CN115942530A - 射频解冻设备的控制方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种射频解冻设备的控制方法、装置、设备及存储介质，射频解冻设备包括用于向调谐回路输出射频功率的射频功率放大回路和用于阻抗匹配的调谐回路，该方法包括：对射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；根据食材信息，确定射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；根据调谐回路的失配频率或反射系数，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，失配频率用于表征调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，反射系数用于表征射频功率放大回路的功耗程度；根据目标射频功率和目标解冻时间，对食材进行解冻。通过本申请的技术方案能够主动对食材进行辨识，并在解冻过程中不断调整解冻时间，有效实现了解冻过程的智能化。

Description

射频解冻设备的控制方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请属于射频解冻控制技术领域，尤其涉及一种射频解冻设备的控制方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

射频解冻设备相较于传统的自然解冻或微波解冻，具有解冻速度快，解冻效果均匀，使用方便卫生等优点。

射频解冻设备的解冻效果极大程度的依赖于控制系统对于食材的了解程度，如食材的类型、质量和初始温度等信息。因而，通常情况下需要用户手动输入食材的具体信息以及解冻时间，再由控制系统根据食材的具体信息和解冻时间进行解冻。该方案需要用户人工参与，智能化程度较低。

发明内容

本申请的实施例提供了一种射频解冻设备的控制方法、装置、设备及存储介质，进而避免了人工参与，提高了解冻的智能化程度。

本申请的其它特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种射频解冻设备的控制方法，所述射频解冻设备包括射频功率放大回路和调谐回路，所述射频功率放大回路用于向所述调谐回路输出射频功率，所述调谐回路用于阻抗匹配，所述方法包括：

对所述射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；

根据所述食材信息，确定所述射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；

根据所述调谐回路的失配频率或反射系数，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，所述失配频率用于表征所述调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，所述反射系数用于表征所述射频功率放大回路的功耗程度；

根据所述目标射频功率和所述目标解冻时间，对所述食材进行解冻。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述对所述射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息，包括：

控制所述射频解冻设备按照预设射频功率和预设解冻时间对所述食材进行解冻，以确定所述调谐回路在所述预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据；

根据所述响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定所述食材信息。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述预设射频功率大于所述目标射频功率。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述样本数据包括样本响应数据和与样本响应数据一一对应的样本特征参数，所述特征参数用于表征所述食材的属性状态，所述根据所述响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定所述食材信息，包括：

确定所述调谐回路在多个所述预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据，得到多组响应数据；

针对每一组目标响应数据，确定所述目标响应数据与各组样本响应数据的匹配度，所述匹配度用于表征所述目标响应数据与样本响应数据的接近程度，所述目标响应数据为所述多组响应数据中的任意一组；

基于多组所述响应数据与同一样本响应数据的匹配度，计算多组所述响应数据与所述同一样本响应数据的综合匹配度；

将所述综合匹配度最高的样本响应数据所对应的样本特征参数确定为所述食材信息。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述基于多组所述响应数据与同一样本响应数据的匹配度，计算多组所述响应数据与所述同一样本响应数据的综合匹配度，包括：

将各组响应数据对应同一样本响应数据的匹配度进行加权计算，以得到多组所述响应数据与所述同一样本响应数据的综合匹配度。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述调谐回路中串联和并联有储能元件组，其中，每一个储能元件组具有多个状态值，所述状态值用于表征所述储能元件组中各个储能元件的接入状态，所述方法还包括：

判断阻抗匹配指令是否被首次触发；

若所述阻抗匹配指令不是被首次触发，根据上一次完成阻抗匹配时各个储能元件组的状态值，得到参考状态值坐标；

从与所述参考状态值坐标接近的第一坐标区域中匹配目标状态值坐标，以完成新的阻抗匹配。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述判断阻抗匹配指令是否被首次触发之后，所述方法还包括：

若所述阻抗匹配指令被首次触发，在所述储能元件组中确定目标储能元件组；

在所述目标储能元件组中的储能元件全部未接入时，遍历其它储能元件组的各个状态值在所述调谐回路的反射系数，并将反射系数最小时的状态值，作为第一状态值，所述其它储能元件组为所述储能元件组中除所述目标储能元件组之外的储能元件组；

在所述目标储能元件组中的储能元件全部接入时，遍历所述其它储能元件组的各个状态值在所述调谐回路的反射系数，并将反射系数最小时的状态值，作为第二状态值；

从由所述第一状态值和所述第二状态值限定的第二坐标区域中匹配所述目标状态值坐标，以完成所述阻抗匹配指令被首次触发时的阻抗匹配。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，根据所述调谐回路的失配频率，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，包括：

将所述调谐回路在初始解冻时间初期的失配频率，作为初始失配频率；

将所述调谐回路在所述食材发生相变时的失配频率，作为参考失配频率，并获取所述调谐回路从所述初始失配频率变化至所述参考失配频率的实际消耗时间；

基于所述初始失配频率和所述参考失配频率，以及所述实际消耗时间，确定所述射频解冻设备解冻所述食材所需的理论解冻时间；

将所述初始解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为初始剩余解冻时间，以及将所述理论解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为理论剩余解冻时间；

如果所述理论剩余解冻时间和所述初始剩余解冻时间不满足近似相等，将所述理论剩余解冻时间确定为所述目标解冻时间。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，根据所述调谐回路的反射系数，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，包括：

在所述射频解冻设备解冻食材的过程中，判断所述反射系数是否发生突变；

如果所述反射系数发生突变，获取所述射频解冻设备从解冻开始到所述反射系数发生突变的实际消耗时间，所述调谐回路在所述初始解冻时间初期的初始失配频率，以及所述调谐回路在所述反射系数发生突变时的参考失配频率；

基于所述初始失配频率和所述参考失配频率，以及所述实际消耗时间，确定所述射频解冻设备解冻所述食材所需的理论解冻时间；

将所述初始解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为初始剩余解冻时间，以及将所述理论解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为理论剩余解冻时间；

如果所述理论剩余解冻时间和所述初始剩余解冻时间不满足近似相等，将所述理论剩余解冻时间确定为所述目标解冻时间。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述射频解冻设备包括解冻腔，所述方法还包括：

在所述射频解冻设备解冻食材的过程中，获取所述解冻腔的抽屉状态；

在所述抽屉状态为打开的情况下，将所述目标射频功率设置为零。

在本申请的一些实施例中，基于前述方案，所述方法还包括：

在所述射频解冻设备解冻食材的过程中，根据初始解冻时间初期的反射系数是否发生突变，判断所述射频解冻设备是否重复解冻。

根据本申请实施例的第二方面，提供了一种射频解冻设备的控制装置，所述射频解冻设备包括射频功率放大回路和调谐回路，所述射频功率放大回路用于向所述调谐回路输出射频功率，所述调谐回路用于阻抗匹配，所述装置包括：

食材辨识单元，用于对所述射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；

匹配控制单元，用于根据所述食材信息，确定所述射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；

时间调整单元，用于根据所述调谐回路的失配频率或反射系数，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，所述失配频率用于表征所述调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，所述反射系数用于表征所述射频功率放大回路的功耗程度；

解冻控制单元，用于根据所述目标射频功率和所述目标解冻时间，对所述食材进行解冻。

根据本申请实施例的第三方面，提供了一种射频解冻设备的控制设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法的步骤。

根据本申请实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。

在本申请中，射频解冻设备包括用于向调谐回路输出射频功率的射频功率放大回路和用于阻抗匹配的调谐回路，该方法包括：对射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；根据食材信息，确定射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；根据调谐回路的失配频率或反射系数，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，失配频率用于表征调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，反射系数用于表征射频功率放大回路的功耗程度；根据目标射频功率和目标解冻时间，对食材进行解冻。通过本申请的技术方案能够主动对食材进行辨识，并在解冻过程中不断调整解冻时间，避免了人工输入食材信息和解冻时间，有效实现了解冻过程的智能化。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。在附图中：

图1示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的结构示意图；

图2示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的控制方法的流程图；

图3示出了根据本申请一个实施例的步骤201的细节流程图；

图4示出了解冻过程中食材的不同部位的温度变化示意图；

图5示出了根据本申请一个实施例的调谐回路的电路图；

图6示出了根据本申请一个实施例的储能元件组的接入状态的变化趋势示意图；

图7示出了根据本申请一个实施例的调谐回路的阻抗匹配的流程图；

图8示出了根据本申请一个实施例的步骤203的细节流程图；

图9示出了根据本申请一个实施例的失配频率的变化曲线图；

图10示出了根据本申请另一个实施例的步骤203的细节流程图；

图11示出了根据本申请一个实施例的反射系数的变化趋势示意图；

图12示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的控制装置的框图；

图13示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的控制设备的内部结构图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本申请的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本申请的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本申请的各方面。

附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。

需要注意的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的对象在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在图示或描述的那些以外的顺序实施。

需要说明的是，本申请中提出的射频解冻设备包括射频功率放大回路和调谐回路，所述射频功率放大回路用于向所述调谐回路输出射频功率，所述调谐回路用于阻抗匹配。

还需要说明的是，本申请提出的射频解冻设备是指具备射频解冻功能的设备，比如具备射频解冻功能的冰箱。可以理解，相应的，本申请提出的射频解冻设备的控制方法可以应用于所有具备射频解冻功能的设备，包括但不限于冰箱。

为了使本领域技术人员更好理解本申请的射频解冻设备，下面将结合图1进行说明。

图1示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的结构示意图。

如图1所示，展示的为一种可能的射频解冻设备，射频解冻设备包括硬件系统和控制系统。硬件系统包括可调电源，用于为整个射频解冻设备提供电源，并且可实现输出电压调节功能；射频功率放大回路，用于向调谐回路输出射频功率，同时向食材解冻过程提供射频解冻能量；调谐回路，用于补偿食材状态变化导致的负载阻抗不匹配；食材及腔体，用于容纳待解冻的食材。

如图1所示的射频解冻设备的控制系统，包括功率闭环控制，用于采样正向功率信号和反向功率信号，并通过输出控制信号给可调电源和射频功率放大回路以实现精确的输出功率闭环控制功能；自动匹配控制，用于通过自动采集正向功率信号和反向功率信号，以实现在阻抗失配时自动向调谐回路下发阻抗匹配指令；解冻过程控制，用于根据食材辨识和解冻过程的需要来控制输出功率曲线和输出时间；食材辨识，用于判断和辨识食材类型，以及确定食材信息(比如类型、质量、温度等)。

图2示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的控制方法的流程图。

如图2所示，提供了一种射频解冻设备的控制方法，以该方法应用于图1中的射频解冻设备为例进行说明，该方法可以包括以下步骤：

步骤201，对射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息。

应当理解的是，不同的食材具备不同的属性状态，比如不同的待解冻食材具备不同的食材类型、食材置于食材容纳腔的压力、食材的质量、食材解冻初期的温度、食材体积、食材形状、食材图像、食材含水量等等。本实施例中，可以根据不同的应用场景确定食材具体的属性状态作为食材信息，本申请在此不做限定。

具体地，射频解冻设备的控制设备可以通过多种方式对食材进行辨识。在一个示例中，可以通过在控制设备中设置重量传感器、温度传感器或视觉传感器，并根据重量传感器、温度传感器或视觉传感器上传的信号对食材进行辨识；在另一个示例中，可以通过在固定射频功率和固定解冻时间内对食材进行解冻，得到调谐回路在预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据，再根据响应数据确定食材信息。

步骤202，根据食材信息，确定射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间。

应当理解的是，射频解冻的原理是在射频交变电场作用下，食材中的极性分子不断旋转碰撞而使得食材内能增加。食材之间的差异主要体现在介电常数不同，食材介电特性决定了食材和电磁能量之间的相互作用，食材的介电特性由介电常数和介电损耗来描述。介电常数体现了食材在电磁场中储存能量的能力，而介电损耗体现了电磁能量转化为食材热能的能力。介电损耗较大的食材比介电损耗小的食材更容易吸收电场能量。影响食材介电常数的因素通常有：食材含水量、食材温度和食材质量。

食材中水分可以以自由水或者结合水的形式存在，自由水对介电常数的贡献要远大于结合水。相较于含水量低的食材，含水量高的食材，其介电常数和介电损耗要大。因此含水量高的食材放在解冻腔体中，其负载阻抗最佳匹配点会明显区别于含水量低的食材，而且解冻到相同的温度点时，需要吸收更多的能量。

食材温度对介电特性的影响取决于射频频率、自由水和结合水的比例，以及离子电导率和物料的组成。在射频频率下，由于结合水的极化，食材的介电常数和介电损耗都会随着温度的升高增大。自由水的介电常数和介电损耗随着温度的升高而减小，因此食材中的介电特性随温度变化规律与自由水和结合水的比例有关。在不同的温度段下，食材介电特性呈现不同的变化趋势，但总体来说，食材在被解冻时，介电常数和介电损耗都会显著增大，尤其是在-5℃～0℃时。

食材质量越大，其中的冰融化成为可以自由活动的极化水分子越多。因此，在相同的食材类型和温度条件下，质量较大的食材，解冻到相同的温度点，比质量小的食材能够吸收更多的能量，而温度上升的速度也越慢。

也就是说，对于相同温度、相同质量的食材，含水量越低，解冻所需要的能量越少；对于相同温度、相同含水量的食材，质量越小，解冻所需要的能量越少；对于相同含水量，相同质量的食材，温度越低，因自由活动的极性水分子越小，解冻所需的能量就越多。因此，不同食材信息，对应的射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间是不同的。

具体地，可以获取预先确定的标定数据，标定数据用于表征射频功率和解冻时间，与食材信息之间的对应关系，再基于标定数据，根据食材信息，为射频解冻设备中的食材匹配目标射频功率和初始解冻时间。

其中，目标射频功率可以是固定值的射频功率，也可以是按照一定曲线变化的射频功率，当然也可以采用其他方式设置目标射频功率，本申请在此不做限定。可以理解的是，如果采用按照一定曲线变化的射频功率作为目标射频功率，可以使得食材在不同解冻阶段吸收不同的射频功率，如此不仅可以避免射频能量的浪费，还可以提高射频解冻设备为食材解冻匹配的解冻方案的准确性。

本实施例中通过对不同食材(食材类型、食材质量、食材温度等等方面不同)匹配相适应的目标射频功率和初始解冻时间，可以提高射频解冻设备对食材进行解冻的精准性，提升用户的使用体验。

步骤203，根据调谐回路的失配频率或反射系数，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，失配频率用于表征调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，反射系数用于表征射频功率放大回路的功耗程度。

其中，失配频率可以解释为在固定时间内，调谐回路发生阻抗失配的次数(即进行阻抗匹配的次数)，该固定时间可以是3分钟，也可以是更长或更短。

具体地，射频解冻设备的控制设备可以根据失配频率对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，也可以根据反射系数对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间。

应当理解的是，食材在解冻过程中，其状态在不断改变。由食材和解冻腔共同构成的负载，其阻抗也在实时变动。当负载阻抗变化较大，而导致射频功率无法有效输出时，需要重新进行调谐匹配，以便适应新的食材状态，提高射频能量的利用率。因此在食材的解冻过程中，调谐回路的失配频率和反射系数是随着食材的状态不断变化的，通过利用食材解冻过程中调谐回路的失配频率或反射系数对初始解冻时间进行修正，以重新确定食材的解冻时间，可以有效提高射频解冻设备对食材进行解冻的精准性。

步骤204，根据目标射频功率和目标解冻时间，对食材进行解冻。

应当理解的是，由于在食材解冻过程的初期通过对食材进行辨识，对不同的食材匹配了相应的目标射频功率以及初始解冻时长，并根据解冻过程中调谐回路的失配频率或反射系数对初始解冻时间进行了修正，对比于不同的食材施加固定的射频功率、采用相同的解冻时长或者采用用户设置的解冻时长而言，本申请提出的技术方案能更为准确的为不同的食材提供相匹配的解冻方案，即射频解冻设备能严格控制食材的解冻时长和解冻过程所需的射频功率，进而使得食材能精准的被解冻。

本实施例通过对射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；根据食材信息，确定射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；根据调谐回路的失配频率或反射系数，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，失配频率用于表征调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，反射系数用于表征射频功率放大回路的功耗程度；根据目标射频功率和目标解冻时间，对食材进行解冻。通过本申请的技术方案能够主动对食材进行辨识，并在解冻过程中不断调整解冻时间，避免了人工输入食材信息和解冻时间，有效实现了解冻过程的智能化。

图3示出了根据本申请一个实施例的步骤201的细节流程图。

如图3所示，根据食材信息，确定射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间，可以包括以下步骤：

步骤301，控制射频解冻设备按照预设射频功率和预设解冻时间对食材进行解冻，以确定调谐回路在预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据。

步骤302，根据响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定食材信息。

其中，预设射频功率和预设解冻时间是为了确定食材信息而对待解冻的食材在解冻初期在一定的时间施加的一定的射频功率。

在具体实现中，预设射频功率可以大于目标射频功率。因为食材的介电常数和介电损耗在一定频率下随着温度的升高而增加，这导致食材随着温度的升高而吸收更多的电磁能量。较高温度下的食材更易于吸收更多的能量，因此在解冻后期会产生“热失控”效应。至于射频电场中的食材，因电磁波垂直于食材的表面，进而渗透到食材内部，且在渗透过程中不断衰减。食材的边缘和拐角的电场强度明显比其他部位高，因此这些地方更容易被加热，且随着解冻时间的加长，过热部分的温度比其他部分增加的更多。另外，在解冻过程中，食材顶部的结晶冰融化成水后，会聚集到食材的底部，因而造成底部含水量比顶部更高。在电场作用下，食材上下的介电特性差距也越来越大，即底部将吸收更多的热量，顶部较少，上下温差逐步拉大。

图4示出了解冻过程中食材的不同部位的温度变化示意图，如图4所示，曲线1是食材的边缘拐角或底部等更容易吸收热量的部位，曲线2是相对比热容较大的部位，如食材中间部分，I0是食材辨识的第一阶段，I1是食材辨识的第二阶段，P0为解冻阶段。

为了防止“热失控”现象，在解冻过程中的辨识阶段I0和I1阶段，因食材各个部位温度较低，大部分的水仍以冰的形式存在，均具有较小的比热容，曲线1和曲线2中的温差不大，因此这两个阶段的射频功率(即预设射频功率)可以设置的相对较高。当辨识阶段结束后，食材已经处于半解冻的状态，若此时仍然以较高的功率进行解冻，食材的不同部位的温差会越来越大，热失控加剧，因此在解冻阶段P0，需要设定较小的解冻功率(即目标射频功率)，以使得高温区域的温度可以传导到低温区域，避免热失控。

其中，响应数据指的是射频解冻设备中的调谐回路在一定的预设解冻时间内进行阻抗匹配所发生的一些状态数据。示例性的，可以是在预设解冻时间内进行阻抗匹配的次数(即调谐回路的失配次数)；可以是调谐回路在预设解冻时间开始后储能元件的接入状态；可以是调谐回路在预设解冻时间内进行阻抗匹配呈现的射频功率放大回路输出的功率值的变化趋势；也可以是在预设解冻时间中反射系数的变化趋势。具体的，采用调谐回路进行阻抗匹配发生的何种状态数据作为响应数据，本申请在此不做限定。

为了使本领域技术人员更好的理解本实施例的响应数据，下面将结合图5进行说明。

参见图5，示出了根据本申请一个实施例的调谐回路的电路图。

如图5所示，展示了一种可能的调谐匹配回路电路图，其中，包括用于阻抗匹配的储能元件组(例如与负载4串联的储能元件组1、与负载4并联的储能元件组2)、电感3，以及负载4。在具体实现中，储能元件组1和储能元件组2的数量均可以是一个或者多个。每个储能元件组中可以包括储能元件和可动作元件，通过可动作元件的开合实现对应的储能元件的接入，进而实现阻抗匹配。

在一些实施方式中，当负载4的阻抗发生变化时(即当食材在解冻过程中的状态发生变化时)，会导致调谐回路出现阻抗失配，则在这种情形下可以通过调节如图4所示的各个可动作元件的开合状态进行阻抗匹配，即调节储能元件组1和/或储能元件组2中的不同储能元件的接入状态，用于补偿阻抗失配，使得射频放大回路输出的射频功率能被最大化利用。

可以理解的是，对应如图5所示的调谐回路在进行阻抗匹配的过程中势必会产生许多不同的响应数据，比如储能元件组的接入状态、发生阻抗匹配的次数等等。

其中，预先构建的多组样本数据是指相关人员为更能精准实现射频解冻设备的解冻功能所做的实验数据，包括样本响应数据和与样本响应数据一一对应的样本特征参数，特征参数用于表征食材的属性状态。

可以理解，样本响应数据是指对大量不同食材(包括品种、温度、质量等等构建的不同食材)在一定的实验射频功率和一定的实验时间下进行实验，获取得到的调谐回路在一定的实验时间内进行阻抗匹配的响应数据。与样本响应数据一一对应的样本特征参数，可以是食材类型、食材温度、食材质量等等样本特征参数。

示例性的，以肉类、500g质量、-10℃作为样本特征参数，这些样本特征参数可以对应的样本响应数据可以是调谐回路的失配次数为20。

在一些实施方式中，根据响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定食材信息，可以通过以下步骤实现：

确定调谐回路在多个预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据，得到多组响应数据；针对每一组目标响应数据，确定目标响应数据与各组样本响应数据的匹配度，匹配度用于表征目标响应数据与样本响应数据的接近程度，目标响应数据为多组响应数据中的任意一组；基于多组响应数据与同一样本响应数据的匹配度，计算多组响应数据与同一样本响应数据的综合匹配度；将综合匹配度最高的样本响应数据所对应的样本特征参数确定为食材信息。

需要说明的是，多次预设解冻时间将对应多次对食材施加的预设射频功率。但每次的预设射频功率以及预设解冻时间可以相同也可以为不同。具体的，本申请在此不做限定。

多组响应数据可以是多次解冻测试得到的，也可以是一次解冻测试中得到的，示例性的，以调谐回路的失配次数作为响应数据，如果在食材解冻初期对食材进行两次解冻测试，则会产生两组调谐回路的失配次数的数据。

目标响应数据与各组样本响应数据的匹配度，可以是目标响应数据与样本响应数据的比值或差值，也可以根据不同的应用场景设定目标响应数据与各组样本响应数据的匹配度的确定方式，具体的，本申请在此不做限定。

如果响应数据为多组的情况，则每一组响应数据与每一种样本响应数据进行匹配都会得到一个匹配度。这样，则出现同一样本响应数据会对应多个匹配度。

在一些实施方式中，可以将各组响应数据对应同一样本响应数据的匹配度进行加权计算，以得到多组响应数据与同一样本响应数据的综合匹配度。在确定综合匹配度之后，还可以设置综合匹配度阈值，将综合匹配度超过综合匹配度阈值的样本响应数据所对应的样本特征参数确定为食材信息。

为了使本领域技术人员更好的理解确定食材信息的过程，下面将结合表1至表3进行说明。

响应数据	样本1	样本2	第一组测试	第二组测试	第三组测试
						失配次数	20次	25次	10次	15次	18次

表1

	第一组测试	第二组测试	第三组测试
				与样本1的匹配度	50％	75％	90％
与样本2的匹配度	40％	60％	72％

表2

与样本1的综合匹配度	74.5％
		与样本2的综合匹配度	59.6％

表3

在一个示例中，如表1所示，代表的为获取了调谐回路在3个预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据(即获取了3组响应数据)，且包括两组样本响应数据，其中，是以调谐回路的失配次数为响应数据。由表1可以看出，第一组测试对应的目标响应数据为10次，第二组测试对应的目标响应数据为15次，第三组测试对应的目标响应数据为18次，样本1的样本响应数据为20次(样本1响应数据)，样本2的响应数据为25次(样本1响应数据)。

表2中确定响应数据与样本响应数据的匹配度，采用的是响应数据与样本响应数据的比值的方式来确定的。表3中通过加权计算的方式确定综合匹配度，分别为三个匹配度赋予权重0.2，0.5和0.3，得到响应数据与样本1响应数据的综合匹配度为74.5％，按照同样的方式计算得到响应数据与样本2响应数据的综合匹配度为59.6％。因为响应数据与样本1响应数据的综合匹配度为74.5％，大于与样本2响应数据的综合匹配度59.6％，则可以将样本1所对应的样本特征参数确定为食材信息。示例性的，如果样本1对应的样本特征参数为肉类、500g质量、-10℃，则将肉类、500g质量、-10℃这些参数确定食材信息。

在另一个示例中，当响应数据同时包括调谐回路在预设解冻时间开始后储能元件组的接入状态，以及失配次数时，可以通过调谐回路中储能元件组的接入状态与样本响应数据中的接入状态的差值，计算出接入状态对应的第一得分，并将第一得分作为第一匹配度；再通过调谐回路中失配次数与样本响应数据中失配次数的差值，计算失配次数对应的第二得分，并将第二得分作为第二匹配度；最后分别为第一匹配度和第二匹配度赋予不同的权重，得到综合匹配度。

在整个解冻过程中，与负载串联的储能元件组的接入状态，和与负载并联的储能元件组的接入状态的变化趋势并不相同，前者在解冻前期和后期相较于后者的变化具有更强的随机性和不确定性。图6示出了根据本申请一个实施例的储能元件组的接入状态的变化趋势示意图，与负载并联的储能元件组的接入状态(即Y值)通常先变小，后变大或保持不变。不同食材所表现出的规律会有较大的差异，具体原因是不同食材含水量差异导致，当食材吸收相同的能量时，自由水中由冰融化成水的量是不同的，因而不同的食材需要不同的Y值与其进行匹配补偿。不同食材的差异性导致Y值随温度变化的曲线不同。根据这一特点，当响应数据包括调谐回路在预设解冻时间开始后储能元件组的接入状态时，进一步地可以将储能元件组的接入状态分为串联的储能元件组的接入状态和并联的储能元件组的接入状态，并在计算接入状态对应的第一得分时为并联的储能元件组的接入状态赋予更高的得分。

本实施例通过控制射频解冻设备按照预设射频功率和预设解冻时间对食材进行解冻，以确定调谐回路在预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据；根据响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定食材信息，可以提高食材辨识的精准性。

图7示出了根据本申请一个实施例的调谐回路的阻抗匹配的流程图。

在匹配回路中，调谐匹配的方法有很多种，如遍历法、寻优算法等。为了提高匹配的效率，缩短匹配时间，降低匹配过程的风险，可以采用一种快速的匹配方法，匹配的过程可以分解为初始匹配和过程匹配。

如图7所示，过程匹配可以包括以下步骤：

步骤701，判断阻抗匹配指令是否被首次触发。

步骤702，若阻抗匹配指令不是被首次触发，根据上一次完成阻抗匹配时各个储能元件组的状态值，得到参考状态值坐标。

步骤703，从与参考状态值坐标接近的第一坐标区域中匹配目标状态值坐标，以完成新的阻抗匹配。

其中，每一个储能元件组具有多个状态值，状态值用于表征储能元件组中各个储能元件的接入状态。

应当理解的是，因短时间内食材的状态不会发生突变，因此连续两次的最佳匹配点(完成阻抗匹配时各个储能元件组的状态值)不会有很大的差异，可以利用前一次的最佳匹配点划定扫描区域。根据解冻过程中，最佳匹配点的变化特性，当参考状态值位于扫描坐标系(扫描坐标系以与负载串联的储能元件组的各个状态值为横轴X，以与负载并联的储能元件组的各个状态值为纵轴Y)的底部的情况下，横向划定确定与参考状态值坐标接近的第一坐标区域，否则按照纵向划定第一坐标区域。然后扫描第一坐标区域中所有的X(与负载串联的储能元件组的状态值)和Y(与负载并联的储能元件组的状态值)组合，并将反射系数最小时的组合确定为目标状态值坐标，即新的最佳匹配点。

初始匹配可以包括以下步骤：

步骤704，若阻抗匹配指令被首次触发，在储能元件组中确定目标储能元件组。

步骤705，在目标储能元件组中的储能元件全部未接入时，遍历其它储能元件组的各个状态值在调谐回路的反射系数，并将反射系数最小时的状态值，作为第一状态值，其它储能元件组为储能元件组中除目标储能元件组之外的储能元件组，反射系数用于表征射频功率放大回路的功耗程度。

步骤706，在目标储能元件组中的储能元件全部接入时，遍历其它储能元件组的各个状态值在调谐回路的反射系数，并将反射系数最小时的状态值，作为第二状态值。

步骤707，从由第一状态值和第二状态值限定的第二坐标区域中匹配目标状态值坐标，以完成阻抗匹配指令被首次触发时的阻抗匹配。

应当理解的是，由于初始最佳匹配值具有较强的随机性，因此需要在目标储能元件组中的储能元件全部未接入(例如X＝0)时纵向搜索其它储能元件组的各个状态值(例如Y＝0～31)对应的反射系数，并记录反射系数最小时对应的状态值Y1，为了简化搜索过程，在实际实现时，可采用二分法或其他寻优算法，快速找到最小的反射系数。按照同样的方法，在目标储能元件组中的储能元件全部接入(例如X＝7)时，纵向扫描，并记录反射系数最小时对应的状态值Y2。根据Y1和Y2可划定第二坐标区域，并在第二坐标区域中匹配目标状态值坐标。

具体地，可以将第二坐标区域中所有的X和Y组合添加到数组中，并扫描数组中所有组合对应的反射系数，将反射系数最小时的组合确定为目标状态值坐标，即初始的最佳匹配点。

本实施例通过在调谐回路的阻抗匹配采用上述过程匹配和初始匹配的方案，能够快速的确定用于阻抗匹配的目标状态值坐标，缩短匹配时间，进而延长射频解冻设备的使用寿命。

图8示出了根据本申请一个实施例的步骤203的细节流程图。

如图8所示，根据调谐回路的失配频率，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，包括以下步骤：

步骤801，将调谐回路在初始解冻时间初期的失配频率，作为初始失配频率。

步骤802，将调谐回路在食材发生相变时的失配频率，作为参考失配频率，并获取调谐回路从初始失配频率变化至参考失配频率的实际消耗时间。

步骤803，基于初始失配频率和参考失配频率，以及实际消耗时间，确定射频解冻设备解冻食材所需的理论解冻时间。

步骤804，将初始解冻时间与实际消耗时间之差确定为初始剩余解冻时间，以及将理论解冻时间与实际消耗时间之差确定为理论剩余解冻时间。

步骤805，如果理论剩余解冻时间和初始剩余解冻时间不满足近似相等，将理论剩余解冻时间确定为目标解冻时间。

应当理解的是，由于解冻初始阶段，食材中大部分自由水以冰的形式存在，而冰的比热容较小，当吸收的能量一定时，食材温升比后期要高，因此食材内部自由水的形态变化更大，调谐匹配电容失调的更快。图9示出了根据本申请一个实施例的失配频率的变化曲线图，其中曲线1和曲线2是典型的两种食材的失配频率曲线。质量较小和质量较大的食材，以及含水量较小和含水量较大的食材，在解冻接近结束时的射频频率可能存在较大差异。

在具体实现中，可以将调谐回路在初始解冻时间初期的失配频率，作为初始失配频率，记为F1。将食材进入相变状态以后的失配频率，作为参考失配频率，记为F2。记录从初始失配频率F1到参考失配频率F2的实际消耗时间为t1，由此可以估算解冻食材所需的理论解冻时间t2。将初始解冻时间t0与实际消耗时间t1之差t0-t1确定为初始剩余解冻时间，将理论解冻时间t2与实际消耗时间t1之差t2-t1确定为理论剩余解冻时间，如果理论剩余解冻时间和初始剩余解冻时间接近，则继续按照初始剩余解冻时间t0-t1进行解冻，否则修正剩余时间为理论剩余解冻时间t2-t1。

本实施例通过利用食材解冻过程中调谐回路的失配频率来重新确定食材的解冻时间，相当于对初始解冻时间有一定的修正，在一定程度上更能提高射频解冻设备对食材进行解冻的精准性。

图10示出了根据本申请另一个实施例的步骤203的细节流程图。

如图10所示，根据调谐回路的反射系数，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，包括以下步骤：

步骤1001，在射频解冻设备解冻食材的过程中，判断反射系数是否发生突变。

步骤1002，如果反射系数发生突变，获取射频解冻设备从解冻开始到反射系数发生突变的实际消耗时间，调谐回路在初始解冻时间初期的初始失配频率，以及调谐回路在反射系数发生突变时的参考失配频率。

步骤1003，基于初始失配频率和参考失配频率，以及实际消耗时间，确定射频解冻设备解冻食材所需的理论解冻时间。

步骤1004，将初始解冻时间与实际消耗时间之差确定为初始剩余解冻时间，以及将理论解冻时间与实际消耗时间之差确定为理论剩余解冻时间。

步骤1005，如果理论剩余解冻时间和初始剩余解冻时间不满足近似相等，将理论剩余解冻时间确定为目标解冻时间。

应当理解的是，在解冻含水量较大的食材时，特别是食材中混入了较多冰块的食材。在解冻过程中，冰块不断会融化成水，水可能在解冻腔中任意流动。流动水导致解冻腔的阻抗产生了变化，因此，即使到了解冻后期，反射系数的变化也可能没有稳定区域，甚至出现频繁变化的情况，图11示出了根据本申请一个实施例的反射系数的变化趋势示意图。如图11所示，食材在解冻过程中的状态是一个慢变的过程，因此反射系数通常是均匀缓慢的变化，不会有突变现象。图11中1是由于冰块融化成水，并流动到一个新的稳定位置，此时反射系数会突变到一个新的值，并继续开始缓慢均匀的变化。控制设备可以不断检测反射系数并记录反射系数的历史数据，当检测到反射系数出现突变，说明有大量的水产生了相变，因此，可以利用反射系数出现突变的时间点，对解冻时间进行修正。

在具体实现中，如果反射系数发生突变，获取射频解冻设备从解冻开始到反射系数发生突变的实际消耗时间t1，调谐回路在初始解冻时间初期的初始失配频率F1，以及调谐回路在反射系数发生突变时的参考失配频率F2，基于初始失配频率F1和参考失配频率F2，以及实际消耗时间t1，确定射频解冻设备解冻食材所需的理论解冻时间t2。将初始解冻时间t0与实际消耗时间t1之差t0-t1确定为初始剩余解冻时间，将理论解冻时间t2与实际消耗时间t1之差t2-t1确定为理论剩余解冻时间，如果理论剩余解冻时间和初始剩余解冻时间接近，则继续按照初始剩余解冻时间t0-t1进行解冻，否则修正剩余时间为理论剩余解冻时间t2-t1。

本实施例通过利用食材解冻过程中调谐回路的反射系数来重新确定食材的解冻时间，相当于对初始解冻时间有一定的修正，在一定程度上更能提高射频解冻设备对食材进行解冻的精准性。

需要说明的是，食材在解冻过程中，可能会发生一些意料之外的情况，如解冻腔突然被打开、解冻系统电路部分遭受意外的破坏、解冻已解冻完成的食材等。因此在射频解冻设备中可以设计异常处理逻辑，以应对突发情况。

在一个实施例中，射频解冻设备包括解冻腔，控制方法还包括以下步骤：在射频解冻设备解冻食材的过程中，获取解冻腔的抽屉状态；在抽屉状态为打开的情况下，将目标射频功率设置为零。

具体地，可以在解冻腔的抽屉中设置微动开关，通过检测微动开关的状态确定抽屉状态，例如当微动开关的状态为打开时，抽屉状态为打开，当微动开关的状态为关闭时，抽屉状态为关闭。

本实施例通过在解冻过程中检测到解冻腔的抽屉被打开时，停止功率输出，提高了射频解冻设备的安全性。

在一个实施例中，控制方法还包括以下步骤：在射频解冻设备解冻食材的过程中，根据初始解冻时间初期的反射系数是否发生突变，判断射频解冻设备是否重复解冻。

应当理解的是，通常在解冻接近结束时反射系数才可能突变现象，而重复解冻的食材，可能在解冻初期便出现反射系数，因此，如果初始初始解冻时间初期的反射系数发生突变，则可以判定射频解冻设备重复解冻。

本实施例通过检测初始解冻时间初期的反射系数是否发生突变，判断射频解冻设备是否重复解冻，避免了食材因温度过高异常。

在具体实现中，在解冻过程中还可以实时监控系统的电压、电流、风扇、温度等状态信息，当任意一项出现异常，停止功率输出，并发出声光报警提示，以提高射频解冻设备的安全性。

图12示出了本申请实施例中的射频解冻设备的控制装置的框图。

如图12所示，根据本申请实施例的射频解冻设备的控制装置1200，可以设于如前的射频解冻设备，射频解冻设备的控制装置1200可以包括：食材辨识单元1201，用于对射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；匹配控制单元1202，用于根据食材信息，确定射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；时间调整单元1203，用于根据调谐回路的失配频率或反射系数，对初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，失配频率用于表征调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，反射系数用于表征射频功率放大回路的功耗程度；解冻控制单元1204，用于根据目标射频功率和目标解冻时间，对食材进行解冻。

图13示出了根据本申请一个实施例的射频解冻设备的控制设备的内部结构图。

如图13所示，射频解冻设备的控制设备包括一个或多个存储器1304、一个或多个处理器1302及存储在存储器1304上并可在处理器1302上运行的至少一条计算机程序(程序代码)，处理器1302执行计算机程序时实现如前的射频解冻设备的控制方法。

其中，在图13中，总线架构(用总线1300来代表)，总线1300可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线1300将包括由处理器1302代表的一个或多个处理器和存储器1304代表的存储器的各种电路链接在一起。总线1300还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其它电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口1305在总线1300和接收器1301和发送器1303之间提供接口。接收器1301和发送器1303可以是同一个元件，即收发机，提供用于在传输介质上与各种其它装置通信的单元。处理器1302负责管理总线1000和通常的处理，而存储器1304可以被用于存储处理器1302在执行操作时所使用的数据。

在本申请中，还提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的射频解冻设备的控制方法的步骤。

本文中所描述的功能可在硬件、由处理器执行的软件、固件或其任何组合中实施。如果在由处理器执行的软件中实施，那么可将功能作为一或多个指令或代码存储于计算机可读媒体上或经由计算机可读媒体予以传输。其它实例及实施方案在本申请及所附权利要求书的范围及精神内。举例来说，归因于软件的性质，上文所描述的功能可使用由处理器、硬件、固件、硬连线或这些中的任何者的组合执行的软件实施。此外，各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为控制装置的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (14)

1.一种射频解冻设备的控制方法，其特征在于，所述射频解冻设备包括射频功率放大回路和调谐回路，所述射频功率放大回路用于向所述调谐回路输出射频功率，所述调谐回路用于阻抗匹配，所述方法包括：

对所述射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；

根据所述食材信息，确定所述射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；

根据所述调谐回路的失配频率或反射系数，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，所述失配频率用于表征所述调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，所述反射系数用于表征所述射频功率放大回路的功耗程度；

根据所述目标射频功率和所述目标解冻时间，对所述食材进行解冻。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息，包括：

控制所述射频解冻设备按照预设射频功率和预设解冻时间对所述食材进行解冻，以确定所述调谐回路在所述预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据；

根据所述响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定所述食材信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设射频功率大于所述目标射频功率。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述样本数据包括样本响应数据和与样本响应数据一一对应的样本特征参数，所述特征参数用于表征所述食材的属性状态，所述根据所述响应数据，以及预先构建的多组样本数据，确定所述食材信息，包括：

确定所述调谐回路在多个所述预设解冻时间内进行阻抗匹配的响应数据，得到多组响应数据；

针对每一组目标响应数据，确定所述目标响应数据与各组样本响应数据的匹配度，所述匹配度用于表征所述目标响应数据与样本响应数据的接近程度，所述目标响应数据为所述多组响应数据中的任意一组；

基于多组所述响应数据与同一样本响应数据的匹配度，计算多组所述响应数据与所述同一样本响应数据的综合匹配度；

将所述综合匹配度最高的样本响应数据所对应的样本特征参数确定为所述食材信息。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于多组所述响应数据与同一样本响应数据的匹配度，计算多组所述响应数据与所述同一样本响应数据的综合匹配度，包括：

将各组响应数据对应同一样本响应数据的匹配度进行加权计算，以得到多组所述响应数据与所述同一样本响应数据的综合匹配度。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调谐回路中串联和并联有储能元件组，其中，每一个储能元件组具有多个状态值，所述状态值用于表征所述储能元件组中各个储能元件的接入状态，所述方法还包括：

判断阻抗匹配指令是否被首次触发；

若所述阻抗匹配指令不是被首次触发，根据上一次完成阻抗匹配时各个储能元件组的状态值，得到参考状态值坐标；

从与所述参考状态值坐标接近的第一坐标区域中匹配目标状态值坐标，以完成新的阻抗匹配。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述判断阻抗匹配指令是否被首次触发之后，所述方法还包括：

若所述阻抗匹配指令被首次触发，在所述储能元件组中确定目标储能元件组；

在所述目标储能元件组中的储能元件全部未接入时，遍历其它储能元件组的各个状态值在所述调谐回路的反射系数，并将反射系数最小时的状态值，作为第一状态值，所述其它储能元件组为所述储能元件组中除所述目标储能元件组之外的储能元件组；

在所述目标储能元件组中的储能元件全部接入时，遍历所述其它储能元件组的各个状态值在所述调谐回路的反射系数，并将反射系数最小时的状态值，作为第二状态值；

从由所述第一状态值和所述第二状态值限定的第二坐标区域中匹配所述目标状态值坐标，以完成所述阻抗匹配指令被首次触发时的阻抗匹配。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述调谐回路的失配频率，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，包括：

将所述调谐回路在初始解冻时间初期的失配频率，作为初始失配频率；

将所述调谐回路在所述食材发生相变时的失配频率，作为参考失配频率，并获取所述调谐回路从所述初始失配频率变化至所述参考失配频率的实际消耗时间；

基于所述初始失配频率和所述参考失配频率，以及所述实际消耗时间，确定所述射频解冻设备解冻所述食材所需的理论解冻时间；

将所述初始解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为初始剩余解冻时间，以及将所述理论解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为理论剩余解冻时间；

如果所述理论剩余解冻时间和所述初始剩余解冻时间不满足近似相等，将所述理论剩余解冻时间确定为所述目标解冻时间。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述调谐回路的反射系数，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，包括：

在所述射频解冻设备解冻食材的过程中，判断所述反射系数是否发生突变；

如果所述反射系数发生突变，获取所述射频解冻设备从解冻开始到所述反射系数发生突变的实际消耗时间，所述调谐回路在所述初始解冻时间初期的初始失配频率，以及所述调谐回路在所述反射系数发生突变时的参考失配频率；

基于所述初始失配频率和所述参考失配频率，以及所述实际消耗时间，确定所述射频解冻设备解冻所述食材所需的理论解冻时间；

将所述初始解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为初始剩余解冻时间，以及将所述理论解冻时间与所述实际消耗时间之差确定为理论剩余解冻时间；

如果所述理论剩余解冻时间和所述初始剩余解冻时间不满足近似相等，将所述理论剩余解冻时间确定为所述目标解冻时间。

10.根据权利要求1至9中任意一项所述的方法，其特征在于，所述射频解冻设备包括解冻腔，所述方法还包括：

在所述射频解冻设备解冻食材的过程中，获取所述解冻腔的抽屉状态；

在所述抽屉状态为打开的情况下，将所述目标射频功率设置为零。

11.根据权利要求1至9中任意一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述射频解冻设备解冻食材的过程中，根据初始解冻时间初期的反射系数是否发生突变，判断所述射频解冻设备是否重复解冻。

12.一种射频解冻设备的控制装置，其特征在于，所述射频解冻设备包括射频功率放大回路和调谐回路，所述射频功率放大回路用于向所述调谐回路输出射频功率，所述调谐回路用于阻抗匹配，所述装置包括：

食材辨识单元，用于对所述射频解冻设备中的食材进行辨识，得到食材信息；

匹配控制单元，用于根据所述食材信息，确定所述射频解冻设备的目标射频功率和初始解冻时间；

时间调整单元，用于根据所述调谐回路的失配频率或反射系数，对所述初始解冻时间进行调整，得到目标解冻时间，所述失配频率用于表征所述调谐回路被触发进行阻抗匹配的频繁程度，所述反射系数用于表征所述射频功率放大回路的功耗程度；

解冻控制单元，用于根据所述目标射频功率和所述目标解冻时间，对所述食材进行解冻。

13.一种射频解冻设备的控制设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至11中任一项所述的方法的步骤。

14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至11中任一项所述的方法的步骤。

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