CN116046044B - 误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 59
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 152
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 8
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 6
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 7
- 239000000306 component Substances 0.000 description 7
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 7
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 7
- 101150118300 cos gene Proteins 0.000 description 5
- 101100421779 Arabidopsis thaliana SNL3 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100348617 Candida albicans (strain SC5314 / ATCC MYA-2876) NIK1 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100007329 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) COS1 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100007331 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) COS3 gene Proteins 0.000 description 4
- 101100042631 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) SIN3 gene Proteins 0.000 description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical compound Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 101100310335 Arabidopsis thaliana SIN2 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100338303 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) HHT2 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 2
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 101100234408 Danio rerio kif7 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100221620 Drosophila melanogaster cos gene Proteins 0.000 description 1
- 101100007330 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) COS2 gene Proteins 0.000 description 1
- 101100398237 Xenopus tropicalis kif11 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000008358 core component Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D18/00—Testing or calibrating apparatus or arrangements provided for in groups G01D1/00 - G01D15/00
- G01D18/001—Calibrating encoders
Abstract
本发明公开一种误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质，该方法包括：利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号；根据多组初始正余弦信号确定编码器的当前细分位置；获取被测电机的当前转速；基于多组初始正余弦信号确定角度延迟误差；获取初始误差补偿参数集；利用被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对初始误差补偿参数集进行校正得到目标误差补偿参数集；根据目标误差补偿参数集确定当前细分位置的误差补偿值，误差补偿值用于对当前细分位置进行误差补偿。本发明的方法通过误差补偿值对当前细分位置进行误差补偿，弥补由于电机转速导致的采样误差及采样时的角度延迟误差导致当前细分位置存在的偏差，得到准确的细分位置。
Description
技术领域
本发明涉及电机技术领域，尤其涉及一种误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质。
背景技术
编码器是将角度位移和直线位移转化成电信号，并将电信号进行模数转换，生成数字位置信息的测量设备。为获取高精度、高分辨率位置，编码器需要通过处理器ADC(analog-to-digital，模数转换器)模块对传感器输出的正余弦信号进行采样，通过软件算法对采样值进行细分解码。然而，当采用单采样编码器对正余弦波形采样并进行位置解算时，由于采样的正弦波形与余弦波形之间存在采样延迟，导致解算的位置并不准确。
上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是相关技术。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质，旨在解决采用单采样编码器对正余弦波形采样并进行位置解算时，由于采样的正弦波形与余弦波形之间存在采样延迟，导致解算的位置并不准确的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种误差校正方法，所述误差校正方法包括：
利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号；
根据所述多组初始正余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置；
获取被测电机的当前转速；
基于所述多组初始正余弦信号，确定角度延迟误差，所述角度延迟误差用于表征余弦信号相对于正弦信号的角度延迟；
获取初始误差补偿参数集；
利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集；
根据所述目标误差补偿参数集确定所述当前细分位置对应的误差补偿值，所述误差补偿值用于对所述当前细分位置进行误差补偿。
可选地，获取初始误差补偿参数集之前，还包括：
获取参考电机在参考转动速度下运行时，所述模数转换模块采样得到的多组参考正余弦信号；
根据所述多组参考正余弦信号，确定所述编码器的位置反馈曲线；
基于所述多组参考正余弦信号，确定参考角度延迟误差；
获取参考误差参数集；
利用所述位置反馈曲线、所述参考误差参数集、所述参考转动速度和所述参考角度延迟进行高次多项式回归拟合，得到所述初始误差补偿参数集。
可选地，利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集的步骤包括：
确定所述初始误差补偿参数集对应的初始转速；
比较所述被测电机的当前转速和所述初始转速得到权重系数；
利用所述权重系数和所述角度延迟误差，通过多项式函数对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集。
可选地，根据所述多组初始正余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置的步骤包括：
对所述多组初始正余弦信号进行预处理，得到目标正弦信号和目标余弦信号；
获取所述正弦信号对应的正弦校准参数和所述余弦信号对应的余弦校准参数；
根据所述目标正弦信号和所述正弦校准参数，确定校准正弦信号；
根据所述目标余弦信号和所述余弦校准参数，确定校准余弦信号；
根据所述校准正弦信号以及所述校准余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置。
可选地，基于所述多组初始正余弦信号，确定角度延迟误差的步骤包括：
获取所述校准正弦信号等于0时，所述校准余弦信号的特征值；
解算所述特征值对应的角度值；
将所述角度值作为所述角度延迟误差。
可选地，正弦校准参数包括：正弦信号幅值补偿参数、正弦信号直流偏置补偿参数，按照以下公式根据所述目标正弦信号和所述正弦校准参数，确定校准正弦信号：
SINoff＝Asin(SINavr+SINdc)
其中，SINoff为所述校准正弦信号，SINavr为所述目标正弦信号，Asin为所述正弦信号幅值补偿参数，SINdc为所述正弦信号直流偏置补偿参数；
所述余弦校准参数包括：余弦信号幅值补偿参数、余弦信号直流偏置补偿参数，按照以下公式根据所述目标余弦信号和所述余弦校准参数，确定校准余弦信号：
COSoff＝Acos(COSavr+COSdc)
其中，COSoff为所述校准余弦信号，COSavr为所述目标余弦信号。Acos
为所述余弦信号幅值补偿参数，COSdc为所述余弦信号直流偏置补偿参数。
可选地，对所述多组初始正余弦信号进行预处理，得到目标正弦信号和目标余弦信号的步骤包括：
确定所述多组初始正余弦信号中将多个正弦信号中最大值以及最小值滤除后的正弦信号集；
对所述正弦信号集中的正弦信号求平均值，得到所述目标正弦信号；
确定所述多组初始正余弦信号中将多个余弦信号中最大值以及最小值滤除后的余弦信号集；
对所述余弦信号集中的余弦信号求平均值，得到所述目标余弦信号。
可选地，利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号的步骤包括：
所述模数转换模块按照预设采样顺序进行采样，得到所述多组初始正余弦信号；其中，所述预设采样顺序包括以下方式中的任意一种：
按照正弦信号、余弦信号交替的采样顺序轮询采样，其中，所述轮询采样的次数大于或者等于第一预设次数；
按照正弦信号、余弦信号、余弦信号、正弦信号的采样顺序轮询采样，其中，所述轮询采样的次数大于或者等于第二预设次数，所述第一预设次数大于等于所述第二预设次数。
可选地，获取被测电机的当前转速的步骤包括：
按照以下公式确定所述被测电机的当前转速：
1/Speed/T0＝C/M0
其中，T0为所述被测电机的转动时长，C为编码器转动一圈的总脉冲数，M0为T0时长内统计到的编码器脉冲数，被测电机的当前转速为Speed(单位rpm/min)。
可选地，利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集之后，还包括：
利用所述目标误差补偿参数集对所述初始误差补偿参数集进行更新；
将更新后的误差补偿参数集存储至预设位置。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种终端设备，所述终端设备包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器里并可在所述处理器上运行的误差校正程序，所述误差校正程序被所述处理器执行时实现如以上所述误差校正方法的各个步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有误差校正程序，所述误差校正程序被所述处理器执行时实现如以上所述误差校正方法的各个步骤。
本发明提出的误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质，直接利用模数转换模块采集得到的多组正余弦信号确定编码器的当前细分位置，由于采样得到的正弦信号与余弦信号之间存在采样延迟误差，导致解算的当前细分位置并不准确，且由于在不同的电机转速下，采样延迟误差不同，基于采样得到的多组初始正余弦信号确定角度延迟误差，通过角度延迟误差明确采样延迟误差，进而利用被测电机的当前转速以及角度延迟误差，共同对初始误差补偿参数集进行校正，以确定在当前转速以及采样导致的角度延迟误差下，对应的目标误差补偿参数集，并基于目标误差补偿参数集确定当前细分位置对应的误差补偿值，通过误差补偿值对当前细分位置进行误差补偿，弥补由于电机转速导致的采样误差以及采样时存在的角度延迟误差导致解算的当前细分位置存在的偏差，最终得到准确的细分位置。
附图说明
图1为本发明的误差校正方法各个实施例涉及的终端设备的结构示意图；
图2为本发明的误差校正方法第一实施例的流程示意图；
图3为两个ADC模块同步采样正余弦信号的示意图；
图4为单个ADC模块轮询采样正余弦信号的示意图；
图5为本发明的误差校正方法第一实施例中确定细分位置的流程示意图；
图6为采集的余弦波形信号相对于正弦波形信号的采样时间延迟误差；
图7为本发明的误差校正方法的编码器的系统框图；
图8为本发明的误差校正方法第二实施例的流程示意图；
图9为单采样模数转换模块的编码器位置解算校正框架图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明提供一种误差校正方法，所述误差校正方法包括：
利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号；
根据所述多组初始正余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置；
获取被测电机的当前转速；
基于所述多组初始正余弦信号，确定角度延迟误差，所述角度延迟误差用于表征余弦信号相对于正弦信号的角度延迟；
获取初始误差补偿参数集；
利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集；
根据所述目标误差补偿参数集确定所述当前细分位置对应的误差补偿值，所述误差补偿值用于对所述当前细分位置进行误差补偿。
针对采用单采样编码器对正余弦波形采样并进行位置解算时，存在采样的正弦波形与余弦波形之间存在采样延迟，导致解算的位置并不准确的问题，本发明提供的误差校正方法，直接利用模数转换模块采集得到的多组正余弦信号确定编码器的当前细分位置，由于采样得到的正弦信号与余弦信号之间存在采样延迟误差，导致解算的当前细分位置并不准确，且由于在不同的电机转速下，采样延迟误差不同，基于采样得到的多组初始正余弦信号确定角度延迟误差，通过角度延迟误差明确采样延迟误差，进而利用被测电机的当前转速以及角度延迟误差，共同对初始误差补偿参数集进行校正，以确定在当前转速以及采样导致的角度延迟误差下，对应的目标误差补偿参数集，并基于目标误差补偿参数集确定当前细分位置对应的误差补偿值，通过误差补偿值对当前细分位置进行误差补偿，弥补由于电机转速导致的采样误差以及采样时存在的角度延迟误差导致解算的当前细分位置存在的偏差，最终得到准确的细分位置。
在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或者“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或者“单元”可以混合地使用。
终端设备可以以各种形式来实施。例如，本发明中描述的终端设备可以包括诸如手机、平板电脑、笔记本电脑以及掌上电脑等移动终端。
本领域技术人员可以理解的是，除了特别用于移动目的元件之外，根据本发明的实施方式的构造也能够应用于固定类型的移动终端。
请参考图1，图1为本发明的误差校正方法各个实施例涉及的终端设备的结构示意图。
如图1所示，该终端设备可以包括：存储器101以及处理器102。本领域技术人员可以理解，图1示出的终端的结构框图并不构成对终端的限定，终端可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。其中，存储器101中存储有操作系统以及误差校正程序。处理器102是终端设备的控制中心，处理器102执行存储在存储器101内的误差校正程序，以实现本发明的误差校正方法各实施例的步骤。
可选地，终端设备还可包括显示单元103，显示单元103包括显示面板，可采用液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-EmittingDiode，OLED)等形式来配置显示面板，用于输出显示用户浏览的界面。
基于上述终端设备的结构框图，提出本发明的误差校正方法的各个实施例。
在第一实施例中，本发明提供一种误差校正方法，请参考图2，图2为本发明的误差校正方法第一实施例的流程示意图。在该实施例中，误差校正方法包括以下步骤：
步骤S10，利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号；
编码器作为自动控制系统的核心部件，被应用在各个领域。需要说明的是，编码器是将角度位移和直线位移转化成电信号，并将电信号进行模数转换，生成数字位置信息的测量设备。为获取高精度、高分辨率的位置信息，编码器需要通过模数转换(analog-to-digital，ADC)模块对传感器输出的正余弦信号进行采样，通过软件算法对采样值进行细分解码。
目前，细分解码是编码器获取高精度、高分辨率的位置信息的关键环节。细分解码方法有硬件方法，也有软件方法。在实际应用过程中，因硬件电路实现复杂，所以常采用软件方法进行细分解码以得到角度对应的位置信息。需要说明的是，采用软件方法进行细分解码需要通过单片机、DSP或者FPGA等控制芯片完成，因至少需要采集一组正余弦信号，可通过设置两个ADC模块以同步采样，以基于同步采样得到的正余弦信号进行位置结算，保证位置结算的精度。然而设置两个ADC模块需要对应设置的电路空间更大，进而导致编码器的体积更大，不易于编码器微型化，请参考图3，图3为两个ADC模块同步采样正余弦信号的示意图。
而当设置一个ADC模块时，由于采样得到的正余弦信号不是同步采样得到的，采样的正弦波形信号与余弦波形信号之间存在采样延迟，导致解算的位置并不准确，请参考图4，图4为单个ADC模块轮询采样正余弦信号的示意图。
可以理解的是，示例性地，请参考图3以及图4，在ADC时钟频率和采样时长t一样的情况下，要保证位置结算的时间不变，单个ADC模块轮询采样的方式相对于两个ADC模块同步采样的方式，采样时间缩短一般，相较于两个ADC模块同步采样的方式，单个ADC模块基于采样的正余弦信号解算的位置精度低。
作为一种可选的实施方式，步骤S10包括：
所述模数转换模块按照预设采样顺序进行采样，得到所述多组初始正余弦信号；其中，所述预设采样顺序包括以下方式中的任意一种：
按照正弦信号、余弦信号交替的采样顺序轮询采样，其中，所述轮询采样的次数大于或者等于第一预设次数；
按照正弦信号、余弦信号、余弦信号、正弦信号的采样顺序轮询采样，其中，所述轮询采样的次数大于或者等于第二预设次数，所述第一预设次数大于等于所述第二预设次数。
在本实施例中，设置单采样编码器的模数转换模块按照预设采样顺序对原始模拟信号进行采集，以得到多组初始正余弦信号。可选地，可参考图4所示，预设采样顺序设置为按照正弦信号、余弦信号交替的采样顺序轮询采样，且轮询采样的次数大于或者等于第一预设次数，其中，在ADC时钟频率和采样时长t一样的情况下，轮询次数越大，表明采样周期越小，采样延迟误差越小，通过设置轮询采样的次数大于或者等于第一预设次数，以减小采样延迟误差，以使得解算的位置与准确的位置之间的位置偏差越小。
需要说明的是，如图4所示，举例来说，SIN0与COS0为轮询一次，SIN1与COS1为轮询两次，......，SIN3与COS3为轮询四次。可以理解的是，SIN0与COS0为一组初始正余弦信号。其中，SIN0、SIN1、SIN2或SIN3分别对应的采样时长为一采样周期t/8，同理地，COS0、COS1、COS2或COS3对应的采样时长为一采样周期t/8，容易理解的是，相较于两个ADC模块同步采样的方式，在ADC时钟频率和采样时长t一样的情况下，轮询次数越大，表明采样周期越小，SIN0与COS0之间的采样延迟误差越小。
可选地，第一预设次数设置为至少2次。优选地，第一预设次数可采用4次。
同理地，可选地，预设采样顺序设置为按照正弦信号、余弦信号、余弦信号以及正弦信号的采样顺序轮询采样的方式，轮询采样的次数大于或者等于第二预设次数，其中，在ADC时钟频率和采样时长t一样的情况下，轮询次数越大，表明采样周期越小，采样延迟误差越小，通过设置轮询采样的次数大于或者等于第二预设次数，以减小采样延迟误差，以使得解算的位置与准确的位置之间的位置偏差越小。
需要说明的是，预设采样顺序设置为按照正弦信号、余弦信号、余弦信号以及正弦信号的采样顺序轮询采样的方式时，举例来说，预设采样顺序设置为SIN0、COS0、COS1、SIN1、SIN2、COS2、COS3、SIN3。SIN0、COS0、COS1、SIN1为轮询一次，SIN2、COS2、COS3、SIN3为轮询两次。可以理解的是，SIN0与COS0为一组初始正余弦信号。
可选地，第一预设次数设置为至少1次。优选地，第一预设次数可采用2次。
可选地，第一预设次数大于或者等于第二预设次数。
步骤S20，根据所述多组初始正余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置；
作为一种可选的实施方式，请参考图5，图5为本发明的误差校正方法第一实施例中确定细分位置的流程示意图，步骤S20包括：
步骤S21，对所述多组初始正余弦信号进行预处理，得到目标正弦信号和目标余弦信号；
步骤S22，获取所述正弦信号对应的正弦校准参数和所述余弦信号对应的余弦校准参数；
步骤S23，根据所述目标正弦信号和所述正弦校准参数，确定校准正弦信号；
步骤S24，根据所述目标余弦信号和所述余弦校准参数，确定校准余弦信号；
步骤S25，根据所述校准正弦信号以及所述校准余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置。
需要说明的是，在实际应用过程中，即便能够实现对余弦信号与正弦信号同步采样，由于元器件差异及安装偏差等原因，会造成编码器的单采样模数转换模块对原始模拟信号为非理想信号，也即存在零点偏差、余弦信号与正弦信号的幅值不相等以及余弦信号与正弦信号的相位差为非严格的90°，在本实施例中，由于采用单采样模数转换模块对原始模拟信号进行采样，相较于采样不同步导致的采样误差如存在角度延迟误差，余弦信号与正弦信号的相位差为非严格的90°可忽略不计，或者，可基于后续过程中对于由于采样不同步导致的采样误差如存在角度延迟误差进行校正时，对余弦信号与正弦信号的相位差为非严格的90°进行同步校正。
需要说明的是，余弦信号对应的余弦校准参数包括：余弦信号幅值补偿参数以及余弦信号直流偏置补偿参数。同理地，正弦信号对应的正弦校准参数包括：正弦信号幅值补偿参数、正弦信号直流偏置补偿参数。在实施例中，可通过余弦校准参数以及正弦校准参数对采集的多组正余弦信号存在的零点偏差、余弦信号与正弦信号的幅值不相等问题进行校正。
可选地，步骤S21包括：
确定所述多组初始正余弦信号中将多个正弦信号中最大值以及最小值滤除后的正弦信号集；
对所述正弦信号集中的正弦信号求平均值，得到所述目标正弦信号；
确定所述多组初始正余弦信号中将多个余弦信号中最大值以及最小值滤除后的余弦信号集；
对所述余弦信号集中的余弦信号求平均值，得到所述目标余弦信号。
在本实施例中，获取采样结果对应的多组初始正余弦信号中的多个正弦信号，确定多个正弦信号中最大值以及最小值分别对应的正弦信号进行滤除后的正弦信号集，以解决因单采样模数转换模块轮询采样时采样时长缩短一半导致的采集的原始模拟信号噪声变大问题，对正弦信号集中的正弦信号求平均值，得到目标正弦信号，以通过得到的目标正弦信号消除原始模拟信号中初始正弦信号由于随机干扰导致的幅值浮动或者跳动，造成的位置跳动问题，以抑制随机干扰。
同理地，获取采样结果对应的多组初始正余弦信号中的多个余弦信号，确定多个余弦信号中最大值以及最小值分别对应的余弦信号进行滤除后的余弦信号集，以解决因单采样模数转换模块轮询采样时采样时长缩短一半导致的采集的原始模拟信号噪声变大问题，对余弦信号集中的正弦信号求平均值，得到目标余弦信号，以通过得到的目标余弦信号消除原始模拟信号中初始余弦信号由于随机干扰导致的幅值浮动或者跳动，造成的位置跳动问题，以抑制随机干扰。
可选地，所述正弦校准参数包括：正弦信号幅值补偿参数、正弦信号直流偏置补偿参数，按照以下公式执行步骤S23：
SINoff＝Asin(SINavr+SINdc)
其中，SINoff为所述校准正弦信号，SINavr为所述目标正弦信号，Asin为所述正弦信号幅值补偿参数，SINdc为所述正弦信号直流偏置补偿参数；
所述余弦校准参数包括：余弦信号幅值补偿参数、余弦信号直流偏置补偿参数，按照以下公式执行步骤S24：
COSoff＝Acos(COSavr+COSdc)
其中，COSoff为所述校准余弦信号，COSavr为所述目标余弦信号，Acos为所述余弦信号幅值补偿参数，COSdc为所述余弦信号直流偏置补偿参数。
可以理解的是，采用对正弦信号的原始模拟信号经过校正后得到的校准正弦信号用于解算细分位置，可消除由于元器件差异及安装偏差等原因造成零点偏差以及余弦信号与正弦信号的幅值不相等的偏差，提高编码器的细分精度。同理地，采用对余弦信号的原始模拟信号经过校正后得到的校准余弦信号用于解算细分位置，可消除由于元器件差异及安装偏差等原因造成零点偏差以及余弦信号与正弦信号的幅值不相等的偏差，提高编码器的细分精度。
单采样编码器的当前细分位置，根据校准正弦信号以及校准余弦信号确定，示例性地，单采样编码器的当前细分位置的计算方式可以是：
其中，θ为当前细分位置，arctan表示反正切算法。
步骤S30，获取被测电机的当前转速；
需要说明的是，步骤S30包括：
获取所述被测电机的转动时长、所述单采样编码器的单圈总脉冲数以及所述转动时长内的编码器总脉冲数；
根据所述转动时长、所述单圈总脉冲数以及所述编码器总脉冲数，确定所述被测电机的当前转速。
示例性地，按照以下公式执行步骤S30：
按照以下公式确定所述被测电机的当前转速：
1/Speed/T0＝C/M0
其中，T0为所述被测电机的转动时长，C为编码器转动一圈的总脉冲数，M0为T0时长内统计到的编码器脉冲数，被测电机的当前转速为Speed(单位rpm/min)。
举例来说，以17bit编码器举例，驱控速度环周期为62.5us，即C＝131072，T0＝62.5us，M0为编码器连续两次反馈位置差。
步骤S40，基于所述多组初始正余弦信号，确定角度延迟误差；
步骤S50，获取初始误差补偿参数集；
步骤S60，利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集；
步骤S70，根据所述目标误差补偿参数集确定所述当前细分位置对应的误差补偿值，所述误差补偿值用于对所述当前细分位置进行误差补偿。
角度延迟误差用于表征余弦信号相对于正弦信号的角度延迟。需要说明的是，由于通过轮询采样的方式采样，采样的正余弦信号不同步，导致的采样延迟误差是不可忽略的，具体可参见如下公式：
当前细分位置θ为经过位置解算计算获取得到的角度，θ′为消除采样延迟误差后对应的实际角度，也即理想实际角度，μ为单采样模数转换模块轮询采样后余弦信号相对于正弦信号的角度延迟。
可以理解的是，计算得到的角度和实际角度是不相等的，且随着被测电机的转速越大，角度延迟误差越大。
请参考图6，图6为采集的余弦波形信号相对于正弦波形信号的采样时间延迟误差，其中，t代表单个ADC模块的采样时间对应的延迟误差，S代表电机的转动速度，N为电机转动一圈时产生的正余弦信号个数。需要说明的是，单ADC模块采样正余弦信号存在采样时间的延迟误差，且随着电机的转动速度逐渐增大，信号频率越快，采样时间的延迟误差会逐渐增大。
可选地，步骤S40包括：
获取所述校准正弦信号等于0时，所述校准余弦信号的特征值；
解算所述特征值对应的角度值；
将所述角度值作为所述角度延迟误差。
需要说明的是，确定余弦信号相对于正弦信号的角度延迟误差，基于正弦信号采样SINoff≈0时，通过余弦信号COSoff＝cos(μ)得到的大小计算μ结合，当正弦信号值约等于零时，余弦信号值恰好处于信号峰值位置附近，可计算得到角度值，并将该角度值作为角度延迟误差μ。
作为一种可选的实施方式，步骤S60包括：
确定所述初始误差补偿参数集对应的初始转速；
比较所述被测电机的当前转速和所述初始转速得到权重系数；
利用所述权重系数和所述角度延迟误差，通过多项式函数对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集。
需要说明的是，初始误差补偿参数集是预先设置的，基于电机在参考转动速度下，参考角度延迟误差下对应的不同采样点分别对应的误差补偿值，其中，不同采样点是指电机在参考转动速度下，参考角度延迟误差下不同采样时间解算得到的各个细分位置。通过采样点对应的误差补偿值，对该采样点解算的细分位置进行误差补偿，弥补由于电机参考转速导致的采样误差以及采样时存在的参考角度延迟误差导致解算的当前细分位置存在的偏差，最终得到准确的细分位置。
确定初始误差补偿参数集对应的初始转速，也即获取与初始误差补偿参数集对应的参考转动速度，根据参考转动速度确定初始误差补偿参数集对应的初始转速。
在本实施例中，由于不同的电机转速下，角度延迟误差不同，为得到与被测电机的当前转速，以及当前转速下角度延迟误差下对应的目标误差补偿参数集，比较被测电机的当前转速和初始转速得到权重系数，如获取当前转速和初始转速之间的比值，根据比值确定权重系数，利用权重系数和角度延迟误差，通过多项式函数对初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集，以得到在当前转速以及当前转速采样导致的角度延迟误差下，对应的目标误差补偿参数集，并基于目标误差补偿参数集确定当前细分位置对应的误差补偿值，通过误差补偿值对当前细分位置进行误差补偿，弥补由于电机转速导致的采样误差以及采样时存在的角度延迟误差导致解算的当前细分位置存在的偏差，最终得到准确的细分位置。
作为一种可选的实施方式，步骤S60包括：
获取所述初始误差补偿参数集对应的非线性误差参考补偿曲线；
将所述角度延迟误差以及所述被测电机的当前转速输入非线性误差参考补偿曲线进行校正，以获得非线性误差目标补偿曲线；
根据所述非线性误差目标补偿曲线，确定所述目标误差补偿参数集。
需要说明的是，该实施例的具体实现可参见第二实施例，在本实施例中不做详细说明。
作为一种可选的实施方式，步骤S60之后，还包括：
利用所述目标误差补偿参数集对所述初始误差补偿参数集进行更新；
将更新后的误差补偿参数集存储至预设位置。
需要说明的是，利用目标误差补偿参数集对初始误差补偿参数集进行更新，获取得到在当前转速以及采样导致的角度延迟误差下，对应的目标误差补偿参数集，并将更新后的误差补偿参数集存储至预设位置，实现对不同的电机转速下，不同的采样延迟误差下分别对应的误差补偿参数集进行存储。
可选地，将更新后的误差补偿参数集存储至预设位置的步骤包括：
将当前转速、角度延迟误差以及更新后的所述误差补偿参数集关联存储至预设位置，以实现在预设位置可获取得到不同的电机转速下，不同的采样延迟误差下分别对应的误差补偿参数集。
可选地，在一实施例中，在执行步骤S50和/或步骤S60之前，可先从预设位置存储的电机转速以及角度延迟误差中，确定与当前转速以及角度延迟误差均匹配的目标转速以及目标角度延迟误差，在存在目标转速以及目标角度延迟误差，表明预设位置已存储有与当前转速以及角度延迟误差对应的误差补偿参数，可直接获取与目标转速、目标角度延迟误差关联的误差补偿参数集，作为目标误差补偿参数集，提高编码器解算得到准确的细分位置的效率。
在不存在目标转速以及目标角度延迟误差，表明预设位置未存储有与当前转速以及角度延迟误差对应的误差补偿参数，执行步骤S50和/或步骤S60，以计算得到当前转速以及采样导致的角度延迟误差下，对应的目标误差补偿参数集，实现动态构建被测电机在当前转速、以及当前转速下余弦信号相对于正弦信号的角度延迟误差时对应的目标误差补偿参数集。
需要说明的是，请参考图7，图7为本发明的误差校正方法的编码器的系统框图，编码器包括角度传感器、信号调理模块、处理器、数据存储模块以及校准模块。
其中，角度传感器产生正余弦信号用于细分解码。可选地，角度传感器采用光电传感器或者磁传感器。
信号调理模块，用于将正余弦信号的幅值进行放大，将正余弦信号的幅值调理至ADC模块可采样的范围内，以确保ADC模块可采集正余弦信号，提高采样准确度。
ADC模块，用于将正余弦信号对应的模拟信号转换为数字信号。
可选地，ADC模块集成在处理器，或者，ADC模块可外置电路。
可选地，相较于设置两个ADC模块，ADC模块的数量设置为单个，可对应设置电路空间更小，便于编码器小型化或者微型化，缩小编码器的体积，且能降低成本。
处理器，用于通过单片机、DSP或者FPGA等控制芯片实现位置解算以及校正等编码器的常用功能。
数据存储模块，用于存储生成的细分位置与误差补偿之间的映射关系以及电机控制参数，实现非易失性数据的存取。
针对采用单采样编码器对正余弦波形采样并进行位置解算时，存在采样的正弦波形与余弦波形之间存在采样延迟，导致解算的位置并不准确的问题，在本实施例公开的技术方案中，直接利用模数转换模块采集得到的多组正余弦信号确定编码器的当前细分位置，由于采样得到的正弦信号与余弦信号之间存在采样延迟误差，导致解算的当前细分位置并不准确，且由于在不同的电机转速下，采样延迟误差不同，基于采样得到的多组初始正余弦信号确定角度延迟误差，通过角度延迟误差明确采样延迟误差，进而利用被测电机的当前转速以及角度延迟误差，共同对初始误差补偿参数集进行校正，以确定在当前转速以及采样导致的角度延迟误差下，对应的目标误差补偿参数集，并基于目标误差补偿参数集确定当前细分位置对应的误差补偿值，通过误差补偿值对当前细分位置进行误差补偿，弥补由于电机转速导致的采样误差以及采样时存在的角度延迟误差导致解算的当前细分位置存在的偏差，最终得到准确的细分位置。
在基于第一实施例的基础上提出的第二实施例中，请参考图8，图8为本发明的误差校正方法第二实施例的流程示意图。在该实施例中，步骤S50之前，还包括：
步骤S80，获取参考电机在参考转动速度下运行时，所述模数转换模块采样得到的多组参考正余弦信号；
步骤S90，根据所述多组参考正余弦信号，确定所述编码器的位置反馈曲线；
步骤S100，基于所述多组参考正余弦信号，确定参考角度延迟误差；
步骤S110，获取参考误差参数集；
步骤S120，利用所述位置反馈曲线、所述参考误差参数集、所述参考转动速度和所述参考角度延迟进行高次多项式回归拟合，得到所述初始误差补偿参数集。
在本实施例中，得到的初始误差补偿参数集是指基于参考电机在参考转动速度下，参考角度延迟误差下对应的不同采样点分别对应的误差补偿值，其中，不同采样点是指电机在参考转动速度下，参考角度延迟误差下不同采样时间解算得到的各个细分位置。通过采样点对应的误差补偿值，对该采样点解算的细分位置进行误差补偿，弥补由于电机参考转速导致的采样误差以及采样时存在的参考角度延迟误差导致解算的当前细分位置存在的偏差，最终得到准确的细分位置。
需要说明的是，位置反馈曲线是指基于编码器的单采样模数转换模块轮询采样获取得到的原始模拟信号进行位置解算得到的曲线。可以理解的是，该位置反馈曲线是存在由轮询采样导致的采样延迟误差计算出来、存在误差的采样点对应的位置曲线。
参考误差参数集是指理想状态(不存在误差)下，参考电机在当前参考转动速度下，参考角度延迟误差下对应的不同采样点的细分位置。可选地，参考误差参数集可根据非线性误差参考曲线确定，非线性误差参考曲线是指理想状态(不存在误差)下，参考电机在当前参考转动速度下，参考角度延迟误差下不同采样点所形成的细分位置曲线。
示例性地，可参考图9，图9为单采样模数转换模块的编码器位置解算校正框架图。需要说明的是，基于该校正框架图，不需要主动高精度编码器电机，只需驱控系统控制待测编码器匀速旋转即可，无需对参考电机的转速进行限制，操作简单方便，提高了编码器的校准效率。
假设编码器采用17位编码器，参考电机的参考转动速度为p，角度延迟误差为u，非线性误差参考曲线中采样点1对应200线，采样点2对应400线，采样点3对应600线，采样点4对应800线，采样点5对应1000线。位置反馈曲线中采样点1对应180线，采样点2对应380线，采样点3对应570线，采样点4对应770线，采样点5对应960线。
由此，可知位置反馈曲线中解算出来的细分位置180线对应的补偿误差为20线，380线对应的补偿误差为20线，570线对应的补偿误差为30线，770线对应的补偿误差为30线，960线对应的补偿误差为40线，由此构建细分位置与补偿误差之间的非线性误差补偿参考曲线，进而根据非线性误差补偿参考曲线确定误差补偿参数集，且基于该非线性误差补偿曲线可进行细分位置进行线性插值补偿。
可选地，采样点采集的越多，构建的非线性误差补偿参考曲线越准确。
在本实施例中，由于被测电机的转速与角度延迟误差导致的位置解算时细分位置不准确，为便于动态获知被测电机的不同转速、不同的角度延迟误差下，细分位置与补偿误差之间的非线性误差补偿曲线，根据位置反馈曲线、参考误差参数集、参考转动速度以及参考角度延迟进行高次多项式回归拟合，生成目标非线性误差参考补偿曲线，其中，目标非线性误差参考补偿曲线是包含有变量参考转动速度为p以及角度延迟误差为u所对应的细分位置与补偿误差之间的映射曲线。可以理解的是，初始误差补偿参数集根据目标非线性误差参考补偿曲线确定。
基于目标非线性误差参考补偿曲线，在明确被测电机的转速以及该转速下的角度延迟误差时，可将角度延迟误差以及被测电机的当前转速输入非线性误差参考补偿曲线，以获得非线性误差目标补偿曲线，其中，非线性误差目标补偿曲线是指该角度延迟误差以及当前转速下对应的细分位置与误差补偿之间的映射关系，在计算得到当前细分位置时，可基于该映射关系获取得到与当前细分位置对应的误差补偿值，进而在当前细分位置的基础上补偿误差补偿值，以得到准确的细分位置。也即作为一种可选的实施方式，步骤S60包括：
获取所述初始误差补偿参数集对应的目标非线性误差参考补偿曲线；
将所述角度延迟误差以及所述被测电机的当前转速输入目标非线性误差参考补偿曲线进行校正，以获得非线性误差目标补偿曲线；
根据所述非线性误差目标补偿曲线，确定所述目标误差补偿参数集。
在本实施例中，将角度延迟误差以及被测电机的当前转速输入目标非线性误差参考补偿曲线，以获得非线性误差目标补偿曲线，通过初始误差补偿参数集预先构建的非线性误差参考曲线，可实现动态构建在被测电机不同转速、以及不同转速下余弦信号相对于正弦信号的角度延迟误差时对应的非线性误差目标补偿曲线，通过非线性误差目标补偿曲线获知在电机的转速以及余弦信号相对于正弦信号的角度延迟误差已知的情况下，得到当前细分位置与误差补偿之间的映射关系，基于该映射关系确定目标误差补偿参数集，获取得到与当前细分位置对应的误差补偿值，进而在当前细分位置的基础上补偿误差补偿值，以得到准确的细分位置。
在本实施例公开的技术方案中，将角度延迟误差以及被测电机的当前转速输入目标非线性误差参考补偿曲线进行校正，以获得非线性误差目标补偿曲线，通过构建的目标非线性误差参考曲线，可实现动态构建在被测电机不同转速、以及不同转速下余弦信号相对于正弦信号的角度延迟误差时对应的非线性误差目标补偿曲线，通过非线性误差目标补偿曲线获知在电机的转速以及余弦信号相对于正弦信号的角度延迟误差已知的情况下，计算出来的当前细分位置与误差补偿之间的映射关系，以获取得到与当前细分位置对应的误差补偿值，进而在当前细分位置的基础上补偿误差补偿值，以得到准确的细分位置。
本发明还提出一种终端设备，所述终端设备包括：包括存储器、处理器以及存储在存储器里并可在处理器上运行的误差校正程序，误差校正程序被处理器执行时实现上述任一实施例中的误差校正方法的步骤。
本发明还提出一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有误差校正程序，所述误差校正程序被处理器执行时实现如以上任一实施例所述的误差校正方法的步骤。
在本发明提供的终端设备和计算机可读存储介质的实施例中，包含了上述误差校正方法各实施例的全部技术特征，说明书拓展和解释内容与上述误差校正方法的各实施例基本相同，在此不做再赘述。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上的一个计算机可读存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台移动终端(可以是手机，计算机，服务器，被控终端，或者网络设备等)执行本发明每个实施例的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (11)
1.一种误差校正方法，应用于编码器，其特征在于，所述误差校正方法包括：
利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号；
根据所述多组初始正余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置；
获取被测电机的当前转速；
基于所述多组初始正余弦信号，确定角度延迟误差，所述角度延迟误差用于表征余弦信号相对于正弦信号的角度延迟；
获取参考电机在参考转动速度下运行时，所述模数转换模块采样得到的多组参考正余弦信号；
根据所述多组参考正余弦信号，确定所述编码器的位置反馈曲线；
基于所述多组参考正余弦信号，确定参考角度延迟误差；
获取参考误差参数集；
利用所述位置反馈曲线、所述参考误差参数集、所述参考转动速度和所述参考角度延迟进行高次多项式回归拟合，得到初始误差补偿参数集；
利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集；
根据所述目标误差补偿参数集确定所述当前细分位置对应的误差补偿值，所述误差补偿值用于对所述当前细分位置进行误差补偿。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集的步骤包括：
确定所述初始误差补偿参数集对应的初始转速；
比较所述被测电机的当前转速和所述初始转速得到权重系数；
利用所述权重系数和所述角度延迟误差，通过多项式函数对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多组初始正余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置的步骤包括：
对所述多组初始正余弦信号进行预处理，得到目标正弦信号和目标余弦信号；
获取所述正弦信号对应的正弦校准参数和所述余弦信号对应的余弦校准参数；
根据所述目标正弦信号和所述正弦校准参数，确定校准正弦信号；
根据所述目标余弦信号和所述余弦校准参数，确定校准余弦信号；
根据所述校准正弦信号以及所述校准余弦信号，确定所述编码器的当前细分位置。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述多组初始正余弦信号，确定角度延迟误差的步骤包括：
获取所述校准正弦信号等于0时，所述校准余弦信号的特征值；
解算所述特征值对应的角度值；
将所述角度值作为所述角度延迟误差。
5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述正弦校准参数包括：正弦信号幅值补偿参数、正弦信号直流偏置补偿参数，按照以下公式根据所述目标正弦信号和所述正弦校准参数，确定校准正弦信号：
SINoff＝Asin(SINavr+SINdc)
其中，SINoff为所述校准正弦信号，SINavr为所述目标正弦信号，Asin为所述正弦信号幅值补偿参数，SINdc为所述正弦信号直流偏置补偿参数；
所述余弦校准参数包括：余弦信号幅值补偿参数、余弦信号直流偏置补偿参数，按照以下公式根据所述目标余弦信号和所述余弦校准参数，确定校准余弦信号：
COSoff＝Acos(COSavr+COSdc)
其中，CoSoff为所述校准余弦信号，COSavr为所述目标余弦信号，Acos为所述余弦信号幅值补偿参数，COSdc为所述余弦信号直流偏置补偿参数。
6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述多组初始正余弦信号进行预处理，得到目标正弦信号和目标余弦信号的步骤包括：
确定所述多组初始正余弦信号中将多个正弦信号中最大值以及最小值滤除后的正弦信号集；
对所述正弦信号集中的正弦信号求平均值，得到所述目标正弦信号；
确定所述多组初始正余弦信号中将多个余弦信号中最大值以及最小值滤除后的余弦信号集；
对所述余弦信号集中的余弦信号求平均值，得到所述目标余弦信号。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用模数转换模块采样得到的多组初始正余弦信号的步骤包括：
所述模数转换模块按照预设采样顺序进行采样，得到所述多组初始正余弦信号；其中，所述预设采样顺序包括以下方式中的任意一种：
按照正弦信号、余弦信号交替的采样顺序轮询采样，其中，所述轮询采样的次数大于或者等于第一预设次数；
按照正弦信号、余弦信号、余弦信号、正弦信号的采样顺序轮询采样，其中，所述轮询采样的次数大于或者等于第二预设次数，所述第一预设次数大于等于所述第二预设次数。
8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取被测电机的当前转速的步骤包括：
按照以下公式确定所述被测电机的当前转速：
1/Speed/T0＝C/M0
其中，T0为所述被测电机的转动时长，C为编码器转动一圈的总脉冲数，M0为T0时长内统计到的编码器脉冲数，被测电机的当前转速为Speed(单位rpm/min)。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述被测电机的当前转速和所述角度延迟误差，对所述初始误差补偿参数集进行校正，得到目标误差补偿参数集之后，还包括：
利用所述目标误差补偿参数集对所述初始误差补偿参数集进行更新；
将更新后的误差补偿参数集存储至预设位置。
10.一种终端设备，其特征在于，所述终端设备包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器里并可在所述处理器上运行的误差校正程序，所述误差校正程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-9任一项所述的误差校正方法的步骤。
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有误差校正程序，所述误差校正程序被处理器执行时实现如权利要求1-9任一项所述的误差校正方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211717499.9A CN116046044B (zh) | 2022-12-29 | 2022-12-29 | 误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211717499.9A CN116046044B (zh) | 2022-12-29 | 2022-12-29 | 误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116046044A CN116046044A (zh) | 2023-05-02 |
| CN116046044B true CN116046044B (zh) | 2024-02-23 |
Family
ID=86115844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202211717499.9A Active CN116046044B (zh) | 2022-12-29 | 2022-12-29 | 误差校正方法、终端设备及计算机可读存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116046044B (zh) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117200639B (zh) * | 2023-11-03 | 2024-01-26 | 苏州赛得尔智能科技有限公司 | 电机旋转变压器的解码补偿方法、系统、装置和介质 |
| CN117589044B (zh) * | 2024-01-19 | 2024-04-02 | 中海油田服务股份有限公司 | 剪切阀泥浆脉冲发生器的误差检测方法及装置 |
| CN117782187B (zh) * | 2024-02-23 | 2024-05-07 | 泉州昆泰芯微电子科技有限公司 | 一种编码器的非线性误差修正方法及编码器 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109579880A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-05 | 上海英威腾工业技术有限公司 | 带有自适应补偿功能的磁编码器 |
| CN109708681A (zh) * | 2019-02-19 | 2019-05-03 | 深圳市盛泰奇科技有限公司 | 编码器校准方法及装置 |
| CN109981013A (zh) * | 2017-12-27 | 2019-07-05 | 上海大郡动力控制技术有限公司 | 电机相电流采样延迟时间的辨识方法 |
| CN114518134A (zh) * | 2022-02-23 | 2022-05-20 | 重庆长安新能源汽车科技有限公司 | 一种旋转变压器测角误差的自校正方法和系统 |
| CN114844399A (zh) * | 2022-06-15 | 2022-08-02 | 杭州士腾科技有限公司 | 永磁同步电机的位置解析电路、方法及其控制电路和系统 |
| CN115388930A (zh) * | 2022-09-28 | 2022-11-25 | 长春汇通光电技术有限公司 | 正余弦信号的误差补偿方法及存储介质 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017173264A1 (en) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | Delta Tau Data Systems, Inc. | Method and apparatus for interpolating an encoder output signal |
-
2022
- 2022-12-29 CN CN202211717499.9A patent/CN116046044B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109981013A (zh) * | 2017-12-27 | 2019-07-05 | 上海大郡动力控制技术有限公司 | 电机相电流采样延迟时间的辨识方法 |
| CN109579880A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-04-05 | 上海英威腾工业技术有限公司 | 带有自适应补偿功能的磁编码器 |
| CN109708681A (zh) * | 2019-02-19 | 2019-05-03 | 深圳市盛泰奇科技有限公司 | 编码器校准方法及装置 |
| CN114518134A (zh) * | 2022-02-23 | 2022-05-20 | 重庆长安新能源汽车科技有限公司 | 一种旋转变压器测角误差的自校正方法和系统 |
| CN114844399A (zh) * | 2022-06-15 | 2022-08-02 | 杭州士腾科技有限公司 | 永磁同步电机的位置解析电路、方法及其控制电路和系统 |
| CN115388930A (zh) * | 2022-09-28 | 2022-11-25 | 长春汇通光电技术有限公司 | 正余弦信号的误差补偿方法及存储介质 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| Analysis and Compensation of Sampling-Delay Error in Single Current Sensor Method for PMSM Drives;Wenjie Wang等;IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS;20220531;全文 * |
| 王文杰.基于单支路采样的永磁同步电机相电流重构技术研究.《万方数据中国学位论文全文数据库》.2022,论文101页第1段,104页第1段. * |
Also Published As
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|---|---|
| CN116046044A (zh) | 2023-05-02 |
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| PB01 | Publication | ||
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