会引起电磁波反射的物体，或者结构上存在问题导致不同路径损耗偏差过大，这时就需要逐一排查所有测试天线的安装以及线缆和吸波材料(即测试台)的安装情况。

作为一种可选的实施例，图6是根据本发明实施例的一种可选的链路校准方法的流程图，如图6所示，在基于基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理之前，上述方法还包括:

步骤S302，获取同一频段下的多组上述归一化数据；

步骤S304，基于多组上述归一化数据计算得到多组上述损耗差异数据；

步骤S306，计算任意两组上述损耗差异数据之间的第二差值；

步骤S308,若存在上述第二差值大于第二预设阈值，则调整归一化校准工装设备的安装结构。

可选的，上述安装结构可以但不限于包括：归一化校准工装设备的稳定性、安装的准确性、放大器的选择、网络分析仪的参数配置，等等。

需要说明的是，上述第二差值用于对上述归一化数据的进行重复性验证。上述重复性验证需要进行多次(如3-5次)归一化测试，得到多组上述损耗差异数据，计算任意两组上述损耗差异数据之间的第二差值。一般情况下，归一化数据的重复性(即上述第二差值)一般会小于<0.1dB，重复性与归一化校准工装设备的稳定性、安装的准确性、放大器的选择、以及网络分析仪的参数配置都有关系，可参照如表1所示的参数对上述归一化校准工装设备进行配置。若上述第二差值较大且大于上述第二预设阈值，则从稳定性、安装的准确性、放大器的选择、网络分析仪的参数配置角度考虑调整上述归一化校准工装设备。

仍需要说明的是，若对上述归一化校准工装设备进行结构调整后，上述归一化校准工装设备测试结果的重复性依然较差，即上述第二差值仍然大于第二预设阈值，则进一步确认上述归一化校准工装设备的安装是否稳定、工装中心是否与测试环中心对齐，等等。

仍需要说明的是，当归一化数据满足了重复性和离散性要求后，通过对该数据进行归一化处理，将所有曲线归一化到0°探头曲线上，即可得到所有路径相对0°探头的S21偏差。由于暗室内的电磁场环境基本属于稳定状态，屏蔽效能大于100dB，所以这个偏差值可直接看作不同路径之间的损耗差异。

本发明实施例至少可以实现如下技术效果：使用归一化校准可以在后续实际链路校准时极大的降低校准时间，提升效率；通过归一化校准可以提前发现微波暗室中的一些结构缺陷，将测试中的风险提前排除；归一化校准过程可以做到小步进、高精度校准，同时可以针对不同频段选取不同放大倍数的放大器保证信号处于网络分析仪的动态范围中；校准可以通过标定后的宽频喇叭天线或标准增益喇叭天线进行，硬件成本相对Dipole天线方案可以降低很多；喇叭天线可以覆盖完整频段，相比Dipole天线具备更全面的测试能力。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

实施例2

根据本发明实施例，还提供了一种用于实施上述链路校准方法的系统实施例，图7是根据本发明实施例的一种链路校准系统的结构示意图，如图7所示，上述链路校准系统，包括：归一化校准工装设备400、主控设备402，其中：

上述归一化校准工装设备400，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；

上述主控设备402，与上述归一化校准工装设备连接，用于采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

可选的，如图8所示，上述归一化校准工装设备400具备天线旋转能力，可用过程序控制让校准天线(如喇叭天线)精确对准测试环上的每一个测试天线。通过上述归一化校准工装设备400，可以实现校准天线(即喇叭天线)在测试环平面内的旋转，准确对准所有探头的端面，从而得到所有探头的损耗差异数据，如探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率，等等。

需要说明的是，本申请中的图7至图8中所示归一化校准工装设备400、主控设备402的具体结构仅是示意，在具体应用时，本申请中的链路校准系统可以比图7至图8所示的归一化校准工装设备400、主控设备402具有多或少的结构。

可选的，如图9所示，上述归一化校准工装设备通过底座安装在暗室内部大环的一侧，用于对多探头SISO OTA暗室内各测试探头进行校准。

在一种可选的实施例中，上述归一化校准工装设备，包括：安装基座，与上述测试环的安装基座连接，用于调整上述安装基座的水平度；塔式升降架，与上述安装基座连接，用于调节水平旋转轴的垂直高度，以确保上述水平旋转轴与上述测试环的圆心重合；上述水平旋转轴，与上述塔式升降架连接，用于带动上述校准天线旋转。

可选的，上述安装基座配备可水平调节螺钉，与暗室地面安装基座连接，确保工装整体平稳，通过螺钉调节保证安装基座的水平。

可选的，上述塔式升降架可通过手动或电动的方式调节水平旋转轴的垂直高度，通过激光定位或经纬仪定位的方式确保工装水平旋转轴与天线大环的圆心重合。

可选的，上述水平旋转轴前段安装校准用喇叭天线，天线可以覆盖微波暗室的全频段，仍如图9所示，旋转轴可以围绕轴线做360°旋转，可以确保校准天线的发射端面可依次对准每一个探头的接收端面。

需要说明的是，上述实施例1中的任意一种可选的或优选的链路校准方法，均可以在本实施例所提供的链路校准系统中执行或实现。

此外，仍需要说明的是，本实施例的可选或优选实施方式可以参见实施例1中的相关描述，此处不再赘述。

实施例3

在本实施例中还提供了一种链路校准装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”“装置”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

根据本发明实施例，还提供了一种用于实施上述链路校准方法的装置实施例，图10是根据本发明实施例的一种链路校准装置的结构示意图，如图10所示，上述链路校准装置，包括：第一获取模块600、第二获取模块602、第三获取模块604、确定模块606，其中：

上述第一获取模块600，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；

上述第二获取模块602，用于采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；

上述第三获取模块604，用于控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；

上述确定模块606，用于根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，例如，对于后者，可以通过以下方式实现：上述各个模块可以位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的方式位于不同的处理器中。

此处需要说明的是，上述第一获取模块600、第二获取模块602、第三获取模块604、确定模块606对应于实施例1中的步骤S102至步骤S108，上述模块与对应的步骤所实现的实例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以运行在计算机终端中。

需要说明的是，本实施例的可选或优选实施方式可以参见实施例1中的相关描述，此处不再赘述。

上述的链路校准装置还可以包括处理器和存储器，上述第一获取模块600、第二获取模块602、第三获取模块604、确定模块606等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元，上述内核可以设置一个或以上。存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。

根据本申请实施例，还提供了一种非易失性存储介质的实施例。可选的，在本实施例中，上述非易失性存储介质包括存储的程序，其中，在上述程序运行时控制上述非易失性存储介质所在设备执行上述任意一种链路校准方法。

可选的，在本实施例中，上述非易失性存储介质可以位于计算机网络中计算机终端群中的任意一个计算机终端中，或者位于移动终端群中的任意一个移动终端中，上述非易失性存储介质包括存储的程序。

可选的，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行以下功能：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

可选的，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行以下功能：计算任意两个上述损耗差异数据之间的第一差值；若存在上述第一差值大于第一预设阈值，则逐一排查所有测试天线、线缆以及目标材质的测试台的安装情况。

可选的，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行以下功能：获取同一频段下的多组上述归一化数据；基于多组上述归一化数据计算得到多组上述损耗差异数据；计算任意两组上述损耗差异数据之间的第二差值；若存在上述第二差值大于第二预设阈值，则调整归一化校准工装设备的安装结构。

可选的，在程序运行时控制非易失性存储介质所在设备执行以下功能：在得到上述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质的测试台复原。

根据本申请实施例，还提供了一种处理器的实施例。可选的，在本实施例中，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行上述任意一种链路校准方法。

根据本申请实施例，还提供了一种计算机程序产品的实施例，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有上述任意一种的链路校准方法步骤的程序。

可选的，上述计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有如下方法步骤的程序：控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个上述测试探头的损耗差异数据，其中，上述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；采用基准损耗差异数据对上述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，上述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制上述校准天线对准上述基准探头，得到上述基准探头对应的基准校准数据；根据上述基准校准数据和上述归一化数据，确定每一个上述测试探头对应的校准数据。

根据本申请实施例，还提供了一种电子设备的实施例，包括存储器和处理器，上述存储器中存储有计算机程序，上述处理器被设置为运行上述计算机程序以执行上述任意一种的链路校准方法。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取非易失性存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个非易失性存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的非易失性存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种链路校准方法，其特征在于，包括：

控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个所述测试探头的损耗差异数据，其中，所述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；

采用基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，所述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；

控制所述校准天线对准所述基准探头，得到所述基准探头对应的基准校准数据；

根据所述基准校准数据和所述归一化数据，确定每一个所述测试探头对应的校准数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理之前，所述方法还包括：

计算任意两个所述损耗差异数据之间的第一差值；

若存在所述第一差值大于第一预设阈值，则逐一排查所有测试天线、线缆以及目标材质的测试台的安装情况。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理之前，所述方法还包括:

获取同一频段下的多组所述归一化数据；

基于多组所述归一化数据计算得到多组所述损耗差异数据；

计算任意两组所述损耗差异数据之间的第二差值；

若存在所述第二差值大于第二预设阈值，则调整归一化校准工装设备的安装结构。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在得到所述归一化数据之后，拆除归一化校准工装设备，并将目标材质的测试台复原。

5.一种链路校准系统，其特征在于，包括：

归一化校准工装设备，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个所述测试探头的损耗差异数据，其中，所述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；

主控设备，与所述归一化校准工装设备连接，用于采用基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，所述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；控制所述校准天线对准所述基准探头，得到上所述基准探头对应的基准校准数据；根据所述基准校准数据和所述归一化数据，确定每一个所述测试探头对应的校准数据。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述归一化校准工装设备，包括：

安装基座，与所述测试环的安装基座连接，用于调整所述安装基座的水平度；

塔式升降架，与所述安装基座连接，用于调节水平旋转轴的垂直高度，以确保所述水平旋转轴与所述测试环的圆心重合；

所述水平旋转轴，与所述塔式升降架连接，用于带动所述校准天线旋转。

7.一种链路校准装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于控制校准天线旋转对准测试环中的每一个测试探头，得到每一个所述测试探头的损耗差异数据，其中，所述损耗差异数据包括以下至少之一：探头增益值、线缆损耗值、空间反射变化率；

第二获取模块，用于采用基准损耗差异数据对所述损耗差异数据进行归一化处理，得到归一化数据，其中，所述基准损耗差异数据为基准探头对应的损耗差异数据；

第三获取模块，用于控制所述校准天线对准所述基准探头，得到上所述基准探头对应的基准校准数据；

确定模块，用于根据所述基准校准数据和所述归一化数据，确定每一个所述测试探头对应的校准数据。

8.一种非易失性存储介质，其特征在于，所述非易失性存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行权利要求1至4中任意一项所述的链路校准方法。

9.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至4中任意一项所述的链路校准方法。

10.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至4中任意一项所述的链路校准方法。