CN116522853B - 一种数据处理方法、装置及介质 - Google Patents
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- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims abstract description 398
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 125
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 108
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 53
- 238000013461 design Methods 0.000 claims abstract description 34
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 24
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims description 18
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 12
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 11
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 11
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 19
- 238000012986 modification Methods 0.000 abstract description 12
- 230000004048 modification Effects 0.000 abstract description 12
- 238000012827 research and development Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005094 computer simulation Methods 0.000 abstract description 2
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 3
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 3
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 3
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 2
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/39—Circuit design at the physical level
- G06F30/392—Floor-planning or layout, e.g. partitioning or placement
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N10/00—Quantum computing, i.e. information processing based on quantum-mechanical phenomena
- G06N10/20—Models of quantum computing, e.g. quantum circuits or universal quantum computers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Abstract
本发明公开了一种数据处理方法、装置及介质，适用于量子计算机仿真技术领域。将仿真处理与版图构造处于一个处理程序中，无需多个设计和仿真软件之间的切换，同时，获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数；根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果，自动得到对应的新的版图数据，再根据新的版图数据进行后续的迭代仿真，直至满足预设要求输出对应的仿真结果，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
Description
技术领域
本发明涉及量子计算机仿真技术领域，特别是涉及一种数据处理方法、装置及介质。
背景技术
超导量子芯片是采用量子叠加和纠缠原理，利用超导腔频率/光子频率变化对量子位状态进行分辨探测后、编辑为量子线路集成在硅基片上，执行量子信息处理功能的新型芯片。在设计过程中，其仿真验证过程为芯片出厂之前重要的一环。
当前的仿真验证过程全程需要调试人员进行手动修改，由于超导量子芯片的设计是在不同的软件上设计，并在不同仿真软件上进行仿真工序，调试人员需要根据当前的修改参数在不同设计和仿真软件上进行切换，得到仿真结果后再根据仿真结果手动修改超导量子芯片的各核心器件的参数，再进行仿真等待结果，整个仿真验证过程给量子芯片设计带来工期上的损耗和不便，甚至影响项目研发周期。
因此，寻求一种数据处理方法是本领域技术人员亟需要解决的。
发明内容
本发明的目的是提供一种数据处理方法、装置及介质，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
为解决上述技术问题，本发明提供一种数据处理方法，包括：
获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中，所述器件参数用于表征所述超导量子芯片的各器件，所述仿真处理与所述版图数据的版图构造集成于一个处理程序；
根据所述器件参数与所述目标数据的关系确定当前仿真结果；
在所述当前仿真结果未满足预设要求时，根据所述当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回至所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至所述当前仿真结果满足所述预设要求。
一方面，获取用于表征所述超导量子芯片版图的所述版图数据，包括：
预先通过宏定义设置所述超导量子芯片版图的所述版图数据；
通过通信协议提取所述版图数据，其中，所述版图数据至少包括所述超导量子芯片下各器件的中心长度值、中心宽度值和边缘宽度值的一种或多种。
另一方面，所述根据所述器件参数与所述目标数据的关系确定当前仿真结果，包括：
判断所述器件参数是否小于所述目标数据；
若所述器件参数小于所述目标数据，则基于二分法对所述器件参数与所述目标数据进行数据处理得到所述器件参数与所述目标数据的中间数据作为所述当前仿真结果；
若所述器件参数大于或等于所述目标数据，则根据所述器件参数与所述目标数据的预设范围的关系确定所述当前仿真结果。
另一方面，在所述器件参数小于所述目标数据时，还包括：
基于牛顿迭代法对所述器件参数与所述目标数据进行数据处理得到所述器件参数与所述目标数据的逼近数据作为所述当前仿真结果。
另一方面，所述根据所述器件参数与所述目标数据的预设范围的关系确定所述当前仿真结果，包括：
获取预先存储的所述目标数据的所述预设范围；
判断所述器件参数是否处于所述目标数据的所述预设范围内；
若所述器件参数处于所述预设范围，则基于所述二分法对所述器件参数与所述目标数据进行数据处理得到所述器件参数与所述目标数据的中间数据作为所述当前仿真结果对应的仿真数据。
另一方面，在所述器件参数不小于所述目标数据，且所述器件参数超出所述目标数据的所述预设范围时，还包括：
获取所述超导量子芯片的理论数据，其中，所述理论数据大于所述目标数据，且超出所述目标数据的所述预设范围；
根据所述理论数据与所述器件参数的关系确定所述当前仿真结果。
另一方面，所述根据所述理论数据与所述器件参数的关系确定所述当前仿真结果，包括：
判断所述器件参数是否大于所述理论数据；
若是，确定所述当前仿真结果的所述仿真数据存在异常；
若否，确定所述当前仿真结果的所述仿真数据正常。
另一方面，在所述确定所述当前仿真结果的所述仿真数据存在异常之后，还包括：
输出仿真结果异常信息；
校验仿真处理之前的所述版图数据以确定所述版图数据的正确性；
在所述版图数据错误的情况下，根据预设指标修改所述超导量子芯片版图以重新获取新的版图数据，并返回至所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
另一方面，在所述确定所述当前仿真结果的所述仿真数据正常之后，还包括：
根据预设时间和小于所述理论数据且超出所述目标数据的所述预设范围对应的所述仿真数据调整所述目标数据和/或所述目标数据的所述预设范围；
将调整后的所述目标数据和/或所述目标数据的所述预设范围作为新的所述目标数据和/或所述预设范围以便于获取所述新的所述目标数据和/或所述预设范围。
另一方面，所述目标数据的调整过程，包括：
获取所述仿真数据与所述理论数据的数据差值；
基于所述二分法对所述数据差值进行数据处理以确定调整步长；
在所述仿真数据的基础上，根据所述预设时间增加一个所述调整步长以得到调整后的所述目标数据。
另一方面，所述目标数据的所述预设范围的调整过程，包括：
获取原有的所述目标数据的预设范围对应的预设长度；
根据所述预设长度与调整后的所述目标数据的关系确定调整后的所述目标数据的初始预设范围；
根据所述理论数据和所述初始预设范围确定调整后的所述目标数据对应的预设范围。
另一方面，所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数，包括：
预先设置所述版图数据与所述器件参数的映射关系；
根据所述映射关系对所述版图数据进行仿真处理得到所述器件参数。
另一方面，还包括：
在所述当前仿真结果满足所述预设要求时，结束当前仿真以确定验证无误。
另一方面，所述预设要求为所述当前仿真结果对应的当前迭代次数超出预设次数和/或所述当前仿真结果对应的器件参数未处于所述目标数据的所述预设范围，所述当前仿真结果未满足所述预设要求，包括：
获取当前仿真处理的当前迭代次数和所述目标数据的所述预设范围；
判断所述当前迭代次数是否超出所述预设次数和/或所述当前仿真结果对应的仿真数据是否处于所述预设范围；
若否，则确定所述当前仿真结果未满足所述预设要求。
另一方面，在所述预设要求为所述当前仿真结果对应的当前迭代次数超出所述预设次数时，且所述当前仿真结果满足所述预设要求之后，还包括：
获取所述当前仿真结果下的所述当前迭代次数对应的仿真数据；
判断所述仿真数据是否处于所述目标数据的所述预设范围，且所述仿真数据小于理论数据；
若是，则结束当前仿真。
另一方面，所述仿真数据超出所述目标数据的所述预设范围，或所述仿真数据大于所述理论数据时，还包括：
在获取用于表征所述超导量子芯片版图的所述版图数据的基础上，扩大所述版图数据的数据量和数据种类以得到新的所述版图数据，并返回至所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
另一方面，在确定所述当前仿真结果的所述仿真数据存在异常后，输出所述仿真结果异常信息，包括：
通过语音方式和/或显示界面输出所述仿真结果异常信息；
对应地，在输出所述仿真结果异常信息之后，还包括：
将所述仿真结果异常信息存储至日志文件以便于查看。
另一方面，还包括：
通过显示界面显示所述版图数据、所述器件参数和所述当前仿真结果。
为解决上述技术问题，本发明还提供一种数据处理装置，包括：
第一获取模块，用于获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中，所述器件参数用于表征所述超导量子芯片的各器件，所述仿真处理与所述版图数据的版图构造集成于一个处理程序；
第一确定模块，用于根据所述器件参数与所述目标数据的关系确定当前仿真结果；
第二确定模块，用于在所述当前仿真结果未满足预设要求时，根据所述当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回触发所述第一获取模块的所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至所述当前仿真结果满足所述预设要求。
为解决上述技术问题，本发明还提供一种数据处理装置，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上述所述的数据处理方法的步骤。
为解决上述技术问题，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述所述的数据处理方法的步骤。
本发明提供的一种数据处理方法，包括：获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中，器件参数用于表征超导量子芯片的各器件，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序；根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果；在当前仿真结果未满足预设要求时，根据当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至当前仿真结果满足预设要求。
本发明的有益效果在于，该方法将仿真处理与版图构造处于一个处理程序中，无需多个设计和仿真软件之间的切换，同时，根据当前迭代过程中得到的当前仿真结果，自动得到对应的新的版图数据，再根据新的版图数据进行后续的迭代仿真，直至满足预设要求输出对应的仿真结果，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
另外，本发明还提供了一种数据处理装置及介质，具有如上述数据处理方法相同的有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种数据处理方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的一种基于数据处理方法的界面显示的示意图；
图3为本发明实施例提供的一种数据处理装置的结构图；
图4为本发明实施例提供的另一种数据处理装置的结构图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护范围。
本发明的核心是提供一种数据处理方法、装置及介质，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。
需要说明的是，超导量子芯片是目前量子芯片设计的一个主流方向，超导量子芯片包括多个核心器件的设计，尤其精确的特征参数。在量子芯片的设计过程中必不可少的就是仿真验证。例如谐振腔器件的设计，以及带耦合器量子芯片设计中的可调耦合器，量子比特频率可以通过调节耦合器的电容和临界电流的频率来调节。在频率匹配电容的设计过程中，需要先以理论目标为准绳进行不断地仿真迭代。相关技术会根据仿真结果手动修改器件设计，进一步进行仿真等待仿真结果，同时会造成迭代周期较长，而且每次迭代后得到的迭代结果，工作人员都需要根据迭代结果进行手动修改器件设计的主要参数，器件设计的参数并不是仅有一种参数，是在多个设计软件中的多种参数，由于人工因素导致的修改输入参数的时间较长，甚至有可能会出现输入错误等情况，使得整个验证仿真过程较为繁琐以及工期损耗。
本发明提供的数据处理方法，适用于整个超导量子芯片的多个器件设计和仿真，也可以适用于其他芯片的设计和仿真，在此不做限定，可以根据实际情况设定即可。
图1为本发明实施例提供的一种数据处理方法的流程图，如图1所示，该方法包括：
S11：获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数；
其中，器件参数用于表征超导量子芯片的各器件，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序；
S12：根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果；
S13：判断当前仿真结果是否满足预设要求，若否，则进入步骤S14，若是，则进入步骤S15；
S14：根据当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回步骤S11；
S15：结束当前仿真以确定验证无误。
需要说明的是，步骤S11中的获取版图数据，是获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据，版图数据为超导量子芯片的画图形式或者直接通过代码实现量子芯片版图，如：通过画图实现则需要转换为代码实现。通过版图设计画出量子芯片的基本形状，本实施例中的版图数据并不是体现在表格中的数字，而是某一种图形或者代码的形式体现，例如，版图数据为一个2X2的芯片等。
目标数据为超导量子芯片的正常情况下设计的器件参数的某种阈值，本实施例对应的目标数据并不是某一个器件对应的电容参数阈值，而是划归至多个器件种类下的器件参数的总称，该器件参数可以为多个参数，也可以是多个器件下的主要参数等，在此不做限定。
对于目标数据，是根据超导量子芯片的各器件通过理论计算得到的理论数据，再通过理论数据的合理范围或者合理数据下得到的数据。例如，理论数据为60Hz，其目标数据为59Hz。在正常情况下，理论数据是超导量子芯片的各个器件在理想情况下的数据。目标数据为超导量子芯片考虑到实际加工或者实际运行时的干扰因素等可以实现的数据，以目标数据为标准进行后续的仿真数据。
在一些实施例中，获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据，包括：
预先通过宏定义设置超导量子芯片版图的版图数据；
通过通信协议提取版图数据，其中，版图数据至少包括超导量子芯片下各器件的中心长度值、中心宽度值和边缘宽度值的一种或多种。
具体地，版图设计对应的设计软件宏定义需要自动设置的参数，进而自动计算模块预先与版图设计的设计软件之间建立某种通信协议的连接，以便于后续在进行仿真过程中提取版图数据。对于版图数据，可以包括某一种芯片的中心长度值，中心宽度值，边缘宽度值等，还可以包括芯片的位置、芯片器件之间的连接关系，以及版图的形状等，例如：
#define L(x)//长度；
#define W(y)//宽度；
#define LL(z)//长度1；
#define CSYS(x)//coordinate x；
宏定义是提供的三种预处理功能的一种，该三种预处理包括：宏定义、文件包含和条件编译。宏定义就是替换，不做计算，也不做表达式求解。使用宏可以提高程序的通用性和易读性，减少不一致性，减少输入错误和便于修改。宏定义的宏可以出现在程序的任意位置，定义之后的代码都可以使用这个宏，宏常量可以直接使用，宏常量本质为字面量，宏定义就是用一个标识符表示一个字符串。
对应地，通信协议在此不做限定，可以与目前的仿真软件和设计软件相同，也可以不同，通信协议的种类也不限定，可以根据实际情况选用即可。需要说明的是，通过通信协议提取版图数据仅是一种方式，还可以通过通信协议修改和接收输入数据等，不作为限定。
将版图数据进行仿真处理得到器件参数，可以理解的是，版图数据表征超导量子芯片的芯片形状，进行仿真处理过程中可以得到芯片下各个器件的具体参数值，例如带耦合器量子芯片的可调耦合器，量子比特频率通过调节耦合器的电容和临界电流的频率。
在本实施例中，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序，可以说明的是，目前的仿真处理与版图设计对应的软件各自独立，需要在当前迭代过程中得到的迭代结果需要在多个版图设计软件和仿真软件之间进行切换，本实施例中为了避免多个软件之间的切换导致的当前迭代过程中的预先输入参数的时间较长问题，将仿真处理的仿真软件与版图数据的版图设计软件集成于一个处理程序中。
根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果。具体地，通过器件参数与目标数据的对比确定当前仿真结果，具体的对比过程可以通过迭代规则，以确定当前仿真结果的具体值，可以理解的是，当前仿真结果除了仿真数据之外，还有针对于当前仿真处理的异常和正常之分，均作为当前仿真结果。关于迭代规则，可以通过迭代器自定义循环规则，通过迭代器找到想要的结果。根据不同的芯片种类设定的迭代规则也不同，结合上述的耦合器设计，其对应频率进行迭代，对于发热芯片，可以通过温度进行迭代，如，施加载荷进行热仿真分析计算以确定仿真结果等。还可以通过二分法迭代找到适合当前的仿真结果。在此不做限定，可以根据实际情况涉及到具体的器件以及器件参数进行对应的迭代内容。
在得到当前迭代下的当前仿真结果时，判断当前仿真结果是否满足最后的仿真效果，需要设置预设要求，例如该预设要求为当前仿真结果处于目标数据对应的预设范围等，只要没有满足该预设要求，则继续进行迭代，并根据当前仿真结果得到当前仿真器件参数，需要说明的是，当前仿真器件参数是基于当前仿真结果得到的，与器件参数的具体值不同，是将要根据当前仿真器件参数执行下一个迭代过程。
根据当前仿真结果得到对应的新的版图数据，可以理解的是，仿真结果与版图数据之间存在某种映射关系，该映射关系可以是通过人为经验设置的映射表格，也可以是某种计算方法得到的映射关系。在得到新的版图数据后，返回至步骤S11，以进行仿真开启下一轮的迭代，直至当前仿真结果满足预设要求为止。需要说明的是，在预设要求为当前仿真结果处于目标数据对应的预设范围时，其迭代次数不受限制，直至满足当前的预设要求即可。
若预设要求为有关迭代次数的设置时，其限定了迭代次数，无论在当前仿真结果是否为逼近目标数据的最优值，都会根据迭代次数确定当前的仿真结果。对于预设要求可以是上述两个实施例单独设置，也可以合并设置，故，对于预设要求不做限定，根据实际情况设定即可，例如针对某种器件对应的仿真结果不需要较为精准时，可以规定迭代次数。
在一些实施例中，在当前仿真结果满足预设要求时，结束当前仿真以确定验证无误。
可以理解的是，在满足预设要求时，则在当前迭代过程中结束迭代，直接输出当前仿真结果，以确定当前迭代次数输入的版图数据较优，验证无误。
本发明实施例提供的一种数据处理方法，包括：获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中器件参数用于表征超导量子芯片的各器件，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序；根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果；在当前仿真结果未满足预设要求时，根据当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至当前仿真结果满足预设要求。该方法将仿真处理与版图构造处于一个处理程序中，无需多个设计和仿真软件之间的切换，同时，根据当前迭代过程中得到的当前仿真结果，自动得到对应的新的版图数据，再根据新的版图数据进行后续的迭代仿真，直至满足预设要求输出对应的仿真结果，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
在上述实施例的基础上，在一些实施例中，步骤S12中的根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果，包括：
判断器件参数是否小于目标数据；
若器件参数小于目标数据，则基于二分法对器件参数与目标数据进行数据处理得到器件参数与目标数据的中间数据作为当前仿真结果；
若器件参数大于或等于目标数据，则根据器件参数与目标数据的预设范围的关系确定当前仿真结果。
需要说明的是，在进行迭代规则过程中，需要先判断器件参数与目标数据的大小关系，在器件参数小于目标数据时，基于二分法取得器件参数与目标数据之间的中间数据作为当前仿真结果。中间数据的数据处理，可以取得两种数据的中间值，也可以利用某种计算公式进行二分法的处理得到中间数据，具体根据实际情况设定即可。
在器件参数大于或者目标数据时，由于目标数据是正常情况下，考虑干扰因素下存在的数据，这里的目标数据为一个具体值，其目标数据的预设范围是一种范围值，因此，需要根据器件参数与目标数据的预设范围的关系确定当前仿真结果。
在一些实施例中，在器件参数小于目标数据时，还包括：
基于牛顿迭代法对器件参数与目标数据进行数据处理得到器件参数与目标数据的逼近数据作为当前仿真结果。
具体地，二分法是一个快速求根的方法，牛顿迭代法相对于二分法来说，迭代逼近的速度更快，对于何时采用牛顿迭代法，是基于芯片器件的多个因素影响，呈非线性正比关系的情况下使用。其实现方法可以根据器件参数与目标数据的关系，找到某一个器件参数对应的点，在该点处求导得到对应的斜率，若斜率不为0，则可以找到该斜率下与x轴的交点，将交点作为逼近数据，也就是当前当真数据。对于器件参数和目标数据的关系，在此不做限定，可以预先建立某种关系等。
对于本发明中的二分法求得的仿真结果的实施例，也可以通过牛顿迭代法进行获取，不做限定。例如：超导谐振器的频率与尺寸基本呈线性正比，比特电容、耦合电容的频率除了与器件本身的尺寸有关系，还受周边环境的寄生电容等诸多因素影响，在呈非线性正比关系下可以使用牛顿迭代法加速收敛，进行版图参数的迭代。在一些实施例中，根据器件参数与目标数据的预设范围的关系确定当前仿真结果，包括：
获取预先存储的目标数据的预设范围；
判断器件参数是否处于目标数据的预设范围；
若器件参数处于预设范围，则基于二分法对器件参数与目标数据进行数据处理得到器件参数与目标数据的中间数据作为当前仿真结果对应的仿真数据。
具体地，还有一种数据是理论数据，其理论数据的数据值远远大于目标数据的数据值，在器件参数大于目标数据的情况下，可以分为两种情况，一种是大于目标数据且小于理论数据，一种是大于理论数据，因此，需要判断器件参数是否处于目标数据的预设范围内，在大于理论数据的情况下其输入参数存在故障，需要进行后续的手动调整方式。
因此，在器件参数不小于目标数据的情况下，对于器件参数与目标数据的差距如何定义大小，则需要获取目标数据的预设范围，可以理解的是，目标数据的预设范围可以是以目标数据作为最小的临界值，向下减少，例如目标数据为59Hz，其预设范围为（59Hz，59.5Hz），也可以是以目标数据作为中间值，处于该预设范围的中间值，如（58.5Hz，59.5Hz），在此不限定，可以根据实际情况设定即可。若处于预设范围，可以通过二分法确定中间数据，对于二分法上段的实施例已经详细赘述，可参考。
另外，在一些实施例中，若器件参数处于预设范围内，则可以直接输出当前的仿真结果。
在一些实施例中，在器件参数不小于目标数据，且器件参数超出目标数据的预设范围时，还包括：
获取超导量子芯片的理论数据，其中理论数据大于目标数据，且超出目标数据的预设范围；
根据理论数据与器件参数的关系确定当前仿真结果。
具体地，在器件参数超出目标数据的预设范围内，需要比较理论数据与器件参数的关系以确定其最终的当前仿真结果。若器件参数大于理论数据，则说明器件参数均大于在任何理想状态下的理论数据，则说明当前的器件参数有问题。作为一种实施例，根据理论数据与器件参数的关系确定当前仿真结果，包括：
判断器件参数是否大于理论数据；
若是，确定当前仿真结果的仿真数据存在异常；
若否，确定当前仿真结果的仿真数据正常。
具体地，在器件参数大于或者等于目标数据时，同时器件参数超出目标数据的预设范围，说明当前器件参数存在两种情况，一种是大于理论数据，一种是大于目标数据的预设范围的最大临界值，且小于理论数据。
在一些实施例中，在确定当前仿真结果的仿真数据存在异常之后，还包括：
输出仿真结果异常信息；
校验仿真处理之前的版图数据以确定版图数据的正确性；
在版图数据错误的情况下，根据预设指标修改超导量子芯片版图以重新获取新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
可以理解的是，对于第一种情况，说明当前的器件参数还要比理想情况下的数据参数较大，则说明当前的仿真数据存在异常。便于工作人员查看和知晓，需要输出仿真结果异常信息。同时还要检验其版图数据是否正确，以便于从根部排除，若版图数据错误，其对应的数据相差过大，则需要根据预设指标修改超导量子芯片的版图设计，重新设计该超导量子芯片以获取新的版图数据，进而对新的版图数据进行仿真处理并重新进行仿真校验。
对应地预设指标，可以是在原有的基础上允许修改的数据粒度以修改芯片设计的数据，也可以根据用户需求或者某种场景设定预设指标，在此不做限定，可以根据实际情况设定即可。
对于第二种情况，在一些实施例中，若器件参数一直超出目标数据的预设范围但是小于理论数据，可能存在芯片对应的目标值设置的较小，需要对目标数据和/或目标数据对应的预设范围进行调整。在一些实施例中，在确定当前仿真结果的仿真数据正常之后，还包括：
根据预设时间和小于理论数据且超出目标数据的预设范围对应的仿真数据调整目标数据和/或目标数据的预设范围；
将调整后的目标数据和/或目标数据的预设范围作为新的目标数据和/或预设范围以便于获取新的目标数据和/或预设范围。
需要说明的是，调整目标数据和/或预设范围，并不是只要出现这样的情况下就调整，而是在一定时间内，且仿真数据一直处于该情况下，则进行调整。因此，预设时间可以用于一定的仿真周期，例如，三个月一次等，根据预设时间和处于上述这样的情况下（小于理论数据且超出目标数据的预设范围）对应的仿真数据进行调整。
再将调整后的目标数据和/或目标数据的预设范围作为新的目标数据和/或预设范围以便于后续的仿真结果输出。
需要说明的是，目标数据和目标数据的预设范围调整过程可以相同，也可以不同，或者在调整目标数据的基础上增加相同的值和减少相同的值作为该预设范围的设定，在此不限定。
在一些实施例中，目标数据的调整过程，包括：
获取仿真数据与理论数据的数据差值；
基于二分法对数据差值进行数据处理以确定调整步长；
在仿真数据的基础上，根据预设时间增加一个调整步长以得到调整后的目标数据。
具体地，目标数据为一个具体值，获取仿真数据和理论数据的数据差值，为了获取调整的步长，其可以通过二分法的法则对数据差值进行处理确定。也可以通过其他方法确定调整步长，在此不限定。
对于二分法法则调整，主要考虑当前仿真数据已经超出目标数据，后续调整的目标数据会比当前仿真数据的数据要大，故在当前仿真数据与理论数据之间取中间数据作为目标数据。故将数据差值进行平分以确定调整步长，并在当前仿真数据的基础上，再根据预设时间增加一个调整步长可以确定调整后的目标数据。
在一些实施例中，目标数据的预设范围的调整过程，包括：
获取原有的目标数据的预设范围对应的预设长度；
根据预设长度与调整后的目标数据的关系确定调整后的目标数据的初始预设范围；
根据理论数据和初始预设范围确定调整后的目标数据对应的预设范围。
需要说明的是，本实施例中的预设范围的调整和调整后的目标数据有关，故在原有目标数据的调整基础上进行预设范围的调整。先获取原有的目标数据的预设范围对应的预设长度，其预设长度为目标数据的具体值与预设范围的最大临界值和最小临界值的差值。
若将调整后的目标数据再依据该预设长度，得到的预设范围可能会超出理论数据，这样的情况下，若后续的仿真结果对应的仿真数据超出理论数据，但出于当前的预设范围，则较为矛盾，故在根据预设长度得到初始预设范围，再根据初始预设范围与理论数据的关系确定最终的调整目标数据对应的预设范围，具体地，若理论数据处于初始预设范围内，则将最终的预设范围的临界最大值设为理论数据。若理论数据未处于初始预设范围内，且初始预设范围的临界值小于理论数据，则确定初始预设范围为最终的预设范围。
本实施例提供的根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果，以及在器件参数大于或者等于目标数据的情况下对应的情况分析过程，实现了仿真处理过程的自动计算，以及考虑到不同条件下确定的当前仿真结果，使得确定过程多样化，得到的仿真结果较为权威性。
在上述实施例的基础上，在一些实施例中，步骤S11中的将版图数据进行仿真处理得到器件参数，包括：
预先设置版图数据与器件参数的映射关系；
根据映射关系对版图数据进行仿真处理得到器件参数。
具体地，预先设置版图数据与器件参数的映射关系，本实施例中的映射关系可以通过人为经验设置的映射表格，版图数据中对应的芯片形状、长度、宽度、边缘宽度等值与器件参数的多种参数形成的映射信息。还可以通过某种计算方式确定对应的映射，在此不做限定，可以根据实际情况设定即可。
再根据映射关系对版图数据进行仿真处理得到器件参数，对应地，仿真处理是基于芯片的版图数据设计通过数字仿真过程可以得到相应芯片内部的各个核心器件的器件参数。
本实施例提供的将版图数据进行仿真处理得到器件参数，通过映射关系可以实现将版图数据直接仿真得到器件参数，实现了版图数据与器件参数之间的转换过程。
在一些实施例中，预设要求可以设定迭代次数和/或器件参数与预设范围的关系，因此，预设要求为当前仿真结果对应的当前迭代次数超出预设次数和/或当前仿真结果对应的器件参数未处于目标数据的预设范围，当前仿真结果未满足预设要求，包括：
获取当前仿真处理的当前迭代次数和目标数据的预设范围；
判断当前迭代次数是否超出预设次数和/或当前仿真结果对应的仿真数据是否处于预设范围；
若否，则确定当前仿真结果未满足预设要求。
具体地，预设要求可以仅针对预设次数，也可以针对器件参数与目标数据的预设范围，还可以针对两者的结果设定。若当前迭代次数未超出预设次数和/或当前仿真结果对应的仿真数据未处于预设范围，则确定当前仿真结果未满足预设要求。
在一些实施例中，在预设要求为当前仿真结果对应的当前迭代次数超出预设次数时，且当前仿真结果满足预设要求之后，还包括：
获取当前仿真结果下的当前迭代次数对应的仿真数据；
判断仿真数据是否处于目标数据的预设范围，且仿真数据小于理论数据；
若是，则结束当前仿真。
具体地，在预设要求仅为迭代次数的限定时，且当前仿真结果满足预设要求之后，对于进一步的限定，若对于仿真处理的结果较为宽松，则当前迭代次数超出预设次数后，直接结束当前仿真。若对于仿真处理的结果比较严格，还需要再一次判断仿真数据是否处于预设范围，同时小于理论数据，若是，则结束，若否，则需要记录当前的仿真参数以便于工作人员后续的处理。
在一些实施例中，仿真数据超出目标数据的预设范围，或仿真数据大于理论数据时，还包括：
在获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据的基础上，扩大版图数据的数据量和数据种类以得到新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
具体地，在仿真数据超出预设范围或者大于理论数据时，说明当前仿真数据对应的版图数据可能存在误差，因此，需要扩大版图数据的数据种类和数据量，再次进行仿真处理以确定其版图数据的权威性。
对于版图数据，其数据种类可能当前仿真处理时仅用到了一类或者两类，故再次仿真时，需要扩大大于当前数据种类的一类或者两类的数据，其数据量会较于当前的数据量多，再次得到新的版图数据。
本实施例提供的在关于预设要求以及满足预设要求后的处理过程，通过不同的场景增加对应的仿真处理过程，以实现处理过程的多样性。
在一些实施例中，在确定当前仿真结果的仿真数据存在异常后，输出仿真结果异常信息，包括：
通过语音方式和/或显示界面输出仿真结果异常信息；
对应地，在输出仿真结果异常信息之后，还包括：
将仿真结果异常信息存储至日志文件以便于查看。
具体地，输出仿真结果异常信息，可以通过语言形式和/或显示界面显示，以提醒用户当前的结果异常。对于提醒方式，还可以为其他方式提醒，例如指示灯的闪烁，或者显示界面的弹窗形式等，在此不做限定。
在一些实施例中，在输出仿真结果异常信息后，将该异常信息存储至日志文件以便工作人员查看并记录。
本实施例提供的提醒方式以及存储过程，提高用户的体验过程，方便用户及时查收以及后续的仿真处理的修改等。
在一些实施例中，还包括：
通过显示界面显示版图数据、器件参数和当前仿真结果。
具体地，在版图数据、器件参数与当前仿真结果得到后，为了方便工作人员得知，以及后续的其他操作，需要通过显示界面进行显示。显示界面可以为基于跨平台的C++开发库的界面显示，也可以通过其他界面显示，在此不做限定，底层仿真软件工作台参数化设置。
图2为本发明实施例提供的一种基于数据处理方法的界面显示的示意图，如图2所示，数据处理方法的界面显示包括三种模块，分别是版图设计模块1、自动计算模块2和仿真分析模块3；另外，迭代规则采用二分法，选定目标值，以及当前已经运行的次数，版图参数根据当前何种器件的设计，对应的版图参数设置为长度和长度1等，仿真参数为仿真处理结果对应的仿真数据。
例如：以超导量子芯片的可调耦合器设计为例，首先根据理论计算得出所需频率值的理论数据为60Hz，通过版图设计画出量子芯片基本形装。量子芯片版图设计完成后，打开自动化功能，基于自动化设计仿真模板进行设置，迭代规则选择二分法，目标值设为59Hz，运行次数为自动增加计算，不限次数。版图参数只提取中心长度、中心宽度、边缘宽度1、边缘宽度2、边缘宽度3等几何参数，以59Hz为阈值，对读取的仿真结果参数进行计算。
如果读取的仿真结果不符合目标值，则根据二分法计算后的版图参数继续进行仿真迭代，直到无限逼近目标值59Hz，输出所有参数到自动计算功能模块的界面。
本发明实施例提供的显示过程，通过自动化显示自动化界面，在版图参数模块中设置需自动修改参数。在仿真参数模块中，接收仿真结果。在迭代规则中选择迭代规则或自主设计迭代计算方法。
上述详细描述了数据处理方法对应的各个实施例，在此基础上，本发明还公开与上述方法对应的数据处理装置，图3为本发明实施例提供的一种数据处理装置的结构图。如图3所示，数据处理装置包括：
第一获取模块11，用于获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中，器件参数用于表征超导量子芯片的各器件，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序；
第一确定模块12，用于根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果；
第二确定模块13，用于在当前仿真结果未满足预设要求时，根据当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回触发第一获取模块11的将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至当前仿真结果满足预设要求。
在一些实施例中，第一获取模块包括：
设置模块，用于预先通过宏定义设置超导量子芯片版图的版图数据；
提取模块，用于通过通信协议提取版图数据，其中，版图数据至少包括超导量子芯片下各器件的中心长度值、中心宽度值和边缘宽度值的一种或多种。
在一些实施例中，第一确定模块包括：
第一判断模块，用于判断器件参数是否小于目标数据，若是，则触发第一数据处理模块，若否，则触发第三确定模块；
第一数据处理模块，用于基于二分法对器件参数与目标数据进行数据处理得到器件参数与目标数据的中间数据作为当前仿真结果；
第三确定模块，用于根据器件参数与目标数据的预设范围的关系确定当前仿真结果。
在一些实施例中，在器件参数小于目标数据时，还包括：
第二数据处理模块，用于基于牛顿迭代法对器件参数与目标数据进行数据处理得到器件参数与目标数据的逼近数据作为当前仿真结果。
在一些实施例中，第三确定模块包括：
第二获取模块，用于获取预先存储的目标数据的预设范围；
第二判断模块，用于判断器件参数是否处于目标数据的预设范围内，若是，则触发第三数据处理模块；
第三数据处理模块，用于基于二分法对器件参数与目标数据进行数据处理得到器件参数与目标数据的中间数据作为当前仿真结果对应的仿真数据。
在一些实施例中，第一判断模块中若否的情况下，且在第二判断模块中器件参数超出目标数据的预设范围时，还包括：
第三获取模块，用于获取超导量子芯片的理论数据，其中理论数据大于目标数据，且超出目标数据的预设范围；
第四确定模块，用于根据理论数据与器件参数的关系确定当前仿真结果。
在一些实施例中，第四确定模块，包括：
第三判断模块，用于判断器件参数是否大于理论数据，若是，则触发第五确定模块，若否，则触发第六确定模块；
第五确定模块，用于确定当前仿真结果的仿真数据存在异常；
第六确定模块，用于确定当前仿真结果的仿真数据正常。
在一些实施例中，在第五确定模块之后，还包括：
第一输出模块，用于输出仿真结果异常信息；
校验模块，用于校验仿真处理之前的版图数据以确定版图数据的正确性；
第四获取模块，用于在版图数据错误的情况下，根据预设指标修改超导量子芯片版图以重新获取新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
在一些实施例中，在第六确定模块之后，还包括：
第一调整模块，用于根据预设时间和小于理论数据且超出目标数据的预设范围对应的仿真数据调整目标数据和/或目标数据的预设范围；
第一作为模块，用于将调整后的目标数据和/或目标数据的预设范围作为新的目标数据和/或预设范围以进行获取。
在一些实施例中，第一调整模块的目标数据调整过程，包括：
第五获取模块，用于获取仿真数据与理论数据的数据差值；
第七确定模块，用于基于二分法对数据差值进行数据处理以确定调整步长；
第一得到模块，用于在仿真数据的基础上，根据预设时间增加一个调整步长以得到调整后的目标数据。
在一些实施例中，第一调整模块的目标数据的预设范围的调整过程，包括：
第六获取模块，用于获取原有的目标数据的预设范围对应的预设长度；
第八确定模块，用于根据预设长度与调整后的目标数据的关系确定调整后的目标数据的初始预设范围；
第九确定模块，用于根据理论数据和初始预设范围确定调整后的目标数据对应的预设范围。
在一些实施例中，第一获取模块，包括：
预先设置模块，用于预先设置版图数据与器件参数的映射关系；
仿真处理模块，用于根据映射关系对版图信息进行仿真处理得到器件参数。
在一些实施例中，还包括：
第十确定模块，用于在当前仿真结果满足预设要求时，结束当前仿真以确定验证无误。
在一些实施例中，第二确定模块中的预设要求为当前仿真结果对应的当前迭代次数超出预设次数和/或当前仿真结果对应的器件参数未处于目标数据的预设范围，当前仿真结果未满足预设要求，包括：
第七获取模块，用于获取当前仿真处理的当前迭代次数和目标数据的预设范围；
第四判断模块，用于判断当前迭代次数是否超出预设次数和/或当前仿真结果对应的仿真数据是否处于预设范围，若是，则触发第十一确定模块；
第十一确定模块，用于确定当前仿真结果未满足预设要求。
在一些实施例中，第二确定模块中的预设要求为当前仿真结果对应的当前迭代次数超出预设次数时，且当前仿真结果满足预设要求之后，还包括：
第八获取模块，用于获取当前仿真结果下的当前迭代次数对应的仿真数据；
第五判断模块，用于判断仿真数据是否处于目标数据的预设范围，且仿真数据小于理论数据，若是，则触发结束模块；
结束模块，用于结束当前仿真。
在一些实施例中，第四判断模块否的情况下，还包括：
扩大模块，用于在获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据的基础上，扩大版图数据的数据量和数据种类以得到新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
在一些实施例中，第一输出模块包括：
第二输出模块，用于通过语音方式和/或显示界面输出仿真结果异常信息；
对应地，在第一输出模块之后，还包括：
存储模块，用于将仿真结果异常信息存储至日志文件以便于查看。
在一些实施例中，还包括：
显示模块，用于通过显示界面显示版图数据、器件参数和当前仿真结果。
由于装置部分的实施例与上述的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参照上述方法部分的实施例描述，在此不再赘述。
本发明提供的一种数据处理装置，包括：获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中器件参数用于表征超导量子芯片的各器件，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序；根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果；在当前仿真结果未满足预设要求时，根据当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至当前仿真结果满足预设要求。该装置将仿真处理与版图构造处于一个处理程序中，无需多个设计和仿真软件之间的切换，同时，根据当前迭代过程中得到的当前仿真结果，自动得到对应的新的版图数据，再根据新的版图数据进行后续的迭代仿真，直至满足预设要求输出对应的仿真结果，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
图4为本发明实施例提供的另一种数据处理装置的结构图，如图4所示，该装置包括：
存储器21，用于存储计算机程序；
处理器22，用于执行计算机程序时实现数据处理方法的步骤。
本实施例提供的数据处理装置可以包括但不限于平板电脑、笔记本电脑或者台式电脑等。
其中，处理器22可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器22可以采用数字信号处理器（Digital Signal Processor，DSP）、现场可编程门阵列（Field－Programmable Gate Array，FPGA）、可编程逻辑阵列（Programmable LogicArray，PLA）中的至少一种硬件形式来实现。处理器22也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称中央处理器（CentralProcessing Unit，CPU）；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器22可以集成有图像处理器（Graphics Processing Unit，GPU），GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器22还可以包括人工智能（Artificial Intelligence，AI）处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。
存储器21可以包括一个或多个计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以是非暂态的。存储器21还可包括高速随机存取存储器，以及非易失性存储器，比如一个或多个磁盘存储设备、闪存存储设备。本实施例中，存储器21至少用于存储以下计算机程序211，其中，该计算机程序被处理器22加载并执行之后，能够实现前述任一实施例公开的数据处理方法的相关步骤。另外，存储器21所存储的资源还可以包括操作系统212和数据213等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。其中，操作系统212可以包括Windows、Unix、Linux等。数据213可以包括但不限于数据处理方法所涉及到的数据等等。
在一些实施例中，数据处理装置还可包括有显示屏23、输入输出接口24、通信接口25、电源26以及通信总线27。
领域技术人员可以理解，图4中示出的结构并不构成对数据处理装置的限定，可以包括比图示更多或更少的组件。
处理器22通过调用存储于存储器21中的指令以实现上述任一实施例所提供的数据处理方法。
本发明提供的一种数据处理装置，包括：获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中器件参数用于表征超导量子芯片的各器件，仿真处理与版图数据的版图构造集成于一个处理程序；根据器件参数与目标数据的关系确定当前仿真结果；在当前仿真结果未满足预设要求时，根据当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回至将版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至当前仿真结果满足预设要求。该方法将仿真处理与版图构造处于一个处理程序中，无需多个设计和仿真软件之间的切换，同时，根据当前迭代过程中得到的当前仿真结果，自动得到对应的新的版图数据，再根据新的版图数据进行后续的迭代仿真，直至满足预设要求输出对应的仿真结果，整个验证仿真过程无需人为手动修改，实现迭代过程的自动化，减少人为计算的时间成本，节省研发成本。
进一步的，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器22执行时实现如上述数据处理方法的步骤。
可以理解的是，如果上述实施例中的方法以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，执行本发明各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（Read-Only Memory，ROM）、随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
对于本发明提供的一种计算机可读存储介质的介绍请参照上述方法实施例，本发明在此不再赘述，其具有上述数据处理方法相同的有益效果。
以上对本发明所提供的一种数据处理方法、数据处理装置及介质进行了详细介绍。说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
Claims (21)
1.一种数据处理方法，其特征在于，包括：
获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中，所述器件参数用于表征所述超导量子芯片的各器件，所述仿真处理与所述版图数据的版图构造集成于一个处理程序，所述仿真处理是基于所述超导量子芯片的版图数据设计通过数字仿真过程得到相应的所述超导量子芯片内部的各个核心器件的器件参数，所述版图数据通过所述超导量子芯片的画图形式或通过代码形式获取；
根据所述器件参数与所述目标数据的关系确定当前仿真结果；
在所述当前仿真结果未满足预设要求时，根据所述当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回至所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至所述当前仿真结果满足所述预设要求。
2.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，获取用于表征所述超导量子芯片版图的所述版图数据，包括：
预先通过宏定义设置所述超导量子芯片版图的所述版图数据；
通过通信协议提取所述版图数据，其中，所述版图数据至少包括所述超导量子芯片下各器件的中心长度值、中心宽度值和边缘宽度值的一种或多种。
3.根据权利要求2所述的数据处理方法，其特征在于，所述根据所述器件参数与所述目标数据的关系确定当前仿真结果，包括：
判断所述器件参数是否小于所述目标数据；
若所述器件参数小于所述目标数据，则基于二分法对所述器件参数与所述目标数据进行数据处理得到所述器件参数与所述目标数据的中间数据作为所述当前仿真结果；
若所述器件参数大于或等于所述目标数据，则根据所述器件参数与所述目标数据的预设范围的关系确定所述当前仿真结果。
4.根据权利要求2所述的数据处理方法，其特征在于，在所述器件参数小于所述目标数据时，还包括：
基于牛顿迭代法对所述器件参数与所述目标数据进行数据处理得到所述器件参数与所述目标数据的逼近数据作为所述当前仿真结果。
5.根据权利要求3所述的数据处理方法，其特征在于，所述根据所述器件参数与所述目标数据的预设范围的关系确定所述当前仿真结果，包括：
获取预先存储的所述目标数据的所述预设范围；
判断所述器件参数是否处于所述目标数据的所述预设范围内；
若所述器件参数处于所述预设范围，则基于所述二分法对所述器件参数与所述目标数据进行数据处理得到所述器件参数与所述目标数据的中间数据作为所述当前仿真结果对应的仿真数据。
6.根据权利要求5所述的数据处理方法，其特征在于，在所述器件参数不小于所述目标数据，且所述器件参数超出所述目标数据的所述预设范围时，还包括：
获取所述超导量子芯片的理论数据，其中，所述理论数据大于所述目标数据，且超出所述目标数据的所述预设范围；
根据所述理论数据与所述器件参数的关系确定所述当前仿真结果。
7.根据权利要求6所述的数据处理方法，其特征在于，所述根据所述理论数据与所述器件参数的关系确定所述当前仿真结果，包括：
判断所述器件参数是否大于所述理论数据；
若是，确定所述当前仿真结果的所述仿真数据存在异常；
若否，确定所述当前仿真结果的所述仿真数据正常。
8.根据权利要求7所述的数据处理方法，其特征在于，在所述确定所述当前仿真结果的所述仿真数据存在异常之后，还包括：
输出仿真结果异常信息；
校验仿真处理之前的所述版图数据以确定所述版图数据的正确性；
在所述版图数据错误的情况下，根据预设指标修改所述超导量子芯片版图以重新获取新的版图数据，并返回至所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
9.根据权利要求7所述的数据处理方法，其特征在于，在所述确定所述当前仿真结果的所述仿真数据正常之后，还包括：
根据预设时间和小于所述理论数据且超出所述目标数据的所述预设范围对应的所述仿真数据调整所述目标数据和/或所述目标数据的所述预设范围；
将调整后的所述目标数据和/或所述目标数据的所述预设范围作为新的所述目标数据和/或所述预设范围以便于获取所述新的所述目标数据和/或所述预设范围。
10.根据权利要求9所述的数据处理方法，其特征在于，所述目标数据的调整过程，包括：
获取所述仿真数据与所述理论数据的数据差值；
基于所述二分法对所述数据差值进行数据处理以确定调整步长；
在所述仿真数据的基础上，根据所述预设时间增加一个所述调整步长以得到调整后的所述目标数据。
11.根据权利要求10所述的数据处理方法，其特征在于，所述目标数据的所述预设范围的调整过程，包括：
获取原有的所述目标数据的预设范围对应的预设长度；
根据所述预设长度与调整后的所述目标数据的关系确定调整后的所述目标数据的初始预设范围；
根据所述理论数据和所述初始预设范围确定调整后的所述目标数据对应的预设范围。
12.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数，包括：
预先设置所述版图数据与所述器件参数的映射关系；
根据所述映射关系对所述版图数据进行仿真处理得到所述器件参数。
13.根据权利要求1所述的数据处理方法，其特征在于，还包括：
在所述当前仿真结果满足所述预设要求时，结束当前仿真以确定验证无误。
14.根据权利要求3所述的数据处理方法，其特征在于，所述预设要求为所述当前仿真结果对应的当前迭代次数超出预设次数和/或所述当前仿真结果对应的器件参数未处于所述目标数据的所述预设范围，所述当前仿真结果未满足所述预设要求，包括：
获取当前仿真处理的当前迭代次数和所述目标数据的所述预设范围；
判断所述当前迭代次数是否超出所述预设次数和/或所述当前仿真结果对应的仿真数据是否处于所述预设范围；
若否，则确定所述当前仿真结果未满足所述预设要求。
15.根据权利要求14所述的数据处理方法，其特征在于，在所述预设要求为所述当前仿真结果对应的当前迭代次数超出所述预设次数时，且所述当前仿真结果满足所述预设要求之后，还包括：
获取所述当前仿真结果下的所述当前迭代次数对应的仿真数据；
判断所述仿真数据是否处于所述目标数据的所述预设范围，且所述仿真数据小于理论数据；
若是，则结束当前仿真。
16.根据权利要求15所述的数据处理方法，其特征在于，所述仿真数据超出所述目标数据的所述预设范围，或所述仿真数据大于所述理论数据时，还包括：
在获取用于表征所述超导量子芯片版图的所述版图数据的基础上，扩大所述版图数据的数据量和数据种类以得到新的所述版图数据，并返回至所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤。
17.根据权利要求8所述的数据处理方法，其特征在于，在确定所述当前仿真结果的所述仿真数据存在异常后，输出所述仿真结果异常信息，包括：
通过语音方式和/或显示界面输出所述仿真结果异常信息；
对应地，在输出所述仿真结果异常信息之后，还包括：
将所述仿真结果异常信息存储至日志文件以便于查看。
18.根据权利要求8或9所述的数据处理方法，其特征在于，还包括：
通过显示界面显示所述版图数据、所述器件参数和所述当前仿真结果。
19.一种数据处理装置，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取用于表征超导量子芯片版图的版图数据和目标数据，并将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数，其中，所述器件参数用于表征所述超导量子芯片的各器件，所述仿真处理与所述版图数据的版图构造集成于一个处理程序，所述仿真处理是基于所述超导量子芯片的版图数据设计通过数字仿真过程得到相应的所述超导量子芯片内部的各个核心器件的器件参数，所述版图数据通过所述超导量子芯片的画图形式或通过代码形式获取；
第一确定模块，用于根据所述器件参数与所述目标数据的关系确定当前仿真结果；
第二确定模块，用于在所述当前仿真结果未满足预设要求时，根据所述当前仿真结果确定对应的新的版图数据，并返回触发所述第一获取模块的所述将所述版图数据进行仿真处理得到器件参数的步骤，直至所述当前仿真结果满足所述预设要求。
20.一种数据处理装置，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至18任一项所述的数据处理方法的步骤。
21.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至18任一项所述的数据处理方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310771665.1A CN116522853B (zh) | 2023-06-28 | 2023-06-28 | 一种数据处理方法、装置及介质 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202310771665.1A CN116522853B (zh) | 2023-06-28 | 2023-06-28 | 一种数据处理方法、装置及介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116522853A CN116522853A (zh) | 2023-08-01 |
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Family
ID=87397977
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310771665.1A Active CN116522853B (zh) | 2023-06-28 | 2023-06-28 | 一种数据处理方法、装置及介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116522853B (zh) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113705149A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-26 | 山东浪潮科学研究院有限公司 | 一种量子芯片设计辅助工具架构实现方法、设备及介质 |
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| CN115017859A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-09-06 | 阿里巴巴达摩院(杭州)科技有限公司 | 版图生成方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备 |
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