CN116594820A - 串行接口测试方法、装置、设备及介质 - Google Patents

串行接口测试方法、装置、设备及介质 Download PDF

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CN116594820A CN202310544632.3A CN202310544632A CN116594820A CN 116594820 A CN116594820 A CN 116594820A CN 202310544632 A CN202310544632 A CN 202310544632A CN 116594820 A CN116594820 A CN 116594820A
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Abstract

本申请公开了一种串行接口测试方法、装置、设备及介质，涉及数字电路设计技术领域，该方法包括：接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。通过上述方案，能够实现更全面的串行接口测试以得到更准确的测试结果。

Description

串行接口测试方法、装置、设备及介质
技术领域
本发明涉及数字电路设计技术领域，特别涉及串行接口测试方法、装置、设备及介质。
背景技术
串行接口简称串口，也称串行通信接口或串行通讯接口，是采用串行通信方式的扩展接口。串行接口是指数据一位一位地顺序传送，一条信息的各位数据被逐位按顺序传送的通讯方式称为串行通讯，从而大大降低了成本，特别适用于远距离通信，但传送速度较慢，最基本的串行接口传输方式如图1所示的一种具体的通信示意图，一对传输线就可以实现双向通信。
串行接口是芯片中通用的通信接口，在芯片测试中需要对串行接口的功能和性能进行测试，确保芯片中串行接口的功能正确性以及健壮性。相关技术在进行串行接口测试验证时，通常使用测试主机连接芯片串行接口进行测试，一般串口模块的测试方法只覆盖简单测试项，一般为如下几项：测试主机与待测设备均设置相同波特率，进行数据收发正确性测试；测试主机与待测设备均启用串行接口流量控制功能，增加串口流控功能正确性测试；改变波特率配置，进行多种波特率的数据收发正确性测试。但是，这种只针对简单情境下的测试方法，无法更全面的测试串行接口，进而得到的测试结果也无法准确反映串行接口的功能正确性以及健壮性。
综上可见，如何实现更全面的串行接口测试以得到更准确的测试结果是本领域有待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种串行接口测试方法、装置、设备及介质，能够实现更全面的串行接口测试以得到更准确的测试结果。其具体方案如下：
第一方面，本申请公开了一种串行接口测试方法，包括：
接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；
根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；
将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
可选的，所述接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，包括：
接收测试主机发送的第一测试数据以及包括测试启停信息、测试波特率范围和测试信号特征的测试控制信息。
可选的，所述根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，包括：
根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息中的所述测试波特率范围生成符合串行接口标准的串行接口信号。
可选的，所述利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，包括：
利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到符合所述测试信号特征的实际测试信号。
可选的，所述生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号，包括：
利用随机数发生器生成随机数；
基于所述随机数生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号。
可选的，所述根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，包括：
根据所述时刻变化指示信号和所述测试控制信息对所述第一测试数据进行串行接口标准信号的输出，以生成变化时刻随机的串行接口信号；
利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行脉冲宽度的调整，以得到实际测试信号。
可选的，所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果，包括：
所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并对所述第一测试数据和第二测试数据进行比较，生成相应的比较结果，然后根据所述比较结果确定所述串行接口的测试结果。
第二方面，本申请公开了一种串行接口测试装置，包括：
信号生成模块，用于接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；
测试信号获取模块，用于根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；
测试结果确定模块，用于将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
第三方面，本申请公开了一种电子设备，包括：
存储器，用于保存计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序，以实现前述公开的串行接口测试方法的步骤。
第四方面，本申请公开了一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序；其中，所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的串行接口测试方法的步骤。
本申请有益效果为：接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。一方面，测试主机和待测设备的串行接口之间需要根据波特率来计算数据线上不同宽度的高低电平来确定发送信息比特，因此数据线上的脉冲宽度抖动会影响接收方的判定准确度，进而影响串行接口传输的正确性，另一方面，当串行接口引入流控功能后，相关的流控信号变化时刻可能会影响串行接口行为和功能，需要针对流控信号变化时刻进行验证测试，为此，本申请需要根据时刻变化指示信号生成串行接口信号，也就是说，可以得到变化时刻随机的串行接口信号；利用宽度变化偏移信号对串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，如此一来，就可以得到脉冲宽度会在一定范围内随机变化的实际测试信号；因此本申请在测试串行接口时，充分考虑了脉冲宽度、变化时刻两方面，提高串行接口测试的情景覆盖率，以便可以得到更加可以充分、准确反映串行接口相关性能的测试结果。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请公开的一种具体的通信示意图；
图2为本申请公开的一种串行接口测试方法流程图；
图3为本申请公开的一种具体的串行接口测试框架示意图；
图4为本申请公开的一种具体的变化时刻指示信号的工作示意图；
图5为本申请公开的一种具体的变化宽度偏移信号的工作示意图；
图6为本申请公开的一种具体的比特数据顺序示意图；
图7为本申请公开的具体的串行接口测试方法流程图；
图8为本申请公开的一种具体的测试控制模块结构示意图；
图9为本申请公开的一种串行接口测试装置结构示意图；
图10为本申请公开的一种电子设备结构图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
串行接口是芯片中通用的通信接口，在芯片测试中需要对串行接口的功能和性能进行测试，确保芯片中串行接口的功能正确性以及健壮性。相关技术在进行串行接口测试验证时，通常使用测试主机连接芯片串行接口进行测试，一般串口模块的测试方法只覆盖简单测试项，一般为如下几项：测试主机与待测设备均设置相同波特率，进行数据收发正确性测试；测试主机与待测设备均启用串行接口流量控制功能，增加串口流控功能正确性测试；改变波特率配置，进行多种波特率的数据收发正确性测试。但是，这种只针对简单情境下的测试方法，无法更全面的测试串行接口，进而得到的测试结果也无法准确反映串行接口的功能正确性以及健壮性。
为此本申请相应的提供了一种串行接口测试方案，能够实现更全面的串行接口测试以得到更准确的测试结果。
参见图2所示，本申请实施例公开了一种串行接口测试方法，包括：
步骤S11：接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号。
本实施例中，所述接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，包括：接收测试主机发送的第一测试数据以及包括测试启停信息、测试波特率范围和测试信号特征的测试控制信息。可以理解的是，测试控制信息中的测试波特率范围和测试信号特征用于对第一测试数据进行预处理，测试启停信息用于控制串行接口测试的启动和停止。
如图3所示的一种具体的串行接口测试框架示意图，框架包括测试主机、测试控制模块和待测设备，其中待测设备可以包括芯片板卡或芯片装置，芯片中包含串行接口，测试控制模块接收测试主机发送的第一测试数据，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号，以便后续对第一测试数据进行预处理。
步骤S12：根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号。
本实施例中，所述根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，包括：根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息中的所述测试波特率范围生成符合串行接口标准的串行接口信号。例如图4所示的一种具体的变化时刻指示信号的工作示意图，TXD(Transmit Data，即发送数据)代表原始信号变化时刻，TXD-test表示经过时刻变化指示信号调整后的信号变化时刻。
本实施例中，所述利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，包括：利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到符合所述测试信号特征的实际测试信号。例如图5所示的一种具体的变化宽度偏移信号的工作示意图，TXD代表原始信号高脉冲宽度，TXD-test表示经过宽度变化偏移信号调整后的信号高脉冲宽度。
步骤S13：将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
本实施例中，所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果，包括：所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并对所述第一测试数据和第二测试数据进行比较，生成相应的比较结果，然后根据所述比较结果确定所述串行接口的测试结果。例如图3所示，当测试控制模块对第一测试数据进行预处理后，将得到的实际测试信号发送至待测设备的串行接口，然后串行接口接收实际测试信号并转换后，将串行接口认为接收到的信息数据，即基于实际测试信号确定第二测试数据，并将其反馈至测试主机，测试主机将发送的第一测试数据和接收到的第二测试数据进行比较，得到比较结果。
需要注意的是，因为实际测试信号在信号变化时刻与信号宽度方面均有变化，例如当信号宽度变化较大时，待测串行接口可能产生错误判决而输出错误的信息数据，如图6所示的一种具体的比特数据顺序示意图，发送信号TXD在发出起始位后实际输出的比特数据顺序为01010……，经过串口测试信号处理模块进行脉冲宽度变化后，待测串行接口接收到的RXD(Receive Data，即接收数据)信号明显得到了脉冲宽度与原始信号不同的波形，因而可能认为接收比特数据为01110……，可以发现第三个比特因为信号高脉冲变宽，导致比特判决出现错误，测试主机端即可确定在这种条件下待测设备的串行接口模块无法正常工作。
本申请有益效果为：接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。一方面，测试主机和待测设备的串行接口之间需要根据波特率来计算数据线上不同宽度的高低电平来确定发送信息比特，因此数据线上的脉冲宽度抖动会影响接收方的判定准确度，进而影响串行接口传输的正确性，另一方面，当串行接口引入流控功能后，相关的流控信号变化时刻可能会影响串行接口行为和功能，需要针对流控信号变化时刻进行验证测试，为此，本申请需要根据时刻变化指示信号生成串行接口信号，也就是说，可以得到变化时刻随机的串行接口信号；利用宽度变化偏移信号对串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，如此一来，就可以得到脉冲宽度会在一定范围内随机变化的实际测试信号；因此本申请在测试串行接口时，充分考虑了脉冲宽度、变化时刻两方面，提高串行接口测试的情景覆盖率，以便可以得到更加可以充分、准确反映串行接口相关性能的测试结果。
参见图7所示，本申请实施例公开了一种具体的串行接口测试方法，包括：
步骤S21：接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息。
例如图8所示的一种具体的测试控制模块结构示意图，控制接口用于接收测试主机的测试数据与测试控制信息，测试信息可包括测试启停、测试波特率范围、测试信号特征选择等；数据缓存模块用于将测试主机传输的测试数据缓存起来。
步骤S22：利用随机数发生器生成随机数；基于所述随机数生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号。
随机数发生器用于生产随机数，以供变化时刻指示模块以及变化宽度生成模块使用；变化时刻指示模块利用随机数生成变化时刻指示信号，串口测试信号生成模块基于此变化时刻指示信号进行标准信号的输出，得到变化时刻随机的串行接口信号；变化宽度生成模块用随机数生成宽度变化偏移信号，串口测试信号处理模块基于宽度变化偏移信号对标准的串行接口信号进行宽度的调整，以生成宽度不标准且在一定范围内随机变化的实际测试信号。
步骤S23：根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号。
本实施例中，所述根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，包括：根据所述时刻变化指示信号和所述测试控制信息对所述第一测试数据进行串行接口标准信号的输出，以生成变化时刻随机的串行接口信号；利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行脉冲宽度的调整，以得到实际测试信号。如图8所示，测试信号生成模块用于根据波特率和待测试数据生成标准的串行接口信号，包括TXD/RXD以及流控信号RTS(Request To Send，即请求发送)/CTS(Clear ToSend，即/允许发送)等；串口测试信号处理模块用于进一步将标准的串行接口信号处理为符合测试信号特征的实际测试信号。
通过串口测试信号处理模块输出的实际测试信号与第一测试数据相比，在变化时刻与高低脉冲宽度方面均有变化，且变化可在指定范围内随机，例如可指定高低脉冲宽度在幅度内随机变化。本实施例可通过在一定范围内改变串行接口信号变化时刻与脉冲宽度，通过变化范围的调整，来获取待测串行接口模块的健壮性，或者说待测串行接口模块的容错率，例如当脉冲宽度变化/>时待测串行接口模块是否仍可正常工作，如果可以正常工作则继续将脉冲宽度变化范围扩大(如/>)，如果此时待测串行接口模块误码率提高导致被判断为无法正常工作，则可得到待测串行接口模块可忍耐脉冲宽度非标准变化的边界。
步骤S24：将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
可以理解的是，为达到一定的变化控制精度，上述模块需要使用FPGA(FieldProgrammable Gate Array，即现场可编程逻辑门阵列)来实现。若测试变化精度要求降低，可考虑使用MCU(Micro Control Unit，即微控制单元)控制器来实现。
由此可见，本申请可生成待测信号变化时刻随机改变且灵活控制变化范围的待测数据信号，对待测串行接口模块在不同时刻接收到数据、流控信号时的行为进行测试；可生成待测信号高低脉冲宽度随机改变且灵活控制变化范围的待测数据信号，对待测串行接口模块在信号脉冲宽度不标准情况下的行为进行测试；可控制待测信号的变化范围，进而对待测串行接口模块可正常工作的条件范围以及不可正常工作的条件范围进行扫描，便于得到待测串行接口模块的工作边界条件，指导芯片在应用时对硬件布线延迟、抖动干扰等因素进行考量。
参见图9所示，本申请实施例公开了一种串行接口测试装置，包括：
信号生成模块11，用于接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；
测试信号获取模块12，用于根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；
测试结果确定模块13，用于将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
本申请有益效果为：接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。一方面，测试主机和待测设备的串行接口之间需要根据波特率来计算数据线上不同宽度的高低电平来确定发送信息比特，因此数据线上的脉冲宽度抖动会影响接收方的判定准确度，进而影响串行接口传输的正确性，另一方面，当串行接口引入流控功能后，相关的流控信号变化时刻可能会影响串行接口行为和功能，需要针对流控信号变化时刻进行验证测试，为此，本申请需要根据时刻变化指示信号生成串行接口信号，也就是说，可以得到变化时刻随机的串行接口信号；利用宽度变化偏移信号对串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，如此一来，就可以得到脉冲宽度会在一定范围内随机变化的实际测试信号；因此本申请在测试串行接口时，充分考虑了脉冲宽度、变化时刻两方面，提高串行接口测试的情景覆盖率，以便可以得到更加可以充分、准确反映串行接口相关性能的测试结果。
在一些具体实施例中，所述信号生成模块11，包括：
信息接收单元，用于接收测试主机发送的第一测试数据以及包括测试启停信息、测试波特率范围和测试信号特征的测试控制信息。
在一些具体实施例中，所述测试信号获取模块12，包括：
第一串行接口信号生成单元，用于根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息中的所述测试波特率范围生成符合串行接口标准的串行接口信号。
在一些具体实施例中，所述测试信号获取模块12，包括：
第一实际测试信号获取单元，用于利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到符合所述测试信号特征的实际测试信号。
在一些具体实施例中，所述信号生成模块11，包括：
变化信号生成单元，用于利用随机数发生器生成随机数；基于所述随机数生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号。
在一些具体实施例中，所述测试信号获取模块12，包括：
第二串行接口信号生成单元，用于根据所述时刻变化指示信号和所述测试控制信息对所述第一测试数据进行串行接口标准信号的输出，以生成变化时刻随机的串行接口信号；
第二实际测试信号获取单元，用于利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行脉冲宽度的调整，以得到实际测试信号。
在一些具体实施例中，所述测试结果确定模块13，包括：
结果确定单元，用于所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并对所述第一测试数据和第二测试数据进行比较，生成相应的比较结果，然后根据所述比较结果确定所述串行接口的测试结果。
进一步的，本申请实施例还提供了一种电子设备。图10是根据一示例性实施例示出的电子设备20结构图，图中的内容不能认为是对本申请的使用范围的任何限制。
图10为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。具体可以包括：至少一个处理器21、至少一个存储器22、电源23、通信接口24、输入输出接口25和通信总线26。其中，所述存储器22用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器21加载并执行，以实现以下步骤：
接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；
根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；
将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
在一些具体实施方式中，所述处理器通过执行所述存储器中保存的计算机程序，具体可以实现以下步骤：
接收测试主机发送的第一测试数据以及包括测试启停信息、测试波特率范围和测试信号特征的测试控制信息。
在一些具体实施方式中，所述处理器通过执行所述存储器中保存的计算机程序，具体可以实现以下步骤：
根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息中的所述测试波特率范围生成符合串行接口标准的串行接口信号。
在一些具体实施方式中，所述处理器通过执行所述存储器中保存的计算机程序，具体可以实现以下步骤：
利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到符合所述测试信号特征的实际测试信号。
在一些具体实施方式中，所述处理器通过执行所述存储器中保存的计算机程序，具体可以实现以下步骤：
利用随机数发生器生成随机数；
基于所述随机数生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号。
在一些具体实施方式中，所述处理器通过执行所述存储器中保存的计算机程序，具体可以实现以下步骤：
根据所述时刻变化指示信号和所述测试控制信息对所述第一测试数据进行串行接口标准信号的输出，以生成变化时刻随机的串行接口信号；
利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行脉冲宽度的调整，以得到实际测试信号。
在一些具体实施方式中，所述处理器通过执行所述存储器中保存的计算机程序，还可以进一步包括以下步骤：
所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并对所述第一测试数据和第二测试数据进行比较，生成相应的比较结果，然后根据所述比较结果确定所述串行接口的测试结果。
本实施例中，电源23用于为电子设备上的各硬件设备提供工作电压；通信接口24能够为电子设备创建与外界设备之间的数据传输通道，其所遵循的通信协议是能够适用于本申请技术方案的任意通信协议，在此不对其进行具体限定；输入输出接口25，用于获取外界输入数据或向外界输出数据，其具体的接口类型可以根据具体应用需要进行选取，在此不进行具体限定。
其中，处理器21可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器21可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器21也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器21可以在集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器21还可以包括AI(Artificial Intelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
另外，存储器22作为资源存储的载体，可以是只读存储器、随机存储器、磁盘或者光盘等，其上所存储的资源包括操作系统221、计算机程序222及数据223等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。
其中，操作系统221用于管理与控制电子设备上的各硬件设备以及计算机程序222，以实现处理器21对存储器22中海量数据223的运算与处理，其可以是Windows、Unix、Linux等。计算机程序222除了包括能够用于完成前述任一实施例公开的由电子设备执行的串行接口测试方法的计算机程序之外，还可以进一步包括能够用于完成其他特定工作的计算机程序。数据223除了可以包括电子设备接收到的由外部设备传输进来的数据，也可以包括由自身输入输出接口25采集到的数据等。
进一步的，本申请实施例还公开了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时，实现前述任一实施例公开的由串行接口测试过程中执行的方法步骤。
最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种串行接口测试方法、装置、设备及介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种串行接口测试方法，其特征在于，包括：
接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；
根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；
将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
2.根据权利要求1所述的串行接口测试方法，其特征在于，所述接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，包括：
接收测试主机发送的第一测试数据以及包括测试启停信息、测试波特率范围和测试信号特征的测试控制信息。
3.根据权利要求2所述的串行接口测试方法，其特征在于，所述根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，包括：
根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息中的所述测试波特率范围生成符合串行接口标准的串行接口信号。
4.根据权利要求2所述的串行接口测试方法，其特征在于，所述利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，包括：
利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到符合所述测试信号特征的实际测试信号。
5.根据权利要求1至4任一项所述的串行接口测试方法，其特征在于，所述生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号，包括：
利用随机数发生器生成随机数；
基于所述随机数生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号。
6.根据权利要求1所述的串行接口测试方法，其特征在于，所述根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号，包括：
根据所述时刻变化指示信号和所述测试控制信息对所述第一测试数据进行串行接口标准信号的输出，以生成变化时刻随机的串行接口信号；
利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行脉冲宽度的调整，以得到实际测试信号。
7.根据权利要求1所述的串行接口测试方法，其特征在于，所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果，包括：
所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并对所述第一测试数据和第二测试数据进行比较，生成相应的比较结果，然后根据所述比较结果确定所述串行接口的测试结果。
8.一种串行接口测试装置，其特征在于，包括：
信号生成模块，用于接收测试主机发送的第一测试数据和测试控制信息，并生成时刻变化指示信号和宽度变化偏移信号；
测试信号获取模块，用于根据所述时刻变化指示信号、所述第一测试数据以及所述测试控制信息生成串行接口信号，并利用所述宽度变化偏移信号对所述串行接口信号进行调整，以得到实际测试信号；
测试结果确定模块，用于将所述实际测试信号发送至待测设备的串行接口，以便所述测试主机接收所述串行接口基于所述实际测试信号反馈的第二测试数据，并利用所述第一测试数据和所述第二测试数据确定所述串行接口的测试结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
存储器，用于保存计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1至7任一项所述的串行接口测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机程序；其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的串行接口测试方法的步骤。
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