CN116087598B - 射频匹配电压检测方法、检测装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种射频匹配电压检测方法、检测装置、电子设备及存储介质，检测方法包括步骤：对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；每当连续获取的第一目标数量的脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，直至获得第二目标数量的采样电压；将记录的采样电压进行运算后获得输出电压的检测结果。本申请通过同步获取采样电压以及脉冲电平，在第一目标数量的脉冲电平均在脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，以使记录的采样电压尽量避开射频电源输出电压的上升沿，有效过滤处于输出电压上升沿的值，以提高检测准确性，无需对采样芯片的速率有更高要求，硬件成本也不会因此增加。
Description
技术领域
本发明涉及射频匹配技术领域，尤其涉及一种射频匹配电压检测方法、检测装置、电子设备及存储介质。
背景技术
在射频电源匹配的应用中，使用脉冲模式时，射频电源响应脉冲信号进行射频信号输出。例如，脉冲信号包括脉冲开启阶段和脉冲关闭阶段，射频电源在脉冲开启阶段时输出，在脉冲关闭阶段时关闭。为了让匹配器完成匹配，就需要检测到准确的输出电压的电压数据。目前常规使用的检测方式为取一定的数量的ad值，并从一定数量的ad值中依次取几个最大值的方式，该检测方式很难获取输出电压在脉冲处于高电平时段的电压值，特别是在脉冲宽度很小的时候，获取的电压值并不准确。
由于目前的采样芯片的采样速率跟不上，在一个脉冲内无法采集到多个高电平、低电平的数据，甚至在脉冲小的时候，一个脉冲都只能采集几个数据。虽然通过采用加大采集数量的方式在一定的范围内有所缓解，但是匹配速度变慢，而且脉冲小的时候依然满足不了采样需求。采样芯片的速度已经无法满足脉冲模式下的匹配，虽然在硬件上可以更换更快采样速率的芯片以提高检测准确性，但这样就增加了硬件成本。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提供一种射频匹配电压检测方法、检测装置、检测设备及存储介质，以解决如何提高检测准确性的同时避免增加硬件成本的问题。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：
一种射频匹配电压检测方法，包括步骤：
对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压；
将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
进一步的，所述每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压的步骤包括：
提供第一计数值，每次采样的所述脉冲电平处于脉冲开启阶段时进行计数，且每次采样的所述脉冲电平处于脉冲关闭阶段时不进行计数，并重置所述第一计数值；
将所述第一计数值与所述第一目标数量进行比较；
当所述第一计数值达到所述第一目标数量时，记录下一次采样的所述采样电压。
进一步的，所述每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压的步骤包括：
提供第二计数值，每当记录所述采样电压时进行计数；
将所述第二计数值与所述第二目标数量进行比较；
当所述第二计数值达到所述第二目标数量时，停止计数并重置所述第二计数值。
进一步的，所述第一目标数量设置为3次。
进一步的，所述将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果的步骤包括：
将记录的所述采样电压进行平均值运算，并输出运算结果。
进一步的，所述将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果的步骤包括：
从记录的所述采样电压中获取中位数的所述采样电压，并输出中位数的所述采样电压。
进一步的，所述将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果的步骤包括：
从记录的所述采样电压中筛除最大值和最小值后再进行运算。
一种检测装置，包括：
获取模块，用于对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
取值模块，用于每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压；以及
运算模块，用于将所述第二目标数量的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
一种电子设备，包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于执行如上述所述的射频匹配电压检测方法。
一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时使所述处理器实现如上述所述的射频匹配电压检测方法。
本发明的有益效果在于：本申请通过同步获取采样电压以及脉冲信号的脉冲电平，在第一目标数量的脉冲电平均在脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，以使记录的采样电压尽量避开射频电源输出电压的上升沿，可以有效过滤处于输出电压上升沿的采样电压，以提高后续的运算结果的准确性，不会对采样芯片的速率有更高要求。由于不用在原有采集芯片上增加采集数量，或者更换更高采集速率的采集芯片，匹配速度不会因此降低，硬件成本也不会因此增加，而检测准确性却得到了有效提升。
附图说明
图1为本发明实施例一的射频匹配电压检测方法的第一流程框图；
图2为本发明实施例一的射频匹配电压检测方法的第二流程框图；
图3为本发明实施例一的射频匹配电压检测方法的第三流程框图；
图4为本发明实施例一的射频匹配电压检测流程图；
图5为本发明实施例二的检测装置的原理框图；
图6为本发明实施例三的电子设备的原理框图。
标号说明：
100、获取模块；200、取值模块；300、运算模块。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
实施例
请参照图1至图4，本实施例提供一种射频匹配电压检测方法，应用于射频电源匹配过程中对射频电源的输出电压进行检测。
请参照图1，所述方法包括步骤：
S10、对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
本步骤中，由于单一采样输出电压，无法确定射频电源的输出状态，此时获得的采样电压可能处于射频电源的输出电压上升沿，该采样电压不一定适合后续的运算，因此，得出的检测结果将十分不准确。因此，通过同步获取脉冲信号脉冲电平做进一步分析判断，可以有效过滤处于输出电压上升沿的采样电压。示例性地，输出电压可以通过采样电压芯片进行采样，并配置模数转换芯片获取脉冲电平。
S20、每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压。
可以理解的，脉冲电平在脉冲开启阶段和脉冲关闭阶段切换，此时射频电源的输出电压可能仍然处于上升沿，本实施例中，通过连续采样，在第一目标数量的脉冲电平均在脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，以使记录的采样电压尽量避开射频电源输出电压的上升沿，从而提高后续的运算结果的准确性。由于不用通过在原有采集芯片上增加采集数量，或者更换更高采集速率的采集芯片，匹配速度不会因此降低，硬件成本也不会因此增加，而检测准确性却得到了有效提升。示例性地，脉冲开启阶段为脉冲电平大于低电平的阶段，脉冲关闭阶段为脉冲电平小于或等于低电平的阶段，而不仅仅以是否处于高、低电平进行划分。
S30、将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
可以理解的，本实施例通过同步获取脉冲信号脉冲电平做进一步分析判断，可以有效过滤处于输出电压上升沿的采样电压取值，并且，通过连续采样，在第一目标数量的脉冲电平均在脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，以使记录的采样电压尽量避开射频电源输出电压的上升沿，从而提高后续的运算结果的准确性。
另外，在不增加硬件成本以及降低匹配速度的情况下，本实施例的采样需求为每个检测周期内，每个脉冲开启阶段至少记录单个采样电压。例如，假设脉冲的频率范围是在0~30kHz，每个脉冲开启阶段时间为10us，每个脉冲开启阶段记录单个采样电压，经第二目标数量的脉冲开启阶段后获得第二目标数量的采样电压；又假设脉冲开启阶段时间为1ms（脉冲信号的高电平占空比足够大），单个脉冲开启阶段可以实现记录第二目标数量的所有采样电压。因此，本实施例不仅仅只从一个脉冲中获取电压数据，而是可以从多个脉冲中获取电压数据，这样就算是脉冲开启阶段的宽度很小都能找到准确的检测电压，因此，该检测方法的适用性更好，也可以兼容非脉冲模式。
请参照图2，可选的，步骤S20包括：
S21、提供第一计数值，每次采样的所述脉冲电平处于脉冲开启阶段时进行计数，且每次采样的所述脉冲电平处于脉冲关闭阶段时不进行计数，并重置所述第一计数值；
本步骤中，第一计数值预先清零，每次采样的所述脉冲电平处于脉冲开启阶段时，计数值加1；每次采样的脉冲电平处于脉冲关闭阶段时不计数，并将第一计数值清零。
S22、将所述第一计数值与所述第一目标数量进行比较；
本步骤中，第一目标数量可以根据实际采样需求进行调整设置，此处不做限制。示例性地，所述第一目标数量设置为3次。
S23、当所述第一计数值达到所述第一目标数量时，记录下一次采样的所述采样电压。
本步骤中，第一计数值达到第一目标数量时，将第一计数值清零，以方便下一次采样计数。
请参照图3，可选的，步骤S20还包括：
S24、提供第二计数值，每当记录所述采样电压时进行计数；
本步骤中，第二计数值预先清零，每当记录一次采样电压时，计数值加1，否则不进行计数。
S25、将所述第二计数值与所述第二目标数量进行比较；
本步骤中，第二目标数量可以根据实际采样需求进行调整设置，此处不做限制。
S26、当所述第二计数值达到所述第二目标数量时，停止计数并重置所述第二计数值。
本步骤中，第二计数值达到第二目标数量，停止计数并将第二计数值清零，以方便下一检测周期的检测。第二计数值未达到第二目标数量时则继续采样。
本实施例中，步骤S30包括：
从记录的所述采样电压中获取中位数的所述采样电压，并输出中位数的所述采样电压。
示例性地，第二目标数量设置为5个，将5个记录的采样电压进行大小排序，并选取其中的中位数的采样电压作为检测结果。可以理解的，本实施例通过获取记录第二目标数量的采样电压，且该数量的采样电压并非只在1个脉冲开启阶段上获取，可以有效避免采样到输出电压在上升沿上的值，并且从获取记录的采样电压取中位数，可以防止错误的数据掺入，从而提高检测的准确性。
在一些实施方式中，步骤S30还可以包括：
将记录的所述采样电压进行平均值运算，并输出运算结果。
示例性地，第二目标数量设置为5个，将5个记录的采样电压进行平均值运算，将采样电压的平均值作为检测结果。可以理解的，本实施例通过获取记录第二目标数量的采样电压，且该数量的采样电压并非只在1个脉冲开启阶段上获取，可以有效避免采样到输出电压在上升沿上的值，并且将获取记录的采样电压求平均值，可以提高检测的准确性。
可选的，步骤S30还包括：
从记录的所述采样电压中筛除最大值和最小值后再进行运算。
示例性地，从5个记录的采样电压中筛除最大值和最小值，再对其余3个采样电压进行运算以获取检测结果。可以理解的，本实施例中，由于采样过程中存在误差数据，误差数据一般分布在最大值和最小值，因此，本实施例将第二目标数量的采样电压筛除最大值和最小值之后进行运算，有利于减小误差数据对检测结果的影响。
请参照图4，示例性地，基于上述的射频匹配电压检测方法，本实施例还提供对应的检测流程，包括步骤：
A01、获取采样电压以及对应的脉冲电平；
A02、判断脉冲电平是否处于脉冲开启阶段，若是，进入步骤A03；若否，返回步骤A01。
A03、提供第一计数值，并计数加1；
A04、判断第一计数值是否达到第一目标数量，若是，进入步骤A05；若否，返回步骤A01。
A05、记录下一次采样的采样电压，提供第二计数值，并计数加1；
A06、判断第二计数值是否达到第二目标数量，若是，进入步骤A07；若否，返回步骤A01。
A07、停止计数并重置第二计数值，从记录的采样电压中筛除最大值和最小值，将其余采样电压进行运算以获得检测结果。
实施例
本实施例提供一种检测装置，采用如实施例一所述的射频匹配电压检测方法，对射频电源的输出电压进行检测。
请参照图5，该检测装置包括：
获取模块100，用于对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
取值模块200，用于每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压；
运算模块300，用于将所述第二目标数量的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
在一些实施方式中，获取模块100包括：
采样电压获取单元，用于对射频电源的输出电压进行连续采样；
脉冲电平获取单元，用于检测脉冲信号的脉冲电平；
控制单元，用于同步输出电压的获取与脉冲电平的获取。
示例性地，取值模块、运算模块以及控制单元可以共同集成于独立的MCU（Microcontroller Unit，微控制单元）上。
在一些实施方式中，取值模块200包括：
第一计数单元，用于提供第一计数值，在脉冲电平处于脉冲开启阶段时计数，以及在脉冲电平处于非脉冲开启阶段时不计数并重置第一计数值；
第二计数单元，用于提供第二计数值，每当记录采样电压时计数，在第二计数值达到第二目标数量时停止计数并重置第二计数值。
在一些实施方式中，运算模块300包括：
平均值运算单元，用于将记录的采样电压进行平均值运算。
在另一些实施方式中，运算模块300也可以包括：
中位数获取模块，用于从记录的采样电压中获取中位数的采样电压。
实施例
基于实施例一的射频匹配电压检测方法和实施例二的检测装置，本实施例提供了一种电子设备，其原理框图可以如图6所示。
该电子设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏。其中，该电子设备的处理器用于提供计算和控制能力。该电子设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该电子设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。
该计算机程序被处理器执行时以实现一种射频匹配电压检测方法。该电子设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该电子设备的温度传感器是预先在电子设备内部设置，用于检测内部设备的运行温度。
本领域技术人员可以理解，图6中的原理图，仅仅是与本发明方案相关的部分结构的框图，并不构成对本发明方案所应用于其上的电子设备的限定，具体的电子设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施方式中，提供一种电子设备，包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于进行以下操作的指令：
对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压；
将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本发明所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
综上所述，本发明提供的射频匹配电压检测方法、检测装置、电子设备及存储介质，通过同步获取采样电压以及脉冲信号的脉冲电平，在第一目标数量的脉冲电平均在脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，以使记录的采样电压尽量避开射频电源输出电压的上升沿，可以有效过滤处于输出电压上升沿的采样电压，以提高后续的运算结果的准确性，通过连续取值记录的采样电压进行运算，从而提高检测准确性，且不会对采样芯片的速率有更高要求。由于不用在原有采集芯片上增加采集数量，或者更换更高采集速率的采集芯片，匹配速度不会因此降低，硬件成本也不会因此增加，而检测准确性却得到了有效提升。另外，本申请的射频匹配电压检测方法可以在脉冲宽度较小的准确检测射频电源的输出，因此适用性更好，也可以兼容非脉冲模式。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围。
Claims (10)
1.一种射频匹配电压检测方法，其特征在于，包括步骤：
对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，直至获得第二目标数量的采样电压；
将记录的第二目标数量的采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
2.根据权利要求1所述的射频匹配电压检测方法，其特征在于，所述每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压的步骤包括：
提供第一计数值，每次采样的所述脉冲电平处于脉冲开启阶段时进行计数，且每次采样的所述脉冲电平处于脉冲关闭阶段时不进行计数，并重置所述第一计数值；
将所述第一计数值与所述第一目标数量进行比较；
当所述第一计数值达到所述第一目标数量时，记录下一次采样的所述采样电压。
3.根据权利要求1所述的射频匹配电压检测方法，其特征在于，所述每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的所述采样电压，直至获得第二目标数量的所述采样电压的步骤包括：
提供第二计数值，每当记录所述采样电压时进行计数；
将所述第二计数值与所述第二目标数量进行比较；
当所述第二计数值达到所述第二目标数量时，停止计数并重置所述第二计数值。
4.根据权利要求1所述的射频匹配电压检测方法，其特征在于，所述第一目标数量设置为3次。
5.根据权利要求1所述的射频匹配电压检测方法，其特征在于，所述将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果的步骤包括：
将记录的所述采样电压进行平均值运算，并输出运算结果。
6.根据权利要求1所述的射频匹配电压检测方法，其特征在于，所述将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果的步骤包括：
从记录的所述采样电压中获取中位数的所述采样电压，并输出中位数的所述采样电压。
7.根据权利要求6所述的射频匹配电压检测方法，其特征在于，所述将记录的所述采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果的步骤包括：
从记录的所述采样电压中筛除最大值和最小值后再进行运算。
8.一种检测装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于对输出电压进行连续采样，以获得采样电压，并同步获取脉冲信号的脉冲电平；
取值模块，用于每当连续获取的第一目标数量的所述脉冲电平均处于脉冲开启阶段时，记录下一次采样的采样电压，直至获得第二目标数量的采样电压；以及
运算模块，用于将第二目标数量的采样电压进行运算后获得所述输出电压的检测结果。
9.一种电子设备，其特征在于，包括有存储器，以及一个或者一个以上的程序，其中一个或者一个以上程序存储于存储器中，且经配置以由一个或者一个以上处理器执行所述一个或者一个以上程序包含用于执行如权利要求1-7中任意一项所述的射频匹配电压检测方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时使所述处理器实现如权利要求1-7中任一项所述的射频匹配电压检测方法。
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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