CN116543689A - 显示面板及其驱动方法、显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供了一种显示面板及其驱动方法、显示装置，涉及显示领域，用以为实现显示面板的亮度补偿提供准确的数据支撑。显示面板包括第一子像素，第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，其中，第一像素电路包括显示控制模块和检测模块，显示控制模块和检测模块分别与第一发光元件的第一极电连接；第一像素电路的工作过程包括检测阶段，在检测阶段，检测模块开启，检测第一发光元件的第一极的电压。

Description

显示面板及其驱动方法、显示装置
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其驱动方法、显示装置。
【背景技术】
在发光二极管显示面板中，其发光元件的器件特性受温度变化影响较大。尤其是在显示面板长时间显示画面时，发光元件散发大量热量导致温度较高，其器件特性会发生较大偏移，进而会造成显示面板在亮度或色彩上的表现出现偏差。
【发明内容】
有鉴于此，本发明实施例提供了一种显示面板及其驱动方法、显示装置，用以为实现显示面板的亮度补偿提供准确的数据支撑。
一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括第一子像素，第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，其中，第一像素电路包括显示控制模块和检测模块，显示控制模块和检测模块分别与第一发光元件的第一极电连接；
第一像素电路的工作过程包括检测阶段，在检测阶段，检测模块开启，检测第一发光元件的第一极的电压。
另一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的驱动方法，应用于上述显示面板，包括：
在检测阶段控制检测模块开启，检测第一发光元件的第一极的电压；
根据检测到的第一发光元件的第一极的电压判断第一发光元件的当前温度；
根据当前温度对第一子像素的数据电压进行补偿。
再一方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括：
上述显示面板；
驱动芯片，用于根据检测到的第一发光元件的第一极的电压判断第一发光元件的当前温度，以及根据当前温度对第一子像素的数据电压进行补偿。
上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果：
发光二极管在驱动电流的作用下发光时，其正向压降，也就是第一极和第二极之间的压差会随着温度的变化而变化。基于发光二极管的上述特性，本发明实施例在第一像素电路中设置了一个能够检测第一发光元件的第一极的电压的检测模块，以实现对第一发光元件的第一极的电压的采集。由于显示面板中第一发光元件的第二极接收相同的负性电源电压，因此，根据采集到的第一发光元件的第一极的电压可以准确获知第一发光元件的正向压降，进而根据温度与正向压降之间的映射关系就可以查找出第一发光元件的当前温度。那么，后续就可以根据第一发光元件的当前温度对第一子像素进行亮度补偿，将第一子像素的发光亮度调控至标准亮度。
在该种方式下，第一发光元件集成了热量/温度传感功能，仅需根据第一像素电路中检测模块所采集的电压就可以为后续对第一子像素进行亮度补偿提供准确的数据支撑。
相较于现有技术，本发明实施例中的检测模块直接采集第一发光元件的第一极的电压，该电压能够直接地、准确地反映出第一发光元件当前的温度大小，因而可有效提高后续对第一子像素进行亮度补偿的准确性。而且，本发明实施例只需要在第一像素电路中增加一个或几个晶体管形成检测模块即可实现温度检测，晶体管占用面积很小，对透光率的影响也很小，因此，本发明实施例还有助于提高显示面板的像素密度，或是优化透明显示面板的结构设计。
【附图说明】
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为相关技术中显示面板的一种结构示意图；
图2为图1对应的一种等效电路示意图；
图3为本发明实施例所提供的显示面板的一种结构示意图；
图4为本发明实施例所提供的第一子像素的一种结构示意图；
图5为本发明实施例所提供的发光二极管的正向压降随温度变化的一种示意图；
图6为本发明实施例所提供第一像素电路的一种工作时序示意图；
图7为本发明实施例所提供第一像素电路的另一种工作时序示意图；
图8为本发明实施例所提供第一像素电路的再一种工作时序示意图；
图9为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图10为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图11为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图12为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图13为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图14为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图15为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图16为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图17为本发明实施例所提供的第一子像素的另一种结构示意图；
图18为本发明实施例所提供的第一子像素的再一种结构示意图；
图19为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图20为本发明实施例所提供第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图21为本发明实施例所提供的第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图22为本发明实施例所提供的第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图23为本发明实施例所提供的第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图24为本发明实施例所提供的第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图25为本发明实施例所提供的第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图26为本发明实施例所提供的显示面板的另一种结构示意图；
图27为本发明实施例所提供的第二子像素的一种结构示意图；
图28为本发明实施例所提供的显示面板的再一种结构示意图；
图29为本发明实施例所提供的第一子像素的又一种结构示意图；
图30为本发明实施例所提供的第一像素电路的又一种工作时序示意图；
图31为本发明实施例所提供的驱动方法的一种流程图；
图32为本发明实施例所提供的驱动方法的另一种流程图；
图33为本发明实施例所提供的驱动方法的再一种流程图；
图34为本发明实施例所提供的显示装置的一种结构示意图。
【具体实施方式】
为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
如背景技术所述，发光二极管显示面板中发光元件的器件特性受温度变化影响较大，因而会造成显示面板的显示效果出现偏差。
对此，在相关技术中，需要对发光元件的温度进行检测，进而根据发光元件的温度变化情况对显示面板进行相应的亮度补偿。然而，发明人研究发现，目前对发光元件的温度进行检测的方式，不仅结构复杂，而且检测准确性也较差。
例如，如图1所示，图1为相关技术中显示面板的一种结构示意图，显示面板包括检测金属走线101，检测金属走线101在显示区中环绕各发光元件102，检测金属走线101的一端接收电压Va，另一端串联一个固定电阻R0，固定电阻Ro的一端接收电压Vb。
在上述结构中，如图2所示，图2为图1对应的一种等效电路示意图，检测金属走线101可视为n个走线段串联的结构，n个走线段的电阻分别用R1、R2、…、Rn表示。由于走线的电阻值会随温度的变化而变化，因此，通过测量第k个走线段对应的节点电压Vk，k＝1、2…、n，根据公式即可获知第k个走线段的电阻值Rk，进而根据第k个走线段的电阻值的变化情况推算第k个走线段所围绕的发光元件102的温度变化情况。
但采用上述检测方式，需要在显示面板中额外设置很长的检测金属走线101，该检测金属走线101还需要环绕各个发光元件102，不仅结构复杂，成本还较高。而且，检测金属走线101在环绕发光元件102时是与发光元件102间隔了一定距离的，因此检测金属走线101中走线段的电阻值变化并无法真实、准确地反映出其环绕的发光元件102的热量情况，导致检测准确性较差。
此外，检测金属走线101还会在显示区中占用很大面积，这样不仅不利于像素密度的进一步提升，而且也会影响显示面板的透光率，不利于透明显示面板的结构设计。
对此，本发明实施例提供了一种显示面板，该显示面板无需设置复杂的检测结构就可准确判断出发光元件的温度变化情况，进而可以有效提升显示面板的亮度补偿效果。
如图3和图4所示，图3为本发明实施例所提供的显示面板的一种结构示意图，图4为本发明实施例所提供的第一子像素1的一种结构示意图，该显示面板包括第一子像素1，第一子像素1包括第一像素电路2和第一发光元件3。其中，第一像素电路2包括显示控制模块4和检测模块5，显示控制模块4和检测模块5分别与第一发光元件3的第一极电连接；第一发光元件3可以为发光二极管，具体可以为次毫米级的发光二极管(Mini Light EmittingDiode，Mini-LED)或者微米级的发光二极管(Micro Light Emitting Diode，Micro-LED)，第一发光元件3的第一极为第一发光元件3的正极。
其中，第一像素电路2的工作过程包括检测阶段，在检测阶段，检测模块5开启，检测第一发光元件3的第一极的电压。
发明人在研究过程中发现，发光二极管在驱动电流的作用下发光时，其正向压降，也就是第一极和第二极之间的压差会随着温度的变化而变化。结合表1和图5可以看出，图5为本发明实施例所提供的发光二极管的正向压降随温度变化的一种示意图，温度升高，发光二极管的正向压降呈下降趋势。
表1
基于发光二极管的上述特性，本发明实施例在第一像素电路2中设置了一个能够检测第一发光元件3的第一极的电压的检测模块5，以实现对第一发光元件3的第一极的电压的采集。由于显示面板中第一发光元件3的第二极接收相同的负性电源电压，因此，根据采集到的第一发光元件3的第一极的电压可以准确获知第一发光元件3的正向压降，进而根据温度与正向压降之间的映射关系就可以查找出第一发光元件3的当前温度。那么，后续就可以根据第一发光元件3的当前温度对第一子像素1进行亮度补偿，将第一子像素1的发光亮度调控至标准亮度。
在该种方式下，第一发光元件3集成了热量/温度传感功能，仅需根据第一像素电路2中检测模块5采集的电压就可以为后续对第一子像素1进行亮度补偿提供准确的数据支撑。
而且，相较于现有技术，本发明实施例中的检测模块5直接采集第一发光元件3的第一极的电压，该电压能够直接地、准确地反映出第一发光元件3当前的温度大小，可有效提高后续对第一子像素1进行亮度补偿的准确性。此外，本发明实施例只需要在第一像素电路2中增加一个或几个晶体管形成检测模块5即可实现温度检测，晶体管占用面积很小，对透光率的影响也很小，因而相较于现有技术，本发明实施例还有助于提高显示面板的像素密度，或是优化透明显示面板的结构设计。
在一种可行的实施方式中，如图6所示，图6为本发明实施例所提供第一像素电路2的一种工作时序示意图，显示面板的一帧画面时间F内，第一像素电路2的工作过程包括前置阶段T1和发光阶段T2。在至少一帧画面内，发光阶段T2包括检测阶段T3，在检测阶段T3，显示控制模块4为第一发光元件3提供驱动电流，检测模块5开启检测第一发光元件3的第一极的电压。
在上述设置方式中，在检测阶段T3，第一发光元件3所需的驱动电流是显示控制模块4提供的，检测模块5仅用于对第一发光元件3的第一极的电压进行采集。该种方式下的显示控制模块4和检测模块5功能彼此独立，检测模块5仅采集电压，因而在设计检测模块5时更加简单。
需要说明的是，在不同的检测阶段T3，显示控制模块4可以为第一发光元件3提供相同的驱动电流，这样可以使得检测模块5所采集的电压均是第一发光元件3接收同一驱动电流时第一极上所具有的电压，这样的话，驱动芯片中仅需预先存储有与该驱动电流对应的温度-正向压降映射关系即可，无需针对每一种驱动电流都存储对应的温度-正向压降映射关系，使得存储的数据量较少。
此外，还需要说明的是，当不同检测阶段T3第一发光元件3接收相同的驱动电流时，如若显示面板显示静态画面，且该静态画面对应的驱动电流与检测所需的驱动电流相等时，那么每一帧画面的发光阶段T2都可以包括检测阶段T3。但若显示面板所需显示的画面对应的驱动电流与检测所需的驱动电流不同，例如显示面板需显示动态画面时，那么只有部分帧画面的发光阶段T2可以包括检测阶段T3，其余帧画面的发光阶段T2不包括检测阶段T3，也就是相当于在显示画面之间穿插了检测画面，这样既保证能够正常显示，还实现了检测功能。
进一步地，参见图6，还可以将检测阶段T3的时长设置为与发光阶段T2的时长相等，这样在第一发光元件3接收驱动电流的整个时间内，检测模块5会持续的对第一发光元件3的第一极的电压进行采集，采集时间较长，因而所采集的电压也就更准确。
当然，在本发明其它可选的实施方式中，如图7所示，图7为本发明实施例所提供第一像素电路2的另一种工作时序示意图，检测阶段T3的时长也可以小于发光阶段T2的时长。
如上提到，在检测阶段T3，第一发光元件3所需的驱动电流由显示控制模块4提供，下面本发明实施例以图4所示的显示控制模块4的结构为例，对显示控制模块4向第一发光元件3提供驱动电流的工作原理进行说明：
参见图4，显示控制模块4具体可以包括驱动单元6、栅极复位单元7、充电单元8、阳极复位单元9、发光控制单元10和存储电容Cst。
其中，驱动单元6可以包括驱动晶体管M0。
栅极复位单元7可以包括栅极复位晶体管M1，栅极复位晶体管M1的栅极与第一扫描信号线Scan1电连接，栅极复位晶体管M1的第一极与复位信号线Vref电连接，栅极复位晶体管M1的第二极与驱动晶体管M0的栅极电连接。
充电单元8可以包括数据写入晶体管M2和补偿晶体管M3，其中，数据写入晶体管M2的栅极和补偿晶体管M3的栅极分别与第二扫描信号线Scan2电连接，数据写入晶体管M2的第一极与数据线Data电连接，数据写入晶体管M2的第二极与驱动晶体管M0的第一极电连接，补偿晶体管M3的第一极与驱动晶体管M0的第二极电连接，补偿晶体管M3的第二极与驱动晶体管M0的栅极电连接。
阳极复位单元9可以包括阳极复位晶体管M4，阳极复位晶体管M4的栅极与第二扫描信号线Scan2电连接，阳极复位晶体管M4的第一极与复位信号线Vref电连接，阳极复位晶体管M4的第二极与第一发光元件3的第一极电连接。
发光控制单元10可以包括第一发光控制晶体管M5和第二发光控制晶体管M6，其中，第一发光控制晶体管M5的栅极和第二发光控制晶体管M6的栅极分别与发光控制信号线Emit电连接，第一发光控制晶体管M5的第一极与电源信号线PVDD电连接，第一发光控制晶体管M5的第二极与驱动晶体管M0的第一极电连接，第二发光控制晶体管M6的第一极与驱动晶体管M0的第二极电连接，第二发光控制晶体管M6的第二极与第一发光元件3的第一极电连接。
存储电容Cst的一个极板与电源信号线PVDD电连接，另一个极板与驱动晶体管M0的栅极电连接。
基于上述结构，结合图6，前置阶段T1可以包括复位阶段t11和数据写入阶段t12。
在复位阶段t11，第一扫描信号线Scan1提供使能电平，控制栅极复位单元7开启，栅极复位单元7对驱动晶体管M0的栅极进行复位。具体地，栅极复位晶体管M1在第一扫描信号线Scan1提供的使能电平的作用下导通，将复位信号线Vref提供的复位电压写入驱动晶体管M0的栅极。
在数据写入阶段t12，第二扫描信号线Scan2提供使能电平，控制充电单元8和阳极复位单元9开启，充电单元8对驱动晶体管M0的栅极进行充电，阳极复位单元9对第一发光元件3的阳极进行复位。具体地，数据写入晶体管M2和补偿晶体管M3在第二扫描信号线Scan2提供的使能电平的作用下导通，将数据线提供的数据电压写入驱动晶体管M0的栅极，并实现对驱动晶体管M0的阈值补偿；阳极复位晶体管M4在第二扫描信号线Scan2提供的使能电平的作用下导通，将复位信号线Vref提供的复位电压写入第一发光元件3的阳极。
在发光阶段T2，发光控制信号线Emit提供使能电平，控制发光控制单元10开启，发光控制单元10将驱动单元6转换的驱动电流写入第一发光元件3的第一极，驱动第一发光元件3的发光。具体地，第一发光控制晶体管M5和第二发光控制晶体管M6在发光控制信号线Emit提供的使能电平的作用下导通，将驱动晶体管M0转换的驱动电流写入第一发光元件3的第一极。
在发光阶段T2内的检测阶段T3，第一发光元件3的第一极接收驱动电流时，检测模块5开启，对第一发光元件3的第一极的电压进行采集。
其中，当第一像素电路2中的各晶体管为P型晶体管时，上述各信号线提供的使能电平为低电平，当第一像素电路2中的各晶体管为N型晶体管时，上述各信号线提供的为高电平。本发明实施例是以第一像素电路2中的各晶体管为P型晶体管、使能电平为低电平为例进行的示意。
在一种可行的实施方式中，参见图8～图10，显示面板的一帧画面时间F内，第一像素电路2的工作过程包括前置阶段T1和发光阶段T2。在至少一帧画面内，前置阶段T1包括检测阶段T3，在检测阶段T3，检测模块5开启为第一发光元件3提供驱动电流并检测第一发光元件3的第一极的电压。
在该种方式中，检测阶段T3中第一发光元件3所需的驱动电流是检测模块5提供的。在一种可行的设置方式中，检测模块5的一端与第一发光元件3的第一极连接，另一端既与驱动芯片中用于提供驱动电流的端口连接，还与驱动芯片中另一个用于接收检测电压的端口连接。在检测阶段T3，检测模块5开启，驱动芯片向检测模块5施加驱动电流，该驱动电流经由检测模块5传输至第一发光元件3，与此同时，检测模块5还对第一发光元件3的第一极的电压进行了采集。
在上述方式中，检测是在前置阶段T1中进行的，因而检测过程可以不影响正常显示。例如，前面提到，在不同的检测阶段T3，第一发光元件3可以接收相同的驱动电流，采用上述方式的话，无论显示面板显示静态画面还是动态画面，都可以在每一帧画面的发光阶段T2向第一发光元件3提供显示所需的驱动电流使其进行正常显示，只需要在部分帧画面或者每一帧画面的前置阶段T1中利用检测模块5向第一发光元件3提供检测所需的驱动电流即可。
在一种可行的实施方式中，显示控制模块4包括栅极复位单元7、充电单元8和驱动单元6，驱动单元6包括驱动晶体管M0。前置阶段T1还包括复位阶段t11和位于复位阶段t11之后的数据写入阶段t12，在复位阶段t11，栅极复位单元7开启对驱动晶体管M0的栅极进行复位，在数据写入阶段t12，充电单元8开启对驱动晶体管M0的栅极写入数据电压。
其中，栅极复位单元7和充电单元8的具体结构以及显示控制模块4在复位阶段t11和数据写入阶段t12的工作原理已在上述实施例中进行说明，此处不再赘述。
在一种可行的实施方式中，参见图8～图10，检测阶段T3与复位阶段t11、数据写入阶段t12均不存在重叠。
在一种设置方式中，参见图4，检测模块5包括检测晶体管Mt，检测晶体管Mt的栅极与控制信号线St电连接，检测晶体管Mt的第一极与检测信号线Vt电连接，检测晶体管Mt的第二极与第一发光元件3的第一极电连接。以各晶体管为P型晶体管为例，上述检测阶段T3与复位阶段t11、数据写入阶段t12均不存在重叠具体可指：控制信号线St提供的低电平与第一扫描信号线Scan1提供的低电平、第二扫描信号线Scan2提供的低电平均不交叠。
在该种设置方式中，检测阶段T3与复位阶段t11、数据写入阶段t12彼此独立，检测模块5和显示控制模块4的工作过程是相互错开的，例如，检测阶段T3可以位于复位阶段t11之前，或者位于数据写入阶段t12之后，或者还可以位于复位阶段t11与数据写入阶段t12之间。
进一步地，如图8所示，图8为本发明实施例所提供第一像素电路2的再一种工作时序示意图，检测阶段T3位于复位阶段t11之前，检测阶段T3结束之时，栅极复位单元7开启进入复位阶段t11。
以各晶体管为P型晶体管为例，检测阶段T3结束之时，栅极复位单元7开启进入复位阶段t11具体是指：控制信号线St提供的控制信号由低跳高时，第一扫描信号线Scan1提供的第一扫描信号由高跳低，控制栅极复位晶体管M1导通，进入复位阶段t11。
或者，如图9所示，图9为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3位于复位阶段t11与数据写入阶段t12之间，复位阶段t11结束之时，检测模块5开启进入检测阶段T3，检测阶段T3结束之时，充电单元8开启进入数据写入阶段t12。
仍以各晶体管为P型晶体管为例，复位阶段t11结束之时，检测模块5开启进入检测阶段T3，检测阶段T3结束之时，充电单元8开启进入数据写入阶段t12具体是指：第一扫描信号线Scan1提供的第一扫描信号由低跳高时，控制信号线St提供的控制信号由高跳低，控制检测晶体管Mt导通，进入检测阶段T3，后续控制信号由低跳高时，第二扫描信号线Scan2提供的第二扫描信号由高跳低，数据写入晶体管M2和补偿晶体管M3导通，进入数据写入阶段t12。
再或者，如图10所示，图10为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3位于数据写入阶段t12之后，数据写入阶段t12结束之时，检测模块5开启进入检测阶段T3。
仍以各晶体管为P型晶体管为例，数据写入阶段t12结束之时，检测模块5开启进入检测阶段T3具体是指：第二扫描信号线Scan2提供的第二扫描信号由低跳高时，控制信号线St提供的控制信号由高跳低，控制检测晶体管Mt导通，进入检测阶段T3。
采用上述方式，检测阶段T3和与其相邻的复位阶段t11和/或数据写入阶段t12之间不具有间隔，这样可以缩短前置阶段的整体时长，提高发光阶段T2的时间占比，有助于提高第一发光元件3的发光亮度，以及有助于实现高频显示。
当然，在本发明其它的可选实施方式中，如图11～13所示，图11为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，图12为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，图13为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3和与其相邻的复位阶段t11和/或数据写入阶段t12之间也可以具有第二间隔阶段t13，在第二间隔阶段t13，第一扫描信号线Scan1、第二扫描信号线Scan2和控制信号线St均提供非使能电平(高电平)。
进一步地，由于第二间隔阶段t13只作为过渡阶段，不起实际作用，因此，可以将第二间隔阶段t13的时长设置为小于复位阶段t11、数据写入阶段t12和检测阶段T3的时长，一是缩短前置阶段T1的整体时长，二是在相同的前置阶段T1的时长下，给检测时段T3分配更多时间。
在一种可行的设置方式中，参见图14～图16，检测阶段T3与复位阶段t11的时间段至少部分重叠，和/或，检测阶段T3与数据写入阶段t12的时间段至少部分重叠。
例如，如图14所示，图14为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3与复位阶段t11的时间段至少部分重叠，检测阶段T3与数据写入阶段t12不重叠。即，控制信号线St提供的使能电平(低电平)与第一扫描信号线Scan1提供的使能电平(低电平)交叠、与第二扫描信号线Scan2提供的使能电平(低电平)不交叠。
或者，如图15所示，图15为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3与数据写入阶段t12的时间段至少部分重叠，检测阶段T3与复位阶段t11不重叠。即，控制信号线St提供的使能电平(低电平)与第二扫描信号线Scan2提供的使能电平(低电平)交叠、与第一扫描信号线Scan1提供的使能电平(低电平)不交叠。
再或者，如图16所示，图16为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3与复位阶段t11的时间段至少部分重叠，还与数据写入阶段t12的时间段至少部分重叠。即，控制信号线St提供的使能电平(低电平)与第一扫描信号线Scan1提供的使能电平(低电平)和第二扫描信号线Scan2提供的使能电平(低电平)均交叠。
在上述设置方式中，检测阶段T3可以与复位阶段t11和/或数据写入阶段t12交叠，此时，前置阶段T1无需为了覆盖检测阶段T3而额外拉长时间，因而可以缩短前置阶段T2的整体时长，提高发光阶段T2的时间占比，一是有助于提高第一发光元件3的发光亮度，二是有助于实现高频显示。
进一步地，结合图14和图17，图17为本发明实施例所提供的第一子像素1的另一种结构示意图，检测模块5与控制信号线St电连接，检测模块5响应控制信号线St提供的控制信号开启，栅极复位单元7与第一扫描信号线Scan1电连接，栅极复位单元7响应第一扫描信号线Scan1提供的第一扫描信号开启。
其中，检测阶段T3与复位阶段t11重叠，控制信号线St与第一扫描信号线Scan1复用。如此设置可以节省显示面板中所设置的信号线的数量，因而可以释放更大的空间来设置更多的子像素，进一步提高显示面板的像素密度，或者是可以释放更多的透光面积增大显示面板的透过率。
或者，结合图15和图18，图18为本发明实施例所提供的第一子像素1的再一种结构示意图，检测模块5与控制信号线St电连接，检测模块5响应控制信号线St提供的控制信号开启，充电单元8与第二扫描信号线Scan2电连接，充电单元8响应第二扫描信号线Scan2提供的第二扫描信号开启。
其中，检测阶段T3与数据写入阶段t12重叠，控制信号线St与第二扫描信号线Scan2复用。如此设置同样是可以节省显示面板中所设置的信号线的数量，以进一步提高显示面板的像素密度或进一步提高显示面板的透过率。
在一种可行的实施方式中，如图19所示，图19为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，进入检测阶段T3之后，栅极复位单元7开启进入复位阶段t11，检测阶段T3结束之前，充电单元8开启进入数据写入阶段t12。
以各晶体管为P型晶体管为例，进入检测阶段T3之后，栅极复位单元7开启进入复位阶段t11，检测阶段T3结束之前，充电单元8开启进入数据写入阶段t12具体是指：控制信号线St提供的控制信号由高跳低之后，第一扫描信号线Scan1提供的第一扫描信号再开始由高跳低，控制栅极复位晶体管M1导通，进入复位阶段t11，第一扫描信号由低跳高之后，第二扫描信号线Scan2提供的第二扫描信号由高跳低，数据写入晶体管M2和补偿晶体管M3导通，进入数据写入阶段t12，最后待第二扫描信号由低跳高之后，检测信号再开始由低跳高，检测阶段T3结束。
在上述设置方式中，检测阶段T3覆盖了复位阶段t11和数据写入阶段t12，检测阶段T3的时长更大，检测模块5的采集时间更长，可使其采集的电压数据更准确。
在一种可行的实施方式中，参见图8～图13、图16和图19，可以将检测阶段T3的时长设置为大于复位阶段t11的时长以及大于数据写入阶段t12的时长，以使检测模块5具有足够的采集时间，提高采集的电压数据的准确性。
在一种可行的实施方式中，如图20所示，图20为本发明实施例所提供第一像素电路2的又一种工作时序示意图，检测阶段T3包括至少两个子阶段T31，相邻的子阶段T31之间具有第一间隔阶段T32，在子阶段T31，检测模块5开启为第一发光元件3提供驱动电流并检测第一发光元件3的第一极的电压。
在该种方式中，可以将检测阶段T3划分为多个子阶段T31，在整个检测阶段T3内对第一发光元件3的第一极的电压进行多次采集，进而根据多次采集的结果判断电压是否发生变化，若多次采集的结果相同，则说明第一发光元件3的当前温度较为稳定，后续直接根据该相同的电压获取第一发光元件3的当前温度即可，而若多次采集的结果不同，则说明第一发光元件3的当前温度在实时发生变化，此时则可以根据最后一个子阶段T31采集的电压获取第一发光元件3的当前温度，以使得获取的温度更加接近于对第一子像素1进行补偿时的温度。
进一步地，参见图20，由于第一间隔阶段T32只作为过渡阶段，不起实际作用，因此，可以将第一间隔阶段T32的时长设置为小于子阶段T31的时长，一方面可以给子阶段T31分配更多的时长，增大检测模块5的采集时间，另一方面还可以避免检测阶段T3的整体时间过长，进而避免前置阶段T1为了覆盖检测阶段T3而额外拉长时间。
此外，还需要说明的是，在本发明实施例中，不同子阶段T31的时长可以相同，以提高不同子阶段T31下检测模块5的采集时间的均一性。
在一种可行的实施方式中，结合图4和图21，图21为本发明实施例所提供的第一像素电路2的又一种工作时序示意图，显示控制模块4包括充电单元8和驱动单元6，驱动单元6包括驱动晶体管M0。
显示面板的一个数据刷新周期T_D包括S帧画面时间，S＞1，数据刷新周期T_D包括写入帧F1和保持帧F2，其中，写入帧F1包括数据写入阶段t12，保持帧F2不包括数据写入阶段t12，在数据写入阶段t12，充电单元8开启对驱动晶体管M0的栅极写入数据电压。
其中，至少部分写入帧F1包括检测阶段T3。
显示面板进行低频驱动时，为了降低闪烁现象，可以在显示面板的一个数据刷新周期T_D中划分出写入帧F1和保持帧F2，其中，写入帧F1包括数据写入阶段t12，对显示面板执行了数据刷新操作，而保持帧F2则是沿用写入帧F1写入的数据，不再重新写入数据。在该种驱动方式中，可以将检测阶段T3设置在至少部分写入帧F1中，此时可以对控制信号线St进行更加多样化的设计，例如，在一种设计中，控制信号线St与第二扫描信号线Scan2不进行复用，检测阶段T3与写入帧F1的数据写入阶段t12可以部分重叠，也可以不重叠，或者，在另一种设计中，控制信号线St可以与第二扫描信号线Scan2进行复用，此时，检测阶段T3与写入帧F1的数据写入阶段t12重叠。
进一步地，如图22所示，图22为本发明实施例所提供的第一像素电路2的又一种工作时序示意图，至少一个保持帧F2包括检测阶段T3。
当保持帧F2也包括检测阶段T3时，可以对检测模块5采集电压的频率进行灵活调控，例如可以将检测模块5采集电压的频率设置为大于数据刷新频率。示例性的，参见图22，当一个数据刷新周期T_D包括一个写入帧F1和三个保持帧F2时，假设每个数据刷新周期T_D的写入帧F1包括检测阶段T3，且每个数据刷新周期T_D中的一个保持帧F2也包括检测阶段T3时，此时可以将检测模块5采集电压的频率设置为数据刷新频率的两倍。该种方式尤其适用于数据刷新频率较低的低频驱动，通过增大检测频率，可以实时监测第一发光元件3的温度变化情况，进而对第一子像素1进行更加精确的亮度补偿。
在一种可行的实施方式中，如图23所示，图23为本发明实施例所提供的第一像素电路2的又一种工作时序示意图，显示面板具有第一模式FM和第二模式SM，第一模式FM包括第一数据刷新频率，第二模式SM包括第二数据刷新频率，第一数据刷新频率小于或等于第二数据刷新频率。
其中，检测模块5检测第一发光元件3的第一极的电压的频率大于或等于第一数据刷新频率且小于或等于第二数据刷新频率。
需要说明的是，上述第一模式FM可理解为低频驱动模式，第二模式SM可理解为高频驱动模式，其中，第二模式SM下的第二数据刷新频率可以为显示面板所具有的数据刷新频率的最大值，即，可以理解为显示面板的基频。示例性的，第一数据刷新频率为30Hz，第二数据刷新频率为240Hz，检测模块5检测第一发光元件3的第一极的电压的频率可以为30Hz、60Hz、120Hz、240Hz等。
通过将检测频率设置为大于或等于第一数据刷新频率且小于或等于第二数据刷新频率，可以避免检测频率过低，进而实现对第一发光元件3的第一极的电压的实时采集，对第一发光元件3的当前温度进行实时判断，以准确获知第一发光元件3的温度变化情况。
在一种可行的实施方式中，如图24所示，图24为本发明实施例所提供的第一像素电路2的又一种工作时序示意图，显示面板具有第一模式FM和第二模式SM，第一模式FM包括第一数据刷新频率，第二模式SM包括第二数据刷新频率，第一数据刷新频率小于或等于第二数据刷新频率。
其中，第一模式FM下检测阶段T3的时长大于第二模式SM下检测阶段T3的时长。
当第一数据刷新频率小于第二数据刷新频率时，在一种设置方式中，参见图24，第一模式FM下的一帧画面时间较长，因而前置阶段T1和发光阶段T2的时间均相对较长，此时无论是前置阶段T1包括检测阶段T3还是发光阶段T2包括检测阶段T3，都可以相应增大检测阶段T3的时长，进而提高第一模式FM下的检测准确性。
在一种可行的实施方式中，如图25所示，图25为本发明实施例所提供的第一像素电路2的又一种工作时序示意图，显示面板具有第三模式TM，第三模式TM包括第三数据刷新频率。其中，检测模块5检测第一发光元件3的第一极的电压的频率小于或等于第三数据刷新频率，此时可以通过降低检测频率来节省功耗，该方式更加适用于高频驱动。
需要说明的是，该第三模式TM可以与上述第一模式FM或第三模式TM相同。
在一种可行的实施方式中，参见图4，检测模块5包括检测晶体管Mt，检测晶体管Mt的栅极与控制信号线St电连接，检测晶体管Mt的第一极与第一发光元件3的第一极电连接，检测晶体管Mt的第二极与检测信号线Vt电连接。
在检测阶段T3，检测晶体管Mt在控制信号线St提供的使能电平的作用下导通，将第一发光元件3的第一极的电压传输至检测信号线Vt，以供后续驱动芯片利用该采集的电压判断第一发光元件3的当前温度。
进一步地，参见图4，显示控制模块4包括驱动单元6，驱动单元6包括驱动晶体管M0，检测晶体管Mt的沟道宽长比小于驱动晶体管M0的沟道宽长比，以减小检测晶体管Mt的漏电流，使其采集的小信号不失真，有助于提高检测精度。
在一种可行的实施方式中，如图26和图27所示，图26为本发明实施例所提供的显示面板的另一种结构示意图，图27为本发明实施例所提供的第二子像素11的一种结构示意图，显示面板还包括第二子像素11，第二子像素11包括第二像素电路12和第二发光元件13，其中，第二像素电路12包括显示控制模块4，该显示控制模块4与上述第一像素电路2中的显示控制模块4结构相同，此处不再赘述。
在该种设置方式中，显示面板中仅部分子像素为用于检测温度的第一子像素1，因而可减少显示面板中所需设置的检测模块5的数量，进一步提高像素密度或提高显示面板的透过率。
当显示面板同时包括第一子像素1和第二子像素11时，如图28所示，图28为本发明实施例所提供的显示面板的再一种结构示意图，显示面板包括显示区14，显示区14包括多个分区15，每个分区15包括第一子像素1和第二子像素11。在根据检测模块5检测的第一发光元件3的第一极的电压判断出第一发光元件3的当前温度时，本发明实施例还可根据分区15中第一发光元件3的当前温度对分区15中第二子像素11进行亮度补偿，具体原理将在后续内容中进行详细说明。
当然，在本发明实施例的其它可选的实施方式中，参见图3，显示面板也可以仅包括第一子像素1，此时可对显示面板中的每个子像素中发光元件的第一极的电压进行检测，进而分别判断每个发光元件的当前温度，对每个子像素进行针对性的补偿，该种结构中对子像素的补偿精度更高。
此外，还需要说明的是，本发明实施例中的显示驱动单元6不仅局限于图4所示意的电路结构，也可以为其它能够驱动发光元件发光的电路结构，例如，该显示驱动单元6也可以为图29示意的“PAM+PWM”类型的电路结构。
如图29和图30所示，图29为本发明实施例所提供的第一子像素1的又一种结构示意图，图30为本发明实施例所提供的第一像素电路2的又一种工作时序示意图，显示控制模块4包括幅值设定单元16、驱动单元17、开关单元18、第一数据信号写入单元19、第二数据信号写入单元20、脉宽控制写入单元21、关断电压写入单元22、关断电压传输控制单元23、复位单元24、发光控制单元25、第一电容C1和第二电容C2。
其中，驱动单元17包括驱动晶体管Tq。
幅值设定单元16包括第九晶体管T9，第九晶体管T9的栅极与第三扫描信号线Scan3电连接，第九晶体管T9的第一极与第一数据线Data1电连接，第九晶体管T9的第二极与驱动晶体管Tq的栅极电连接。
第一数据信号写入单元19包括第三晶体管T3，第三晶体管T3的栅极与第二扫描信号线Scan2电连接，第三晶体管T3的第一极与第二数据线Data2电连接。
关断电压写入单元22包括第六晶体管T6，第六晶体管T6的栅极与发光控制信号线Emit电连接，第六晶体管T6的第一极与关断电压信号线Voff电连接。
开关单元18包括第一晶体管T1，第一晶体管T1的第一极与第三晶体管T3的第二极、第六晶体管T6的第二极电连接。
第一数据信号写入单元19包括第四晶体管T4，第四晶体管T4的栅极与第二扫描信号线Scan2电连接，第四晶体管T4的第一极与第一晶体管T1的栅极电连接，第四晶体管T4的第二极与第一晶体管T1的第二极电连接。
脉宽控制写入单元21包括第五晶体管T5，第五晶体管T5的第一极与脉宽控制信号线Sweep电连接，第五晶体管T5的第二极通过第一电容C1与第一晶体管T1的栅极电连接。
复位单元24包括第八晶体管T8，第八晶体管T8的栅极与第一扫描信号线Scan1电连接，第八晶体管T8的第一极与复位信号线Vref电连接，第八晶体管T8的第二极与第一晶体管T1的栅极电连接。
关断电压传输控制单元23包括第七晶体管T7，第七晶体管T7的栅极与发光控制信号线Emit电连接，第七晶体管T7的第一极与第一晶体管T1的第二极电连接，第七晶体管T7的第二极与驱动晶体管Tq的栅极电连接。
发光控制单元25包括第十晶体管T10，第十晶体管T10的栅极与发光控制信号线Emit电连接，第十晶体管T10的第一极与驱动晶体管Tq的第二极电连接，第十晶体管T10的第二极与第一发光元件的第一极电连接。
第二电容C2电连接在第一固定电位信号线V1和驱动晶体管Tq的栅极之间。
第一像素电路的工作过程包括前置阶段T1和发光阶段T2，其中，前置阶段包括第一阶段t1、第二阶段t2和第三阶段t3。
在第一阶段t1，第一扫描信号线Scan1提供使能电平(低电平)，第八晶体管T8导通，将复位信号线Vref提供的复位电压传输至第一晶体管T1的栅极。
在第二阶段t2，第二扫描信号线Scan2提供使能电平(低电平)，第三晶体管T3导通，将第二数据线Data2的第二数据电压VD2传输至第一晶体管T1的第一极，第四晶体管T4同步导通，使得第一晶体管T1的第二极和栅极形成回路，第一晶体管T1的栅极电压变为VD2+Vth。
在第三阶段t3，第三扫描信号线Scan3提供使能电平(低电平)，第九晶体管T9导通，将第一数据线Data1的第一数据电压传输至驱动晶体管Tq的栅极，并存储于第二电容C2中，第二电容C2用于保持驱动晶体管Tq的栅极的电位。
在发光阶段T2，发光控制信号线Emit提供使能电平(低电平)，第十晶体管T10导通，驱动晶体管Tq将经由第一数据电压VD1和第一固定电压V1转换形成的驱动电流传输至第一发光元件的第一极，第七晶体管T7导通和第六晶体管T6导通，第六晶体管T6将关断电压信号线Voff提供的关断电压传输至第一晶体管T1的第一极。
由于第一晶体管T1的栅极与第一电容C1的一个极板连接，因此，当脉宽控制信号线Sweep提供的脉宽控制信号输入第一电容C1的另一个极板时，第一晶体管T1的栅极电压会从VD2+Vth会跳变为VD2+Vth+Va，然后从VD2+Vth+Va开始，以与脉宽控制信号的线性变化斜率相同的斜率变化，直到低于Vth，使第一晶体管T1由高阻态变为导通，使得关断电压经第一晶体管T1传输至驱动晶体管Tq的栅极，并且在关断电压作用下，驱动晶体管Tq由导通变为高阻态，停止向像素第一发光元件的第一极输出驱动电流，由此使驱动晶体管Tq的导通时长由第二数据信号和脉宽控制信号共同决定。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示面板的驱动方法，该驱动方法应用于上述显示面板，结合图3和图4，如图31所示，图31为本发明实施例所提供的驱动方法的一种流程图，该驱动方法包括：
步骤S1：在检测阶段T3控制检测模块5开启，检测第一发光元件3的第一极的电压。
步骤S2：根据检测到的第一发光元件3的第一极的电压判断第一发光元件3的当前温度。
步骤S3：根据当前温度对第一子像素1的数据电压进行补偿。
结合前述分析，本发明实施例利用了发光二极管的正向压降随温度的变化而变化的特性，通过利用检测模块5检测第一发光元件3的第一极的电压，可以根据检测到的电压准确获知第一发光元件3的正向压降，进而获知第一发光元件3的当前温度。那么后续就可以根据第一发光元件3的当前温度对第一子像素1进行亮度补偿，实现对第一子像素1的发光亮度的调控，有效降低温度变化对显示效果的影响。
在一种可行的实施方式中，如图32所示，图32为本发明实施例所提供的驱动方法的另一种流程图，步骤S2具体可以包括：
步骤S21：根据第一发光元件3的第二极的电压和检测到的第一发光元件3的第一极的电压获取第一发光元件3的正向压降。
步骤S22：在预先存储的温度-正向压降映射关系中查找与获取的正向压降对应的温度，查找出的温度为第一发光元件3的当前温度。其中，温度-正向压降之间的映射关系可以参见表1。
在利用检测模块5检测第一发光元件3的第一极的电压后，由于显示面板中的第一发光元件3的第二极接收相同的负性电源电压，因而根据第一发光元件3的第二极的电压和检测到的第一发光元件3的第一极的电压获取第一发光元件3的正向压降可计算得知第一发光元件3的正向压降，进而根据温度-正向压降映射关系可查找出与计算出的正向压降对应的温度。
在一种可行的实施方式中，步骤S3具体可以包括：在当前亮度节点对应的温度-补偿数据映射关系中查找与当前温度对应的补偿数据，并利用查找出的补偿数据对第一子像素1的数据电压进行补偿，其中，在一个亮度节点对应的温度-补偿数据映射关系中，不同灰阶电流在同一温度下对应的补偿数据相同。
在上述补偿方式中，对于一种亮度节点下的不同灰阶电流，不同灰阶电流在同一温度下对应的补偿数据相同，即，在获知第一发光元件3的当前温度后，无论第一发光元件3在当前亮度节点下接收何种灰阶电流，都采用相同的补偿数据对第一子像素1进行亮度补偿，该种方式可减少在驱动芯片中预先存储的温度-补偿数据映射关系的数量，进而减少所需存储的数据量。
或者，在另一种可行的实施方式中，如图33所示，图33为本发明实施例所提供的驱动方法的再一种流程图，步骤S3具体可以包括：
步骤S31：根据待显示帧画面的图像数据获取第一子像素1对应的灰阶电流。
步骤S32：在多个灰阶电流所对应的多个温度-补偿数据映射关系中调用出与获取到的灰阶电流对应的温度-补偿数据映射关系。
步骤S33：在调用出的温度-补偿数据映射关系中查找第一子像素1在当前温度下对应的补偿数据，并利用查找出的补偿数据对第一子像素1的数据电压进行补偿。
在上述补偿方式中，对于一种亮度节点下的不同灰阶电流，不同灰阶电流在同一温度下对应的补偿数据不同，在根据待显示帧画面的图像数据获取第一子像素1对应的灰阶电流后，可在该灰阶电流对应的温度-补偿数据映射关系中查找与该当前温度对应的补偿数据，这样对第一子像素1的补偿更加精准，补偿效果更优。
在一种可行的实施方式中，参见图26～和图28，显示面板还包括第二子像素11，第二子像素11包括第二像素电路12和第二发光元件13，第二像素电路12包括显示控制模块。显示面板包括显示区14，显示区14包括多个分区15，分区15包括第一子像素1和第二子像素11。
驱动方法还包括：根据分区15中第一发光元件3的当前温度对分区15中第二子像素11的数据电压进行补偿。
上述补偿采用了分区补偿的方式，该种方式不需要将显示面板中的全部子像素均设置为第一子像素1，也就是不需要对每一个子像素均进行温度检测，一方面可以减少显示面板中所需设置的检测模块5的数量，另一方面还可以减少数据运算量。
进一步地，根据分区15中第一发光元件3的当前温度对分区15中第二子像素11的数据电压进行补偿的过程包括：根据分区15中各第一发光元件3的当前温度计算分区15对应的平均温度；根据平均温度对第二子像素11的数据电压进行补偿。
该种方式是利用了第二发光元件13所在分区15的平均温度，对第二子像素11进行了亮度补偿，分区15的平均温度与第二发光元件13的当前温度不会相差太大，因而可以提高对第二子像素11的补偿的准确性，使其亮度的补偿程度与其实际当前温度更加匹配。
基于同一发明构思，本发明实施例还提供了一种显示装置，如图34所示，图34为本发明实施例所提供的显示装置的一种结构示意图，该显示装置包括上述显示面板100和驱动芯片200，驱动芯片200用于根据检测到的第一发光元件3的第一极的电压判断第一发光元件3的当前温度，以及根据当前温度对第一子像素1的数据电压进行补偿。
其中，显示面板100的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图34所示的显示装置仅仅为示意说明，该显示装置可以是例如手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书或电视机等任何具有显示功能的电子设备。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (29)

1.一种显示面板，其特征在于，包括第一子像素，所述第一子像素包括第一像素电路和第一发光元件，其中，所述第一像素电路包括显示控制模块和检测模块，所述显示控制模块和所述检测模块分别与所述第一发光元件的第一极电连接；
所述第一像素电路的工作过程包括检测阶段，在所述检测阶段，所述检测模块开启，检测所述第一发光元件的第一极的电压。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板的一帧画面时间内，所述第一像素电路的工作过程包括前置阶段和发光阶段；
在至少一帧画面内，所述发光阶段包括所述检测阶段，在所述检测阶段，所述显示控制模块为所述第一发光元件提供驱动电流，所述检测模块开启检测所述第一发光元件的第一极的电压。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，
所述检测阶段的时长等于所述发光阶段的时长。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板的一帧画面时间内，所述第一像素电路的工作过程包括前置阶段和发光阶段；
在至少一帧画面内，所述前置阶段包括所述检测阶段，在所述检测阶段，所述检测模块开启为所述第一发光元件提供驱动电流并检测所述第一发光元件的第一极的电压。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，
所述显示控制模块包括栅极复位单元、充电单元和驱动单元，所述驱动单元包括驱动晶体管；
所述前置阶段还包括复位阶段和位于所述复位阶段之后的数据写入阶段，在所述复位阶段，所述栅极复位单元开启对所述驱动晶体管的栅极进行复位，在所述数据写入阶段，所述充电单元开启对所述驱动晶体管的栅极写入数据电压。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，
所述检测阶段与所述复位阶段、所述数据写入阶段均不存在重叠。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，
所述检测阶段位于所述复位阶段之前，所述检测阶段结束之时，所述栅极复位单元开启进入所述复位阶段；
或者，所述检测阶段位于所述复位阶段与所述数据写入阶段之间，所述复位阶段结束之时，所述检测模块开启进入所述检测阶段，所述检测阶段结束之时，所述充电单元开启进入所述数据写入阶段；
或者，所述检测阶段位于所述数据写入阶段之后，所述数据写入阶段结束之时，所述检测模块开启进入所述检测阶段。
8.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，
所述检测阶段与所述复位阶段的时间段至少部分重叠，和/或，所述检测阶段与所述数据写入阶段的时间段至少部分重叠。
9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，
所述检测模块与控制信号线电连接，所述检测模块响应所述控制信号线提供的控制信号开启，所述栅极复位单元与第一扫描信号线电连接，所述栅极复位单元响应所述第一扫描信号线提供的第一扫描信号开启；
其中，所述检测阶段与所述复位阶段重叠，所述控制信号线与所述第一扫描信号线复用。
10.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，
所述检测模块与控制信号线电连接，所述检测模块响应所述控制信号线提供的控制信号开启，所述充电单元与第二扫描信号线电连接，所述充电单元响应所述第二扫描信号线提供的第二扫描信号开启；
其中，所述检测阶段与所述数据写入阶段重叠，所述控制信号线与所述第二扫描信号线复用。
11.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，
进入所述检测阶段之后，所述栅极复位单元开启进入所述复位阶段，所述检测阶段结束之前，所述充电单元开启进入所述数据写入阶段。
12.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，
所述检测阶段的时长大于所述复位阶段的时长，所述检测阶段的时长大于所述数据写入阶段的时长。
13.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，
所述检测阶段包括至少两个子阶段，相邻的所述子阶段之间具有第一间隔阶段，在所述子阶段，所述检测模块开启为所述第一发光元件提供所述驱动电流并检测所述第一发光元件的第一极的电压。
14.根据权利要求13所述的显示面板，其特征在于，
所述子阶段的时长大于所述第一间隔阶段的时长。
15.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示控制模块包括充电单元和驱动单元，所述驱动单元包括驱动晶体管；
所述显示面板的一个数据刷新周期包括S帧画面时间，S＞1，所述数据刷新周期包括写入帧和保持帧，其中，所述写入帧包括数据写入阶段，所述保持帧不包括所述数据写入阶段，在所述数据写入阶段，所述充电单元开启对所述驱动晶体管的栅极写入数据电压；
至少部分所述写入帧包括所述检测阶段。
16.根据权利要求15所述的显示面板，其特征在于，
至少一个所述保持帧包括所述检测阶段。
17.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板具有第一模式和第二模式，所述第一模式包括第一数据刷新频率，所述第二模式包括第二数据刷新频率，所述第一数据刷新频率小于或等于所述第二数据刷新频率；
其中，所述检测模块检测所述第一发光元件的第一极的电压的频率大于或等于所述第一数据刷新频率且小于或等于所述第二数据刷新频率。
18.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板具有第一模式和第二模式，所述第一模式包括第一数据刷新频率，所述第二模式包括第二数据刷新频率，所述第一数据刷新频率小于或等于所述第二数据刷新频率；
其中，所述第一模式下所述检测阶段的时长大于所述第二模式下所述检测阶段的时长。
19.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板具有第三模式，所述第三模式包括第三数据刷新频率；
其中，所述检测模块检测所述第一发光元件的第一极的电压的频率小于或等于所述第三数据刷新频率。
20.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述检测模块包括检测晶体管，所述检测晶体管的栅极与控制信号线电连接，所述检测晶体管的第一极与所述第一发光元件的第一极电连接，所述检测晶体管的第二极与检测信号线电连接。
21.根据权利要求20所述的显示装置，其特征在于，
所述显示控制模块包括驱动单元，所述驱动单元包括驱动晶体管，所述检测晶体管的沟道宽长比小于所述驱动晶体管的沟道宽长比。
22.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
所述显示面板还包括第二子像素，所述第二子像素包括第二像素电路和第二发光元件，其中，所述第二像素电路包括所述显示控制模块。
23.一种显示面板的驱动方法，其特征在于，应用于如权利要求1～22任一项所述的显示面板，包括：
在所述检测阶段控制所述检测模块开启，检测所述第一发光元件的第一极的电压；
根据检测到的所述第一发光元件的第一极的电压判断所述第一发光元件的当前温度；
根据所述当前温度对所述第一子像素的数据电压进行补偿。
24.根据权利要求23所述的驱动方法，其特征在于，
根据检测到的所述第一发光元件的第一极的电压判断所述第一发光元件的当前温度的过程包括：
根据所述第一发光元件的第二极的电压和检测到的所述第一发光元件的第一极的电压获取所述第一发光元件的正向压降；
在预先存储的温度-正向压降映射关系中查找与获取的所述正向压降对应的温度，查找出的所述温度为所述第一发光元件的所述当前温度。
25.根据权利要求23所述的驱动方法，其特征在于，
根据所述当前温度对所述第一子像素的所述数据电压进行补偿的过程包括：
在当前亮度节点对应的温度-补偿数据映射关系中查找与所述当前温度对应的补偿数据，并利用查找出的所述补偿数据对所述第一子像素的所述数据电压进行补偿，其中，在一个亮度节点对应的所述温度-补偿数据映射关系中，不同灰阶电流在同一温度下对应的补偿数据相同。
26.根据权利要求23所述的驱动方法，其特征在于，
根据所述当前温度对所述第一子像素的所述数据电压进行补偿的过程包括：
根据待显示帧画面的图像数据获取所述第一子像素对应的灰阶电流；
在多个灰阶电流所对应的多个温度-补偿数据映射关系中调用出与获取到的所述灰阶电流对应的所述温度-补偿数据映射关系；
在调用出的所述温度-补偿数据映射关系中查找所述第一子像素在所述当前温度下对应的补偿数据，并利用查找出的所述补偿数据对所述第一子像素的所述数据电压进行补偿。
27.根据权利要求23所述的驱动方法，其特征在于，
所述显示面板还包括第二子像素，所述第二子像素包括第二像素电路和第二发光元件，所述第二像素电路包括所述显示控制模块；
所述显示面板包括显示区，所述显示区包括多个分区，所述分区包括所述第一子像素和所述第二子像素；
所述驱动方法还包括：根据所述分区中所述第一发光元件的所述当前温度对所述分区中所述第二子像素的数据电压进行补偿。
28.根据权利要求27所述的驱动方法，其特征在于，
根据所述分区中所述第一发光元件的所述当前温度对所述分区中所述第二子像素的数据电压进行补偿的过程包括：
根据所述分区中各所述第一发光元件的所述当前温度计算所述分区对应的平均温度；
根据所述平均温度对所述第二子像素的数据电压进行补偿。
29.一种显示装置，其特征在于，包括：
如权利要求1～22任一项所述的显示面板；
驱动芯片，用于根据检测到的所述第一发光元件的第一极的电压判断所述第一发光元件的当前温度，以及根据所述当前温度对所述第一子像素的数据电压进行补偿。
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