CN116071249A - 图像处理方法、装置、设备、介质及产品 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种图像处理方法、装置、设备、介质及产品。该图像处理方法包括:获取平板探测器采集的原始图像和采集原始图像时采用的剂量面积乘积值;利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;对剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;基于平板探测器入射强度计数最大值对校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。根据本申请实施例,可以简化平板探测器图像校正过程并提高图像质量。
Description
技术领域
本申请属于图像处理技术领域,尤其涉及一种图像处理方法、装置、设备、介质及产品。
背景技术
随着技术水平的不断发展,使用平板探测器的数字化X射线摄影系统在多个领域都被广泛的应用。其中平板探测器可以将X射线能量直接转化为电信号产生X射线图,由于探测器自身材质等问题需要进行对探测器进行增益校正,来消除探测器不一致影响、剂量角分布影响和束流强度不均匀产生的影响。
现有的数字化X射线摄影系统所采用的平板探测器增益校正方法,都是分别对剂量角分布和探测器不一致性进行校正,校正过程复杂对操作人员技术水平要求过高。并且在成像采集的过程中无法确定入射强度计数,图像的质量较低。
发明内容
本申请实施例提供一种图像处理方法、装置、设备、介质及产品,能够简化平板探测器图像校正过程并提高图像质量。
第一方面,本申请实施例提供一种图像处理方法,该方法包括:
获取平板探测器采集的原始图像和采集原始图像时采用的剂量面积乘积值;
利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;偏移校正表根据第一图像确定,第一图像通过平板探测器在不出束的条件下采集得到;增益校正系数表和坏探测器校正表通过对第二图像进行偏移校正确定,第二图像通过平板探测器在无遮挡物的条件下采集得到;
对剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;
基于平板探测器入射强度计数最大值对校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。
第二方面,本申请实施例提供了一种图像处理装置,该装置包括:
获取模块,用于获取平板探测器采集的原始图像和采集原始图像时采用的剂量面积乘积值;
第一处理模块,用于利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;偏移校正表根据第一图像确定,第一图像通过平板探测器在不出束的条件下采集得到;增益校正系数表和坏探测器校正表通过对第二图像进行偏移校正确定,第二图像通过平板探测器在无遮挡物的条件下采集得到;
生成模块,用于对剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;
第二处理模块,用于基于平板探测器入射强度计数最大值对校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。
第三方面,本申请实施例提供了一种电子设备,该电子设备包括:处理器以及存储有计算机程序指令的存储器;
处理器执行所述计算机程序指令时实现如第一方面的任一项实施例中所述的图像处理方法的步骤。
第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令,计算机程序指令被处理器执行时实现如第一方面的任一项实施例中所述的图像处理方法的步骤。
第五方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,计算机程序产品中的指令由电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备执行如第一方面的任一项实施例中所述的图像处理方法的步骤。
本申请实施例中的图像处理方法、装置、设备、介质及产品,通过利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表来对原始图像进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,并通过将剂量角分布和探测器不一致性融合方法来确定增益校正系数表和坏探测器校正表,简化了在对原始图像进行校正处理时的操作过程。并且通过将剂量面积乘积值转换为平板探测器入射强度计数的最大值的方法,来对图像进行复原和增强处理,提高了图像的质量。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单的介绍,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种图像处理方法的流程示意图;
图2是本申请实施例提供的另一种图像处理方法的流程示意图;
图3是本申请实施例提供的又一种图像处理方法的流程示意图
图4是本申请实施例提供的一种图像处理装置的结构示意图;
图5是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例,为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施例,对本申请进行进一步详细描述。应理解,此处所描述的具体实施例仅意在解释本申请,而不是限定本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
基于背景技术部分可知,现有的图像处理方法,是分别对剂量角分布和探测器不一致性进行校正,校正过程复杂对操作人员技术水平要求过高。并且在成像采集的过程中无法确定入射强度计数,图像的质量较低。
为了解决上述问题,本申请实施例提供了一种图像处理方法,通过利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表来对原始图像进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,并通过将剂量角分布和探测器不一致性融合方法来确定增益校正系数表和坏探测器校正表,简化了在对原始图像进行校正处理时的操作过程。并且通过将剂量面积乘积值转换为平板探测器入射强度计数的最大值的方法,来对图像进行复原和增强处理,提高了图像的质量。
下面结合附图,通过具体的实施例及其应用场景对本申请实施例提供的图像处理方法进行详细地说明。
图1是本申请实施例提供的一种图像处理方法的流程示意图。如图1所示,该图像处理方法具体可以包括如下步骤:
S110、获取平板探测器采集的原始图像和采集原始图像时采用的剂量面积乘积值;
S120、利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;偏移校正表根据第一图像确定,第一图像通过平板探测器在不出束的条件下采集得到;增益校正系数表和坏探测器校正表通过对第二图像进行偏移校正确定,第二图像通过平板探测器在无遮挡物的条件下采集得到;
S130、对剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;
S140、基于平板探测器入射强度计数最大值对校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。
由此,通过利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表来对原始图像进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,并通过将剂量角分布和探测器不一致性融合方法来确定增益校正系数表和坏探测器校正表,简化了在对原始图像进行校正处理时的操作过程。并且通过将剂量面积乘积值转换为平板探测器入射强度计数的最大值的方法,来对图像进行复原和增强处理,提高了图像的质量。
下面介绍上述各个步骤的具体实现方式。
在一些实施例中,在S110中,通过平板探测器采集原始图像并获取采集原始图像时的剂量面积乘积值。其中,平板探测器采集的原始图像例如可以是平板探测器在正常使用时所采集的图像。
作为一种示例,在使用数字化X射线摄影系统采集所需要的X射线图像时,通过平板探测器将射线能量转换为电信号产生X射线图像,通过平板探测器采集得到原始图像,并通过使用DAP剂量面积仪获取采集原始图像时的剂量面积乘积值。
在一些实施例中,在S120中,利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表来对采集的原始图像分别进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,得到经过校正处理后的图像。其中,偏移校正表是通过平板探测器在不出束的条件下采集得到的偏移校正图像确定的,增益校正系数表和坏探测器校正表是通过对平板探测器在无遮挡物的条件下采集的增益校正图像进行偏移校正确定的。
作为一种示例,在采用数字化X射线摄影系统使用平板探测器采集需要的X射线图像时,需要先在不出束的条件下采集偏移校正图像,根据偏移校正图像确定出偏移校正表。再使用平板探测器在无遮挡物的条件下采集增益校正图像,使用偏移校正表对增益校正图像进行偏移校正,以此来确定出增益校正系数表和坏探测器校正表。再使用平板探测器采集所需要的原始图像,然后根据确定出的偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表,来对原始图像分别进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,得到经过校正处理的图像。
在一些实施例中,在S130中,在使用平板探测器采集原始图像时,获取DAP剂量面积仪输出的剂量面积乘积,并以剂量面积乘积为参数将其转换为平板探测器入射强度计数的最大值,以此确定出平板入射强度计数最大值。
在一些实施例中,在S140中,将经过偏移校正、增益校正和坏探测器校正后的图像,根据由剂量面积乘积值转换得到的平板探测器入射强度计数进行复原和全局增强处理。
在一些实施例中,上述S140具体可以包括:基于平板探测器入射强度计数最大值,设置校正处理后的图像的全局灰度窗位,拉伸全局灰度窗宽,得到目标图像。
作为一种示例,根据确定的平板探测器入射强度计数最大值以及像元的最大值,得到一个系数,将所有平板探测器入射强度计数都乘以这个系数,拉伸全局灰度窗宽,增大动态范围,以此来对图像进行复原和全局增强。平板探测器入射强度计数乘以的系数例如可以是,在每个像元最大值为65535,而确定平板探测器入射强度系数最大值为10000左右,得像元最大值与平板探测器入射强度系数最大值的比值6,为了防止溢出情况的发生,将比值数减1得到系数5,将所有平板探测器入射强度计数都乘以系数5来拉伸全局灰度窗宽。
由此,通过将剂量面积乘积值转换为平板探测器入射强度计数的最大值的方法,来对图像进行复原和增强处理,提高了图像的质量。
为了方便进行偏移校正,本申请还提供了图像处理方法的另一种实施例。如图2所示,在上述S120之前,该方法还可以包括:
S210、在不出束的条件下,通过平板探测器采集第一图像;
S220、根据第一图像,确定偏移校正表。
在一些实施例中,使用平板探测器在不出束的条件下采集得到偏移校正图像,根据生成的偏移校正图像确定偏移校正表。
为了方便进行增益校正和坏探测器校正,本申请还提供了图像处理方法的又一种实施例。如图3所示,在上述S120之前,该方法还可以包括:
S310、在无遮挡物的条件下,通过平板探测器采集第二图像;
S320、根据偏移校正表对所述第二图像进行剂量角分布和探测器增益不一致性融合的偏移校正,以确定增益校正系数表和坏探测器校正表。
在一些实施例中,使用平板探测器在无遮挡物的条件下采集增益校正图像,在源距和球管不变的情况下,通过将剂量角分布和探测器不一致性的共同作用下采集的作用融合在一起,通过上述偏移校正表对采集的增益校正图像进行剂量角分布和探测器不一致性融合的偏移校正,确定出增益校正系数表和坏探测器校正表。
作为一种示例,在使用平板探测器采集图像时,先在不出束的条件下采集偏移校正图像,根据偏移校正图像确定出偏移校正表。再使用平板探测器在无遮挡物的条件下采集增益校正图像,并在源距和球管不变的情况下,将剂量角分布和探测器不一致性的共同作用下采集的作用融合在一起,以使用偏移校正表对增益校正图像进行偏移校正,以此来确定出增益校正系数表和坏探测器校正表。
由此,通过利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表来对原始图像进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,并通过将剂量角分布和探测器不一致性融合方法来确定增益校正系数表和坏探测器校正表,简化了在对原始图像进行校正处理时的操作过程。
上述各个实施例仅是一个示例,各实施例之间可以相互组合、相互替换最终形成一个图像处理方法的实施例。
需要说明的是,上述本申请实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本申请实施例的技术方案,并不构成对于本申请实施例提供的技术方案的限定,本领域普通技术人员可知,随着新应用场景的出现,本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题,同样适用。
基于相同的发明构思,本申请还提供了一种图像处理装置。具体结合图4进行详细说明。
图4是本申请实施例提供的一种图像处理装置的结构示意图。
如图4所示,该图像处理装置400可以包括:
获取模块401,用于获取平板探测器采集的原始图像和采集原始图像时采用的剂量面积乘积值;
第一处理模块402,用于利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;偏移校正表根据第一图像确定,第一图像通过平板探测器在不出束的条件下采集得到;增益校正系数表和坏探测器校正表通过对第二图像进行偏移校正确定,第二图像通过平板探测器在无遮挡物的条件下采集得到;
生成模块403,用于对剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;
第二处理模块404,用于基于平板探测器入射强度计数最大值对校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。
下面对上述图像处理装置400进行详细说明,具体如下所示:
在其中一些实施例中,为了方便进行偏移校正,利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对所述校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像之前,上述图像处理装置400还可以包括:
第一采集模块,用于在不出束的条件下,通过平板探测器采集第一图像;
确定模块,用于根据第一图像,确定偏移校正表。
在一些实施例中,为了方便进行增益校正和所述坏探测器校正,利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对所述校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像之前,上述图像处理装置400还可以包括:
第二采集模块,用于在无遮挡物的条件下,通过平板探测器采集第二图像;
第二确定模块,同于根据偏移校正表对第二图像进行剂量角分布和探测器增益不一致性融合的偏移校正,以确定增益校正系数表和坏探测器校正表。
在一些实施例中,上述第二处理模块404可以具体用于基于平板探测器入射强度计数最大值,设置校正处理后的图像的全局灰度窗位,拉伸全局灰度窗宽,得到目标图像。
由此,通过利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表来对原始图像进行偏移校正、增益校正和坏探测器校正,并通过将剂量角分布和探测器不一致性融合方法来确定增益校正系数表和坏探测器校正表,简化了在对原始图像进行校正处理时的操作过程。并且通过将剂量面积乘积值转换为平板探测器入射强度计数的最大值的方法,来对图像进行复原和增强处理,提高了图像的质量。
图5是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
在电子设备500可以包括处理器501以及存储有计算机程序指令的存储器502。
具体地,上述处理器501可以包括中央处理器(CPU),或者特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC),或者可以被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。
存储器502可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制,存储器502可包括硬盘驱动器(Hard Disk Drive,HDD)、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(Universal Serial Bus,USB)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下,存储器502可包括可移除或不可移除(或固定)的介质。在合适的情况下,存储器502可在综合网关容灾设备的内部或外部。在特定实施例中,存储器502是非易失性固态存储器。
在特定实施例中,存储器可包括只读存储器(ROM),随机存取存储器(RAM),磁盘存储介质设备,光存储介质设备,闪存设备,电气、光学或其他物理/有形的存储器存储设备。因此,通常,存储器包括一个或多个编码有包括计算机可执行指令的软件的有形(非暂态)计算机可读存储介质(例如,存储器设备),并且当该软件被执行(例如,由一个或多个处理器)时,其可操作来执行参考根据本申请的一方面的方法所描述的操作。
处理器501通过读取并执行存储器502中存储的计算机程序指令,以实现上述实施例中的任意一种图像处理方法。
在一些示例中,电子设备500还可包括通信接口503和总线510。其中,如图5所示,处理器501、存储器502、通信接口503通过总线510连接并完成相互间的通信。
通信接口503主要用于实现本申请实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。
总线510包括硬件、软件或两者,将在线数据流量计费设备的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制,总线510可包括加速图形端口(AGP)或其他图形总线、增强工业标准架构(EISA)总线、前端总线(FSB)、超传输(HT)互连、工业标准架构(ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、存储器总线、微信道架构(MCA)总线、外围组件互连(PCI)总线、PCI-Express(PCI-X)总线、串行高级技术附件(SATA)总线、视频电子标准协会局部(VLB)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下,总线510可包括一个或多个总线。尽管本申请实施例描述和示出了特定的总线,但本申请考虑任何合适的总线或互连。
示例性的,电子设备500可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、车载电子设备、超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer,UMPC)、上网本或者个人数字助理(personal digital assistant,PDA)等。
该电子设备500可以执行本申请实施例中的图像处理方法,从而实现结合图1和图4描述的图像处理方法和装置。
另外,结合上述实施例中的图像处理方法,本申请实施例可提供一种计算机可读存储介质来实现。该计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令;该计算机程序指令被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种图像处理方法。计算机可读存储介质的示例包括非暂态计算机可读存储介质,如便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件等。
需要明确的是,本申请并不局限于上文所描述并在图中示出的特定配置和处理。为了简明起见,这里省略了对已知方法的详细描述。在上述实施例中,描述和示出了若干具体的步骤作为示例。但是,本申请的方法过程并不限于所描述和示出的具体步骤,本领域的技术人员可以在领会本申请的精神后,作出各种改变、修改和添加,或者改变步骤之间的顺序。
以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时,其可以例如是电子电路、专用集成电路(ASIC)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时,本申请的要素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中,或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、ROM、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘、光纤介质、射频(RF)链路,等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。
还需要说明的是,本申请中提及的示例性实施例,基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是,本申请不局限于上述步骤的顺序,也就是说,可以按照实施例中提及的顺序执行步骤,也可以不同于实施例中的顺序,或者若干步骤同时执行。
上面参考根据本申请的实施例的方法、装置(系统)和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本申请的各方面。应当理解,流程图和/或框图中的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合可以由计算机程序指令实现。这些计算机程序指令可被提供给通用计算机、专用计算机、或其它可编程数据处理装置的处理器,以产生一种机器,使得经由计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行的这些指令使能对流程图和/或框图的一个或多个方框中指定的功能/动作的实现。这种处理器可以是但不限于是通用处理器、专用处理器、特殊应用处理器或者现场可编程逻辑电路。还可理解,框图和/或流程图中的每个方框以及框图和/或流程图中的方框的组合,也可以由执行指定的功能或动作的专用硬件来实现,或可由专用硬件和计算机指令的组合来实现。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。应理解,本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
获取平板探测器采集的原始图像和采集所述原始图像时采用的剂量面积乘积值;
利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对所述校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;所述偏移校正表根据第一图像确定,所述第一图像通过所述平板探测器在不出束的条件下采集得到;所述增益校正系数表和坏探测器校正表通过对第二图像进行偏移校正确定,所述第二图像通过所述平板探测器在无遮挡物的条件下采集得到;
对所述剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;
基于所述平板探测器入射强度计数最大值对所述校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。
2.根据权利要求1所述法,其特征在于,利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对所述校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像之前,所述方法还包括:
在不出束的条件下,通过所述平板探测器采集第一图像;
根据所述第一图像,确定偏移校正表。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对所述校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像之前,所述方法还包括:
在无遮挡物的条件下,通过所述平板探测器采集第二图像;
根据所述偏移校正表对所述第二图像进行剂量角分布和探测器增益不一致性融合的偏移校正,以确定所述增益校正系数表和所述坏探测器校正表。
4.根据权利要1所述的方法,其特征在于,所述基于所述平板探测器入射强度计数最大值对所述校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像,包括:
基于所述平板探测器入射强度计数最大值,设置所述校正处理后的图像的全局灰度窗位,拉伸全局灰度窗宽,得到目标图像。
5.一种图像处理装置,其特征在于,所述装置包括:
获取模块,用于获取平板探测器采集的原始图像和采集所述原始图像时采用的剂量面积乘积值;
第一处理模块,用于利用偏移校正表、增益校正系数表和坏探测器校正表对所述校正图像进行校正处理,得到校正处理后的图像;所述偏移校正表根据第一图像确定,所述第一图像通过所述平板探测器在不出束的条件下采集得到;所述增益校正系数表和坏探测器校正表通过对第二图像进行偏移校正确定,所述第二图像通过所述平板探测器在无遮挡物的条件下采集得到;
生成模块,用于对所述剂量面积乘积值进行转换处理,生成平板探测器入射强度计数最大值;
第二处理模块,用于基于所述平板探测器入射强度计数最大值对所述校正处理后的图像进行复原和全局增强处理,得到目标图像。
6.一种图像处理设备,其特征在于,所述设备包括:处理器以及存储有计算机程序指令的存储器;
所述处理器执行所述计算机程序指令时实现如权利要求1-4任意一项所述的图像处理方法的步骤。
7.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令,所述计算机程序指令被处理器执行时实现如权利要求1-4任意一项所述的图像处理方法的步骤。
8.一种计算机程序产品,其特征在于,所述计算机程序产品中的指令由电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备执行如权利要求1-4任意一项所述的图像处理方法的步骤。
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CN117237234A (zh) * | 2023-11-09 | 2023-12-15 | 杭州睿影科技有限公司 | 应用于x射线安检设备的图像校正方法、装置及电子设备 |
CN117237234B (zh) * | 2023-11-09 | 2024-01-30 | 杭州睿影科技有限公司 | 应用于x射线安检设备的图像校正方法、装置及电子设备 |
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