CN116296020A - 张力检测方法、张力传感器及存储介质 - Google Patents

张力检测方法、张力传感器及存储介质 Download PDF

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CN116296020A CN202310194008.5A CN202310194008A CN116296020A CN 116296020 A CN116296020 A CN 116296020A CN 202310194008 A CN202310194008 A CN 202310194008A CN 116296020 A CN116296020 A CN 116296020A
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Abstract

本申请公开了一种张力检测方法、张力传感器及存储介质，属于力检测领域，该方法包括：利用温度校准数据集和当前环境温度，校准当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值，温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；利用第一校准数据集，确定目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值，第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；将目标张力校准值作为当前张力值。在本申请中，由于第一校准数据集包含多个对应关系，不是直接线性关系得到张力，而是间接利用多个对应关系，克服了线性问题，区别于以往，考虑了温度对张力感应数据产生的影响，提高了对张力进行检测时的检测精度。

Description

张力检测方法、张力传感器及存储介质
技术领域
本申请涉及力检测领域，尤其涉及一种张力检测方法、张力传感器及存储介质。
背景技术
目前，在对纺织领域中的丝线进行张力检测时，采用张力传感器进行检测。张力传感器的种类有很多，其中，包括霍尔式张力传感器。当霍尔式张力传感器对丝线进行张力检测时，丝线被放置在预设的弹簧片上，丝线的表面张力使弹簧片发生形变，形变的弹簧片带动预设磁铁移动，因此霍尔式张力传感器检测到磁场强度发生变化。一般，默认张力与磁场强度之间呈线性关系，霍尔式张力传感器根据张力与磁场强度之间的线性映射关系，得到待检丝线的张力。
现有技术中通常采用两点标定的方式确定张力传感器的输出和理论值的偏差以进行校正，根据两点确定一条直线的原理，理论张力与实际磁场强度(或对应的输出电压)之间的线性映射关系可以由两组理论张力与实际磁场强度(或对应的输出电压)的数据组确定出来，进而在实际测量时可以根据该线性映射关系对张力进行校正。
然而，要求张力和磁场强度的变化要呈线性变化，这会对产品的来料和装配的一致性有很高的要求，实际上两者很难呈现严格意义上的线性映射关系，因此，会造成霍尔式传感器在检测张力时出现误差，即，现有技术中存在，在对张力进行检测时，检测精度不高的问题。
上述内容仅用于辅助理解本申请的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种张力检测方法，旨在解决现有技术中，在对张力进行检测时，检测精度不高的问题。
为实现上述目的，本申请提供一种张力检测方法，应用于张力传感器，所述方法包括：
获取待检测对象的当前张力感应数据，其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
根据测温装置检测得到当前环境温度；
获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；
利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；
获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述获取预设的第一校准数据集的步骤之前，还包括：
基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
将所述参考张力感应数据与对应的所述张力标定值作为校准数据对，得到包含多个所述校准数据对的所述第一校准数据集。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述获取预设的第一校准数据集的步骤之前，还包括：
基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
根据所述多个参考张力感应数据，分别解算得到对应的多个张力实测值；
利用所述多个张力标定值和对应的多个张力实测值生成第一校准数据集，其中，所述第一校准数据集中包含多组张力标定值和张力实测值的校准数据对。
在本申请的一种可能的实施方式中，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，包括：
根据所述目标张力感应数据校准值，解算得到当前张力实测值；
利用第一校准数据集，确定所述张力实测值对应的目标张力校准值。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，包括：
从所述第一校准数据集中查询是否有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值；
在没有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值的情况下，确定与所述目标张力感应数据校准值相邻的两组校准数据对；
基于所述两组校准数据对，确定张力标定值与张力感应数据之间的线性关系；
基于所述线性关系确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述获取温度校准数据集的步骤之前，包括：
确定多个温度数据；
保持张力标定值恒定，获取在多个温度下生成的张力感应数据，得到多组包含温度数据与对应的张力感应数据的参考数据对；
根据多组所述参考数据对，生成温度校准数据集，其中，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况。
在本申请的一种可能的实施方式中，利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值，包括：
利用所述温度校准数据集，确定在所述当前环境温度下所述当前张力感应数据对应的目标张力感应数据校准值；
将所述当前张力感应数据更新为所述目标张力感应数据校准值。
此外，为实现上述目的，本申请还提供一种张力传感器，张力传感器包括：
第一获取模块，用于获取待检测对象的当前张力感应数据；其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
温度检测模块，用于根据测温装置检测得到当前环境温度；
第二获取模块，用于获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；
第一校准模块，用于利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；
第三获取模块，用于获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
第二校准模块，用于利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
张力确定模块，用于将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
此外，为实现上述目的，本申请还提供一种张力传感器，所述张力传感器为实体节点设备，所述张力传感器包括：感应部件、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的张力检测程序，所述感应部件用于感应张力的变化生成张力感应数据，所述处理器执行所述张力检测程序实现所述张力检测方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本申请还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有实现张力检测方法的程序，所述张力检测程序被处理器执行时实现上述所述的张力检测方法的步骤。
本申请提供一种张力检测方法、张力传感器及存储介质，与现有技术中，在对张力进行检测时，检测精度不高的问题相比，在本申请中，获取待检测对象的当前张力感应数据，其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；根据测温装置检测得到当前环境温度；获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。在本申请中，在通过张力传感器进行张力检测时，基于多个张力标定值与张力感应数据得到的第一校准数据集。由于第一校准数据集包含多个对应关系，不是直接线性关系得到张力，而是间接的利用多个对应关系，克服了张力检测时的线性问题，另外，区别以往温度对张力感应数据无影响的处理方法，而是考虑到了实际中温度对张力感应数据会产生的影响，即提高了对张力进行检测时的检测精度。
附图说明
图1为本申请张力检测方法的实施例的流程示意图；
图2为本申请张力检测方法实施例中的张力传感器示意图；
图3为本申请张力检测方法实施例涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，均属于本发明保护的范围。
实施例一
本申请实施例提供一种张力检测方法，在本申请张力检测方法的第一实施例中，参照图1，应用于张力传感器，所述方法包括：
步骤S10，获取待检测对象的当前张力感应数据，其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
步骤S20，根据测温装置检测得到当前环境温度；
步骤S30，获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；
步骤S40，利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；
步骤S50，获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
步骤S60，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
步骤S70，将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
在本实施例中，针对的应用场景是：在采用张力传感器对待检测对象进行张力检测时，待检测对象的张力使变形体发生形变，变形体致使张力传感器的输入值发生变化。通常可以检测出的张力值是在一定范围内的，以张力检测范围为[0g,150g]为例，在产品装配完成之后，采用两点标定的方式，分别向待检测对象施加0g、150g的拉力得到对应的输入值，根据两组输入值与标定的张力值(0g、150g)之间的对应关系，以变形体和输入量的变化要呈线性变化为基础，确定出的输入值与理论张力值之间的线性映射关系，实际使用时可以根据该线性映射关系对实际值进行校正。然而，要求变形体和输入量的变化要呈线性变化，这会对产品的来料和装配的一致性有很高的要求，实际上两者很难呈现严格意义上的线性映射关系，因此，造成张力传感器在检测张力时出现误差，即，在对张力进行检测时，检测精度不高的问题。
本实施例旨在：提高在对张力进行检测时的检测精度。
作为一种示例，待检测对象可以有多种，如纺织领域中的丝线、电缆或者是钢厂的钢制品，在此不做具体限定。
在本实施例中，张力检测方法可以应用于张力传感器，当然可以理解的是，在一些实施例中也可以应用于其它场景，例如：微距测量、电子秤等，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。
作为一种示例，张力传感器可以包括处理单元、存储单元、数据接口、通信单元。其中，处理单元可以为CPU、FPGA(Field Programmable Gate Array)、CPLD(ComplexProgrammable Logic Device)或者是MCU(微控制单元Microcontroller Unit)，在此不做具体限定。
作为一种示例，张力传感器的种类有多种，如张力传感器包括电阻应变片式张力传感器与位移式张力传感器。
作为一种示例，电阻应变片式张力传感器内部有电阻应变片，电阻应变片基于外界变化改变电阻，变化后的电阻打破了惠斯通电桥上的电压平衡，产生对应电压，在惠斯通电桥上产生电流。基于电流以及电压确定出对应的张力大小。
作为一种示例，位移式张力传感器基于位移的变化量确定张力，其中，霍尔式张力传感器是一种位移式张力传感器。霍尔式张力传感器内部有霍尔传感器以及预设的弹簧片。当霍尔式张力传感器对丝线进行张力检测时，丝线被放置在预设的弹簧片上，丝线的表面张力使弹簧片发生形变，形变的弹簧片带动预设磁铁移动，因此，霍尔式张力传感器检测到磁场强度发生变化。霍尔式张力传感器根据张力与磁场强度之间的映射关系，得到待检丝线的张力。
作为一种示例，由于每台霍尔式张力传感器之间出厂时的差异、用户在装配霍尔式张力传感器与待检丝线时的装配误差，或者是霍尔式张力传感器中的弹簧片变形时的线性度的问题等原因，导致张力与磁场强度之间很难呈现严格意义上的线性关系。
在一个实施例中，张力传感器中感应部件在感应到张力发生形变时会生成当前时刻的张力感应数据，如果按照当前时刻的张力感应数据直接解算对应的张力值，此时解算得到的张力值会存在一定的误差，因此，可以预先测试确定一个校准数据集，在实际使用时可以获取预设的校准数据集，并基于校准数据集确定当前时刻的张力感应数据对应的目标张力校准值。
具体步骤如下：
步骤S10，获取待检测对象的当前张力感应数据；其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
在本实施中，作为一种示例，所述待检测对象可以为纺织领域中的丝线、还可以为电缆或者钢厂的钢制品，在此不做具体限定。
在本实施方式中，上述张力感应数据可以为张力传感器中感应部件在受到力时生成的数据，在一些实施例中上述张力感应数据可以包括：磁场强度、输出电压、张力实测值等，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。
作为一种示例，若张力传感器为霍尔式张力传感器，则对应的张力感应数据可以为霍尔式张力传感器中的电磁感应部件因张力产生的磁场强度，磁场强度可以转换为因磁场变化产生的输出电压变化(感应电压)，在此不做具体限定。
步骤S20，根据测温装置检测得到当前环境温度；
在本实施例中，由于不同温度对张力检测有影响，如低温时会对霍尔式张力传感器对应的金属弹簧片有影响，影响金属弹簧片的形变性能。则对应的影响到最终的张力检测结果。或者高温影响霍尔式张力传感器检测到的磁场亮度。因此，在检测张力时需增加温度这一因素。
作为一种示例，通过测温装置获取当前环境温度。张力传感器配置有温度传感器，温度传感器用于获取温度数据。另外，除了温度传感器，还可以采用热电偶、热电阻等具有温度检测功能的装置。
步骤S30，获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；
作为一种示例，温度校准数据集为人员提前制作的，用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况，获取预设的温度校准数据集。
步骤S30，获取温度校准数据集的步骤之前，包括步骤A1-步骤A3：
步骤A1，确定多个温度数据；
作为一种示例，当同一大小的张力作用于张力传感器时，张力传感器内部的感应部件生成张力感应数据。在不同温度下感应部件生成的张力感应数据不同，温度对张力感应数据产生影响。因此，可以先建立用于表征不同温度下的张力感应数据变化情况的校准数据集，这种校准数据集称为温度校准数据集。
作为一种示例，由于低温或者高温时的张力感应数据可能不同，因此，需要先获取常温下的张力感应数据。在本实施例中以常温为25摄氏度为例进行说明，在具体的应用中，常温值可能有所区别，在此不做具体限制。如确定的多个温度数据为25摄氏度、低温数据为0摄氏度、高温为40摄氏度。同理，具体应用中的低温数据以及高温数据也有所不同，具体的低温数据以及具体的高温数据不作限制。
步骤A2，保持张力标定值恒定，获取在多个温度下生成的张力感应数据，得到多组包含温度数据与对应的张力感应数据的参考数据对；
作为一种示例，张力标定值恒定不变，在同一张力恒定值以及不同温度(如25摄氏度、0摄氏度以及40摄氏度)的作用下，在张力传感器的感应部件中产生对应的张力感应数据。每一个温度值对应一个张力感应数据，基于此，得到多组包含温度数据与对应的张力感应数据的参考数据对。
步骤A3，根据多组所述参考数据对，生成温度校准数据集，其中，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况。
在本实施例中，根据多组参考数据对，生成温度校准数据集，其中，温度校准数据集是用来表征不同温度下张力感应数据的变化情况的。
作为一种示例，可以根据多组参考数据对生成温度校准数据集，还可以根据多组参考数据得到对应的拟合曲线，还可以根据多组参考数据得到拟合后的公式。其中，拟合曲线以及拟合后的公式的作用相当于温度校准数据集的作用，用于表征不同温度下张力感应数据的变化情况。
步骤S40，利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；
作为一种示例，利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值。
步骤S40，利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值，包括步骤S41－步骤S42：
步骤S41，利用所述温度校准数据集，确定在所述当前环境温度下所述当前张力感应数据对应的目标张力感应数据校准值；
作为一种示例，由于温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况，因此，可以基于当前环境温度确定当前张力感应数据对应的校准值也就是目标张力感应数据校准值。
作为一种示例，目标张力感应数据校准值是对当前张力感应数据做过校准之后的校准值。考虑到温度影响，当前张力感应数据校准之后得到的目标张力感应数据校准值已经没有温度所带来的误差，无论高温或低温均能反映真实的张力感应数据。
步骤S42，将所述当前张力感应数据更新为所述目标张力感应数据校准值。
作为一种示例，对当前张力感应数据进行校准后得到的目标张力感应数据校准值无温度因素带来的误差，则将当前张力感应数据更新为所述目标张力感应数据校准值。
在本实施例中，考虑不同环境温度对张力感应数据的影响，区别于以往的温度对张力感应数据无影响的处理方法，而是考虑到实际中温度对张力感应数据产生影响，实际是考虑到温度对张力的最终影响。避免了因环境温度与基准温度相差太大造成的精度不高的问题，即进一步提高了对张力进行检测时的检测精度。
步骤S50，获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
在本实施方式中，上述张力标定值可以为用于向张力传感器施加的标准值，例如，可以是利用标准砝码或者标准拉力计向张力传感器施加的张力值，张力标定值去测试可以得到理论值，利用理论值可以对实测值进行校准。
作为一种示例，第一校准数据集可以为张力标定值与张力感应数据所组成的校准数据对，若张力感应数据为感应电压，标定的张力有a克、b克以及c克，与张力标定值相对应的感应电压值分别为A、B以及C，感应电压与标定的张力相对应。
张力标定值的数量可以为至少3个，上述示例中以3个数据对为例进行说明，在实际应用中可以包含更多的数据对，例如：16个数据对、28个数据对、30个数据对等，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。
在一些实施例中，上述第一校准数据集中还可以包括拟合得到的曲线，或者拟合得到的公式等，具体的可以根据实际情况选择，本说明书实施例对此不作限定。
在本实施例中，在获取第一校准数据集之前，需先确定第一校准数据集。
步骤S50，获取预设的第一校准数据集的步骤之前，还包括步骤B1-步骤B4：
步骤B1，基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
作为一种示例，不同张力传感器的检测精度不同，对于检测精度要求较高的场景，选用高精度的张力传感器，而对于检测精度要求没那么高的场景，选用一般精度的张力传感器就可满足测量需求。
由于张力标定值的数量越多，最终校准得到的张力值的精度值越高，因此，检测精度要求高的张力传感器在确定第一校准数据集是可以选择更多数量的张力标定值。
作为一种示例，由于在本实施例中，第一校准数据集可以包含多个张力标定值与张力感应数据。现有技术中的校准数据集只有两组校准数据对，如一组是标定的0g张力以及0g对应的张力感应数据，另一组是标定的150g张力及150g对应的张力感应数据，这两组校准数据对用于张力校准。而在本实施例中，作为一种示例，在0g至150g之间增加50g和100g，得到4组校准数据对。
作为一种示例，这样的校准数据对的对数可以为4对，也可以更多。可以清楚的是，在0g至150g之间增加的校准数据对越多，得到的第一校准数据集的校准精度越高。即，基于张力传感器的检测精度要求，确定多个张力标定值，其中，不仅基于张力传感器的检测精度要求确定张力校准值的个数，还可以基于张力传感器的检测精度要求确定张力校准值的大小。
步骤B2，向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
作为一种示例，在基于张力传感器的检测精度要求确定张力校准值之后，借助拉力计向张力传感器分别施加上述多个张力标定值，拉力计有明确的拉力刻度。
步骤B3，获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
作为一种示例，当向张力传感器施加与张力标定值同样大小的作用力时，在张力传感器内部的感应部件生成张力感应数据，这些张力感应数据用于参考，因此，又称为参考张力感应数据。
在本实施例中，在得到参考张力感应数据之后，获取多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据。
步骤B4，将所述参考张力感应数据与对应的所述张力标定值作为校准数据对，得到包含多个所述校准数据对的所述第一校准数据集。
在本实施例中，将所述参考张力感应数据与对应的张力标定值作为校准数据对，得到包含多个校准数据对的第一校准数据集。
步骤S60，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
在本实施例中，可以基于当前张力感应数据在第一校准数据集中查询，得到当前张力感应数据对应的目标张力校准值。其中，上述目标张力校准值可以是指通过第一校准数据集校准得到的张力值，上述目标张力校准值可以作为最终确定的张力值输出。
在一些实施例中，在第一校数据集为拟合得到的公式时，可以将当前张力感应数据输入公式中计算得到目标张力校准值；或者在第一校准数据集为包含多个键值对的表格时可以通过查表的方式确定目标张力校准值，或者在第一校准数据集为曲线时可以通过在曲线上查点确定目标张力校准值。当然还可以采用其它可能的方式确定目标张力校准值，例如：机器学习算法等，具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。
步骤S60，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，包括步骤S61－步骤S64：
步骤S61，从所述第一校准数据集中查询是否有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值；
在本实施例中，由于第一校准数据集记录有参考张力感应数据，因此，先从第一校准数据集中查询是否有与当前张力感应数据相等的数据值，若有，则这个数据值即参考张力感应数据对应的张力标定值就是待检测对象的当前张力值。若无，则不能直接利用第一校准数据集得到当前张力值，需要利用第一校准数据集间接得到当前张力值。
步骤S62，在没有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值的情况下，确定与所述目标张力感应数据校准值相邻的两组校准数据对；
作为一种示例，若无，也就是在没有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值的情况下，根据与目标张力感应数据校准值附近的校准数据对，间接确定出待检测对象的当前张力值。具体的，选取与当前张力感应数据相邻的两组校准数据对。
例如：当前张力感应数据为34，第一校准数据集中有16个数据对，包括：【0，0】、【20，1.8】、【40，3.1】、【60，4】等，没有与当前张力感应数据34对应的数据对，此时可以选取与34相邻的【20，1.8】、【40，3.1】这两个数据对确定与34对应的张力校准值。
作为一种示例，在现有技术中，若仅以【0，0】，【60，4】这两组数据对作为校准数据集，则在确定张力时，一般是这样的过程，根据【0，0】，
【60，4】确定张力与张力感应数据之间的线性关系，再基于这个线性关系得到当前张力感应数据为34对应的张力值为2.26。而本申请中的实施例采用与34相邻的【20，1.8】，【40，3.1】这两个数据对，根据【20，1.8】，【40，3.1】这两个数据对确定之间的线性关系，再基于这个线性关系得到当前张力感应数据为34对应的张力值1.97。其中两种方法得到的张力值分别为2.26与1.97，这两个结果存在较大差别，也就是若以本申请实施例的基于多组校准数据对组成的第一校准数据集对张力进行校准，可以降低误差。可以降低误差的原因是因为实际装配时无法保证严格意义上的线性关系，因此，在两组校准数据对之间插入的多组校准数据对可以起到接近当前张力感应数据的作用，进而使得对应的张力值不至于偏差实际甚远。
步骤S63，基于所述两组校准数据对，确定张力标定值与张力感应数据之间的线性关系；
基于两点确定一条直线，两组校准数据对理论上可以确定出张力标定值与张力感应数据之间的线性映射关系。该线性关系是在小范围内对张力标定值与张力感应数据的一种近似的线性描述。
在本实施例中，虽然是将数据分为多段，然后将相邻两个数据对的一小段之间的对应关系看作是线性的，但是可以理解的是，在一些实施例中也可以基于数据对拟合或者通过机器学习得到非线性的关系曲线、公式等，从而得到当前张力感应数据34对应的张力校准值。具体的可以根据实际情况确定，本说明书实施例对此不作限定。
步骤S64，基于所述线性关系确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值。
作为一种示例，可以利用上述线性关系得到当前张力感应数据对应的目标张力标准值。
步骤S70，将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
作为一种示例，将目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
在本申请中，获取待检测对象的当前张力感应数据，其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；根据测温装置检测得到当前环境温度；获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。在本申请中，在通过张力传感器进行张力检测时，基于多个张力标定值与张力感应数据得到的第一校准数据集。由于第一校准数据集包含多个对应关系，不是直接线性关系得到张力，而是间接的利用多个对应关系，克服了张力检测时的线性问题，另外，区别以往温度对张力感应数据无影响的处理方法，而是考虑到了实际中温度对张力感应数据会产生的影响，即提高了对张力进行检测时的检测精度。
实施例二
进一步地，基于本申请上述全部实施例，提供本申请的另一实施例，在该实施例中，步骤S50，获取预设的第一校准数据集的步骤之前，还包括步骤C1-步骤C5：
步骤C1，基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
在实施例一中，在对待检测对象进行张力检测之前，预先准备了预设大小的张力标定值，在预设大小的张力标定值的作用下得到对应的参考张力感应数据。在确定待检测对象的当前张力值时，采用了由参考张力感应数据与张力标定值得到的第一校准数据集。
在本实施例中，在对待检测对象进行张力检测之前，预先准备了预设大小的张力标定值，在预设大小的张力标定值的作用下得到参考张力感应数据，对参考张力感应数据进行解算，得到张力实测值。将解算得到的张力实测值与张力标定值作为校准数据对，得到第一校准数据集，在确定待检测对象的当前张力值时，采用由张力实测值与张力标定值得到的第一校准数据集，区别于实施例一中的第一校准数据集。
在本实施例中，基于张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值。
步骤C2，向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
作为一种示例，在基于张力传感器的检测精度要求确定张力校准值之后，借助拉力计向张力传感器分别施加上述多个张力标定值，拉力计有明确的拉力刻度。
步骤C3，获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
作为一种示例，获取多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据。
步骤C4，根据所述多个参考张力感应数据，分别解算得到对应的多个张力实测值；
作为一种示例，由于张力传感器内部的感应部件在张力的间接作用下生成张力感应数据，张力与张力感应数据之间存在对应关系。通过对参考张力感应数据解算，可以得到张力实测值。因此，根据多个参考张力感应数据，解算得到对应的多个张力实测值。
步骤C5，利用所述多个张力标定值和对应的多个张力实测值生成第一校准数据集，其中，所述第一校准数据集中包含多组张力标定值和张力实测值的校准数据对。
作为一种示例，利用多个张力标定值与多个张力实测值生成第一校准数据集，其中，第一校准数据集包含多组张力标定值与张力实测值的校准数据对。
步骤S60，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，包括步骤S65－步骤S66：
步骤S65，根据所述目标张力感应数据校准值，解算得到当前张力实测值；
作为一种示例，根据当前张力感应数据可以对应解算出当前张力实测值。
步骤S66，利用第一校准数据集，确定所述张力实测值对应的目标张力校准值。
作为一种示例，基于张力实测值和第一校准数据集，对张力实测值进行校准，得到张力实测值对应的目标张力校准值。
在本实施例中，作为实施例一补充方案，并没有直接采取实施例一中的基于张力标定值与参考张力感应数据得到的第一校准数据集，而是采取的基于张力标定值与张力实测值得到的第一校准数据集进行张力校准。建立实测值与标定值之间的数据关系，再基于实测值逆向得到对应的张力值。用户直观接触到的是张力实测值与张力标定值。对于用户而言，操作简单，更加方便了用户的使用。
实施例三
进一步地，基于上述所有实施例，提供本申请的另一实施例，在该实施例中，如图2，提供一种张力传感器，所述装置包括：
第一获取模块，用于获取待检测对象的当前张力感应数据；其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
第二获取模块，用于获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
第一确定模块，用于利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
张力确定模块，用于将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的张力值。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述获取预设的第一校准数据集的步骤之前，所述装置还包括：
第二确定模块，用于基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
第一张力施加模块，用于向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
第三获取模块，用于获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
第三确定模块，用于将所述参考张力感应数据与对应的所述张力标定值作为校准数据对，得到包含多个所述校准数据对的所述第一校准数据集。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述获取预设的第一校准数据集的步骤之前，所述装置还包括：
第四确定模块，用于基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
第二张力施加模块，用于向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
第四获取模块，用于获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
第一解算模块，用于根据所述多个参考张力感应数据，分别解算得到对应的多个张力实测值；
第五确定模块，用于利用所述多个张力标定值和对应的多个张力实测值生成第一校准数据集，其中，所述第一校准数据集中包含多组张力标定值和张力实测值的校准数据对。
在本申请的一种可能的实施方式中，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，所述装置包括：
第二解算模块，用于根据所述目标张力感应数据校准值，解算得到当前张力实测值；
第六确定模块，用于利用第一校准数据集，确定所述张力实测值对应的目标张力校准值。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，所述装置包括：
查询模块，用于从所述第一校准数据集中查询是否有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值；
第七确定模块，用于在没有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值的情况下，确定与所述目标张力感应数据校准值相邻的两组校准数据对；
第八确定模块，用于基于所述两组校准数据对，确定张力标定值与张力感应数据之间的线性关系；
第九确定模块，用于基于所述线性关系确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值。
在本申请的一种可能的实施方式中，所述获取温度校准数据集的步骤之前，所述装置包括：
第十确定模块，用于确定多个温度数据；
第五获取模块，用于保持张力标定值恒定，获取在多个温度下生成的张力感应数据，得到多组包含温度数据与对应的张力感应数据的参考数据对；
温度校准数据集确定模块，用于根据多组所述参考数据对，生成温度校准数据集，其中，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况。
在本申请的一种可能的实施方式中，在利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值之前，所述装置还包括：
第六获取模块，用于根据测温装置获取环境温度；
第七获取模块，用于获取所述温度校准数据集；
第十一确定模块，用于利用所述温度校准数据集，确定所述环境温度下所述当前张力感应数据对应的目标张力感应数据校准值；
更新模块，用于将所述当前张力感应数据更新为所述目标张力感应数据校准值；
对应的，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值，包括：
第十二确定模块，用于利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值。
本申请张力传感器具体实施方式与上述张力检测方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
实施例四
进一步地，基于上述所有实施例，提供本申请的另一实施例，在该实施例中，提供一种张力传感器，所述张力传感器为实体节点设备，所述张力传感器包括：感应部件、存储器、处理器以及存储在存储器上的用于实现所述张力检测方法的程序，所述感应部件用于感应张力的变化生成张力感应数据，所述存储器用于存储实现张力检测方法的程序；所述处理器用于执行实现所述张力检测方法的程序，以实现上述实施例中张力检测方法的步骤。
参照图3，图3是本申请实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。
如图3所示，该张力传感器可以包括：处理器1001，例如CPU，存储器1005，通信总线1002。其中，通信总线1002用于实现处理器1001和存储器1005之间的连接通信。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储设备。
在本申请的一种可能的实施方式中，该张力传感器还可以包括网络接口、音频电路、显示器、连接线、传感器、输入模块等等，网络接口可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口、蓝牙接口)，输入模块可选的可以包括键盘(Keyboard)、系统软键盘、语音输入、无线接收输入等等。
本领域技术人员可以理解，张力传感器结构并不构成对张力传感器的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
作为一种计算机存储介质的存储器中可以包括操作系统、信息交换模块以及张力检测程序。操作系统是管理和控制张力传感器硬件和软件资源的程序，支持张力检测程序以及其它软件和/或程序的运行。信息交换模块用于实现存储器内部各组件之间的通信，以及与管理系统中其它硬件和软件之间通信。
张力传感器中，处理器用于执行存储器中存储的张力检测程序，实现上述的张力检测的步骤。
本申请张力传感器具体实施方式与上述张力检测方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
实施例五
本申请实施例提供了一种存储介质，且所述存储介质存储有一个或者一个以上程序，所述一个或者一个以上程序还可被一个或者一个以上的处理器执行以用于实现上述实施例中张力检测方法的步骤。
本申请存储介质具体实施方式与上述张力检测方法各实施例基本相同，在此不再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储存储介质(如ROM或者RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种张力检测方法，应用于张力传感器，其特征在于，所述张力检测方法包括：
获取待检测对象的当前张力感应数据，其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
根据测温装置检测得到当前环境温度；
获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；
利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；
获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
2.根据权利要求1所述的张力检测方法，其特征在于，所述获取预设的第一校准数据集的步骤之前，还包括：
基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
将所述参考张力感应数据与对应的所述张力标定值作为校准数据对，得到包含多个所述校准数据对的所述第一校准数据集。
3.根据权利要求1所述的张力检测方法，其特征在于，所述获取预设的第一校准数据集的步骤之前，还包括：
基于所述张力传感器的检测精度要求确定多个所述张力标定值；
向所述张力传感器分别施加所述多个张力标定值；
获取所述多个张力标定值对应的多个参考张力感应数据；
根据所述多个参考张力感应数据，分别解算得到对应的多个张力实测值；
利用所述多个张力标定值和对应的多个张力实测值生成第一校准数据集，其中，所述第一校准数据集中包含多组张力标定值和张力实测值的校准数据对。
4.根据权利要求3所述的张力检测方法，其特征在于，利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，包括：
根据所述目标张力感应数据校准值，解算得到当前张力实测值；
利用第一校准数据集，确定所述张力实测值对应的目标张力校准值。
5.根据权利要求2所述的张力检测方法，其特征在于，所述利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值的步骤，包括：
从所述第一校准数据集中查询是否有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值；
在没有与所述目标张力感应数据校准值相等的数据值的情况下，确定与所述目标张力感应数据校准值相邻的两组校准数据对；
基于所述两组校准数据对，确定张力标定值与张力感应数据之间的线性关系；
基于所述线性关系确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值。
6.根据权利要求1所述的张力检测方法，其特征在于，所述获取温度校准数据集的步骤之前，还包括：
确定多个温度数据；
保持张力标定值恒定，获取在多个温度下生成的张力感应数据，得到多组包含温度数据与对应的张力感应数据的参考数据对；
根据多组所述参考数据对，生成温度校准数据集，其中，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况。
7.根据权利要求1所述的张力检测方法，其特征在于，利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值，包括：
利用所述温度校准数据集，确定在所述当前环境温度下所述当前张力感应数据对应的目标张力感应数据校准值；
将所述当前张力感应数据更新为所述目标张力感应数据校准值。
8.一种张力检测装置，应用于张力传感器，其特征在于，所述张力检测装置包括：
第一获取模块，用于获取待检测对象的当前张力感应数据；其中，所述张力感应数据用于表征所述张力传感器中的感应部件因张力产生的变化；
温度检测模块，用于根据测温装置检测得到当前环境温度；
第二获取模块，用于获取温度校准数据集，所述温度校准数据集用于表征在不同温度下张力感应数据的变化情况；
第一校准模块，用于利用所述温度校准数据集和所述当前环境温度，校准所述当前张力感应数据得到目标张力感应数据校准值；
第三获取模块，用于获取预设的第一校准数据集，所述第一校准数据集用于表征多个张力标定值与张力感应数据之间的对应关系；
第二校准模块，用于利用所述第一校准数据集，确定所述目标张力感应数据校准值对应的目标张力校准值；
张力确定模块，用于将所述目标张力校准值作为所述待检测对象的当前张力值。
9.一种张力传感器，其特征在于，包括感应部件、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的张力检测程序，所述感应部件用于感应张力的变化生成张力感应数据，所述处理器执行所述张力检测程序实现权利要求1至7中任一项所述的张力检测方法的步骤。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有实现张力检测方法的程序，所述实现张力检测方法的程序被处理器执行以实现如权利要求1至7中任一项所述张力检测方法的步骤。
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