CN116580663A - 显示装置和补偿显示装置的劣化的方法 - Google Patents

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Abstract

本公开提供一种显示装置和一种补偿显示装置的劣化的方法，所述显示装置包括：显示面板，所述显示面板显示图像，其中，多个区域限定在所述显示面板中，多个像素定位在所述多个区域中的每一者中；以及控制器，所述控制器基于图像信号生成图像数据并且补偿所述显示面板的劣化。所述控制器包括：应力信息生成器，所述应力信息生成器生成所述显示面板的与所述劣化相对应的应力信息；以及劣化补偿器，所述劣化补偿器基于所述多个区域中的每一者的所述应力信息改变选自所述多个区域中的相应一者的空间分辨率和位深度中的至少一者。

Description

显示装置和补偿显示装置的劣化的方法
本申请要求于2022年2月8日提交的第10-2022-0016375号韩国专利申请的优先权以及从其获取的所有权益，该韩国专利申请的内容通过引用全部包含于此。
技术领域
本文中所描述的本公开的实施例涉及一种显示装置和一种补偿显示装置的劣化的方法，并且更具体地，涉及一种用于在减小存储器的尺寸的同时补偿劣化的显示装置以及一种补偿显示装置的劣化的方法。
背景技术
显示装置通常包括显示面板和显示面板驱动器。显示面板可以包括多条栅极线、多条数据线以及多个像素。显示面板驱动器可以包括用于将栅极信号提供到多条栅极线的栅极驱动器、用于将数据电压提供到数据线的数据驱动器、以及用于控制栅极驱动器和数据驱动器中的每一者的驱动时序的时序控制器。
这样的显示装置例如可以是使用有机发光二极管的有机发光显示装置或使用液晶分子的液晶显示装置。
发明内容
在有机发光显示装置中，由于像素或像素中包含的有机发光二极管的劣化，可能引起像素之间的亮度偏差和残像。因此，可能需要对输入的图像数据进行补偿以提高显示质量。然而，需要在减小存储器尺寸的同时改善有机发光显示装置的图像质量，以减小有机发光显示装置的制造成本。
在本公开的实施例中，通过接收与显示面板的劣化水平相对应的应力信息并且基于所述应力信息改变从显示面板的多个区域中的每一者的空间分辨率和位深度中选择的至少一者来补偿显示面板的劣化。
在本公开的实施例中，减小了用于精确补偿显示面板的劣化的存储器尺寸。
根据实施例，一种显示装置包括：显示面板，所述显示面板显示图像，其中，多个区域限定在所述显示面板中，多个像素定位在所述多个区域中的每一者中；以及控制器，所述控制器基于图像信号生成图像数据并且补偿所述显示面板的劣化。在这样的实施例中，所述控制器包括：应力信息生成器，所述应力信息生成器生成所述显示面板的与所述劣化相对应的应力信息；以及劣化补偿器，所述劣化补偿器基于所述多个区域中的每一者的所述应力信息改变选自所述多个区域中的相应一者的空间分辨率和位深度中的至少一者。
在实施例中，所述显示装置还可以包括：存储器，所述存储器连接到所述控制器，其中，所述存储器存储所述应力信息。在这样的实施例中，多个块可以限定在所述多个区域中的每一者中，所述多个块中的每一者包括多个所述像素。在这样的实施例中，所述应力信息可以以所述块为单位进行存储。
在这样的实施例中，可以基于所述多个区域中的每一者中包括的多个块中的每一者中包括的多个所述像素的数量确定所述空间分辨率。在这样的实施例中，在所述多个块中的每一者中包括的多个所述像素的所述数量可以与所述多个块中的相应一者的块尺寸成比例。在这样的实施例中，所述劣化补偿器可以将所述多个区域中的每一者中的所述块尺寸变为与所述多个区域中的相应一者的应力水平成反比。
在实施例中，所述劣化补偿器可以将所述多个区域中的相应一者的所述位深度变为与所述多个区域中的每一者中的所述显示面板的应力水平成比例。
在实施例中，所述劣化补偿器可以包括：接收器，所述接收器从所述应力信息生成器从所述应力信息生成器接收包括关于所述显示面板的应力水平和劣化区域尺寸的信息的所述应力信息；确定器，所述确定器确定所述应力水平和所述劣化区域尺寸；以及处理器，所述处理器基于确定的所述应力水平和确定的所述劣化区域尺寸改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的至少一者。
在实施例中，当所述多个区域的劣化区域尺寸小于第一基准区域尺寸并且所述应力水平小于第一基准水平时，所述确定器可以将劣化阶段确定为第一阶段。在这样的实施例中，当所述劣化区域尺寸不小于所述第一基准区域尺寸且小于第二基准区域尺寸，并且所述应力水平不小于所述第一基准水平且小于第二基准水平时，所述确定器可以将所述劣化阶段确定为第二阶段。在这样的实施例中，当所述劣化区域尺寸不小于所述第二基准区域尺寸并且所述应力水平不小于所述第二基准水平时，所述确定器可以将所述劣化阶段确定为第三阶段。在这样的实施例中，所述确定器可以依据所述劣化阶段选择性地改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者。在这样的实施例中，所述第二基准区域尺寸可以大于所述第一基准区域尺寸，并且所述第二基准水平可以大于所述第一基准水平。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第一阶段时，所述处理器可以改变所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率并且固定所述位深度。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第二阶段时，所述处理器可以改变所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率和所述位深度。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第二阶段时，所述多个区域中的每一者的改变后的所述空间分辨率和改变后的所述位深度可以彼此成比例。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第三阶段时，所述处理器可以固定所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率并且可以改变所述位深度。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第三阶段时，所述处理器可以将所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率固定为最大值，并且可以减小所述位深度。
在实施例中，所述显示装置还可以包括连接到所述控制器的存储器，其中，所述存储器可以存储所述应力信息。在这样的实施例中，所述存储器的尺寸可以是恒定的，而不管所述劣化区域尺寸和所述应力水平如何。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第一阶段时的所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率的平均值小于当所述劣化阶段是所述第二阶段时的所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率的平均值。在这样的实施例中，当所述劣化阶段是所述第二阶段时的所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率的所述平均值小于当所述劣化阶段是所述第三阶段时的所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率的平均值。
在实施例中，当所述劣化阶段是所述第一阶段时的所述多个区域中的每一者的所述位深度的平均值大于当所述劣化阶段是所述第二阶段时的所述多个区域中的每一者的所述位深度的平均值。在这样的实施例中，当所述劣化阶段是所述第二阶段时的所述多个区域中的每一者的所述位深度的所述平均值大于当所述劣化阶段是所述第三阶段时的所述多个区域中的每一者的所述位深度的平均值。
在实施例中，当所述劣化阶段从所述第一阶段改变为所述第二阶段时，所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率的平均值可以增加，并且所述多个区域中的每一者的所述位深度的平均值可以降低。
根据实施例，一种补偿显示装置的劣化的方法包括：通过应力信息生成器生成与显示面板的所述劣化对应的应力信息；以及通过劣化补偿器基于在所述显示面板中限定的多个区域中的每一者的所述应力信息，改变选自所述多个区域中的相应一者的空间分辨率和位深度中的至少一者。
在实施例中，所述通过劣化补偿器改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者可以包括：接收所述显示面板的劣化区域尺寸和所述应力信息；基于接收到的所述劣化区域尺寸和接收到的所述应力信息确定所述劣化的阶段；以及依据所述劣化的所述阶段改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者。
在实施例中，所述确定所述劣化的所述阶段可以包括：当所述多个区域的所述劣化区域尺寸小于第一基准区域尺寸并且应力水平小于所述第一基准水平时，确定所述劣化的所述阶段是第一阶段；当所述劣化区域尺寸不小于所述第一基准区域尺寸且小于第二基准区域尺寸，并且所述应力水平不小于所述第一基准水平且小于第二基准水平时，确定所述劣化的所述阶段是第二阶段；以及当所述劣化区域尺寸不小于所述第二基准区域尺寸并且所述应力水平不小于所述第二基准水平时，确定所述劣化的所述阶段是第三阶段。在这样的实施例中，所述第二基准区域尺寸可以大于所述第一基准区域尺寸，并且所述第二基准水平可以大于所述第一基准水平。
在实施例中，所述依据所述劣化的所述阶段改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者可以包括：当所述劣化的所述阶段是所述第一阶段时，改变所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率并且固定所述位深度；当所述劣化的所述阶段是所述第二阶段时，改变所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率和所述位深度；以及当所述劣化的所述阶段是所述第三阶段时，固定所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率并且改变所述位深度。
在实施例中，可以基于在所述多个区域中的每一者中包括的多个块中的每一者中包括的多个像素的数量确定所述空间分辨率。在这样的实施例中，所述多个像素的所述数量可以与所述多个块中的相应一者的块尺寸成比例。在这样的实施例中，所述通过劣化补偿器改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者可以包括：将所述块尺寸变为与所述多个区域中的相应一者中的所述显示面板的应力水平成反比；以及将所述位深度变为与所述多个区域中的相应一者中的所述显示面板的所述应力水平成比例。
附图说明
通过参照附图详细描述本公开的实施例，本公开的以上和其它特征将变得显而易见。
图1是根据本公开的实施例的显示装置的框图。
图2是根据本公开的实施例的多个像素之中的一个像素的等效电路图。
图3是根据本公开的实施例的显示面板的平面图。
图4是根据本公开的实施例的控制器的框图。
图5A和图5B是示出根据本公开的实施例的补偿显示装置的劣化的方法的流程图。
图6A至图6C是示出根据本公开的实施例的在第一阶段改变的块尺寸和位深度的图。
图7A至图7C是示出根据本公开的实施例的在第二阶段改变的块尺寸和位深度的图。
图8A至图8C是示出根据本公开的实施例的在第三阶段改变的块尺寸和位深度的图。
具体实施方式
现在将参照附图在下文中更充分地描述本发明，在附图中示出了各种实施例。然而，本发明可以以许多不同的形式实现，并且不应被解释为限于本文中所阐述的实施例。而是，提供这些实施例，使得本公开将是透彻的和完整的，并且将向本领域技术人员充分地传达本发明的范围。
在本说明书中，第一组件(或区、层、部件、部分等)“在”第二组件(或第二区、第二层、第二部件、第二部分等)“上”、“与”第二组件“连接”或“与”第二组件“耦接”的表述表示第一组件直接在第二组件上、直接与第二组件连接或直接与第二组件耦接，或者表示第三组件介于第一组件与第二组件之间。
相同的附图标记指代相同的组件。另外，在附图中，为了有效地描述技术内容，夸大了组件的厚度、比例和尺寸。
尽管可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种组件，但是这些组件不应被解释为受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个组件与另一组件区分开。例如，在不脱离本公开的范围和精神的情况下，第一组件可以被称为第二组件，并且类似地，第二组件可以被称为第一组件。
为了易于描述，在本文中可以使用诸如“在……之下”、“在……下方”、“下”、“在……上方”和“上”等的空间相对术语来描述如附图中所示的一个元件或特征与另一元件(多个元件)或另一特征(多个特征)的关系。将理解的是，除了附图中所描绘的方位之外，空间相对术语还旨在涵盖装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的装置被翻转，则被描述为“在”其它元件或特征“下方”或“之下”的元件随后将定向“在”其它元件或特征“上方”。因此，术语“在……下方”可以涵盖上方和下方两种方位。装置可以以其它方式定向(例如，旋转90度或在其它方位处)，并且相应地解释本文中使用的空间相对描述语。
本文中使用的术语仅用于描述特定实施例的目的，并且不旨在进行限制。如本文中所使用的，“一”、“一个(种/者)”、“所述(该)”和“至少一个(种/者)”不表示对数量的限制，并且旨在包括单数形式和复数形式两者，除非上下文另外明确指出。例如。“元件”与“至少一个元件”具有相同的含义，除非上下文另外明确指出。“至少一个(种/者)”不应被解释为限于“一”或“一个(种/者)”。“或”表示“和/或”。如本文中所使用的，术语“和/或”包括一个或多个相关所列项的任意组合和所有组合。将进一步理解的是，当在本说明书中使用时，术语“包括”和/或“包含”或者“含有”和/或“具有”说明存在所陈述的特征、区、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或附加一个或多个其它特征、区、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。
除非另有定义，否则本说明书中使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开所属领域的技术人员所通常理解的相同的含义。此外，术语(诸如在通用词典中定义的术语)应被解释为具有与在相关技术的上下文中的含义相一致的含义，并且除非在本文中明确地定义，否则z应不以理想化的或过于形式化的含义进行解释。
在下文中，将参照附图描述本公开的实施例。
图1是根据本公开的实施例的显示装置的框图。图2是根据本公开的实施例的多个像素之中的一个像素的等效电路图。
根据本公开的实施例，显示装置DD的实施例可以是大型显示装置，诸如电视机、监视器或外部广告牌。可替代地，显示装置DD的实施例可以是小型或中型显示装置，诸如个人计算机、笔记本计算机、个人数字终端、汽车导航系统、游戏机、智能电话、平板计算机或相机。然而，这是示例，并且在不脱离本公开的构思的情况下，显示装置DD可以包括其它显示装置或具有显示功能的电子装置。
参考图1和图2，显示装置DD的实施例可以包括显示面板DP、控制器CT、扫描驱动器100、数据驱动器200、发光驱动器300、电压供应器400和存储器MM。
根据本公开的实施例的显示面板DP可以是发光显示面板，但是不特别地限于此。在实施例中，例如，显示面板DP可以是有机发光显示面板或量子点发光显示面板。有机发光显示面板的发光层可以包括有机发光材料。量子点发光显示面板的发射层可以包括量子点或量子棒等。在下文中，为了便于描述，将详细描述显示面板DP是有机发光显示面板的实施例。
在实施例中，显示面板DP可以包括多条数据线DL、多条扫描线SL、多条发射控制线EL、以及多个像素PX。
在这样的实施例中，虽然在附图中未示出，但是多条数据线DL可以与多条扫描线SL交叉。多条扫描线SL和多条发射控制线EL可以并排布置。可以通过多条数据线DL、多条扫描线SL和多条发射控制线EL限定多个像素区域。用于显示图像的多个像素PX可以被提供在多个像素区域中。多条数据线DL、多条扫描线SL和多条发射控制线EL可以彼此绝缘。
多个像素PX中的每一者可以连接到至少一条数据线、至少一条扫描线和至少一条发射控制线。像素PX可以包括多个子像素。多个子像素中的每一者可以显示原色中的一种或混合色中的一种。原色可以包括红色、绿色或蓝色。混合色可以包括各种颜色，诸如白色、黄色、青色或品红色。然而，这是示例，并且由根据本公开的实施例的子像素显示的颜色不限于此。
控制器CT、扫描驱动器100、数据驱动器200和发光驱动器300可以以柔性印刷电路覆晶(COF)、玻璃覆晶(COG)、柔性印刷电路(FPC)的形式或其它各种形式电连接到显示面板DP。
控制器CT可以接收从外部提供的图像信号RGB。控制器CT可以输出第一驱动控制信号CTL1、第二驱动控制信号CTL2、第三驱动控制信号CTL3和第四驱动控制信号CTL4以及图像数据DATA。第一驱动控制信号CTL1可以是用于控制扫描驱动器100的信号。第二驱动控制信号CTL2可以是用于控制数据驱动器200的信号。第三驱动控制信号CTL3可以是用于控制发光驱动器300的信号。第四驱动控制信号CTL4可以是用于控制电压供应器400的信号。控制器CT可以输出通过转换图像信号RGB的数据格式所生成的图像数据DATA。
存储器MM可以存储关于在显示装置DD中的各个组件CT、DP、100、200、300和400之间交换的信号的电压值的信息。存储器MM可以作为单独的组件存在，或者可以包括在各个组件CT、DP、100、200、300和400中的至少一者中。存储器MM可以存储关于图像信号RGB的应力信息。应力信息可以由控制器CT生成。存储器MM可以具有用于存储应力信息的有限的存储器尺寸。显示面板DP的像素的应力信息可以以块为单位进行存储。因此，如稍后将描述的，对应力的补偿可以以块为单位执行。这里，应力信息可以与依据基于图像信号RGB输出的图像生成的应力信息相对应，并且应力信息可以指依据输出时间或使用时间累积的累积应力信息。
在实施例中，控制器CT可以基于图像信号RGB补偿劣化，并且可以生成图像数据DATA。控制器CT可以基于图像信号RGB生成关于显示面板DP的劣化的应力信息，并且可以将应力信息提供到存储器MM。控制器CT可以基于生成的应力信息补偿劣化。将参照图4至图8C更详细地描述对劣化的补偿。
扫描驱动器100可以基于第一驱动控制信号CTL1通过多条扫描线SL将扫描信号提供到多个像素PX中的每一者。可以基于扫描信号在显示面板DP上显示图像。
数据驱动器200可以基于第二驱动控制信号CTL2通过多条数据线DL将数据电压提供到多个像素PX。数据驱动器200可以将图像数据DATA转换为数据电压。数据电压可以是与图像数据DATA的灰度级值相对应的模拟电压。可以基于数据电压确定显示在显示面板DP上的图像。
发光驱动器300可以基于第三驱动控制信号CTL3通过多条发射控制线EL将发射控制信号提供到多个像素PX。可以基于发射控制信号调整显示面板DP的亮度。
电压供应器400可以基于第四驱动控制信号CTL4将第一电源电压ELVDD、第二电源电压ELVSS和初始化电压Vint提供到显示面板DP。可以基于第一电源电压ELVDD和第二电源电压ELVSS驱动显示面板DP。
在实施例中，如图2中所示，还参照图1，多个像素PX中的每一者可以包括发光元件OLED和像素电路CC。像素电路CC可以包括多个晶体管T1至T7以及电容器CN。像素电路CC可以响应于数据电压控制流过发光元件OLED的电流量。
发光元件OLED可以响应于从像素电路CC提供的电流量发射具有预定亮度的光。第一电源电压ELVDD的电平可以被设定为高于第二电源电压ELVSS的电平。
多个晶体管T1至T7中的每一者可以包括输入电极(或源极电极)、输出电极(或漏极电极)和控制电极(或扫描电极)。在本说明书中，为了便于描述，输入电极和输出电极中的一者可以被称为“第一电极”，并且输入电极和输出电极中的另一者可以被称为“第二电极”。
第一晶体管T1的第一电极可以经由第五晶体管T5连接到电源线PL。第一晶体管T1的第二电极可以经由第六晶体管T6连接到发光元件OLED的阳极电极。第一晶体管T1可以被称为驱动晶体管。
第二晶体管T2可以连接在数据线DL与第一晶体管T1的第一电极之间。第二晶体管T2的控制电极可以连接到第i扫描线SLi。当第i扫描信号被提供到第i扫描线SLi时，第二晶体管T2可以导通，并且因此可以将数据线DL和第一晶体管T1的第一电极彼此电连接。
第三晶体管T3可以连接在第一晶体管T1的第二电极与第一晶体管T1的控制电极之间。第三晶体管T3的控制电极可以连接到第i扫描线SLi。当第i扫描信号被提供到第i扫描线SLi时，第三晶体管T3导通，并且因此可以将第一晶体管T1的第二电极和第一晶体管T1的控制电极彼此电连接。当第三晶体管T3导通时，第一晶体管T1可以被二极管式连接。
第四晶体管T4可以连接在节点ND与电压供应器400的初始化电源发生器之间。第四晶体管T4的控制电极可以连接到第(i-1)扫描线SLi-1。当第(i-1)扫描信号被提供到第(i-1)扫描线SLi-1时，第四晶体管T4可以导通，并且因此可以将初始化电压Vint提供到节点ND。
第五晶体管T5可以连接在电源线PL与第一晶体管T1的第一电极之间。第五晶体管T5的控制电极可以连接到第i发射控制线ELi。
第六晶体管T6可以连接在第一晶体管T1的第二电极与发光元件OLED的阳极电极之间。第六晶体管T6的控制电极可以连接到第i发射控制线ELi。
第七晶体管T7可以连接在电压供应器400的初始化电源发生器与发光元件OLED的阳极电极之间。第七晶体管T7的控制电极可以连接到第(i+1)扫描线SLi+1。当第(i+1)扫描信号被提供到第(i+1)扫描线SLi+1时，第七晶体管T7可以导通，并且因此可以将初始化电压Vint提供到发光元件OLED的阳极电极。
第七晶体管T7可以改善像素PX的黑色表现能力。当第七晶体管T7导通时，发光元件OLED的寄生电容器(未示出)可以被放电。当实现黑色亮度时，发光元件OLED可能由于来自第一晶体管T1的漏电流经由第七晶体管T7被旁路掉而不发射光，从而改善黑色表现能力。
图2示出了第七晶体管T7的控制电极连接到第(i+1)扫描线SLi+1的实施例，但是本公开不限于此。在本公开的可替代实施例中，第七晶体管T7的控制电极可以连接到第i扫描线SLi或第(i-1)扫描线SLi-1。
图2示出了晶体管是P型金属氧化物半导体(PMOS)晶体管的实施例，但是实施例不限于此。在本公开的可替代实施例中，像素电路CC可以用N型金属氧化物半导体(NMOS)晶体管来实现。在本公开的另一可替代实施例中，像素电路CC可以用PMOS晶体管和NMOS晶体管的组合来实现。
电容器CN连接在电源线PL与节点ND之间。电容器CN可以存储数据电压。当第五晶体管T5和第六晶体管T6依据存储在电容器CN中的电压而导通时，可以确定流到第一晶体管T1的电流量。在本公开中，像素PX的等效电路不限于图2中所示的等效电路。在本公开的可替代实施例中，像素PX可以以各种形式实现，以使发光元件OLED发射光。
图3是根据本公开的实施例的显示面板的平面图。
显示面板DP可以显示图像IMG。显示面板DP可以包括用于显示图像IMG的显示区域DA和邻近于显示区域DA的非显示区域NDA。显示面板DP的显示区域DA可以包括多个区域AR，或者被划分为多个区域AR(即，图3中的被实线划分的区域)。在实施例中，多个区域AR被定义为示例，并且显示区域DA可以被任意地划分为多个区域。图3示出了显示区域DA被划分为12个区域AR的实施例，但是实施例不限于此。
随着时间的推移，可能在显示面板DP的显示区域DA中出现由于劣化而导致的残像。显示区域DA的残像可以在多个区域AR中的每一者中具有不同的程度。根据本公开的实施例，显示装置DD可以基于劣化信息或应力信息补偿显示面板DP的多个区域AR中的劣化，劣化信息或应力信息包括关于出现显示面板DP的残像的区域以及针对每个区域出现残像的程度的信息。
在实施例中，可以在多个区域AR中的每一者中定位多个块BLK(由图3中的虚线划分的区域)。多个块BLK中的每一者可以包括多个像素PX。可以依据包括在多个块BLK中的每一者中的多个像素PX的数量来确定多个块BLK中的每一者的块尺寸。随着包括在多个块BLK中的每一者中的多个像素PX的数量增加，块尺寸可以增大。随着包括在多个块BLK中的每一者中的多个像素PX的数量降低，块尺寸可以降低。
图3示出了16个块BLK被包括在每个区域AR中并且多个像素PX定位在多个块BLK中的每一者中的实施例。在实施例中，例如，64个像素PX可以定位在多个块BLK中的每一者中。在这样的实施例中，块尺寸可以被称为8×8。可替代地，一个像素PX可以定位在多个块BLK中的每一者中。在这样的实施例中，块尺寸可以被称为1×1。
在实施例中，如图3中所示，多个区域AR的尺寸彼此相同。因此，定位在多个区域AR中的每一者中的多个像素PX的数量可以彼此相同。随着针对每个块BLK所定位的像素PX的数量降低，块尺寸可以降低，并且定位在一个区域AR中的块BLK的数量可以增加。
随着块尺寸降低，空间分辨率可以增加。这里，空间分辨率可以与用于在空间区域上详细表现图像IMG的尺度相对应。随着多个像素PX在多个区域AR中的每一者中被细分成多个块BLK，空间分辨率可以增加，并且块尺寸可以降低。在实施例中，针对多个区域AR的每个空间分辨率可以被不同地设定，以补偿劣化。被彼此不同地设定的空间分辨率可以基于在每个区域AR中发生的劣化的程度来设定。
在实施例中，补偿劣化可以以块BLK为单位执行，即逐块地执行。因此，随着空间分辨率增加和块尺寸降低，补偿可以是精确的。在例如在每个块BLK中包括一个像素PX的实施例中，劣化被以一个像素PX为单位进行补偿。在例如在一个块BLK中包括64个像素PX的实施例中，劣化被以64个像素PX为单位进行补偿。
随着空间分辨率增加和块尺寸降低，用于补偿的存储器尺寸增加。然而，这与多个区域AR中的每一者的位深度被固定的情况相对应。这里，位深度可以与用于表现一个像素PX的颜色的位数相对应。在例如位深度是42位并且块尺寸是1×1的实施例中，存储器尺寸可以是1045Mb。在例如位深度是42位并且块尺寸是4×4的实施例中，存储器尺寸可以是65Mb。当位深度降低时，存储器尺寸可以降低。
根据本公开的实施例，为了在维持存储器尺寸的同时执行精确的补偿的目的，可以针对多个区域AR中的每一者接收应力信息并基于接收到的应力信息针对多个区域AR中的每一者补偿劣化。在这样的实施例中，可以通过针对多个区域AR中的每一者调整空间分辨率或位深度来补偿劣化。下面将参照图4至图8C给出对其的详细描述。
图4是根据本公开的实施例的控制器的框图。控制器CT的实施例可以包括应力信息生成器10和劣化补偿器20。在这样的实施例中，劣化补偿器20可以包括接收器21、确定器22、处理器23和控制器24。
控制器CT可以接收图像信号RGB(参见图1)，并且可以输出通过用于补偿显示面板DP(参见图1)的劣化的劣化补偿转换的图像数据DATA(参见图1)。
应力信息生成器10可以基于图像信号RGB生成应力信息。应力信息可以被累积，以生成累积应力信息。应力信息可以存储在控制器CT内部，或者可以存储在存储器MM(参见图1)中。
劣化补偿器20可以接收应力信息，可以确定劣化区域和劣化水平，并且可以基于劣化区域和劣化水平执行劣化补偿处理。劣化补偿器20可以从应力信息生成器10或存储器MM接收应力信息。也就是说，控制器CT可以通过计算从外部接收的图像信号RGB的劣化补偿值来生成图像数据DATA。在实施例中，控制器CT可以基于应力信息针对显示面板DP(参见图1)的多个区域AR(参见图3)改变选自空间分辨率和位深度中的至少一者，可以计算补偿值，并且可以生成图像数据DATA。
接收器21可以从应力信息生成器10或存储器MM接收应力信息。应力信息包括关于应力水平的信息。应力信息可以包括指示显示面板DP的劣化水平或劣化区域尺寸的劣化信息。
确定器22可以基于显示面板DP的应力水平和/或劣化区域尺寸确定显示面板DP的劣化阶段。确定器22可以依据显示面板DP的劣化水平将劣化阶段划分为第一阶段、第二阶段和第三阶段。从第一阶段到第三阶段，显示面板DP的应力水平增加，并且劣化区域尺寸也增加。确定器22可以通过将劣化区域尺寸与基准区域尺寸进行比较以及将应力水平与基准水平进行比较来确定劣化阶段。稍后将参照图5A和图5B给出详细描述。
处理器23可以基于确定的劣化阶段执行用于改变选自显示面板DP的多个区域AR(参见图3)中的每一者的空间分辨率和位深度中的至少一者的补偿处理。
在实施例中，处理器23可以将多个区域AR中的每一者中的多个块BLK(参见图3)中的每一者的块尺寸变为与应力水平成反比。在这样的实施例中，当显示面板DP的应力水平增加时，处理器23可以减小显示面板DP的多个块BLK中的每一者的块尺寸。在这样的实施例中，随着劣化阶段按第一阶段、第二阶段和第三阶段的顺序进行，处理器23可以减小显示面板DP的多个块BLK的块尺寸的平均值，并且可以增加空间分辨率。
在同一劣化阶段，处理器23可以彼此不同地设定多个相邻区域之间的块尺寸。在实施例中，例如，当多个相邻区域之间的应力水平彼此不同时，处理器23可以将具有相对大(或高)的应力水平的一个区域的块尺寸设定为小于具有相对小(或低)的应力水平的另一区域的块尺寸。在这样的实施例中，处理器23可以将具有相对大的应力水平的一个区域的空间分辨率设定为大于具有相对小的应力水平的另一区域的空间分辨率，并且可以补偿显示面板DP的劣化，从而改善图像质量。
在实施例中，随着在多个区域AR中劣化区域尺寸和应力水平增加，处理器23可以减小显示面板DP的位深度。在这样的实施例中，随着劣化阶段按第一阶段、第二阶段和第三阶段的顺序进行，处理器23可以减小显示面板DP的位深度。随着显示面板DP的劣化区域尺寸和应力水平增加，处理器23可以降低多个区域AR的位深度的平均值。随着劣化阶段按第一阶段、第二阶段和第三阶段的顺序进行，处理器23可以在同时降低位深度的同时增加多个区域AR中的每一者的空间分辨率。
在同一劣化阶段，处理器23可以彼此不同地设定多个区域AR之间的位深度。在实施例中，例如，当多个区域AR之间的应力水平彼此不同时，处理器23可以将具有相对大的应力水平的一个区域的位深度设定为大于具有相对小的应力水平的另一区域的位深度。
在同时降低位深度的同时，处理器23可以通过减小块尺寸来增加空间分辨率，以与劣化阶段按第一阶段、第二阶段和第三阶段的顺序进行时累积的应力的水平成比例。
因此，在维持存储器尺寸的同时，劣化补偿器20可以补偿显示面板DP的劣化。在这样的实施例中，当劣化严重时，劣化补偿器20可以通过减小块尺寸和增加空间分辨率来改善图像质量。同时，劣化补偿器20可以通过同时减小位深度在有限的存储器尺寸内补偿劣化。在显示面板DP的多个区域AR中的每一者中，劣化水平相对高的区域的位深度可以大于劣化水平相对低的区域的位深度。
控制器24可以控制接收器21、确定器22和处理器23的操作以及接收器21、确定器22和处理器23之间的信号传输。
图5A和图5B是示出根据本公开的实施例的补偿显示装置的劣化的方法的流程图。
图5A是示意性地示出补偿显示装置的劣化的方法的流程图。图5B是示出根据图5A的实施例的补偿显示装置的劣化的方法的流程图。将参照图1、图3和图4描述图5A和图5B的补偿显示装置的劣化的方法的实施例。
在实施例中，如图5A中所示，劣化补偿器20可以从存储器MM或应力信息生成器10接收劣化信息(S510)。这里，劣化信息可以包括显示面板DP的劣化区域尺寸和应力信息。
劣化补偿器20可以基于接收到的劣化信息确定劣化阶段(S520)。劣化阶段可以包括第一阶段、劣化比第一阶段的劣化更严重的第二阶段、以及劣化比第二阶段的劣化更严重的第三阶段。随着劣化区域尺寸和应力水平增加，劣化被限定为严重。
劣化补偿器20可以针对由此确定的每个劣化阶段补偿显示面板DP的劣化(S530)。在实施例中，劣化补偿器20可以针对每个劣化阶段不同地设定空间分辨率和位深度。在这样的实施例中，劣化补偿器20可以通过基于显示面板DP的劣化水平调整空间分辨率和位深度来补偿劣化。
在实施例中，如图5B中所示，接收器21可以接收劣化区域尺寸和应力信息(S511)。
当显示面板DP的劣化区域尺寸小于第一基准区域尺寸THA1并且应力水平小于第一基准水平THS1时，确定器22可以确定劣化阶段是第一阶段(S521)。劣化区域尺寸可以与由来自多个区域AR之中的一些区域占据的区域尺寸相对应，所述一些区域具有比其它区域大的应力水平。这里，第一基准区域尺寸THA1可以与显示面板DP的总区域尺寸的5％至30％相对应，并且第一基准水平THS1可以指导致与第一基准区域尺寸THA1相对应的劣化的应力的水平。
当劣化区域尺寸不小于第一基准区域尺寸THA1并且小于第二基准区域尺寸THA2，并且应力水平不小于第一基准水平THS1并且小于第二基准水平THS2时，确定器22可以确定劣化阶段是第二阶段(S521、S522)。这里，第二基准区域尺寸THA2大于第一基准区域尺寸THA1，并且第二基准水平THS2大于第一基准水平THS1。在实施例中，例如，第二基准区域尺寸THA2可以与总区域尺寸的60％相对应，并且第二基准水平THS2可以与导致与第二基准区域尺寸THA2相对应的劣化的应力的水平相对应。
当劣化区域尺寸不小于第二基准区域尺寸THA2并且应力水平不小于第二基准水平THS2时，确定器22可以确定劣化阶段是第三阶段(S522)。
在第一阶段，处理器23可以不同地设定多个区域AR中的每一者的空间分辨率(S531)。处理器23可以针对来自多个区域AR之中的一些区域AR增加空间分辨率并且可以减小块尺寸，所述一些区域AR中的每一者具有比其他区域AR的应力水平大的应力水平。在第一阶段，处理器23可以固定多个区域AR中的每一者的位深度。
在第二阶段，处理器23可以不同地设定多个区域AR中的每一者的空间分辨率和位深度(S532、S533)。处理器23可以针对来自多个区域AR之中的一些区域AR中的每一者增加空间分辨率(减小块尺寸)，所述一些区域AR中的每一者具有比其它区域AR中的每一者的应力水平大的应力水平。同时，处理器23可以减小来自多个区域AR之中的一些区域AR之外的其余区域AR中的每一者的位深度，所述一些区域AR中的每一者具有比其它区域AR中的每一者的应力水平大的应力水平。因此，在多个区域AR中的每一者中，位深度也可以在空间分辨率增加时增加，并且位深度也可以在空间分辨率降低时降低。
在第三阶段，处理器23可以相同地设定多个区域AR中的每一者的空间分辨率(S534)。在第三阶段，处理器23可以不同地设定多个区域AR中的每一者的位深度(S535)。在实施例中，在多个区域AR中的每一者中，处理器23可以将空间分辨率固定为最大值，并且可以降低位深度。处理器23可以将多个区域AR中的每一者的块尺寸固定为“1×1”，并且可以在整体上减小位深度。即使在这种情况下，来自多个区域AR之中的一些区域AR中的每一者的位深度可以大于其余区域AR中的每一者的位深度，所述一些区域AR中的每一者具有相对大的应力水平。
图6A至图6C是示出根据本公开的实施例的在第一阶段改变的块尺寸和位深度的图。图6A示出了多个区域中的每一者的应力水平，图6B示出了多个区域中的每一者的块尺寸，并且图6C示出了多个区域中的每一者的位深度。
图6A至图6C示出了作为劣化阶段的基准操作的第一基准区域尺寸THA1(参见图5B)被设定为总区域尺寸的30％，并且第二基准区域尺寸THA2(参见图5B)被设定为总区域尺寸的60％的实施例。
参考图6A至图6C，处于第一阶段的显示面板DP-1可以包括第一区域AR1-1、第二区域AR2-1和第三区域AR3-1。第一区域AR1-1和第二区域AR2-1可以与劣化区域DAR相对应。由劣化区域DAR占据的区域的尺寸可以与劣化区域尺寸相对应。在图6A中，劣化区域尺寸可以与总区域尺寸的25％相对应。在实施例中，第一区域AR1-1中的应力水平可以大于第二区域AR2-1中的应力水平。
在图6B中，第一区域AR1-1的第一块尺寸BLK1小于第二区域AR2-1的第二块尺寸BLK2。因此，第一区域AR1-1的空间分辨率大于第二区域AR2-1的空间分辨率。第三区域AR3-1的第三块尺寸BLK3大于第一块尺寸BLK1或第二块尺寸BLK2。在实施例中，例如，第一块尺寸BLK1可以与包括一个像素PX的尺寸相对应，第二块尺寸BLK2可以与包括两个像素PX的尺寸相对应，并且第三块尺寸BLK3可以与包括三个像素PX或更多个像素PX的尺寸相对应。在这样的实施例中，可以基于多个区域中的每一者的应力水平改变多个区域中的每一者的块尺寸。
在图6C中，第一阶段的多个区域中的每一者的位深度可以被固定为42位。在这样的实施例中，第一区域AR1-1的第一位深度BD1-1、第二区域AR2-1的第二位深度BD2-1、以及第三区域AR3-1的第三位深度BD3-1可以彼此相同。
图7A至图7C是示出根据本公开的实施例的在第二阶段改变的块尺寸和位深度的图。
参考图7A至图7C，第二阶段的显示面板DP-2可以包括第一区域AR1-2、第二区域AR2-2、第三区域AR3-2和第四区域AR4-2。第一区域AR1-2、第二区域AR2-2和第三区域AR3-2可以与劣化区域DAR相对应。由劣化区域DAR占据的区域的尺寸可以与劣化区域尺寸相对应。在图7A中，劣化区域尺寸可以与总区域尺寸的50％相对应。在实施例中，第一区域AR1-2中的应力水平可以大于第二区域AR2-2中的应力水平。第二区域AR2-2的应力水平可以大于第三区域AR3-2的应力水平。第三区域AR3-2的应力水平可以大于第四区域AR4-2的应力水平。
在图7B中，第一区域AR1-2的第一块尺寸BLK1小于第二区域AR2-2的第二块尺寸BLK2。因此，第一区域AR1-2的空间分辨率大于第二区域AR2-2的空间分辨率。第二区域AR2-2的第二块尺寸BLK2小于第三区域AR3-2的第三块尺寸BLK3。因此，第二区域AR2-2的空间分辨率大于第三区域AR3-2的空间分辨率。第四区域AR4-2的第四块尺寸BLK4大于第一块尺寸BLK1、第二块尺寸BLK2或第三块尺寸BLK3。因此，第一区域AR1-2的空间分辨率、第二区域AR2-2的空间分辨率和第三区域AR3-2的空间分辨率中的每一者可以大于第四区域AR4-2的空间分辨率。
在实施例中，例如，如图7B中所示，第一块尺寸BLK1可以与包括一个像素PX的尺寸相对应，第二块尺寸BLK2可以与包括两个像素PX的尺寸相对应，第三块尺寸BLK3可以与包括四个像素PX的尺寸相对应，并且第四块尺寸BLK4可以与包括五个像素PX或更多个像素PX的尺寸相对应。可以基于多个区域中的每一者的应力水平改变多个区域中的每一者的块尺寸。
在实施例中，如图7C中所示，第二阶段的显示面板DP-2的多个区域中的每一者的位深度可以改变为42位、35位、30位或25位。在这样的实施例中，第一区域AR1-2中的第一位深度BD1-2可以是42位并且可以具有最大的位数，第二区域AR2-2的第二位深度BD2-2可以是35位并且可以小于第一位深度BD1-2，并且第三区域AR3-2的第三位深度BD3-2可以是30位并且可以小于第二位深度BD2-2。第四区域AR4-2的第四位深度BD4-2可以是25位并且可以具有最小的位数。在这样的实施例中，可以根据多个区域中的每一者中的应力水平改变多个区域中的每一者的位深度。应力水平可以与位深度成比例。
图8A至图8C是示出根据本公开的实施例的在第三阶段改变的块尺寸和位深度的图。
参考图8A至图8C，第三阶段的显示面板DP-3可以包括第一区域AR1-3和第二区域AR2-3。第一区域AR1-3可以与劣化区域相对应。在图8A中，劣化区域尺寸可以与总区域尺寸的75％相对应。在实施例中，第一区域AR1-3中的应力水平可以大于第二区域AR2-3中的应力水平。
在实施例中，如图8B中所示，第一区域AR1-3的块尺寸BLK1可以与第二区域AR2-3的块尺寸BLK1相同。因此，第一区域AR1-3的空间分辨率可以与第二区域AR2-3的空间分辨率相同。也就是说，第三阶段的显示面板DP-3的多个区域中的每一者的块尺寸BLK1可以被相同地设定。在实施例中，例如，块尺寸BLK1可以具有其中每个块定位一个像素PX的1×1的最大尺寸。也就是说，无论多个区域中的每一者的应力水平如何，多个区域的所有块尺寸都可以被相同地固定。
在实施例中，如图8C中所示，第三阶段的显示面板DP-3的多个区域中的每一者中的位深度可以变为20位或10位。第一区域AR1-3中的第一位深度BD1-3可以是20位，并且第二区域AR2-3的第二位深度BD2-3可以是10位。也就是说，具有相对大的应力水平的第一区域AR1-3的第一位深度BD1-3可以大于第二区域AR2-3的第二位深度BD2-3。
在实施例中，第三阶段的显示面板DP-3的多个区域的位深度的平均值可以小于第二阶段的显示面板DP-2(参见图7A)的多个区域的位深度的平均值，并且第二阶段的显示面板DP-2的多个区域的位深度的平均值可以小于第一阶段的显示面板DP-1(参见图6A)的多个区域的位深度的平均值。
在这样的实施例中，第三阶段的显示面板DP-3的多个区域的空间分辨率的平均值可以大于第二阶段的显示面板DP-2的多个区域的空间分辨率的平均值，并且第二阶段的显示面板DP-2的多个区域的空间分辨率的平均值可以大于第一阶段的显示面板DP-1的多个区域的空间分辨率的平均值。
劣化区域尺寸在第三阶段的显示面板DP-3中是最大的。因此，在本公开的实施例中，通过在将多个区域中的每一者的空间分辨率固定为最大值的同时尽可能补偿地减小位深度的总体尺寸，在第一阶段、第二阶段和第三阶段相同地设定的存储器尺寸内可以有效地防止显示面板的劣化。
根据本公开的实施例，显示装置和补偿显示装置的劣化的方法可以补偿显示面板的劣化，并且可以通过根据显示面板的劣化水平接收应力信息并且基于应力信息改变选自显示面板的多个区域中的每一者的空间分辨率和位深度中的至少一者来减小用于补偿的存储器尺寸。
本发明不应被解释为限于本文中所阐述的实施例。相反，提供这些实施例使得本公开将是透彻的和完整的，并且将向本领域技术人员充分地传达本发明的构思。
虽然已经参照本发明的实施例特别地示出并描述了本发明，但是本领域普通技术人员将理解的是，在不脱离如由所附权利要求所限定的本发明的精神或范围的情况下，可以在本发明中作出形式和细节上的各种改变。

Claims (10)

1.一种显示装置，其中，所述显示装置包括：
显示面板，所述显示面板显示图像，其中，多个区域限定在所述显示面板中，多个像素定位在所述多个区域中的每一者中；以及
控制器，所述控制器基于图像信号生成图像数据并且补偿所述显示面板的劣化，
其中，所述控制器包括：
应力信息生成器，所述应力信息生成器生成所述显示面板的与所述劣化相对应的应力信息；以及
劣化补偿器，所述劣化补偿器基于所述多个区域中的每一者的所述应力信息改变选自所述多个区域中的相应一者的空间分辨率和位深度中的至少一者。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示装置还包括：
存储器，所述存储器连接到所述控制器，其中，所述存储器存储所述应力信息，
其中，多个块限定在所述多个区域中的每一者中，所述多个块中的每一者包括多个所述像素，并且
其中，所述应力信息以所述块为单位进行存储。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，基于所述多个区域中的每一者中包括的多个块中的每一者中包括的多个所述像素的数量确定所述空间分辨率，
其中，在所述多个块中的每一者中包括的多个所述像素的所述数量与所述多个块中的相应一者的块尺寸成比例，并且
其中，所述劣化补偿器将所述多个区域中的每一者中的所述块尺寸变为与所述多个区域中的相应一者的应力水平成反比。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述劣化补偿器将所述多个区域中的每一者的所述位深度变为与所述多个区域中的相应一者中的所述显示面板的应力水平成比例。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述劣化补偿器包括：
接收器，所述接收器从所述应力信息生成器接收包括关于所述显示面板的应力水平和劣化区域尺寸的信息的所述应力信息；
确定器，所述确定器确定所述应力水平和所述劣化区域尺寸；以及
处理器，所述处理器基于确定的所述应力水平和确定的所述劣化区域尺寸改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，
当所述多个区域的劣化区域尺寸小于第一基准区域尺寸并且所述应力水平小于第一基准水平时，所述确定器将劣化阶段确定为第一阶段，
当所述劣化区域尺寸不小于所述第一基准区域尺寸且小于第二基准区域尺寸，并且所述应力水平不小于所述第一基准水平且小于第二基准水平时，所述确定器将所述劣化阶段确定为第二阶段，并且
当所述劣化区域尺寸不小于所述第二基准区域尺寸并且所述应力水平不小于所述第二基准水平时，所述确定器将所述劣化阶段确定为第三阶段，并且
其中，所述确定器依据所述劣化阶段选择性地改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者，
其中，所述第二基准区域尺寸大于所述第一基准区域尺寸，并且所述第二基准水平大于所述第一基准水平。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其中，当所述劣化阶段是所述第一阶段时，所述处理器改变所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率并且固定所述位深度。
8.根据权利要求6所述的显示装置，其中，当所述劣化阶段是所述第二阶段时，所述处理器改变所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率和所述位深度，
其中，当所述劣化阶段是所述第二阶段时，所述多个区域中的每一者的改变后的所述空间分辨率和改变后的所述位深度彼此成比例，并且
其中，当所述劣化阶段是所述第三阶段时，所述处理器固定所述多个区域中的每一者的所述空间分辨率并且改变所述位深度。
9.一种补偿显示装置的劣化的方法，其中，所述方法包括：
通过应力信息生成器生成与显示面板的所述劣化相对应的应力信息；以及
通过劣化补偿器基于在所述显示面板中限定的多个区域中的每一者的所述应力信息，改变选自所述多个区域中的相应一者的空间分辨率和位深度中的至少一者。
10.根据权利要求9所述的方法，其中，所述通过劣化补偿器改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者包括：
接收所述显示面板的劣化区域尺寸和所述应力信息；
基于接收到的所述劣化区域尺寸和接收到的所述应力信息确定所述劣化的阶段；以及
依据所述劣化的所述阶段改变选自所述空间分辨率和所述位深度中的所述至少一者。
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