CN116340191B

CN116340191B - 一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质

Info

Publication number: CN116340191B
Application number: CN202310626453.4A
Authority: CN
Inventors: 潘慧敏; 赵啟鹏
Original assignee: Hefei Kangxinwei Storage Technology Co Ltd
Current assignee: Hefei Kangxinwei Storage Technology Co Ltd
Priority date: 2023-05-31
Filing date: 2023-05-31
Publication date: 2023-08-08
Anticipated expiration: 2043-05-31
Also published as: CN116340191A

Abstract

本发明提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，包括：响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据；主机端依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；主机端预设时间范围，并基于时间范围选择不同的传输时间，重复向存储端传输测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；主机端基于测试数据集与测试时间生成测试脚本，并根据测试脚本完成待测试存储器固件的测试。通过本发明公开的一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，能够提升固件的测试效率。

Description

一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质

技术领域

本发明涉及存储芯片领域，特别是涉及一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质。

背景技术

内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，eMMC）是能够存储代码和数据管理的内存。内嵌式存储器在出厂时需要进行读写测试，以检测内部固件的稳定性。在对固件进行测试时，往往是通过增加读写次数或改变读写地址的复杂度等方式来增加对固件读写的压力。采用这种读写测试方法虽然会导致固件卡死，但是测试时间过长、复现概率太低，导致测试效率低下。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，能够提升固件的测试效率。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种存储器固件的测试方法，包括：

响应于主机端的读写指令，所述主机端向存储端传输初始数据集，其中，所述初始数据集包括多个测试数据；

所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的所述测试数据，表示为测试数据集；

所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的所述传输时间，表示为测试时间；

所述主机端基于所述测试数据集与所述测试时间生成测试脚本，并根据所述测试脚本完成待测试存储器固件的测试。

在本发明一实施例中，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为所述测试数据集的步骤包括：

所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集；

所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。

在本发明一实施例中，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集的步骤包括：

所述主机端从所述初始数据集中取出某一测试数据，保存于预设数据集中，将所述预设数据集传输至所述存储端，并判断是否传输成功；

若传输成功，则所述主机端依次从所述初始数据集中取出测试数据，并保存于所述预设数据集中，重复将所述预设数据集传输至所述存储端，直至出现传输失败为止，此时所述预设数据集表示为中间数据集；

若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集。

在本发明一实施例中，在所述若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集的步骤之后，还包括：

所述主机端依次将所述初始数据集中剩余的测试数据保存于所述预设数据集中，重复将所述预设数据集传输至存储端，直至传输次数达到预设传输次数为止，生成多个所述中间数据集。

在本发明一实施例中，所述预设传输次数小于或等于所述初始数据集中测试数据的数量。

在本发明一实施例中，所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集的步骤包括：

所述主机端将某一个中间数据集重复传输至所述存储端，直至传输次数达到预设测试次数为止，统计传输失败的次数，表示为失败次数；

根据所述失败次数与所述预设测试次数的比值，获取传输失败率；

对剩余的所述中间数据集进行处理，以获取对应的所述传输失败率；

对所有的所述传输失败率进行比较，以获取所述传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。

在本发明一实施例中，所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间的步骤包括：

所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择传输时间，在所述传输时间内将所述测试数据集传输至所述存储端，并判断是否传输成功；

若传输失败，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；

若传输成功，则基于所述时间范围选择其他传输时间，并在所述其他传输时间内将所述测试数据集传输至所述存储端，直至传输失败为止，此时获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间。

本发明还提供一种存储器固件的测试装置，包括：

测试数据传输模块，用以响应于主机端的读写指令，所述主机端向存储端传输初始数据集，其中，所述初始数据集包括多个测试数据；

测试数据获取模块，用以依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；

测试时间获取模块，用以预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；以及

测试脚本生成模块，用以基于所述测试数据集与所述测试时间生成测试脚本，并根据所述测试脚本完成待测试存储器固件的测试。

本发明还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现所述的存储器固件的测试方法的步骤。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现所述的存储器固件的测试方法的步骤。

如上所述，本发明提供一种存储器固件的测试方法、装置、设备及介质，主机端通过多次测试获取出现传输失败概率最高的测试数据集，以获得最佳的测试数据量，同时通过测试获取传输失败时的传输时间，进而获取对应的测试时间。主机端可以根据测试数据集与测试时间生成对应的测试脚本，可通过测试脚本自动对其他的存储器固件进行读写测试，能够有效提升测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1显示为本发明的一种存储器固件的测试方法的流程图；

图2显示为图1中步骤S20的流程图；

图3显示为图2中步骤S21的流程图；

图4显示为图2中步骤S22的流程图；

图5显示为图1中步骤S30的流程图；

图6显示为本发明的一种存储器固件的测试装置的示意图；

图7显示为本发明的一种计算机设备的结构示意图；

图8显示为本发明的一种计算机设备的另一结构示意图。

元件标号说明：

10、测试数据传输模块；20、测试数据获取模块；30、测试时间获取模块；40、测试脚本生成模块。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1所示，本发明提供了一种存储器固件的测试方法，其可应用于对内嵌式存储器（Embedded Multi Media Card，eMMC）固件进行读写测试的过程中。通过提高固件卡死问题的复现率以及缩短测试时间，进而有效提升测试效率。存储器固件的测试方法可包括如下步骤：

步骤S10、响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据；

步骤S20、主机端依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；

步骤S30、主机端预设时间范围，并基于时间范围选择不同的传输时间，重复向存储端传输测试数据集，直至传输失败为止，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；

步骤S40、主机端基于测试数据集与测试时间生成测试脚本，并根据测试脚本完成待测试存储器固件的测试。

当执行步骤S10时，具体的，当需要对内嵌式存储器固件进行读写测试时，可以先获取某一个内嵌式存储器，并将其表示为存储端。此时主机端可以直接向存储端发送读写指令，主机端可以表示为主机、服务器等。读写指令可以为命令CMD18。命令CMD18可以表示为使存储端进入传输状态直到收到命令CMD12为止，当前传输操作会一直按照地址顺序读下去，直到接收到命令CMD12。命令CMD12可以表示为强制停止所有传输，停止多块传输操作。主机端发送读写指令时，可对初始数据集进行传输。初始数据集中可以包括多个测试数据。存储端接收到读取指令后，主机端可以依次将初始数据集中的测试数据发送至存储端中。存储端可以对初始数据集中的测试数据依次进行接收，以进行读写测试。其中，测试数据可以为512字节（byte），初始数据集中的多个测试数据可以按照存储于主机端中的顺序进行排序，以便按照顺序将测试数据传输至存储端中。初始数据集中的多个测试数据也可不进行排序，主机端可随机从多个测试数据中进行选择，进而将测试数据传输至存储端中。

请参阅图2所示，当执行步骤S20时，具体的，步骤S20可包括如下步骤：

步骤S21、主机端依次将测试数据传输至存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集；

步骤S22、主机端将不同的中间数据集重复传输至存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。

请参阅图3所示，当执行步骤S21时，具体的，步骤S21可包括如下步骤：

步骤S211、主机端从初始数据集中取出某一测试数据，保存于预设数据集中，将预设数据集传输至存储端，并判断是否传输成功；

步骤S212、若传输成功，则主机端依次从初始数据集中取出测试数据，并保存于预设数据集中，重复将预设数据集传输至存储端，直至出现传输失败为止，此时预设数据集表示为中间数据集；

步骤S213、若传输失败，则预设数据集表示为中间数据集；

步骤S214、主机端依次将初始数据集中剩余的测试数据保存于预设数据集中，重复将预设数据集传输至存储端，直至传输次数达到预设传输次数为止，生成多个中间数据集，并对获取的中间数据集进行保存。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S211、步骤S212及步骤S213时，具体的，当主机端将初始数据集传输至存储端时，主机端可以从初始数据集中选择某一测试数据，并将该测试数据保存于预设数据集。预设数据集可以为主机端预设的数据包。在预设时，预设数据集中可以不包括测试数据。主机端将某一测试数据保存于预设数据集后，该测试数据可以从初始数据集中剔除，也可不剔除，只要满足该测试数据保存于预设数据集中即可。主机端将某一测试数据保存于预设数据集后，可以将预设数据集传输至存储端中，以判断是否传输成功。

进一步的，当主机端将预设数据集传输至存储端且出现传输失败的情况时，则该预设数据集可以表示为中间数据集。当主机端将预设数据集传输至存储端且出现传输成功的情况时，主机端可以从初始数据集中取出另一测试数据，并将该测试数据保存于预设数据集中，此时预设数据集中可以包括两个测试数据。之后主机端可以将预设数据集传输至存储端中，并再次判断是否传输成功。当主机端将预设数据集传输至存储端且出现传输失败的情况时，则该预设数据集可以表示为中间数据集。当主机端将预设数据集传输至存储端且出现传输成功的情况时，主机端可以从初始数据集中取出再一测试数据，并将该测试数据保存于预设数据集中，重复将预设数据集传输至存储端，直至出现传输失败为止，此时预设数据集表示为中间数据集。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S214时，具体的，当出现传输失败的情况后，主机端可以生成一个中间数据集，中间数据集中可以包括至少一个测试数据。由于初始数据集中可能会包括大量的测试数据，为了能够提升固件读写测试效率，此时主机端可对该中间数据集进行保存，并再次从初始数据集中取出测试数据，保存于预设数据集中，并再次进行传输测试。重复将预设数据集传输至存储端，直至传输次数达到预设传输次数为止，此时可以生成多个中间数据集，主机端可以对获取的中间数据集进行保存。预设传输次数的具体大小可不加限制，只要其大小满足小于或等于初始数据集中测试数据的数量即可。

例如，初始数据集中可以包括100个测试数据，预设传输次数可以设置为50次。在第1次传输时，预设数据集中包括1个测试数据，此时传输成功。在第2次传输时，预设数据集中包括2个测试数据，此时传输成功。经过多次传输后，例如在第15次传输时，预设数据集中包括15个测试数据，此时传输失败，主机端可以对此时的预设数据集进行保存，并表示为中间数据集，该中间数据集中包括15个测试数据。由于传输次数还未达到预设传输次数，此时可进行第16次传输，预设数据集中包括16个测试数据，此时传输成功。再次经过多次传输后，例如在第30次传输时，预设数据集中包括30个测试数据，此时传输失败，主机端可以对此时的预设数据集进行保存，并表示为中间数据集，该中间数据集中包括30个测试数据。在后面的多次传输过程中，可能会出现第40次、第45次传输时传输失败，此时可再次生成2个中间数据集，2个中间数据集中可分别包括40个测试数据与45个测试数据。当传输次数达到预设传输次数时，主机端即可保存4个中间数据集，4个中间数据集中可分别包括15个测试数据、30个测试数据、40个测试数据以及45个测试数据。

请参阅图4所示，当执行步骤S22时，具体的，步骤S22可包括如下步骤：

步骤S221、主机端将某一个中间数据集重复传输至存储端，直至传输次数达到预设测试次数为止，统计传输失败的次数，表示为失败次数；

步骤S222、根据失败次数与预设测试次数的比值，获取传输失败率；

步骤S223、对剩余的中间数据集进行处理，以获取对应的传输失败率；

步骤S224、对所有的传输失败率进行比较，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。

在本发明的一个实施例中，由于主机端中可能会保存多个中间数据集，因此主机端需要对多个中间数据集进行比对，以选择最优的中间数据集，以便后续进行读写测试。主机端在选择最优的中间数据集时，可以将某一个中间数据集重复传输至存储端，直至传输次数达到预设测试次数为止，统计传输失败的次数，表示为失败次数。根据失败次数与预设测试次数的比值，获取传输失败率。例如，预设测试次数可以为100次，在传输该中间数据集达到100次的过程中，出现60次传输失败，则该中间数据集的传输失败率可以表示为60%。之后可以对剩余的中间数据集进行相同处理，进而获得其他中间数据集对应的传输失败率。例如，中间数据集的数量可以为4个，第一个中间数据集的传输失败率可以表示为60%，第二个中间数据集的传输失败率可以表示为80%，第三个中间数据集的传输失败率可以表示为85%，第四个中间数据集的传输失败率可以表示为70%。此时可以根据传输失败率对多个中间数据集进行排序，以获取传输失败率最高的中间数据集，此时该中间数据集可以表示为最优数据集，即测试数据集。

请参阅图5所示，当执行步骤S30时，具体的，步骤S30可包括如下步骤：

步骤S31、主机端预设时间范围，并基于时间范围选择传输时间，在传输时间内将测试数据集传输至存储端，并判断是否传输成功；

步骤S32、若传输失败，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；

步骤S33、若传输成功，则基于时间范围选择其他传输时间，并在其他传输时间内将测试数据集传输至存储端，直至传输失败为止，此时获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间。

在本发明的一个实施例中，当主机端获取到测试数据集后，需要再次设定一个测试时间，主机端通过在测试时间内判断是否完成测试数据集的传输，以完成读取测试。因此，主机端可以先预设时间范围，时间范围的具体大小可不加限制，例如可以在0ms~5ms的范围之间。当设定好时间范围后，主机端可以在时间范围内随机选择一个传输时间，例如选择3ms为传输时间。当选择好传输时间后，主机端可再次发出读写指令，在传输时间内将测试数据集传输至存储端，以判断是否传输成功。

进一步的，当在传输时间内将测试数据集传输至存储端时出现传输失败的情况时，则该传输时间可以表示为测试时间。当在传输时间内将测试数据集传输至存储端时出现传输成功的情况时，主机端可以再次从时间范围选择另一传输时间，该传输时间与之前选择的传输时间大小不同。当选择好传输时间后，主机端可再次发出读写指令，在新的传输时间内将测试数据集传输至存储端，以判断是否传输成功。当在新的传输时间内将测试数据集传输至存储端时出现传输失败的情况时，则该新的传输时间可以表示为测试时间。当在新的传输时间内将测试数据集传输至存储端时出现传输成功的情况时，主机端可以再一次从时间范围选择又一传输时间，该传输时间与之前选择的传输时间大小不同，同时重复进行传输，直至出现传输失败的情况时，则该传输时间可以表示为测试时间。

在本发明的一个实施例中，当执行步骤S40时，具体的，当获取到测试数据集与测试时间后，主机端可以将测试数据集与测试时间作为输入参数，进而自动训练出一个测试脚本。主机端可以根据该测试脚本对其他的存储器固件进行读写测试，能够稳定复现固件卡死的现象。

可见，在上述方案中，主机端通过多次测试获取出现传输失败概率最高的测试数据集，以获得最佳的测试数据量，同时通过测试获取传输失败时的传输时间，进而获取对应的测试时间。主机端可以根据测试数据集与测试时间生成对应的测试脚本，可通过测试脚本自动对其他的存储器固件进行读写测试，能够有效提升测试效率。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。

请参阅图6所示，本发明还提供了一种存储器固件的测试装置，该测试装置与上述实施例中测试方法一一对应。该测试装置可以包括测试数据传输模块10、测试数据获取模块20、测试时间获取模块30以及测试脚本生成模块40。各功能模块详细说明如下：

测试数据传输模块10可用于响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据。

测试数据获取模块20可用于依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集。例如，测试数据获取模块20可用于依次将测试数据传输至存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集，将不同的中间数据集重复传输至存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。具体的，测试数据获取模块20可先用于从初始数据集中取出某一测试数据，保存于预设数据集中，将预设数据集传输至存储端，并判断是否传输成功。若传输成功，则依次从初始数据集中取出测试数据，并保存于预设数据集中，重复将预设数据集传输至存储端，直至出现传输失败为止，此时预设数据集表示为中间数据集。若传输失败，则预设数据集表示为中间数据集。依次将初始数据集中剩余的测试数据保存于预设数据集中，重复将预设数据集传输至存储端，直至传输次数达到预设传输次数为止，生成多个中间数据集，并对获取的中间数据集进行保存。测试数据获取模块20可再用于将某一个中间数据集重复传输至存储端，直至传输次数达到预设测试次数为止，统计传输失败的次数，表示为失败次数，根据失败次数与预设测试次数的比值，获取传输失败率，对剩余的中间数据集进行处理，以获取对应的传输失败率，对所有的传输失败率进行比较，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集。

测试时间获取模块30可用于预设时间范围，并基于时间范围选择不同的传输时间，重复向存储端传输测试数据集，直至传输失败为止，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间。具体的，测试时间获取模块30可详细用于预设时间范围，并基于时间范围选择传输时间，在传输时间内将测试数据集传输至存储端，并判断是否传输成功。若传输失败，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间。若传输成功，则基于时间范围选择其他传输时间，并在其他传输时间内将测试数据集传输至存储端，直至传输失败为止，此时获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间。

测试脚本生成模块40可用于基于测试数据集与测试时间生成测试脚本，并根据测试脚本完成待测试存储器固件的测试。

关于测试装置的具体限定可以参见上文中对于测试方法的限定，在此不再赘述。上述测试装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

请参阅图7所示，本发明还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口和数据库。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性和或易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的客户端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种存储器固件的测试方法的功能或步骤。

请参阅图8所示，本发明还提供了另一种计算机设备，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部服务器通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种存储器固件的测试方法的功能或步骤。

在本发明的一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

响应于主机端的读写指令，主机端向存储端传输初始数据集，其中，初始数据集包括多个测试数据；

主机端依次将测试数据传输至存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；

主机端预设时间范围，并基于时间范围选择不同的传输时间，重复向存储端传输测试数据集，直至传输失败为止，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；

主机端基于测试数据集与测试时间生成测试脚本，并根据测试脚本完成待测试存储器固件的测试。

在本发明的一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

需要说明的是，上述关于计算机可读存储介质或计算机设备所能实现的功能或步骤，可对应参阅前述方法实施例中，为避免重复，这里不再一一描述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器（ROM）、可编程ROM（PROM）、电可编程ROM（EPROM）、电可擦除可编程ROM（EEPROM）或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器（RAM）或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM（SRAM）、动态RAM（DRAM）、同步DRAM（SDRAM）、双数据率SDRAM（DDRSDRAM）、增强型SDRAM（ESDRAM）、同步链路（Synchlink） DRAM（SLDRAM）、存储器总线（Rambus）直接RAM（RDRAM）、直接存储器总线动态RAM（DRDRAM）、以及存储器总线动态RAM（RDRAM）等。

在本说明书的描述中，参考术语“本实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上公开的本发明实施例只是用于帮助阐述本发明。实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims

1.一种存储器固件的测试方法，其特征在于，包括：

所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集；

所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间；

2.根据权利要求1所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，获取传输失败时的测试数据，表示为测试数据集的步骤包括：

3.根据权利要求2所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端依次将所述测试数据传输至所述存储端，并统计传输失败时的测试数据，表示为中间数据集的步骤包括：

若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集。

4.根据权利要求3所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，在所述若传输失败，则所述预设数据集表示为所述中间数据集的步骤之后，还包括：

5.根据权利要求4所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述预设传输次数小于或等于所述初始数据集中测试数据的数量。

6.根据权利要求2所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端将不同的中间数据集重复传输至所述存储端，以获取传输失败率最高的中间数据集，表示为测试数据集的步骤包括：

7.根据权利要求1所述的存储器固件的测试方法，其特征在于，所述主机端预设时间范围，并基于所述时间范围选择不同的传输时间，重复向所述存储端传输所述测试数据集，获取传输失败时的传输时间，表示为测试时间的步骤包括：

8.一种存储器固件的测试装置，其特征在于，包括：

9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的存储器固件的测试方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的存储器固件的测试方法的步骤。