CN116168021B - 一种故障零件识别系统及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种故障零件识别系统及方法，包括分别获取标准比对图和检测比对图，并通过所述标准比对图和检测比对图分别获取标准比对信息、标准坐标、检测比对信息和检测坐标；结合标准坐标与检测坐标实现所述标准比对信息与所述检测比对信息的对应组合，在通过比对组合后的各组所述标准比对信息与所述检测比对信息是否相同判定待检测零件是否合格；与现有技术相比，本申请通过将标准比对图和检测比对图进行分割的方式产生若干标准比对区和检测比对区，再通过放大以及分别比对的方式对检测比对图的各个区域分别与标准比对图进行一一对应的比对和识别，从而提高比对的精度。

Description

一种故障零件识别系统及方法

技术领域

本申请涉及故障识别技术领域，具体涉及一种故障零件识别系统及方法。

背景技术

目前，在PCB电路板生产工艺中通过曝光将线路图像转移到干膜上，随后再通过显影、电铜以及蚀刻等多道工序实现线路板的生产；在线路板生成过程中不可能将良品率控制在100%，因此需要对生产的线路板进行检测，以确定线路中是否有开短路、微开以及微短等缺陷发生；

现有技术中一般通过肉眼观测或拍照比对的方式发现上述缺陷，但是上述方式的识别精度均较低，无法满足线路板生产的质量要求。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种故障零件识别系统及方法，旨在解决现有技术中存在的识别精度低的缺陷。

一种故障零件识别方法，包括以下步骤：

获取合格待检测零件的标准比对图和待检测零件的检测比对图；

将所述标准比对图划分为若干标准比对区，并获取各个标准比对区的标准比对信息和标准坐标；将所述检测比对图划分为若干检测比对区，并获取各个检测比对区的检测比对信息和检测坐标；

结合所述标准坐标与所述检测坐标，分别提取相互对应的所述标准比对信息与所述检测比对信息并进行比对，若所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，则所述检测比对信息合格，否则不合格；所有检测比对信息均合格，则待检测零件合格，否则不合格。

可选的，将所述标准比对图划分为若干标准比对区，并获取各个标准比对区的标准比对信息和标准坐标，包括以下步骤：

根据检测精度要求确定所述标准比对区的数量；

根据所述标准比对区的数量和所述标准比对图的外形轮廓线生成网格图，并为所述网格图中的每个网格赋予坐标编码；

将所述网格图覆盖于所述标准比对图上；

分别获取各个标准比对区的图像信息，并将所述图像信息作为标准比对信息，各个网格的坐标编码作为各个标准比对区的标准坐标，将各所述标准比对信息与各所述标准坐标一一对应绑定。

可选的，将所述检测比对图划分为若干检测比对区，并获取各个检测比对区的检测比对信息和检测坐标，包括以下步骤：

调整获取的所述检测比对图的摆放位置，使所述检测比对图在平移后与所述标准比对图完全重叠；

将用于分割所述标准比对图的网格图平移到所述检测比对图上；

分别获取各个检测比对区的图像信息，并将所述图像信息作为检测比对信息，各个网格的坐标编码作为各个检测比对区的检测坐标，将各所述检测比对信息与各所述检测坐标一一对应绑定。

可选的，结合所述标准坐标与所述检测坐标，分别提取相互对应的所述标准比对信息与所述检测比对信息并进行比对，若所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，则所述检测比对信息合格，否则不合格，包括以下步骤：

根据所述图像信息中是否含有零件影像将所述图像信息划分为空白图像，部分填充图像和全填充图像；

结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述标准比对信息划分为一类标准比对信息、二类标准比对信息和三类标准比对信息；

结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述检测比对信息划分为一类检测比对信息、二类检测比对信息和三类检测比对信息；

将所述一类标准比对信息与所述一类检测比对信息进行比对，将所述二类标准比对信息与所述二类检测比对信息进行比对，将所述三类标准比对信息与所述三类检测比对信息进行比对，若上述比对均合格，则所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，所述检测比对信息合格，否则不合格。

可选的，将所述一类标准比对信息与所述一类检测比对信息进行比对，包括以下步骤：

提取所述一类标准比对信息的所有标准坐标，建立一类标准坐标集合；

提取所述一类检测比对信息的所有检测坐标，建立一类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述一类标准坐标集合与所述一类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格。

可选的，将所述三类标准比对信息与所述三类检测比对信息进行比对，包括以下步骤：

提取所述三类标准比对信息的所有标准坐标，建立三类标准坐标集合；

提取所述三类检测比对信息的所有检测坐标，建立三类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述三类标准坐标集合与所述三类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格。

可选的，将所述二类标准比对信息与所述二类检测比对信息进行比对，包括以下步骤：

提取所述二类标准比对信息的所有标准坐标，建立二类标准坐标集合；

提取所述二类检测比对信息的所有检测坐标，建立二类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述二类标准坐标集合与所述二类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则进入下一步，否则不合格；

根据所述映射关系，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息；

比对两图像信息中包含的零件影像，若零件影像完全相同，则对比合格，否则不合格；

重复根据所述映射关系，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息，若均比对合格，则二类标准比对信息与所述二类检测比对信息比对合格，否则不合格。

可选的，比对两图像信息中包含的零件影像，若零件影像完全相同，则对比合格，否则不合格，包括以下步骤：

调整两图像信息的方向，使两图像信息中的零件影像按相同的方式摆放；

分别在两所述图像信息上建立完全相同的坐标系；

在任一所述坐标系中随机选取若干比对点，获取各所述比对点的点位坐标；

根据所述比对点是否被图像信息中的零件影像覆盖，分别赋予各比对点不同的识别码，将所述识别码分别与对应的点位坐标绑定；

根据点位坐标，将各比对点投影到另一坐标系中；若投影后，所有比对点的识别码均不发生改变，则比对合格，否则不合格。

可选的，比对点随机分布于零件影像轮廓线的两侧。

基于上述任意一项所述的一种故障零件识别方法的识别系统，包括：

数据采集单元，用于获取合格待检测零件的标准比对图和待检测零件的检测比对图；

数据处理单元，用于将所述标准比对图划分为若干标准比对区，并获取各个标准比对区的标准比对信息和标准坐标；以及将所述检测比对图划分为若干检测比对区，并获取各个检测比对区的检测比对信息和检测坐标；

比对判定单元，用于结合所述标准坐标与所述检测坐标，分别提取相互对应的所述标准比对信息与所述检测比对信息并进行比对，若所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，则所述检测比对信息合格，否则不合格；所有检测比对信息均合格，则待检测零件合格，否则不合格。

与现有技术相比，本申请具有以下有益效果：

本申请所述识别方法首先分别获取标准比对图和检测比对图；并通过所述标准比对图和检测比对图分别获取标准比对信息、标准坐标、检测比对信息和检测坐标；结合标准坐标与检测坐标实现所述标准比对信息与所述检测比对信息的对应组合，在通过比对组合后的各组所述标准比对信息与所述检测比对信息是否相同判定待检测零件是否合格；

与现有技术相比，本申请通过将标准比对图和检测比对图进行分割的方式产生若干标准比对区和检测比对区，再通过放大以及分别比对的方式对检测比对图的各个区域分别与标准比对图进行一一对应的比对和识别，从而提高比对的精度。

附图说明

图1为本申请实施方式1提供的一种故障零件识别系统的结构图；

图2为本申请实施方式2提供的一种故障零件识别方法的流程图；

图3为网格图布置即坐标编码原理图；

图4为建立比对坐标系的原理图；

图5为比对点分布图；

附图标记：1-数据采集单元，2-数据处理单元，3-比对判定单元，4-数据处理模块，5-数据库。

本申请目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图作进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，本发明实施例中所有方向性指示（诸如上、下、左、右、前、后……）仅用于解释在某一特定姿态（如附图所示）下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中出现的“和/或”的含义，包括三个并列的方案，以“A和/或B”为例，包括A方案、或B方案、或A和B同时满足的方案。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

实施方式1

参照图1，本实施方式作为本申请的一可选的实施方式，其公开了一种故障零件识别系统，包括数据采集单元1、数据处理单元2和比对判定单元3，所述数据采集单元1的信号输入端分别连接有摄像头的数据处理模块4和数据库5，使用时，摄像头对待检测零件进行拍照，以获取相应的图像信息，数据处理模块将采集的图像信息按照要求处理为检测比对图后传送给数据采集单元1；

数据库5用于存储不同种类的合格待检测零件的标准比对图，上述标准比对图为预先录入，标准比对图来源于合格零件的图像采集；数据采集模块根据使用者输入的零件信息从数据库5中选定并提取相应的标准比对图，同时将提取的标准比对图发送到数据处理单元2作为比对的模板；

所述数据处理单元2的输入端与所述数据采集单元相连，同时所述数据处理单元2的输出端则连接比对判定单元；

通过所述数据处理单元2在所述标准比对图上建立网格图，同时通过分割所述网格图提取标准比对信息和标准坐标，同时还通过数据处理单元2将网格图映射到所述检测对比图中，并提取检测比对信息和检测坐标；

上述参数提取完成后，所述数据处理单元2将上述参数发送到比对判定单元3；所述比对判定单元3用于接收所述数据处理单元2发送的标准比对信息、标准坐标、检测对比信息和检测坐标；结合所述标准坐标与所述检测坐标，分别提取相互对应的所述标准比对信息与所述检测比对信息进行比对并判定待检测零件是否合格。

实施方式2

参照图2，本实施方式作为本申请一可选的实施方式，其公开了一种故障零件识别方法，包括以下步骤：

S1、获取合格待检测零件的标准比对图和待检测零件的检测比对图；

工作人员从数据库中调取需要的合格待检测零件的标准比对图，需要说明的是，标准比对图通过对预先准备的合格零件图拍摄扫描而成；数据库中存放有多个不同类别零件的标准比对图，从而满足不同的检测需要，且实现标准比对图的快速调取，提高检测效率；

同时注入摄像头等装置采集待检测零件的检测比对图，并将上述检测比对图传动到数据处理单元；

S2、将所述标准比对图划分为若干标准比对区，并获取各个标准比对区的标准比对信息和标准坐标；将所述检测比对图划分为若干检测比对区，并获取各个检测比对区的检测比对信息和检测坐标；

S21、根据检测精度要求确定所述标准比对区的数量；

标准比对区的数量根据实际检测精度要求确定，即检测精度要求越高，则标准比对区的数量越大，标准比对区的数量可以为1000，也可以设定为10000或其他数量。

S22、根据所述标准比对区的数量和所述标准比对图的外形轮廓线生成网格图，并为所述网格图中的每个网格赋予坐标编码；

以标准比对图的外形轮廓线作为网格图的轮廓线，在轮廓线内设置若干呈十字交叉的经线和纬线；所述经线和纬线的数量根据需要有工作人员或计算机随机设定；

同时需要说明的是，所述经线之间的距离和所述纬线之间的距离可以相同也可以不同，即只要能够分割出设定数量的标准比对区即可；

如图3所示，网格图设计完成后，为每一行网格分别赋予行号n，每一列网格赋予列号m，通过行号n和列号m的排列组合为每个网格赋予坐标编号（1、1）（1、2），....，（n、m）；

采用网格划分的方式能够将标准比对图划分为比对区域，从而将相应区域的图像放大并分别比对，提高比对的精度；

同时网格图中的各个网格的大小可以相同，也可以不同，当能够准确无误的判定若干相邻网格内的图像信息相同时，可以将上述网格合并，合并后的网格则采用单独赋予坐标编号的方式进行编号；

采用上述方式能够在不降低比对精度的情况下减少比对的工作量，从而提高整个系统工作的效率，同时还能够降低对比对计算量，降低对计算机的硬件要求。

S23、将所述网格图覆盖于所述标准比对图上；

将网格图覆盖于所述标准比对图上，网格图的起始点与其在所述标准比对图的参考点重合，同时网格图的轮廓线与标准比对图的轮廓线重合；则通过网格图即可将标准比对图划分为标准比对区，即一个网格即为一个标准比对区；

S24、分别获取各个标准比对区的图像信息，并将所述图像信息作为标准比对信息，各个网格的坐标编码作为各个标准比对区的标准坐标，将各所述标准比对信息与各所述标准坐标（n、m）一一对应绑定。

根据步骤S23的分割方式将所述标准比对图拆分为若干图片，各个图片上包含的图像信息即为该标准比对区包含的标准比对信息，同时各个网格的坐标为对应标准比对区的标准坐标，将各所述标准比对信息与各所述标准坐标一一对应绑定。

S25、调整获取的所述检测比对图的摆放位置，使所述检测比对图在平移后能够与所述标准比对图完全重叠；

通过摄像头等图像采集模块对待检测零件进行拍照，同时将上述照片传送到数据处理单元，即可获取检测比对图；

固定所述标准比对图，通过旋转的方式调整所述检测比对图的位置，直至只能通过平移方式使所述标准比对图与所述检测比对图的轮廓线完全重合，其包含的零件图像也完全重叠；

通过上述方式调整检测比对图的位置，避免因摆放错误导致对比错误；

S26、将用于分割所述标准比对图的网格图平移到所述检测比对图上；

将所述步骤S23中的网格图平移到所述检测比对图上，网格图的轮廓线与所述检测比对图的轮廓线完全重合，重叠完成后，一个网格即为一个检测比对区；

S27、分别获取各个检测比对区的图像信息，并将所述图像信息作为检测比对信息，各个网格的坐标编码作为各个检测比对区的检测坐标，将各所述检测比对信息与各所述检测坐标一一对应绑定。

根据步骤S26的分割方式将所述检测比对图拆分为若干图片，各个图片上包含的图像信息即为该检测比对区包含的检测比对信息，同时各个网格的坐标（n、m）为对应检测比对区的检测坐标（n、m），将各所述检测比对信息与各所述检测坐标一一对应绑定。

通过上述旋转和平移控制能够保证相对应的检测比对区与标准比对区均反映待检测铜板的同一区域，从而保证比对对象的正确性，避免出现比对混乱，且上述方式简单、操作性强，能够有效简化控制程序。

S3、结合所述标准坐标与所述检测坐标，分别提取相互对应的所述标准比对信息与所述检测比对信息并进行比对，若所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，则所述检测比对信息合格，否则不合格；所有检测比对信息均合格，则待检测零件合格，否则不合格；

S31、根据所述图像信息中是否含有零件影像将所述图像信息划分为空白图像，部分填充图像和全填充图像；

待检测铜板加工完成后，部分区域为镂空状态，即待检测铜镂空区内，其包含的图像信息即为空白图像；部分网格将全部位于铜板区内，其包含的图像信息即为全填充图像；部分网格将位于镂空区和铜板区的交界处，因此其将被铜板部分填充，其包含的图像信息即为部分填充图像；

S32、结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述标准比对信息划分为一类标准比对信息、二类标准比对信息和三类标准比对信息；

S33、结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述检测比对信息划分为一类检测比对信息、二类检测比对信息和三类检测比对信息；

根据步骤S31中的分类标准将所有标准比对区和所有检测比对区进行分类；

其中标准比对区中，图像信息为空白图像的分类到一类标准比对信息；图像信息为部分填充图像的分类到二类标准比对信息，图像信息为全填充图像的分类到三类标准比对信息；

检测比对区中，图像信息为空白图像的分类到一类检测比对信息；图像信息为部分填充图像的分类到二类检测比对信息，图像信息为全填充图像的分类到三类检测比对信息；

S34、将所述一类标准比对信息与所述一类检测比对信息进行比对，将所述二类标准比对信息与所述二类检测比对信息进行比对，将所述三类标准比对信息与所述三类检测比对信息进行比对，若上述比对均合格，则所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，所述检测比对信息合格，否则不合格。

S341、提取所述一类标准比对信息的所有标准坐标，建立一类标准坐标集合；

各个一类标准比对信息均有唯一对应的标准坐标，将上述标准坐标归集到一类标准坐标集合；

S342、提取所述一类检测比对信息的所有检测坐标，建立一类检测坐标集合；

各个一类检测比对信息均有唯一对应的检测坐标，将上述检测坐标归集到一类检测坐标集合；

S343、基于坐标相同的原则，在所述一类标准坐标集合与所述一类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格。

S344、提取所述三类标准比对信息的所有标准坐标，建立三类标准坐标集合；

S345、提取所述三类检测比对信息的所有检测坐标，建立三类检测坐标集合；

S346、基于坐标相同的原则，在所述三类标准坐标集合与所述三类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格。

由于空白图像和全填充图像均只包含一种图像信息，因此无论如何比对，相互比对的两空白图像的比对结果均为图像相同，相互比对的两全填充图像的比对结构也是图像相同，因此现有技术中的图像信息比对不适用于上述工况；

如果检测比对图合格，则所述检测比对图包含的图像信息与所述标准比对图包含的图像信息完全相同，同时由于所述检测比对图与所述标准比对图使用了相同的网格图和坐标编码方法，因此标准坐标与检测坐标也完全相同，即能够基于相同的坐标在一类标准坐标集合与所述一类检测坐标集合之间能够建立一一映射，因此本申请能够通过坐标映射的方式跳开图像信息的识别实现对相关对比信息的快速比对和判断；

同时与图像比对方式相比，坐标包含的信息量相对简单，其不但能够降低计算比对过程中的运算量；同时通过映射的方式能够实现对相关数据的批量化处理，有助于提高比对效率；

在本申请通过能否建立一一映射作为判定是否比对合格的唯一标准，基于一一映射的定义可知，其能够有效实现标准坐标与检测坐标的配对，且不会产生任何遗漏，因此其能够极大的提高了检测的精度，避免出现漏检或错检。

S347、提取所述二类标准比对信息的所有标准坐标，建立二类标准坐标集合；

S348、提取所述二类检测比对信息的所有检测坐标，建立二类检测坐标集合；

S349、基于坐标相同的原则，在所述二类标准坐标集合与所述二类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则进入下一步，否则不合格；

通过对二类标准坐标集合与所述二类检测坐标集合的映射比对能够及时确定坐标之间的一致性，同时为后续比对过程中的信息提取建立依据，避免比对元素的提取错误，在提高比对正确性的同时，通过简单的坐标比对及时发现图像信息以外的错误，并及时终止比对程序，提高比对效率。

S3410、根据所述映射关系，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息；

根据步骤S349中建立的一一映射关系，分别从所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取相互对应的两个图像信息；

S3411、比对两图像信息中包含的零件影像，若零件影像完全相同，则对比合格，否则不合格；

S34111、调整两图像信息的方向，使两图像信息中的零件影像按相同的方式摆放；

通过旋转的方式调整两图像信息的方向，使两图像信息中的零件影像按相同的方式摆放，即其中一个图像信息中的零件影像通过平移能够与另一图像信息中的零件影像完全重叠；

S34112、分别在两所述图像信息上建立完全相同的坐标系；

在任一所述图像信息中选择一点作为原点，并以上述原点建立直角坐标系；

如图4所示，左侧表示二类标准比对信息建立比对坐标系的原理图，即优先选择所述二类标准比对信息的图像信息的一个顶点为原点，并分别以其横边为X轴，纵边为Y轴；右侧表示二类检测比对信息，中间的箭头表示将左侧建立的比对坐标系平移到右侧的二类检测比对信息中，同时必须保证在二类标准比对信息与二类检测比对信息中选择相同的顶点作为原点（二类标准比对信息与所述二类检测比对信息按照相同的位置摆放时，位置相同的顶点作为原点）。

S34113、在任一所述坐标系中随机选取若干比对点，获取各所述比对点的点位坐标；

由于图像信息为部分填充图像，因此在步骤S34112中必然含有零件的轮廓线；在上述坐标系中随机选择若干比对点，并获取上述比对点的点位坐标（x、y）；

S34114、根据所述比对点是否被图像信息中的零件影像覆盖，分别赋予各比对点不同的识别码，将所述识别码分别与对应的点位坐标绑定；

若选择的比对点位于零件影像范围内，则认为该比对点被零件影像覆盖，否则认定其没有被零件影像覆盖；分别设置两种识别码对应上述两种情况，所述识别码可以是数字1或0，也可以是其他两种编号；

即假设某一比对点的坐标是（x、y），同时其识别码是1，则其绑定后的输出结果为（x、y、1）；同时建立所有识别点的相关参数的集合；

S34115、根据点位坐标，将各比对点投影到另一坐标系中；若投影后，所有比对点的识别码均不发生改变，则比对合格，否则不合格；

从步骤S34115中的集合中提取所有的点位坐标，并根据上述坐标在另一坐标系中找到相应的点位，即可实现比对点位在两个坐标系之间的投影；

此时根据是否被零件影像覆盖的原则分别获取各个比对点位在另一坐标系中的识别码，若获取的识别码与原识别码相同，则比对合格，若识别码发生改变，则比对不合格；

由于上述比对点位是在整个图像信息中随机选择，因此比对点位均布于整个坐标系内，如果相互比对的两图像信息完全相同，则比对点位的识别代码也会相同；如果图像信息不同，则比对点位将有可能分布在差异区，进而通过识别码是否改变进行识别；

与现有技术相比，本申请通过随机选择的点位实现了图像的快速分别识别，且选择的比对点位数量越多，识别精度越高，同时与现有技术中通过轮廓线识别的方式相比，通过点位识别不但能够降低运算量，同时还能够显著提高对比效率；

上述技术方案中比对点的数量根据需要确定，点位的具体位置随机产生，但在零件轮廓线两侧选择点位为最佳点位；

如图5所示，图中黑点表示比对点，两条实现及其之间的区域为零件影像，现有技术在生产待检测铜板时，其加工误差有限，即实际加工产生的轮廓线相对于标准比对区中的轮廓线有一定的偏移量（图中虚线），且上述偏移量有限，如果比对点距离轮廓线较远，则其可能位于偏移量的上限或下限，此时无论如何选取偏移量，其结果均是比对合格，从而造成识别误差；

通过将比对点集中于轮廓线的两侧能够保证尽可能多的点位位于偏移量的上限与下限之间，从而实现对图像异常区的识别，有利于提高识别精度。

S3412、重复根据所述映射关系，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息，若均比对合格，则二类标准比对信息与所述二类检测比对信息比对合格，否则不合格。

完成一对影像信息比对后，再根据映射关系一次比对其他影像信息，当所有影像信息比对都合格时，则所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息比对合格，否则不合格；

同时为了进一步提高检测的精度，可以对于识别码是否改变设定一定的阈值，即只有超过阈值份额的识别码发生改变才能够判定对比不合格，从而避免因图像处理而造成的比对误差，提高比对结果的精度。

当上述步骤中所有检测比对均合格时，才能够判定与检测比对图对应的待检测铜板合格，否则即可判定待检测铜板不合格。

以上仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所做的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (4)

1.一种故障零件识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取合格待检测零件的标准比对图和待检测零件的检测比对图；

根据检测精度要求确定标准比对区的数量；

根据标准比对区的数量和标准比对图的外形轮廓线生成网格图，并为所述网格图中的每个网格赋予坐标编码；

将所述网格图覆盖于所述标准比对图上；

分别获取各个标准比对区的图像信息，并将所述图像信息作为标准比对信息，各个网格的坐标编码作为各个标准比对区的标准坐标，将各所述标准比对信息与各所述标准坐标一一对应绑定；

调整获取的所述检测比对图的摆放位置，使所述检测比对图在平移后与所述标准比对图完全重叠；

将用于分割所述标准比对图的网格图平移到所述检测比对图上；

分别获取各个检测比对区的图像信息，并将所述图像信息作为检测比对信息，各个网格的坐标编码作为各个检测比对区的检测坐标，将各所述检测比对信息与各所述检测坐标一一对应绑定；

根据所述图像信息中是否含有零件影像将所述图像信息划分为空白图像，部分填充图像和全填充图像；

结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述标准比对信息划分为一类标准比对信息、二类标准比对信息和三类标准比对信息；

结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述检测比对信息划分为一类检测比对信息、二类检测比对信息和三类检测比对信息；

提取所述一类标准比对信息的所有标准坐标，建立一类标准坐标集合；

提取所述一类检测比对信息的所有检测坐标，建立一类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述一类标准坐标集合与所述一类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格；

提取所述二类标准比对信息的所有标准坐标，建立二类标准坐标集合；

提取所述二类检测比对信息的所有检测坐标，建立二类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述二类标准坐标集合与所述二类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则进入下一步，否则不合格；

根据所述映射，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息；

比对两图像信息中包含的零件影像，若零件影像完全相同，则对比合格，否则不合格；

重复根据所述映射，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息，若均比对合格，则二类标准比对信息与所述二类检测比对信息比对合格，否则不合格；

提取所述三类标准比对信息的所有标准坐标，建立三类标准坐标集合；

提取所述三类检测比对信息的所有检测坐标，建立三类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述三类标准坐标集合与所述三类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格；

若上述比对均合格，则所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，所述检测比对信息合格，否则不合格。

2.根据权利要求1所述的一种故障零件识别方法，其特征在于，所述比对两图像信息中包含的零件影像，若零件影像完全相同，则对比合格，否则不合格，包括以下步骤：

调整两图像信息的方向，使两图像信息中的零件影像按相同的方式摆放；

分别在两所述图像信息上建立完全相同的坐标系；

在任一所述坐标系中随机选取若干比对点，获取各所述比对点的点位坐标；

根据所述比对点是否被图像信息中的零件影像覆盖，分别赋予各比对点不同的识别码，将所述识别码分别与对应的点位坐标绑定；

根据点位坐标，将各比对点投影到另一坐标系中；若投影后，所有比对点的识别码均不发生改变，则比对合格，否则不合格。

3.根据权利要求2所述的一种故障零件识别方法，其特征在于，所述比对点随机分布于零件影像轮廓线的两侧。

4.基于权利要求1到3中任意一项所述的一种故障零件识别方法的识别系统，其特征在于，包括：

数据采集单元，用于获取合格待检测零件的标准比对图和待检测零件的检测比对图；

数据处理单元，用于根据检测精度要求确定标准比对区的数量；

根据标准比对区的数量和标准比对图的外形轮廓线生成网格图，并为所述网格图中的每个网格赋予坐标编码；

将所述网格图覆盖于所述标准比对图上；

分别获取各个标准比对区的图像信息，并将所述图像信息作为标准比对信息，各个网格的坐标编码作为各个标准比对区的标准坐标，将各所述标准比对信息与各所述标准坐标一一对应绑定；

调整获取的所述检测比对图的摆放位置，使所述检测比对图在平移后与所述标准比对图完全重叠；

将用于分割所述标准比对图的网格图平移到所述检测比对图上；

分别获取各个检测比对区的图像信息，并将所述图像信息作为检测比对信息，各个网格的坐标编码作为各个检测比对区的检测坐标，将各所述检测比对信息与各所述检测坐标一一对应绑定；

比对判定单元，用于根据所述图像信息中是否含有零件影像将所述图像信息划分为空白图像，部分填充图像和全填充图像；

结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述标准比对信息划分为一类标准比对信息、二类标准比对信息和三类标准比对信息；

结合所述空白图像，部分填充图像和全填充图像将各所述检测比对信息划分为一类检测比对信息、二类检测比对信息和三类检测比对信息；

提取所述一类标准比对信息的所有标准坐标，建立一类标准坐标集合；

提取所述一类检测比对信息的所有检测坐标，建立一类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述一类标准坐标集合与所述一类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格；

提取所述二类标准比对信息的所有标准坐标，建立二类标准坐标集合；

提取所述二类检测比对信息的所有检测坐标，建立二类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述二类标准坐标集合与所述二类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则进入下一步，否则不合格；

根据所述映射，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息；

比对两图像信息中包含的零件影像，若零件影像完全相同，则对比合格，否则不合格；

重复根据所述映射，分别在所述二类标准比对信息和所述二类检测比对信息中提取图像信息，若均比对合格，则二类标准比对信息与所述二类检测比对信息比对合格，否则不合格；

提取所述三类标准比对信息的所有标准坐标，建立三类标准坐标集合；

提取所述三类检测比对信息的所有检测坐标，建立三类检测坐标集合；

基于坐标相同的原则，在所述三类标准坐标集合与所述三类检测坐标集合之间建立映射，若上述映射为一一映射，则对比合格，否则不合格；

若上述比对均合格，则所述标准比对信息与所述检测比对信息完全相同，所述检测比对信息合格，否则不合格。