CN116449445A - X光探测板输出响应值的修正方法、装置、介质和设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种X光探测板输出响应值的修正方法、装置、介质和设备。该方法包括：根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。本申请技术方案通过修正X光探测板输出的响应值，可以保证X光探测板输出准确的响应值，将其用于生成或者校正X光安检图像，有利于提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率。

Description

X光探测板输出响应值的修正方法、装置、介质和设备

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种X光探测板输出响应值的修正方法、装置、介质和设备。

背景技术

X光安检设备是一种常用于机场、车站和商场等公共场所的安检设备。X光发射器和X光探测板是X光安检设备的重要组成。X光发射器负责产生X光，X光穿过传送带上移动的待安检物品，发生衰减。X光探测板负责接收经过衰减的X光，并将其转化为电信号作为响应值输出。

X光探测板是安检设备中的传感枢纽，基于X光探测板输出的响应值可以生成待安检物品的X光安检图像。X光安检图像可以反应待安检物品的物品属性如物品厚度和物品类型，X光安检图像是判定待安检物品是否含有违禁品的重要参考。可见，保证X光探测板输出准确的响应值，对于提高X光安检图像的准确性，对于提高安检过程中违禁品的检出率具有重要意义。

发明内容

本申请提供了一种X光探测板输出响应值的修正方法、装置、介质和设备，适用于对X光探测板输出的响应值进行修正，可以保证X光探测板输出准确的响应值，达到提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率的目的。

根据本申请的第一方面，提供了X光探测板输出响应值的修正方法，所述方法包括：

根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；

基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

根据本申请的第二方面，提供了X光探测板输出响应值的修正装置，所述装置包括：

修正系数确定模块，用于根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

响应值确定模块，用于确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；

响应值修正模块，用于基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

根据本发明的第三方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本申请实施例所述的X光探测板输出响应值的修正方法。

根据本发明的第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括存储器，处理器及存储在存储器上并可在处理器运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本申请实施例所述的X光探测板输出响应值的修正方法。

本申请技术方案通过修正X光探测板输出的响应值，可以保证X光探测板输出准确的响应值，将其用于生成或者校正X光安检图像，有利于提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1A是根据实施例一提供的X光探测板输出响应值的修正方法的流程图；

图1B是根据实施例一提供的不同角度值对应的X光在厚度均匀的待安检物品中穿过的实际距离的示意图；

图2是根据实施例二提供的X光探测板输出响应值的修正方法的流程图；

图3是根据实施例三提供的X光探测板输出响应值的修正方法的流程图；

图4是本申请实施例四提供的X光探测板输出响应值的修正装置的结构示意图；

图5是本申请实施例五提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“目标”以及“候选”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例一

图1A是根据实施例一提供的X光探测板输出响应值的修正方法的流程图，本实施例可适用于在利用X光安检设备对待安检物品进行安检的场景下，对X光探测板输出的响应值进行修正的情况，该方法可以配置于由X光探测板输出响应值的修正装置来执行，X光探测板输出响应值的修正装置采用硬件和/或软件的形式实现，并可集成于运行此系统的电子设备中。

如图1A所示，该方法包括：

S110、根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

其中，目标安检设备是指基于X光对待安检物品进行安全检查的安检设备。可选的，目标安检设备为X光安检设备。示例性的，目标安检设备可以为单能安检设备或者双能安检设备。X光安检设备包括X光探测板和X光发射器。X光发射器负责产生X光，X光穿过传送带上移动的待安检物品，发生衰减。X光探测板负责接收经过衰减的X光，并将其转化为电信号作为响应值输出。基于X光探测板输出的响应值可以为待安检物品生成的X光安检图像。X光安检图像可以反应待安检物品的物品属性如物品厚度和物品类型，X光安检图像是判定待安检物品是否含有违禁品的重要参考。

响应修正系数用于修正X光探测板的输出响应值，响应修正系数根据X光探测板的通道排布参数确定。X光探测板的通道排布参数与目标安检设备的设备型号相关，目标安检设备的设备型号不同，目标安检设备中X光探测板的通道排布参数存在差异。

基于X光探测板的通道排布参数，可以确定X光探测板和X光发射器之间的相对位置关系。可选的，相对位置关系包括：相对距离以及相对方位。X光探测板和X光发射器之间的相对位置关系，会影响X光的衰减程度。

S120、确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

其中，参考响应值是指生成X光安检图像所使用的响应值。可以知道的是，受到暗电流影响和探测板工艺影响，利用X光探测板输出的原始响应值直接生成X光安检图像会产生很强的噪声，影响X光安检图像的图像清晰度。

可选的，参考响应值是对X光探测板输出的原始响应值进行降噪处理得到的降噪响应值。当然，参考响应值也可以是X光探测板输出的原始响应值。参考响应值可根据实际业务需求确定，在这里不作限定。

S130、基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

基于响应修正参数，对X光探测板的参考响应值进行修正，实际上是修正X光探测板的通道排布参数对于X光衰减程度的影响。X光探测板的通道排布参数与目标安检设备的设备型号有关。利用响应修正参数对X光探测板的响应值进行修正，可以弱化设备型号差异对X光探测板的输出响应值的影响。使得不同型号的安检设备针对同一待安检物品确定的物品属性具有一致性。

本申请技术方案，根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为X光探测板确定响应修正系数；确定目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；基于响应修正系数，对X光探测板的参考响应值进行修正。利用响应修正参数对X光探测板的响应值进行修正，可以弱化设备型号差异对X光探测板的输出响应值的影响，使得不同型号的安检设备针对同一待安检物品确定的物品属性具有一致性。可以保证X光探测板输出准确的响应值，将其用于生成或者校正X光安检图像，有利于提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率。

在一个可选的实施例中，根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数，包括：根据所述目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，确定目标安检设备中X光探测板与X光发射器之间的相对角度值；基于所述相对角度值，为所述X光探测板确定响应修正系数。

目标安检设备的安检设备型号一旦确定，即可确定目标安检设备中X光探测板的通道排布参数。基于X光探测板的通道排布参数，可以确定X光探测板在目标安检设备中的安装位置，进而可以确定X光探测板与X光发射器之间的相对位置关系。

可选的，相对位置关系包括相对距离和相对方位。基于X光探测板和X光发射器之间的相对位置关系，可以确定目标安检设备中X光探测板与X光发射器之间的相对角度值。可选的，目标安检设备中至少包括2个X光探测板。X光探测板的具体数量在这里不作限定，需要根据实际业务需求确定。X光探测板的安装位置可以通过排布阵列体现。示例性的，X光探测板的排布阵列可以为L型。L型排布阵列中包括12个X光探测板。X光发射器正对L型探测板阵列最末端的一个探测板，X光以扇形的方式照射整个过包通道并被L型探测板阵列接收。X光探测板为至少2个的情况下，分别确定目标安检设备中各X光探测板与X光发射器之间的相对角度值。相对角度值会通过影响X光在待安检物品中穿过的实际距离影响X光的衰减程度，从而影响X光探测板输出的响应值。

图1B是根据实施例一提供的不同角度值对应的X光在厚度均匀的待安检物品中穿过的实际距离的示意图。参见图1B，O表示X光发射器，阿拉伯数字1到12分别示出了X光探测板在目标安检设备中的安装位置。在图1B中，X光探测板以黑色矩形表示，从O点出发与黑色矩形的两个短边分别相交的直线示出了X光探测板可接收X光的范围。待安检物品在图1B中以灰色长矩形示出，X光探测板与X光发射器之间的相对角度值在图1B中以α表示。x1到x12分别表示X光穿过待安检物品达到X光探测板1到X光探测板12时，在待安检物品中穿过的实际距离。其中，x1与待安检物品的真实厚度一致。

参见图1B中的X光探测板5，当X光穿过待安检物品达到X光探测板5时，X光在待安检物品中穿过的实际距离大于待安检物品的真实厚度。如图1B所示，X光在待安检物品中穿过的实际距离，与X光探测板与X光发射器之间的相对角度值呈正比，X光探测板8对应的相对角度值大于X光探测板5对应的相对角度值。当X光穿过待安检物品达到X光探测板8时，在待安检物品中穿过的实际距离x8，大于X光穿过待安检物品达到X光探测板5时，在待安检物品中穿过的实际距离x5。

基于相对角度值，为X光探测板确定响应修正系数，考虑了X光探测板与X光发射器之间的相对角度值，对于X光探测板输出响应值的影响。上述技术方案，可以弱化X光探测板与X光发射器之间的相对角度值对X光探测板的输出响应值的影响。使得目标安检设备中不同位置的X光探测板针对厚度均匀的同一待安检物品确定的物品属性具有一致性。

实施例二

图2是根据实施例二提供的X光探测板输出响应值的修正方法的流程图。本实施例在上述实施例的基础上进行进一步地优化。

如图2所示，该方法包括：

S210、根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

S220、确定目标安检设备中X光探测板的响应本底值和响应满度值；

其中，响应本底值根据X光探测板在关闭X光发射器的状态下的输出响应值确定；响应本底值为X光发射器关闭时，X光探测板产生的暗电流响应。响应满度值根据X光探测板在开启X光发射器，且没有待安检物品通过的状态下输出的响应值确定。

可选的，X光探测板的响应本底值，通过对关闭X光发射器的状态下获得的N帧输出响应值进行平均化处理得到。基于公式对N帧输出响应值进行平均化处理。/>表示关闭X光发射器的状态下获得的第i帧输出响应值。

可选的，X光探测板的响应满度值，通过对开启X光发射器的状态下，获得的N帧输出响应值进行平均化处理得到。基于公式，对N帧输出响应值进行平均化处理。/>

表示开启X光发射器的状态下，获得的第i帧输出响应值。

S230、获取目标安检设备中X光探测板输出的实际响应值；

其中，实际响应值是指X光探测板在开启X光发射器，且存在待安检物品通过的状态下的输出响应值。X光探测板输出的实际响应值是指未经过后处理修正的原始响应值。利用X光探测板输出的原始响应值直接生成X光安检图像会产生很强的噪声，影响X光安检图像的图像清晰度。

S240、基于所述响应本底值和所述响应满度值，对X光探测板输出的实际响应值进行修正；

基于响应本底值和响应满度值，对X光探测板输出的实际响应值进行修正消除X光探测板中的暗电流影响。

可选的，基于对X光探测板输出的实际响应值进行修正。其中，I_D表示响应本底值，I_满表示响应满度值，I为X光探测板输出的实际响应值，/>表示参考响应值。I在I_D和I_满之间，Gain为设定参考值，Gain根据实际情况确定，/>的范围为[0，Gain]。

其中，，其中，/>为物体衰减系数，/>为X光在待安检物品中穿过的距离，而/>，其中，/>为X光发射器发射的初始X光强，那么实际上可知，/>，其中，/>为空气衰减系数，/>

为无待安检物品通过时X光在空气中传播的距离。，无待安检物品通过时，/>。基于此，/>可以变换为：

S250、将修正后的实际响应值，确定为目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

参考响应值消除了暗电流影响，且进行了归一化处理。但是，参考响应值并未考虑X光探测板与X光发射器之间的相对位置关系，对于X光探测板输出响应值的影响。

S260、基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

响应修正系数和X光探测板与X光发射器之间的相对位置关系有关，基于响应修正系数，对X光探测板的参考响应值进行修正，利用修正后的参考响应值，为待安检物品生成X光安检图像，可以提高X光安检图像的准确性，对于提高安检过程中违禁品的检出率具有重要意义。

本申请技术方案，通过确定目标安检设备中X光探测板的响应本底值和响应满度值，基于所述响应本底值和所述响应满度值，对X光探测板输出的实际响应值进行修正，消除了暗电流影响，实现了对输出响应值的归一化处理。基于响应修正系数，对X光探测板的参考响应值进行修正，利用修正后的参考响应值，为待安检物品生成X光安检图像，可以提高X光安检图像的准确性，有利于提高安检过程中违禁品的检出率。

在一个可选的实施例中，基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正，包括：基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行幂次运算；根据得到的幂次运算结果更新所述X光探测板的参考响应值，以对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

基于响应修正系数，对X光探测板的参考响应值进行修正，实际上通过对X光穿过待安检物品达到X光探测板时，在待安检物品中穿过的实际距离进行修正。也就是说，响应修正参数用于对X光穿过待安检物品的距离进行修正。将X光穿过待安检物品的距离通过幂次运算作用于X光发射器发射的初始X光强，可以得到X光探测板的参考响应值。基于响应修正系数，对X光探测板的参考响应值进行幂次运算，得到幂次运算结果。可选的，将幂次运算结果作为X光探测板的参考响应值。上述技术方案，提供了一种切实可行的响应值修正方法，为保证X光探测板输出准确的响应值提供了技术支持。

经过上述分析，可以得到参考响应值。参见图1B，基于公式，对X光探测板的参考响应值/>进行幂次运算。/>表示新的响应值。其中，/>表示响应修正系数。使得X光在厚度均匀的待安检物品中穿过的实际距离不受安检设备型号的影响。

一个可选的实施例中，基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正之后，所述方法还包括：基于修正后得到的新的响应值，确定X光安检图像中像素组成单元的像素亮度数值；基于所述像素组成单元的像素亮度数值，生成所述X光安检图像。

在为待安检物品生成X光安检图像的过程中，可以基于修正后得到的新的响应值，生成待安检物品的X光安检图像。具体的，基于修正后得到的新的响应值，确定X光安检图像中像素组成单元的像素亮度数值。

以单能安检设备为例，基于确定X光安检图像中像素组成单元的像素亮度数值。其中，/>表示像素亮度数值，/>为新的响应值，/>为设定参考值。单能安检设备中X光探测板只有输出一种响应值，不区分高能响应值和低能响应值。单能安检设备基于X光探测板的输出响应值生成的X光安检图像为灰度图。基于/>可见，X光安检图像中的像素亮度数值会随着/>的变化而变化，体现在X光安检图像的明暗发生变化。

修正后得到的新的响应值同样适用于利用双能安检设备为待安检物品生成X光安检图像的过程中。双能安检设备中X光探测板可以输出两种响应值，分别为高能响应值和低能响应值。基于响应修正系数，分别对X光探测板的参考响应值中的高能响应值和低能响应值进行修正，修正后得到的新的响应值。对于双能安检设备而言，新的响应值包括高能响应值和低能响应值/>。可选的，基于新的响应值，确定待安检物品的类别置信度。其中，类别置信度用于量化待安检物品属于某一类物质的概率。待安检物品可能归属的类别包括：有机物、混合物和无机物。

双能安检设备产生的X光安检图像为伪彩色图像。确定待安检物品的类别置信度以后，基于待安检物品的类别置信度，确定X光安检图像中像素组成单元的像素色彩分量。示例性的，基于下式确定X光安检图像中像素组成单元的像素色彩分量：

其中，、/>和/>分别表示待安检物品属于有机物、混合物和无机物的类别置信度。式中的/>、/>和/>为橙色的红、绿和蓝通道的分量，/>、/>和/>为绿色的红、绿和蓝通道的分量，/>、/>和/>为蓝色的红、绿和蓝通道的分量，同时橙色、绿色和蓝色各颜色的数值大小也跟/>和/>有关，通常与/>和/>加权平均后的数值正相关，其中，/>为[0,1]范围的预设权重值，/>根据实际情况确定，在这里不作限定。/>和/>与橙色、绿色以及蓝色数据大小的关系式多种多样，不在这里赘述。上例仅作说明使用，不对本申请所提供的技术方案造成限定。因此， X光安检图像中的像素色彩分量会随着/>的变化而变化，体现在X光安检图像的色彩发生变化。

X光安检图像可以反应待安检物品的物品属性如物品厚度和物品类别，是判定待安检物品是否含有违禁品的重要参考。X光安检图像的准确性直接影响安检过程中违禁品的检出率。上述技术方案，在为待安检物品生成X光安检图像的过程中，基于修正后得到的新的响应值，生成待安检物品的X光安检图像，提高了X光安检图像的准确性，有利于提高安检过程中违禁品的检出率。

实施例三

图3是根据实施例三提供的X光探测板输出响应值的修正方法的流程图。本实施例在上述实施例的基础上进行进一步地优化。

如图3所示，该方法包括：

S310、根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

S320、获取所述目标安检设备输出的X光安检图像；

其中，X光安检图像是通过目标安检设备产生的，X光安检图像是基于目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值确定。

S330、根据X光安检图像中的像素位置索引和目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，确定X光安检图像中像素组成单元与X光探测板之间的位置对应关系；

其中，像素索引位置用于确定像素组成单元在X光安检图像中的全局位置。基于目标安检设备中X光探测板的通道排布参数可以确定X光探测板的排布阵列。示例性的，目标安检设备中X光探测板呈L型阵列排布。每一个L型探测板阵列由多块探测板组成，每一个探测板又由多个探测点组成，每一个探测点代表安检图像的一个像素点。通过待安检物品在传送带上的移动，采集多列数据拼接成完整的X光安检图像。

基于X光安检图像中的像素位置索引和目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，可以确定X光安检图像中像素组成单元与X光探测板之间的位置对应关系。

S340、根据所述位置对应关系和所述X光安检图像中的像素亮度数值，确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；

基于位置对应关系可以确定与像素组成单元相关联的X光探测板。像素组成单元的像素亮度数值，就是基于与该X光探测板对应的参考响应值确定。

因此，在位置对应关系以及X光安检图像中的像素亮度数值确定的情况下，可以确定目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

S350、基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

利用响应修正系数，对参考响应值进行修正可以得到新的响应值。利用响应修正参数对X光探测板的参考响应值进行修正，可以弱化设备型号差异对X光探测板的输出响应值的影响。使得不同型号的安检设备针对同一待安检物品确定的物品属性具有一致性。

本申请实施例利用响应修正系数，对基于X光安检图像中的像素亮度数值确定的参考响应值，为对目标安检设备已生成的X光安检图像进行校正提供了技术支持。有利于提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率。

在一个可选的实施例中，基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正之后，所述方法还包括：基于修正后得到的新的响应值，对所述X光安检图像中像素组成单元的初始像素亮度进行修正，得到新的像素亮度；基于像素组成单元的新的像素亮度，更新所述X光安检图像。

其中，X光安检图像中像素组成单元的初始像素亮度，基于参考响应值确定。更新后的X光安检图像中像素组成单元的新的像素亮度，基于新的响应值确定。

其中，新的响应值基于响应修正参数对基于X光安检图像中的初始像素亮度确定的参考响应值进行修正得到。

具体的，基于修正后得到的新的响应值，对X光安检图像中像素组成单元的初始像素亮度进行修正。可选的，基于新的响应值重新确定X光安检图像中像素组成单元的像素亮度数值，得到新的像素亮度。基于像素组成单元的新的像素亮度，更新X光安检图像。

其中，X光安检图像可以是通过单能安检设备生成的灰度图像，也可以是通过双能安检设备生成的伪彩色图像。

上述技术方案，支持对目标安检设备已生成的X光安检图像进行校正，有利于提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率。

实施例四

图4是本申请实施例四提供的X光探测板输出响应值的修正装置的结构示意图，本实施例可适用于在利用X光安检设备对待安检物品进行安检的场景下，对X光探测板输出的响应值进行修正的情况，所述装置可由软件和/或硬件实现，并可集成于智能终端等电子设备中。

如图4所示，该装置可以包括：

修正系数确定模块410，用于根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

响应值确定模块420，用于确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；

响应值修正模块430，用于基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

本申请技术方案，根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为X光探测板确定响应修正系数；确定目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；基于响应修正系数，对X光探测板的参考响应值进行修正。利用响应修正参数对X光探测板的响应值进行修正，可以弱化设备型号差异对X光探测板的输出响应值的影响。使得不同型号的安检设备针对同一待安检物品确定的物品属性具有一致性。可以保证X光探测板输出准确的响应值，将其用于生成或者校正X光安检图像，有利于提高X光安检图像的准确性，以及安检过程中违禁品的检出率。

可选的，修正系数确定模块410，包括：相对角度确定子模块，用于根据所述目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，确定目标安检设备中X光探测板与X光发射器之间的相对角度值；修正系数确定子模块，用于基于所述相对角度值，为所述X光探测板确定响应修正系数。

可选的，响应值修正模块430，包括：幂次运算子模块，用于基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行幂次运算；响应值修正子模块，用于根据得到的幂次运算结果更新所述X光探测板的参考响应值，以对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

可选的，响应值确定模块420，包括：相关值确定子模块，用于确定目标安检设备中X光探测板的响应本底值和响应满度值；实际值获取子模块，用于获取目标安检设备中X光探测板输出的实际响应值；实际值修正子模块，用于基于所述响应本底值和所述响应满度值，对X光探测板输出的实际响应值进行修正；响应值确定子模块，用于将修正后的实际响应值，确定为目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

可选的，所述装置还包括：像素值确定模块，用于基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正之后，基于修正后得到的新的响应值，确定X光安检图像中像素组成单元的像素亮度数值；图像生成模块，用于基于所述像素组成单元的像素亮度数值，生成所述X光安检图像。

可选的，响应值确定模块420，包括：图像获取子模块，用于获取所述目标安检设备输出的X光安检图像；对应关系确定子模块，用于根据X光安检图像中的像素位置索引和目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，确定X光安检图像中像素组成单元与X光探测板之间的位置对应关系；响应值确定子模块，用于根据所述位置对应关系和所述X光安检图像中的像素亮度数值，确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

可选的，所述装置还包括：像素值修正模块，用于基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正之后，基于修正后得到的新的响应值，对所述X光安检图像中像素组成单元的初始像素亮度进行修正，得到新的像素亮度；图像更新模块，用于基于像素组成单元的新的像素亮度，更新所述X光安检图像。

发明实施例所提供的X光探测板输出响应值的修正装置可执行本申请任意实施例所提供的X光探测板输出响应值的修正方法，具备执行X光探测板输出响应值的修正方法相应的性能模块和有益效果。

本公开的技术方案中，所涉及的用户数据的收集、存储、使用、加工、传输、提供和公开等，均符合相关法律法规的规定，且不违背公序良俗。

实施例五

图5示出了可以用来实施的实施例的电子设备510的结构示意图。电子设备510包括至少一个处理器511，以及与至少一个处理器511通信连接的存储器，如只读存储器（ROM）512、随机访问存储器（RAM）513等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器511可以根据存储在只读存储器（ROM）512中的计算机程序或者从存储单元518加载到随机访问存储器（RAM）513中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM513中，还可存储电子设备510操作所需的各种程序和数据。处理器511、ROM 512以及RAM513通过总线514彼此相连。输入/输出（I/O）接口515也连接至总线514。

电子设备510中的多个部件连接至I/O接口515，包括：输入单元516，例如键盘、鼠标等；输出单元517，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元518，例如磁盘、光盘等；以及通信单元519，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元519允许电子设备510通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

处理器511可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器511的一些示例包括但不限于中央处理单元（CPU）、图形处理单元（GPU）、各种专用的人工智能（AI）计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器（DSP）、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器511执行上文所描述的各个方法和处理，例如X光探测板输出响应值的修正方法。

在一些实施例中，X光探测板输出响应值的修正方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元518。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 512和/或通信单元519而被载入和/或安装到电子设备510上。当计算机程序加载到RAM 513并由处理器511执行时，可以执行上文描述的X光探测板输出响应值的修正方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器511可以通过其他任何适当的方式（例如，借助于固件）而被配置为执行X光探测板输出响应值的修正方法。

本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、现场可编程门阵列（FPGA）、专用集成电路（ASIC）、专用标准产品（ASSP）、芯片上系统的系统（SOC）、复杂可编程逻辑设备（CPLD）、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本申请的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本申请的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器（RAM）、只读存储器（ROM）、可擦除可编程只读存储器（EPROM或快闪存储器）、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器（CD-ROM）、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置（例如，CRT（阴极射线管）或者LCD（液晶显示器）监视器）；以及键盘和指向装置（例如，鼠标或者轨迹球），用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈（例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈）；并且可以用任何形式（包括声输入、语音输入或者、触觉输入）来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统（例如，作为数据处理服务器）、或者包括中间件部件的计算系统（例如，应用服务器）、或者包括前端部件的计算系统（例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互）、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信（例如，通信网络）来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网（LAN）、广域网（WAN）、区块链网络和互联网。

计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本申请中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本申请的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本申请保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本申请的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请保护范围之内。

Claims (10)

1.一种X光探测板输出响应值的修正方法，其特征在于，所述方法包括：

根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；

基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数，包括：

根据所述目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，确定目标安检设备中X光探测板与X光发射器之间的相对角度值；

基于所述相对角度值，为所述X光探测板确定响应修正系数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正，包括：

基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行幂次运算；

根据得到的幂次运算结果更新所述X光探测板的参考响应值，以对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值，包括：

确定目标安检设备中X光探测板的响应本底值和响应满度值；

获取目标安检设备中X光探测板输出的实际响应值；

基于所述响应本底值和所述响应满度值，对X光探测板输出的实际响应值进行修正；

将修正后的实际响应值，确定为目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

5.根据权利要求4所述的方法，基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正之后，所述方法还包括：

基于修正后得到的新的响应值，确定X光安检图像中像素组成单元的像素亮度数值；

基于所述像素组成单元的像素亮度数值，生成所述X光安检图像。

6.根据权利要求1所述的方法，确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值，包括：

获取所述目标安检设备输出的X光安检图像；

根据X光安检图像中的像素位置索引和目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，确定X光安检图像中像素组成单元与X光探测板之间的位置对应关系；

根据所述位置对应关系和所述X光安检图像中的像素亮度数值，确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正之后，所述方法还包括：

基于修正后得到的新的响应值，对所述X光安检图像中像素组成单元的初始像素亮度进行修正，得到新的像素亮度；

基于像素组成单元的新的像素亮度，更新所述X光安检图像。

8.一种X光探测板输出响应值的修正装置，其特征在于，所述装置包括：

修正系数确定模块，用于根据目标安检设备中X光探测板的通道排布参数，为所述X光探测板确定响应修正系数；

响应值确定模块，用于确定所述目标安检设备中X光探测板对应的参考响应值；

响应值修正模块，用于基于所述响应修正系数，对所述X光探测板的参考响应值进行修正。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的X光探测板输出响应值的修正方法。

10.一种电子设备，包括存储器，处理器及存储在存储器上并可在处理器运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的X光探测板输出响应值的修正方法。