CN116413570A - 一种编程调节精密输出电路、负载连接电路及测试基板 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种可编程调节精密输出电路，包括：电源模块、精密输出模块、控制模块。精密输出模块包括至少1个精密输出单元和至少1个模数转换器，模数转换器对精密输出单元进行输出信号采样。控制模块包括至少1个微控制器和至少1个模拟开关。精密输出模块与控制模块之间通过信号端口进行通讯连接。精密输出模块输出端通过模拟开关输出电压或电流。该可编程调节精密输出电路通过使用微控制器、PMU和模拟开关实现待测芯片的供电和引脚检测，同时设计一种电流驱动开关以单个PMU通道信号作控制信号实现检流检压工作模式的切换，节省通道资源、降低测试成本，更好地适应芯片升级和更新场景下的测试条件变化。

Description

一种编程调节精密输出电路、负载连接电路及测试基板

技术领域

本发明涉及半导体测试领域，尤其涉及编程调节输出电压及芯片检测技术。

背景技术

ATE(Automatic Test Equipment)是半导体制造领域中的一种芯片测试机中，其中集成了PMU(Precision Measurement Unit)用于精确测量电路参数。它通常由多个通道组成，每个通道都有一个精密的测量器件(例如模数转换器)和一个放大器来保证高精度的测量。PMU常常被用于半导体芯片或电路板的生产测试中，测量电路的参数如电压、电流、频率、阻抗等等。通过比较被测设备的实际输出与预期输出，根据两者的差异，ATE可以确定电路是否符合规格要求。使用PMU可以提高测试精度和可靠性，并且可以有效地检测和定位电路中的故障。同时，PMU还可以记录测量数据并生成报告，方便工程师进行进一步的分析和优化。

但是传统的ATE使用成本比较高，当前的芯片更新换代速度快，当测试芯片需要经常更换时，传统ATE中集成的PMU单元无法实现快速改变测试电压去适配不同的测试需求，也没有实时监测测试数据的功能，导致测试效率大大降低，测试成本由此上涨。此外，传统的芯片测试方法还包括万用表和电流测试设备，测试精度低，也不能配合芯片升级后所需的测试基板，导致测试基板的设计常常跟不上芯片的升级和更换，由此亟需一种新的可编程输出电压的芯片供电检测装置。

发明内容

基于此，本发明主要针对检测芯片时，芯片频繁更新或升级导致的测试板驱动电压不能快速适应新的测试要求的问题，设计了一种可编程调节输出电压的测试基板，同时兼顾当前芯片测试的高精度检测需求。

为了达成上述目的，本说明书实施例提供以下技术方案：

本发明在第一方面提供了一种可编程调节精密输出电压的电路，包括：

电源模块；

精密输出模块；

控制模块；

所述电源模块包括至少1个电源管理芯片，所述电源管理芯片给所述精密输出模块和所述控制模块供电；所述精密输出模块包括至少1个精密输出单元和至少1个模数转换器，所述模数转换器对所述精密输出单元进行输出信号采样；所述控制模块包括至少1个微控制器和至少1个模拟开关，所述微控制器控制所述模拟开关的通断；所述精密输出模块与所述控制模块之间通过信号端口进行通讯连接；所述精密输出模块输出端通过所述模拟开关输出电压或电流。

进一步的，所述精密输出模块还包括至少1个参考电压芯片，所述参考电压芯片输入端与所述电源管理芯片连接，输出端与所述模数转换器连接，为所述模数转换器提供精密参考电压。

进一步的，所述电源模块还包括至少一个滤波器，所述滤波器输入端接入电源，输出端连接于所述电源管理芯片，为所述可编程调节输出电路提供滤除高频干扰的电源。

进一步的，所述电源模块还包括至少一个稳压电路，所述稳压电路连接于所述微控制器，为所述微控制器提供工作所需的稳定低电压。

优选的，所述控制模块还包括至少1个存储器和至少1个USB端口，所述存储器工作电压由所述稳压电路提供，所述存储器与所述微控制器连接。

更优选的，所述精密输出单元使用的高精度输出设备为PMU或高精度数模转换器。

本发明在第二方面提供了一种负载连接电路，包括：

如上述方案中任一项所述的可编程调节精密输出电路；

电流驱动开关；

检流电阻；

所述电流驱动开关包括1个NMOS管、1个PMOS管和1个电势差电阻，所述检流电阻输入端连接于所述电源管理芯片，所述PMOS管源极连接于检流电阻电流输入端，所述电势差电阻两端分别与PMOS管的源极与漏极相连，所述PMOS管栅极和NMOS管漏极相连，所述检流电阻电流输出端、PMOS管漏极均连接于待测负载，所述NMOS管栅极连接于所述精密输出单元，所述NMOS管源极接地；所述可编程调节精密输出电路为所述待测负载提供两种驱动电流，所述两种驱动电流为由所述电源管理芯片经PMOS管提供的电流和所述精密输出单元控制所述PMOS管和NMOS管截止后由所述电源管理芯片经检流电阻提供的电流。

进一步的，所述检流电阻两端还分别接入一根检流引线，可传输负载工作时所述检流电阻两端的电压信号。

更进一步的，所述检流引线分别连接于所述精密输出模块的信号端口与所述电源管理芯片的信号端口。

进一步的，所述负载连接电路还通过所述检流引线连接于所述模拟开关，所述模拟开关可将所述检流电阻两端电压信号传输给所述微控制器后进行信号处理。

优选的，所述模拟开关与所述微控制器之间还接入有信号处理模块，所述信号处理模块包括至少1个运算放大器，可将所述模拟开关传输的信号进行放大处理。

本发明在第三方面提供了一种负载测试基板，包括：

如上述方案中任一项所述的负载连接电路；

承载上述方案中任一项所述的负载连接电路的PCB板体；

进一步的，所述负载测试基板还包括连接器，所述连接器为镀锡扁平铜线、socket、pogo pin、焊接线中的一种或多种，用于所述精密输出模块与所述电流驱动开关之间、所述控制模块与所述电流驱动开关之间、所述电流驱动开关与被测负载之间的连接。

基于上述设计，本发明的有益效果是：

第一，本发明通过使用电源管理芯片、微控制器、模拟开关、模数转换器和精密输出单元，将精密输出单元的输出电压范围调整为测试所需的电压范围，在输出电压过程中使用模数转换器对输出电压进行采样和数据传输，既可以保证输出电压的精度，又可以进行输出电压数据的实时采集。

第二，本发明通过参考电压芯片的使用，对精密输出单元的输出电压进行校准，可以实现高精度的电压输出，满足高精度的测试需求。

第三，本发明通过使用PMOS管和NMOS管，形成了两种可选的对待测负载或待测芯片引脚的驱动电流通道，同时仅通过一个精密输出单元通道就可以切换检流或检压工作模式，节省了通道资源，降低了测试成本，又可以满足不同测试场景的需求，从而进一步配合可编程输出电压的电路设计。

第四，本发明的电路设计采用模块化设计思路，通过多样可选的连接器进行电路模块的连接，简化了编程调节输出电压的操作，仅需要通过微控制器对各个电路模块进行指令调控就可以灵活调节测试条件的设置。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本申请中的可编程调节精密输出电路模块示意图；

图2是本申请中的可编程调节精密输出电路连接示意图；

图3是本申请中的带参考电压的可编程调节精密输出电路示意图；

图4是本申请中的带稳压电路的可编程调节精密输出电路示意图；

图5是本申请中的模拟开关工作示意图；

图6是本申请中的负载连接电路模块示意图；

图7是本申请中的电流驱动开关示意图；

图8是本申请中的负载测试基板连接器示意图；

图9是本申请中的连接器传输信号示意图；

附图标记说明：

1.电源模块；2.精密输出模块；3.控制模块；10.电源输入端；111.PMIC_1(电源管理芯片_1)；112.PMIC_2(电源管理芯片_2)；113.PMIC_3(电源管理芯片_3)；114.PMIC_4(电源管理芯片_4)；131.VREF IC_1(参考电压芯片_1)；132.VREF IC_2(参考电压芯片_2)；133.VREF IC_3(参考电压芯片_3)；134.VREF IC_4(参考电压芯片_4)；14.稳压电路；20.MCU(微控制器)；211.模拟开关_1；214.模拟开关_4；22.存储器；23.USB端口；231.USB-UART IC；232.USB CONNECTOR；311.PMU_1；312.PMU_2；313.PMU_3；314.PMU_4；321.ADC_1；322.ADC_2；323.ADC_3；324.ADC_4；。

具体实施方式

下面结合附图对本申请实施例进行详细描述。

以下通过特定的具体实例说明本申请的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本申请的其他优点与功效。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。本申请还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本申请的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

要说明的是，下文描述在所附权利要求书的范围内的实施例的各种方面。应显而易见，本文中所描述的方面可体现于广泛多种形式中，且本文中所描述的任何特定结构及/或功能仅为说明性的。基于本申请，所属领域的技术人员应了解，本文中所描述的一个方面可与任何其它方面独立地实施，且可以各种方式组合这些方面中的两者或两者以上。举例来说，可使用本文中所阐述的任何数目和方面来实施设备及/或实践方法。另外，可使用除了本文中所阐述的方面中的一或多者之外的其它结构及/或功能性实施此设备及/或实践此方法。

还需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本申请的基本构想，图示中仅显示与本申请中有关的元件而非按照实际实施时的元件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各元件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其元件布局型态也可能更为复杂。

另外，在以下描述中，提供具体细节是为了便于透彻理解实例。然而，所属领域的技术人员将理解，可在没有这些特定细节的情况下实践。

在测试半导体芯片或电路板时，往往需要通过精密输出单元对目标负载进行测试，但单个精密输出单元输出电压或电流范围一般为固定值，调节能力有限，现阶段芯片设计的迭代速度越来越快，在芯片测试过程中，经常需要更换被测芯片或对待测芯片进行升级，现有的测试设备中，单个或多个精密输出单元其电压调节能力越来越跟不上测试电压或电流的变化。发明人通过对常规控制方法和电路的深入研究，兼顾高精度测试需求，改进了现有的半导体测试方法和电路，发现：通过微控制器、模拟开关和模数转换器可以对精密输出单元进行输出电压调节和输出通道的选择；同时，仅使用两个场效应管就可以利用其导通和截止条件，设计出两个可切换的输出通道和两个可切换的检流工作模式和检压工作模式。

基于此，本说明书在第一方面提出了一种可编程调节精密输出电路的方案，如图1所示的可编程精密输出电路模块示意图，所述电源模块1给所述精密输出模块2和所述控制模块3供电，所述精密输出模块2和所述控制模块3之间进行通讯连接，所述控制控制模块可执行电压调节编程指令控制素数精密输出单元的输出电压，所述精密模块2输出端可为被测负载供电。

如图2所示的可编程精密输出电路连接示意图，所述电源模块1包括电源输入端10、电源管理芯片111，所述控制模块2包括MCU、模拟开关_1，所述精密输出模块包括PMU_1、ADC_1，所述电源管理芯片111将电源输出调整为所述MCU、所述PMU_1和所述ADC_1工作所需幅值，所述MCU与所述PMU_1、ADC_1和模拟开关_1进行通讯连接，可对PMU_1输出电压调节指令，调整PMU_1的输出电压幅值，并通过控制模拟开关_1的通断控制PMU_1是否输出电压，同时，所述ADC_1对PMU_1进行输出电压采样，将输出电压信号传输给所述MCU，进行输出电压的实时采样监测。

在上述实施例中，所述MCU与所述模拟开关_1的结合使用构成了输出电压的控制方案，一方面可以调节所述PMU_1的输出电压范围，另一方面实现了输出通道的开闭控制，在实际测试过程中可以根据测试需求的变化，调整电压输出范围或关闭电压输出通道，同时，所述ADC_1可优选为高精度模数转换器，对输出电压进行高精度采样。

优选的，如图3所述，本实施例的电源模块1还包括滤波器12，所述滤波器12接入电源输入端10和PMIC_1之间，所述滤波器12可以滤除高频的干扰，使得外部干扰比较大的电源转化为一个平稳的干扰小的电源。但应理解的是，虽然本优选实施例采用了滤波器12，但该滤波器所选器件型号不应该理解为对权利要求保护范围的限定，凡是能够实现滤除电源中高频信号的器件或设备都应包含在本发明的保护范围之内。

优选的，如图3所示，本实施例的电源模块1还包括参考电压芯片13(VREF IC_1)，所述参考电压芯片13接入所述PMIC_1和所述ADC_1之间，为所述ADC_1提供稳定的基准电压，提高采样精度和准确度。所述VREF IC_1选用ADR435BRMZ，但应理解的是，虽然本优选实施例采用的参考电压芯片13为TPS55330RTE或LT8640，但该参考电压芯片13所选器件型号不应该理解为对权利要求保护范围的限定，凡是能够实现为模数转换器提供稳定基准电压的器件或设备都应包含在本发明的保护范围之内。

优选的，本实施例所述的电源模块1还包括稳压电路14，如图4所示，所述稳压电路14接入所述PMIC_1和所述MCU之间，所述稳压电路14为所述MCU提供稳定的工作电压。本实施例中稳压电路14优选为LT1962-ADJ或LT3973EDD(线性稳压器)，该线性稳压器可在输入电压略高于输出电压的情况下仍然工作，进一步提高了本发明所述的电源模块稳定性和系统匹配度。但应理解的是，虽然本优选实施例采用的稳压电路14优选为LT1962-ADJ或LT3973EDD，但该稳压电路14所选器件型号不应该理解为对权利要求保护范围的限定，凡是能够实现为微控制器提供稳定工作电压的稳压电路都应包含在本发明的保护范围之内。

进一步的，上述优选实施例所述的电源模块1还包括存储器22和USB端口23，如图4所示，所述存储器22接入所述稳压电路14和所述MCU之间，所述稳压电路14为所述存储器22提供稳定的工作电压，所述存储器22与所述MCU之间进行数据通信，可存储测试信息。所述USB端口23包括USB-UART IC231(通用串行转换芯片)和USB CONNECTOR232(USB连接器)，所述MCU可通过USB端口16与上位机进行通信连接。本优选实施例中存储器22使用EEPROM(可编程只读存储器)，该存储器可在不需要外部电源的情况下存储和保持数据，且该存储器引脚数少，占用空间小。但应理解的是，虽然本优选实施例采用的存储器22优选为EEPROM，但该存储器22所选器件型号不应该理解为对权利要求保护范围的限定，凡是能够实现存储测试信息的器件或设备都应包含在本发明的保护范围之内。

图5为模拟开关工作示意图，图中所示模拟开关_3输入端连接于所述MCU的GPIO1、GPIO2，输出端分别连接于所述PMU的test_channel1、test_channel2、pmu_sense1、pmu_sense2；模拟开关_4输入端连接于所述MCU的GPIO3、GPIO4，输出端连接于DUT(被测负载)上的test_pin1、test_pin2和PMU的test_channel1、test_channel2；

上述模拟开关工作流程如下:

所述MCU控制GPIO1为高电平使得模拟开关_3导通test_channel1和pmu_sense1连接在一起，控制GPIO2为高电平使得模拟开关_3导通test_channel2和pmu_sense2连接在一起，控制GPIO3为高电平使得模拟开关_4导通test_pin1和test_channel 1连接在一起，控制GPIO4为高电平使得模拟开关_4导通test_pin1和test_channel 2连接在一起，此时test_pin1和test_channel1,pmu_sense1,test_channel2连接在一起，test_channel1连接所述PMU的force通道，force输出一个500mV的电压，判断test_channel2是否为500mV来进一步判断所述DUT的pin1是否有短路或者开路。将所述待测负载的所有pin都连接到模拟开关上，可以检测所有pin的功能，所述PMU将测试的结果通过SPI协议发送到所述MCU，所述MCU将测试的数据通过所述USB端口23传输给上位机(未示出)，从而实时监测获得的数据。

本说明书在第二方面提出了一种应用了上述可编程调节精密输出电路的负载连接电路，如图6所示的负载连接板电路模块示意图，所述负载连接板包括电源模块1、精密输出模块2、控制模块3、电流驱动开关4、检流电阻5。所述电源模块1给所述精密输出模块2、所述控制模块3和所述电流驱动开关4供电，所述控制模块3选择所述精密输出模块2或所述电流驱动开关4对所述检流电阻5或待测负载进行驱动输出。

本实施例中，图7为电流驱动开关示意图，其中，所述电流驱动开关包括NMOS管T1、PMOS管T2和电势差电阻R2，所述检流电阻R1输入端连接于所述电源管理芯片PMIC，所述PMOS管T2源极连接于检流电阻电流输入端，所述电势差电阻两端分别与PMOS管T2的源极与漏极相连，所述PMOS管T2栅极和NMOS管T1漏极相连，所述检流电阻电流输出端、PMOS管T2漏极均连接于待测负载，所述NMOS管T1栅极连接于所述精密输出单元的PMU_Force端口，所述NMOS管T1源极接地。当DUT(被测负载)需要比较大的电流时，该电流需要PMIC提供，PMIC通过检流电阻R1后给DUT提供电源。

优选的，如图7所示，所述检流电阻R1两端还分别接入一根检流引线，可传输负载工作时所述检流电阻两端的电压信号，所述检流引线分别连接于所述精密输出模块的信号端口与所述电源管理芯片的信号端口，其工作方式为：

检测电压时，检流电阻R1上并联一个PMOS管T2，所述MCU通过GPIO通道控制PMU_Force为高电平，使得NMOS管T1的G极是高电平，S极是零电平，此时NMOS管T1的G极电压大于S极电压，满足NMOS管T1的导通条件，NMOS管T1导通后，NMOS管T1的D极电压为零电平，由于NMOS管T1的D极和PMOS管T2的G极是连接的，PMOS管T2的G极也是零电平，而PMOS管T2的S极与所述PMIC连接，是高电平，根据PMOS管的导通条件，G极的电压小于S极的电压时导通，所以PMOS管T2导通，此时PMOS管导通后的动态电阻很小所以电路上的损耗可以忽略不计，电流从PMOS管T2到DUT；如图7所示，通过PMU_sense_4来检测电压，所述PMU和模数转换器连接，使用高精度的ADC来测试电压，ADC将模拟的电平转换成数字的电平,传输到MCU，MCU通过USB将数据传输到电脑。

检测电流时，所述MCU通过GPIO通道控制所述PMU，PMU_Force通道可以执行编程指令输出一个零电平，此时NMOS管T1的G极电压等于S极电压，不满足NMOS管的导通条件，NMOS管T1是截止的，由于PMOS管T2的G极和S极通过电势差电阻R2相连，PMOS管T2的G极电压低于S极电压，不满足PMOS管的导通条件，PMOS管T2是截止的，此时PMIC的电流全部通过检流电阻R1提供给DUT，PMU_Sense_4和PMU_Sense_3连接到所述模拟开关后将测得的电压传输给所述MCU，通过欧姆定律I＝U/R获得测试的电流，所述MCU将测试的数据通过所述USB端口23连接到上位机，实现实时监测，从而可以实时通过检测电流来判断芯片的好坏。

本优选实施例一方面通过PMOS管和NMOS管配合使用，仅通过一个PMU通道就实现了检压和检流工作模式的切换，极大节省了通道资源，降低了测试成本；另一方面，该方案结构简单，可集成度高，对可编程调节精密输出电路的设计板配合能力强，与传统测试板相比，重新设计与被测负载的连接方案时成本更低。

本说明书在第三方面提出了一种应用了上述各实施例中的负载连接电路的负载测试基板，包括了上述各优选实施例中的负载连接电路和承载所述负载连接电路的PCB板体。优选的，该负载测试基板通过连接器连接所述各电路模块。

图8为负载基板连接器示意图，图中所示连接器为connector_1、connector_2、connector_3、connector_4，分别与所示PMU_1、PMU_2、PMU_3、PMU_4相连，上述连接器还应与图7中所示模拟开关_1至4相连(未示出)。所述连接器优选为FFC(镀锡扁平铜线)，可将PCB板体的设计脱离一体化设计限制，便于将上述各实施例中所述电路模块化，同时增强了电路板的散热性能。应该理解是的，本优选实施例中的FFC仅为可选的一种连接器形态，不应作为本发明保护范围的限制。

图9为连接器传输信号示意图，图中所示连接器为connector_5、connector_6、connector_7、connector_8，其中connector_8通过信号处理模块与所示模拟开关_5和模拟开关_6相连，所述信号处理模块优选为AD8253,所述模拟开关优选为ADG1406，可将模拟开关_5和模拟开关_6所测信号进行放大处理，通过connector_8连接于connector_4(未示出)，将信号传输给所述精密输出单元信号通道。上述模拟开关_5和模拟开关_6还可更进一步通过连接器连接于所述微控制器(未示出)，通过GPIO信号通道传输编程指令来受控于所述微控制器，实现电压信号采集通道的通断。应该理解是的，本优选实施例中的连接器个数与连接方式仅为可选的一种组态，不应作为本发明保护范围的限制，任何使用连接器进行电路模块间连接和信号采集通道的负载测试基板都应落入本发明的保护范围。

本说明书中，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例侧重说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于后面说明的实施例而言，描述比较简单，相关之处参见前述实施例的部分说明即可。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (13)

1.一种可编程调节精密输出电路，其特征在于，包括：

电源模块；

精密输出模块；

控制模块；

其特征在于，

所述电源模块包括至少1个电源管理芯片，所述电源管理芯片给所述精密输出模块和所述控制模块供电；

所述精密输出模块包括至少1个精密输出单元和至少1个模数转换器，所述模数转换器对所述精密输出单元进行输出信号采样；

所述控制模块包括至少1个微控制器和至少1个模拟开关，所述微控制器控制所述模拟开关的通断；

所述精密输出模块与所述控制模块之间通过信号端口进行通讯连接；

所述精密输出模块的输出端通过所述模拟开关输出电压或电流。

2.如权利要求1所述的可编程调节精密输出电路，其特征在于，

所述精密输出模块还包括至少1个参考电压芯片，所述参考电压芯片的输入端与所述电源管理芯片连接，所述参考电压芯片的输出端与所述模数转换器连接，用于为所述模数转换器提供精密稳定参考电压。

3.如权利要求1所述的可编程调节精密输出电路，其特征在于，

所述电源模块还包括至少一个滤波器，所述滤波器的输入端连接电源，输出端连接所述电源管理芯片，用于为所述可编程调节输出电路提供滤除高频干扰的电源。

4.如权利要求1-3任意一项所述的可编程调节精密输出电路，其特征在于，

所述电源模块还包括至少一个稳压电路，所述稳压电路连接所述微控制器，为所述微控制器提供工作所需的稳定低电压。

5.如权利要求4所述的可编程调节精密输出电路，其特征在于，

所述控制模块还包括至少1个存储器和至少1个USB端口，所述存储器工作电压由所述稳压电路提供，所述存储器与所述微控制器连接。

6.如权利要求1-5中任意一项所述的可编程调节精密输出电路，其特征在于，

所述精密输出单元使用的高精度输出设备为PMU(Precision Measurement Unit)或SMU(Source Measure Unit)或高精度数模转换器。

7.一种负载连接电路，其特征在于，包括：

如权利要求1-6任意一项所述的可编程调节精密输出电路；

电流驱动开关；

检流电阻；

所述电流驱动开关包括：

NMOS管；

PMOS管；

电势差电阻；

其特征在于：

所述检流电阻输入端连接所述电源管理芯片；

所述PMOS管源极连接所述检流电阻的电流输入端；

所述电势差电阻的两端分别与所述PMOS管的源极与漏极相连，用于给所述PMOS管的源极与漏极之间提供电势差；

所述PMOS管的栅极和所述NMOS管的漏极相连；

所述检流电阻的电流输出端、PMOS管的漏极均连接待测负载；

所述NMOS管的栅极连接所述精密输出单元；

所述NMOS管的源极接地；

所述可编程调节精密输出电路为所述待测负载提供两种驱动电流，所述两种驱动电流为由所述电源管理芯片经PMOS管提供的电流和所述精密输出单元控制所述PMOS管和NMOS管截止后由所述电源管理芯片经检流电阻提供的电流。

8.如权利要求7所述的负载连接电路，其特征在于，

所述检流电阻的两端还分别接入一根检流引线，可传输负载工作时所述检流电阻两端的电压信号。

9.如权利要求8所述的负载连接电路，其特征在于，

所述检流引线分别连接于所述精密输出模块的信号端口与所述电源管理芯片的信号端口。

10.如权利要求8中所述的负载连接电路，其特征在于，

所述负载连接电路还通过所述检流引线连接所述模拟开关，所述模拟开关可将所述检流电阻两端电压信号传输给所述微控制器后进行信号处理。

11.如权利要求10所述的负载连接电路，其特征在于，

所述模拟开关与所述微控制器之间还连接有信号处理模块，所述信号处理模块包括至少1个运算放大器，可将所述模拟开关传输的信号进行放大处理。

12.一种负载测试基板，包括：

如权利要求7-11任意一项所述的负载连接电路；

承载如权利要求7-11任意一项所述的负载连接电路的PCB板。

13.如权利要求12所述的负载测试基板，其特征在于，还包括连接器；

所述连接器为镀锡扁平铜线、socket、pogo pin、焊接线中的一种或多种，用于所述精密输出模块与所述电流驱动开关之间、所述控制模块与所述电流驱动开关之间、所述电流驱动开关与被测负载之间的连接。

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