CN115902405A - 应用于pcb的阻抗测试方法、装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种应用于PCB的阻抗测试方法、装置及系统，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及印制线路板制作技术领域，特别是涉及一种应用于PCB的阻抗测试方法、装置及系统。
背景技术
PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)阻抗是指电阻和对电抗的参数，对交流电起到阻碍的作用。因此在PCB生产中，进行阻抗处理是必不可少的，而阻抗测试是阻抗处理的重要组成部分。
其中，PCB在生产时，通常会在内层设置阻抗管控，但因未做压合、钻孔等工序，正常情况下无法直接测试其内层阻抗阻值，而PCB生产方在常规情况下，需要对内层线宽方面进行控制，但这种方式目前还存在以下几个问题：
1、滞后性问题——因未做钻孔+电镀导通接地，正常的阻抗测试方法无法测到，蚀刻后无法监控其阻抗具体品质，容易造成阻抗失真；
2、片面性、局限性问题——因人工测试线宽为五点法，只测到PCB上几个点的线宽，并不能保证整体线宽是否符合要求；
3、准确性问题——因线宽测试为人工手动测试，容易因为手法和人员流动等问题产生较大的误差。
其中，线宽测试的问题，最终也会同步出现在阻抗测试上，影响阻抗测试的准确性和安全性。
发明内容
基于此，有必要针对传统阻抗测试中还存在的技术问题，提供一种应用于PCB的阻抗测试方法、装置及系统。
一种应用于PCB的阻抗测试方法，包括步骤：
调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置；
为压合前的PCB设置测试点，并为所述测试点配置阻抗模拟目标；
基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。
上述的应用于PCB的阻抗测试方法，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
在其中一个实施例中，调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置的过程，包括步骤：
基于PCB的整板PCS内图形光学点对位，制作阻抗飞针测试材料。
在其中一个实施例中，为压合前的PCB设置测试点的过程，包括步骤：
基于阻抗飞针测试材料设置飞针测试点。
在其中一个实施例中，为所述测试点配置阻抗模拟目标的过程，包括步骤：
基于阻抗反推模拟，设定目标阻抗值。
在其中一个实施例中，基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果的过程，包括步骤：
通过所述自动阻抗测试仪器进行整板PCS内和阻抗条的阻抗测试。
在其中一个实施例中，自动阻抗测试仪器包括飞针自动阻抗测试仪器。
一种应用于PCB的阻抗测试装置，包括：
仪器配置模块，用于调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置；
测试调整模块，用于为压合前的PCB设置测试点，并为所述测试点配置阻抗模拟目标；
测试执行模块，用于基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。
上述的应用于PCB的阻抗测试装置，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
一种计算机存储介质，其上存储有计算机指令，计算机指令被处理器执行时实现上述任一实施例的应用于PCB的阻抗测试方法。
上述的计算机存储介质，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时实现上述任一实施例的应用于PCB的阻抗测试方法。
上述的计算机设备，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
一种应用于PCB的阻抗测试系统，包括：
自动阻抗测试仪器；
仪器控制设备，被配置为执行上述任一实施例的应用于PCB的阻抗测试方法。
上述的应用于PCB的阻抗测试系统，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
附图说明
图1为一实施方式的应用于PCB的阻抗测试方法流程图；
图2为另一实施方式的阻抗测试方法流程图；
图3为一实施方式的应用于PCB的阻抗测试装置模块结构图；
图4为一实施方式的计算机内部构造示意图。
具体实施方式
为了更好地理解本发明的目的、技术方案以及技术效果，以下结合附图和实施例对本发明进行进一步的讲解说明。同时声明，以下所描述的实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例提供了一种应用于PCB的阻抗测试方法。
图1为一实施方式的应用于PCB的阻抗测试方法流程图，如图1所示，一实施方式的应用于PCB的阻抗测试方法包括步骤S100至步骤S102：
S100，调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置；
S101，为压合前的PCB设置测试点，并为所述测试点配置阻抗模拟目标；
S102，基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。
其中，调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置，使自动阻抗测试仪器满足自动阻抗测试的需求。
在其中一个实施例中，预先配置包括阻抗参数配置、测试点配置和测试方式配置等。
在其中一个实施例中，图2为另一实施方式的阻抗测试方法流程图，如图2所示，S100中调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置的过程，包括步骤：
S200，基于PCB的整板PCS内图形光学点对位，制作阻抗飞针测试材料。
在其中一个实施例中，自动阻抗测试仪器包括飞针自动阻抗测试仪器。通过飞针自动阻抗测试仪器进行光点对位自动测试阻抗。
作为一个较优的实施方式，可通过“TDRSurpport”软件制作阻抗飞针测试资料，基于PCS内图形光学点对位。
其中，为压合前的PCB设置测试点，以便于判断PCB压合前的阻抗品质。
在其中一个实施例中，如图2所示，步骤S101中为压合前的PCB设置测试点的过程，包括步骤S300：
S300，基于阻抗飞针测试材料设置飞针测试点。
在其中一个实施例中，如图2所示，步骤S101中为所述测试点配置阻抗模拟目标的过程，包括步骤S301：
S301，基于阻抗反推模拟，设定目标阻抗值。
其中，设置下针测试点，基于阻抗反推模拟，设定目标阻抗值，以便于进行进行整板PCS内和阻抗条阻抗测试，判断PCB板压合前的阻抗品质，解决滞后性问题。
基于此，在其中一个实施例中，如图2所示，步骤S102中基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果的过程，包括步骤S400：
S400，通过所述自动阻抗测试仪器进行整板PCS内和阻抗条的阻抗测试。
其中，压合前的PCB内层阻抗测试符合要求，则表征压合后阻抗与内层阻抗也符合要求，则成品PCB也符合要求。
上述任一实施例的应用于PCB的阻抗测试方法，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
本发明实施例还提供了一种应用于PCB的阻抗测试装置。
图3为一实施方式的应用于PCB的阻抗测试装置模块结构图，如图3所示，一实施方式的应用于PCB的阻抗测试装置包括：
仪器配置模块100，用于调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置；
测试调整模块101，用于为压合前的PCB设置测试点，并为所述测试点配置阻抗模拟目标；
测试执行模块102，用于基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。
上述的应用于PCB的阻抗测试装置，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
本发明实施例还提供了一种计算机存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述任一实施例的应用于PCB的阻抗测试方法。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
或者，本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对相关技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机、终端、或者网络设备等)执行本发明各个实施例方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、RAM、ROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
与上述的计算机存储介质对应的是，在一个实施例中还提供一种计算机设备，该计算机设备包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，处理器执行程序时实现如上述各实施例中的任意一种应用于PCB的阻抗测试方法。
该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图4所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、网络接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种应用于PCB的阻抗测试方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
上述计算机设备，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
本发明实施例还提供了一种应用于PCB的阻抗测试系统，包括：
自动阻抗测试仪器；
仪器控制设备，被配置为执行上述任一实施例的应用于PCB的阻抗测试方法。
其中，仪器控制设备包括计算机设备、自动化控制设备或服务器等，通过控制设计，实现对自动阻抗测试仪器的阻抗测试和测试结果汇报。
上述的应用于PCB的阻抗测试系统，在调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置后，为压合前的PCB设置测试点，并为测试点配置阻抗模拟目标，最后基于阻抗模拟目标，通过自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。基于此，通过自动阻抗测试仪器进行自动的阻抗测试，排除人工测试误差。同时，进行压合前的阻抗测试，解决滞后性问题并保证整体测试稳定性。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种应用于PCB的阻抗测试方法，其特征在于，包括步骤：
调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置；
为压合前的PCB设置测试点，并为所述测试点配置阻抗模拟目标；
基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。
2.根据权利要求1所述的应用于PCB的阻抗测试方法，其特征在于，所述调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置的过程，包括步骤：
基于PCB的整板PCS内图形光学点对位，制作阻抗飞针测试材料。
3.根据权利要求2所述的应用于PCB的阻抗测试方法，其特征在于，所述为压合前的PCB设置测试点的过程，包括步骤：
基于阻抗飞针测试材料设置飞针测试点。
4.根据权利要求2所述的应用于PCB的阻抗测试方法，其特征在于，所述为所述测试点配置阻抗模拟目标的过程，包括步骤：
基于阻抗反推模拟，设定目标阻抗值。
5.根据权利要求1所述的应用于PCB的阻抗测试方法，其特征在于，所述基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果的过程，包括步骤：
通过所述自动阻抗测试仪器进行整板PCS内和阻抗条的阻抗测试。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的应用于PCB的阻抗测试方法，其特征在于，所述自动阻抗测试仪器包括飞针自动阻抗测试仪器。
7.一种应用于PCB的阻抗测试装置，其特征在于，包括：
仪器配置模块，用于调用自动阻抗测试仪器并进行预先配置；
测试调整模块，用于为压合前的PCB设置测试点，并为所述测试点配置阻抗模拟目标；
测试执行模块，用于基于阻抗模拟目标，通过所述自动阻抗测试仪器完成阻抗测试，获得阻抗测试结果。
8.一种计算机存储介质，其上存储有计算机指令，其特征在于，所述计算机指令被处理器执行时实现如权利要求1至6任意一项所述的应用于PCB的阻抗测试方法。
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行程序时实现如权利要求1至6任意一项所述的应用于PCB的阻抗测试方法。
10.一种应用于PCB的阻抗测试系统，其特征在于，包括：
自动阻抗测试仪器；
仪器控制设备，被配置为执行如权利要求1至6任意一项所述的应用于PCB的阻抗测试方法。
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Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW200532219A (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-01 | Mjc Probe Inc | Testing facility for testing print circuit board |
| TW201200887A (en) * | 2010-06-25 | 2012-01-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Signal integrity testing system and method |
| CN204536491U (zh) * | 2015-03-17 | 2015-08-05 | 上海嘉捷通电路科技有限公司 | 一种用于pcb检测通孔低阻测试装置 |
| CN109696616A (zh) * | 2019-01-30 | 2019-04-30 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 飞针测试机的测试方法及装置 |
| CN112578263A (zh) * | 2020-11-25 | 2021-03-30 | 海鹰企业集团有限责任公司 | 一种用于电路板启动硬件改进的检查方法 |
-
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TW200532219A (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-01 | Mjc Probe Inc | Testing facility for testing print circuit board |
| TW201200887A (en) * | 2010-06-25 | 2012-01-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Signal integrity testing system and method |
| CN204536491U (zh) * | 2015-03-17 | 2015-08-05 | 上海嘉捷通电路科技有限公司 | 一种用于pcb检测通孔低阻测试装置 |
| CN109696616A (zh) * | 2019-01-30 | 2019-04-30 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 飞针测试机的测试方法及装置 |
| CN112578263A (zh) * | 2020-11-25 | 2021-03-30 | 海鹰企业集团有限责任公司 | 一种用于电路板启动硬件改进的检查方法 |
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