CN116299362A - 图像传感器像素之间串扰的测量方法及装置、电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种图像传感器像素之间串扰的测量方法及装置。方法包括：初始测量环境搭建，目标测量环境搭建，以及目标光源位置调节与像素串扰获取，在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。本发明可以在不需要设计额外的用于测量串扰的串扰测量结构、降低芯片制造成本的基础上，对像素阵列中任意像素进行串扰测量。

Description

图像传感器像素之间串扰的测量方法及装置、电子设备

技术领域

本发明涉及图像传感器技术领域，尤其涉及一种图像传感器像素之间串扰的测量方法及装置、电子设备。

背景技术

飞行时间(Time-of-Flight，简称ToF)技术是一种精确测量参照物距离的方法，有直接飞行时间(direct-ToF，简称dToF)测距技术、即直接测量光的飞行时间来计算参照物距离，以及间接飞行(indirect-ToF，简称iToF)测距技术、即通过对光强进行周期性的调制和解调后，利用相位信息计算参照物距离。

ToF图像传感器的成像是利用光学成像的基本原理将参照物11表面的反射光线经过图像传感器的镜头12汇聚在图像传感器的像素阵列13上，最终产生一个倒立的像14，如图1所示。理想的情况下，每个像素只能接收到其对应参照物位置反射回的反射光，接收到的反射光在像素内部产生光生电子被像素收集，并以电压信号的形式输出。然而在实际应用中，由于在像素之间做不到光学和电学的完全隔离，会使一部分光子或者电子被相邻像素收集，产生串扰(Crosstalk，简称CTK)。

随着ToF图像传感器的发展和消费者的需求，高分辨率(Resolution)的ToF图像传感器已成为众多厂商和消费者追求的目标。高分辨率就意味像素尺寸的缩小，这会造成像素之间串扰的增大，影响图像质量。因此，像素之间的串扰已然成为小尺寸像素的一个至关重要的性能参数，串扰测量对于ToF图像传感器的发展至关重要。

请参阅图2，其为现有技术中用于串扰测量的串扰测量结构示意图。如图2所示，现有技术通过在像素阵列21之外单独设计出一个用于测量串扰的串扰测量结构22；该串扰测量结构22将相邻的像素用金属221遮挡，只为中心像素提供一个可以使入射光进入像素的窗口222，从而测量该像素串扰到相邻像素的信号量。

上述方案，一方面需要单独设计出一个用于测量串扰的串扰测量结构，增大图像传感器的芯片面积，提高成本。另一方面，由于芯片制造过程中的工艺稳定性的影响，每个像素之间的串扰会略有差异，需要用多个像素的测量结果评估整个像素阵列的性能；若只设计一个用于测量串扰的串扰测量结构，测量结果的随机性太高，若设计多个用于测量串扰的串扰测量结构，会使图像传感器的芯片成本更高。

因此，如何在不需要设计额外的用于测量串扰的串扰测量结构、降低芯片制造成本的基础上，有效对像素阵列中任意一个或多个像素进行串扰测量，是当前亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种图像传感器像素之间串扰的测量方法及装置、电子设备，可以在不需要设计额外的用于测量串扰的串扰测量结构、降低芯片制造成本的基础上，对像素阵列中任意像素进行串扰测量。

为实现上述目的，本发明提供了一种图像传感器像素之间串扰的测量方法，包括如下步骤：初始测量环境搭建，将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数；目标测量环境搭建，将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行；以及目标光源位置调节与像素串扰获取，在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。

在一些实施例中，所述方法进一步包括：重复执行所述目标光源位置调节与像素串扰获取步骤，获取多个像素的串扰，以用于评估所述图像传感器的像素阵列的性能。

为实现上述目的，本发明还提供了一种图像传感器像素之间串扰的测量装置，包括：初始测量环境搭建模块，用于将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数，完成初始测量环境搭建；目标测量环境搭建模块，用于将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行，完成目标测量环境搭建；以及位置调节与像素串扰获取模块，用于在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。

在一些实施例中，所述装置进一步包括：调用模块，用于重复调用所述位置调节与像素串扰获取模块进行目标光源位置调节与像素串扰获取，从而获取多个像素的串扰，以用于评估所述图像传感器的像素阵列的性能。

为实现上述目的，本发明还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机可执行程序；所述处理器执行所述计算机可执行程序时实现如本发明所述的图像传感器像素之间串扰的测量方法的步骤。

本发明通过从图像传感器成像的基本原理出发，利用光学成像的原理，可以对像素阵列中任意一像素与相邻像素之间的串扰进行测量，以便于在后期产品设计中分析和优化串扰，提高成像质量，且本发明不需要设计额外的串扰测量结构，可以降低芯片面积和制造成本。通过移动目标光源的位置，进行多像素进行串扰测量，用多个像素的测量结果评估整个像素阵列的性能，可以降低由于芯片制造过程中的工艺稳定性造成的像素之间串扰的随机性。串扰的测量与分析，一方面可以为下一代产品设计起到很好的指导作用，另一方面能够使用户直观的了解当前产品的性能。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为光学成像原理示意图；

图2为现有技术中用于串扰测量的串扰测量结构示意图；

图3为本发明提供的图像传感器像素之间串扰的测量方法步骤示意图；

图4为本发明一实施例提供的光学成像过程示意图；

图5为本发明提供的图像传感器像素之间串扰的测量装置的结构框图。

具体实施方式

下面将结合附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明一实施例提供了一种图像传感器像素之间串扰的测量方法。

请一并参阅图3～图4，其中，图3为本发明提供的图像传感器像素之间串扰的测量方法步骤示意图，图4为本发明一实施例提供的光学成像过程示意图。

如图3所示，本实施例所述图像传感器像素之间串扰的测量方法，包括如下步骤：S1、初始测量环境搭建，将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数；S2、目标测量环境搭建，将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行；以及S3、目标光源位置调节与像素串扰获取，在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。以下给出详细解释说明。

关于步骤S1、初始测量环境搭建，将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数。具体来说，所述关键尺寸为所述参照物的长度或宽度；利用光学成像的原理，寻找合适的参照物到图像传感器的镜头的距离，该距离使得基于所述比值与所述像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数。

几乎所有图像传感器的成像过程都是一个光学成像的过程，该光学成像系统可以通过如图4所示光学成像过程来描述。具体的，参照物41通过图像传感器的镜头42在图像传感器的像素阵列43上成的像44，镜头42的焦长为f。

根据三角形相似，可以得到：

d/u＝d'/v＝k

其中，d是参照物41的关键尺寸；d’是像44的关键尺寸；u是参照物41到镜头42的距离；v是像44到镜头42的距离，k为比例。对于相同的图像传感器，其比例k的值是确定的。关键尺寸d、d’可以为相应参照物或像的长度或者宽度；在本实施例中，关键尺寸d为所述参照物41的长度，关键尺寸d’为所述像44的长度。

在计算串扰时，需要使用光学成像过程，将目标光源的光通过一光阑，最终通过镜头汇聚到一个像素上。通过将参照物换成目标光源，将目标光源的光汇聚在一个像素上，则像的关键尺寸已知；目标光源的光的直径光阑的直径，为已知；镜头到像的距离为定值。因此，通过找到一个合适的参照物到镜头的距离，就可以实现将目标光源的光汇聚在一个像素上，从而进行串扰测量。

光阑是指在光学系统中对光束起着限制作用的实体。它可以是透镜的边缘、框架或特别设置的带孔屏。光阑的作用可分两方面，限制光束或限制视场(成像范围)大小。光学系统中限制光束最多的光阑，称为直径光阑，限制视场(大小)最多的光阑，称为视场光阑，直径光阑和视场光阑两者都是实物。决定光学系统的直径光阑的一般规则是：从物点看光阑或光阑的像，由其中张角最小的那一个来决定光学系统的直径光阑。如果张角最小的是某光阑的像，则该光阑本身就是直径光阑。

在一些实施例中，所述的初始测量环境搭建的步骤进一步包括：1)提供一参照物以及一光阑，并计算出所述参照物的关键尺寸(例如所述参照物的长度或宽度)与所述光阑的直径的比值；2)将所述参照物置于所述图像传感器的视场范围内；3)调节所述图像传感器的镜头焦长、使得所述图像传感器的显示界面显示所述参照物的像，并记录所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量；4)判断基于所述像素数量与所述比值所获取的目标参数是否基本等于所述预设参数(例如1)；5)若所述目标参数基本等于所述预设参数，则完成所述初始测量环境搭建。进一步的，若所述目标参数不基本等于所述预设参数，则在所述图像传感器的视场范围内调节所述参照物与所述图像传感器之间的距离，并更新所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量后重新进行目标参数计算与判断。

接上述实施例，所述的在所述图像传感器的视场范围内调节所述参照物与所述图像传感器之间的距离的步骤进一步包括：若所述目标参数大于所述预设参数，则增大所述参照物与所述图像传感器之间的距离；若所述目标参数小于所述预设参数，则减小所述参照物与所述图像传感器之间的距离。

在一些实施例中，所述目标参数采用以下公式表示：

M＝(A×R)/d；

其中，M为所述目标参数，A为所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量，R为所述光阑的直径，d为所述参照物的关键尺寸。所述参照物的关键尺寸d可以为所述参照物的长度或者宽度。

通过在所述图像传感器的视场范围内调节所述参照物与所述图像传感器之间的距离，使得所述目标参数基本等于所述预设参数，从而寻找到合适的参照物到镜头的距离，完成初始测量环境搭建。

关于步骤S2、目标测量环境搭建，将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行。

具体来说，在目标光源上贴附前述光阑(用来计算比值的已知直径的光阑)，取走参照物，并在参照物的相同位置放置目标光源，并令目标光源所在平面与图像传感器所在平面平行，完成目标测量环境搭建。由于步骤S1已经寻找到合适的参照物到镜头的距离，通过将参照物换成目标光源，使用光学成像过程即可将目标光源的光汇聚在一个像素上；像的关键尺寸已知，目标光源的光的直径为已知光阑的直径，镜头到像的距离为定值，从而可以进行串扰测量。

在一些实施例中，所述目标光源为LED光源。其中，在测量串扰过程中，整个测试环境只需要一个目标光源，需控制不能有其他光进入测试环境。

关于步骤S3、目标光源位置调节与像素串扰获取，在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。

具体来说，待上述目标测量环境搭建完成后，在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，例如将所述目标光源进行的上下左右位置微调，以将所述目标光源的光汇聚在一个像素P1上，记录该像素P1的信号信息Signal_P1和其相邻某个像素P2的信号信息Signal_P2。通过下式，可计算出该像素P1到像素P2上的串扰CTK：

CTK＝Signal_P2/Signal_P1×100％。

本发明通过从图像传感器成像的基本原理出发，利用光学成像的原理，可以对像素阵列中任意一像素与该相邻像素之间的串扰进行测量，以便于在后期产品设计中分析和优化串扰，提高成像质量，且本发明不需要设计额外的串扰测量结构，可以降低芯片面积和制造成本。

在一些实施例中，所述方法进一步包括：S4、重复执行所述目标光源位置调节与像素串扰获取步骤，获取多个像素的串扰，以用于评估所述图像传感器的像素阵列的性能。具体来说，在所述目标光源所在平面上，通过上下左右移动所述目标光源的位置，就可以将所述目标光源的成像落在将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，再进行该像素的信号信息和相邻某个像素的信号信息的记录以及串扰计算，即可得到图像传感器中任意一个像素对其相邻像素的串扰。通过进行多像素进行串扰测量，用多个像素的测量结果评估整个像素阵列的性能，可以降低由于芯片制造过程中的工艺稳定性造成的像素之间串扰的随机性。串扰的测量与分析，一方面可以为下一代产品设计起到很好的指导作用，另一方面能够使用户直观的了解当前产品的性能。

在一些实施例中，所述图像传感器可以为iToF图像传感器、CMOS图像传感器或CCD图像传感器，或其它通过光学成像原理实现成像的图像传感器。也即，本发明测试方法不仅适用于iToF图像传感器，也适用于其它传统的CMOS图像传感器、CCD图像传感器，或其它通过光学成像原理实现成像的图像传感器。

以下以iToF图像传感器的像素之间串扰测量为例，对本发明图像传感器像素之间串扰的测量方法的流程做进一步解释说明。

第一步：准备一直径为R的光阑、一长度为a的参照物以及一LED光源，并计算出参照物的长度a与光阑的直径R的比值。

第二步：将长度为a的参照物放置在iToF图像传感器的视场范围内，并距离iToF图像传感器一定的位置处；调节iToF图像传感器的镜头焦长，以在其显示界面上显示出一个完整清晰的参照物的像，并记录该像的长度所占据的像素数量A；

第三步：通过下式可以计算出一个参数M；

M＝(A×R)/a。

第四步：如果M值大于1，则增大参照物与iToF图像传感器的距离，并重复第三步；若M小于1，则减小参照物与iToF图像传感器的距离，并重复第三步，直至M值等于或基本等于1。

第五步：在LED光源上贴上直径为R的光阑，取走参照物，并在参照物的相同位置放置该贴了直径为R的光阑的LED光源，令LED光源所在平面与iToF图像传感器所在平面平行。

第六步：待上述环境搭建完成后，微调LED光源的上下左右位置，使得LED光源在iToF图像传感器的成像落在一个像素P1上，记录该像素P1的信号信息Signal_P1和其相邻某个像素P2的信号信息Signal_P2。通过下式，可计算出该像素P1到像素P2上的串扰CTK：

CTK＝Signal_P2/Signal_P1×100％。

第七步：在LED光源所在平面上，通过上下左右移动LED光源的位置，将LED光源的成像落在iToF图像传感器的其它任意一个像素上。重复第六步，就可以得到iToF图像传感器中多个像素对其相邻像素的串扰信息。在测量串扰过程中，整个测试环境只需要一个目标光源，需控制不能有其他光进入测试环境。

根据以上内容可以看出，本发明通过从图像传感器成像的基本原理出发，利用光学成像的原理，可以对像素阵列中任意一像素与相邻像素之间的串扰进行测量，以便于在后期产品设计中分析和优化串扰，提高成像质量，且本发明不需要设计额外的串扰测量结构，可以降低芯片面积和制造成本。通过移动目标光源的位置，进行多像素进行串扰测量，用多个像素的测量结果评估整个像素阵列的性能，可以降低由于芯片制造过程中的工艺稳定性造成的像素之间串扰的随机性。串扰的测量与分析，一方面可以为下一代产品设计起到很好的指导作用，另一方面能够使用户直观的了解当前产品的性能。

基于同一发明构思，本发明还提供了一种图像传感器像素之间串扰的测量装置。所提供的图像传感器像素之间串扰的测量装置可以采用如图3所示的图像传感器像素之间串扰的测量方法完成对图像传感器像素之间串扰的测量。

请参阅图5，其为本发明一实施例提供的图像传感器像素之间串扰的测量装置的结构框图。如图5所示，所述图像传感器像素之间串扰的测量装置包括：初始测量环境搭建模块51、目标测量环境搭建模块52以及位置调节与像素串扰获取模块53。

具体来说，初始测量环境搭建模块51用于将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数，完成初始测量环境搭建，其中，所述关键尺寸为所述参照物的长度或宽度；目标测量环境搭建模块52用于将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行，完成目标测量环境搭建；位置调节与像素串扰获取模块53用于在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。

在一些实施例中，所述预设参数可以为1，所述目标光源为LED光源。

在一些实施例中，所述装置进一步包括：调用模块54，用于重复调用所述位置调节与像素串扰获取模块53进行目标光源位置调节与像素串扰获取，从而获取多个像素的串扰，以用于评估所述图像传感器的像素阵列的性能。

在一些实施例中，所述图像传感器可以为iToF图像传感器、CMOS图像传感器或CCD图像传感器，或其它通过光学成像原理实现成像的图像传感器。

各模块的工作方式可参考图3所示的图像传感器像素之间串扰的测量方法中相应步骤的描述，此处不再赘述。

基于同一发明构思，本发明还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机可执行程序；所述处理器执行所述计算机可执行程序时实现如图3所示的图像传感器像素之间串扰的测量方法的步骤。

在本发明构思的领域中是可以根据执行所描述的一个或多个功能的模块来描述和说明实施例。这些模块(本文也可以称为单元等)可以由模拟和/或数字电路物理地实现，例如逻辑门、集成电路、微处理器、微控制器、存储器电路、无源电子元件、有源电子元件、光学组件、硬连线电路等，并且可以可选地由固件和/或软件来驱动。电路例如可以在一个或更多个半导体芯片中实施。构成模块的电路可以由专用硬件实现，或者由处理器(例如，一个或更多个编程的微处理器和相关电路)实现，或者由执行模块的一些功能的专用硬件和执行模块的其它功能的处理器的组合来实现。在不脱离本发明构思的范围的情况下，可以将实施例的每个模块物理地分成两个或更多个交互且分立的模块。同样地，在不脱离本发明构思的范围的情况下，可以将实施例的模块物理地组合成更复杂的模块。

需要说明的是，本发明的文件中涉及的术语“包括”和“具有”以及它们的变形，意图在于覆盖不排他的包含。术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，除非上下文有明确指示，应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换。术语“基于”可以被理解为不一定旨在表达一组排他性的因素，而是可以替代地，同样至少部分地取决于上下文，允许存在不一定明确描述的其它因素。另外，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。此外，在以上说明中，省略了对公知组件和技术的描述，以避免不必要地混淆本发明的概念。上述各个实施例中，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同/相似的部分互相参见即可。

以上所述仅是本发明的优选实施例，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种图像传感器像素之间串扰的测量方法，其特征在于，包括：

初始测量环境搭建，将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数，其中，所述关键尺寸为所述参照物的长度或宽度；

目标测量环境搭建，将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行；以及

目标光源位置调节与像素串扰获取，在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的初始测量环境搭建的步骤进一步包括：

提供一参照物以及一光阑，并计算出所述参照物的关键尺寸与所述光阑的直径的比值；

将所述参照物置于所述图像传感器的视场范围内；

调节所述图像传感器的镜头焦长、使得所述图像传感器的显示界面显示所述参照物的像，并记录所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量；

判断基于所述像素数量与所述比值所获取的目标参数是否基本等于所述预设参数；

若所述目标参数基本等于所述预设参数，则完成所述初始测量环境搭建。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

若所述目标参数不基本等于所述预设参数，则在所述图像传感器的视场范围内调节所述参照物与所述图像传感器之间的距离，并更新所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量后重新进行目标参数计算与判断。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述的在所述图像传感器的视场范围内调节所述参照物与所述图像传感器之间的距离的步骤进一步包括：

若所述目标参数大于所述预设参数，则增大所述参照物与所述图像传感器之间的距离；

若所述目标参数小于所述预设参数，则减小所述参照物与所述图像传感器之间的距离。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设参数为1，所述目标参数采用以下公式表示：

M＝(A×R)/d；

其中，M为所述目标参数，A为所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量，R为所述光阑的直径，d为所述参照物的关键尺寸。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：

重复执行所述目标光源位置调节与像素串扰获取步骤，获取多个像素的串扰，以用于评估所述图像传感器的像素阵列的性能。

7.一种图像传感器像素之间串扰的测量装置，其特征在于，包括：

初始测量环境搭建模块，用于将一参照物置于所述图像传感器的视场范围内的预设距离处，以使得基于所述参照物的关键尺寸与一光阑的直径的比值、与所述图像传感器的显示界面所显示的所述参照物的像的关键尺寸所占据的像素数量所获取的目标参数基本等于预设参数，完成初始测量环境搭建，其中，所述关键尺寸为所述参照物的长度或宽度；

目标测量环境搭建模块，用于将所述参照物替换为贴附有所述光阑的目标光源，且所述目标光源所在平面与所述图像传感器所在平面平行，完成目标测量环境搭建；以及

位置调节与像素串扰获取模块，用于在所述目标光源所在平面上调节所述目标光源的位置，使得所述目标光源的光汇聚至将所述图像传感器的像素阵列的任意一个像素上，并获取该像素的一相邻像素的信号信息与该像素的信号信息的比值作为该像素对该相邻像素的串扰。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置进一步包括：

调用模块，用于重复调用所述位置调节与像素串扰获取模块进行目标光源位置调节与像素串扰获取，从而获取多个像素的串扰，以用于评估所述图像传感器的像素阵列的性能。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述目标光源为LED光源，所述图像传感器为iToF图像传感器、CMOS图像传感器或CCD图像传感器。

10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机可执行程序；其特征在于，所述处理器执行所述计算机可执行程序时实现如权利要求1～6任一项所述的图像传感器像素之间串扰的测量方法的步骤。

Images