CN116652215A - 一种四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备 - Google Patents
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Abstract
一种四激光分区扫描系统，包括四个扫描系统和控制系统，四个扫描系统两两相邻且呈两行两列设置于工作台面的正上方，以平行于风向的三条平行线和垂直于风向的一条垂直线将工作台面或待扫描截面划分为八个子区域，八个子区域按照就近原则分配给四个扫描系统，以使每个扫描系统分配的两个子区域呈对角关系，控制每个扫描系统依次扫描其对应的两个子区域，且位于风向之下的子区域先于位于风向之上的子区域。本发明通过合适布局四个扫描系统以及对工作台面进行合适的区域划分，并由每个扫描系统分配对应子区域的扫描任务，并对子区域分配先后扫描顺序，这样不仅规避沿风场方向分布的烟尘和粉末等离子体对激光功率以及烧结质量的影响，且避免了多激光光束的交叉，从而提高了烧结质量。
Description
技术领域
本申请涉及增材制造技术领域，特别是涉及一种四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备。
背景技术
增材制造技术是一种通过控制激光器逐层扫描，层层叠加形成三维物体的快速制造技术。其工艺流程如下：首先对工件的三维模型进行切片处理，得到工件每一层的轮廓信息；将粉末状材料均匀地铺洒在工作平台表面上，激光器根据系统指令选择性地熔化粉末；一个截面完成后，再铺上一层新材料，继续有选择性地根据三维物体对应的截面信息进行扫描；按照此方法再对下一个截面进行铺粉扫描，最终得到三维物体。
随着待打印工件的尺寸越来越大，一般采用多激光器按照区域划分的方式对工作台面进行分区扫描，从而提高单位面积内的烧结效率、缩短单位面积内的烧结时间。然而，多个扫描系统(例如四激光扫描系统)在对工作台面进行分区扫描时，可能出现某个扫描系统的扫描任务与另一个扫描系统的扫描任务同时出现在风场一个狭窄条带区的上风区和下风区，上风区的选择性激光烧结产生的烟尘会因此影响分配在下风区的扫描系统的激光功率，从而影响该区域中工件的烧结质量；而且，多个扫描系统在扫描时，可能出现激光束之间发生交叉，从而影响光束质量，导致烧结异常。
发明内容
为了解决现有技术存在的上述技术问题，本发明提供了一种四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备，该四激光分区扫描系统通过控制四激光的分区以及扫描顺序，规避了沿风场方向分布的烟尘和粉末等离子体对激光功率以及烧结质量的影响，同时避免了多激光光束的交叉，提高了烧结质量。
为了实现上述目的，本发明提供了一种四激光分区扫描系统，包括四个扫描系统和控制系统，所述四个扫描系统两两相邻且呈两行两列设置于工作台面的正上方，以平行于风向的三条平行线和垂直于风向的一条垂直线将工作台面或待扫描截面划分为八个子区域，八个子区域按照就近原则分配给四个扫描系统，以使每个扫描系统分配的两个子区域呈对角关系，所述控制系统控制每个扫描系统依次扫描其对应的两个子区域，且位于风向之下的子区域先于位于风向之上的子区域。
作为本发明的进一步优选方案，所述扫描系统沿风向的反方向对每个子区域进行扫描。
作为本发明的进一步优选方案，按照待扫描截面的形状和大小将工作台面或待扫描截面进行区域划分，以使每个子区域的扫描任务趋于一致。
作为本发明的进一步优选方案，所述待扫描截面由一个或一个以上待扫描工件的扫描截面构成。
本发明还提供了一种四激光分区扫描系统的校正方法，包括以下步骤：
步骤一、任选一个扫描系统作为基准扫描系统，采用校准点阵理论值对其校准点阵进行逐点校准，使该基准扫描系统的校准点阵相对于校准点阵理论值之间的差异值在允许误差范围内；
步骤二、选取与基准扫描系统相同列的扫描系统，并以校准后的基准扫描系统的校准点阵为该扫描系统的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统的校准点阵相对于校准后的基准扫描系统的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤三、选取与基准扫描系统相同行的扫描系统，并以校准后的基准扫描系统的校准点阵为该扫描系统的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统的校准点阵相对于校准后的基准扫描系统的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤四、选取位于基准扫描系统的对角线位置的扫描系统，并以校准后的与基准扫描系统同行或同列的扫描系统的校准点阵为该扫描系统的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统的校准点阵相对于校准后的与基准扫描系统同行或同列的扫描系统的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤五、获取四激光系统中两两扫描系统组合得到的六种组合，除去步骤二至步骤四中参与校准扫描以及被校准的扫描系统形成的三种组合得到剩下的三种组合，分别判断剩下的三种组合是否存在重叠扫描区域；
步骤六、当某种组合中两两扫描系统存在重叠扫描区域，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准，以使该两两扫描系统的校准后的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内。
作为本发明的进一步优选方案，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统为与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统和与基准扫描系统相同行的扫描系统，或者两两扫描系统为与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统和与基准扫描系统相同列的扫描系统时；
将步骤二至步骤四中所有差异值的和为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
作为本发明的进一步优选方案，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统为与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统和基准扫描系统时；
计算校准后的与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统相对于校准后的与基准扫描系统相同列的扫描系统的差异值，以及步骤二中的差异值的和，并将该和作为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
作为本发明的进一步优选方案，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统为与基准扫描系统相同行的扫描系统，以及与基准扫描系统相同列的扫描系统时，
将步骤二和步骤三中所有差异值的和为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
本发明还提供了一种增材制造设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的校正方法的步骤。
本发明还提供了一种增材制造设备，包括上述任一项所述的四激光分区扫描系统。
本发明的四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备，通过合适布局四个扫描系统以及对工作台面进行合适的区域划分，并由每个扫描系统分配对应子区域的扫描任务，同时对子区域分配先后扫描顺序，这样不仅规避了沿风场方向分布的烟尘和粉末等离子体对激光功率以及烧结质量的影响，而且，避免了多激光光束的交叉，从而提高了烧结质量。
附图说明
图1为本发明中四扫描系统的分布示意图；
图2为本发明四扫描系统进行分区的一个实施例的示意图；
图3为发明四扫描系统烧结一个大工件进行分区的一个实施例的示意图；
图4为本发明四扫描系统烧结多个工件进行分区的一个实施例的示意图；
图5为本发明四扫描系统的校正方法提供的一实施例的流程图。
图中标记说明：
11、工作台面，12、扫描系统，20a、1号扫描系统，20b、2号扫描系统，20c、3号扫描系统，20d、4号扫描系统，21、第一子区域，22、第二子区域，23、第三子区域，24、第四子区域，25、第五子区域，26、第六子区域，27、第七子区域，28、第八子区域，30、待打印工件。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
实施例一
该实施例的四激光分区扫描系统，如图1和图2所示，其包括四个扫描系统12和控制系统，所述四个扫描系统12两两相邻且呈两行两列设置于工作台面11的正上方，以平行于风向的三条平行线和垂直于风向的一条垂直线将工作台面11划分为八个子区域，八个子区域按照就近原则分配给四个扫描系统12，以使每个扫描系统12分配的两个子区域呈对角关系，所述控制系统控制每个扫描系统12依次扫描其对应的两个子区域，且位于风向之下的子区域先于位于风向之上的子区域。
具体地，如图2所示，以平行于风向的三条平行线和垂直于风向的一条垂直线将工作台面11划分为八个子区域，分别为分布于工作台面11左侧的第一子区域21、第二子区域22、第三子区域23、第四子区域24；以及分布于工作台面11右侧的第五子区域25、第六子区域26、第七子区域27和第八子区域28，八个子区域按照就近原则分配给四个扫描系统12，例如，1号扫描系统20a就近负责第一子区域21和第六子区域26的扫描任务；2号扫描系统20b就近负责第二子区域22和第五子区域25的扫描任务；3号扫描系统20c就近负责第三子区域23和第八子区域28的扫描任务；4号扫描系统20d就近负责第四子区域24和第七子区域27的扫描任务；此是最优的就近原则分配方法，在具体实施中，2号扫描系统20b就近负责第一子区域21和第六子区域26的扫描任务；1号扫描系统20a就近负责第二子区域22和第五子区域25的扫描任务；4号扫描系统20d就近负责第三子区域23和第八子区域28的扫描任务；3号扫描系统20c就近负责第四子区域24和第七子区域27的扫描任务。
进一步参阅图2，在该图中的风场方向下，在工作台面11左侧的第一子区域21至第四子区域24为风场的下风方向，工作台面11右侧的第五子区域25至第八子区域28为风场的上风方向。考虑到风场将上风方向烧结区域在烧结过程中产生的烟尘吹到下风方向，从而对下风方向烧结区域的激光烧结功率带来影响，使下风方向烧结区域的激光烧结功率产生波动，从而导致下风方向烧结区域的烧结质量变差。因此，将工作台面11左侧的第一子区域21至第四子区域24设为先扫描区域，将工作台面11右侧的第五子区域25至第八子区域28设为后扫描区域。在完成先扫描区域第一子区域21至第四子区域24的扫描任务后，再进行后扫描区域第五子区域25至第八子区域28的扫描任务。
优选地，所述扫描系统12沿风向的反方向对每个子区域进行扫描，这样可以进一步确保待打印工件30的烧结质量。
进一步优选地，按照待扫描截面的形状和大小将工作台面11或待扫描截面进行区域划分，以使每个子区域的扫描任务趋于一致。具体地，先扫描的第一子区域21至第四子区域24在垂直于风场方向上的区域大小可以根据该子区域实际的扫描任务来划分，后扫描的第五子区域25至第八子区域28在垂直于风场方向(也可简称风向)上的区域大小可以也根据实际的扫描任务来划分，先扫描的第一子区域21至第四子区域24和后扫描的第五子区域25至第八子区域28之间在平行于风场方向上的区域大小可以也根据实际的扫描任务来划分，上述的划分基于效率最优的原则，即使每个子区域的扫描任务趋于一致，当然不是绝对一致，尽量接近一致即可，这样可使得四个扫描系统12分配的先扫描的四个子区域的扫描任务可以同时完成，分配的后扫描的四个子区域的扫描任务可以同时完成，从而可减小扫描系统12的未出光烧结的时间。
该实施例的八个子区域由于按照就近原则分配给四个扫描系统12，例如，1号扫描系统20a就近负责第一子区域21和第六子区域26的扫描任务；2号扫描系统20b就近负责第二子区域22和第五子区域25的扫描任务；3号扫描系统20c就近负责第三子区域23和第八子区域28的扫描任务；4号扫描系统20d就近负责第四子区域24和第七子区域27的扫描任务，使得在四个扫描系统12扫描同一个工作台面11的时候，尽量避免了多个扫描系统12的激光束之间互相干扰。
所述待扫描截面由一个或一个以上待扫描工件的扫描截面构成，如图4所示的工作台面11放置有多个待打印工件30，即待扫描截面由多个待扫描工件的扫描截面构成。
实施例二
该实施例与实施例一大部分相同，不同点在于，当在工作台面11上烧结较大的待打印工件30时，待打印工件30可以根据实际情况摆放在工作台面11的任意位置上，即待打印工件30可以不放置在工作台面11的中心位置。在此实施例下，以平行于风向的三条平行线和垂直于风向的一条垂直线将待扫描截面划分为八个子区域，分别为分布于工作台面11左侧的第一子区域21、第二子区域22、第三子区域23、第四子区域24；以及分布于工作台面11右侧的第五子区域25、第六子区域26、第七子区域27和第八子区域28，如图3所示。
实施例三
如图5所示，该实施例的四激光分区扫描系统的校正方法，包括以下步骤：
步骤S1、任选一个扫描系统12作为基准扫描系统12，采用校准点阵理论值对其校准点阵进行逐点校准，使该基准扫描系统12的校准点阵相对于校准点阵理论值之间的差异值在允许误差范围内；该校准点阵理论值可根据工作台面11的尺寸预先设计得到。
步骤S2、选取与基准扫描系统12相同列的扫描系统12，并以校准后的基准扫描系统12的校准点阵为该扫描系统12的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统12的校准点阵相对于校准后的基准扫描系统12的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤S3、选取与基准扫描系统12相同行的扫描系统12，并以校准后的基准扫描系统12的校准点阵为该扫描系统12的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统12的校准点阵相对于校准后的基准扫描系统12的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤S4、选取位于基准扫描系统12的对角线位置的扫描系统12，并以校准后的与基准扫描系统12同行或同列的扫描系统12的校准点阵为该扫描系统12的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统12的校准点阵相对于校准后的与基准扫描系统12同行或同列的扫描系统12的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤S5、获取四激光系统中两两扫描系统12组合得到的六种组合，除去步骤S2至步骤S4中参与校准扫描以及被校准的扫描系统12形成的三种组合得到剩下的三种组合，分别判断剩下的三种组合是否存在重叠扫描区域；
步骤S6、当某种组合中两两扫描系统12存在重叠扫描区域，对该组合中两两扫描系统12的重叠区域进行校准，以使该两两扫描系统12的校准后的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内。
所述步骤S6中，对该组合中两两扫描系统12的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统12为与基准扫描系统12呈对角线位置的扫描系统12和与基准扫描系统12相同行的扫描系统12，或者两两扫描系统12为与基准扫描系统12呈对角线位置的扫描系统12和与基准扫描系统12相同列的扫描系统12时；
将步骤S2至步骤S4中所有差异值的和为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
当两两扫描系统12为与基准扫描系统12呈对角线位置的扫描系统12和基准扫描系统12时；
计算校准后的与基准扫描系统12呈对角线位置的扫描系统12相对于校准后的与基准扫描系统12相同列的扫描系统12的差异值，以及步骤S2中的差异值的和，并将该和作为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
当两两扫描系统12为与基准扫描系统12相同行的扫描系统12，以及与基准扫描系统12相同列的扫描系统12时，
将步骤S2和步骤S3中所有差异值的和为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
在此需说明的是，本申请的允许误差范围可根据设计人员具体确定，例如以满足精度要求为标准进行具体确定，在此不做具体阐述。
实施例四
该实施例以图2所示的四激光扫描系统12分区为基准，其校正方法包括以下步骤：
步骤41、在工作台面11上根据工作台面11的尺寸设计校准点阵理论值；
步骤42、对3号扫描系统20c的校准点阵相对于校准点阵理论值进行逐点校准，使3号扫描系统20c的校准点阵相对于校准点阵理论值之间的差异值满足精度要求，也就是在允许误差范围内；
步骤43、对2号扫描系统20b的校准点阵相对于满足精度要求的3号扫描系统20c的校准点阵进行逐点校准，即满足精度要求的3号扫描系统20c的校准点阵为2号扫描系统20b校准点阵的校准点阵理论值，使2号扫描系统20b的校准点阵相对于3号扫描系统20c的校准点阵之间的差异值满足精度要求；
步骤44、对4号扫描系统20d的校准点阵相对于满足精度要求的3号扫描系统20c的校准点阵进行逐点校准，即满足精度要求的3号扫描系统20c的校准点阵为4号扫描系统20d的校准点阵的校准点阵理论值，使4号扫描系统20d的校准点阵相对于3号扫描系统20c校准点阵之间的差异值满足精度要求；
步骤45、对1号扫描系统20a的校准点阵相对于满足精度要求的2号扫描系统20b的校准点阵进行逐点校准，即满足精度要求的2号扫描系统20b的校准点阵为1号扫描系统20a的校准点阵的校准点阵理论值，使1号扫描系统20a的校准点阵相对于2号扫描系统20b的校准点阵之间的差异值满足精度要求；
步骤46、图2中显示的四激光系统中两两扫描系统12组合得到的六种组合(包括2号扫描系统20b、3号扫描系统20c组合、3号扫描系统20c、4号扫描系统20d组合、1号扫描系统20a、2号扫描系统20b组合、1号扫描系统20a、4号扫描系统20d组合、1号扫描系统20a、3号扫描系统20c组合以及2号扫描系统20b、4号扫描系统20d组合)，除去步骤S42至步骤S44中参与校准扫描以及被校准的扫描系统12形成的三种组合(包括2号扫描系统20b、3号扫描系统20c组合、3号扫描系统20c、4号扫描系统20d组合、1号扫描系统20a、2号扫描系统20b组合)得到剩下的三种组合(包括1号扫描系统20a、4号扫描系统20d组合、1号扫描系统20a、3号扫描系统20c组合和2号扫描系统20a、4号扫描系统20d组合)；
步骤47、分别判断剩下的三种组合是否存在重叠扫描区域，由图2所示，只有1、4号扫描系统20d存在重叠扫描区域，因此，对1号扫描系统20a和4号扫描系统20d之间的重叠区域，引入一个校准矩阵，该校准矩阵的数值等于1号扫描系统20a与2号扫描系统20b校准点阵差异值，2号扫描系统20b与3号扫描系统20c校准点阵差异值，3号扫描系统20c与4号扫描系统20d校准点阵的差异值的总和。当进行1号扫描系统20a和4号扫描系统20d的重叠区域校正时，对重叠区域的1号扫描系统20a的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到对应的向量坐标上，以满足1号扫描系统20a和4号扫描系统20d之间的差异值满足精度要求。
本发明还提供了一种增材制造设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一实施例所述的校正方法的步骤。
本发明还提供了一种增材制造设备，包括上述任一实施例所述的四激光分区扫描系统。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种四激光分区扫描系统，其特征在于，包括四个扫描系统和控制系统，所述四个扫描系统两两相邻且呈两行两列设置于工作台面的正上方，以平行于风向的三条平行线和垂直于风向的一条垂直线将工作台面或待扫描截面划分为八个子区域，八个子区域按照就近原则分配给四个扫描系统，以使每个扫描系统分配的两个子区域呈对角关系，所述控制系统控制每个扫描系统依次扫描其对应的两个子区域，且位于风向之下的子区域先于位于风向之上的子区域。
2.根据权利要求1所述的四激光分区扫描系统，其特征在于，所述扫描系统沿风向的反方向对每个子区域进行扫描。
3.根据权利要求1所述的四激光分区扫描系统，其特征在于，按照待扫描截面的形状和大小将工作台面或待扫描截面进行区域划分，以使每个子区域的扫描任务趋于一致。
4.根据权利要求3所述的四激光分区扫描系统，其特征在于，所述待扫描截面由一个或一个以上待扫描工件的扫描截面构成。
5.一种权利要求1至4任一项所述的四激光分区扫描系统的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤一、任选一个扫描系统作为基准扫描系统，采用校准点阵理论值对其校准点阵进行逐点校准，使该基准扫描系统的校准点阵相对于校准点阵理论值之间的差异值在允许误差范围内；
步骤二、选取与基准扫描系统相同列的扫描系统，并以校准后的基准扫描系统的校准点阵为该扫描系统的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统的校准点阵相对于校准后的基准扫描系统的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤三、选取与基准扫描系统相同行的扫描系统，并以校准后的基准扫描系统的校准点阵为该扫描系统的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统的校准点阵相对于校准后的基准扫描系统的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤四、选取位于基准扫描系统的对角线位置的扫描系统，并以校准后的与基准扫描系统同行或同列的扫描系统的校准点阵为该扫描系统的校准点阵进行逐点校准，使该扫描系统的校准点阵相对于校准后的与基准扫描系统同行或同列的扫描系统的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内；
步骤五、获取四激光系统中两两扫描系统组合得到的六种组合，除去步骤二至步骤四中参与校准扫描以及被校准的扫描系统形成的三种组合得到剩下的三种组合，分别判断剩下的三种组合是否存在重叠扫描区域；
步骤六、当某种组合中两两扫描系统存在重叠扫描区域，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准，以使该两两扫描系统的校准后的校准点阵之间的差异值在允许误差范围内。
6.根据权利要求5所述的校正方法，其特征在于，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统为与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统和与基准扫描系统相同行的扫描系统，或者两两扫描系统为与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统和与基准扫描系统相同列的扫描系统时；
将步骤二至步骤四中所有差异值的和为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
7.根据权利要求5所述的校正方法，其特征在于，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统为与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统和基准扫描系统时；
计算校准后的与基准扫描系统呈对角线位置的扫描系统相对于校准后的与基准扫描系统相同列的扫描系统的差异值，以及步骤二中的差异值的和，并将该和作为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
8.根据权利要求5所述的校正方法，其特征在于，对该组合中两两扫描系统的重叠区域进行校准具体包括：
当两两扫描系统为与基准扫描系统相同行的扫描系统，以及与基准扫描系统相同列的扫描系统时，
将步骤二和步骤三中所有差异值的和为校准矩阵，对该重叠区域分配的扫描任务的每一个向量坐标，采用线性插值的方法计算校准矩阵在对应向量坐标上的数值，并将该数值补偿到重叠区域中对应的向量坐标上。
9.一种增材制造设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求5至8中任一项所述的校正方法的步骤。
10.一种增材制造设备，其特征在于，包括权利要求1至4任一项所述的四激光分区扫描系统。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310545308.3A CN116652215A (zh) | 2023-05-16 | 2023-05-16 | 一种四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310545308.3A CN116652215A (zh) | 2023-05-16 | 2023-05-16 | 一种四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116652215A true CN116652215A (zh) | 2023-08-29 |
Family
ID=87714491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310545308.3A Pending CN116652215A (zh) | 2023-05-16 | 2023-05-16 | 一种四激光分区扫描系统、方法及增材制造设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116652215A (zh) |
-
2023
- 2023-05-16 CN CN202310545308.3A patent/CN116652215A/zh active Pending
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