CN116149498A - 以供应用于触控面板的旋钮使用的校正方法以及校正装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公司一种以供应用于一触控面板的一旋钮使用的校正方法以及校正装置,其中旋钮包含有至少一感测垫,以及校正方法包含有:通过触控面板来感测至少一感测垫的每一个感测垫的一位置,以取得至少一感测垫的每一个感测垫的至少一感测位置;以及根据每一个感测垫的至少一感测位置来通过利用一外接圆半径公式计算该旋钮的一中心位置。
Description
技术领域
本发明涉及使用者界面(user interface,UI)机制设计,且尤其是涉及供应用于一触控面板的一旋钮(knob)使用的校正方法。
背景技术
旋钮装置常被使用于一般电子装置中,诸如以供在一音频播放器上调整音量的旋钮、以供在一收音机上调整频率的旋钮或以供在一汽车控制台(car console)上调整空调/风量的旋钮,其中该些电子装置中有许多电子装置都配置有一触控面板。因此,如何整合旋钮装置以及触控面板来协助使用者控制上的操作成为重要议题,当一触控面板配置有一旋钮时,该旋钮的位置可能会因为某些原因而偏移,举例来说,由于定位误差或层合材料(laminated material)因老化而造成的劣化,该旋钮的位置可能会偏移。旋钮位置的偏移可能会造成旋钮的旋转角度的误判,并且进一步地影响旋钮的稳定性以及可靠性,因此,极需一种新颖的校正方法以及相关架构,以在无副作用或较少副作用的状况下解决上述问题。
发明内容
因此,本发明的目的之一在于提供一种用来取得一旋钮的一新中心的校正方法以及相关校正装置。
根据本发明的至少一实施例,提供了一种以供应用于一触控面板的一旋钮使用的校正方法,其中旋钮包含有至少一感测垫,以及该校正方法包含有:通过触控面板来感测至少一感测垫的每一个感测垫的一位置,以取得至少一感测垫的每一个感测垫的至少一感测位置;以及根据每一个感测垫的至少一感测位置来通过利用一外接圆半径公式计算旋钮的一中心位置。
根据本发明的至少一实施例,提供了一种以供应用于一触控面板的一旋钮使用的校正装置,其中旋钮包含有至少一感测垫,以及该校正装置包含有一感测处理电路以及一计算电路。感测处理电路可用以通过触控面板来感测至少一感测垫的每一个感测垫的一位置,以取得每一个感测垫的至少一感测位置。计算电路可用以根据每一个感测垫的至少一感测位置来通过利用一外接圆半径公式计算旋钮的一中心位置。
本发明的好处之一在于本发明的校正方法以及校正装置能够通过计算来取得旋钮的新中心位置,通过按压或旋转旋钮,可以取得一个或多个感测垫的位置,而旋钮的新中心位置可根据该一个或多个感测垫的多个感测位置来计算。本发明的校正方法提供了旋钮的准确中心位置,如此一来,可防止误判旋钮的旋转角度以及改善旋钮的稳定性以及可靠性。
附图说明
图1为本发明一实施例的以供应用于触控面板的旋钮使用的校正装置的示意图;
图2为旋钮的位置偏移以及受影响的旋转角度的示意图;
图3为本发明一实施例的以供旋钮使用的校正方法的流程图;
图4为本发明一实施例的以供仅具有单一感测垫的旋钮使用的校正方法的示意图;
图5为本发明一实施例的以供具有两个感测垫的旋钮使用的校正方法的示意图;
图6为本发明一实施例的以供具有分布范围小于旋钮的四分之一圆的三个感测垫的旋钮使用的校正方法的示意图;
图7为本发明一实施例的以供具有分布范围不小于旋钮的四分之一圆的三个感测垫的旋钮使用的校正方法的示意图。
符号说明
100:旋钮
120,120A,120B,120C:感测垫
140:感测处理电路
160:计算电路
180:校正装置
200:触控面板
300:流程图
302~326:步骤
具体实施方式
请参照图1,图1为依据本发明一实施例的以供应用于触控面板200的旋钮100使用的校正装置180的示意图。如图1所示,旋钮100被设置在触控面板200上,并且包含有至少一感测垫120,在一实施例中,旋钮100可仅具有单一感测垫120,在另一实施例中,旋钮100可具有多个感测垫120,为简洁起见,在图1中仅绘示单一感测垫120。以旋钮100仅具有单一感测垫120为例,当使用者通过接触旋钮100来操作旋钮100时,旋钮100会通过感测垫120形成一传导路径(conductive path),以允许碰触旋钮100的使用者的手指通过该传导路径而连接至触控面板200(其等效于允许使用者间接地控制触控面板200),也就是说,当使用者碰触旋钮100时,触控面板200会因应触控面板200、旋钮100以及使用者所形成的回路来产生一感测信号,其中该感测信号可包含有感测垫120的位置信息。
此外,当使用者旋转旋钮100时,触控面板200会因应感测垫200的移动与位置来产生多个感测信号,使得一旋转角度可通过感测垫120的多个位置来计算。此外,应用于旋钮100的校正装置180可用以对旋钮100的位置进行校正,并且可包含有感测处理电路140以及计算电路160,感测处理电路140可用以通过触控面板200感测每一个感测垫120的位置来取得每一个感测垫120的至少一感测位置,计算电路160可用以根据每一个感测垫120的至少一感测位置来利用外接圆半径公式计算旋钮100的中心位置,以取得旋钮100的新中心位置来取代旋钮100的原始中心位置。
旋钮100的位置可能会因为某些原因而偏移,对于旋钮100的偏移中心来说,可能会造成旋转角度的误判,请参照图2,图2为旋钮100的位置偏移以及受影响的旋转角度的示意图。如图2所示,举例来说,旋钮100自一原始位置偏移至一偏移位置,使得旋钮100的中心也偏移,假设感测垫120自位置A被旋转至位置B(在偏移位置中),并且感测垫120的位置B是感测位置,使得感测垫120被判断相对于偏移中心旋转了旋转角度θ1。然而,假设旋钮100的中心没有偏移且没有被校正,并且中心位置被视为原始中心位置,由于感测垫120的感测位置是位置B,并且感测垫120相对于原始中心的旋转角度被计算为θ2,使得旋钮100的旋转角度被判断为旋转角度θ2,因此旋钮100的中心位置必须被校正。
请参照图3,图3为依据本发明一实施例的以供旋钮使用的校正方法的流程图300,其中流程图300可以通过图1所示的校正装置180来实现。
在步骤302中,通过触控面板感测每一个感测垫的位置来取得每一个感测垫的至少一感测位置。
在步骤304中,判断旋钮100所使用的感测垫的数量,假设旋钮100具有N个感测垫且N是正整数,倘若旋钮100仅具有单一感测垫(为简洁起见,在图3中标记为“N=1”)的话,则进入步骤306;倘若旋钮100仅具有两个感测垫(为简洁起见,在图3中标记为“N=2”)的话,则进入步骤312;以及倘若旋钮100具有三个或更多的感测垫(为简洁起见,在图3中标记为“N≥3”)的话,则进入步骤320。
在步骤306中,根据单一感测垫的感测位置来感测该单一感测垫的一旋转轨(rotation track),其中该旋转轨横跨旋钮100的四分之一圆。
在步骤308中,安排该旋转轨以作为该单一感测垫的一移动轨(movement track)。
在步骤310中,根据该移动轨来通过利用外接圆半径公式计算旋钮100的中心位置。
在步骤312中,分别根据两个感测垫的多个感测位置感测该两个感测垫的多个旋转轨,其中通过总和该两个感测垫的该多个旋转轨所形成的一总轨(total track)会横跨旋钮100的至少四分之一圆。
在步骤314中,安排该总轨以作为该两个感测垫的一移动轨。
在步骤316中,根据该移动轨来通过利用外接圆半径公式计算旋钮100的中心位置。
在步骤318中,判断N个(N≥3)感测垫的一分布范围是否小于旋钮100的四分之一圆,如果是,进入步骤320;如果否,进入步骤326。
在步骤320中,分别根据该N个感测垫的多个感测位置来感测该N个感测垫的多个旋转轨,其中通过总和该N个感测垫的该多个旋转轨所形成的一总轨会横跨旋钮100的至少四分之一圆。
在步骤322中,安排该总轨以作为该N个感测垫的一移动轨。
在步骤324中,根据该移动轨来通过利用外接圆半径公式计算旋钮100的中心位置。
在步骤326中,根据该N个感测垫的多个感测位置来通过利用外接圆半径公式计算旋钮100的中心位置,其中每一个感测垫的感测位置仅包含有因应旋钮100的触控与按压事件所取得的单一感测位置。
本发明的校正方法根据感测垫的多个感测位置来利用外接圆半径公式计算旋钮100的新中心位置,其中为了计算的精准度,该多个感测位置的一分布范围必须不小于(例如大于或等于)旋钮100的四分之一圆。因此,因应旋钮100具有不同数量的感测垫,旋钮100需要在不同角度旋转或按压。
请参照图4,图4为依据本发明一实施例的以供仅具有单一感测垫120的旋钮100使用的校正方法的示意图。为了取得沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长(partialperimeter)分布的多个感测位置,仅具有单一感测垫120的旋钮100需要被旋转达到旋钮100的至少四分之一圆,亦即,仅具有单一感测垫120的旋钮100被旋转至少90度。该多个感测位置是因应旋钮100的触控与旋转事件而产生,并且感测垫120的一原始位置以及一最终位置沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布,使得感测垫120的移动轨上的该原始位置、该最终位置以及任一个位置可以被用来计算旋钮100的中心位置。
请参照图5,图5为依据本发明一实施例的以供具有两个感测垫120的旋钮100使用的校正方法的示意图。类似地,为了取得沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布的多个感测位置,具有两个感测垫120A与120B的旋钮100需要被旋转,该多个感测位置是因应旋钮100的触控与旋转事件而产生,并且感测垫120A与感测垫120B分别具有一旋转轨,一总轨是通过总和感测垫120A与感测垫120B的两个旋转轨而形成,并且该总轨必须横跨旋钮100的至少四分之一圆。如图5所示,感测垫120A的一原始位置与感测垫120B的一最终位置沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布,并且感测垫120B的该最终位置与在任一个感测垫的旋转轨上的任一个位置可以被用来计算旋钮100的中心位置。应注意的是,两个旋转轨的重叠部分被视为总轨中的一旋转轨。
请参照图6,图6为依据本发明一实施例的以供具有分布范围小于旋钮的四分之一圆的三个感测垫120的旋钮100使用的校正方法的示意图。类似地,为了取得沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布的多个感测位置,具有三个感测垫120A、120B与120C的旋钮100需要被旋转,该多个感测位置是因应旋钮100的触控与旋转事件而产生,并且感测垫120A、感测垫120B与感测垫120C分别具有一旋转轨,一总轨是通过总和感测垫120A、感测垫120B与感测垫120C的三个旋转轨而形成,并且该总轨必须横跨旋钮100的至少四分之一圆。如图6所示,感测垫120A的一原始位置与感测垫120C的一最终位置沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布,使得感测垫120A的该原始位置、感测垫120C的该最终位置以及在任一个感测垫的旋转轨上的任一个位置可以被用来计算旋钮100的中心位置。应注意的是,三个旋转轨的重叠部分被视为总轨中的一旋转轨,此外,倘若旋钮100具有三个以上的感测垫(其分布范围小于旋钮100的四分之一圆)的话,则总轨也必须横跨旋钮100的至少四分之一圆,以取得必要的感测位置。
请参照图7,图7为依据本发明一实施例的以供具有分布范围不小于旋钮的四分之一圆的三个感测垫120的旋钮100使用的校正方法的示意图。为了取得沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布的多个感测位置,具有三个感测垫120A、120B与120C的旋钮100可以被直接地按压而无需被旋转,如图7所示,由于感测垫120A、感测垫120B与感测垫120C沿着不小于旋钮100的四分之一圆的部分周长分布,因此感测垫120A、感测垫120B与感测垫120C的位置可以被用来计算旋钮100的中心位置,并且该多个感测位置是因应旋钮100的触控与按压事件而产生。应注意的是,旋钮100的按压事件是用来取得三个感测垫120A、120B与120C的位置,在某些实施例中,一轻微触控可使得触控面板200感测旋钮100的三个感测垫120A、120B与120C的位置,此外,倘若旋钮100具有三个以上的感测垫(其分布范围不小于旋钮100的四分之一圆)的话,则旋钮100的中心位置可以根据多个感测垫的多个原始位置来计算。
具体上来说,根据旋转轨中不同的感测位置,实际上旋钮100的中心位置可能会有一些差异,因此,旋钮100的另外至少一中心位置可根据每一个感测垫的另外多个感测位置来计算,并且可以通过对旋钮100的多个计算后中心位置进行平均计算以取得旋钮的平均中心位置,以使得校正后的中心位置更加准确,其中该多个计算后中心位置包含有旋钮的该中心位置以及该另外至少一中心位置。
总结来说,本发明的校正方法以及校正装置能够通过计算取得旋钮的新中心位置,通过按压或旋转旋钮,可以取得一个或多个感测垫的位置,而旋钮的新中心位置可根据该一个或多个感测垫的多个感测位置来计算。本发明的校正方法提供了旋钮的准确中心位置,如此一来,可防止误判旋钮的旋转角度以及改善旋钮的稳定性以及可靠性。
以上所述仅为本发明的优选实施例,凡依本发明权利要求所做的均等变化与修饰,都应属本发明的涵盖范围。
Claims (11)
1.一种以供应用于触控面板的旋钮使用的校正方法,其中该旋钮包含有至少一感测垫,以及该校正方法包含有:
通过该触控面板来感测该至少一感测垫的每一个感测垫的位置,以取得该至少一感测垫的该每一个感测垫的至少一感测位置;以及
根据该每一个感测垫的该至少一感测位置来通过利用外接圆半径公式计算该旋钮的中心位置。
2.如权利要求1所述的校正方法,还包含有:
通过该触控面板来感测该每一个感测垫的位置,以取得该每一个感测垫的另外至少一感测位置,其中该每一个感测垫的该另外至少一感测位置与该每一个感测垫的该至少一感测位置不同;
根据该每一个感测垫的该另外至少一感测位置来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的另一中心位置;以及
通过对该旋钮的多个计算后中心位置进行平均计算以取得该旋钮的平均中心位置,其中该多个计算后位置包含有该中心位置以及该另一中心位置。
3.如权利要求1所述的校正方法,其中该每一个感测垫的该至少一感测位置包含有多个感测位置,且该多个感测位置是因应该旋钮的触控与旋转事件来取得。
4.如权利要求3所述的校正方法,其中该旋钮仅包含有单一感测垫,以及根据该每一个感测垫的该至少一感测位置来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置的步骤包含有:
根据该单一感测垫的多个感测位置来感测该单一感测垫的旋转轨,其中该旋转轨横跨该旋钮的四分之一圆;
安排该旋转轨以作为该单一感测垫的移动轨;以及
根据该移动轨来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置。
5.如权利要求3所述的校正方法,其中该旋钮仅包含有两个感测垫,以及根据该每一个感测垫的该至少一感测位置来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置的步骤包含有:
分别根据该两个感测垫的多个感测位置来感测该两个感测垫的两个旋转轨,其中通过总和该两个感测垫的该两个旋转轨而形成的总轨横跨该旋钮的至少一四分之一圆;
安排该总轨以作为该两个感测垫的移动轨;以及
根据该移动轨来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置。
6.如权利要求5所述的校正方法,其中该两个旋转轨的重叠部分被视为旋转轨。
7.如权利要求3所述的校正方法,其中该旋钮包含有N个感测垫,N为不小于3的正整数,该N个感测垫在该旋钮上的分布范围小于该旋钮的四分之一圆,以及根据该每一个感测垫的该至少一感测位置来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置的步骤包含有:
分别根据该N个感测垫的多个感测位置来感测该N个感测垫的N个旋转轨,其中通过总和该N个感测垫的该N个旋转轨而形成的总轨横跨该旋钮的至少一四分之一圆;
安排该总轨以作为该N个感测垫的移动轨;以及
根据该移动轨来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置。
8.如权利要求7所述的校正方法,其中该N个旋转轨的至少两个旋转轨的重叠部分被视为旋转轨。
9.如权利要求1所述的校正方法,其中该每一个感测垫的该至少一感测位置仅包含有单一感测位置,且该单一感测位置是因应该旋钮的触控与按压事件来取得。
10.如权利要求9所述的校正方法,其中该旋钮包含有N个感测垫,N是不小于3的正整数,该N个感测垫在该旋钮上的分布范围不小于该旋钮的四分之一圆,以及根据该每一个感测垫的该至少一感测位置来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置的步骤包含有:
根据该N个感测垫的多个单一感测位置来通过利用该外接圆半径公式计算该旋钮的该中心位置。
11.一种以供应用于触控面板的旋钮使用的校正装置,其中该旋钮包含有至少一感测垫,以及该校正装置包含有:
感测处理电路,用以通过该触控面板来感测该至少一感测垫的每一个感测垫的位置,以取得该每一个感测垫的至少一感测位置;以及
计算电路,用以根据该每一个感测垫的该至少一感测位置来通过利用外接圆半径公式计算该旋钮的中心位置。
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