CN115997312A - 用于电极的歪斜校正装置以及用于电极的歪斜校正方法 - Google Patents

用于电极的歪斜校正装置以及用于电极的歪斜校正方法 Download PDF

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Abstract

本技术提供了一种在电极传送时的歪斜校正装置以及校正电极歪斜的方法,该歪斜校正装置使用在电极卷绕在卷芯上之前通过边缘位置控制(EPC)单元反馈控制电极的边缘位置时随时间变化的电极的确定边缘位置传感器(EPS)边缘位置值数据校正电极的输入倾斜度来改善电极输入时的不稳定性。

Description

用于电极的歪斜校正装置以及用于电极的歪斜校正方法
技术领域
本发明涉及一种在传送电极时的歪斜校正装置以及校正歪斜的方法。更具体地,本发明涉及一种在将电极传送到卷芯以卷绕在卷芯上而形成果冻卷电极组件时的歪斜校正装置以及校正歪斜的方法。
本申请要求基于2021年2月26日提交的韩国专利申请第10-2021-0026290号的优先权的权益,通过引用将该韩国专利申请的全部内容并入本文。
背景技术
随着技术发展以及对移动装置、汽车和储能装置的需求的增加,对作为能源的电池的需求急剧增加,已对这些二次电池之中的具有高能量密度和高放电电压的锂二次电池进行了诸多研究,并且锂二次电池已得到商业化和广泛使用。
具体地,锂二次电池具有3.6V或更高的工作电压,其是被广泛用作便携式电子装置的电源的镍-镉电池或镍-氢电池的工作电压的三倍,因而就每单位重量的能量密度高来说锂二次电池迅速扩张。
电极组件具有正极、负极以及插置在正极与负极之间的隔膜的结构,通常,二次电池根据电极组件的结构可分为:在长片型正极和负极之间插置有隔膜的情况下进行卷绕的结构的果冻卷(卷绕型)电极组件;以预定尺寸为单位切割的多个正极和负极在之间插置有隔膜的状态下顺序堆叠的堆叠型(层压型)电极组件;堆叠折叠电极组件,堆叠折叠电极组件具有其中预定单元的正极和负极进行堆叠的单元电池,诸如双电池(Bi-cell)或全电池(Full cell)在之间插置有隔膜的状态下进行卷绕的结构;等等。
在这些电极组件之中,果冻卷电极组件具有容易制造并且每单位重量的能量密度高的优点。具体地,具有高能量密度的果冻卷型电极组件可内置于圆柱形金属罐中,以形成圆柱形二次电池,该圆柱形电池广泛应用于需要高容量二次电池的领域,诸如电动车辆。
为了形成果冻卷电极组件,通过输入夹具输入电极,朝向卷芯传送电极并且将电极卷绕在卷芯上以形成果冻卷电极组件。具体地,还与诸如正极和负极之类的电极一起传送隔膜并且一起卷绕在卷芯上,以形成果冻卷电极组件。
理想的是,电极从输入开始一直到到达卷芯都正确地行进,从而在被传送到卷芯时与设定的边缘基准值一致。然而,实际上,不可避免地发生其中在电极被传送时行进到设定的边缘基准值之外的歪斜过程。
图1是图解利用最终边缘位置控制(EPC)单元的常规的电极歪斜校正装置和校正方法的示意图。
如图1中所示,通过输入夹具10输入的电极1朝向卷芯60行进,并且通过最终辊50与隔膜一起卷绕在卷芯60上,以形成果冻卷电极组件。在利用卷芯60卷绕时,电极的输入侧端部被切割器20切割,并且切割的端部也卷绕在卷芯60上以形成果冻卷电极组件。
常规的电极歪斜校正装置通过在最终辊前方设置最终EPC(Edge PositionControl)单元30来校正电极的歪斜。
就是说,最终EPC单元30利用安装在卷芯60之前的预定位置(Q:例如,在卷芯之前大约100mm的位置)处的确定边缘位置传感器(EPS,Edge Position Sensor)32测量电极1的边缘位置。该电极1的边缘位置被表示为确定EPS边缘位置值。确定EPS 32可以是以非接触方式测量电极边缘位置的传感器,诸如光发射和接收传感器等。当确定EPS边缘位置值不同于设定的确定EPS边缘基准值A时,控制器40通过设置在最终EPC单元中的EPC辊31在宽度方向上移动电极来执行反馈控制,从而使电极的边缘位置与确定EPS边缘基准值A一致。在该情况下,确定EPS边缘基准值A不为0,是根据电极的卷对卷工序条件等在确定EPS中确定的设定值。因此,当工序条件变化时,基准值也可变化。例如,确定EPS边缘基准值可以是0.8mm。
EPC辊31例如可以是位于电极的上下方向的夹持辊。可在确定EPS 32之前的预定位置(P:例如,在卷芯之前大约125mm的位置)处通过EPC辊31执行电极位置校正。
然而,即使通过最终EPC单元30校正电极的歪斜行进,也确认到在电极的行进期间实际上仍出现大量的歪斜缺陷。具体地,负极的歪斜缺陷率高。这是因为,即使通过最终EPC单元30校正了歪斜,在输入电极时也会意外地发生歪斜缺陷。
图2是图解当通过最终EPC单元校正歪斜时输入不稳定性的影响的示意图。
就是说,如图2中所示,由于在输入电极时输入夹具10倾斜,所以输入的电极也倾斜,结果,由确定EPS 32测量的电极的位置也歪斜并被测量。输入夹具10是用于将电极输入到卷芯的夹具,例如包括配置为夹持辊的输入夹具辊。在图2中,参考标号1a表示由于输入夹具10的倾斜(具体地,输入夹具辊的倾斜)而偏置并歪斜的电极。
当发生这种意外的歪斜缺陷时,电极组件无法按设计值卷绕,因而会不利地影响成品电池性能。确定发生这种意外的歪斜缺陷例如是因为通过输入夹具10输入的电极不稳定。就是说,当电极1在一开始输入时就被输入在发生歪斜的方向上时,即使在随后通过如图1中所示的最终EPC单元30校正歪斜,但由于如上所述歪斜校正效果有限,所以歪斜缺陷率增加。
因此,希望开发一种能够通过改善电极输入时的不稳定性来防止出现意外的歪斜缺陷的技术。
[现有技术文献]
[专利文献]
韩国专利公开第10-1113424号
发明内容
技术问题
本发明旨在提供一种在传送电极时的歪斜校正装置,其中使用在电极卷绕在卷芯上之前通过边缘位置控制(EPC)单元反馈控制时随时间变化的电极的确定边缘位置传感器(EPS)边缘位置值数据来改善电极输入时的不稳定性。
此外,本发明旨在提供一种校正电极的歪斜的方法,其中通过将确定EPS边缘位置值数据与确定EPS边缘基准值进行比较的反馈控制来控制输入夹具的输入倾斜度。
技术方案
根据本发明的电极歪斜校正装置是在传送要被卷绕在卷芯上以形成果冻卷电极组件的电极时的歪斜校正装置,所述电极歪斜校正装置包括:输入夹具的输入倾斜度调整机构,所述输入夹具配置为将所述电极输入到所述卷芯;边缘位置控制单元(EPC),所述EPC单元设置有确定边缘位置传感器(EPS)和EPC辊,所述确定EPS设置在所述卷芯之前,以测量所述电极的边缘位置作为确定EPS边缘位置值,所述EPC辊配置为调整所述电极的边缘位置以与确定EPS边缘基准值一致;以及控制器,所述控制器配置为控制所述EPC单元和所述输入倾斜度调整机构,其中所述控制器反馈控制所述电极的边缘位置,使得所述确定EPS边缘位置值与所述确定EPS边缘基准值一致;获得当通过所述反馈控制,所述确定EPS边缘位置值随时间变化而收敛到所述确定EPS边缘基准值时的确定EPS边缘位置值数据;从所述确定EPS边缘位置值数据之中选择受到所述输入夹具的输入倾斜度的影响而变化的数据值,并且通过将这些数据值与所述确定EPS边缘基准值进行比较来反馈控制所述输入倾斜度调整机构以校正所述输入倾斜度。
具体地,所述EPC辊可设置在所述确定EPS的安装位置前方的预定间隔的位置处。
作为一个实施方式,所述控制器可计算所述确定EPS边缘位置值数据之中的初始数据值的平均值与所述确定EPS边缘基准值之间的差值,将所述差值定义为逻辑值;输入电极预定次数时可将每个电极的逻辑值平均以获得平均逻辑值;并且可响应于所述平均逻辑值的大小,针对每预定次数的电极输入来校正所述输入倾斜度。
作为一个具体示例,在所述电极歪斜校正装置中,可根据所述平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期;并且可针对每个校正周期将所述输入倾斜度校正预定的校正值。
作为另一个实施方式,在所述电极歪斜校正装置中,可将通过所述差值乘以预定的校正系数而获得的值定义为逻辑值,所述校正系数反映由于非预期变量引起的所述确定EPS的测量误差。
具体地,所述校正系数可根据所述平均逻辑值的大小不同地确定。
作为本发明的另一个方面,一种在传送要被卷绕在卷芯上以形成果冻卷电极组件的电极时校正电极歪斜的方法,包括:当通过输入夹具输入的电极到达设置在所述卷芯之前的EPC单元的确定EPS时,通过所述确定EPS测量所述电极的边缘位置,以测量确定EPS边缘位置值;通过所述EPC单元反馈控制所述电极的边缘位置,以使得所述确定EPS边缘位置值与预定的确定EPS边缘基准值一致;获得当通过所述EPC单元的反馈控制,所述确定EPS边缘位置值随时间变化而收敛到所述确定EPS边缘基准值时的确定EPS边缘位置值数据;以及从所述确定EPS边缘位置值数据之中选择受到所述输入夹具的输入倾斜度的影响而变化的数据值,并且通过将这些数据值与所述确定EPS边缘基准值进行比较的反馈控制来校正输入倾斜度。
作为校正电极歪斜的具体方法,可通过以规则时间间隔测量预定次数直到收敛到所述确定EPS边缘基准值来获得随时间变化的所述确定EPS边缘位置值数据;并且受到所述输入倾斜度的影响而变化的数据值可以是所述确定EPS边缘位置值数据之中的初始数据值。
在校正电极歪斜的方法中,在与所述确定EPS边缘基准值进行比较的反馈控制过程中,可计算所述确定EPS边缘位置值数据之中的所述初始数据值的平均值与所述确定EPS边缘基准值之间的差值,将所述差值定义为逻辑值,并且可响应于所述逻辑值的大小来校正所述输入倾斜度。
作为一个示例,在校正电极歪斜的方法中,输入所述电极预定次数时可将每个电极的逻辑值平均以获得平均逻辑值;并且可响应于所述平均逻辑值的大小,针对每预定次数的电极输入来校正所述输入倾斜度。
具体地,可根据所述平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期来校正所述输入倾斜度。
作为一个具体示例,所述初始数据值可以是通过所述确定EPS测量一至五次的数据值。
作为一个示例,可针对每个校正周期将所述输入倾斜度校正预定的校正值。
具体地,当所述平均逻辑值的符号为正(+)时,可从所述输入倾斜度减去预定的校正值,当所述平均逻辑值的符号为负(-)时,可给所述输入倾斜度加上预定的校正值。
作为另一个示例,在本发明的校正电极歪斜的方法中,可将通过所述差值乘以预定的校正系数而获得的值定义为逻辑值,所述校正系数反映由于非预期变量引起的所述确定EPS的测量误差;并且可响应于所述逻辑值的大小来校正所述输入倾斜度。
具体地,所述校正系数可根据所述平均逻辑值的大小不同地确定。
有益效果
根据本发明,通过将电极稳定地输入到卷芯,可改善输入电极时由于过冲或噪声而导致的歪斜缺陷。
因此,由于输入电极时的边缘位置传感器(EPS)数据可被稳定并且可减小初始EPS数据的偏差,所以优点在于,可通过改善由于电极输入不稳定性而导致的歪斜缺陷和歪斜偏差来使电极组件的质量稳定。
附图说明
图1是图解利用最终边缘位置控制(EPC)单元的常规的电极歪斜校正装置和校正方法的示意图。
图2是图解当通过最终EPC单元校正歪斜时输入不稳定性的影响的示意图。
图3是图解当通过最终EPC单元反馈控制电极的边缘位置时,随时间变化的确定边缘位置传感器(EPS)边缘位置值的数据的曲线图。
图4是图解根据本发明的电极歪斜校正装置的示意图。
图5是图解根据本发明的校正电极歪斜的方法的顺序的流程图。
图6是图解根据本发明一个实施方式的用于校正输入倾斜度的反馈控制的顺序的流程图。
图7是图解根据本发明另一个实施方式的用于校正输入倾斜度的反馈控制的顺序的流程图。
图8是图解与逻辑值计算过程相关的根据本发明的图7的反馈控制过程的示意图。
图9是图解当通过本发明的校正歪斜的方法将输入倾斜度校正预定的校正值时,确定EPS边缘位置值随时间变稳定的状态的曲线图。
图10是与通过本发明的校正歪斜的方法完成反馈控制之后的确定EPS边缘位置值相关的曲线图。
图11是图解在通过本发明的校正歪斜的方法进行反馈控制的情况下,初始的确定EPS边缘位置值的偏差的曲线图。
具体实施方式
下文中,将参照附图详细描述本发明。在本说明书和权利要求书中使用的术语和词语不应被解释为限于普通术语或词典术语,并且而是应当基于发明人可适当地定义术语的概念以便最佳地描述其发明的原则,以与本发明的技术范围一致的含义和概念进行解释。
在本申请中,应当理解,诸如“包括”或“具有”之类的术语旨在表示在本申请中存在所描述的特征、数量、步骤、操作、部件、零件和/或它们的组合,但它们不排除存在或添加一个或多个其他特征、数量、步骤、操作、部件、零件和/或它们的组合的可能性。此外,当诸如层、膜、区域、板等的一部分被称为在另一部分“上”时,这不仅包括该部分“直接在”另一部分“上”的情况,还包括在它们之间隔着额外的另一部分的情况。另一方面,当诸如层、膜、区域、板等的一部分被称为在另一部分“下”时,这不仅包括该部分“直接在”另一部分“下”的情况,还包括在它们之间隔着额外的另一部分的情况。此外,本申请中的设置“在……上”可包括设置在下部以及设置在上部的情况。
下文中,将详细描述本发明。
图3是图解当通过最终边缘位置控制(EPC)单元反馈控制电极的边缘位置时,随时间变化的确定边缘位置传感器(EPS)边缘位置值的数据的曲线图。
在图1中,已经描述了这样的情况,即,在最终EPC单元30的确定EPS32中测量电极1的边缘位置,并且通过使用最终EPC单元30的EPC辊31调整电极的边缘位置来校正歪斜,使得电极的边缘位置与确定EPS边缘基准值一致。然而,即使通过最终EPC单元30校正歪斜,电极的边缘位置也不会直接到达确定EPS边缘基准值A,而是继续行进到确定EPS 32,因而在EPS位置处连续测量的电极的边缘位置值(下文中,称为“确定EPS边缘位置值”)如图3中所示随时间变化而逐渐收敛到确定EPS边缘基准值。
图3图解了其中直到收敛到确定EPS边缘基准值A为止,通过确定EPS 32中的测量边缘位置的预定程序(程序名‘BOIS’)测量总共50次EPS数据作为测量的EPS数据的情况。由于BOIS程序仅传输EPS数据的偶数次数据,所以如图3中所示,在程序上,直到收敛到确定EPS边缘基准值A为止测量了总共25次确定EPS边缘位置值。此外,图3的X轴表示直到确定EPS边缘位置值收敛到确定EPS边缘基准值A为止测量的次数或者以规则时间间隔测量的测量序号,Y轴表示在每个测量序号处由确定EPS测量的作为电极位置的确定EPS边缘位置值。
如图3中所示,确定EPS边缘位置值在测量序号1至3中明显波动(减小),然后表现出轻微的波动流并且逐渐收敛到确定EPS边缘基准值A(例如,0.80mm)。如图2中所示,确定EPS边缘位置值数据之中的初始数据值由于输入电极时的过冲(overshooting)而大幅波动。就是说,当输入电极时,由于输入夹具10的输入夹具辊倾斜并且因此电极的输入倾斜度被不正确地设定,或者电极1在输入过程中左右摆动并且由于意外的输入而发生歪斜,所以即使通过最终EPC单元30校正时,在EPS位置处测量的确定EPS边缘位置值的初始数据也发生很大变化,如图3中所示。因此,当将电极1输入到卷芯60而使初始数据值不显著波动时,可减少如上所述的由于过冲或意外的输入不稳定性而引起的歪斜缺陷。基于这一点,发明人从确定EPS位置值数据选择受到与电极输入相关的输入倾斜度的影响而波动的数据值,并且通过将这些数据值与确定EPS边缘基准值A进行比较的反馈控制校正输入夹具10的倾斜度来改善歪斜缺陷。
图4是图解根据本发明的电极歪斜校正装置100的示意图。
在本发明中,与图1中的常规的歪斜校正装置相同的部件由相同的参考标记表示。
本发明基于最终EPC单元30的反馈控制,因此包括如相关技术中的EPC单元30。就是说,本发明的歪斜校正装置100包括EPC单元30,EPC单元30设置有确定EPS 32和EPC辊31,确定EPS 32设置在卷芯60之前并且确定电极1的边缘位置而将该边缘位置记录为确定EPS边缘位置值,EPC辊31调整电极的边缘位置,以使得电极的边缘位置与确定EPS边缘基准值A一致。
除了EPC单元30之外,本发明还包括调整输入夹具10的输入倾斜度的输入倾斜度调整机构70。输入倾斜度调整机构70例如可通过在左右方向上调整设置在输入夹具10中的输入夹具辊或辊轴的倾斜度来调整输入夹具的输入倾斜度,即,被输入到输入夹具的电极的输入倾斜度。辊轴的一端或两端例如可连接至线性移动的另一轴并且与该另一轴的线性移动关联以使得辊轴倾斜。所述线性移动的轴可连接至诸如电机等之类的预定驱动单元以线性移动。就是说,可通过连接转换机构(例如,滚珠丝杠和滚珠螺母)和线性移动轴并且通过电机的驱动使线性移动轴移动来调整辊轴的倾斜度,转换机构通过驱动电机等将旋转运动转换为线性运动。或者,采用其中活塞可通过气体压力而从缸体线性移动的气压缸来连接活塞和辊轴,因此可通过活塞的线性移动来调整辊轴的倾斜度。由于这种线性移动机构在机械领域中是公知的,所以将省略其详细描述。重要的是,只要能够通过移动输入夹具辊或辊轴来调整输入夹具10的倾斜度,倾斜度调整机构的机械或电子构造就不需要被特别限制。
本发明包括控制EPC单元30和输入夹具的输入倾斜度调整机构70的控制器40。控制器40从EPC单元30的EPS 32获取确定EPS边缘位置值,并且反馈控制电极1的边缘位置,以使得确定EPS边缘位置值与确定EPS边缘基准值A一致。此外,反馈控制输入倾斜度调整机构70,使得通过将反馈过程获得的确定EPS边缘位置值中的随时间变化的值与确定EPS边缘基准值A进行比较来校正输入倾斜度。
EPC辊31可安装在确定EPS 32的安装位置(Q:例如,距卷芯100mm)前方的预定间隔的位置(P:例如,距卷芯125mm)处。当在EPS 32中测量的电极1的位置不同于确定EPS边缘基准值A时,控制器40使EPC辊31在确定EPS 32前方的预定间隔处调整电极1的位置。因此,当一个电极连续移动至确定EPS 32时,可随后在确定EPS 32中测量该被调整的电极1的位置。
本发明的歪斜校正装置100包括输入倾斜度调整机构70和控制器40,控制器40可通过控制EPC单元30的反馈和输入倾斜度调整机构70来校正输入夹具10的输入倾斜度,因而可改善输入到卷芯60的电极1的输入稳定性,因此可减少发生意外的歪斜缺陷。
在本发明中,为了改善电极1的输入稳定性,将受到输入倾斜度的影响而改变的确定EPS边缘位置值数据与确定EPS边缘基准值A进行比较,以根据歪斜校正装置100校正输入倾斜度。根据比较,由于控制器40反馈控制输入倾斜度调整机构70,并且如图4中所示调整输入倾斜度以将电极输入方向校正为图4中的B方向,所以可减少发生由于意外的输入缺陷而引起的歪斜。
本发明进一步提供了一种在传送要被卷绕在卷芯60上以形成果冻卷电极组件的电极时校正歪斜的方法。
图5是图解根据本发明的校正电极歪斜的方法的顺序的流程图。
如图中所示,首先,在步骤(a)中,当通过输入夹具10输入的电极1到达设置在卷芯之前的EPC单元30的确定EPS 32时,通过确定EPS 32测量电极的边缘位置,因而测量确定EPS边缘位置值。
然后,在步骤(b)中,通过EPC单元30反馈控制电极的边缘位置,使得确定EPS边缘位置值与预定的确定EPS边缘基准值A一致。
接下来,在步骤(c)中,获得当通过EPC单元30的反馈控制,确定EPS边缘位置值随时间变化而收敛到确定EPS边缘基准值A时的确定EPS边缘位置值数据。
接下来,在步骤(d)中,从确定EPS边缘位置值数据之中选择受到输入倾斜度的影响而变化的数据值,并且通过将这些数据值与确定EPS边缘基准值A进行比较执行反馈控制,因此在步骤(e)中校正输入倾斜度。
可通过以规则时间间隔测量预定次数直到收敛到确定EPS边缘基准值A来获得随时间变化的确定EPS边缘位置值数据。如图3中所示,例如可通过50次测量来获得确定EPS边缘位置值数据。如图3中所示,在位置值数据之中,受到输入倾斜度的影响而变化的数据值是确定EPS边缘位置值数据之中的初始变化的数据值。例如,当测量50次确定EPS边缘位置值直到收敛到确定EPS边缘基准值时,初始数据值可以是通过确定EPS 32测量1至5次的数据值。
本发明的实施方式
在本发明的校正歪斜的方法中,通过将初始数据值与确定EPS边缘基准值A进行比较的反馈控制调整输入倾斜度,因此下面将描述反馈控制的具体实施方式。
(第一实施方式)
图6是图解根据本发明一个实施方式的用于校正输入夹具的输入倾斜度的反馈控制的顺序的流程图。
首先,在步骤(d1)中,将确定EPS边缘位置值数据之中的初始数据值的平均值与确定EPS边缘基准值A进行比较。将初始数据值的平均值与确定EPS边缘基准值A进行比较,而不是将初始数据值中的单个值与确定EPS边缘基准值A进行比较,可更有效地反映输入不稳定性的影响。因此,例如,计算图3中的测量序号1至5次(Bois程序中1至3次)的(初始)确定EPS边缘位置值的平均值与确定EPS边缘基准值A之间的差值。该差值被定义为用于反馈控制的预定逻辑值(Xlogic),并且被表示为下面描述的式1。逻辑值大的情况表示输入电极时的不稳定性很大,因此,可响应于逻辑值的大小校正输入夹具10的输入倾斜度。
Xlogic=[(确定EPS边缘位置值No.1至No.5的平均值)-确定EPS边缘基准值]----------式1
在该实施方式中,通过使用输入多个电极时的逻辑值的平均值来校正电极的歪斜,促进了歪斜校正的可靠性的提高,这比使用输入单个电极时的逻辑值来校正输入倾斜度要更进一步。就是说,在步骤(d2)中,输入电极预定次数时计算每个电极的逻辑值被平均的平均逻辑值(平均Xlogic:见下面描述的式2)。
输入电极n次时的平均Xlogic=X1+X2+…+Xn-1+Xn/n------ 式2
平均逻辑值是输入多个电极时每个逻辑值的平均值,因而更好地表示出输入电极时的不稳定性。因此,当响应于平均逻辑值的大小,针对每预定次数的电极输入来校正输入倾斜度时,可更有效地解决输入电极时的不稳定性。
此外,更优选通过根据平均逻辑值的大小改变校正周期来执行校正。输入电极预定次数时的平均逻辑值大的情况表示输入电极时的不稳定性很大。因此,当平均逻辑值大时,可减小校正周期,以快速执行校正,当平均逻辑值小时,可延长校正周期。在图4中,在向左侧倾斜时确定EPS边缘位置值表现出负(-)值,并且在向右侧倾斜时表现出正(+)值。因而,平均逻辑值的符号也可被表示为负或正,并且可通过根据平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期来执行校正。
通过根据平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期来执行校正的情况的示例如下。
<输入电极5次时的平均Xlogic>
平均Xlogic=X1+X2+X3+X4+X5/5
|平均Xlogic|≥0.200→每输入电极5次校正输入倾斜度
<输入电极10次时的平均Xlogic>
平均Xlogic=X1+X2+…+X9+X10/10
0.100≤|平均Xlogic|<0.200→每输入电极10次校正输入倾斜度
<输入电极15次时的平均Xlogic>
平均Xlogic=X1+X2+…+X14+X15/15
0.050≤|平均Xlogic|<0.100→每输入电极15次校正输入倾斜度
<输入电极20次时的平均Xlogic>
平均Xlogic=X1+X2+…+X19+X20/20
0.025≤|平均Xlogic|<0.050→每输入电极20次校正输入倾斜度
<输入电极25次时的平均Xlogic>
平均Xlogic=X1+X2+…+X24+X25/25
|平均Xlogic|<0.025→不执行输入倾斜度校正
当在步骤(d2)中计算平均逻辑值时,可通过根据平均逻辑值的大小改变校正周期,将输入倾斜度校正预定的校正值(步骤(e))。该校正值可作为默认值给出,该默认值是可在能够调整输入倾斜度的范围内根据平均逻辑值的大小来校正的数值单位。例如,可将输入倾斜度校正0.01的校正值。校正值大的情况表示通过一次校正来校正的倾斜度的幅度较大,校正值小的情况表示通过一次校正来校正的倾斜度的幅度较小。当校正值小时,一次校正的辊倾斜度的幅度较小,但是可更精确地调整输入倾斜度。
另外,由于平均逻辑值具有符号,所以与符号相反地应用输入倾斜度校正值。例如,在平均逻辑值的符号为正时通过减去预定的校正值(例如,0.01)来校正输入倾斜度,在平均逻辑值的符号为负时通过加上预定的校正值(例如,0.01)来校正输入倾斜度,因此,平均逻辑值的大小可减小。
之后,随着在步骤(f)中重复步骤(d1)至(e),执行其中对于通过输入夹具10输入的多个电极来说平均逻辑值依次减小的反馈校正。当重复该反馈校正并且最终平均逻辑值的大小小于设定的预定值时,由于电极输入不稳定性被完全解决并且因此输入倾斜度进入稳定区间,所以不需要额外校正输入倾斜度。就是说,当平均Xlogic的绝对值小于0.025时,由于输入倾斜度进入稳定区间,所以不需要校正输入倾斜度。当在该区间中校正输入倾斜度时,输入不稳定性反而增加。
(第二实施方式)
图7是图解根据本发明另一个实施方式的用于校正输入倾斜度的反馈控制的顺序的流程图。
本实施方式在逻辑值Xlogic的定义上与第一实施方式不同。
在本实施方式中,为了获得逻辑值,将实施方式1的逻辑值(初始数据值的平均值与确定EPS边缘基准值的差值)乘以反映由于非预期变量引起的确定EPS的测量误差的预定校正系数而得到的值定义为逻辑值。电极从电极生产和卷绕产线连续传送,从而被传送至卷芯并且卷绕在卷芯上以形成果冻卷电极组件。在此过程中,可能发生未知原因的振荡(hunting)或过冲。或者,诸如EPS等之类的传感器可能被污染,或者,在极端情况下,电极可能从卷芯等分离,因而可出现确定EPS测量值的误差。当不考虑由于该非预期变量引起的确定EPS的测量误差时,可能无法反映在反馈控制期间不可避免地产生的测量误差,因而可能无法准确地评估输入不稳定性的影响。因此,在第二实施方式中,通过乘以反映由于该非预期变量而引起的确定EPS的测量误差的预定校正系数而获得的值被用作逻辑值。例如,当校正系数为1时,可表示其中可能发生非预期变量的正常产线运行的情况。另一方面,当校正系数小于1,例如,0.6时,反映了其中未出现非预期变量的稳定运行情况。当即使在稳定运行情况下逻辑值或平均逻辑值小于预定值时,可确定输入稳定性已进入稳定区间,在这种情况下,不再需要校正输入倾斜度。
综上所述,当校正系数为Plogic时,在步骤(d1)’中,该实施方式的逻辑值Xlogic可被定义为下面描述的式3。
Xlogic=[(确定EPS边缘位置值No.1至No.5的平均值)-确定EPS边缘基准值]×Plogic----式3
然后,在步骤(d2)中,输入电极预定次数时计算每个电极的逻辑值被平均的平均逻辑值(平均Xlogic:见下面描述的式4)。
输入电极n次时的平均Xlogic={X1+X2+…+Xn-1+Xn/n}×Plogic-- 式4
此外,更优选通过根据平均逻辑值的大小改变校正周期来执行校正。其中可通过根据平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期来针对每预定次数的电极输入执行校正的示例如下。
<当输入电极5次时的平均Xlogic>
平均Xlogic={X1+X2+X3+X4+X5/5}×Plogic
Plogic=1.0
|平均Xlogic|≥0.200→每输入电极5次校正输入倾斜度
<输入电极10次时的平均Xlogic>
平均Xlogic={X1+X2+…+X9+X10/10}×Plogic
Plogic=1.0
0.100≤|平均Xlogic|<0.200→每输入电极10次校正输入倾斜度
<输入电极15次时的平均Xlogic>
平均Xlogic={X1+X2+…+X14+X15}×Plogic
Plogic=1.0
0.050≤|平均Xlogic|<0.100→每输入电极15次校正输入倾斜度
<输入电极20次时的平均Xlogic>
平均Xlogic={X1+X2+…+X19+X20}×Plogic
Plogic=1.0
0.025≤|平均Xlogic|<0.050→每输入电极20次校正输入倾斜度
<输入电极25次时的平均Xlogic>
平均Xlogic={X1+X2+…+X24+X25/25}×Plogic
Plogic=0.6
|平均Xlogic|<0.025→不执行输入倾斜度校正
当在步骤(d2)中计算平均逻辑值时,可通过根据平均逻辑值的大小改变校正周期,将输入倾斜度校正预定的校正值(步骤(e))。例如,可将输入倾斜度校正0.01的校正值。在平均逻辑值的符号为正时通过减去预定的校正值(例如,0.01)来校正输入倾斜度,在平均逻辑值的符号为负时通过加上预定的校正值(例如,0.01)来校正输入倾斜度,因此,平均逻辑值的大小可减小。
之后,由于在步骤(f)中重复步骤(d1)’至(e),因此执行其中对于通过输入夹具10输入的多个电极来说平均逻辑值依次减小的反馈校正。当重复该反馈校正并且最终平均逻辑值的大小小于设定的预定值时,由于电极输入不稳定性被完全解决并且因此输入倾斜度进入稳定区间,所以不需要额外校正输入倾斜度。就是说,当平均Xlogic的绝对值小于0.025时,由于输入倾斜度进入稳定区间,所以不需要校正输入倾斜度。当在该区间中校正输入倾斜度时,输入不稳定性反而增加。在像第一实施方式那样不考虑由于非预期变量引起的校正系数时,存在这样的情况,即,甚至当由于非预期变量很少而稳定运行时,仍根据平均逻辑值机械地校正输入倾斜度。在这种情况下,输入不稳定性反而由于输入倾斜度校正而增加。因此,如上所述,当通过将输入电极25次时的平均逻辑值乘以校正系数0.6来使平均逻辑值的绝对值小于0.025时,由于已进入稳定区间,所以决定不进行任何更多校正。在这种情况下,当通过乘以校正系数1来计算平均逻辑值时,会没有意义地重复输入倾斜度的校正。因此,本实施方式的重要之处在于,通过对没有非预期变量的稳定区间设定一致的标准(0.6的校正系数)并建立反馈控制的最终目标,能够可靠地改善输入稳定性。
图8是更清楚地示出与逻辑值计算步骤相关的根据本发明的图7的第二实施方式的反馈控制过程的示意图。
如图8中所示,例如,从25个果冻卷(J/R)电极组件制造用电极(J/R1、J/R2、…J/R24、J/R25)的初始EPS数据获得平均逻辑值。此外,这些平均逻辑值乘以预定的校正系数(例如,1.0或0.6)。
根据反映了该校正系数的平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期(例如,每5次输入、10次输入、15次输入和20次输入校正一次),以通过加上或减去预定校正值(0.01)来调整输入倾斜度。
当通过初次逻辑值计算,乘以校正系数的平均逻辑值的大小小于0.025时(当乘以校正系数乘0.6时),实现了反馈控制的目的,不需要校正输入倾斜度。否则,重复上述过程以计算二次逻辑值。
图9是图解当通过本发明的校正歪斜的方法将输入夹具10的倾斜度(输入倾斜度)校正预定的校正值时,确定EPS边缘位置值随时间变稳定的状态的曲线图。
图9(a)图解了当将输入倾斜度调整0.01的校正值并且从0.40的初始输入倾斜度校正至0.25的最终输入倾斜度(总共15次校正)时,EPS数据随时间(测量次数)的变化。如图中所示,随着重复进行校正,能够看出初始EPS数据与确定EPS边缘基准值的偏差程度减小。
图9(b)图解通过0.01的校正值将输入倾斜度从0.27的初始输入倾斜度调整至0.20的最终输入倾斜度的情况(总共7次校正),图9(c)图解通过0.01的校正值将输入倾斜度从0.25的初始输入倾斜度调整至0.20的最终输入倾斜度的情况(总共5次校正)。如图9(c)中所示,当输入倾斜度变为0.20时,能够看出初始EPS数据收敛到接近确定EPS边缘基准值,因而通过稳定的输入去除了噪声。
图10是与通过本发明的校正歪斜的方法完成反馈控制之后的确定EPS边缘位置值相关的曲线图。这与图9的输入倾斜度被反馈控制到0.20的情况下的曲线图相同。在图10中,几乎与中期数据和后期数据相似地,初始EPS数据接近确定EPS边缘基准值,因此能够看出极大地改善了输入稳定性。
图11是图解在通过本发明的校正歪斜的方法进行反馈控制的情况下的初始的确定EPS边缘位置值的偏差的曲线图,没有反馈控制情况下的初始EPS数据以红色示出,反馈控制情况下的初始EPS数据以蓝色示出。如图11(a)中所示,能够看出,与不执行反馈控制的情况相比,在对数千个输入电极执行反馈控制的情况下,初始EPS数据的偏差显著减小。图11(b)以简化形式图解了该偏差,能够看出,当反馈控制大量电极时,初始EPS数据的偏差接近0.00,因而极大地改善了输入稳定性,并且也极大地降低了根据输入而导致的电极位置的偏差。
上文中,已经参照附图、示例等更详细地描述了本发明。然而,由于在本申请中描述的附图、实施方式等中描述的配置仅是本发明的一个实施方式并且不代表本发明的所有技术精神,所以应当理解的是,在提交本申请时可存在各种等同和修改。
(参考标号)
1:电极
1a:歪斜的行进电极
10:输入夹具
20:切割器
A:确定EPS边缘基准值
30:EPC单元
31:EPC辊
32:确定EPS
40:控制器
50:最终辊
60:卷芯
70:输入夹具的输入倾斜度调整机构
100:歪斜校正装置。

Claims (19)

1.一种电极歪斜校正装置,所述电极歪斜校正装置是在传送要被卷绕在卷芯上以形成果冻卷电极组件的电极时的歪斜校正装置,所述电极歪斜校正装置包括:
输入夹具的输入倾斜度调整机构,所述输入夹具配置为将所述电极输入到所述卷芯;
边缘位置控制(EPC、Edge Position Control)单元,所述EPC单元设置有确定边缘位置传感器(EPS、Edge Position Sensor)和EPC辊,所述确定EPS设置在所述卷芯之前,以测量所述电极的边缘位置作为确定EPS边缘位置值,所述EPC辊配置为调整所述电极的边缘位置以与确定EPS边缘基准值一致;以及
控制器,所述控制器配置为控制所述EPC单元和所述输入倾斜度调整机构,
其中所述控制器反馈控制所述电极的边缘位置,使得所述确定EPS边缘位置值与所述确定EPS边缘基准值一致;获得当通过所述反馈控制,所述确定EPS边缘位置值随时间变化而收敛到所述确定EPS边缘基准值时的确定EPS边缘位置值数据;从所述确定EPS边缘位置值数据之中选择受到所述输入夹具的输入倾斜度的影响而变化的数据值,并且通过将这些数据值与所述确定EPS边缘基准值进行比较来反馈控制所述输入倾斜度调整机构以校正所述输入倾斜度。
2.根据权利要求1所述的电极歪斜校正装置,其中所述EPC辊设置在所述确定EPS的安装位置前方的预定间隔的位置处。
3.根据权利要求1所述的电极歪斜校正装置,其中所述控制器计算所述确定EPS边缘位置值数据之中的初始数据值的平均值与所述确定EPS边缘基准值之间的差值,将所述差值定义为逻辑值;输入电极预定次数时将每个电极的逻辑值平均以获得平均逻辑值;并且响应于所述平均逻辑值的大小,针对每预定次数的电极输入来校正所述输入倾斜度。
4.根据权利要求3所述的电极歪斜校正装置,其中:
根据所述平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期;并且
针对每个校正周期将所述输入倾斜度校正预定的校正值。
5.根据权利要求3所述的电极歪斜校正装置,其中:
将通过所述差值乘以预定的校正系数而获得的值定义为逻辑值,所述校正系数反映由于非预期变量引起的所述确定EPS的测量误差。
6.根据权利要求5所述的电极歪斜校正装置,其中所述校正系数根据所述平均逻辑值的大小不同地确定。
7.一种在传送要被卷绕在卷芯上以形成果冻卷电极组件的电极时校正电极歪斜的方法,所述方法包括:
当通过输入夹具输入的电极到达设置在所述卷芯之前的EPC单元的确定EPS时,通过所述确定EPS测量所述电极的边缘位置,以测量确定EPS边缘位置值;
通过所述EPC单元反馈控制所述电极的边缘位置,以使得所述确定EPS边缘位置值与预定的确定EPS边缘基准值一致;
获得当通过所述EPC单元的反馈控制,所述确定EPS边缘位置值随时间变化而收敛到所述确定EPS边缘基准值时的确定EPS边缘位置值数据;以及
从所述确定EPS边缘位置值数据之中选择受到所述输入夹具的输入倾斜度的影响而变化的数据值,并且通过将这些数据值与所述确定EPS边缘基准值进行比较的反馈控制来校正输入倾斜度。
8.根据权利要求7所述的方法,其中:
通过以规则时间间隔测量预定次数直到收敛到所述确定EPS边缘基准值来获得随时间变化的所述确定EPS边缘位置值数据;并且
受到所述输入倾斜度的影响而变化的数据值是所述确定EPS边缘位置值数据之中的初始数据值。
9.根据权利要求8所述的方法,其中,在与所述确定EPS边缘基准值进行比较的反馈控制过程中,计算所述确定EPS边缘位置值数据之中的所述初始数据值的平均值与所述确定EPS边缘基准值之间的差值,将所述差值定义为逻辑值,并且响应于所述逻辑值的大小来校正所述输入倾斜度。
10.根据权利要求9所述的方法,其中:
输入电极预定次数时将每个电极的逻辑值平均以获得平均逻辑值;并且
响应于所述平均逻辑值的大小,针对每预定次数的电极输入来校正所述输入倾斜度。
11.根据权利要求10所述的方法,其中根据所述平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期来校正所述输入倾斜度。
12.根据权利要求9所述的方法,其中所述初始数据值是通过所述确定EPS测量一至五次的数据值。
13.根据权利要求11所述的方法,其中针对每个校正周期将所述输入倾斜度校正预定的校正值。
14.根据权利要求13所述的方法,其中当所述平均逻辑值的符号为正(+)时,从所述输入倾斜度减去预定的校正值,当所述平均逻辑值的符号为负(-)时,给所述输入倾斜度加上预定的校正值。
15.根据权利要求9所述的方法,其中:
将通过所述差值乘以预定的校正系数而获得的值定义为逻辑值,所述校正系数反映由于非预期变量引起的所述确定EPS的测量误差;并且
响应于所述逻辑值的大小来校正所述输入倾斜度。
16.根据权利要求15所述的方法,其中:
输入电极预定次数时将每个电极的逻辑值平均以获得平均逻辑值;并且
响应于所述平均逻辑值的大小,针对每预定次数的电极输入来校正所述输入倾斜度。
17.根据权利要求15所述的方法,其中根据所述平均逻辑值的绝对值的大小改变校正周期来校正所述输入倾斜度。
18.根据权利要求17所述的方法,其中针对每个校正周期将所述输入倾斜度校正预定的校正值。
19.根据权利要求16所述的方法,其中所述校正系数根据所述平均逻辑值的大小不同地确定。
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