CN116087626A - 一种保护膜触控功能影响程度的测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质。所述测试方法，包括：获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。本申请的测试方法，能够直观地评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，进而为显示触控屏配置更合适地保护膜，以让显示触控屏触控效果更好。

Description

一种保护膜触控功能影响程度的测试方法

技术领域

本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科学技术的发展，显示触控屏的使用越来越广泛，已经成为人们日常生活中的必备之一，为了防止移动终端的屏幕刮花或者破损，往往会使用一些保护膜贴在显示触控屏上面。

然而，贴覆不同的保护膜在使用时会对显示触控屏的触控功能造成不同的影响，现有技术多通过使用显示触控屏时的感受去评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，然而这种方式只是主观感受，并不能清楚具体的知道不同保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度到底是多少，评估效果差，不利于为显示触控屏适配合适的保护膜。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足，本申请的目的在于提供一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质，以直观评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度。

为实现上述目的，本申请提供一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：

获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；

在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；

再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；

基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。

进一步地，所述测试方法还包括：

基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。

进一步地，所述点位数量包括9、13和25中的任意一种。

进一步地，所述点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。

进一步地，所述测试方法还包括：

基于预设的触控功能影响度指标和所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述待测试保护膜进行评估。

进一步地，所述测试方法还包括：

基于所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述显示触控屏模组进行容值补偿。

进一步地，通过所述显示触控屏模组的测试工具获取电容值。

为实现上述目的，本申请提供一种保护膜触控功能影响程度的测试装置，包括：

电容值获取模块，用于获取显示触控屏模组无保护膜状态下若干点位的无膜电容参考值和有保护膜状态下所述若干点位的点位的有膜电容参考值；

数据处理模块，用于对所述无膜电容参考值和有膜电容参考值做处理分析，以得到保护膜的触控功能影响度值。

为实现上述目的，本申请提供的电子设备，包括：

处理器；

存储器，包括一个或多个计算机程序模块；

其中，所述一个或多个计算机程序模块被存储在所述存储器中并被配置为由所述处理器执行，所述一个或多个计算机程序模块用于被执行时实现如上所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法。

为实现上述目的，本申请提供的计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，当计算机指令运行时执行如上所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法的步骤。

本申请的一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，能够直观地评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，进而为显示触控屏配置更合适地保护膜，以让显示触控屏触控效果更好。

本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。

附图说明

附图用来提供对本申请的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本申请的实施例一起，用于解释本申请，并不构成对本申请的限制。在附图中：

图1为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法的流程示意图；

图2为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试装置的街狗示意图；

图3为本申请的一种电子设备的示意框图；

图4为本申请的一种存储介质的示意图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本申请的实施例。虽然附图中显示了本申请的某些实施例，然而应当理解的是，本申请可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本申请。应当理解的是，本申请的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本申请的保护范围。

应当理解，本申请的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行，和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本申请的范围在此方面不受限制。

本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。

需要注意，本申请中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。“多个”应理解为两个或以上。

下面，将参考附图详细地说明本申请的实施例。

实施例1

本申请的一个实施例，提供了一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，以直观评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度。

图1为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法的流程示意图，下面将参考图1对本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法进行详细描述：

一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：

S101：获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；

具体的，通过显示触控屏厂家提供的TP测试软件获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，计算若干点位的电容值的平均值作为无膜电容参考值。

在本实施方式中，测试方法还包括：

基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。

具体的，根据测试需求可灵活设置需要获取电容值的点位，如要评估显示触控屏模组的某一区域的保护膜触控功能影响程度，则获取该区域内的一定数目的电容值，用作测试评估。

可以理解的是，获取电容值的点位越多，则精度越高。

在本实施方式中，获取显示触控屏模组的9个点位的电容值。

在另外一些实施方式中，还可以获取13个点位的电容值或25个点位的电容值。

进一步地，点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。

可以理解的是，对于显示触控屏模组而言，用户使用的是中心区域，因此在获取边缘位置的点位的电容值时，选择中心区域的点位，测试评估效果更好，而选择太过边缘的点位，由于使用频率低，不具备代表性，测试评估效果差。

S102：在显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；

S103：再次获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；

S104：基于无膜电容参考值和有膜电容参考值之间的差值，得到待测试保护膜对显示触控屏模组的触控功能影响值。

在本实施方式中，在显示触控屏模组触控功能完好时，有膜电容参考值与无膜电容参考值的差值的绝对值与无膜电容参考值的比值作为触控功能影响值。

可以理解的是，触控功能影响值越小代表保护膜对显示触控屏模组的触控功能影响越小。

在本实施方式中，测试方法还包括：

基于预设的触控功能影响度指标和待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对待测试保护膜进行评估。

具体的，当评估同一型号的不同保护膜时，预设触控功能影响度指标，当该型号的一待测试保护膜对显示触控屏模组的触控功能影响度值不符合预设的触控功能影响度指标，则可认为该保护膜不合格；当评估不同型号的不同保护膜时，预设触控功能影响度指标，当一型号的一待测试保护膜对显示触控屏模组的触控功能影响度值不符合预设的触控功能影响度指标，则可认为该型号的保护膜不合格。

在本实施方式中，测试方法还包括：

基于待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述显示触控屏模组进行容值补偿。

具体的，通过软件容值补偿的方式进行容值补偿，即通过终端CPU在处理触控信号的时候，可以直接将接收的受保护膜触控功能影响度值较大触摸信号先做修正，消除影响来还原正常的触摸信号，然后把已经做了补偿处理的触控固件送到显示屏的驱动IC，进而实现更精准的触控功能。

实施例2

本申请的一个实施例，提供了一种保护膜触控功能影响程度的测试装置，以直观评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度。

图2为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试装置的结构示意图，下面将参考图2对本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法进行详细描述：

电容值获取模块201，用于获取显示触控屏模组200无保护膜状态下若干点位的无膜电容参考值和有保护膜状态下若干点位的点位的有膜电容参考值；

在本实施方式中，通过显示触控屏厂家提供的TP测试软件获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，计算若干点位的电容值的平均值作为无膜电容参考值。

数据处理模块202，用于对无膜电容参考值和有膜电容参考值做处理分析，以得到保护膜的触控功能影响度值。

在本实施方式中，有膜电容参考值与无膜电容参考值的差值的绝对值与无膜电容参考值的比值作为触控功能影响值。

在另外一些实施方式中，还可以对无膜电容参考值和有膜电容参考值做其他处理分析，得到其他形式的触控功能影响度值。

实施例3

本实施例中，还提供一种电子设备，图3为本申请提供的一种电子设备的示意框图。如图3所示，电子设备130包括处理器131和存储器132。存储器132用于存储非暂时性计算机可读指令(例如一个或多个计算机程序模块)。处理器131用于运行非暂时性计算机可读指令，非暂时性计算机可读指令被处理器核131运行时可以执行上文所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法的一个或多个步骤。存储器132和处理器131可以通过总线系统和/或其它形式的连接机构(未示出)互连。

例如，处理器131可以是中央处理单元(CPU)、数字信号处理器(DSP)或者具有数据处理能力和/或程序执行能力的其它形式的处理单元，例如现场可编程门阵列(FPGA)等；例如，中央处理单元(CPU)可以为X86或ARM架构等。

例如，存储器132可以包括一个或多个计算机程序产品的任意组合，计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、便携式紧致盘只读存储器(CD-ROM)、USB存储器、闪存等。在计算机可读存储介质上可以存储一个或多个计算机程序模块，处理器131可以运行一个或多个计算机程序模块，以实现电子设备130的各种功能。在计算机可读存储介质中还可以存储各种应用程序和各种数据以及应用程序使用和/或产生的各种数据等。

需要说明的是，本申请的实施例中，电子设备130的具体功能和技术效果可以参考上文中关于保护膜触控功能影响程度的测试方法的描述，此处不再赘述。

实施例4

本实施例中，还提供一种计算机可读存储介质，图4为本申请的一种存储介质的示意图。如图4所示，存储介质150用于存储非暂时性计算机可读指令151。例如，当非暂时性计算机可读指令151由计算机执行时可以执行根据上文所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法的一个或多个步骤。

例如，该存储介质150可以应用于上述电子设备130中。例如，存储介质150可以为图3所示的电子设备130中的存储器132。例如，关于存储介质150的相关说明可以参考图3所示的电子设备130中的存储器132的相应描述，此处不再赘述。

需要说明的是，本申请上述的存储介质(计算机可读介质)可以是计算机可读信号介质或者非暂时性计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。非暂时性计算机可读存储介质例如可以是，但不限于，电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。非暂时性计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。

在本申请中，非暂时性计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请中，计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读信号介质还可以是非暂时性计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读信号介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：电线、光缆、RF(射频)等，或者上述的任意合适的组合。

上述计算机可读介质可以是上述电子设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该电子设备中。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本申请的操作的计算机程序代码，上述程序设计语言包括但不限于面向对象的程序设计语言，诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。

附图中的流程图和框图，图示了按照本申请各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这根据所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

描述于本申请实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现。其中，单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。

本文中以上描述的功能可以至少部分地由一个或多个硬件逻辑部件来执行。例如，非限制性地，可以使用的示范类型的硬件逻辑部件包括：现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、片上系统(SOC)、复杂可编程逻辑设备(CPLD)等。

以上描述仅为本申请的部分实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的公开范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述公开构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

此外，虽然采用特定次序描绘了各操作，但是这不应当理解为要求这些操作以所示出的特定次序或以顺序次序来执行。在一定环境下，多任务和并行处理可能是有利的。同样地，虽然在上面论述中包含了若干具体实现细节，但是这些不应当被解释为对本申请的范围的限制。在单独的实施例的上下文中描述的某些特征还可以组合地实现在单个实施例中。相反地，在单个实施例的上下文中描述的各种特征也可以单独地或以任何合适的子组合的方式实现在多个实施例中。

尽管已经采用特定于结构特征和/或方法逻辑动作的语言描述了本主题，但是应当理解所附权利要求书中所限定的主题未必局限于上面描述的特定特征或动作。相反，上面所描述的特定特征和动作仅仅是实现权利要求书的示例形式。

Claims (10)

1.一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：

获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；

在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；

再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；

基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。

2.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。

3.根据权利要求2所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述点位数量包括9、13和25中的任意一种。

4.根据权利要求2所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。

5.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

基于预设的触控功能影响度指标和所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述待测试保护膜进行评估。

6.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

基于所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述显示触控屏模组进行容值补偿。

7.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，通过所述显示触控屏模组的测试工具获取电容值。

8.一种保护膜触控功能影响程度的测试装置，其特征在于，包括：

电容值获取模块，用于获取显示触控屏模组无保护膜状态下若干点位的无膜电容参考值和有保护膜状态下所述若干点位的点位的有膜电容参考值；

数据处理模块，用于对所述无膜电容参考值和有膜电容参考值做处理分析，以得到保护膜的触控功能影响度值。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

存储器，包括一个或多个计算机程序模块；

其中，所述一个或多个计算机程序模块被存储在所述存储器中并被配置为由所述处理器执行，所述一个或多个计算机程序模块用于实现权利要求1-7任一项所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机指令，当计算机指令运行时执行权利要求1-7任一项所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法的步骤。

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