CN116643113B - Ied设备弱电测试用柔性测试方法 - Google Patents

Ied设备弱电测试用柔性测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN116643113B
CN116643113B CN202310922778.7A CN202310922778A CN116643113B CN 116643113 B CN116643113 B CN 116643113B CN 202310922778 A CN202310922778 A CN 202310922778A CN 116643113 B CN116643113 B CN 116643113B
Authority
CN
China
Prior art keywords
switching
output
optical coupler
module
flexible
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310922778.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116643113A (zh
Inventor
王永辉
宋广磊
王金强
沈小晴
樊江波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nanjing Iat Software And Testing Co ltd
XJ Electric Co Ltd
Original Assignee
Nanjing Iat Software And Testing Co ltd
XJ Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nanjing Iat Software And Testing Co ltd, XJ Electric Co Ltd filed Critical Nanjing Iat Software And Testing Co ltd
Priority to CN202310922778.7A priority Critical patent/CN116643113B/zh
Publication of CN116643113A publication Critical patent/CN116643113A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116643113B publication Critical patent/CN116643113B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F8/00—Arrangements for software engineering
    • G06F8/70—Software maintenance or management
    • G06F8/71—Version control; Configuration management

Abstract

本发明提出了IED设备弱电测试用柔性测试方法，包括如下步骤：首先，根据被测试信号类型、软件系统配置对应回路、通过CAN通讯模块下发配置指令、数据接收模块分析数据、控制对应IO模块、输出低电平控制光耦动作、驱动切换回路，最后输出测试激励，本发明通过在一个DIO柔性输出激励板上通过电路加上软件控制实现电气信号柔性测试输出，根据测试需求软件可配置被测试点所需要的信号激励，无需改变接线，通过软件配置生成激励信号直接连接被测试点。

Description

IED设备弱电测试用柔性测试方法
技术领域
本发明涉及电力系统IED设备生产自动测试领域，具体为IED设备弱电测试用柔性测试方法。
背景技术
针对电力系统二次设备研制自动测试系统，解决被测试装置接线端子物理位置不一致的情况下，利用针盘可切换的方式，对外观以及接线端子布局不同的被测试装置接入一个测试系统，共同复用在一个测试平台，进行测试。
但是当被测试装置的接线端子物理位置完成相同，具体接线点位电气信号不同时，测试系统如何根据被测试装置的对应测试点的信号不同通过软件控制柔性输出对应的测试激励，并把电力系统二次设备常见测试激励的集成在一个电路里实现测试激励柔性输出。
针对上述情况，现有技术中采用图2的方式，利用矩阵板来切换对应测试的激励来源。原有激励输出模式：开入信号激励板的信号，开出信号激励板的信号都分别连接至矩阵板，由矩阵板切换后输出到被测试点，信号会通过多个板件切换至目标激励信号输出至测试点，信号经过的板件多且接线复杂繁琐。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提出了在一个DIO柔性输出激励板上通过电路加上软件控制实现电气信号柔性测试输出，根据测试需求软件可配置被测试点所需要的信号激励，无需改变接线，通过软件配置生成激励信号直接连接被测试点。
为实现上述目的，本发明采取的技术方案是：
IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
S1：根据被测试信号类型选择软件系统，
根据外部测试环境，确定每个通道需要切换的信号类型；
S2：软件系统配置对应回路，
通过软件系统配置每个通道类型、开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端；
S3：通过CAN通讯模块下发配置指令，
通过CAN通讯模块下发每个通道属性，0-开关量输出信号、1-开关量输入信号、2-开关量输入信号公共端以及3-开关量输出公共端，然后，将组包通过CAN网总线下发到IED设备；
S4：数据接收模块分析数据，
IED设备接收到CAN网总线下发的数据，分析判断，若错误，则通过CAN通讯模块回复上位机，在正确分析后，得到需要控制的继电器序号对应的IED设备CPU控制模块控制IO模块的输出总线序号；
S5：控制对应IO模块，
通讯分析结果得到IED设备CPU控制模块控制IO模块的输出总线序号，控制对应的IO总线输出；
S6：输出低电平控制光耦动作，
IED设备IO模块输出总线输出低电平，控制对应光耦动作；
S7：驱动切换回路，
IED设备IO模块驱动对应光耦动作，接通需要切换的继电器线圈电压，继电器动作形成切换逻辑回路；
S8：输出测试激励，
IED设备驱动回路切换完成，各个通道形成预设的信号输出，开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端、开关量输出公共端四个信号的任何一个输出，完成此次测试激励。
上述结构中：本发明提出了IED设备弱电测试用柔性测试方法，首先，根据被测试信号类型、软件系统配置对应回路、通过CAN通讯模块下发配置指令、数据接收模块分析数据、控制对应IO模块、输出低电平控制光耦动作、驱动切换回路，最后输出测试激励，通过在一个DIO柔性输出激励板上通过电路加上软件控制实现电气信号柔性测试输出，根据测试需求软件可配置被测试点所需要的信号激励，无需改变接线，通过软件配置生成激励信号直接连接被测试点。
作为本发明的优选技术方案：还包括DIO柔性输出激励板和控制终端，所述DIO柔性输出激励板上设置有CPU控制模块、电源管理模块、驱动模块、柔性切换模块，所述控制终端包括软件系统，所述控制系统连接CPU控制模块，所述电源管理模块、驱动模块以及柔性切换模块分别连接CPU控制模块。
上述结构中：通过设置DIO柔性输出激励板和控制终端，DIO柔性输出激励板上设置有CPU控制模块、电源管理模块、驱动模块、柔性切换模块，控制终端包括软件系统，通过软件系统实现了用电子电路和软件系统设计的一个回路对应一个物理端子位置按 需求提供所需要的测试信号激励，以此实现IED设备弱电测试用柔性测试。
作为本发明的优选技术方案：所述柔性切换模块包括K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路，所述柔性切换模块通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，以实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换。
上述结构中：柔性切换模块包括K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路，其中，柔性切换模块通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，以实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换。
作为本发明的优选技术方案：所述K13切换电路包括第一继电器线圈电源，所述第一继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD13和光耦GD13，所述电阻RD13一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD13的1脚，所述光耦GD13的2脚连接DO4-0，所述光耦GD13的4脚连接VCC.K，光耦GD13的3脚连接第一继电器线圈电源的正极，所述第一继电器线圈电源的负极上串联有二极管VK13，还包括二极管VF13，所述二极管VF13的正极分别连接第一继电器线圈电源的正极和光耦GD13的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD13的型号为TLP127，还包括第一继电器闭锁回路，所述第一继电器闭锁回路分别连接开关量输出公共端和开关量输出信号，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开接点为开关量输出公共端，二闭接点为开关量输出信号。
作为本发明的优选技术方案：所述K14切换电路包括第二继电器线圈电源，所述第二继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD14和光耦GD14，所述电阻RD14一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD14的1脚，所述光耦GD14的2脚连接DO4-1，所述光耦GD14的4脚连接VCC.K，光耦GD14的3脚连接第二继电器线圈电源的正极，所述第二继电器线圈电源上串联有二极管VK14，还包括二极管VF14，所述二极管VF14的正极分别连接第二继电器线圈电源的正极和光耦GD14的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD14的型号为TLP127，还包括第二继电器闭锁回路，所述第二继电器闭锁回路分别连接开关量输入信号公共端和PIN4，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开接点为开关量输入信号公共端，二闭接点为PIN4。
作为本发明的优选技术方案：所述开关量输出信号连接PIN4。
作为本发明的优选技术方案：所述K15切换电路包括第三继电器线圈电源，所述第三继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD15和光耦GD15，所述电阻RD15一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD15的1脚，所述光耦GD15的2脚连接DO4-2，所述光耦GD15的4脚连接VCC.K，光耦GD15的3脚连接第三继电器线圈电源的正极，所述第三继电器线圈电源上串联有二极管VK15，还包括二极管VF15，所述二极管VF15的正极分别连接第三继电器线圈电源的正极和光耦GD15的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD15的型号为TLP127，还包括第三继电器闭锁回路，所述第三继电器闭锁回路分别连接PDO4和开关量输入信号，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开接点为PDO4，二闭接点为开关量输入信号。
作为本发明的优选技术方案：所述PIN4分别连接PDO4和开关量输入信号。
上述结构中：K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路的电路连接如上所述，通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，CPU控制模块输出控制信号到DO4-0，通过三个端口的DO4-0、DO4-1、DO4-2，分别控制开关量输出信号与开关量输出公共端、开关量输入公共端、开关量输入信号，且通过第一继电器闭锁回路，确保任意时刻切换输出端只输出四种信号的一种，解决之前电路人为接线造成的输出信号错误的问题。
具体如下：
正常状态：K13、K14、K15不动作，DO4-2输出高电位，切换输出为：开关量输入信号；
其他输出：软件系统驱动DO4-2输出低电位，光耦GD15导通，K15动作，K15的接点3-4，5-6闭合，切换输出接至PDO4：
软件系统驱动DO4-1输出低电位，光耦GD14导通，K14动作，K14的接点3-4，5-6闭合，切换输出为：开关量输入信号公共；
软件系统驱动DO4-1输出高电位，K14保持不动作，切换输出经过PDO4，接至PIN4：
软件系统驱动DO4-0输出高电位，K13不动作，切换输出为：开关量输出信号；
软件系统驱动DO4-0输出低电位，光耦GD13导通，K13动作，K13的接点3-4，5-6闭合，切换输出为：开关量输出公共端信号。
作为本发明的优选技术方案：当IED设备驱动回路切换完成时，共有13个通道形成预设的信号输出。
与现有技术相比，本发明的有益效果为：
本发明通过在一个DIO柔性输出激励板上通过电路加上软件控制实现电气信号柔性测试输出，根据测试需求软件可配置被测试点所需要的信号激励，无需改变接线，通过软件配置生成激励信号直接连接被测试点；
DIO切换可实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换，通过K13，K14，K15组合逻辑实现，现有技术中一块DIO柔性输出激励板可实现13路4种信号的柔性输出，而原来切换13路需要3块矩阵板及一个DI板和一块DO板，本发明通过改进，将由5块板件才能实现13路4种信号的柔性输出，优化到1块板件即可实现，有效节省了成本。
附图说明
图1是本发明中柔性切换模块中的电路连接图；
图2是现有技术中激励输出模式图。
实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述：
如图1所示，本发明提出了IED设备弱电测试用柔性测试方法，包括如下步骤：
S1：根据被测试信号类型选择软件系统，
根据外部测试环境，确定每个通道需要切换的信号类型；
S2：软件系统配置对应回路，
通过软件系统配置每个通道类型、开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端；
S3：通过CAN通讯模块下发配置指令，
通过CAN通讯模块下发每个通道属性，0-开关量输出信号、1-开关量输入信号、2-开关量输入信号公共端以及3-开关量输出公共端，然后，将组包通过CAN网总线下发到IED设备；
S4：数据接收模块分析数据，
IED设备接收到CAN网总线下发的数据，分析判断，若错误，则通过CAN通讯模块回复上位机，在正确分析后，得到需要控制的继电器序号对应的IED设备CPU控制模块控制IO模块的输出总线序号；
S5：控制对应IO模块，
通讯分析结果得到IED设备CPU控制模块控制IO模块的输出总线序号，控制对应的IO总线输出；
S6：输出低电平控制光耦动作，
IED设备IO模块输出总线输出低电平，控制对应光耦动作；
S7：驱动切换回路，
IED设备IO模块驱动对应光耦动作，接通需要切换的继电器线圈电压，继电器动作形成切换逻辑回路；
S8：输出测试激励，
IED设备驱动回路切换完成，各个通道形成预设的信号输出，开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端、开关量输出公共端四个信号的任何一个输出，完成此次测试激励。
本发明提出了IED设备弱电测试用柔性测试方法，首先，根据被测试信号类型、软件系统配置对应回路、通过CAN通讯模块下发配置指令、数据接收模块分析数据、控制对应IO模块、输出低电平控制光耦动作、驱动切换回路，最后输出测试激励，通过在一个DIO柔性输出激励板上通过电路加上软件控制实现电气信号柔性测试输出，根据测试需求软件可配置被测试点所需要的信号激励，无需改变接线，通过软件配置生成激励信号直接连接被测试点。
还包括DIO柔性输出激励板和控制终端，所述DIO柔性输出激励板上设置有CPU控制模块、电源管理模块、驱动模块、柔性切换模块，所述控制终端包括软件系统，所述控制系统连接CPU控制模块，所述电源管理模块、驱动模块以及柔性切换模块分别连接CPU控制模块。
通过设置DIO柔性输出激励板和控制终端，DIO柔性输出激励板上设置有CPU控制模块、电源管理模块、驱动模块、柔性切换模块，控制终端包括软件系统，通过软件系统实现了用电子电路和软件系统设计的一个回路对应一个物理端子位置按 需求提供所需要的测试信号激励，以此实现IED设备弱电测试用柔性测试。
所述柔性切换模块包括K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路，所述柔性切换模块通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，以实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换。
如图1所示：柔性切换模块包括K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路，其中，柔性切换模块通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，以实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换。
所述K13切换电路包括第一继电器线圈电源，所述第一继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD13和光耦GD13，所述电阻RD13一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD13的1脚，所述光耦GD13的2脚连接DO4-0，所述光耦GD13的4脚连接VCC.K，光耦GD13的3脚连接第一继电器线圈电源的正极，所述第一继电器线圈电源的负极上串联有二极管VK13，还包括二极管VF13，所述二极管VF13的正极分别连接第一继电器线圈电源的正极和光耦GD13的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD13的型号为TLP127，还包括第一继电器闭锁回路，所述第一继电器闭锁回路分别连接开关量输出公共端和开关量输出信号，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开接点为开关量输出公共端，二闭接点为开关量输出信号。
所述K14切换电路包括第二继电器线圈电源，所述第二继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD14和光耦GD14，所述电阻RD14一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD14的1脚，所述光耦GD14的2脚连接DO4-1，所述光耦GD14的4脚连接VCC.K，光耦GD14的3脚连接第二继电器线圈电源的正极，所述第二继电器线圈电源上串联有二极管VK14，还包括二极管VF14，所述二极管VF14的正极分别连接第二继电器线圈电源的正极和光耦GD14的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD14的型号为TLP127，还包括第二继电器闭锁回路，所述第二继电器闭锁回路分别连接开关量输入信号公共端和PIN4，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开接点为开关量输入信号公共端，二闭接点为PIN4。
所述开关量输出信号连接PIN4。
所述K15切换电路包括第三继电器线圈电源，所述第三继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD15和光耦GD15，所述电阻RD15一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD15的1脚，所述光耦GD15的2脚连接DO4-2，所述光耦GD15的4脚连接VCC.K，光耦GD15的3脚连接第三继电器线圈电源的正极，所述第三继电器线圈电源上串联有二极管VK15，还包括二极管VF15，所述二极管VF15的正极分别连接第三继电器线圈电源的正极和光耦GD15的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD15的型号为TLP127，还包括第三继电器闭锁回路，所述第三继电器闭锁回路分别连接PDO4和开关量输入信号，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开接点为PDO4，二闭接点为开关量输入信号。
所述PIN4分别连接PDO4和开关量输入信号。
K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路的电路连接如上所述，通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，CPU控制模块输出控制信号到DO4-0，通过三个端口的DO4-0、DO4-1、DO4-2，分别控制开关量输出信号与开关量输出公共端、开关量输入公共端、开关量输入信号，且通过第一继电器闭锁回路，确保任意时刻切换输出端只输出四种信号的一种，解决之前电路人为接线造成的输出信号错误的问题。
具体如下：
正常状态：K13、K14、K15不动作，DO4-2输出高电位，切换输出为：开关量输入信号；
其他输出：软件系统驱动DO4-2输出低电位，光耦GD15导通，K15动作，K15的接点3-4，5-6闭合，切换输出接至PDO4：
软件系统驱动DO4-1输出低电位，光耦GD14导通，K14动作，K14的接点3-4，5-6闭合，切换输出为：开关量输入信号公共；
软件系统驱动DO4-1输出高电位，K14保持不动作，切换输出经过PDO4，接至PIN4：
软件系统驱动DO4-0输出高电位，K13不动作，切换输出为：开关量输出信号；
软件系统驱动DO4-0输出低电位，光耦GD13导通，K13动作，K13的接点3-4，5-6闭合，切换输出为：开关量输出公共端信号。
在本实施例中：当IED设备驱动回路切换完成时，共有13个通道形成预设的信号输出。
本发明通过在一个DIO柔性输出激励板上通过电路加上软件控制实现电气信号柔性测试输出，根据测试需求软件可配置被测试点所需要的信号激励，无需改变接线，通过软件配置生成激励信号直接连接被测试点；
DIO切换可实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换，通过K13，K14，K15组合逻辑实现，现有技术中一块DIO柔性输出激励板可实现13路4种信号的柔性输出，而原来切换13路需要3块矩阵板及一个DI板和一块DO板，本发明通过改进，将由5块板件才能实现13路4种信号的柔性输出，优化到1块板件即可实现，有效节省了成本。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非是对本发明作任何其他形式的限制，而依据本发明的技术实质所作的任何修改或等同变化，仍属于本发明所要求保护的范围。

Claims (9)

1.IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
S1：根据被测试信号类型选择软件系统，
根据外部测试环境，确定每个通道需要切换的信号类型；
S2：软件系统配置对应回路，
通过软件系统配置每个通道类型、开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端；
S3：通过CAN通讯模块下发配置指令，
通过CAN通讯模块下发每个通道属性，0-开关量输出信号、1-开关量输入信号、2-开关量输入信号公共端以及3-开关量输出公共端，然后，将组包通过CAN网总线下发到IED设备；
S4：数据接收模块分析数据，
IED设备接收到CAN网总线下发的数据，分析判断，若错误，则通过CAN通讯模块回复上位机，在正确分析后，得到需要控制的继电器序号对应的IED设备CPU控制模块控制IO模块的输出总线序号；
S5：控制对应IO模块，
通讯分析结果得到IED设备CPU控制模块控制IO模块的输出总线序号，控制对应的IO总线输出；
S6：输出低电平控制光耦动作，
IED设备IO模块输出总线输出低电平，控制对应光耦动作；
S7：驱动切换回路，
IED设备IO模块驱动对应光耦动作，接通需要切换的继电器线圈电压，继电器动作形成切换逻辑回路；
S8：输出测试激励，
IED设备驱动回路切换完成，各个通道形成预设的信号输出，开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端、开关量输出公共端四个信号的任何一个输出，完成此次测试激励。
2.根据权利要求1所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：还包括DIO柔性输出激励板和控制终端，所述DIO柔性输出激励板上设置有CPU控制模块、电源管理模块、驱动模块、柔性切换模块，所述控制终端包括软件系统，所述控制终端连接CPU控制模块，所述电源管理模块、驱动模块以及柔性切换模块分别连接CPU控制模块。
3.根据权利要求2所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：所述柔性切换模块包括K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路，所述柔性切换模块通过K13切换电路、K14切换电路以及K15切换电路组合逻辑实现DIO柔性切换，以实现开关量输出信号、开关量输入信号、开关量输入信号公共端以及开关量输出公共端四种信号的任意切换。
4.根据权利要求3所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：所述K13切换电路包括第一继电器线圈电源，所述第一继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD13和光耦GD13，所述电阻RD13一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD13的1脚，所述光耦GD13的2脚连接DO4-0，所述光耦GD13的4脚连接VCC.K，光耦GD13的3脚连接第一继电器线圈电源的正极，所述第一继电器线圈电源的负极上串联有二极管VK13，还包括二极管VF13，所述二极管VF13的正极分别连接第一继电器线圈电源的正极和光耦GD13的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD13的型号为TLP127，还包括第一继电器闭锁回路，所述第一继电器闭锁回路分别连接开关量输出公共端和开关量输出信号，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开二闭接点的二开接点为开关量输出公共端，所述二开二闭接点的二闭接点为开关量输出信号。
5.根据权利要求3所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：所述K14切换电路包括第二继电器线圈电源，所述第二继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD14和光耦GD14，所述电阻RD14一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD14的1脚，所述光耦GD14的2脚连接DO4-1，所述光耦GD14的4脚连接VCC.K，光耦GD14的3脚连接第二继电器线圈电源的正极，所述第二继电器线圈电源上串联有二极管VK14，还包括二极管VF14，所述二极管VF14的正极分别连接第二继电器线圈电源的正极和光耦GD14的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD14的型号为TLP127，还包括第二继电器闭锁回路，所述第二继电器闭锁回路分别连接开关量输入信号公共端和PIN4，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，二开接点为开关量输入信号公共端，二闭接点为PIN4。
6.根据权利要求5所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：所述开关量输出信号连接PIN4。
7.根据权利要求3所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：所述K15切换电路包括第三继电器线圈电源，所述第三继电器线圈电源的负极一端接地，还包括电阻RD15和光耦GD15，所述电阻RD15一端连接VCC3.3，另一端连接在光耦GD15的1脚，所述光耦GD15的2脚连接DO4-2，所述光耦GD15的4脚连接VCC.K，光耦GD15的3脚连接第三继电器线圈电源的正极，所述第三继电器线圈电源上串联有二极管VK15，还包括二极管VF15，所述二极管VF15的正极分别连接第三继电器线圈电源的正极和光耦GD15的3脚，另一端连接DIFF-G1，所述光耦GD15的型号为TLP127，还包括第三继电器闭锁回路，所述第三继电器闭锁回路分别连接PDO4和开关量输入信号，且通过二开二闭接点相互闭锁确保任意时刻只有一种信号输出，所述二开二闭接点的二开接点为PDO4，二闭接点为开关量输入信号。
8.根据权利要求5所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：所述PIN4分别连接PDO4和开关量输入信号。
9.根据权利要求1所述的IED设备弱电测试用柔性测试方法，其特征在于：在步骤S8中：当IED设备驱动回路切换完成时，共有13个通道形成预设的信号输出。
CN202310922778.7A 2023-07-26 2023-07-26 Ied设备弱电测试用柔性测试方法 Active CN116643113B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310922778.7A CN116643113B (zh) 2023-07-26 2023-07-26 Ied设备弱电测试用柔性测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310922778.7A CN116643113B (zh) 2023-07-26 2023-07-26 Ied设备弱电测试用柔性测试方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116643113A CN116643113A (zh) 2023-08-25
CN116643113B true CN116643113B (zh) 2024-02-09

Family

ID=87615665

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310922778.7A Active CN116643113B (zh) 2023-07-26 2023-07-26 Ied设备弱电测试用柔性测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116643113B (zh)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4044244A (en) * 1976-08-06 1977-08-23 International Business Machines Corporation Automatic tester for complex semiconductor components including combinations of logic, memory and analog devices and processes of testing thereof
CN2674562Y (zh) * 2003-01-20 2005-01-26 北京安控科技发展有限公司 数字量输入、输出电路
CN1780247A (zh) * 2004-11-26 2006-05-31 浙江中科正方电子技术有限公司 汽车车身can总线控制系统
CN1801575A (zh) * 2005-11-16 2006-07-12 上海欣能自动化系统有限公司 智能测控系统
CN201313518Y (zh) * 2008-12-17 2009-09-23 北京太格时代自动化系统设备有限公司 电气化铁路数字化牵引变电站综合自动化系统
CN102427275A (zh) * 2011-10-19 2012-04-25 浙江大学 基于epa扁平化网络架构的高可靠变电站自动化系统及控制方法
CN102591244A (zh) * 2012-03-26 2012-07-18 中国科学院自动化研究所 总线式io采集与控制扩展装置
CN104184207A (zh) * 2013-05-27 2014-12-03 北京太格时代自动化系统设备有限公司 一种电气化铁路数字化牵引变电站的集成控制方法
CN104578428A (zh) * 2015-01-29 2015-04-29 国家电网公司 一种智能电子设备的在线监测装置和监测方法
CN204631216U (zh) * 2015-04-14 2015-09-09 中广核核电运营有限公司 通用过流及接地保护继电器的敏感元器件测试系统
CN105319453A (zh) * 2014-07-11 2016-02-10 国家电网公司 一种环保数据采集仪测试装置和系统
JP2017204944A (ja) * 2016-05-12 2017-11-16 株式会社デンソー 電源装置および電子制御装置
CN109839590A (zh) * 2019-03-08 2019-06-04 唐山百川智能机器股份有限公司 一种继电器检测设备及方法
CN114325149A (zh) * 2021-08-31 2022-04-12 航澄(无锡)智能科技有限公司 一种特种机器人电气故障诊断系统

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4044244A (en) * 1976-08-06 1977-08-23 International Business Machines Corporation Automatic tester for complex semiconductor components including combinations of logic, memory and analog devices and processes of testing thereof
CN2674562Y (zh) * 2003-01-20 2005-01-26 北京安控科技发展有限公司 数字量输入、输出电路
CN1780247A (zh) * 2004-11-26 2006-05-31 浙江中科正方电子技术有限公司 汽车车身can总线控制系统
CN1801575A (zh) * 2005-11-16 2006-07-12 上海欣能自动化系统有限公司 智能测控系统
CN201313518Y (zh) * 2008-12-17 2009-09-23 北京太格时代自动化系统设备有限公司 电气化铁路数字化牵引变电站综合自动化系统
CN102427275A (zh) * 2011-10-19 2012-04-25 浙江大学 基于epa扁平化网络架构的高可靠变电站自动化系统及控制方法
CN102591244A (zh) * 2012-03-26 2012-07-18 中国科学院自动化研究所 总线式io采集与控制扩展装置
CN104184207A (zh) * 2013-05-27 2014-12-03 北京太格时代自动化系统设备有限公司 一种电气化铁路数字化牵引变电站的集成控制方法
CN105319453A (zh) * 2014-07-11 2016-02-10 国家电网公司 一种环保数据采集仪测试装置和系统
CN104578428A (zh) * 2015-01-29 2015-04-29 国家电网公司 一种智能电子设备的在线监测装置和监测方法
CN204631216U (zh) * 2015-04-14 2015-09-09 中广核核电运营有限公司 通用过流及接地保护继电器的敏感元器件测试系统
JP2017204944A (ja) * 2016-05-12 2017-11-16 株式会社デンソー 電源装置および電子制御装置
CN109839590A (zh) * 2019-03-08 2019-06-04 唐山百川智能机器股份有限公司 一种继电器检测设备及方法
CN114325149A (zh) * 2021-08-31 2022-04-12 航澄(无锡)智能科技有限公司 一种特种机器人电气故障诊断系统

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Process Interface Units(PIU) and its advantages for Full Digital Substations;Adriano Oliveira Pires 等;《2022 Saudi Arabia Smart grid》;1-7 *
智能变电站合智一体装置的抗电磁干扰分析及设计;徐丽青 等;《高压电器》;第50卷(第11期);第57-62页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116643113A (zh) 2023-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6016563A (en) Method and apparatus for testing a logic design of a programmable logic device
CN102621483B (zh) 多链路并行边界扫描测试装置及方法
CN105510763A (zh) 集成电路管脚测试装置
KR20070100835A (ko) 프로브 카드상의 신호를 라우팅하기 위한 프로그래머블장치
CN101278204B (zh) 管脚电路驱动器
CN110161346A (zh) 一种航电测试系统
CN116643113B (zh) Ied设备弱电测试用柔性测试方法
US7219278B2 (en) Configurator arrangement and approach therefor
CN105954623B (zh) 一种通用频率源类插件的调测系统及其测试方法
US11874323B2 (en) JTAG-based burning device
CN108196533A (zh) 一种通道可复用且集成故障注入功能的智能接线装置
US20050278163A1 (en) System and method for resolving artifacts in differential signals
CN207992805U (zh) 一种通道可复用且集成故障注入功能的智能接线装置
CN115980616A (zh) 一种模块电源自动测试装置
CN101311740A (zh) 电子组件测试系统
CN115469208A (zh) 一种芯片扫描测试电路及芯片
CN111122994A (zh) 一种模拟断路器人机交互测试装置
CN114720850A (zh) 电源芯片的ft测试系统
CN114295962A (zh) 一种电源芯片测试系统
CN110058142B (zh) 一种1553b总线接口电路自动化熔丝烧调板及烧调方法
CN216771895U (zh) 一种电源管理系统
CN219041806U (zh) 一种协议转换装置
CN220120938U (zh) 集成测试板卡及测试系统
CN220305456U (zh) 一种控制模块和测试电路
CN218524823U (zh) 电源芯片的ft测试系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant