CN116147737B - 一种移液器校准装置 - Google Patents

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    • B01LCHEMICAL OR PHYSICAL LABORATORY APPARATUS FOR GENERAL USE
    • B01L3/00Containers or dishes for laboratory use, e.g. laboratory glassware; Droppers
    • B01L3/02Burettes; Pipettes
    • B01L3/021Pipettes, i.e. with only one conduit for withdrawing and redistributing liquids

Abstract

本发明公开了一种移液器校准装置,包括底座平台,所述底座平台的中部竖直设置有一块遮光挡板,所述遮光挡板上中部设有一个小孔光阑,所述遮光挡板的一侧设有光源发生光路,所述遮光挡板的另一侧设有参比光路和测量光路,所述光源发生光路包括沿光路依次设置的主光源、狭缝组件和柱面反光镜,所述参比光路包括沿光路依次设置的第一球形透镜和第一光电探测器,所述测量光路包括沿光路依次设置的样品池、第二球形透镜和第二光电探测器,所述柱面反光镜反射的光通过所述小孔光阑照射到滤光片,从所述滤光片射出的光通过半透半反棱镜反射到所述参比光路中,从所述滤光片射出的光通过半透半反棱镜透射到所述测量光路。通过本申请可非常方便的对移液器进行校准,解决了检定校准移液器过程中蒸发影响和检测条件严苛的问题,降低了检测装置的成本。

Description

一种移液器校准装置
技术领域
本发明涉及精密仪器检定校准的技术领域,具体来说,涉及一种移液器校准装置。
背景技术
在医药、食品、生物技术等实验室中,每日都要进行大量的微量液体转移配置,由于移液器相对进样器等设备操作的便捷,多数实验室会采用移液器作为转移、配置配体的器材,甚至为了更加快速的转移液体,还将移液嘴阵列式放置形成移动液体工作站,因此移液器的地位非常重要,是进行液体转移的常用载体,移液器的准确度一旦不合格,将影响所有的实验或检测结果。但实际 上,不同厂家、不同品牌、不同批号,甚至同一天生产的每一只移液器在出厂以后都不可能完全一致,甚至由于移液器本身的原理是负压式吸液,负压的不稳定性会都导致较大误差,不仅如此,就算是两支完全一样的移液器,因为不同操作人员的操作习惯、或者移液器保存环境的不同,都会对其本身的准确性造成影响。对移液器的准确计量,可以增加实验结果的可靠性,对于需要精确配制的药品或将直接影响其药性,如在用微量液体稀释法做皮肤癣菌抗真菌药物敏感试验中,须使用移液器向实验培养孔中精确添加 100μL真菌培养液。因此,对移液器的准确度计量在科研领域有着重要的意义。当前各生化医药研究所、高校实验室拥有的移液器量极大,当大量的移液器无法同时送往计量检测机构检定时,拥有一台具有可以在线检测的设备就显得极为重要。但目前国内还未具有对移液器进行在线检测的能力,所有移液器均是送至计量检测机构实验室检测,在线外检这块仍是空白。这主要是由于传统静力检测法的局限性所导致,静力检测法对于检测环境要求极高,需要检测台面防震、防尘,天平一旦固定以后不宜再移动,且一台精确到负 6级别的天平价格要 200 万,无法多点分布检测地点,因此,出于实现在线检测的需求,有必要研究一套能外检移液器的标准装置。
国内外在超微量液体的计量上研究出了诸多可行方法,各种方法互有优劣,适用的条件也各有区别。过去常用的测量方法主要有:静力称重法,体积 通过液体的重量和密度求得,该方法成本高且无法移动检测设备。荧光测量法: 将已知荧光性质的物质加入微量滴液孔板中,进行滴数递增的测试,通过所测 荧光物质的已知辐射比来确定体积,该方法与静力法一样对环境要求极高,来 自外界的辐射会干扰检测结果。激光测量技术是一种由粒子测量技术发展而来 的高分辨率的过程,它是基于激光对水滴的照明。在穿透液体时,折射是根据 液体的性质发生的。这些折射被照相机捕捉到。在聚焦图像中可以看到小光点。 通过使用散焦相机,这些点会发生重叠。这两点的重叠特性是由液体的折射率 决定的,通过计算散焦图像中的条纹,可以确定滴径。以上三种方法已有十年 甚至二十年历史,不仅设备的成本昂贵,而且对检测环境要求很高,只能在固 定的实验室环境下进行。 近些年,国内对于超微量液体的计量研究进行缓慢,主要还是依靠传统的静力测量法。而国外已经有了许多新的研究成果,甚至是有能力检测皮升级的液体体积。
发明内容
针对相关技术中的上述技术问题,本发明提供一种移液器校准装置,能够解决上述问题。
为实现上述技术目的,本发明的技术方案是这样实现的:
一种移液器校准装置,包括底座平台,所述底座平台的中部竖直设置有一块遮光挡板,所述遮光挡板上中部设有一个小孔光阑,所述遮光挡板的一侧设有光源发生光路,所述遮光挡板的另一侧设有参比光路和测量光路,所述光源发生光路包括沿光路依次设置的主光源、狭缝组件和柱面反光镜,所述参比光路包括沿光路依次设置的第一球形透镜和第一光电探测器,所述测量光路包括沿光路依次设置的样品池、第二球形透镜和第二光电探测器,所述柱面反光镜反射的光通过所述小孔光阑照射到滤光片,从所述滤光片射出的光通过半透半反棱镜反射到所述参比光路中,从所述滤光片射出的光通过半透半反棱镜透射到所述测量光路中。
进一步的,所述主光源为卤素灯,所述主光源的底部设有散热风扇,所述主光源射出的光通过所述狭缝组件上的狭缝照射到所述柱面反光镜上。
进一步的,所述遮光挡板的两侧还分别设有一个线性电源。
进一步的,所述样品池上设有搅拌组件,所述搅拌组件包括小型直流电机和磁浮子。
进一步的,所述滤光片安装于滑台上,所述滑台通过步进电机驱动移动,所述滑台上还设有限位开关。
进一步的,所述底座平台上端通过外壳罩封;所述底座平台上的零件除光学零件的工作面外均涂成黑色;所述光学零件的工作面进行镀膜处理,其中透过式光学元件镀增透减反膜;反射式光学元件在第一光学表面镀增反膜。
本发明的有益效果:通过本申请可非常方便的对移液器进行校准,解决了检定校准移液器过程中蒸发影响和检测条件严苛的问题,降低了检测装置的成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
下面根据附图对本发明作进一步详细说明。
图1是本发明实施例所述的一种移液器校准装置的结构示意图;
图2是本发明实施例所述的一种移液器校准装置的俯视图;
图3是本发明实施例所述的一种移液器校准装置的光路简图;
图4是本发明实施例所述的一种移液器校准装置的校准流程图。
图中:
1、第一光电探测器;2、样品池;3、线性电源;4、滑台;5、限位开关;6、小孔光阑;7、主光源;8、狭缝组件;9、柱面反光镜;10、第一球形透镜;11、滤光片;12、半透半反棱镜;13、第二光电探测器;14、第二球形透镜。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1-4所示,根据本发明实施例所述的一种移液器校准装置,包括底座平台,所述底座平台的中部竖直设置有一块遮光挡板,所述遮光挡板上中部设有一个小孔光阑6,所述遮光挡板的一侧设有光源发生光路,所述遮光挡板的另一侧设有参比光路和测量光路,所述光源发生光路包括沿光路依次设置的卤素灯7、狭缝组件8和柱面反光镜9,所述参比光路包括沿光路依次设置的第一球形透镜10和第一光电探测器1,所述测量光路包括沿光路依次设置的样品池2、第二球形透镜14和第二光电探测器13,所述柱面反光镜9反射的光源通过所述小孔光阑6照射到滤光片11,从所述滤光片11射出的光源通过半透半反棱镜12反射到所述参比光路中,从所述滤光片11射出的光源通过半透半反棱镜12透射到所述测量光路中。
本发明中的一个实施例中,本申请包括测量光路样品池2,用于放外径约为20mm的待测样品瓶,在测量开始前需对光源进行预热和清零处理。第一光电探测器1实时采集光源信号与主光源7形成反馈电路(测量时运用半透半反棱镜12分光处理,对测量结果进行修正。参比光路实时采集,反馈至主光源7,对主光源7波动进行修正,减少预热时间。并且通过修正可以使未测量时主光源7处于低亮,延长主光源寿命),滑台4(通过步进电机、履带实现运动)与限位开关5构成自动波长切换系统,精确控制滤光片运动,当滑台4运动到位置a时带动滤光片运动至a,测量完毕后由限位开关5进行归位。小孔光阑6安装于遮光挡板上,与柱面反光镜9、狭缝组件8和主光源7构成主光路,主光源7底部设有散热风扇进行散热。两个线性电源3分别为光源系统和测量系统供电。
本发明中的一个实施例中,主光源7发出可见光,通过狭缝组件8的狭缝,由柱面反光镜9反射形成平行光,通过小孔光阑6合理限制光束,由滑台4带动滤光片11进行波长的切换,经半透半反棱镜12进行5:5分光,经过第一球形透镜10汇聚于第一光电探测器1为参比光路,经过样品池2(样品池2上设有搅拌组件,包括小型直流电机和磁浮子,实现自动搅拌功能,提高测量重复性)再经第二球形透镜14汇聚于第二光电探测器13为测量光路。
本发明中的一个实施例中,在仪器设计中,杂散光是一种对光学仪器很有害的光线,它不仅会造成一定的背景色,较强的杂散光还会对单色光学仪器的单色性造成较大的影响,从而大大降低它们的测量精度,有以下三个原因:光学元件工作表面的余留反射光,非工作表面的多次反射光,光学零件表面及内部缺陷所造成的散射光;仪器内部金属零件表面和内壁的多次反射光;直接到达探测器的光。所以在设计时,还采用了以下方法:底座平台上端通过外壳罩封,从而对仪器光路密封,且光源与光路采用遮光挡板遮挡;底座平台上的零件除光学零件的工作面外均涂成黑色,例如仪器内部、内壁、金属零件和光学零件的非工作面等;光学零件的工作面进行镀膜处理,其中透过式光学元件镀增透减反膜;反射式光学元件在第一光学表面镀增反膜。
如图4所示,具体校准步骤包括:用第一种染色剂配置原液,用第二种染色剂配置稀释液;按比例混合原液和稀释液配置标准液,测量λb和λa波长下标准液的吸光度;在样品瓶中加入已知体积的稀释液,测量λb和λa波长下稀释液的吸光度;在已知体积稀释液中加入少量未知原液形成混合液,测量λb和λa波长下混合液的吸光度;计算原液体积值即为移液器容量。即用两种染色剂配置原液和稀释液,实验时测量液体在两个波长下的吸光度值,依据朗伯比尔定律可计算得到液体体积值即为移液器容量。需要注意的是,可以在一个样品瓶中多次滴加进行体积计算。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种移液器校准装置,其特征在于:包括底座平台,所述底座平台的中部竖直设置有一块遮光挡板,所述遮光挡板上中部设有一个小孔光阑(6),所述遮光挡板的一侧设有光源发生光路,所述遮光挡板的另一侧设有参比光路和测量光路,所述光源发生光路包括沿光路依次设置的主光源(7)、狭缝组件(8)和柱面反光镜(9),所述参比光路包括沿光路依次设置的第一球形透镜(10)和第一光电探测器(1),所述测量光路包括沿光路依次设置的样品池(2)、第二球形透镜(14)和第二光电探测器(13),所述柱面反光镜(9)反射的光通过所述小孔光阑(6)照射到滤光片(11),从所述滤光片(11)射出的光通过半透半反棱镜(12)反射到所述参比光路中,从所述滤光片(11)射出的光通过半透半反棱镜(12)透射到所述测量光路中,由所述柱面反光镜(9)反射形成平行光;所述滤光片(11)安装于滑台(4)上,所述滑台(4)通过步进电机驱动移动,所述滑台(4)上还设有限位开关(5);所述底座平台上端通过外壳罩封;所述底座平台上的零件除光学零件的工作面外均涂成黑色;所述光学零件的工作面进行镀膜处理,其中透过式光学元件镀增透减反膜;反射式光学元件在第一光学表面镀增反膜。
2.根据权利要求1所述的一种移液器校准装置,其特征在于:所述主光源(7)为卤素灯,所述主光源(7)的底部设有散热风扇,所述主光源(7)射出的光通过所述狭缝组件(8)上的狭缝照射到所述柱面反光镜(9)上。
3.根据权利要求1所述的一种移液器校准装置,其特征在于:所述遮光挡板的两侧还分别设有一个线性电源(3)。
4.根据权利要求1所述的一种移液器校准装置,其特征在于:所述样品池(2)上设有搅拌组件,所述搅拌组件包括小型直流电机和磁浮子。
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