CN116660717A - 多平台测试pattern互转实现方法及系统 - Google Patents

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CN116660717A
CN116660717A CN202310425395.9A CN202310425395A CN116660717A CN 116660717 A CN116660717 A CN 116660717A CN 202310425395 A CN202310425395 A CN 202310425395A CN 116660717 A CN116660717 A CN 116660717A
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test
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Praran Semiconductor Shanghai Co ltd
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Abstract

本申请涉及一种多平台测试pattern互转实现方法及系统，依次通过设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，这样通过设置了所述当前patternspec，也即通过设置了一个标准格式文件，使在需要进行多个实际测试平台间的转换时，只依据标准格式文件的当前patternspec进行其他实际测试平台的pattern转换即可，而避免将一个测试平台的pattern转换为另一个平台的pattern时容易出现的转换错误以及转换麻烦的问题，保证pattern的准确性，保证各测试平台pattern之间无差异，通过统一的patternspec文件，大大优化了pattern调试效率。

Description

多平台测试pattern互转实现方法及系统
技术领域
本申请涉及pattern测试技术领域，特别是涉及一种多平台测试pattern互转实现方法及系统。
背景技术
半导体厂商在做芯片的出厂测试时，较为重要的一个测试是CP测试开发阶段。所谓CP测试即为Chip Probing，也即晶圆测试。CP测试的目的就是在封装前就把坏的芯片筛选出来，以节省封装的成本，同时可以更直接的知道晶圆的良率。
在CP测试中，较为重要的测试为Digital Functional Test，具体为跑测试向量(pattern)。pattern是设计公司的DFT工程师用ATPG(auto test pattern generation)工具生成，pattern测试基本是加激励，然后捕捉输出，再和期望值进行比较。
测试过程中，若产能遇到瓶颈需要扩展的时候，不同阶段分析工具不同的时候，故需要在多个测试平台进行测试，进而需要进行pattern的转换，如由一个测试平台的pattern装换为另一个测试平台的pattern。但是，各个测试平台的pattern需要单独生成和调试，pattern的可阅读性较差，不方便检查，并且pattern的可阅读性较差，导致错误不容易发现，无法同意保存，并且极大降低了pattern调试效率。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高pattern调试效率的多平台测试pattern互转实现方法及系统。
本发明技术方案如下：
一种多平台测试pattern互转实现方法，所述方法包括：
步骤S100：设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
步骤S200：对所述当前patternspec进行正确性验证；
步骤S300：若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
具体而言，所述特定测试平台包括多个实际测试平台；所述根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，具体包括：
步骤S310：获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
步骤S320：根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
具体而言，步骤S200：对所述当前patternspec进行正确性验证，具体包括：
步骤S210：将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；
步骤S220：调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
具体而言，步骤S100：设置当前patternspec，具体包括：
步骤S110：获取芯片测试需求；
步骤S120：根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
具体而言，一种多平台测试pattern互转实现系统，所述系统包括：
文件设置模块，用于设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
正确验证模块，用于对所述当前patternspec进行正确性验证；
调试验证模块，用于若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
具体而言，所述调试验证模块还用于获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
步骤S320：根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
具体而言，所述正确验证模块还用于：
将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
具体而言，所述文件设置模块还用于：
获取芯片测试需求；根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述多平台测试pattern互转实现方法所述的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述多平台测试pattern互转实现方法所述的步骤。
本发明实现技术效果如下：
上述多平台测试pattern互转实现方法及系统，依次通过设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，这样通过设置了所述当前patternspec，也即通过设置了一个标准格式文件，使在需要进行多个实际测试平台间的转换时，只依据标准格式文件的当前patternspec进行其他实际测试平台的pattern转换即可，而避免将一个测试平台的pattern转换为另一个平台的pattern时容易出现的转换错误以及转换麻烦的问题，保证pattern的准确性，保证各测试平台pattern之间无差异，通过统一的patternspec文件，大大优化了pattern调试效率。
附图说明
图1为一个实施例中多平台测试pattern互转实现方法的流程示意图；
图2为一个实施例中现有技术中多平台测试pattern互转实现方法的流程示意图；
图3为一个实施例中多平台测试pattern互转实现方法的简要流程示意图；
图4为一个实施例中多平台测试pattern互转实现系统的结构框图；
图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
在一个实施例中，提供了一种终端，所述终端用于设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
所述终端可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种多平台测试pattern互转实现方法，所述方法包括：
步骤S100：设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
步骤S200：对所述当前patternspec进行正确性验证；
步骤S300：若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
本实施例中，依次通过设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，这样通过设置了所述当前patternspec，也即通过设置了一个标准格式文件，使在需要进行多个实际测试平台间的转换时，只依据标准格式文件的当前patternspec进行其他实际测试平台的pattern转换即可，而避免将一个测试平台的pattern转换为另一个平台的pattern时容易出现的转换错误以及转换麻烦的问题，保证pattern的准确性，保证各测试平台pattern之间无差异，通过统一的patternspec文件，大大优化了pattern调试效率。
本实施例中，所述当前patternspec的格式如下表：
mode command addr_start addr_stop addr_step dummy data delay
usermode 01 00 0.001
usermode 96
usermode 69
usermode A8
testmode D0 001400 00
testmode D0 001501 00
testmode 66
testmode 99
usermode 06
usermode 01 9C 0.001
usermode 05 9F 10
其中，mode中包括user mode和test mode。user mode是开发给客户的芯片指令集。test mode是只能用于测试mode下的指令。cmd是指令。指令后面的addr和data等都是该指令固定格式的内容。可以从该产品的datasheet和测试规矩数中查询。标准数据仅为距离，实际测试过程中可按实际需求进行设置，本申请不做具体限定。
在一个实施例中，所述特定测试平台包括多个实际测试平台；所述根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，具体包括：
步骤S310：获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
步骤S320：根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
现有技术中，各测试机平台的pattern都带有各自平台的格式，阅读不方便。格式不统一导致某平台转化到另一平台不方便，通常是容易出错。实际操作时，是通过开发小工具转换后配合大量的人工检查和调试来完成最终的转换。而本申请通过统一的patternspec文件，解决了上述问题。
如图2所示，为现有技术中常规的侧视图，此时若要进行多平台测试时，则需要将测试平台1的pattern人工或通过工具转换为测试平台2所要求的pattern，这样容易出错。而反观本申请中，如图3，通过设置了所述统一的patternspec文件，在所述patternspec文件正确的前提下，实现了通过patternspec文件即可转换为任一测试平台的pattern，实现高效率调试和高准确率转换。
在一个实施例中，步骤S200：对所述当前patternspec进行正确性验证，具体包括：
步骤S210：将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；
步骤S220：调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
在一个实施例中，步骤S100：设置当前patternspec，具体包括：
步骤S110：获取芯片测试需求；
步骤S120：根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
在一个实施例中，一种多平台测试pattern互转实现系统，所述系统包括：
文件设置模块，用于设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
正确验证模块，用于对所述当前patternspec进行正确性验证；
调试验证模块，用于若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
在一个实施例中，所述调试验证模块还用于获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
步骤S320：根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
在一个实施例中，所述正确验证模块还用于：
将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
在一个实施例中，所述文件设置模块还用于：
获取芯片测试需求；根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
在一个实施例中，如图3所示，一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述多平台测试pattern互转实现方法所述的步骤。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述多平台测试pattern互转实现方法所述的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，所述方法包括：
设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
对所述当前patternspec进行正确性验证；
若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
2.根据权利要求1所述的多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，所述特定测试平台包括多个实际测试平台；所述根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，具体包括：
获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
3.根据权利要求1所述的多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，对所述当前patternspec进行正确性验证，具体包括：
将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；
调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
4.根据权利要求1所述的多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，设置当前patternspec，具体包括：
获取芯片测试需求；
根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
5.一种多平台测试pattern互转实现系统，其特征在于，所述系统包括：
文件设置模块，用于设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
正确验证模块，用于对所述当前patternspec进行正确性验证；
调试验证模块，用于若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
6.根据权利要求5所述的多平台测试pattern互转实现系统，其特征在于，所述调试验证模块还用于获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
7.根据权利要求5所述的多平台测试pattern互转实现系统，其特征在于，所述正确验证模块还用于：
将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
8.根据权利要求5所述的多平台测试pattern互转实现系统，其特征在于，所述文件设置模块还用于：
获取芯片测试需求；根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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