CN116482517A - 一种集成电路测试连接装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集成电路测试连接装置，包括测试箱体，所述测试箱体内通过隔板将其分为第一测试腔体和第二测试腔体，所述第一测试腔体和所述第二测试腔体内均安装有测试机，所述第一测试腔体内安装有第一芯片固定件，所述第二测试腔体内安装有第二芯片固定件，所述测试箱体上端安装有盖板，所述测试箱体侧壁安装有驱动装置；所述驱动装置通过连杆机构驱动盖板动作；所述驱动装置通过传动件带动第一芯片固定件与第二芯片固定件分别在第一测试腔体和第二测试腔体内纵向移动；本发明中隔板将测试箱体分为两个相互独立的测试腔体，两个测试腔体内分别安装有测试机和放置集成电路芯片的芯片固定件。

Description

一种集成电路测试连接装置

技术领域

本发明属于集成电路测试技术领域，涉及一种集成电路测试连接装置。

背景技术

随着集成电路的发展，越来越多的功能希望被集中到一枚小小的芯片内，而集成电路的性能检测是非常重要的。目前的检测方法普遍为人工检测集成电路芯片，而人工检测不可控因素众多，不同人在对集成电路检测时存在较大误差，影响检测结果；同时由于集成电路在检测过程中要求极为严格，人工检测时存在误操作，容易损坏集成电路芯片，影响产品的成品率。为解决上述问题，本发明提出了一种集成电路测试连接装置。

发明内容

为解决背景技术中存在的问题，本发明提出了一种集成电路测试连接装置。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：一种集成电路测试连接装置，包括测试箱体，所述测试箱体内通过隔板将其分为第一测试腔体和第二测试腔体，所述第一测试腔体和所述第二测试腔体内均安装有测试机，所述第一测试腔体内安装有第一芯片固定件，所述第二测试腔体内安装有第二芯片固定件，所述测试箱体上端安装有盖板，所述测试箱体侧壁安装有驱动装置；所述驱动装置通过连杆机构驱动盖板动作，使盖板遮覆第一测试腔体或第二测试腔体；所述驱动装置通过传动件带动第一芯片固定件与第二芯片固定件分别在第一测试腔体和第二测试腔体内纵向移动。

进一步地，所述第一芯片固定件包括具有阶梯孔状结构的第一固定板；所述第二芯片固定件包括具有阶梯孔状结构的第二固定板。

进一步地，安装在第一测试腔体内的测试机位于第一测试腔体底部，安装在第二测试腔体内的测试机位于第二测试腔体底部；所述第一固定板的小孔段朝向安装在第一测试腔体内的测试机设置，所述第二固定板的小孔段朝向安装在第二测试腔体内的测试机设置。

进一步地，所述连杆机构包括四个铰杆，四个所述铰杆两两成组，并分别铰接在测试箱体前后两侧壁以及盖板前后两侧壁，四个所述铰杆的下端铰接在测试箱体上，四个所述铰杆的上端铰接在盖板上。

进一步地，所述测试箱体侧壁上安装有固定板，所述驱动装置包括安装在固定板上的电机；所述电机的输出轴与其中一个铰杆固接，且所述电机的输出轴和铰杆与测试箱体的铰点同轴设置。

进一步地，所述隔板上开设有矩形孔，所述矩形孔靠近安装有电机的测试箱体侧壁设置；所述传动件包括通过转轴安装在矩形孔内的齿轮、位于第一测试腔体内的第一齿条、位于第二测试腔体内的第二齿条、链轮组；所述第一齿条和第二齿条均与齿轮啮合；所述第一齿条纵向设置，并固接在第一芯片固定件上；所述第二齿条纵向设置，并固接在第二芯片固定件上；所述电机通过链轮组带动转轴转动。

进一步地，所述转轴一端伸出测试箱体；所述链轮组包括主动链轮、从动链轮和链条；所述主动链轮同轴固定在电机的输出轴上，所述从动链轮同轴固定在转轴上，所述链条绕设在主动链轮和从动链轮上。

进一步地，所述第一测试腔体和第二测试腔体内壁均纵向开设有T形滑槽，所述第一固定板和第二固定板上均安装有T形滑块；位于所述第一测试腔体内的T形滑槽与第一固定板上的T形滑块相配合，位于所述第二测试腔体内的T形滑槽与第二固定板上的T形滑块相配合。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：本发明中隔板将测试箱体分为两个相互独立的测试腔体，两个测试腔体内分别安装有测试机和放置集成电路芯片的芯片固定件；在使用时，操作人员只需将待测的集成电路芯片安装在芯片固定件上即可通过测试机进行检测，降低不同人工检测时存在的较大误差，驱动装置通过传动件带动待测的集成电路芯片朝向测试机方向移动，并通过测试机对待测的集成电路芯片测试；同时驱动装置通过连杆机构驱动盖板动作，进而使其遮覆相应的测试腔体，避免因人工误触或其他操作影响测试结果。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是本发明的剖视图；

图3是本发明的另一剖视图。

图中：1、测试箱体；2、隔板；3、第一测试腔体；4、第二测试腔体；5、测试机；6、第一芯片固定件；7、第二芯片固定件；8、盖板；9、铰杆；10、固定板；11、电机；12、齿轮；13、第一齿条；14、第二齿条；15、主动链轮；16、从动链轮；17、链条；18、T形滑槽；19、T形滑块。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1-图3所示，本发明采用的技术方案如下：一种集成电路测试连接装置，包括测试箱体1，该测试箱体1通过纵向设置的隔板2将其分为第一测试腔体3和第二测试腔体4。使用时，第一测试腔体3和第二测试腔体4相互独立，互不影响。

本实施例中，为了便于后续描述，将第一测试腔体3设置在第二测试腔体4的左侧。

本实施例中，第一测试腔体3和第二测试腔体4内均安装有测试机5。安装在第一测试腔体3内的测试机5位于第一测试腔体3底部；安装在第二测试腔体4内的测试机5位于第二测试腔体4底部。测试机5为现有装置，本领域技术人员能够直接获得，本实施例中不再详细描述。

本实施例中，第一测试腔体3内安装有第一芯片固定件6；第二测试腔体4内安装有第二芯片固定件7。第一芯片固定件6和第二芯片固定件7均用于固定集成电路芯片，以保证集成电路芯片在测试过程中的稳定性，进而保证测试精度。

具体的，第一芯片固定件6包括具有阶梯孔结构的第一固定板；第二芯片固定件7包括具有阶梯孔结构的第二固定板。第一固定板的小孔段朝向安装在第一测试腔体3内的测试机5设置；第二固定板的小孔段朝向安装在第二测试腔体4内的测试机5设置。在使用时，将集成电路芯片安装在第一固定板或第二固定板的大孔段内。

本实施例中，第一测试腔体3和第二测试腔体4内壁均纵向开设有T形滑槽18，第一固定板和第二固定板上均安装有T形滑块19；第一固定板上设置的T形滑块19滑动设置在位于第一测试腔体3内的T形滑槽18内，第二固定板上设置的T形滑块19滑动设置在位于第二测试腔体4内的T形滑槽18内。

T形滑槽18和T形滑块19的配合，保证了第一芯片固定件6在第一测试腔体3内纵向运动的稳定性，以及保证了第二芯片固定件7在第二测试腔体4内纵向运动的稳定性。而第一芯片固定件6和第二芯片固定件7的平稳运行又进一步保证集成电路芯片能够准确运动到测试机5上方，保证测试数据的精确性。

本实施例中，测试箱体1上端安装有盖板8，测试箱体1侧壁安装有驱动装置。驱动装置通过连杆机构驱动盖板8动作，使盖板8遮覆第一测试腔体3或第二测试腔体4。当测试机5对集成电路芯片进行测试时，盖板8遮覆在相对应的测试腔体上，避免因人工误触或其他操作影响测试结果。

本实施例中，连杆机构包括四个铰杆9，四个铰杆9两两成组，并分别铰接在测试箱体1前后两侧壁以及盖板8前后两侧壁上，四个铰杆9的下端铰接在测试箱体1上，四个铰杆9的上端铰接在盖板8上。

同一组中的两个铰杆9位于测试箱体1上的铰点之间的连线记为第一连线，同一组中的两个铰杆9位于盖板8上的铰点之间的连线记为第二连线；同一组中的两个铰杆9、第一连线以及第二连线构成平行四边形结构。

本实施例中，测试箱体1侧壁上通过螺栓固定有固定板10，驱动装置包括安装在固定板10上的电机11；电机11的输出轴与其中一个铰杆9固接，且电机11的输出轴和铰杆9与测试箱体1的铰点同轴设置。

电机11转动，进而带动铰杆9摆动，铰杆9摆动进而改变盖板8的位置。

本实施例中，隔板2上开设有矩形孔，矩形孔靠近安装有电机11的测试箱体1侧壁设置。

本实施例中，传动件包括通过转轴安装在矩形孔内的齿轮12、位于第一测试腔体3内的第一齿条13、位于第二测试腔体4内的第二齿条14、链轮组；齿轮12两端分别伸入第一测试腔体3和第二测试腔体4内，以保证齿轮12均能够与第一齿条13和第二齿条14啮合。

本实施例中，第一齿条13纵向设置，并固接在第一芯片固定件6上，第二齿条14纵向设置，并固接在第二芯片固定件7上。

本实施例中，电机11通过链轮组带动转轴转动。

本实施例中，转轴一端伸出测试箱体1；链轮组包括主动链轮15、从动链轮16以及链条17。

具体的，主动链轮15同轴固定在电机11的输出轴上，从动链轮16同轴固定在伸出测试箱体1的转轴上，链条17绕设在主动链轮15和从动链轮16上。

当电机11转动带动主动链轮15转动，主动链轮15通过链条17带动从动链轮16转动，从动链轮16带动转轴转动，转轴带动齿轮12转动，齿轮12带动第一齿条13和第二齿条14移动。

初始状态下，第一芯片固定件6位于第一测试腔体3腔口处，处于待装集成电路芯片的状态；第二芯片固定件7位于第一测试腔体3下端位置，并位于测试机5上方，同时盖板8遮覆第二测试腔体4，处于测试集成电路芯片的状态。

当第二测试腔体4内的集成电路芯片测试时，操作人员将集成电路芯片安装在第一芯片固定件6上，准备测试；当第二测试腔体4内的集成电路芯片测试完毕后，电机11转动通过连杆机构带动盖板8向第一测试腔体3方向运动；同时通过链轮组带动转轴转动，转轴带动齿轮12转动，齿轮12带动第一齿条13向下移动，进而带动第一芯片固定件6朝向测试机5方向移动，同时齿轮12带动第二齿条14向上移动，进而带动第二芯片固定件7朝向第二测试腔体4腔口方向移动；直至第一芯片固定件6运动到指定位置，测试机5对安装在第一芯片固定件6上的集成电路芯片测试，盖板8遮覆第一测试腔体3，第二芯片固定件7移动到第二测试腔体4腔口位置，操作人员将位于第二芯片固定件7上的集成电路芯片取下，并放置新的集成电路芯片。

上述操作往复如此。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种集成电路测试连接装置，其特征在于：包括测试箱体(1)，所述测试箱体(1)内通过隔板(2)将其分为第一测试腔体(3)和第二测试腔体(4)，所述第一测试腔体(3)和所述第二测试腔体(4)内均安装有测试机(5)，所述第一测试腔体(3)内安装有第一芯片固定件(6)，所述第二测试腔体(4)内安装有第二芯片固定件(7)，所述测试箱体(1)上端安装有盖板(8)，所述测试箱体(1)侧壁安装有驱动装置；所述驱动装置通过连杆机构驱动盖板(8)动作，使盖板(8)遮覆第一测试腔体(3)或第二测试腔体(4)；所述驱动装置通过传动件带动第一芯片固定件(6)与第二芯片固定件(7)分别在第一测试腔体(3)和第二测试腔体(4)内纵向移动。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：所述第一芯片固定件(6)包括具有阶梯孔状结构的第一固定板；所述第二芯片固定件(7)包括具有阶梯孔状结构的第二固定板。

3.根据权利要求2所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：安装在第一测试腔体(3)内的测试机(5)位于第一测试腔体(3)底部，安装在第二测试腔体(4)内的测试机(5)位于第二测试腔体(4)底部；所述第一固定板的小孔段朝向安装在第一测试腔体(3)内的测试机(5)设置，所述第二固定板的小孔段朝向安装在第二测试腔体(4)内的测试机(5)设置。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：所述连杆机构包括四个铰杆(9)，四个所述铰杆(9)两两成组，并分别铰接在测试箱体(1)前后两侧壁以及盖板(8)前后两侧壁，四个所述铰杆(9)的下端铰接在测试箱体(1)上，四个所述铰杆(9)的上端铰接在盖板(8)上。

5.根据权利要求4所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：所述测试箱体(1)侧壁上安装有固定板(10)，所述驱动装置包括安装在固定板(10)上的电机(11)；所述电机(11)的输出轴与其中一个铰杆(9)固接，且所述电机(11)的输出轴和铰杆(9)与测试箱体(1)的铰点同轴设置。

6.根据权利要求5所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：所述隔板(2)上开设有矩形孔，所述矩形孔靠近安装有电机(11)的测试箱体(1)侧壁设置；所述传动件包括通过转轴安装在矩形孔内的齿轮(12)、位于第一测试腔体(3)内的第一齿条(13)、位于第二测试腔体(4)内的第二齿条(14)、链轮组；所述第一齿条(13)和第二齿条(14)均与齿轮(12)啮合；所述第一齿条(13)纵向设置，并固接在第一芯片固定件(6)上；所述第二齿条(14)纵向设置，并固接在第二芯片固定件(7)上；所述电机(11)通过链轮组带动转轴转动。

7.根据权利要求6所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：所述转轴一端伸出测试箱体(1)；所述链轮组包括主动链轮(15)、从动链轮(16)和链条(17)；所述主动链轮(15)同轴固定在电机(11)的输出轴上，所述从动链轮(16)同轴固定在转轴上，所述链条(17)绕设在主动链轮(15)和从动链轮(16)上。

8.根据权利要求2所述的集成电路测试连接装置，其特征在于：所述第一测试腔体(3)和第二测试腔体(4)内壁均纵向开设有T形滑槽(18)，所述第一固定板和第二固定板上均安装有T形滑块(19)；

位于所述第一测试腔体(3)内的T形滑槽(18)与第一固定板上的T形滑块(19)相配合，位于所述第二测试腔体(4)内的T形滑槽(18)与第二固定板上的T形滑块(19)相配合。