CN116029080A - 芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备。该方法包括：获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；根据存储装置参数模型生成存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于验证模型对芯片存储装置进行验证。避开了人工的重复性操作，且所依据的是一份芯片设计文档，避免了设计与验证过程信息不对等导致的验证无效的情况。

Description

芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备

技术领域

本申请实施例涉及芯片设计技术领域，尤其涉及一种芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备。

背景技术

目前，很多行业的产品设备都会设置芯片，从而完成一些智能化的工作，随着人们对于智能化的需求越来越高，芯片产品设备的结构中越来越重要。

一般，芯片设计过程中，需要进行设计和验证，其中，在设计过程中，设计人员需要人工对设计文档中的所有存储装置编写与总线进行交互的寄存器转换级(RegisterTransfer Level，RTL)代码，验证人员需要人工对设计文档中的所有存储装置设置相应的寄存器模型。

这两个过程中，会面对大量的存储装置，因此，这些工作都是具有重复性的人工工作，可能会带来较多不确定性的错误。而且在设计需求发生改变时，需要对设计文档进行修改，一方面，设计人员和验证人员都需要对RTL代码和寄存器模型进行相应的修改，这种方式会增加发生错误的可能性；另一方面，需要对设计人员和验证人员的设计文档进行同步更新，而设计人员和验证人员之间可能存在信息差，在有修改后，所依据的设计文档可能会是不同版本的，导致验证过程变为无用功，浪费资源。

发明内容

本申请实施例提供一种芯片存储装置设计及验证方法、装置及电子设备，以降低芯片存储装置设计及验证过程中的人工操作以及出错几率。

第一方面，本申请实施例提供了一种芯片存储装置设计及验证方法，所述方法包括：

获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对所述芯片存储装置进行验证。

第二方面，本申请实施例还提供了一种芯片存储装置设计及验证装置，该芯片存储装置设计及验证装置包括：

获取模块，用于获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

转换模块，用于根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

设计及验证模块，用于根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对所述芯片存储装置进行验证。

第三方面，本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本申请任一实施例提供的芯片存储装置设计及验证方法。

第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如本申请任一实施例提供的芯片存储装置设计及验证方法。

本申请实施例的技术方案通过对从芯片设计文档中预先提取的存储装置信息表进行转换，得到存储装置参数模型，然后基于该存储装置参数模型生成相应的设计代码和验证模型，从而实现对芯片存储装置的设计以及验证，该过程利用生成的存储装置参数模型，避开了人工的重复性操作，转由机器来自动进行，且所依据的是一份芯片设计文档，无论芯片设计文档如何改变，设计代码和验证模型生成所依据的均是同一份芯片设计文档，避免了设计与验证过程信息不对等导致的验证无效的情况。

附图说明

图1为本申请实施例一提供的芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图；

图2是本申请的实施例二提供的一种对存储装置信息表进行转换的流程示意图；

图3是本申请的实施例三提供的一种生成设计代码的流程示意图；

图4为本申请的实施例四提供的一种生成验证模型的流程示意图；

图5是本申请的实施例五提供的一种芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图；

图6为本申请实施例六提供的一种芯片存储装置设计及验证装置的结构示意图；

图7为本申请实施例七提供的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本申请实施例一提供的芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图，本实施例可适用于芯片存储装置设计及验证的场景。该方法可以由芯片存储装置设计及验证装置来执行，该装置可采用硬件和/或软件的方式实现,并一般可以集成在具有数据运算能力的计算机等电子设备中，具体包括如下步骤：

步骤101、获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息。

本步骤中，预先从芯片设计文档中提取存储装置信息表的过程可以由人工来实现，一般，设计文档中会针对一些功能模块进行设计，而功能模块中会存在大量的存储装置，即寄存器和存储器，设计文档中会标明各存储装置的参数信息，由于设计文档的文档格式在不同公司甚至是不同项目中，都会有所不同，设计文档中记录存储装置的参数信息的方式也会有所不同，因此，为了提高本实施例方案的普适性，可以先由人工从芯片设计文档中提取存储装置的参数信息，并按照一定的预设表格位置存储相应的参数信息，形成存储装置信息表。

在一个具体的例子中，存储装置信息表可以如下表1所示：

表1

其中，REGISTER作为每个寄存器的开始标志；对应的第一行中的第二列中的括号的为该寄存器的名字；第二行作为该寄存器的地址信息，第二列的冒号之后的数据为该寄存器在基地址的基础上的偏移量。第三行为对应的位域信息，其中第二列为对应每一个field域的位宽和地址信息；第三列为寄存器最小单元域的名字；第四列为读写属性的描述，必须要符合寄存器的读写的规则；第五列为对应的复位值；第六列为对应的该最小单元的描述。

另外，需要说明的是，从芯片设计文档到存储装置信息表的过程，不限于上述提到的人工方式，由于大部分芯片设计文档中存储装置的参数信息存储的比较具有规律性，本实施例还可以通过文本识别模型，按照存储装置信息表中的单元格定义，从芯片设计文档中识别相应的信息，并填入对应的单元格中。

其中，单元格定义指的是表格中的那个单元格需要填写哪些参数信息。

步骤102、根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型。

本步骤中，预设表格位置指的是在存储装置新信息表中的表格位置，比如第一行第一列，第一行第三列等等，预设表格位置与参数信息的映射关系则指的是单元格中存储的参数信息的对应关系。具体可以参考前述步骤中的表1。

另外，本步骤中的转换，主要是将参数信息进行提取，然后封装成特定的格式，以便于后续步骤的自动化进行。

需要说明的是，转换的具体过程可以再后续实施例中进行说明，此处不再赘述。

步骤103、根据存储装置参数模型生成存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于验证模型对芯片存储装置进行验证。

本步骤中，设计代码指的是存储装置与总线进行交互所依靠的代码，由于代码的格式是固定的，因此，本步骤中，仅需要将不同的存储装置的参数信息赋值到代码的相应位置即可。

另外，验证模型即常见的寄存器模型，是用来仿真硬件寄存器的软件模型，其格式也是相对固定的，同样是需要将不同的存储装置的参数信息赋值到模型代码的相应位置即可。

本实施例中，通过对从芯片设计文档中预先提取的存储装置信息表进行转换，得到存储装置参数模型，然后基于该存储装置参数模型生成相应的设计代码和验证模型，从而实现对芯片存储装置的设计以及验证，该过程利用生成的存储装置参数模型，避开了人工的重复性操作，转由机器来自动进行，且所依据的是一份芯片设计文档，无论芯片设计文档如何改变，设计代码和验证模型生成所依据的均是同一份芯片设计文档，避免了设计与验证过程信息不对等导致的验证无效的情况。

实施例二

请参阅图2，图2是本申请的实施例二提供的一种对存储装置信息表进行转换的流程示意图。

如图2所示，本实施例中，对存储装置信息表进行转换的过程可以包括：

步骤201、从存储装置信息表中遍历预设的开始标识。

本步骤中，开始标识指的是存储装置信息表中，标志的记录新的存储装置的参数信息的起始标志，如表1所示，开始标识即表1中的register，当然，register仅仅是本实施例提供的一种具体的示例，在具体实施时，可以对开始标识的具体形式进行自定义。

当然，开始标识在存储装置信息表中具有一定的独特性，即不能与其他定义名称产生冲突。

由于存储装置信息表中各存储装置的参数信息的记录是有先后顺序的，本步骤可以对存储装置信息表中的开始标识进行遍历，每遍历到一个开始标识，就可以执行一次后续的步骤，直至遍历完存储装置信息表中的所有开始标识。

步骤202、在遍历到任一开始标识的情况下，基于开始标识在存储信息表中的位置以及预设表格位置与参数信息的映射关系，确定开始标识对应的存储装置的各参数信息在存储装置信息表中的目标表格位置。

由于存储装置信息表格中会存储全部存储装置的参数信息，一般，一个存储装置的参数信息会按照预设表格位置来存储，即各参数信息所在单元格的位置是固定的。

因此，本步骤中可以以开始标识所在的位置为基准，获取各参数信息。仍以表1为例，第二行第二列对应存储单元在基地址的基础上的地址偏移量，那么以开始标识所在的位置为准，若开始标识在存储装置信息表中的第30行第25列，那么把其看做第一行第一列后，其他参数信息就可以在映射关系的基础上，在行上添加29，列添加24，那么本例中，地址偏移量在存储装置信息表中的位置即第(2+29＝31)行，第(2+24＝26)列。

基于上述方法，以及各参数信息与预设表格位置的映射关系，便可以得到各参数信息对应的目标表格位置。

步骤203、从目标表格位置读取开始标识对应的存储装置的参数信息。

由于前述步骤已经确定出各参数信息在存储装置信息表中的具体目标表格位置，本步骤中直接从相应的目标表格位置进行信息提取即可。

步骤204、当遍历完成所有的开始标识时，将各开始标识对应的存储装置的参数信息按照预设格式进行封装，得到存储装置参数模型。

本步骤中，预设格式可以是ralf文件需要的格式，由于后续过程会用到一些预设的工具，该工具的输入对文件的格式有一些要求，比如Synopsys ralgen工具，要求其输入为ralf文件所需的格式，因此，本步骤中粉状的预设格式应当与后续用到的工具要求一致。

需要说明的是，前述过程中，参数信息可以包括名称、偏移地址、位域名、位域读写属性、复位值等。

实施例三

请参阅图3，图3是本申请的实施例三提供的一种生成设计代码的流程示意图。

如图3所示，本实施例提供的生成设计代码的过程可以包括：

步骤301、根据存储装置参数模型分别生成存储装置读代码和存储装置写代码。

需要说明的是，由于代码的格式是固定的，因此，本实施例中，仅需要将不同的存储装置的参数信息赋值到代码的相应位置即可。

对于存储装置读代码的生成，可以先获取预设读代码模板，并从存储装置参数模型中提取各存储装置的读取参数；对于任一存储装置，将存储装置的读取参数赋值到预设读代码模板中，得到存储装置读代码。

具体的，以寄存器为例，读取参数可以包括寄存器名，偏移地址，位域名，位域读写属性，复位值，在一个具体的示例中，该寄存器的定义的偏移地址信息赋值为对应的FIRST_REGISSTER_ADDR偏移地址，域名组合在对应的中括号中。

对于存储装置写代码的生成，同样可以先获取预设写代码模板，并从存储装置参数模型中提取各存储装置的写入参数；对于任一存储装置，将存储装置的写入参数赋值到预设写代码模板中，得到存储装置写代码。

具体的，以寄存器为例，写入参数可以包括复位值、偏移地址等。

步骤302、将存储装置读代码和存储装置写代码封装为存储装置对应的设计代码。

本步骤中，将存储装置读代码和存储装置写代码封装在一起后，便可以得到相应的设计代码。

实施例四

请参阅图4，图4为本申请的实施例四提供的一种生成验证模型的流程示意图。

如图4所示，本实施例提供的对仪表图像进行校正的过程可以包括：

步骤401、获取预设验证模型模板，并从存储装置参数模型中提取各存储装置的仿真参数。

本步骤中，与前述提取读取参数和写入参数的过程相同，可以进行参考，此处不再赘述。

具体的，以寄存器为例，仿真参数可以包括对应块的名字，对应该寄存器的总的长度为4bytes。然后就是每一个寄存器的寄存器名字first_reg，对应的偏移地址。每一个位域的位数，读写属性，复位值的信息等。

步骤402、将仿真参数赋值到预设验证模型模板中，得到存储装置对应的验证模型。

本步骤中，类似于前述设计代码的生成过程，将获取的仿真参数赋值到相应的预设验证模型模板中即可。

为了便于前述操作过程的实施，本实施例可以将存储装置参数模型输入到预设工具中，并获取预设工具输出的验证模型，借助该预设工具来实现前述步骤。具体的，预设工具可以但不仅限于为ralgen工具或RegWorks Spec2Reg工具。

实施例五

请参阅图5，图5是本申请的实施例五提供的一种芯片存储装置设计及验证方法的流程示意图。

如图5所示，本实施例提供的芯片存储装置设计及验证方法可以使用Python来实现。具体的，本实施例提供的芯片存储装置设计及验证方法可以包括：

步骤501、输入设计文档，并转换为Excel表格。

需要说明的是，本步骤中转换的过程可以参考前述实施例一的步骤101，此处不再赘述。

为了便于理解，本实施例以实施例一中的表1为例进行后续的步骤说明。

步骤502、识别对应表格的sheet号，sheet号定义为对应的block对应的Ralf名字。

本步骤中，表格指的是前述提到的存储装置信息表，其中，sheet号为存储装置信息表中的页号，一般一个存储装置信息表文件中可能会存在多个页，每个页会分配一个sheet号。

需要说明的是，由于设计文档中会有多个功能模块对应的存储装置，每个功能模块的存储装置构成一个块(block)，相应的，每个块会对应输出一个存储装置参数模型，该模型的名字也可以为分配的sheet号。

步骤503、读取对应的sheet中每行的信息，定义对应的参数存取方式。

本步骤即前述实施例提到的遍历的过程，具体可以参考实施例二中的步骤201的具体内容，此处不再赘述。

另外，本步骤定义对应的参数存储方式指的是预先定义的预设表格位置与参数信息的映射关系。

步骤504、使用register作为关键字识别每个寄存器(register)的开始，并将括号中的名字作为寄存器的名字。

需要说明的是，此处的关键字识别的register，指的是开始标识。

步骤505、将识别的offset作为偏移地址。

步骤506、使用info作为下一行的位域的识别开始。

步骤507、识别第4例如的读写属性是否在范围内，将第2列作为位数，将第3列作为位域名，将第5列作为复位值。

本步骤中即是根据开始标识在存储信息表中的位置以及预设表格位置与参数信息的映射关系，读取相应的参数，具体可以参阅实施例二的步骤202中的内容。

步骤508、如果连续识别到对应的每行的信息为空的时候，代表对应的寄存器完成，开始下一个行的寄存器，并且直到收集完说是有的寄存器的名字、地址、域名和地址范围、复位值。

步骤509、生成Ralf文件中的RAL_model。

本步骤中，即生成前述实施例中的存储装置参数模型。

步骤510、RAL_model通过Python转换成对应的RTL代码(设计代码)，将产生的Ralf文件生成uvm寄存器模型(验证模型)。

实施例六

图6为本申请实施例六提供的一种芯片存储装置设计及验证装置的结构示意图。本申请实施例所提供的芯片存储装置设计及验证装置可执行本申请任意实施例所提供的芯片存储装置设计及验证方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，如图6所示，芯片存储装置设计及验证装置具体包括：获取模块601、转换模块602、设计及验证模块603。

其中，获取模块，用于获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

转换模块，用于根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

设计及验证模块，用于根据存储装置参数模型生成存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于验证模型对芯片存储装置进行验证。

本实施例中，通过对从芯片设计文档中预先提取的存储装置信息表进行转换，得到存储装置参数模型，然后基于该存储装置参数模型生成相应的设计代码和验证模型，从而实现对芯片存储装置的设计以及验证，该过程利用生成的存储装置参数模型，避开了人工的重复性操作，转由机器来自动进行，且所依据的是一份芯片设计文档，无论芯片设计文档如何改变，设计代码和验证模型生成所依据的均是同一份芯片设计文档，避免了设计与验证过程信息不对等导致的验证无效的情况。

进一步的，转换模块包括：

遍历单元，用于从存储装置信息表中遍历预设的开始标识；

确定单元，用于在遍历到任一开始标识的情况下，基于开始标识在存储信息表中的位置以及预设表格位置与参数信息的映射关系，确定开始标识对应的存储装置的各参数信息在存储装置信息表中的目标表格位置；

读取单元，用于从目标表格位置读取开始标识对应的存储装置的参数信息；

第一封装单元，用于当遍历完成所有的开始标识时，将各开始标识对应的存储装置的参数信息按照预设格式进行封装，得到存储装置参数模型。

进一步的，设计及验证模块包括：

代码生成单元，用于根据存储装置参数模型分别生成存储装置读代码和存储装置写代码；

第二封装单元，用于将存储装置读代码和存储装置写代码封装为存储装置对应的设计代码。

进一步的，代码生成单元包括：

第一获取子单元，用于获取预设读代码模板，并从存储装置参数模型中提取各存储装置的读取参数；

第一赋值子单元，用于对于任一存储装置，将存储装置的读取参数赋值到预设读代码模板中，得到存储装置读代码；

第二获取子单元，用于获取预设写代码模板，并从存储装置参数模型中提取各存储装置的写入参数；

第二赋值子单元，用于对于任一存储装置，将存储装置的写入参数赋值到预设写代码模板中，得到存储装置写代码。

进一步的，设计及验证模块包括：

模板获取单元，用于获取预设验证模型模板，并从存储装置参数模型中提取各存储装置的仿真参数；

赋值单元，用于将仿真参数赋值到预设验证模型模板中，得到存储装置对应的验证模型。

进一步的，设计及验证模块包括：

验证模型生成单元，用于将存储装置参数模型输入到预设工具中，并获取预设工具输出的验证模型。

进一步的，预设工具为ralgen工具或RegWorks Spec2Reg工具。

实施例七

图7为本申请实施例七提供的一种电子设备的结构示意图，如图7所示，该电子设备包括处理器710、存储器720、输入装置730和输出装置740；电子设备中处理器710的数量可以是一个或多个，图7中以一个处理器710为例；电子设备中的处理器710、存储器720、输入装置730和输出装置740可以通过总线或其他方式连接，图7中以通过总线连接为例。

存储器720作为一种计算机可读存储介质，可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本申请实施例中的芯片存储装置设计及验证方法对应的程序指令/模块(例如，芯片存储装置设计及验证装置中的获取模块601、转换模块602、设计及验证模块603)。处理器710通过运行存储在存储器720中的软件程序、指令以及模块，从而执行电子设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述的芯片存储装置设计及验证方法。

也即，获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

根据存储装置参数模型生成存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于验证模型对芯片存储装置进行验证。

存储器720可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外，存储器720可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储器720可进一步包括相对于处理器710远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至电子设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置730可用于接收输入的电力施工图纸，以及产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置740可包括显示屏等显示设备。

实施例八

本申请实施例八还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质，计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种芯片存储装置设计及验证方法，该方法包括：

获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

根据存储装置参数模型生成存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于验证模型对芯片存储装置进行验证。

当然,本申请实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上的方法操作,还可以执行本申请任意实施例所提供的芯片存储装置设计及验证方法中的相关操作。

通过以上关于实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，本申请可借助软件及必需的通用硬件来实现，当然也可以通过硬件实现，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如计算机的软盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(RandomAccess Memory,RAM)、闪存(FLASH)、硬盘或光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施例的方法。

值得注意的是，上述搜索装置的实施例中，所包括的各个单元和模块只是按照功能逻辑进行划分的，但并不局限于上述的划分，只要能够实现相应的功能即可；另外，各功能单元的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。

注意，上述仅为本申请的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本申请不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本申请的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本申请进行了较为详细的说明，但是本申请不仅仅限于以上实施例，在不脱离本申请构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本申请的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种芯片存储装置设计及验证方法，其特征在于，所述方法包括：

获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对所述芯片存储装置进行验证。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型，包括：

从所述存储装置信息表中遍历预设的开始标识；

在遍历到任一所述开始标识的情况下，基于所述开始标识在所述存储信息表中的位置以及预设表格位置与参数信息的映射关系，确定所述开始标识对应的存储装置的各参数信息在所述存储装置信息表中的目标表格位置；

从所述目标表格位置读取所述开始标识对应的存储装置的参数信息；

当遍历完成所有的开始标识时，将各开始标识对应的存储装置的参数信息按照预设格式进行封装，得到存储装置参数模型。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码，包括：

根据所述存储装置参数模型分别生成存储装置读代码和存储装置写代码；

将所述存储装置读代码和所述存储装置写代码封装为所述存储装置对应的设计代码。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述存储装置参数模型分别生成存储装置读代码和存储装置写代码，包括：

获取预设读代码模板，并从所述存储装置参数模型中提取各存储装置的读取参数；

对于任一存储装置，将所述存储装置的读取参数赋值到所述预设读代码模板中，得到所述存储装置读代码；

获取预设写代码模板，并从所述存储装置参数模型中提取各存储装置的写入参数；

对于任一存储装置，将所述存储装置的写入参数赋值到所述预设写代码模板中，得到所述存储装置写代码。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的验证模型，包括：

获取预设验证模型模板，并从所述存储装置参数模型中提取各存储装置的仿真参数；

将所述仿真参数赋值到所述预设验证模型模板中，得到所述存储装置对应的验证模型。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的验证模型，包括：

将所述存储装置参数模型输入到预设工具中，并获取所述预设工具输出的验证模型。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述预设工具为ralgen工具或RegWorksSpec2Reg工具。

8.一种芯片存储装置设计及验证装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取预先从芯片设计文档中提取的存储装置信息表,所述存储装置信息表包括按照预设表格位置存储的参数信息；

转换模块，用于根据预设表格位置与参数信息的映射关系，对所述存储装置信息表中各存储装置的参数信息进行转换，得到存储装置参数模型；

设计及验证模块，用于根据所述存储装置参数模型生成所述存储装置对应的设计代码和验证模型，并基于所述设计代码实现对芯片存储装置的设计，基于所述验证模型对所述芯片存储装置进行验证。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序，

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的芯片存储装置设计及验证方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的芯片存储装置设计及验证方法。

Images