CN116007603A - 一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法及装置，该方法包括：获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈；对待测光纤环圈进行测试，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限；根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有光纤环圈分类；根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈。本发明的技术方案，兼顾三轴光纤陀螺三个环圈全温性能和光纤环圈匹配率，实现三轴光纤陀螺批产中，既能高效匹配光纤环圈，降低库存，又能保证装配成型的三轴光纤陀螺三个轴的全温性能，提高三轴光纤陀螺的成活率以及光纤环圈利用率的技术效果。

Description

一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法及装置

技术领域

本发明涉及光学陀螺技术领域，尤其涉及一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法及装置。

背景技术

光纤环圈作为光纤陀螺中的敏感核心，其性能直接影响陀螺的精度。三轴光纤陀螺需要同时装配三个光纤环圈，三个光纤环圈的匹配度和性能直接决定了三轴光纤陀螺成活率。通常采用一块调制解调电路完成三个环圈的调制解调，本征频率是调制解调环圈的基础参数，电路的工作时钟与环圈的本征频率是严格对应的。为了减少串扰，获得更低的噪声水平，一个频率（平均值）解调三个环圈成为最优解调方案，该方案对三个环圈的性能与匹配程度有了更高的要求。

然而，同一型号不同批次的环圈长度差异明显，即使同一批次的环圈长度也有较大差异，本征频率与环圈长度有对应关系，程序运行频率与本征频率有直接的数学联系。就某型环圈而言，环圈本征频率差异高达300Hz。

若挑选三个全温性能最优光纤环圈，则三个环圈的本征频率差异无法控制，使用三个环圈本征频率的平均值来调制解调三个环圈，调制频率与本征频率的误差较大会导致光纤环圈全温性能变差。不仅没有得到满足性能需求的三轴光纤陀螺，而且还浪费了性能优秀的环圈。

若挑选三个本征频率一致的光纤环圈，匹配几率太低，导致大量环圈库存积压，无法装配，然而环长一致的环圈其全温性能又无法控制，导致装配成型的三轴光纤陀螺三个轴之间的环圈性能差异较大，很难装配成一套三个轴性能俱佳的陀螺。

发明内容

本发明实施例提供了一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法及装置，通过对至少两个待测试光纤环圈进行测试，确定该批次待测试光纤环圈的本证频率误差容限，进而根据全温零偏稳定性将所有光纤环圈分类，进而根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈，兼顾三轴光纤陀螺三个环圈全温性能和光纤环圈匹配率，实现三轴光纤陀螺批产中，既能高效匹配光纤环圈，降低库存，又能保证装配成型的三轴光纤陀螺三个轴的全温性能，提高三轴光纤陀螺的成活率以及光纤环圈利用率的技术效果。

根据本发明的一方面，提供了一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其中，包括：

获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈；

对所述待测光纤环圈进行测试，确定所述待测光纤环圈的本征频率误差容限；

根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有所述光纤环圈分类；

根据所述三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且所述本征频率误差容限有交集的三个所述光纤环圈。

可选的，所述获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈，包括：

确定同一生产批次的所有光纤环圈，随机抽取至少两个所述光纤环圈作为待测光纤环圈。

可选的，对所述待测光纤环圈进行测试，确定所述待测光纤环圈的本征频率误差容限，包括：

利用高低温试验，对每个所述待测光纤环圈进行测试。

可选的，所述高低温试验包括：

S1、确定光纤环圈定温极差性能指标，测得所述待测光纤环圈的本征频率常温值f0；

S2、以f0为基准，m为频率台阶，得到2N+1组本征频率参数：f0±n×m；

S3、利用2N+1组本征频率参数，生成2N+1组测试程序；

S4、将所述待测光纤环圈放置于隔振温箱内，测量不同温度的零偏数据；

S5、计算每一个所述测试程序对应的零偏定温极差最大值，确定满足定温极差性能指标所对应的频率范围，所述频率范围为所述待测光纤环圈的本征频率误差容限；

其中，5Hz≤m≤30Hz，n=0，1，2，……N，3≤N≤5且N为整数。

可选的，S4包括：

将所述隔振温箱设置20℃保温；

温度稳定后，依次利用所述测试程序测试20分钟并记录每组零偏数据；

将所述隔振温箱先后设置-40℃、60℃保温，重复上述测试步骤，并记录零偏数据。

可选的，若为获得更为精准的频率范围，可在S5的结果上细化频率台阶，重复S1~S5。

可选的，所述根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有所述光纤环圈分类，包括：

若所述全温零偏稳定性B<0.01°/h，则所述光纤环圈为第一类光纤环圈；

若所述全温零偏稳定性0.01°/h≤B<0.015°/h，则所述光纤环圈为第二类光纤环圈；

若所述全温零偏稳定性0.015°/h≤B<0.025°/h，则所述光纤环圈为第三类光纤环圈。

可选的，所述三轴光纤陀螺的三个光纤环圈均为同一类光纤环圈。

可选的，所述三轴光纤陀螺的三个光纤环圈包括至少两类光纤环圈。

根据本发明的另一方面，提供了一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配装置，其中，包括：

获取模块，用于获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈；

测试模块，用于对所述待测光纤环圈进行测试，确定所述待测光纤环圈的本征频率误差容限；

分类模块，用于根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有所述光纤环圈分类；

选配模块，用于根据所述三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且所述本征频率误差容限有交集的三个所述光纤环圈。。

本发明实施例提供的技术方案，通过对至少两个待测试光纤环圈进行测试，确定该批次待测试光纤环圈的本证频率误差容限，进而根据全温零偏稳定性将所有光纤环圈分类，进而根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈，兼顾三轴光纤陀螺三个环圈全温性能和光纤环圈匹配率，实现三轴光纤陀螺批产中，既能高效匹配光纤环圈，降低库存，又能保证装配成型的三轴光纤陀螺三个轴的全温性能，提高三轴光纤陀螺的成活率以及光纤环圈利用率的技术效果。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的第一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的第二种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图；

图3为本发明实施例提供的第三种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图；

图4为本发明实施例提供的一种高低温试验的方法流程图；

图5为本发明实施例提供的一种测量不同温度的零偏数据的方法流程图；

图6为本发明实施例提供的第四种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图；

图7为本发明实施例提供的一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

图1为本发明实施例提供的第一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图，如图1所示，该方法包括：

S110、获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈。

其中，待测光纤环圈可以为同一生产批次的光纤环圈，待测光纤环圈的个数根据实际需求进行设定，在此不做限定，例如4个。待测光纤环圈的获取方式可以为随机抽取。

具体而言，获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈，进一步通过测试待测光纤环圈的本征频率误差容限，以及全温性能，实现待测光纤环圈所属批次或型号的光纤环圈的匹配。

S120、对待测光纤环圈进行测试，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限。

其中，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限，可以为对待测光纤环圈进行高低温试验，进而根据不同温度的零偏数据以及定温性能指标确定本征频率误差容限。本征频率误差容限为光纤环圈在全温零偏性能测试中，满足定温极差指标所对应的频率范围。

具体而言，对待测光纤环圈进行测试，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限，进而可以为后续光纤环圈的分类提供本征频率匹配度参考数据。

S130、根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有光纤环圈分类。

其中，根据光纤环圈的全温零偏稳定性将所有光纤环圈分类可以为根据全温零偏稳定性的测得数值所属范围，将所有光纤环圈分为不同等级。

具体而言，根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有光纤环圈分类，进而在后续三轴光纤陀螺的三个光纤环圈选取过程中，实现提高三个全温性能匹配度的技术效果。

S140、根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈。

其中，三轴光纤陀螺各个轴的性能需求包括但不限于三个光纤环圈的全温性能以及本征频率。

具体而言，三轴光纤陀螺的三个光纤环圈的本征频率与全温性能的匹配度，决定着陀螺的成活率，通过选取对应分类的光纤环圈，进而满足全温性能需求，且三个光纤环圈本征频率容限有交集，从而可以利用同一调制解调电路完成三个光纤环圈且能保证解调精度，提高了光纤环圈的利用率，降低了库存，提高了三轴光纤陀螺的成活率，且在三轴光纤陀螺的三个光纤环圈的调制调解过程中节省工作量。

本发明实施例的技术方案，通过对至少两个待测试光纤环圈进行测试，确定该批次待测试光纤环圈的本证频率误差容限，进而根据全温零偏稳定性将所有光纤环圈分类，进而根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈，兼顾三轴光纤陀螺三个环圈全温性能和光纤环圈匹配率，实现三轴陀螺批产中，既能高效匹配光纤环圈，降低库存，又能保证装配成型的三轴光纤陀螺三个轴的全温性能，提高三轴光纤陀螺的成活率以及光纤环圈利用率的技术效果。

可选的，图2为本发明实施例提供的第二种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图，如图2所示，该方法包括：

S210、确定同一生产批次的所有光纤环圈，随机抽取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈。

具体而言，在实际生产中，同一型号不同批次的环圈长度差异明显，同一批次的环圈长度也有较大差异，本征频率与环圈长度有对应关系，随机抽取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈，可以确定该批次所有光纤环圈的本征频率误差容限。

S220、对待测光纤环圈进行测试，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限。

S230、根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有光纤环圈分类。

S240、根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈。

综上所述，本发明实施例的技术方案，通过将待测光纤环圈的抽取范围确定在同一批次，并通过随机抽取，可以进一步确定该批次的光纤环圈的本征频率误差容限，且在同一批次选取的待测光纤环圈的本征频率差异较小，便于后续三轴光纤陀螺的三个光纤环圈选取。

可选的，图3为本发明实施例提供的第三种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图，如图3所示，该方法包括：

S310、获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈。

S320、利用高低温试验，对每个待测光纤环圈进行测试。

其中，高低温试验可以为测试不同温度下光纤环圈的定温极差，进而确定光纤环圈的全温零偏性能。对每个待测光纤环圈进行测试包括但不限于通过高低温试验，确定光纤环圈的全温零偏性能以及本征频率误差容限。

具体而言，利用高低温试验，对每个待测光纤环圈进行测试，确定光纤环圈的全温零偏性能以及本征频率误差容限。

S330、根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有光纤环圈分类。

S340、根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈。

可选的，在上述实施例的基础上，本发明实施例的技术方案对步骤S320进行进一步细化，图4为本发明实施例提供的一种高低温试验的方法流程图，如图4所示，上述实施例中步骤S320提供的高低温试验包括以下步骤：

S1、确定光纤环圈定温极差性能指标，测得待测光纤环圈的本征频率常温值f0。

其中，光纤环圈定温极差性能指标可以根据实际产品需求进行设定，在此不做限定。在常温下，将光纤环圈连接到测试装置，可以测得本征频率常温值f0。具体测试装置可以为未设置光纤环圈的光纤陀螺，将待测光纤环圈连接到光纤陀螺上，并将光纤环圈放置在隔振温箱子，然后进行本征频率及全温数据的测试。

具体而言，确定光纤环圈定温极差性能指标为后续确定光纤环圈的本证误差容限提供参照标准，测得待测光纤环圈的本征频率常温值f0为后续高低温试验输入测试程序提供参照标准。

S2、以f0为基准，m为频率台阶，得到2N+1组本征频率参数：f0±n×m。

其中，5Hz≤m≤30Hz，n=0，1，2，……N，3≤N≤5且N为整数。m和N的具体数值根据实际测试需求进行设定，在此不做限定。例如根据待测试光纤环圈的长度，以及本证误差容限的精确度需求进行设定，典型的，待测光纤环圈的长度为800m时，m可以为10hz。

具体而言，以f0为基准，通过预设的本征频率参数：f0±n×m，计算得到2N+1组本征频率参数，进而在后续高低温试验中，通过将测试2N+1组本征频率参数的测试程序，提高测试效率。例如n=4时，预设的本征频率参数包括九组频率：f0+4m，f0+3m，f0+2m，f0+m，f0，f0-m，f0-2m，f0-3m，f0-4m。

S3、利用2N+1组本征频率参数，生成2N+1组测试程序。

其中，测试程序可以为FPGA程序执行文件。

具体而言，利用2N+1组本征频率参数，生成2N+1组测试程序，后续进行高低温试验，可以通过本征频率参数，以及测试得到的定温极差，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限。

S4、将待测光纤环圈放置于隔振温箱内，测量不同温度的零偏数据。

其中，不同温度可以为20℃、-40℃以及60℃，零偏数据为2N+1组本征频率参数对应2N+1组测试程序，测试下的不同温度的零偏数据。

具体而言，将待测光纤环圈放置于隔振温箱内，待隔振温箱内温度稳定时，通过在一定温度下，烧写2N+1组测试程序，进而得到2N+1组零偏数据。进一步的改变隔振温箱内温度值，得到不同温度的零偏数据。

S5、计算每一个测试程序对应的零偏定温极差最大值，确定满足定温极差性能指标所对应的频率范围，频率范围为待测光纤环圈的本征频率误差容限。

其中，零偏定温极差最大值的计算方法为，通过计算每一个测试程序不同温度下的零偏值的差值，进一步取差值的极大值，得到每一个测试程序对应的零偏定温极差最大值。

具体而言，计算每一个测试程序对应的零偏定温极差最大值，确定满足定温极差性能指标所对应的频率范围，频率范围为待测光纤环圈的本征频率误差容限，进而为后续三轴光纤陀螺的三个光纤环圈的选取提供本征频率匹配度参数。

可选的，若为获得更为精准的频率范围，可在S5的结果上细化频率台阶，重复S1~S5。

可选的，在上述实施例的基础上，本发明实施例的技术方案对步骤S4进行进一步细化，图5为本发明实施例提供的一种测量不同温度的零偏数据的方法流程图，如图5所示，步骤S4包括：

S41、将隔振温箱设置20℃保温。

具体而言，光纤环圈的高低温试验测试温度为将隔振温箱设置为-40℃~60℃，将隔振温箱设置20℃保温，进行20℃测试温度下，不同本征频率参数对应测试程序的测试。

S42、温度稳定后，依次利用测试程序测试20分钟并记录每组零偏数据。

具体而言，依次利用测试程序测试20分钟并记录每组零偏数据，进而为后续计算每组本征频率参数下的定温极差提供参数。

S43、将隔振温箱先后设置-40℃、60℃保温，重复上述测试步骤，并记录零偏数据。

具体而言，光纤环圈的高低温试验测试温度为将隔振温箱设置为-40℃~60℃，通过分别测试不同温度下的零偏值，计算每组测试程序的定温极差，进而可以根据光纤环圈定温极差性能指标，确定光纤环圈的本证误差容限。

综上所述，本发明实施例的技术方案，通过测试不同本征频率参数在不同温度下的零偏值，进一步确定本征频率参数的定温极差，进而根据光纤环圈定温极差性能指标，确定光纤环圈的本征频率误差容限，进而为后续三轴光纤陀螺的三个光纤环圈的选取提供本征频率匹配度参数，以及全温零偏性能参数。

可以理解的是，通过细化频率台阶，可以进一步提高本征频率测试参数的测试精度，进而根据光纤环圈定温极差性能指标，确定的光纤环圈的本证误差容限具有更精准的范围。

本发明实施例提供的光纤环圈的本征频率误差容限测量方法也可以用来实现光纤陀螺的定温极差快速调试，即只通过一次高低温试验即可完成光纤陀螺定温极差性能的矫正，大大提高生产效率，降低对技术人员的技术要求。传统的光纤陀螺定温极差过大时，依据工程经验，将本征频率参数调高或调低一定量，进行一次高低温试验，针对调试效果，继续调整本征频率调试量，直至最终满足性能需求。通过多次高低温试验，也难以取得满意的效果，而且对技术人员的工程经验要求较高。若采取本实施例提供的本征频率误差容限测量方法，在一次高低温试验中烧写2N+1种光纤陀螺本征频率参数，相当于一次高低温试验完成了之前2N+1次的效果，大大提高生产效率，降低对技术人员的技术要求，便于工程化实现。

可选的，在上述实施例的基础上，本发明实施例还提供一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，图6为本发明实施例提供的第四种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的流程图，如图6所示，该方法包括：

S410、获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈。

S420、对待测光纤环圈进行测试，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限。

S431、若全温零偏稳定性B<0.01°/h，则光纤环圈为第一类光纤环圈。

S432、若全温零偏稳定性0.01°/h≤B<0.015°/h，则光纤环圈为第二类光纤环圈。

S433、若全温零偏稳定性0.015°/h≤B<0.025°/h，则光纤环圈为第三类光纤环圈。

具体而言，根据全温零偏性能将光纤环圈分为全温零偏稳定性匹配度较高，本征频率误差容限存在差异的不同类别的光纤环圈。

S440、根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈。

可选的，三轴光纤陀螺的三个光纤环圈均为同一类光纤环圈。

例如在某些实施例中，对三轴光纤陀螺三个轴的具有相同或相近的精度要求，此时可以选三个环圈为同一类光纤环圈，以保证三轴光纤陀螺的性能。

在另一实施例中，可能对三轴光纤陀螺三个轴的精度要求不同，可选的，三轴光纤陀螺的三个光纤环圈包括至少两类光纤环圈，以满足不同场景的需求。

基于同一构思，本发明实施例的技术方案还提供一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配装置，图7为本发明实施例提供的一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配装置的结构示意图，如图7所示，该装置包括：

获取模块10，用于获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈。

测试模块20，用于对待测光纤环圈进行测试，确定待测光纤环圈的本征频率误差容限。

分类模块30，用于根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有光纤环圈分类。

选配模块40，用于根据三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且本征频率误差容限有交集的三个光纤环圈。

本发明实施例提供的三轴光纤陀螺光纤环圈选配装置，具有执行上述实施例提供的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法的功能模块，具有相同或相应的技术效果，此处不再详述。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，包括：

获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈；

对所述待测光纤环圈进行测试，确定所述待测光纤环圈的本征频率误差容限；

根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有所述光纤环圈分类；

根据所述三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且所述本征频率误差容限有交集的三个所述光纤环圈。

2.根据权利要求1所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，所述获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈，包括：

确定同一生产批次的所有光纤环圈，随机抽取至少两个所述光纤环圈作为待测光纤环圈。

3.根据权利要求1所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，对所述待测光纤环圈进行测试，确定所述待测光纤环圈的本征频率误差容限，包括：

利用高低温试验，对每个所述待测光纤环圈进行测试。

4.根据权利要求3所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，所述高低温试验包括：

S1、确定光纤环圈定温极差性能指标，测得所述待测光纤环圈的本征频率常温值f0；

S2、以f0为基准，m为频率台阶，得到2N+1组本征频率参数：f0±n×m；

S3、利用2N+1组本征频率参数，生成2N+1组测试程序；

S4、将所述待测光纤环圈放置于隔振温箱内，测量不同温度的零偏数据；

S5、计算每一个所述测试程序对应的零偏定温极差最大值，确定满足定温极差性能指标所对应的频率范围，所述频率范围为所述待测光纤环圈的本征频率误差容限；

其中，5Hz≤m≤30Hz，n=0，1，2，……N，3≤N≤5且N为整数。

5.根据权利要求4所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，S4包括：

将所述隔振温箱设置20℃保温；

温度稳定后，依次利用所述测试程序测试20分钟并记录每组零偏数据；

将所述隔振温箱先后设置-40℃、60℃保温，重复上述测试步骤，并记录零偏数据。

6.根据权利要求4所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，

若为获得更为精准的频率范围，可在S5的结果上细化频率台阶，重复S1~S5。

7.根据权利要求1所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，所述根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有所述光纤环圈分类，包括：

若所述全温零偏稳定性B<0.01°/h，则所述光纤环圈为第一类光纤环圈；

若所述全温零偏稳定性0.01°/h≤B<0.015°/h，则所述光纤环圈为第二类光纤环圈；

若所述全温零偏稳定性0.015°/h≤B<0.025°/h，则所述光纤环圈为第三类光纤环圈。

8.根据权利要求7所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，所述三轴光纤陀螺的三个光纤环圈均为同一类光纤环圈。

9.根据权利要求7所述的三轴光纤陀螺光纤环圈选配方法，其特征在于，所述三轴光纤陀螺的三个光纤环圈包括至少两类光纤环圈。

10.一种三轴光纤陀螺光纤环圈选配装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取至少两个光纤环圈作为待测光纤环圈；

测试模块，用于对所述待测光纤环圈进行测试，确定所述待测光纤环圈的本征频率误差容限；

分类模块，用于根据光纤环圈的全温零偏稳定性，将所有所述光纤环圈分类；

选配模块，用于根据所述三轴光纤陀螺各个轴的性能需求，选取在对应分类且所述本征频率误差容限有交集的三个所述光纤环圈。

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